CN201016805Y - 一种衍射光谱测量系统 - Google Patents
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Abstract
一种光栅平面镜衍射光谱测量系统，属于光学测量、光学仪器等技术领域，其特征在于活动式可折叠水平支架1具有相同水平基面两个底座组成；双面反射平面镜2两个面都镀有半反射膜；背面镀膜反射光栅3由刻有高密透射光栅的光栅条纹面4和镀有起半反射功能的析光膜对望远镜内的辅助光起反射作用的半反射5两个面组成；本实用新型用光栅平面镜衍射光谱测量系统，代替分光计光栅衍射光谱测量过程中的用于光路调节的平面镜和用于光谱测量的光栅，使得光路调节和光谱测量的两个步骤同时完成，并可直接进行光谱测量，同时确保光栅衍射光谱测量的精度。
Description
一、技术领域
本实用新型一种衍射光谱测量系统属于光学测量、光学仪器和教学仪器设备等技术领域，具体而言是一种衍射光谱测量仪器。
二、背景技术
用分光计测量光栅衍射光谱，是原理简明、结构清晰的一种光谱测量方法，但是测量过程中要求平行光管和望远镜都与光栅面垂直，需采用各半调节方法，操作过程耗时费力又难以调整到准确的测量状态，发明专利“垂直型平面镜及其应用”，专利号为92105476.9、发明专利“背面镀膜反射光栅”专利号为96102159.4以及发明专利“光栅平面镜衍射光谱测量系统的应用”将其应用于光栅衍射光谱的实验教学中，并取得良好的效果，但是，在实际操作过程中仍然发现一些不太方便的地方需要改进。
三、发明内容
本实用新型一种衍射光谱测量系统目的在于在上述三项发明有机结合的基础上，经过反复的研究和实验，不断的摸索，从而提供一种光栅平面镜在分光计上的衍射光谱测量系统，使得光栅衍射光谱的测量过程更为简捷有效，并确保调节测量的精确度，尤其是避免了将双面反射平面镜2从活动式可折叠水平支架1的底座上取出，就能利用背面镀膜反射光栅3的光栅面4进行光栅衍射光谱的测量的技术方案。
本实用新型一种衍射光谱测量系统，由活动式可折叠水平支架1双面反射平面镜2、背面镀膜反射光栅3组成；活动式可折叠水平支架1由可折叠的两个底座组成，两个底座具有相同的水平基面，并且具有与双面反射平面镜2和背面镀膜反射光栅3厚度吻合的凹槽，将双面反射平面镜2和背面镀膜反射光栅3放置其上，其特征在于具有相同的水平基面的、避免了将双面反射平面镜2从活动式可折叠水平支架1的底座上取出并可直接进行光谱测量的两个的底座成钝角设置，其角度为120°～180°，对望远镜内的辅助光都起到反射作用的双面反射平面镜2的两个面都镀有半反射膜；背面镀膜反射光栅3是一种双面结构的具有双重功能的光栅，它由刻有高密透射光栅的光栅条纹面4和镀有起半反射功能的析光膜对望远镜内的辅助光起反射作用的半反射面5两个面组成，半反射面5的析光膜用真空镀氟化镁，透射光强度与反射光强度之比为50∶50。
本实用新型一种衍射光谱测量系统的应用，其特征在于具体的操作步骤为：(1)将活动式可折叠水平支架1的两个底座约成钝角放置于分光计的平台上，并将双面反射平面镜2和背面镀膜反射光栅3分别放在可折叠水平支架1的两个底座上，(2)打开分光计望远镜内的辅助小灯，将分划版上的十字叉丝照亮，调节望远镜的目镜，使分划版位于目镜的焦平面上，看清楚十字叉丝，(3)转动分光计平台，使望远镜对准双面反射平面镜2的一个反射面，调节分光计望远镜和平台水平度，使望远镜的轴线垂直于双面反射平面镜2的反射面，双面反射平面镜2的反射光线聚焦在分光计的分划版上成一个十字叉丝像，(4)将分光计平台转动180°使望远镜对准双面反射平面镜2的另一个反射面，同样调节分光计望远镜和平台水平度，使望远镜的轴线垂直于双面反射平面镜2的这个反射面，这个反射面，反射光线聚焦在分光计的分划版上成十字叉丝像，(5)将分光计平台反复转动180°采用各半调节方法，使望远镜的轴线垂直于平台的转轴，并且垂直于双面反射平面镜2，(6)转动分光计平台，使望远镜对准背面镀膜光栅3半反射面5，调节分光计平台，使反射面5的反射光线聚焦在分光计的十字叉丝像与十字叉丝对称，接着利用背面镀膜反射光栅3的光栅条纹面4进行光栅衍射光谱的测量。
本实用新型一种衍射光谱测量系统的优点在于，在有机结合三项现有技术的基础上，经过反复的研究和实验，不断的摸索终于找出了活动时可折叠水平支架1的两个底座最佳的设置角度范围和半反射面5的析光膜用真空镀氟化镁的理想方案，从而提供一种光栅平面镜在分光计上的衍射光谱测量系统，使得光栅衍射光谱的测量过程更为简捷有效，并确保调节测量的精确度，尤其重要的是避免了将双面反射镜2从活动式可折叠水平支架1的底座上取出，就能利用背面镀膜反射光栅3的光栅条纹面4进行光栅衍射光谱的测量，这样极大的方便了教学和实验，提高了效率，节约了时间。
四、附图说明
图-1为光栅平面镜衍射光谱测量系统结构图，其中1为活动式可折叠水平支架，2为双面反射平面镜，3为背面镀膜反射光栅，其中4为背面镀膜反射光栅3的光栅条纹面，5为背面镀膜反射光栅3的半反射面。
图-2是背面镀膜反射光栅3的光栅条纹面4。
图-3是背面镀膜反射光栅3的半反射面5。
五、具体实施方式
实施方式1：活动式可折叠的两个底座以活动方式组成120°的水平支架，其凹槽的厚度为2mm，双面反射平面镜2和背面镀膜反射光栅3的厚度都为2mm与凹槽的厚度相一致；双面反射平面镜2的两个面都镀有半反射膜，背面镀膜反射光栅3它由光栅条纹面4和半反射面5两个面组成，光栅条纹面4采用全息干涉法刻有100条/mm的透射光栅条纹，半反射面5镀有起半反射功能的析光膜，析光膜采用真空镀氟化镁，半反射面5的透射光强度与反射光强度之比为50∶50。
使用的具体的操作步骤为：(1)将活动式可折叠水平支架1的两个底座以活动方式组成120°’放置于分光计的平台上，并将双面反射平面镜2和背面镀膜反射光栅3分别放在可折叠水平支架1的两个底座上，(2)打开分光计望远镜内的辅助小灯，将分划版上的十字叉丝照亮，调节望远镜的目镜，将分划版位于目镜的焦平面上，看清楚十字叉丝，(3)转动分光计平台，使望远镜对准双面反射平面镜2的一个反射面，调节分光计望远镜和平台水平度，使望远镜的轴线垂直于双面反射平面镜2的反射面，双面反射平面镜2的反射光线聚焦在分光计的分划板上成一个十字叉丝像，(4)将分光计平台转动180°使望远镜对准双面反射平面镜2的另一个反射面，同样调节分光计望远镜和平台水平度，使望远镜的轴线垂直于双面反射平面镜2的这个反射面，这个反射面反射光线聚焦在分光计的分划板上成另一个十字叉丝像，(5)将分光计平台反复转动180°采用各半调节方法，使望远镜的轴线垂直于平台的转轴，并且垂直于双面反射平面镜2，(6)转动分光计平台，使望远镜对准背面镀膜反射光栅3半反射面5，调节分光计平台，使半反射面5的反射光线聚焦使半反射面5的反射光线聚焦在分光计的分划板上的十字叉丝像与十字叉丝对称，接着利用背面镀膜反射光栅3的光栅条纹面4进行光栅衍射光谱的测量。
实施方式2：活动式可折叠的两个底座以活动方式组成130°水平支架A，其他具体操作步骤同实施方式1。
实施方式3：活动式可折叠的两个底座以活动方式组成140°水平支架A，其他具体操作步骤同实施方式1。
实施方式4：活动式可折叠的两个底座以活动方式组成150°水平支架A，其他具体操作步骤同实施方式1。
实施方式5：活动式可折叠的两个底座以活动方式组成160°水平支架A，其他具体操作步骤同实施方式1。
实施方式6：活动式可折叠的两个底座以活动方式组成170°水平支架A，其他具体操作步骤同实施方式1。
实施方式7：活动式可折叠的两个底座以活动方式组成180°水平支架A，其他具体操作步骤同实施方式1。
Claims (1)
1.一种衍射光谱测量系统，由活动式可折叠水平支架(1)双面反射平面镜(2)、背面镀膜反射光栅(3)组成；活动式可折叠水平支架(1)由可折叠的两个底座组成，两个底座具有相同的水平基面，并且具有与双面反射平面镜(2)和背面镀膜反射光栅(3)厚度吻合的凹槽，将双面反射平面镜(2)和背面镀膜反射光栅(3)放置其上，其特征在于具有相同的水平基面的、避免了将双面反射平面镜(2)从活动式可折叠水平支架(1)的底座上取出并可直接进行光谱测量的两个的底座成钝角设置，其角度为120°～180°，对望远镜内的辅助光都起到反射作用的双面反射平面镜(2)的两个面都镀有半反射膜；背面镀膜反射光栅(3)是一种双面结构的具有双重功能的光栅，它由刻有高密透射光栅的光栅条纹面(4)和镀有起半反射功能的析光膜对望远镜内的辅助光起反射作用的半反射面II两个面组成，半反射面(5)的析光膜用真空镀氟化镁，透射光强度与反射光强度之比为50∶50。
Priority Applications (1)
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Publications (1)
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| CNU2006201280142U Expired - Fee Related CN201016805Y (zh) | 2006-10-27 | 2006-10-27 | 一种衍射光谱测量系统 |
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| CN (1) | CN201016805Y (zh) |
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2006
- 2006-10-27 CN CNU2006201280142U patent/CN201016805Y/zh not_active Expired - Fee Related
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