CN200965488Y - 基于计算全息元件的大口径杂光系数测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种杂光系数测试系统，尤其是一种基于计算全息元件的大口径杂光系数测试系统。其技术解决方案为：该系统包括激光器、大口径平行光管、计算机全息光学元件和可测量光照度的照度计，所述激光器、大口径平行光管、计算机全息光学元件依序设置在同一光路上。解决了普通技术中存在的测试负载、实现难度大的技术问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种杂光系数测试系统，尤其是一种基于计算全息元件的大口径杂光系数测试系统。
背景技术
大口径成像光学系统的研制极大的促进了各个相关技术的发展，其杂散光水平作为光学系统的一项重要指标对成像光学系统的成像对比度和分辨率可产生重要影响，尤其是在某些探测应用领域，杂散光水平直接影响了探测能力的提高，因此光学系统的杂光设计和检测势在必行。从国内外的相关领域的研究看，对杂光水平的评价和检验主要通过对点源透过率(PST)和杂光系数(V)两种参数的测试解决。
国内对大口径光学系统的PST参数的检验主要使用激光照明的平行光管加转台来完成。由于PST参数主要针对点光源造成的杂光进行估算，因此不能用于评价以地球为背景的空间光学对地观测应用情况下的杂光水平。
杂光系数的测量理论上可利用大口径积分球作带黑色目标的均匀面光源来加以测量来实现。此方法中大口径积分球的开口直径必须超过被检测光学系统的口径，且在出口处要设置同等口径的准直光学镜头，同时大口径积分球的出口直径应小于其直径的1/3，当被测光学系统的光学通光口径超过500mm以后，积分球和准直光学镜头的口径变得无法实现，因此目前还从出现解决有关大口径光学系统的杂光测试系统。
实用新型内容
本实用新型解决了为解决背景技术中存在的上述技术问题，而提供一种测试方便，实现难度小的基于计算全息元件的大口径杂光系数测试系统。
本实用新型的技术解决方案是：本实用新型为一种基于计算全息元件的大口径杂光系数测试系统，其特殊之处在于：该系统包括激光器、大口径平行光管、计算机全息光学元件和照度计，激光器、大口径平行光管、计算机全息光学元件依序设置在同一光路上。
上述激光器和大口径平行光管之间设置有折轴反射镜。
上述测试系统还包括有可进行辐射亮度标定的辐射度计。
本实用新型具有以下优点：
1、本实用新型使用激光照明的大口径平行光管和在光瞳处安置大口径的计算机全息光学元件(CGH)，来模拟产生无穷远的亮背景下的黑目标，计算机全息光学元件(CGH)做为关键元件，其口径可与被测光学系统相当，不需要使用大口径的积分球及准直光学系统，就可实现大口径光学系统的杂光系数的测试，同时所使用的CGH无对中心要求，其制备难度较小，而且大口径CGH可以使用膜压的方法拼接制作，因此在保证其黑目标边缘的清晰度不受CGH元件的平整度影响的情况下，可以在塑料薄膜上制作出任意大小的元件，因此无论多大口径的光学系统都可用本实用新型的方法来测量杂光系数，从而从根本上解决大口径光学系统杂光系数的测量问题。
2、重量轻、体积小。实现本实用新型方法的整套系统重量轻、体积小，可方便的实现大口径的光学系统的测量。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
参见图1，本实用新型的测试系统包括依序设置在同一光路上的激光器1、大口径平行光管5和计算机全息光学元件6，以及可测量光照度的照度计4，激光器1和大口径平行光管5之间还可设置有折轴反射镜2，其可使激光器1发出的激光发生折射，使本实用新型的测试系统变的紧凑；本实用新型的测试系统还包括有可进行辐射亮度标定的辐射度计。
本实用新型的测试系统工作时，激光器1发射一定功率的激光经由大口径平行光管5准直成为平行光束，照射到大口径的计算机全息光学元件(CGH)6上得到了所谓的空心光束。即由计算机全息光学元件的光束分解能力，将平行光束变换成为零级角度附近为缺级，而将光能量均匀分解到其他角度范围内，由此形成对应无穷远带有黑色目标的均匀面光源。这时将待测光学系统3的光轴对准计算机全息光学元件6的零级位置，则在待测光学系统3的焦面上可以得到纯粹由杂光导致的光学背景图像。将两者光轴错开则可以得均匀亮目标下光学系统响应。通过照度计4测量杂光背景图像照度与均匀亮目标的焦平面图像照度，两图像照度之比即相应为的杂光系数。名词解释：
空心光束：指某光束在特定的立体角区域(一般为圆锥形)无光辐射，而在半空间的其他的立体角区域内有均匀光辐射。
Claims (3)
1、一种基于计算全息元件的大口径杂光系数测试系统，其特征在于：该系统包括激光器、大口径平行光管、计算机全息光学元件和可测量光照度的照度计，所述激光器、大口径平行光管、计算机全息光学元件依序设置在同一光路上。
2、根据权利要求1所述的基于计算全息元件的大口径杂光系数测试系统，其特征在于：所述激光器和大口径平行光管之间设置有折轴反射镜。
3、根据权利要求1或2所述的基于计算全息元件的大口径杂光系数测试系统，其特征在于：所述测试系统还包括有可进行辐射亮度标定的辐射度计。
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Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| CN100587443C (zh) * | 2006-11-07 | 2010-02-03 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 基于计算机全息光学元件的大口径杂光系数测试方法及其系统 |
| CN113701675A (zh) * | 2021-08-02 | 2021-11-26 | 清华大学 | 杂散光测量装置及方法 |
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