CN1979192A - 用来测试电子产品的智慧型测试系统及其相关方法 - Google Patents
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Abstract
智慧型测试系统包含一控制器，用来产生设定数据，以及一测试器，用来测试一电子产品。该测试器包含一处理装置，用来根据该控制器产生之设定数据传送测试信号至该电子产品，以及根据该控制器产生之设定数据和该电子产品因根据该测试信号所产生之回授数据控制该智慧型测试装置；以及一存储器，用来记录该电子产品产生之回授数据。
Description
【技术领域】
本发明系提供一种智慧型测试系统，尤指一种用来测试电子产品之智慧型测试系统及其相关方法。
【背景技术】
为了确保电子产品的功能运作正常及长期使用下之稳定性，电子产品于正式量产或出货前会根据各种情况接受许多不同的测试，例如开关机测试。开关机测试系不停反复地开机或关机以保证消费者于长时间使用下电子产品仍然能正常地开机。由于电子产品的测试非常耗费时间与人力，因此许多型式的测试装置被开发出来以代替人力自动执行电子产品的测试。
请参考图1，图1系先前技术之测试装置100的示意图。先前技术之测试装置100包含一控制器110(例如一电脑)，以及一信号转换器120。控制器110系以软件方式设定所有测试程序，并将控制信号传送至信号转换器120，而信号转换器120再将控制器110传来之控制信号转换为电子产品130可辨认之测试信号(例如开关机信号)，并传送至电子产品130(待测装置)，如此即可对电子产品130进行测试。
请参考图2，图2系先前技术之另一测试装置200的示意图。不同于图1之测试装置100，测试装置200系为一独立之测试箱单独运作。测试装置200之微处理器210已直接设定好所有测试程序，使用者只需于测试装置200之使用介面220输入欲测试之次数或其他条件，微处理器即可产生测试信号，并通过一输出端222输出测试信号至电子产品230，如此即可对电子产品230进行测试。
然而，上述测试装置100，200于测试中发现问题时，只能单纯地记录测试失败的次数并继续测试，或者停止测试并等待研发人员来排解问题。但由于测试需长时间且持续地进行，若研发人员无法即时发现测试失败而并排解问题，将会拖延电子产品测试之时间，甚至会影响电子产品上市之进度。再者，上述测试装置100，200无法于发现问题时将当时状况记录下来，故研发人员无法得知测试失败之原因，因而增加研发人员排解问题之困难性，甚至需要重新测试。
【发明内容】
因此，本发明之主要目的，即是要提出一种用来测试电子产品之智慧型测试系统及其相关方法，以解决先前技术之问题。
本发明智慧型测试系统包含一控制器，用来产生设定数据，以及一测试器，用来测试一电子产品。该测试器包含一处理装置，用来根据该控制器产生之设定数据传送测试信号至该电子产品，以及根据该控制器产生之设定数据和该电子产品因根据该测试信号所产生之回授数据控制该智慧型测试装置；以及一存储器，用来记录该电子产品产生之回授数据。
本发明智慧型测试装置测试电子产品之方法包含根据一控制器产生之设定数据传送测试信号至该电子产品；以及根据该控制器产生之设定数据和该电子产品因根据该测试信号所产生之回授数据控制该智慧型测试装置。
【附图说明】
图1为先前技术之测试装置的示意图。
图2为先前技术之另一测试装置的示意图。
图3为本发明智慧型测试系统的示意图。
图4为图3智慧型测试系统测试电子产品之方法的流程图。
【具体实施方式】
请参考图3，图3系本发明智慧型测试系统300的示意图。本发明智慧型测试系统300包含一近端(local)控制器310，一远端(remote)控制器340，以及一测试器320。近端控制器310和远端控制器340可以系电脑或其他型式之控制介面等。测试器320包含一近端控制端321，一远端控制端322，一测试端323，一回授端324，一处理装置326，以及一存储器328。近端控制端321系耦合于近端控制器310，远端控制端322系经由网络342耦合于远端控制器340，研发人员可依据测试程序并通过近端控制器310或远端控制器340来产生设定数据，并将设定数据传送至测试器320。处理装置326系耦合于近端控制端321，远端控制端322，测试端323，回授端324，以及存储器328。当处理装置326接收到近端控制器310或远端控制器340传来之设定数据后，处理装置326会根据近端控制器310或远端控制器340传来之设定数据产生电子产品330可辨认之测试信号(例如开关机信号)，并经由测试端323传送测试信号至电子产品330。而电子产品330会根据接收到之测试信号执行相对应动作，例如执行基本输出入系统(basic input/output system，BIOS)之开机自我测试(power-onself-test，POST)以检查电子产品330之各个元件是否运作正常。由于回授端324系耦合于电子产品330之一输出入端，例如USB端或VGA端等，因此电子产品330可通过回授端324将开机自我测试时产生之数据，例如屏幕影像数据或各晶片之参数数据等回授给处理装置326(可于电子产品230中植入特定程序以经由指定之输出入端输出测试数据，并通过回授端324回传回授数据给处理装置326)，而处理装置326可分析接收到之回授数据以判断是否有错误讯息发生。
若测试通过，处理装置326可将回授数据或测试结果储存于存储器328中以供研发人员后续参考。若测试过程中发现问题，则处理装置326可根据研发人员预先设定之设定数据执行相对应动作。举例来说，当处理装置326发现接收到之回授数据含有错误讯息时，处理装置326可根据设定数据判断此种问题是否可由处理装置326自行排解，若可自行排解则处理装置326会根据设定数据产生除错信号，并经由测试端323传送除错信号至电子产品330予以解决问题，而处理装置326亦会将有问题之回授数据储存于存储器328中以供研发人员参考，并持续测试以免测试中断而影响到测试进度。若处理装置326无法自行排解问题，则处理装置326会根据设定数据判断是否需继续进行测试，若要继续进行测试，则处理装置326会将有问题之回授数据储存于存储器328中并持续测试，若要停止测试，则处理装置326会中断测试并发出一简讯，例如发出一电子邮件至近端控制器310或远端控制器340，甚至系发出一手机简讯以通知研发人员立即排解问题。当研发人员得知测试发生问题后，研发人员可通过近端控制器310或远端控制器340来控制测试器320以排解问题，如此可即时解决问题以避免测试进度落后。
为了更明确说明本发明智慧型测试系统300测试电子产品330之方法，图4提供一本发明方法的流程图400。请参考图4，并一并参考图3，图4之流程图400包含有下列步骤：
步骤412：使用者通过近端控制器310或远端控制器340传送设定数据至测试器320；
步骤414：测试器320根据设定数据传送测试信号至电子产品330以执行测试；
步骤416：记录电子产品产生之回授数据于存储器328中；
步骤418：是否发现错误，若否则继续步骤420，若是则继续步骤422；
步骤420：测试流程是否全部完成，若否则继续步骤414，若是则继续步骤422；
步骤422：测试器320发出一测试完成之简讯至近端控制器310或远端控制器340以通知使用者；
步骤424：等待使用者经由近端控制器310或远端控制器340来执行后续处理；
步骤426：根据设定数据分析错误讯息；
步骤428：判断问题是否可排除，若否则继续步骤430，若是则继续步骤434；
步骤430：判断是否停止测试，若是则继续步骤432，若否则继续步骤436；
步骤432：测试器320发出一测试失败之简讯至近端控制器310或远端控制器340以通知使用者，并继续步骤424；
步骤434：测试器320根据设定数据传送除错信号至电子产品330以解决问题，且记录有问题之回授数据于存储器328中，并继续步骤414；
步骤436：测试器320记录有问题之回授数据于存储器328中，并继续步骤414。基本上，上述结果的达成，流程图400的步骤并不一定要遵守以上顺序，且各个步骤并不一定系相邻的，其他的步骤也可介于上述步骤之间。另外，存储器328除了可储存测试数据外，其亦可提供处理装置326于运作时所需之记忆空间，例如储存近端控制器310或远端控制器340产生之设定数据，如此测试器320即可于接收到设定数据后独立运作。而本发明方法可由软件搭配韧体、硬件或以上三种方式之任意组合来达成。
相较于先前技术，本发明智慧型测试系统300可于测试中发现问题时自行分析错误讯息，以判断是否可自行处理或继续执行测试，并记录有问题之测试数据，如此不但可避免测试中断，亦可提供有问题之讯息于研发人员以利后续之研究和产品改良。再者，当本发明智慧型测试系统300无法自行处理问题时，智慧型测试系统300可发出一简讯以通知研发人员即时处理，即使测试失败系发生于假日，研发人员亦可通过远端控制器340来解决问题，并让测试继续进行。因此本发明智慧型测试系统300可使电子产品之测试进度顺利进行而不致中断，进而降低电子产品研发之时间和成本。
以上所述仅为本发明之较佳实施例，凡依本发明申请专利范围所做之均等变化与修饰，皆应属本发明之涵盖范围。
Claims (15)
1.一种用来测试电子产品之智慧型测试系统，包含：
一控制器，用来产生设定数据；以及
一测试器，包含：
一处理装置，用来根据该控制器产生之设定数据传送测试信号至该电子产品，以及根据该控制器产生之设定数据和该电子产品因根据该测试信号所产生之回授数据控制该智慧型测试系统；以及
一存储器，用来记录该电子产品产生之回授数据。
2.根据权利要求1所述的智慧型测试系统，其特征在于，该控制器系耦合于该处理装置。
3.根据权利要求1所述的智慧型测试系统，其特征在于，该控制器系通过一网络耦合于该处理装置。
4.根据权利要求1所述的智慧型测试系统，其特征在于，该处理装置系耦合于该存储器。
5.根据权利要求1所述的智慧型测试系统，其特征在于，该测试器另包含一测试端，耦合于该处理装置和该电子产品之间，用来输出该测试信号至该电子产品。
6.根据权利要求1所述的智慧型测试系统，其特征在于，该测试器另包含一回授端，耦合于该处理装置和该电子产品之间，用来接收该电子产品因根据该测试信号所产生之回授数据。
7.根据权利要求1所述的智慧型测试系统，其特征在于，该测试器另包含一控制端，耦合于该处理装置和该控制器之间，用来接收该控制器产生之设定数据。
8.一种用来测试电子产品的智慧型测试装置，包含：
一控制端，用来接收一控制器产生之设定数据；
一测试端，用来输出测试信号至该电子产品；
一回授端，用来接收该电子产品因根据该测试信号所产生之回授数据；
一处理装置，耦合于该控制端、该测试端和该回授端，用来根据该控制器产生之设定数据产生该测试信号，以及根据该控制器产生之设定数据和该电子产品因根据该测试信号所产生之回授数据控制该智慧型测试装置；以及
一存储器，用来记录该电子产品产生之回授数据。
9.根据权利要求8所述的智慧型测试装置，其特征在于，该控制器系耦合于该控制端。
10.根据权利要求8所述的智慧型测试装置，其特征在于，该控制器系通过一网络耦合于该控制端。
11.根据权利要求8所述的智慧型测试装置，其特征在于，该处理装置系耦合于该存储器。
12.一种智慧型测试装置测试电子产品的方法，包含：
根据一控制器产生之设定数据传送测试信号至该电子产品；以及
根据该控制器产生之设定数据和该电子产品因根据该测试信号所产生之回授数据控制该智慧型测试装置。
13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，控制该智慧型测试装置包含储存该电子产品产生之回授数据于一存储器。
14.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，控制该智慧型测试装置包含发出一简讯。
15.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，控制该智慧型测试装置包含传送一除错信号至该电子产品。
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|---|---|---|---|
| CN 200510128881 CN1979192A (zh) | 2005-12-02 | 2005-12-02 | 用来测试电子产品的智慧型测试系统及其相关方法 |
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103593281A (zh) * | 2012-08-15 | 2014-02-19 | 纬创资通股份有限公司 | 测试系统及测试方法 |
| CN109686385A (zh) * | 2017-12-27 | 2019-04-26 | 苏州乐轩科技有限公司 | 影音装置测试系统 |
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2005
- 2005-12-02 CN CN 200510128881 patent/CN1979192A/zh active Pending
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