CN1691000A - 测试装置及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测试装置及测试方法，其中测试装置包括数据库，存放嵌入式系统中的寄存器手册信息；用户界面，用于输入测试命令及显示目标寄存器的寄存器手册信息及目标寄存器的当前值；桩模块，根据测试命令对目标寄存器进行读或写操作并读出目标寄存器的当前值；主控模块，接收用户界面的测试命令，转发给桩模块或/和根据测试命令调取数据库中目标寄存器的寄存器手册信息，且将目标寄存器的当前值或/和目标寄存器的寄存器手册信息反馈给用户界面。相应地，本发明测试方法包括以下流程：读寄存器流程；调取寄存器手册信息流程；改写寄存器流程。

Description

测试装置及测试方法

技术领域

本发明涉及电子或通信领域的测试技术，具体指一种测试装置及测试方法。

背景技术

嵌入式系统，实际是指嵌入式计算机系统，是相对于通用计算机系统而言，应用于工业控制、网络通信、家用电器、医疗仪器等各种专用领域中的专用计算机系统。以个人计算机(PC)为例，通用计算机系统在硬件和软件上都有着几乎一致的配置：硬件上都由主板、内存条、硬盘、显示器、键盘和鼠标等标准设备或部件构成，软件则都安装了类似Windows的操作系统，使用各种各样基于Windows操作系统开发的应用软件。而嵌入式系统则是根据所应用的具体领域和具体场合，有着不尽相同的硬件配置，采用了各自不同的操作系统。嵌入式系统中所运行的软件也都是根据系统需要和硬件配置而专门开发的应用软件，一般仅适用于本系统。顾名思义，嵌入式系统是作为嵌入到整个应用系统中的一个计算机子系统而存在的，脱离了整个应用系统的这个计算机子系统通常就毫无用处。这也是嵌入式计算机系统与通用计算机系统非常明显的区别。

板级支持包(BSP，Board Support Package)用于嵌入式系统中的启动和初始化，其主要作用在于进行硬件系统的上电初始化，并向嵌入式操作系统提供硬件系统的操作和维护接口。嵌入式系统的BSP的上电初始化，要设置堆栈指针，建立中断向量表，初始化各种各样的寄存器(用以控制静态存储器，输入输出端口和片选信号等)，配置地址空间以及系统启动方式，并且在完成上电初始化工作后，把系统控制权交给嵌入式操作系统。因而BSP要完成对嵌入式系统的上电初始化，主要工作就是按要求配置嵌入式系统上微处理器和各种集成电路芯片的寄存器。

对嵌入式系统的测试实际上就是对系统中各种集成电路芯片的寄存器测试，通过对BSP的测试进而达到对嵌入式系统中寄存器的测试。对BSP的测试，一方面要检查BSP对嵌入式系统中所有寄存器的配置是否正确；另一方面，要通过写一些特定寄存器的特定位，改变硬件配置信息，达到验证、测试系统硬件功能和优化系统性能的目的。

由于嵌入式系统中的每个寄存器的每一位都包含着配置信息，且寄存器数量众多，对这些寄存器的值进行核对时，首先要逐一读出寄存器的值，再查寄存器手册中各寄存器的含义，根据期望值，检查寄存器实际值的每一位是否都正确。写嵌入式系统中的寄存器时，则要采取与读寄存器基本反向的过程，即根据寄存器手册中的含义，首先确定要写入哪些寄存器，然后确定写哪些位，再确定写入的值，执行写入操作后还要再次读出寄存器的值，以确认是否把期望值成功写入了寄存器。

上述这些工作包含了反复的寄存器读写测试，如果采取人工测试，效率将非常低下。必须借助适当的工具自动完成这些操作。

现以典型的嵌入式操作系统和BSP的关系为例，请参照图1所示。由图1中可以看出，BSP 15是介于物理硬件16和嵌入式操作系统的内核17之间，内核17并不直接对硬件16进行操作，而是通过BSP 15屏蔽底层硬件16的操作细节，使得操作系统可以向上层应用软件20提供统一的、与硬件16无关的应用设备接口，如输入输出系统19，文件系统18等。

通常嵌入式系统的微处理器厂商会提供CPU的测试工具，通过CPU的JTAG(JTAG：Joint Test Action Group，联合测试行动组)接口完成对CPU内部寄存器的测试和BSP代码的调试进而实现对嵌入式系统中的寄存器进行测试。嵌入式系统的微处理器厂商所提供的这些CPU测试工具，通过他们提供的集成环境，大多仅支持CPU的寄存器测试，不支持测试嵌入式系统上其它的寄存器，不利于寄存器配置信息的管理和扩充。一般也有第三方厂商提供的类似测试工具。这些测试工具主要提供汇编语言或高级语言的代码调试功能，例如支持代码的单步运行、设置断点、寄存器查看等等，都是通过输入汇编语言或者高级语言的命令，一步一步地执行，测试效率不高。这些工具一般都提供一个基于Windows操作系统的图形化用户操作界面，在普通PC机上运行。

而且这些测试工具一般都不会将寄存器内容与其配置含义关联起来，在使用这些工具读写寄存器时，大量繁琐的查阅寄存器手册的工作仍需用户自己完成，换句话说，就是BSP的测试效率还很低下。

发明内容

本发明解决的问题是提供一种测试装置及测试方法，以达到提高测试嵌入式系统中各种寄存器的效率，进而提高BSP测试效率的目的。

为此，本发明提供如下的技术方案：

一种测试装置，应用于嵌入式系统中，所述测试装置包括：

数据库，用于存放嵌入式系统中的寄存器手册信息；

用户界面，用于输入测试命令及显示目标寄存器的寄存器手册信息及目标寄存器的当前值；

桩模块，运行于嵌入式操作系统之上，根据测试命令对目标寄存器进行读或写操作并读出目标寄存器的当前值；

主控模块，用于接收由用户界面输入的所述的测试命令，并转发给所述桩模块或/和根据所述的测试命令调取所述数据库中目标寄存器的寄存器手册信息，然后将所述目标寄存器的当前值或/和所述目标寄存器的寄存器手册信息反馈给所述的用户界面。

所述的测试命令包括读寄存器命令、改写寄存器命令及调取寄存器手册信息命令。

所述测试命令位于字符帧中。

所述数据库包括本地数据库和远端数据库，所述本地数据库，是用于存放嵌入式系统中的寄存器手册信息，是由远端数据库拷贝过来的；而远端数据库，用于存放嵌入式系统中的寄存器手册信息且总是保持最新版本。

所述数据库中寄存器手册信息以中英文两种方式存放。

所述桩模块设置有用于输入输出的通信端口，且通过传输控制协议或者网际协议与主控模块建立传输连接。

相应地，本发明还提供一种测试方法，其包括以下流程：

读寄存器流程，桩模块根据测试命令读取目标寄存器当前值并通过主控模块反馈给用户界面显示；

调取寄存器手册信息流程，主控模块根据测试命令从数据库中调取目标寄存器的寄存器手册信息，并反馈给用户界面显示；

改写寄存器流程，参照寄存器手册信息通过桩模块改写目标寄存器，并将目标寄存器的当前值通过主控模块反馈给用户界面显示。

所述读寄存器流程进一步包括如下步骤：用户界面发出读寄存器命令；主控模块将读寄存器命令放在字符帧中以字符串的形式通过通信端口转发给桩模块；桩模块从通信端口接收到字符串后，判断字符串是否是字符帧，如果是字符帧，则执行字符帧中的读寄存器命令读取目标寄存器的当前值并将目标寄存器的当前值通过通信端口发给主控模块；主控模块将接收到的目标寄存器的当前值反馈给用户界面，显示在用户界面上。

所述调取寄存器手册信息流程进一步包括如下步骤：主控模块接收到用户界面发来的调取寄存器手册信息命令或读寄存器命令后，从数据库中调出目标寄存器的寄存器手册信息反馈给用户界面。

所述改写寄存器流程进一步包括如下步骤：参照寄存器手册信息用户界面发出改写寄存器命令；主控模块将改写寄存器命令放在字符帧中以字符串的形式通过通信端口转发给桩模块；桩模块从通信端口取出字符串，判断字符串是否是字符帧，如果是字符帧，则执行字符帧中的改写寄存器命令对目标寄存器进行改写操作。

与现有技术相比，本发明的测试装置及测试方法，具有以下优点：

首先，由于本发明的技术方案中的用户界面，显示本地数据库内寄存器名及寄存器手册的关联内容和嵌入式系统中的寄存器值，这种图形化的界面，可以使用户操作起来非常方便，而且把寄存器与其手册中的内容关联起来，用户在检查寄存器内容时，就像使用电子辞典一样方便，这样大大提高了测试嵌入式系统中各种寄存器的效率，从而提高了BSP程序的测试效率。

其次，本技术方案还使用数据库技术，也就是本地数据库和远端数据库，对嵌入式系统中微处理器和集成电路芯片的寄存器手册信息进行管理，使得今后扩充和更新寄存器配置信息非常方便

再者，本地数据库和远端数据库中寄存器手册的信息是以中英文两种方式存放的，当用户对中文译文有怀疑时，不必再反复查阅手册原文，直接选择以英文方式显示寄存器手册的信息就可以了，从而大大提高了BSP程序的审查和测试效率。

附图说明

图1是现有技术中嵌入式操作系统和BSP的关系示意图；

图2是本发明的测试装置结构图；

图3是图2的用户界面示意图；

图4是图2的用户界面又一示意图；

图5是主控模块的主流程图；

图6是桩模块的主流程图。

具体实施方式

如图2所示，本发明测试装置，应用于嵌入式系统中，所述的测试装置包括：数据库30，存放嵌入式系统1中的寄存器手册信息；用户界面3，用于输入测试命令及显示目标寄存器的寄存器手册信息及目标寄存器的当前值；桩模块2，运行于嵌入式操作系统12之上，根据测试命令对目标寄存器进行读或写操作并读出目标寄存器的当前值；主控模块4，接收用户界面3的测试命令，转发给桩模块2或/和根据测试命令调取数据库30中目标寄存器的寄存器手册信息，且将目标寄存器的当前值或/和目标寄存器的寄存器手册信息反馈给用户界面3。

所述测试命令包括读寄存器命令、改写寄存器命令及调取寄存器手册信息命令。

所述数据库30中寄存器手册信息是以中英文两种方式存放，即表示在用户界面3，可以以中英文两种方式显示。如图2中的数据库30包括本地数据库5，是用于存放嵌入式系统1中的寄存器手册信息。

主控模块4、用户界面3和本地数据库5可运行于一台计算机7上。嵌入式系统1与存放主控模块4、用户界面3和本地数据库5的计算机7之间可通过网络连接。

如图5所示，主控模块4总是处于等待输入状态，如果有输入，就判断此输入是来自用户界面3还是来自桩模块2，如果是来自用户界面3的，判断此输入是读寄存器命令、改写寄存器命令还是调取寄存器手册信息命令，如果读寄存器命令，主控模块4就把此测试命令放在字符帧中以字符串的形式转发给桩模块2，同时主控模块4还将目标寄存器的寄存器手册信息从本地数据库5中取出反馈给用户界面3，然后处于等待输入状态；如果是改写寄存器命令，主控模块4就把此测试命令放在字符帧中以字符串的形式转发给桩模块2，继而处于等待输入状态；如果是调取寄存器手册信息命令，主控模块4就从本地数据库中调出目标寄存器的寄存器手册信息反馈给用户界面，然后处于等待输入状态。

桩模块2是运行于嵌入式系统1的嵌入式操作系统12之上的，嵌入式操作系统12运行于BSP 13之上，桩模块2设置有用于输入输出的通信端口，且通过传输控制协议(TCP)或者网际协议(IP)与主控模块4建立连接。

如图6所示，桩模块2首先进行一些初始化工作，如命令初始化，建立命令索引表、网口通信端口初始化，然后就从通信端口中读取字符串，并判断字符串的类型，如果字符串是字符帧，就表示该字符串是读寄存器命令或者是改写寄存器命令，桩模块2就执行该测试命令和/或向用户界面反馈寄存器的当前值；如果字符串不是字符帧，而是其它的事情，桩模块2就进行相应的处理。桩模块按照字符串的要求处理结束后，桩模块2就又去读取通信端口中的字符串，进行判断，根据判断结果进行相应的处理。

如图3所示，用户界面3分为寄存器名区域9、寄存器值读写区域10和寄存器手册区域11，寄存器名区域9显示的是来自本地数据库5内寄存器手册中的寄存器名称，也就是嵌入式系统1中所有寄存器的名称，本例中是以分类树的形式显示的(在实际使用的过程中可以采用任意方式来显示)。在寄存器名区域9中把所有寄存器分成几大类，如通讯处理模块(CPM，Communicate ProcessModule)寄存器大类、内核寄存器大类及系统集成单元(SIU，System IntergrateUnit：)寄存器大类等，把这几大类作为一级目录，每一个大类又分成几个小类，小类作为二级目录，例如把SIU寄存器大类分成时钟和重置小类和通用的SIU小类等。每一个小类还可以细分，作为三级目录，这样依次进行下去，直到最后不可再分了，就是一个一个的寄存器。在寄存器值读写区域10中显示的是寄存器名区域9中选定的寄存器在嵌入式系统1中的当前值，寄存器手册区域11显示的是寄存器名区域9中选定的寄存器的基本信息。

测试人员打开用户界面3后，主控模块4调用本地数据库5，把本地数据库5内的寄存器名称反馈给用户界面3，用户界面3以分类树的形式把寄存器名称显示在寄存器名区域9。在寄存器名区域9测试人员可用鼠标点击要访问的寄存器，即选定目标寄存器并发出读寄存器命令。

主控模块4接收到读寄存器命令后，要执行两种操作，一种操作是从本地数据库5中把目标寄存器的寄存器手册信息取出来给用户界面3，显示在用户界面3的寄存器手册区域11，该信息以中英文两种方式显示；另一种操作是把读寄存器命令存放在字符帧里，本例中是在读寄存器命令前加入字符帧的帧标识符0x31，以字符串的形式传给桩模块2，桩模块2从通信端口读取字符串，判断该字符串是字符帧，便执行字符帧中的读寄存器命令，从嵌入式系统1上把目标寄存器的当前值取出来，再把目标寄存器的当前值通过通信端口传给主控模块4，由主控模块4将其反馈给用户界面3，显示在用户界面3的寄存器读写区域10，寄存器值是以十六进制和二进制两种方式显示的，这样就可以把嵌入式系统1上的寄存器的当前值读出。

如果要修改嵌入式系统1中的寄存器的内容，测试人员把鼠标指向寄存器读写区域内要修改的位，主控模块4就从本地数据库5中把目标寄存器该位的寄存器手册信息浮动显示出来，寄存器手册信息可以以中英文两种方式显示。用户便可参照此信息，用鼠标点击要修改的位，将1改为0或者将0改为1，然后予以确认，即发出改写寄存器命令。

主控模块4接收到用户界面3发出的改写寄存器命令后，将改写寄存器命令放入字符帧中以字符串的形式通过通信端口发给桩模块2，桩模块2从通信端口接收到该字符串后，判断该字符串是否是字符帧，如果是字符帧，则执行字符帧中的改写寄存器命令，并且随即把修改后的目标寄存器值读出，即目标寄存器的当前值，并把目标寄存器的当前值通过通信端口传给主控模块4，由主控模块4将目标寄存器的当前值反馈给用户界面3，显示在用户界面3的寄存器值读写区域10。

下面以系统时钟控制寄存器(SCCR，System clock control register)为例，如图3所示，在用户界面3的寄存器名区域9，测试人员点击用户界面3的寄存器名区域9中显示的寄存器名称SCCR，主控模块4接收到读寄存器命令后，就从本地数据库5内的寄存器手册中把SCCR的基本信息调出来显示在图3中的用户界面3的寄存器手册区域11，同时，主控模块4还把读SCCR的读寄存器命令传给桩模块2，桩模块2接收到此测试命令后就从嵌入式系统1中把SCCR的当前值取出来并传给主控模块4，主控模块4便将SCCR的当前值反馈给用户界面3，显示在用户界面3的寄存器值读写区域10中，SCCR是一个32位的寄存器，如图3中的寄存器值读写区域10所示，SCCR的值的十六进制表示是0x1fffa28b，二进制表示是00011111111111111010001010001011。在寄存器值读写区域10中，SCCR的以二进制表示的值显示了两排，上面的一排所在的位置称为当前值；下面的一排所在位置称为设置寄存器的值，用于改写寄存器值时使用。

SCCR的当前值读出后，测试人员可察看SCCR的各个位的配置信息是否符合要求，本例要察看SCCR的第25位的值，测试人员可以用鼠标指向SCCR的第25位，在本例中该位和与其相关联的位都以绿色高亮度显示，在实际应用中可以以任何色彩和亮度显示，同时主控模块4就从本地数据库5中把该位的寄存器手册信息调出来以浮动的方式显示出来，同样，该位的寄存器手册信息也可以以其它的方式显示，只要测试人员能看到就可以。SCCR的第25位的寄存器手册信息如图4所示，该位表示时间基准源。决定驱动时间基准和减法计数器的时钟源。该位是0时表示时间基准频率源为OSCCLK的4或16分频，该位值为1时表示时间基准频率源为GCLK2的16分频。测试人员就可以参考此信息，对该位配置一个正确的值。如果测试人员觉得中文信息翻译的不好，不如看英文信息更清晰明了，测试人员可以点击寄存器值读写区域10中的中英文转换按钮，该位的硬件配置信息的说明就可以以英文的方式显示出来。

在本例中SCCR第25位的当前值是1，如果测试人员要将该位当前值由1改为0，测试人员可直接在用户界面3的寄存器值改写区域10中设置寄存器值部分，用鼠标点击要修改的位，即发出改写寄存器命令。本例中测试人员用鼠标点击第25位，使得该位的值由1变为0，主控模块4接收到改写寄存器命令后，就把该命令存放在字符帧中，即在改写寄存器命令前加入字符帧的帧标识符0x31，以字符串的形式通过通信端口传给桩模块2，桩模块2从通信端口中取出字符串，判断该字符串是一个字符帧，则执行字符帧中的改写寄存器命令，把嵌入式系统1中的SCCR的第25位的值由1设置为0，重新设置完SCCR的值后，桩模块2把重新设置好的SCCR的值也就是SCCR的当前值通过通信端口传给主控模块4，主控模块4再把SCCR的当前值反馈给用户界面3，显示在用户界面3的寄存器值改写区域10，这时用户界面3的寄存器值改写区域10显示的就是改写后的SCCR的值也就是SCCR的当前值。

这样就完成了对嵌入式系统1中某一个寄存器的某一位信息的测试。因此上述过程可以不断往复地操作运行，直到把嵌入式系统1中所有的寄存器信息都测试结束，也就是完成了对嵌入式系统1的测试工作。

如图2所示的测试装置的数据库30还包括由主控模块4调用的远端数据库6，所述远端数据库6存放的是嵌入式系统1中的寄存器手册信息，该信息总是保持最新的版本，该寄存器手册信息是以中英文两种方式存放的。远端数据库6可以存放在一台计算机8上，运行于数据库管理软件之上，如Sql Server、Oracle等。存放远端数据库6的计算机8与存放主控模块4、用户界面3和本地数据库5的计算机7之间可通过网络连接。维护人员利用数据库管理软件提供的各种命令和功能，可以对远端数据库6内的寄存器信息进行更新和扩充，且根据需要通过主控模块4调用远端数据库6，把远端数据库6的内容拷贝到本地数据库5内，即对本地数据库5进行更新，存放的是远端数据库6的一个副本，这样测试人员不必考虑本地数据库5的更新问题。

本发明测试方法，包括以下流程：

读寄存器流程，桩模块2根据测试命令读取目标寄存器当前值并通过主控模块4反馈给用户界面3显示；

调取寄存器手册信息流程，主控模块4根据测试命令从数据库30中调取目标寄存器的寄存器手册信息，并反馈给用户界面3显示；

改写寄存器流程，参照寄存器手册信息通过桩模块2改写目标寄存器，并将目标寄存器的当前值通过主控模块4反馈给用户界面3显示。

所述读寄存器流程进一步包括如下步骤：用户界面3发出读寄存器命令；主控模块4将读寄存器命令放在字符帧里以字符串的形式转发给桩模块2；桩模块2在通信端口接收到字符串后，判断该字符串是否是字符帧，如果是字符帧，则执行字符帧中的读寄存器命令读取目标寄存器的当前值并将目标寄存器的当前值通过通信端口发给主控模块4；主控模块4将接收到的目标寄存器的当前值反馈给用户界面3，显示在用户界面3上。

所述调取寄存器手册信息流程进一步包括如下步骤：主控模块4接收到用户界面3发来的调取寄存器手册信息命令或读寄存器命令后，从数据库30中调出目标寄存器的寄存器手册信息反馈给用户界面3。

所述改写寄存器流程进一步包括如下步骤：参照寄存器手册信息用户界面3发出改写寄存器命令；主控模块4将改写寄存器命令放在字符帧中以字符串通过通信端口转发给桩模块2；桩模块2从通信端口取出字符串，判断字符串是否是字符帧，如果是字符帧，则执行字符帧中的改写寄存器命令对目标寄存器进行改写操作。

综上所述，本发明的测试装置及测试方法的有益效果如下：

首先，由于本发明的技术方案中的用户界面3，显示本地数据库5内寄存器名及寄存器手册的关联内容和嵌入式系统1中的寄存器值，这种图形化的界面，可以使用户操作起来非常方便，而且把寄存器与其手册中的内容关联起来，用户在检查寄存器内容时，就像使用电子辞典一样方便，这样大大提高了读、写嵌入式系统1中各种寄存器值的效率，从而提高了BSP程序的测试效率。

其次，本技术方案还使用数据库技术，也就是本地数据库5和远端数据库6，对嵌入式系统1中微处理器和集成电路芯片的寄存器手册信息进行管理，使得今后扩充和更新寄存器配置信息非常方便

再者，本地数据库5和远端数据库6中寄存器手册的信息是以中英文两种方式存放的，当用户对中文译文有怀疑时，不必再反复查阅手册原文，直接选择以英文方式显示寄存器手册的信息就可以了，从而大大提高了BSP程序的审查和测试效率。

Claims (10)

1、一种测试装置，应用于嵌入式系统中，其特征在于，所述的测试装置包括：

数据库，用于存放嵌入式系统中的寄存器手册信息；

用户界面，用于输入测试命令及显示目标寄存器的寄存器手册信息及目标寄存器的当前值；

桩模块，运行于嵌入式操作系统之上，根据测试命令对目标寄存器进行读或写操作并读出目标寄存器的当前值；

主控模块，用于接收由用户界面输入的所述的测试命令，并转发给所述桩模块或/和根据所述的测试命令调取所述数据库中目标寄存器的寄存器手册信息，然后将所述目标寄存器的当前值或/和所述目标寄存器的寄存器手册信息反馈给所述的用户界面。

2、如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试命令包括读寄存器命令、改写寄存器命令及调取寄存器手册信息命令。

3、如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述的测试命令位于字符帧中。

4、如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述数据库包括本地数据库和远端数据库，所述本地数据库，是用于存放嵌入式系统中的寄存器手册信息，是由远端数据库拷贝过来的；而远端数据库，用于存放嵌入式系统中的寄存器手册信息且总是保持最新版本。

5、如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述桩模块设置有用于输入输出的通信端口，且通过传输控制协议或者网际协议与主控模块建立传输连接。

6、一种测试方法，其特征在于，包括以下流程：

读寄存器流程，桩模块根据测试命令读取目标寄存器当前值并通过主控模块反馈给用户界面显示；

调取寄存器手册信息流程，主控模块根据测试命令从数据库中调取目标寄存器的寄存器手册信息，并反馈给用户界面显示；

改写寄存器流程，参照寄存器手册信息通过桩模块改写目标寄存器，并将目标寄存器的当前值通过主控模块反馈给用户界面显示。

7、如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述测试命令包括读寄存器命令、改写寄存器命令及调取寄存器手册信息命令。

8、如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述读寄存器流程进一步包括如下步骤：用户界面发出读寄存器命令；主控模块将读寄存器命令放在字符帧中以字符串的形式通过通信端口转发给桩模块；桩模块在通信端口接收到字符串后，判断字符串是否是字符帧，如果是字符帧，则执行字符帧中的读寄存器命令读取目标寄存器的当前值并将目标寄存器的当前值通过通信端口发给主控模块；主控模块将接收到的目标寄存器的当前值反馈给用户界面，显示在用户界面上。

9、如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述调取寄存器手册信息流程进一步包括如下步骤：主控模块接收到用户界面发来的调取寄存器手册信息命令或读寄存器命令后，从数据库中调出目标寄存器的寄存器手册信息反馈给用户界面。

10、如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述改写寄存器流程进一步包括如下步骤：参照寄存器手册信息用户界面发出改写寄存器命令；主控模块将改写寄存器命令放在字符帧中以字符串的形式通过通信端口发给桩模块；桩模块从通信端口取出字符串，判断字符串是否是字符帧，如果是字符帧，则执行字符帧中的改写寄存器命令对目标寄存器进行改写操作。

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