CN1645082A - 用于监测光开关状态的电路、系统和方法 - Google Patents

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Abstract

一种用于监测光开关的状态的系统和方法，该光开关包括至少一个能够提供开关动作的电可寻址元件。该系统包括：电学监测电路，其能够在开关被设为ON、OFF或中间开关配置时，周期性地测试各个电可寻址元件；和用于实现该周期性测试的机制。所述实现机制可以为例如脉宽调制算法。可选地，可以对电学监测添加对输入和输出光纤进行抽头并检查尾纤的光学监测。

Description

用于监测光开关状态的电路、系统和方法
技术领域
本发明涉及光或光子开关，更具体地，涉及对包括控制开关动作的电子元件的光开关的状态进行监测(优选地、实时地)。这些光开关包括但并不限于马赫曾德干涉仪(Mach Zehnder Interferometer，MZI)结构，其中采用一个或多个加热元件来影响波导的折射特性，从而可以改变通过光或光子开关的光的方向。
背景技术
这些开关组成的网络可以用于在该网络上将光流从源传输到目的地。各个开关必须正确地工作，即，各个开关的所有路径应该处于正常工作状态，为此，期望监测所有开关(优选地，实时地)。在通信领域中，使用光开关是公知的。网络监测在网络领域也是公知的，并且MZI开关的使用也是公知的。
用于监测光开关状态的公知方法是基于光学技术的。例如，Schroeder等人的美国专利第6,198,856号公布了一种具有测试端口的光开关。在该教示中指出，并非所有光开关都与测试或监测设备兼容，例如，美国专利5,699,462中介绍的开关。在美国专利6,198,856中，Schroeder公开了该开关的变形例，其中对该开关进行了改进以支持监测功能。
Shirasaki等人的美国专利第6,317,526号公布了采用MZI结构的光子开关的具体示例，该结构中并入了加热元件和监测元件。并且描述了监测这些加热元件的两种方法。授予McClelland等人的美国专利第6,470,106号公布了一种基于“泡(bubble)”的光开关，其中并入了错误监测器。授予Al-Hemyari等人的美国专利第6,636,668号教示了一种实时监测光开关的光学装置。
所有上述现有技术的监测系统和方法都完全是光学的。上述方法中没有一种能够监测当前没有光通过的开关路径，即开关的多条可能路径中的在进行监测时没有光通过的一条。因此，普遍认为需要一种监测方法，其能够连续地(优选地，实时地)检查任一开关路径的状态，而与监测时是否有光通过无关，这样的方法具有显著的优势。这种监测将提供整个光学系统的完整的状态报告。
发明内容
本发明提供了一种电路，其用于实时地监测嵌入在光开关中的电可寻址元件，尤其是嵌入热光开关中的加热器。对于这些元件的监测有利于及早检测到各个元件的错误，由此检测到整个开关的错误。虽然下面的说明针对热光开关，但是这里公开的电路、系统和方法可以应用于使用电子控制方法来触发光开关的所有开关类型。
根据本发明，提供了一种用于监测光开关状态的系统，该光开关包括至少一个提供开关动作的电可寻址元件，所述系统包括：电学监测电路，其能够在该开关被设置为一种开关配置时，周期性地测试该至少一个电可寻址元件；和用于实现该周期测试的机制。
根据本发明，提供了一种用于监测非活动光开关路径的系统，该非活动光开关路径具有至少一个电可寻址元件，该系统包括：第一机制，用于对该至少一个电可寻址元件进行电学测试；和第二机制，用于根据该电学测试获得开关状态，从而在不影响该至少一个电可寻址元件的任何正常功能的情况下周期性地进行该电学测试，从而该周期性测试提供了该开关的完整的状态报告。
根据本发明，提供了一种用于监测具有至少一个电可寻址元件的光开关的状态的方法，所述方法包括以下步骤：在开关处于一种开关配置时，周期性地寻址该至少一个电可寻址元件以获得周期性输出信号，并处理这些输出信号，从而获得光开关状态的连续、实时的信息。
根据本发明，提供了一种方法，用于提供关于光通信系统的完整、实时的状态信息，该光通信系统包括：多个开关，各个开关具有至少一个电可寻址元件；以及多个光学部件。所述方法包括以下步骤：通过其至少一个电可寻址元件对各个光开关进行电学监测；并对一个或多个光学部件进行光学监测，从而组合的光学监测和电学监测提供了关于整个光通信系统的完整的状态信息。
附图说明
下面参照附图仅以示例的方式对本发明进行说明，图中：
图1表示马赫曾德干涉仪(MZI)光开关的操作；
图2示意性地说明了根据本发明的光开关监测系统；
图3详细表示了根据本发明的监测电路的优选实施例；
图4表示PWM测试的示例应用；
图5表示具有2N个输入/输出光纤的N×N光学芯片，其被构造为对各个光纤进行光学测试；
图6表示具有2N个输入/输出光纤的N×N光学芯片，其被构造为对尾纤(pigtail)进行光学测试。
具体实施方式
本发明提供了一种监测电路，其用于监测嵌入光开关中的电可寻址元件。这些元件负责通过例如电光、热光效应或机械致动效应来进行光开关动作。根据通过与该开关一体的电可寻址元件(例如，加热器)的电信号来进行监测，并对信号响应进行监测和评估。换言之，与现有技术相比，这里所公开的监测系统和方法提供了对于光开关状态的电学监测。此外，这里公开的方法与现有技术的不同之处在于，其监测实际开关机构，而不仅监测开关命令及其处理，或者当前开关位置。该方法还监测所有独立开关元件，检查它们是否都在操作该光开关系统所需的位置处进行操作。本说明书集中说明特定类型的光开关：图1示意性示出的本领域公知的热光MZI型开关。但是，本发明并不限于MZI开关，其同样可以应用于其它类型的光开关，只要它们包含这种电可寻址元件。因此，响应于电场或电流脉冲而机械致动的MEMS微镜开关和可移动波导光开关也落入本发明的范围。
另选地，除了开关、开关部件、开关阵列等的电学监测机制外，本发明还提供了光路径的光学监测(该光学监测在某些情况下与电学监测互补)，在光学芯片和光开关系统的层次提供完整的监测系统。一种光学监测机制包括抽头和光检测器，用于接进并监测光纤中的光信号，或者换言之，从外部监测光信号。另一光学监测机制涉及激光器(或具有系统中可用和支持的光特性范围的任何其它光源)，该激光器提供对尾纤连接进行监测的信号。该机制使光通过附加的或已经存在的未使用光纤，来监测光开关的所有尾纤，以确认尾纤没有断开或劣化。通过确认连接在光开关上的各个尾纤(其可以具有阵列结构的多个光纤)使光从所使用的激光器进入该开关并返回到光检测器，以确认尾纤正确地连接到了该光开关上，并被动地传输来自尾纤的所有光纤的光，而不仅仅是用于监测的一些光纤。可选地，把这两种方法与电学监测相结合，以提供完整的监测方案。
本发明提供了一种创造性的监控电路、系统和方法，其可以一直监测光开关的每个部件，由此提供了极其可靠(系统级)的开关，该开关可以用于要求高可用性的应用，例如，用于保护开关的应用。与其它监测方法一样，这里公开的监测或测试方法可以监测进入开关或开关阵列(“芯片”)的所有端口并离开所有端口的光，确认所测试的开关的当前配置正在工作并且满足参数要求。这只是通过简单地接进输入和输出光纤并测量存在的信号、确认开关对这些信号的效果是所预期的，从而实现的。但是，与已知的光学监测方法相比，这里公开的方法可以超越这种简单的“活动”监测，可以监测当前没有使用而将来可能会使用的(理论)配置。换言之，本发明的监测保证光路径一直可工作，即使该路径没被使用(当前没有光通过)。由此本发明的监测可以应用于“非活动”开关、开关配置或光路径，以及处于ON和OFF配置之间的中间位置的开关。这里所使用的“非活动”开关表示当测试时没有光通过该开关的某一个或多个路径的开关。完全光学的已知监测系统和方法只监测“激活”开关、配置或光路径，即，只监测在监测时有光通过的开关。
如上所述，使用本发明可以监测的光开关包括常规的ON/OFF(二元)开关，以及“中间”开关，即，不仅可以把整个光信号通向一个端口或另一端口，而且可以按照不同的权重比在不同端口之间对信号进行多点传送的开关。这表示，例如，在具有8个输入端和8个输出端的8×8开关系统中，可以分别将输入端3的30％、25％、15％、30％的功率切换到输出端2、5、6和7。在基于MZI的热光开关的另一示例中，可以如下来进行这些开关的控制：根据所控制的MZI所需的预期光功率分割比例，施加光开关中的开关元件的ON水平和OFF水平之间的某一电功率水平。本发明还可以监测所有可能配置的状态，以确认这些配置在当前配置中以及在光开关要切换到的将来配置中都可以正确地工作。此外，本发明还包括可变光衰减器(VOA)的状态监测，这可以通过使用具有一个输入端和两个输出端的多播1×2开关来基本实现，其中第二输出端被省略或弃用。通过根据所期望的比例将来自输入端1的一部分光功率传输到输出端2(12)来衰减从输入端1到输出端1(11)的信号。例如，在由PWM控制的热光MZI开关中，这是通过设置PWM占空比来实现的，换言之，根据所期望的衰减，将从加热器传递到MZI的一个支路上的光学芯片的热量设置为ON水平和OFF水平之间的一中间水平，来使PWM控制热光MZI开关。
在一具体示例中，本发明的监测系统和方法应用于以1  1配置通过光的1×2开关。虽然该开关仍处于1→1配置，而没有光实际通过1→2配置，但是本发明的监测可以确认，当想要对光进行重新选路时，1→2路径可以工作。
现在参照附图，图1表示包括加热器102的典型MZI开关，该加热器102大致位于第一支路(光波导)104上或其附近，该第一支路104一般与第二支路106相同，但也可以不同。通过热光效应，加热器中的温度变化改变支路104的光学特性(即，折射率)，由此改变通过该支路传播的光的相位。两个支路之间的相位差确定了光是导向第一输出端110还是第二输出端112。加热器通过加热器电路与电源和控制机制(图1中未示出)相连。在现有技术中(包括在上面的Shirasaki’526和Katagiri等人的美国专利第6,643,422号中)描述了典型的开关动作，因此这里不再重复。两个支路上都具有加热器的MZI开关也是公知的，如，在M.Kawachi，“Silica waveguides on silicon and their application tointegrated-optic components”，Optical and Quantum Electronics，417-426，1990和Shani等人的美国专利申请10/140,987中公开的。下面对具有一个加热器的开关进行讨论，应该理解，这里公开的监测系统和方法可以用于独立地监测开关或开关阵列中的各个和每一个加热器。
图2示意性地说明了根据本发明的监测系统200。该系统用于监测位于平面光波导(PLC)芯片202上的多个(n个)加热器H1-Hn的状态。各个加热器属于独立的光开关，例如MZI开关。另选地，如上所述，MZI开关可以具有两个或更多个加热器，而其它类型的开关，如MEMS光开关可以具有不仅(或者甚至完全)用于改变光学特性而且用于致动或驱动该开关的多个电子元件。如这里所说明地，任何这样的通过电流的电子元件在理论上都可以用于光开关的电子或电学监测。必须强调，此监测根本不会干扰开关中通过的光信号。系统200包括：电子驱动器板204，其具有驱动和控制开关H的功能。具体地，对于各个加热器，板204包括：加热器电路206，其通过第一连接208与加热器相连，并通过第二连接210与控制和逻辑电子模块212相连。优选地，模块212对于所有加热器电路共用。
图3详细表示了用于驱动和监测加热器300的加热器电路206的示例性实施例(与上面的Hn-1相同)。该电路优选地包括：驱动场效应晶体管(FET)302，其第一端子(如，漏极)304连接到加热器，并通过该加热器连接到电压(优选地12V)源，其第二端子(如，源极)306与传感电阻器308相连并通过该传感电阻器308接地。FET的栅极310与脉宽调制(PWM)控制312相连，该脉宽调制控制312的功能将在下文中详细说明。第二端子306和传感电阻器308通过放大器314共同连接到模数转换器(ADC)316。从传感电阻器获得的输出信号在放大器中被放大并通过ADC进行调节，随后被读取机制(优选地，FPGA)读取，该读取机制用于对光开关进行逻辑控制。
在操作中，模块212接收命令，将光开关设置到所选配置，并将该请求转换成给各个加热器的一组控制PWM值。PWM系统和方法是公知的。作为最近参考，参见例如Salsbury的美国专利第6,647,318号。然后该模块将PWM命令发送到驱动FET的栅极。各个PWM命令对于(加热器的控制周期中的)特定时间片打开逻辑门，按照特定的占空比，将12V电流从“12V”电源通向PLC上的适当加热器。例如，在x％的时间中，12V连接为“HI”，而在(100-x)％的时间中为LOW(与加热器断开)，由此实现两个MZI路径之间不同的加热。由此，该开关执行所请求的配置，直至接收到新的PWM命令。
通过监测各个加热器的状态来监测和检测光开关的工作状态。加热器是光开关中唯一的有源部件，如果加热器正确工作并具有闭合回路，则其产生所需热量，由于材料的固有物理特性，从而可以实现开关操作。因此，与驱动器电路具有良好连接的良好加热器可以实现良好的光开关操作。模块212连续地进行该监测和检测。其在PWM周期内的多个时隙中读取ADC，确认FPGA或在PWM为HI(电流正在流过FET)时以及PWM为LOW(没有电流流过FET)时都能根据ADC确定并报告状态的其它电子设备读取了正确的值。由于ADC读取操作检查出FET即可连接亦可断开MZI中的加热器的电流，所以确认FET处于正常工作状态。该模块还检查加热器电阻，确认加热器能够以所需电阻来承载驱动光开关所需的电流。该检查操作确认加热器没有任何劣化。上述过程主要作用于驱动光开关所需的整个机制，确认所有部件都处于正常工作状态。注意，与任何公知的光学监测方法和系统不同，本发明在开关的所监测路径为OFF(没有光通过)时也可以进行监测。
在特定加热器没有进行PWM驱动(由于对于包含光开关的n个MZI发送至开关控制的请求以及所转换成的PWM的状况)的情况下，在能够测量ADC读数的足够长的时间中，对未使用的加热器实施非常短的PWM占空比。该过程确认电路是可工作的，但是不会长到影响光开关的热光效应。热光效应一般需要约1ms来从ON切换到OFF，然而，根据本发明的用于测量未使用MZI及其加热器的工作状态的短PWM占空比一般需要约1μs(或更短)，因此，不会影响通过该开关的光信号。这对于处于HI状态的全载PWM控制中的电路也是适用的。在这种情况下，对开关机制施加一个短脉冲LOW控制，以确认能够切断从FET到加热器的电流，由此确认完全可工作。这也可以在足够短的时间中进行，不影响光开关对正在通过该光开关的光信号的性能，而又足够测量并确认开关的工作状态。
另外的可选光学测试
通过开关的电可寻址元件的电学测试使得可以进行现有技术中不能实现的测试类型，尤其是测试一条或多条非活动开关路径，即，在测试或监测时没有光通过的路径。可选地，这里所公开的测试方法可以包括对于光开关系统的其它元件(如光纤和尾纤)的附加光学测试。这些也是光开关系统中的需要监测的无源部件，以确认光开关系统的完全可工作状态。图5表示包括N×N开关阵列和2N个光纤的光学芯片(开关模块)，在各个光纤的输入和/或输出接口处附连有一个与光检测器(PD)相连的输出抽头。图6表示一类似的光学芯片，其中2N个光纤通过尾纤与芯片相连。还示出了用于测试该尾纤的测试波导。该尾纤实际上是连接光开关模块的内部波导与外部波导或光纤的波导互连，该外部波导或光纤承载从光开关模块出来的光。该测试波导的一端附连有测试激光器，另一端上附连有PD。
为了确认工作信号是在根据预期的规范工作，在输入/输出端口对图5中的各个光纤进行抽头。即，抽取少量的光进行监测。对于进入开关模块的光，监测输入光纤，对于离开该开关模块的光学监测输出光纤。这样，通过比较输入和输出光信号的特性，可以检查光开关模块对光信号的确切影响。这种抽头方法在现有技术中是公知的。
在包括尾纤的光开关系统中，需要对工作和非工作(将来可能工作)路径进行的最终状态检查包括监测尾纤(图6)及其对于信号的影响。由于尾纤在其对光信号的影响方面是无源部件，所以检查其状态的唯一方法是使光通过该尾纤，以确认该尾纤对于通过其连接的整个光纤阵列仍在工作。通过使用外部(相对于光开关模块)“测试”激光器来进行该检查，其中该外部“测试”激光器使光通过闲置、换言之未使用的光纤和波导。这些波导和光纤使激光通过尾纤进入光开关波导并返回该尾纤(或另一尾纤)，进入外部PD。对出来的光进行测量，以确认对激光信号特性的影响总是遵循规定。优选地使用尾纤阵列中最外面的光纤进行尾纤测试，因为根据尾纤对这些路径的影响，最外面的光纤的工作状态确认了尾纤中其它路径(即，通过这些尾纤连接的整个光纤阵列)的状态。一直对光开关模块的所有尾纤进行检查和监测，以修正工作状态。
总之，本发明公开了使用电装置对任一光开关的状态进行监测的机制和方法，无论在监测时该光开关是否正在使用。可以实时地连续监测系统中的所有开关(MZI开关只作为示例)，以确认它们起作用，无论它们当前正在通过光，还是它们当时没有使用但是可能在光开关所请求的将来配置中需要使用。如果该检测机制在任何时候读取到了非期望的值，则将适当的通知或告警发送到光开关的管理方，由此随时将光开关的工作状态报告给其使用者。
虽然上面针对MZI开关进行了详细说明，但是所说明的监测当然是通用的并且可以应用于任何类型的光开关。唯一要求是该光开关连接有确定开关配置或状态的电或电子元件(例如加热器或致动器)。例如，在MEMS光开关中，可以通过微镜的移动(例如参见Tew的美国专利No.6,633,694及其参考文献)或者波导的移动(例如参见Hsu等人的美国专利No.6,647,168、Spahn等人的美国专利No.6,577,785、以及Haronian等人的PCT申请PCT/IL01/00787)进行切换。该移动是由于致动(通常是静电的)而引起的，因此涉及电/电子驱动器(如，梳状驱动器)，根据本发明这表示电可寻址元件。Tew’694具体提到了与其开关相关的电可寻址电路。因此，这里说明的监测方法可以通过(例如)对电可寻址电路使用PWM或其它信号而应用于这种包含电可寻址元件的开关，以一直检查开关状态，无论该开关是否正在使用。
使用PWM传感控制的光开关的电学监测的示例
本示例是ARM中央处理器控制整个光开关、并且使用FPGA来控制PWM的生成和监测的情况。该示例来源于本发明的一个已实现的实施例。已经利用离散逻辑电路、门阵列、专用的完全定制芯片、DSP、微处理器和其它控制模块代替FPGA而实现了其它实施例(未示出)。
传感功能
通过用于加热器错误检测的传感功能而实现了PWM控制。下面说明示例性的错误检测算法。
各个PWM FPGA从与其驱动脉冲(通过A/D)相关的传感器或者任何其它值比较或检测电子电路采集数据。参照图4，在时刻A，从PWM脉冲的上升沿(接近脉冲的起始)对PWM进行抽样，在时刻B，从接近PWM脉冲末端的上升沿对其进行抽样(实际抽样时间可在PWM A/B抽样时间寄存器中设定)。利用已知的PWM宽度，该算法确定各个抽样值应该为多少。例如，对于接近50％占空比的PWM，第一抽样应当为“1”，第二抽样应当为“0”。对于短PWM，第一抽样和第二抽样可能都为“0”，对于长PWM，第一抽样和第二抽样可能都为“1”。
如果表示出PWM接近(在PWM时间设置寄存器中定义)这些抽样值中的一个(下文中的“不确定窗口”)，则该算法允许该抽样值为任一值。不确定窗口定义了低和高PWM阈值(以时钟计)。如果PWM宽度小于PWM低阈值，则PWM为Lo。如果PWM宽度大于PWM高阈值，则PWM为Hi。如果皆不是，则PWM为中间(参见下文中的PWM低/高阈值寄存器)。
此外，该算法检查抽样值的幅值。定义抽样值的期望幅值的阈值可以在寄存器中设定。将三个阈值定义为：
低于THoff的抽样值被视为“0”。THon与THill之间的抽样值被视为“1”。THoff与THon之间的抽样值被视为“mid”，并且只有在PWM落入该不确定窗口时才有效。高于THill的抽样值通常表示错误。ON和OFF表示FET的逻辑电平。各个范围包括上阈值但不包括下阈值(即，THoff＜mid＜＝THon)。
下面的表表示了对于各种类型的PWM的期望的抽样值：
    抽样值PWM类型     期望的抽样值A     期望的抽样值B
    PWM低     0/1/mid     0
    PWM中间     1     0
    PWM高     1     0/1/mid
当发现抽样值与期望值不匹配时，在错误位寄存器中产生对于该开关的错误。除了错误位寄存器之外，各个开关根据具体应用的需要将通知发送到管理实体，以将该错误报告给要处理该错误的更高级别。
这里通过引用将本说明书中提到的所有公开、专利和专利申请全部并入本说明书中，产生通过引用明确地并且分别地将各个独立的公开、专利或专利申请并入于此的效果。此外，本申请中的任何参考文献的引用或标识不应当理解为将该参考文献当作对于本发明的现有技术。
虽然针对有限数量的实施例说明了本发明，但是可以对本发明进行许多变形、改进或其它应用。

Claims (25)

1、一种用于监测光开关状态的系统，所述光开关包括至少一个能够提供开关动作的电可寻址元件，所述系统包括：
电学监测电路，其能够在该开关被设置为一种开关配置时，周期性地对该至少一个电可寻址元件进行电学测试；和
用于实现所述周期性测试、从而提供所述光开关的状态的机制；
从而所述周期性电学测试不会干扰通过所述光开关的光流量。
2、根据权利要求1所述的系统，其中所述开关配置为OFF配置。
3、根据权利要求1所述的系统，其中所述光开关是从由热电光开关、微镜开关和可移动波导开关组成的组中选择出的。
4、根据权利要求1所述的系统，其中所述至少一个电可寻址元件为至少一个加热元件。
5、根据权利要求4所述的系统，其中所述开关为马赫曾德干涉仪型开关。
6、根据权利要求1所述的系统，其中周期性地测试所述至少一个电可寻址元件的所述电学监测电路的能力包括进行脉宽调制(PWM)测试的能力。
7、根据权利要求1所述的系统，还包括光学监测装置，其能够提供关于与所述光开关相连的光学部件的附加光状态信息。
8、根据权利要求7所述的系统，其中所述光学部件为输入和输出光纤，并且所述光学装置包括用于在输入端口对各个所述输入光纤进行抽头、并在输出端口对各个所述输出光纤进行抽头，从而获得可以通过比较而提供所述附加光状态信息的输入和输出光特性的装置。
9、根据权利要求7所述的系统，其中所述光学部件包括至少一个尾纤，并且所述光学装置包括用于检查所述至少一个尾纤的装置。
10、一种用于监测具有至少一个电可寻址元件的非活动光开关的系统，包括：
第一机制，用于对所述至少一个电可寻址元件进行电学测试；和
第二机制，用于根据所述电学测试获得开关状态，
从而周期性地进行所述电学测试，而不影响所述至少一个电可寻址元件的任何正常功能，并且所述周期性测试提供了所述光开关的完整状态报告。
11、根据权利要求10所述的系统，其中所述第一机制包括与所述至少一个电可寻址元件相连的监测电路。
12、根据权利要求10所述的系统，其中所述第二机制包括用于通过所述监测电路与所述至少一个电可寻址元件交换脉宽调制(PWM)信号的机制。
13、根据权利要求10所述的系统，其中所述光开关是从由热电光开关、微镜开关和可移动波导开关组成的组中选择的。
14、根据权利要求13所述的系统，其中所述热电光开关为具有两个支路的马赫曾德干涉仪型开关，并且所述至少一个电可寻址元件为设置在所述支路中的一个附近的至少一个加热器。
15、一种用于监测具有至少一个电可寻址元件的光开关的状态的方法，所述方法包括以下步骤：
在所述开关处于一种开关配置时，周期性地寻址所述至少一个电可寻址元件以获得周期性输出信号；以及
处理所述输出信号；
从而获得所述光开关的状态的连续、实时的信息。
16、根据权利要求15所述的方法，其中所述开关配置是从由ON配置、OFF配置和中间配置构成的组中选择的。
17、根据权利要求15所述的方法，其中所述周期性寻址的步骤包括使用脉宽调制周期性地寻址所述至少一个电可寻址元件。
18、根据权利要求15所述的方法，其中所述光开关用于多点传送。
19、根据权利要求15所述的方法，其中所述光开关用于可变光衰减。
20、一种用于提供关于光通信系统的完整、实时的状态信息的方法，所述光通信系统包括：多个开关，各个开关具有至少一个电可寻址元件；以及多个光学部件，所述方法包括以下步骤：
通过所述至少一个电可寻址元件对各个光开关进行电学监测；并且
对一个或多个所述光学部件进行光学监测；
从而组合的光学监测和电学监测提供了关于整个光通信系统的完整状态信息。
21、根据权利要求20所述的方法，其中所述对各个光开关进行电学监测的步骤包括通过脉宽调制传感算法对所述开关进行监测。
22、根据权利要求20所述的方法，其中所述光学部件包括分别具有输入和输出端口的至少一个输入光纤和至少一个输出光纤，其中所述光学监测步骤包括从至少一个所述输入端口和至少一个所述输出端口分接光，从而获得各自的输入和输出光特性，所述光学监测步骤还包括将所述输入和输出光特性进行比较。
23、根据权利要求20所述的方法，其中所述光学部件包括至少一个尾纤，并且所述对一个或更多个光学部件进行光学监测的步骤还包括检查所述至少一个尾纤。
24、根据权利要求20所述的方法，其中所述电学监测的光开关中的至少一个用于多点传送。
25、根据权利要求20所述的方法，其中所述电学监测的光开关中的至少一个用于可变光衰减。
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C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication