CN1349165A - 利用键盘上发光二极管显示计算机硬件故障原因的方法 - Google Patents

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Abstract

一种利用键盘上发光二极管的状态显示计算机硬件故障原因的方法,是指一种不需要依靠80H端口除错卡,而直接利用键盘上的发光二极管的亮灭状态便可得知计算机的故障情形的方法。其包含下列步骤:(1)基本输出入系统先寻址到键盘上的发光二极管;(2)键盘进行译码,并在发光二极管上显示译码后对应的状态;(3)依序对计算机内部组件做测试;以及(4)当计算机故障时,利用键盘上的发光二极管的状态做故障原因显示。

Description

利用键盘上发光二极管显示计算机硬件故障原因的方法
本发明涉及一种利用键盘上发光二极管显示计算机硬件故障原因的方法，确切地说，涉及一种利用键盘上发光二极管(LED)的状态显示计算机硬件故障原因的方法，尤指一种不需要依靠80H端口除错卡，而直接利用键盘上的发光二极管的亮灭状态便可得知计算机的故障情形的方法。
传统的显示计算机硬件故障原因的方法，是因计算机开机时会由基本输出入系统(BIOS)里的程序代码对计算机上的硬件配备及组件进行开机自我测试(power on self test；POST)，之后基本输出入系统先后对内存(memory)、高速缓存(cache)、芯片组(chipset)、时钟芯片(RTC)、显示芯片(VGA)等做初步测试及初始化，确定点亮屏幕所需的硬设备均没问题后，才点亮屏幕。点亮屏幕后，基本输出入系统再对其他尚未测试的硬设备进行测试，如扩充内存、磁盘驱动器、扩充槽上的外加插卡等进行测试及初始化，若一切均没问题，才加载操作系统，当屏幕点亮后，使用者便可由屏幕显示的信息获知故障原因，以方便排除故障。
但是，如果计算机硬件或组件故障时机在屏幕点亮之前，此时必须把计算机机壳打开，在扩充槽上插入80H端口除错卡，由基本输出入系统对计算机系统做测试及故障的检测。如图1所示，首先由基本输出入系统寻址到80H端口除错卡10，并输出事先已规划好的数码11(在基本输出入系统中，每个测试阶段都有其事先所规划好的数码)，则80H端口除错卡将进行译码锁存(1 atch)的动作并显示对应的数码12，之后测试计算机硬件或组件是否故障13？若是，基本输出入系统停止做下一阶段的测试，80H端口除错卡将保持显示此数码14，使用者查表便可得知故障情形，并做进一步的维修15；若否，则基本输出入系统输出下一阶段事先已规划好的数码16，并继续进入下一阶段的测试17，直到所有测试阶段皆正常，加载操作系统18。然而，利用80H端口除错卡做故障原因显示仍有下述的缺点：(1)80H端口除错卡成本高，所以80H端口除错卡都是以外加插卡的方式，造成80H端口除错卡的普及性极低。(2)必须打开计算机机壳后才可安装80H端口除错卡，故操作不易。所以，上述传统的利用键盘上发光二极管的状态显示计算机硬件故障原因的方法，在实际使用上，显然存在有不便与缺陷而有待改善。
本发明的主要目的是提供一种可以改善传统方法的上述各项缺点、利用键盘上发光二极管(LED)的状态显示计算机硬件故障原因的方法，其是将键盘上的三个发光二极管的显示状态进行编码，当基本输出入系统里的程序代码对计算机上的硬设备及组件进行测试前，先输出事先已规划好的数码到键盘上三个发光二极管，遇有故障，可读取键盘上的三个发光二极管显示的数码进行查表，便可得知计算机硬件配备或组件的故障原因，因此不需增加任何硬件成本，便可藉由键盘上的发光二极管进行屏幕点亮前的故障分析，可大幅节省硬件成本，进而提高普及率，也不需要打开计算机机壳安装任何装置便能操作，故操作容易，且使用者可轻易读取发光二极管而迅速得知计算机系统的状况，若为旧系统也不需要更改线路，只需要重新烧录基本输出入系统的程序代码，便可由键盘来判断计算机系统的状况。
本发明利用键盘上发光二极管的状态显示计算机硬件故障原因的方法是这样实现的：包含下列步骤：(1)基本输出入系统先寻址到键盘上的发光二极管；(2)键盘进行译码，并在发光二极管上显示译码后对应的状态；(3)依序对计算机内部组件做测试；以及(4)当计算机故障时，利用键盘上的发光二极管的状态做故障原因显示。
其中该计算机内部组件包括内存、总线、中央处理器、快取存储器、芯片组、时钟芯片及显示芯片。
本发明主要是在提供一种利用键盘上发光二极管的状态显示计算机硬件故障原因的方法，由于个人计算机均配备有键盘，且键盘上有三个发光二极管，分别是数字锁定发光二极管(Num Lock LED)、大写锁定发光二极管(Caps Lock LED)以及滚动条锁定发光二极管(Scroll Lock LED)，这三个发光二极管在屏幕点亮前的开机自我测试过程中并无作用，可将这三个发光二极管的显示状态进行编码，当基本输出入系统里的程序代码对计算机上的硬设备及组件进行测试时，同时输出事先已设定好的数码到键盘上的发光二极管，使得计算机硬件配备或组件故障时，使用者便可读取键盘上的三个发光二极管显示的数码，藉由查表来得知计算机硬件配备或组件的故障原因。
下面结合附图详细说明本发明所采取的技术、手段、特征、优点及功效。
图1是传统的流程图。
图2是本发明的流程图。
图3是本发明的应用实施例的图表。
请参阅图2，本发明是一种利用键盘上发光二极管的状态显示计算机硬件故障原因的方法，首先由基本输出入系统寻址到键盘上的发光二极管20，并输出事先已规划好的数码21(是由使用者在程序片段中自行设定，使得每个测试阶段皆有其事先规划好的数码)，则该键盘将进行译码，并在发光二极管上显示数码22，之后测试计算机硬件或组件是否故障23？若是，该发光二极管将保持显示此数码24，使用者查表便可得知故障情形，并做进一步的维修25；若否，则基本输出入系统输出下一阶段事先已规划好的数码26，并继续进入下一阶段的测试27，直到所有测试阶段皆正常，则加载操作系统28。
请参阅图3所示的本发明的应用实施例，首先由基本输出入系统寻址到键盘上的发光二极管，并输出内存测试阶段的数码“000”，经由译码后，该三颗发光二极管全不亮，表示进行内存测试，之后测试内存是否故障？若是，该三颗发光二极管保持全不亮的状态，使用者查表便可得知内存相关电路故障，并做进一步的维修；若否，则基本输出入系统输出总线测试阶段的数码“001”，经由译码后，该三颗发光二极管仅滚动条锁定发光二极管为导通的状态，表示进行总线测试，之后测试总线是否故障？若是，该三颗发光二极管保持仅滚动条锁定发光二极管为导通的状态，使用者查表便可得知为总线相关电路故障，并做进一步的维修；若否，则基本输出入系统输出中央处理器测试阶段的数码“010”，经由译码后，该三颗发光二极管仅大写锁定发光二极管为导通的状态，表示进行中央处理器测试，之后测试中央处理器是否故障？若是，该三颗发光二极管保持仅大写锁定发光二极管为导通的状态，使用者查表便可得知为中央处理器故障，并做进一步的维修；若否，则基本输出入系统依序输出高速缓存、芯片组、时钟芯片、显示芯片等阶段的数码并加以测试，由三颗发光二极管的导通状态便可得知其故障情形，确定点亮屏幕所需的硬设备及组件均没问题后才点亮屏幕，再对尚未测试的计算机硬设备及组件进行测试，直到所有测试阶段皆正常，则加载操作系统。
所以，本发明的利用键盘上发光二极管的状态显示计算机硬件故障原因的方法，具有下述特点：
(1)不需要增加任何硬件成本，便可藉由键盘上的发光二极管进行屏幕点亮前的故障分析，可大幅节省硬件成本，进而提高普及率。
(2)不需要打开计算机机壳安装任何设备，便能操作。
(3)操作容易，使用者可轻易读取发光二极管便可迅速得知计算机状况。
(4)旧系统不需要更改硬件线路，只需重新烧录基本输出入系统的程序代码便可由键盘上的发光二极管，来判断系统的状况。

Claims (2)

1、一种利用键盘上发光二极管的状态显示计算机硬件故障原因的方法，其特征在于：包含下列步骤：
(1)基本输出入系统先寻址到键盘上的发光二极管；
(2)键盘进行译码，并在发光二极管上显示译码后对应的状态；
(3)依序对计算机内部组件做测试；以及
(4)当计算机故障时，利用键盘上的发光二极管的状态做故障原因显示。
2、如权利要求1所述的利用键盘上发光二极管的状态显示计算机硬件故障原因的方法，其特征在于：其中该计算机内部组件包括内存、总线、中央处理器、快取存储器、芯片组、时钟芯片及显示芯片。
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