CN1286098C - 光读取头 - Google Patents

Abstract

本发明的光读取头，包含衍射光栅(106)，用以分割自半导体激光(101)射出的光束使其成为主光束、前分光束及后分光束；全息照相元件(107)，用以分割来自光记录媒体(110)的主光束、前分光束及后分光束的反射光束分别使其成为第一至第八主光束、第一至第八前分光束及第一至第八后分光束；主光束检测器，用以接收第一至第八主光束；前分光束检测器，用以接收第一至第八前分光束；及后分光束检测器，用以接收第一及第八后分光束。

Description

光读取头

技术领域

本发明，是涉及一种光读取头。特别是涉及一种使用于光记录/再生装置中以重现光记录媒体信息、记录光记录媒体信息或消除光记录媒体信息的光读取头。

背景技术

作为高密度·大容量记录媒体，使用具有凹槽图案光碟的光记忆体技术正广泛应用到例如数码音碟片、影音碟片、文字档碟片及资料档碟片中。在上述光记忆体技术中，信息利用精确限制的光束高精确度及高可靠性地记录及重现于光碟中。这个记录/重现操作全依靠记录/重现装置的光学系统。光读取头的基本功能，也就是，作为上述光学系统主要部分的光读取头的基本功能从大的方面分类如下：用以形成衍射极限精确光点的集中光的功能；上述用于上述光学系统的焦点控制及轨迹控制的控制功能；及用于凹槽信号检出的检测功能。这些功能，是根据其目的及用途通过各种光学系统及光电转换/检测方法的组合来实现的。

尤其是近年，为了降低光读取头的大小及厚度，使用全息照相元件的光读取头已经开发出来。同时，在上述轨迹控制中使用三光束方法的传统技术，使用衍射元件以衍射光束产生主光束及分光束。

现在，具体实施的传统技术将参照图8及图9加以说明。要注意的是，在这些附图所示的xyz座标系中，同样方向使用上述座标系中一样的座标轴来表示。

图8表示传统光读取头构造。图8中的光读取头包含：半导体激光1、光检测器2及3、衍射元件4、全息照相元件5、视镜6及物镜7，由此执行读取操作以读取光碟8的凹槽图案等。现在将这个操作加以说明。

来自半导体激光1的射出光束L0，穿过衍射元件4，由此分割成为对欲用来检测跟踪误差信号的主光束及分光束(未表示)。这个主光束及分光束，穿过上述全息照相元件5，由视镜6集中射入物镜7。接着，由物镜7将光束集中在光碟8上。

由光碟8所反射的光束透过原光路逆向射入全息照相元件5。此时，由全息照相元件5所产生的±第一阶衍射光束(L1及L2)分别射入欲检测的光检测器2及3。当计算上述光检测器2及3的输出时，可得到焦点错误信号FE、包含跟踪误差信号TE的伺服信号及信息信号。

全息照相元件5及光检测器2及3的结构，分别示于图9(a)及9(b)。图9(a)及9(b)，分别表示沿着图8的z轴负方向(即，附图面上自光碟8向着光检测器2及3的方向)所取的全息照相元件5及光检测器2及3的平面结构。

全息照相元件5，为由具有如图9(a)所示的全息照相图案的单区域所构成的菲涅耳(Fresnel)环带板。图9(b)表示在半导体激光1的视光射出点1a与光检测器2及3之间的位置关系。

如图9(b)所示，光检测器2的检测面被分割为区域2a、2b、2c、2d及2e。同时，光检测器3的检测面被分割为区域3a、3b、3c、3d及3e。

如图8所示，由全息照相元件5所得的衍射光束L1及L2，分别射入光检测器2及3。在图9(b)中，光检测器2及3上的光束剖面是示如圆圈L1a、L1b、L1c、L2a、L2b及L2c。本例中，剖面L1b及L2b对应至主光束点，而剖面L1a、L1c、L2a及L2c对应至分光束点。

既然全息照相元件5，是为菲涅耳(Fresnel)环带板，衍射光束L1被收敛在半导体激光1的视光射出点1a(即，在z轴正方向，垂直图面的上方)前面的一点上。同时，衍射光束L2被收敛在(z轴负方向)后面。

聚焦误差信号FE，是由已知SSD(光点大小检测)方法利用收敛点的这个差异来检测。换言之，聚焦误差信号FE，是通过下面公式1的计算而得，其中使用光检测器2及3相对应检测区域的符号来表示对应检测区域的输出值：

FE＝(2c-2b-2d)-(3c-3b-3d)... 公式1

另一方面，跟踪误差信号TE，是由已知的三光束方法来检测。换言之，跟踪误差信号TE，若使用相对应检测区域的符号来表示输出值的话，通过下面的公式2计算而得。

TE＝(2a+3a)-(2e+3e)... 公式2

然而，传统光读取头，存在难以施用于例如音碟片(CD)、DVD-ROM光碟片及DVD-RAM光碟片的不同实体格式的各类光记录媒体的重现或记录操作的问题。如同本问题的对策，日本公开的专利公告号2001-229573揭示可应用于具有不同实体格式的各类光记录媒体的重现或记录操作的稳定度不够的光读取头。尤其，本公告所揭示的光读取头中，光点的偏移是大幅度地受到限制，且例如只允许约0.1mm的偏移量。因此，这些引发另一问题为在这类位准下实际上并不容易批量生产具有偏移量的光读取头。

甚至，根据日本公开的专利公告号2001-229573，光检测器、全息照相元件等是与半导体激光(光源)分开放置。因此，很难将光学系统各元件与小偏移量对准。同时，既然半导体激光(光源)被分开放置，本读取头易受振动产生不利影响。

发明内容

本发明，是基于上述传统缺点考虑中衍生而出，且本发明的主要目的，是提供一种与光记录媒体的记录格式无关而可执行重现及记录操作并消除光点偏移量问题的光读取头。

根据本发明的光读取头，包括：半导体激光器；衍射光栅，用以分割来自半导体激光器射出的光束使其成为主光束、前分光束及后分光束；全息照相元件，用以分割来自光记录媒体的主光束、前分光束及后分光束的反射光束使其分别成为第一至第八主光束、第一至第八前分光束及第一至第八后分光束；主光束检测器，用以接收上述第一至第八主光束；前分光束检测器，用以接收上述第一至第八前分光束；及后分光束检测器，用以接收上述第一及第八后分光束，至少上述第一至第八主光束在上述主光束检测器上分别隔开规定间隔而被聚光，并且，上述半导体激光器、上述衍射光栅、上述全息照相元件、上述主光束检测器、上述前分光束检测器及上述后分光束检测器是一体成形的，还包括：接线群组，其由分别连接至上述第一至第八主光束检测器、第一至第四前分光束检测器及第一至第四后分光束检测器的信号线构成，并传送用于实现跟踪误差信号的差动推挽检测方法时所使用的接收光信号；及接线群组，其由分别连接至上述第一至第八主光束检测器的信号线构成，并传送用于实现跟踪误差信号的差动相位检测方法及聚焦误差信号的光点尺寸检测方法时所使用的接收光信号，上述主光束检测器、上述前分光束检测器及上述后分光束检测器被形成于半导体衬底上，用以将来自上述主光束检测器、上述前分光束检测器及上述后分光束检测器的电流信号输出转换为电压信号的电流-电压转换器电路及上述接线群组被集成形成于上述半导体衬底上，具有利用上述差动相位检测方法及上述差动推挽检测方法计算上述跟踪误差信号以及上述聚焦误差信号的功能，并且包含加法器、减法器及乘法器的信号算术电路被集成形成于上述半导体衬底上。

最好的是，上述主光束检测器，由用以接收上述第一至第八主光束的第一至第八主光束检测器所构成，且上述第一至第八主光束检测器中的每一个具有至少两个光接收部分。

最好的是，上述前分光束检测器，由用以接收上述第一至第八前分光束的第一至第四前分光束检测器所构成，而上述后分光束检测器，由用以接收上述第一至第八后分光束的第一至第四后分光束检测器所构成。

在一合适的实施方式中，上述主光束检测器，由用以接收上述第一至第八主光束的第一至第八主光束检测器所构成，上述第一至第八主光束检测器中的每一个具有至少两个光接收部分，上述前分光束检测器，由用以接收上述第一至第八前分光束的第一至第四前分光束检测器所构成，上述后分光束检测器，由用以接收上述第一至第八后分光束的第一至第四后分光束检测器所构成，以及上述光读取头，还包含用以转换来自各具有至少上述两个光接收部分的第一至第八主光束检测器的两个或更多的光接收部分的电流信号输出成为电压信号的共用电流-电压转换器电路；及用以转换来自上述第一至第四前分光束检测器及上述第一至第四后分光束检测器的两个或更多的光接收部分的电流信号输出成为电压信号的共用电流-电压转换器电路。

附图说明

图1，为根据本发明的具体实施例的光读取头的光学系统主要部分构造的示意剖面图；

图2(a)及2(b)，为本发明具体实施例中所使用的全息照相元件及光检测器的平面图；

图3(a)及3(b)，为说明消除光束射入的效应图；

图4(a)及4(b)，为比较上述消除光束射入的效应图；

图5，表示在光射出点偏移量及光数量差值间的关系图；

图6，为本发明具体实施例所使用的光检测器、电流-电压转换器及信号算数电路间的具体实施接线构造图；

图7，为简化的图6电流-电压转换器及信号算数电路的另一具体实施接线构造图；

图8表示传统光读取头的光学系统主要部分构造的示意剖面图；以及

图9(a)及9(b)，为传统全息照相元件及传统光检测器的平面图。

(符号说明)

1、101              半导体激光

2、3、102-105       光检测器

4                   衍射元件

5、107              全息照相元件

6、108              视镜

7、109              物镜

8                   光碟

106                 衍射光栅

110                 光记录媒体

200                 半导体衬底

201-221、301-311    加法器

222-226、312-316    减法器

227、317         乘法器

250              壁面

300              电流-电压转换器电路

300’            电流-功率转换器电路

400              信号算术电路

1a、101a         视光射出点

2a、2b、2c、2d、2e、3a、3b、3c、3d、3e、102a、102b、102c、102d、102e、102f、103a、103b、103c、103d、103e、103f、104a、104b、104c、104d、104e、104f、105a、105b、105c、105d、105e、105f  区域

L0、L101射出光束

L1、L2、L101、L102、L103、L104             第一阶衍射光束

L1a、L1b、L1c、L2a、L2b、L2c、L101a、L101b、L101c、L101d、L101e、L101f、L102a、L102b、L102c、L102d、L102e、L102f、L103a、L103b、L103c、L103d、L103e、L103f、L104a、L104b、L104c、L104d、L104e、L104f         剖面

具体实施方式

本发明的最好的具体实施例现在将参照附图加以说明。在下列附图中，具有实质上相同功能的构成元件基于简化理由使用一样的符号。要注意的是，下列具体实施例不会限定本发明。

首先，参照至图1及图2。在图1及图2所示的xyz座标中，相同方向使用上述座标相同座标来表示。

图1，模式表示本发明所涉及的光读取头的构造。图1表示的光读取头，包含：半导体激光101；衍射光栅106，用以分割自上述半导体激光101射出的光束使其成为主光束、前分光束及后分光束；及全息照相元件107，用以分割来自光记录媒体110的主光束、前分光束及后分光束的反射光束使其分别成为第一至第八主光束、第一至第八前分光束及第一至第八后分光束。用以接收由上述全息照相元件107所分割了的光束的光检测器102、103、104及105，被配置于其上置放了上述半导体激光101的衬底200上。本具体实施例的光检测器102至105，是形成于上述半导体衬底(硅衬底)200上的光二极管。另外，它们可以是pin二极管等。

光检测器102、103、104及105，包含：用以接收上述第一至第八主光束的主光束检测器、用以接收上述第一至第八前分光束的前分光束检测器及用以接收上述第一至第八后分光束之后分光束检测器。本具体实施例的光读取头，具有半导体激光101、衍射光栅106、全息照相元件107及光检测器(主光束检测器、前分光束检测器及后分光束检测器)102至105形成为一体的结构。同时，设置壁面250于形成了光检测器102至105的半导体衬底200周边。且，如图1所示，视镜108及物镜109设置于全息照相元件107及光记录媒体101之间。

现在，将说明本具体实施例的光读取头的操作。

第一，射出光束L100是自上述半导体激光101射出，而这个射出光束L100，由其穿过上述衍射光栅106而被分割成用以检测跟踪误差信号的主光束、前分光束(未表示)及后分光束(未表示)。接着，该主光束、前分光束及后分光束，穿过上述全息照相元件107，由视镜108集中，射入物镜109。之后，所产生的光束被物镜109集中在光盘110上。

接着，由光记录媒体110反射的光束，光路径逆向射入全息照相元件107。此时，±第1阶衍射光束(L101、L102、103L及L104)，是由上述全息照相元件107产生，并分别射入欲检测的光检测器102、103、104及105被检出。通过计算光检测器102、103、104及105的输出，可得到包含聚焦误差信号FE及跟踪误差信号TE的伺服信号及信息信号。

全息照相元件107及上述光检测器102、103、104及105的详细结构示于图2(a)及2(b)中。图2(a)及2(b)，分别表示沿着图1的z轴负方向(即，附图面上自光记录媒体110向着光检测器102、103、104及105的方向)的全息照相元件107及光检测器102、103、104及105的平面构成。

全息照相元件107，为由图2(a)所示全息照相图案的四分割区域形成的菲涅耳环带板。图2(a)所示的全息照相元件107，具有用以得到图2(b)所示的光束点(L101a、L101b等)的全息照相图案。

图2(b)，表示半导体激光101的视光射出点101a及光检测器102、103、104及105间的位置关系。如图2(b)所示，光检测器102的检测面，被分割为区域102a、102b、102c、102d、102e及102f。光检测器103的检测面，被分割为区域103a、103b、103c、103d、103e及103f。光检测器104的检测面，被分割为区域104a、104b、104c、104d、104e及104f。光检测器105的检测面，被分割为区域105a、105b、105c、105d、105e及105f。

在此，区域102b、102c、102d、102e、103b、103c、103d、103e、104b、104c、104d、104e、105b、105c、105d及105e，是主光束用主光束检测器。同时，区域102a、103a、104a及105a，是前分光束用前分光束检测器。并且，区域102f、103f、104f及105f，是后分光束用后分光束检测器。换言之，主光束检测器，由第一至第八主光束检测器构成以接收上述第一至第八主光束，且第一至第八主光束检测器中的每一个，至少具有两个以上光接收区域。还有，前分光束检测器，由第一至第四前分光束检测器构成以接收上述第一至第八前分光束，且后分光束检测器，由第一至第四后分光束检测器构成以接收第一至第八后分光束。

如图1所示，由上述全息照相元件107所四分割的±第1阶衍射光束L101、L102、L103及L104，分别射入光检测器102、103、104及105。在这些光检测器102、103、104及105表面上的光束断面，如图2(b)所示，成为圆弧L101a～L101f、L102a～L102f、L103a～L103f及L104a～L104f。

在此，剖面L101c、L101d、L102c、L102d、L103c、L103d、L104c、L104d，表示主光束的八个光点。同时，剖面L101a、L101b、L102a、L102b、L103a、L103b、L104a及L104b，表示前分光束的八个光点。还有，剖面L101e、L101f、L102e、L102f、L103e、L103f、L104e、L104f，表示后分光束的八个光点。

本实施方式的构成条件表示如下：衬底200的尺寸为1至3毫米×1至3毫米。各个光检测器的检测面的尺寸，为5至300微米×5至300微米，而相邻光检测器的间隔，为0至1毫米。全息照相元件107的直径，为0.3至1毫米。还有，全息照相元件107外形，不只限于圆形，也可是四角形。

本实施方式中，通过全息照相元件107被四分割用以产生主光束、前分光束及后分光束，即使在主光束的八个光点L101c、L101d、L102c、L102d、L103c、L103d、L104c及L104c在上述光检测器的x方向或y方向中偏移时，也可得到防止任何光束射入相邻光检测器的效应。本效应将参照图3(a)、3(b)、4(a)及4(b)做进一步说明。

图3(a)、3(b)、4(a)及4(b)中的每一个表示图2(b)光检测器103的区域103b、103c、103d及103e及半导体激光101的视光射出点101a。图3(a)及3(b)中的每一个表示来自本实施方式的全息照相元件107的第1阶衍射光束L102的圆弧L102c及L102d，而图4(a)及4(b)中的每一个表示在本具体实施例全息照相元件107未于y方向分割时所得到的第1阶衍射光束的圆弧L201。图3(a)及4(a)中的每一个表示半导体激光101的视光射出点101a是置于设计光点的例子，而图3(b)及4(b)中的每一个表示半导体激光101的视光射出点101a是自设计光点在y方向偏移的例子。

如自图3(a)及3(b)中所了解的，即使在本实施方式构造中发生偏移时，上述光束(L102d)未射入上述相邻光检测器(103c)。另一方面，如自图4A及4B中所了解的，若上述全息照相元件未于y方向中分割，则即使只是发生一微小偏移时，上述光束(也就是，上述光束L201下方)射入上述相邻光检测器(103c)。

图5表示光射出点偏移及图3(a)及3(b)与4(a)及4(b)示例所得到的光数量差间的关系。更详细地，图5表示当上述半导体激光101的视光射出点101a是自上述设计光点在y方向偏移时，于上述光检测器103的区域103b、103c、103d及103e中所得到的光数量差。在此，上述光数量差是只计算对应至上述光检测器103中所得到的轨迹信号TE(DPD)部分，其是以下面公式来表示：

TE(DPD)＝(103b+103c)-(103d+103e)

如自图5中所了解的，在全息照相元件如图4所示的未于y方向中分割的例子中，若上述视光射出点是自上述设计光点偏移，则由上述光接收区域所接收的光数量(103b+103c)及(103d+103e)是根据上述光射出点偏移量各自变化。据此，由上述二光数量差所决定的轨迹信号(DPD信号)被改变，因此，易于引起故障。换言之，即使上述光射出点的小小偏移也可产生故障，因此，上述对准规范应要非常严格，且上述光射出点偏移量的容许范围是相当窄的。

另一方面，在全息照相元件如图3所示的本实施方式般分割的例子中，即使在引起光射出点偏移±a时，也可控制于容许范围。换言之，分割衍射光束以得到介于光射出点及光接收区域间的幅度(＝a)，即使是视光射出点自设计光点偏移时，在相对区域中的光数量(103b+103c)及(103d+103e)并未改变，直到偏移量超过上述幅度a。当轨迹信号未受本方式偏移影响时，对抗故障的幅度是宽的。因此，易于制造，还有，可增加优制品率并减少制造成本。在本实施方式构造中，幅度a可接近至例如3微米至10微米。

还有，因幅度据此可为宽的，防振动光读取头可被实现。同时，因半导体激光101、衍射光栅106、全息照相元件107及光检测器102至105(各包含主光束检测器、前分光束检测器及后分光束检测器于本具体实施例中的光读取头是形成为一体的构造，对准精确度可高于它们未形成为一体构成的例子。尤其，因这些光元件被调整以互相对准，对准精确度可高于由调整它们的光点来对准个别光元件的例子。还有，因光读取头是因此形成为一体的构造，它是防振动的。

上面所述的主光束也适用至前分光束及后分光束。据此，可增加在半导体激光101、光检测器102至105、衍射光栅106、全息照相元件107、视镜108及物镜109间的位置幅度。

因本实施方式的全息照相元件107是为一菲涅耳环带板，衍射光束L101及L102中的每一个被收敛在上述半导体激光101(即，在z轴正方向，也就是，在垂直超过上述附图正面的一方向中，离开上述视光射出点101a的一点上)的视光射出点101a前面的一点上。同时，衍射光束L103及L104中的每一个被收敛在之后(其是在z轴负方向离开上述视光射出点101a)的一点上。

聚焦误差信号FE，是由一已知SSD(光点大小检测)方法利用收敛点的这个差异来检测。尤其，聚焦误差信号FE，是通过下面公式3的计算而得，其中使用上述光检测器102、103、104及105相对应检测区域的符号来表示对应检测区域的输出值：

FE＝(102c+102d-102b-102e)+(103c+103d-103b-103e)

      -(104c+104d-104b-104e)-(105c+105d-105b-105e)

... 公式3

另一方面，在DVD-ROM等中所使用的跟踪误差信号TE，是利用差动相位检测(DPD)方法来检测。尤其，上述跟踪误差信号TE(DPD)是通过下面公式4的计算而得，其中使用上述对应检测区域的符号来表示上述对应检测区域的输出值：

TE(DPD)＝(102d+102e+103b+103c+104d+104e+105b+105c)

           -(102b+102c+103d+103e+104b+104c+105d+105e)

... 公式4

又，在DVD-RAM或相似物中所使用的跟踪误差信号TE是利用差动推挽检测(DPP)方法来检测。尤其，跟踪误差信号TE(DPP)，是通过下面公式5的计算而得，其中使用上述对应检测区域的符号来表示上述对应检测区域的输出值，且k为一任意系数：

TE(DPP)＝(103b+103c+103d+103e+104b+104c+104d+104e)

           -(102b+102c+102d+102e+105b+105c+105d+105e)

              -k((103a+103f+104a+104f)-(102a+102f+105a+105f))

... 公式5

信息信号(RF)，为所有主光束检测器输出的总和，且特别通过下面公式6的计算而得，其中使用上述对应检测区域的符号来表示上述对应检测区域的输出值：

RF＝102b+102c+102d+102e+103b+103c+103d+103e

     +104b+104c+104d+104e+105b+105c+105d+105e

... 公式6

图6表示在图2(b)的光检测器及电流-电压转换器电路300及信号算术电路400间的具体实施接线构造。在图6中，符号201至221表示加法器，符号222至226表示减法器，以及符号227表示k倍乘法器。上述信号算术电路400由这些加法器、减法器及乘法器构成。在图6中，使用用于图2B的对应检测区域所使用的符号来表示上述光检测器102至105的终端。

在本具体实施例中，来自光记录媒体的信号是由上述光检测器102至105检测，且来自上述光检测器102至105的电流输出是由相对应电流-电压转换器电路300转换为电压信号输出。聚焦误差信号FE、由差动相位检测(DPD)方法所得到的跟踪误差信号、由差动推挽检测(DPP)方法所得到的跟踪误差信号及信息信号RF可利用结合图6的加法器201至221、减法器222至226及乘法器227来计算。

换言之，图6中所示的构造包含接线群组，其由分别连接至第一至第八主光束检测器、第一至第四前分光束检测器及第一至第四后分光束检测器以传送执行差动推挽检测方法所使用的接收光信号的信号线所构成；及接线群组，其由分别连接至第一至第八主光束检测器以传送执行差动相位检测方法所使用的接收光信号的信号线所构成。还有，它包含用以转换来自检测器的电流信号成为电压信号的电流-电压转换器电路300及信号算术电路400。为了降低整体元件尺寸，这些接线群组、电流-电压转换器电路300及信号算术电路400最好的是集成在图2(b)的半导体衬底200上。

图6所示的实施方式的接线构造可如图7所示的被修改。图7的接线构造是利用简化图6的电流-电压转换器电路300及信号算术电路400而得。图7的电流-功率转换器电路300’为共用电流-电压转换器电路。更详细地，图7的电流-功率转换器电路300’为共用电流-电压转换器电路，用以转换来自第一至第八主光束检测器的光接收区域中两个或更多输出的电流信号成为电压信号，及共用电流-电压转换器电路，用以转换来自第一至第四前分光束检测器及第一至第四后分光束检测器的光接收区域中两个或更多输出的电流信号成为电压信号。本电流-功率转换器电路300’被连接至相对应信号算术电路400’。在图7中，符号301至311表示加法器，符号312至316表示减法器，以及符号316表示k倍乘法器。类似于图6，使用用于图2(b)的对应检测区域所使用的符号来表示光检测器102至105的终端。

本例中，来自光记录媒体的信号是由光检测器102至105检测，且来自光检测器102至105的电流输出是由各对应至图7所示结合两个或更多检测器的相对应电流-电压转换器电路300来转换为电压信号输出。聚焦误差信号FE、由差动相位检测(DPD)方法所得到的跟踪误差信号、由差动推挽检测(DPP)方法所得到的跟踪误差信号及信息信号RF可利用结合图7的加法器301至311、减法器312至316及乘法器317来计算。本构造中，电路如比较于图6所示那个是简化的。

如上所述，为了降低整体元件尺寸及简化整体构造，图6及图7所示的光检测器102至105及电流-电压转换器电路300(300’)最好的是形成为构成于用以制造光读取头的半导体衬底200上，但这些电路中至少一个可被置于异于上述半导体衬底200不同的部分。另外，加法器、减法器及乘法器中任一个可被形成为构造于用以制造光读取头的半导体衬底200上。

还有，上述半导体激光101可被安装在与由同类玻璃或聚合材料所构成的衍射光栅106及全息照相元件107两者一起组合于封装的半导体衬底200中。因此，上述光读取头可利用全息照相装置来实现。

本发明的实施方式的光读取头，是可应用任何类型光读取头至唯读光记录媒体、依次写入多次读取的光记录媒体及可重复写入的光记录媒体中任何一个。

在本发明已说明于最好的实施方式中，显然的，对那些熟知此项技术的人士可以各种方法修改本揭示发明并假设不同于特别开始及许多实施方式。

根据本发明，上述光读取头包含用以分割光束成为第一至第八主光束、第一至第八前分光束及第一至第八后分光束的全息照相元件；用以接收第一至第八主光束的主光束检测器；用以接收第一至第八前分光束的前分光束检测器；用以接收第一至第八后分光束检测器之后分光束检测器。此外，半导体激光、衍射光栅、全息照相元件、主光束检测器、前分光束检测器及后分光束检测器是形成为一体的构成。据此，光读取头可执行与光记录媒体的记录格式无关的重现或记录操作，也可消除光点偏移量的问题。

(产业上的利用可能性)

本发明的光读取头，在向数码音碟片、影音碟片、文字档碟片及资料档碟片等记录信息，及从它们重现信息信息是有用的，本发明，特别是与记录媒体的记录格式的不同无关进行记录的重现及消除，同时，可以缓解光点偏移的问题，这些方面在产业上的利用可能性高。

Claims (4)

1.一种光读取头，其特征在于，包括：

半导体激光器；

衍射光栅，用以分割来自半导体激光器射出的光束使其成为主光束、前分光束及后分光束；

全息照相元件，用以分割来自光记录媒体的主光束、前分光束及后分光束的反射光束使其分别成为第一至第八主光束、第一至第八前分光束及第一至第八后分光束；

主光束检测器，用以接收上述第一至第八主光束；

前分光束检测器，用以接收上述第一至第八前分光束；及

后分光束检测器，用以接收上述第一及第八后分光束，

至少上述第一至第八主光束在上述主光束检测器上分别隔开规定间隔而被聚光，

并且，上述半导体激光器、上述衍射光栅、上述全息照相元件、上述主光束检测器、上述前分光束检测器及上述后分光束检测器是一体成形的，

还包括：

接线群组，其由分别连接至上述第一至第八主光束检测器、第一至第四前分光束检测器及第一至第四后分光束检测器的信号线构成，并传送用于实现跟踪误差信号的差动推挽检测方法时所使用的接收光信号；及

接线群组，其由分别连接至上述第一至第八主光束检测器的信号线构成，并传送用于实现跟踪误差信号的差动相位检测方法及聚焦误差信号的光点尺寸检测方法时所使用的接收光信号，

上述主光束检测器、上述前分光束检测器及上述后分光束检测器被形成于半导体衬底上，

用以将来自上述主光束检测器、上述前分光束检测器及上述后分光束检测器的电流信号输出转换为电压信号的电流-电压转换器电路及上述接线群组被集成形成于上述半导体衬底上，

具有利用上述差动相位检测方法及上述差动推挽检测方法计算上述跟踪误差信号以及上述聚焦误差信号的功能，并且包含加法器、减法器及乘法器的信号算术电路被集成形成于上述半导体衬底上。

2.根据权利要求1所述的光读取头，其特征在于：

上述主光束检测器由用以接收上述第一至第八主光束的第一至第八主光束检测器所构成，

上述第一至第八主光束检测器中的每一个具有两个以上的光接收部分。

3.根据权利要求2所述的光读取头，其特征在于：

上述前分光束检测器由用以接收上述第一至第八前分光束的第一至第四前分光束检测器所构成，及

上述后分光束检测器由用以接收上述第一至第八后分光束的第一至第四后分光束检测器所构成。

4.根据权利要求1所述的光读取头，其特征在于：

上述主光束检测器由用以接收上述第一至第八主光束的第一至第八主光束检测器所构成，并且上述第一至第八主光束检测器中的每一个具有两个光接收部分，

上述前分光束检测器由用以接收上述第一至第八前分光束的第一至第四前分光束检测器所构成，

上述后分光束检测器由用以接收上述第一至第八后分光束的第一至第四后分光束检测器所构成，以及

上述光读取头还包含：

共用电流-电压转换器电路，用以转换来自各具有两个光接收部分的上述第一至第八主光束检测器的两个以上的该光接收部分的电流信号输出成为电压信号；及

共用电流-电压转换器电路，用以转换来自上述第一至第四前分光束检测器及上述第一至第四后分光束检测器的两个以上的光接收部分的电流信号输出成为电压信号。

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