CN117969985A - 一种电子元器件加速老化连续测量系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电子元器件加速老化连续测量系统，包括：若干电子元器件、恒温恒湿箱、射频开关、多路复用器以及电参数测量仪；所述射频开关，用于在对应的预设时段内，接通或者断开恒温恒湿箱与电源之间的通路，以及接通或者断开恒温恒湿箱与多路复用器之间的通路；恒温恒湿箱用于在各个预设时间周期内，为各所述电子元器件提供稳定的温度和湿度环境；多路复用器，用于将各个电子元器件与电参数测量仪连接，以通过电参数测量仪对各所述电子元器件进行测量，并获取各电子元器件的电参数测量数据；通过实施本发明，能够减少电子元器件加速老化试验当中的无效时间，提高了电子元器件的测量效率，并提高了加速老化试验结果的准确性。

Description

一种电子元器件加速老化连续测量系统

技术领域

本发明涉电子元器件老化测试领域，尤其涉及一种电子元器件加速老化连续测量系统。

背景技术

电子元器件在长时间应用过程中会出现老化现象，老化会导致电子元器件的一些电性能参数发生改变，从而对整个系统的正常运行造成威胁。通常电子元器件的自然老化时间较长，而加速老化试验对于电子元器件工作性能评估、寿命预测、可靠性分析和结构优化设计有着重要的基础作用，且得到了广泛的应用。在加速老化过程中，电子元器件要承受恶劣的环境如高温、高湿度、过电压等，以加速老化过程而不完全损坏元件。

传统的加速老化试验方法都是将电子元器件放置在特定环境中进行特定时间的加速老化，当需要在老化试验中途获取电子元器件的测量和评估数据时，只能暂停加速老化过程，待温湿箱先冷却到环境温度后在使用测量仪器对电子元器件进行测量，这是因为急剧的温度变化会损坏电子元器件，所以要求环境的冷却和加热过程需要循序渐进，才能避免由于急剧的温度变化而损坏电子元器件，若直接将测量仪器放置入加热环境中进行测量，也可能会对测量仪器的准确性和稳定性产生负面影响，最终影响测量结果。因此，传统的加速老化试验方法都需要在先将温湿箱逐渐冷却到环境温度，在对元器件进行测量后再逐渐进行加热，这一过程耗费时间久，并且无法连续地获取电子元器件的电参数测量数据，导致测量效率低下，并且最终的电子元器件加速老化测试结果准确性不高。

发明内容

本发明提供了一种电子元器件加速老化连续测量系统，能够减少加速老化试验当中的无效时间，提高了电子元器件的测量效率，并提高了加速老化试验结果的准确性。

本发明提供了一种电子元器件加速老化连续测量系统，包括：若干电子元器件、恒温恒湿箱、射频开关、多路复用器以及电参数测量仪；

所述若干电子元器件设置于所述恒温恒湿箱内，所述恒温恒湿箱的第一端连接电源、所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器的第一端连接，所述多路复用器的第二端与所述电参数测量仪的第一端连接；所述射频开关的第一端与所述恒温恒湿箱的第一端连接，所述射频开关的第二端与所述恒温恒湿箱的第二端连接；

所述射频开关，用于在每一预设时间周期的第一预设时段内，接通所述恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，以及断开所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器第一端的通路；在每一预设时间周期的第二预设时段内，断开所述恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，以及接通所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器第一端的通路；其中，每一预设时间周期包括：第一预设时段和第二预设时段；所述第一预设时段与所述第二预设时段之间无交集；

所述恒温恒湿箱，用于在各个预设时间周期内，为各所述电子元器件提供稳定的温度和湿度环境；

所述多路复用器，用于在每一预设时间周期的第二预设时段内，将所述恒温恒湿箱中的各个电子元器件与所述电参数测量仪连接，以通过所述电参数测量仪对各所述电子元器件进行测量，并获取各所述电子元器件的电参数测量数据。

进一步地，所述电子元器件加速老化连续测量系统，还包括：定时器；

所述定时器的第一端与所述射频开关的第三端连接；

所述定时器用于，在每一预设时间周期的第一预设时段内，向所述射频开关发送第一控制开断信号，以使所述射频开关根据所述第一控制开断信号，接通所述恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，以及断开所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器第一端的通路；在每一预设时间周期的第二预设时段内，向所述射频开关发送第二控制开断信号，以使所述射频开关根据所述第二控制开断信号，断开所述恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，以及接通所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器的通路。

进一步地，所述电子元器件加速老化连续测量系统，还包括：单片机微控制器；

所述单片机微控制器的第一端与所述定时器的第二端连接；

所述单片机微控制器用于向所述定时器发送控制信号，以使所述定时器根据所述控制信号，在每一预设时间周期的第一预设时段内，向所述射频开关发送第一控制开断信号，以及在每一预设时间周期的第二预设时段内，向所述射频开关发送第二控制开断信号。

进一步地，所述电子元器件加速老化连续测量系统，还包括：上位机；

所述上位机的第一端与所述电参数测量仪的第二端连接；

所述电参数测量仪还用于，将各所述电子元器件的电参数测量数据发送至所述上位机。

进一步地，所述电子元器件加速老化连续测量系统，还包括：电源装置；

所述电源装置的第一端连接市电，所述电源装置的第二端与所述恒温恒湿箱的第一端连接；

所述电源装置用于向各所述电子元器件提供电源。

进一步地，所述电子元器件加速老化连续测量系统，还包括：隔离变压器；

所述隔离变压器的第一端连接市电，所述隔离变压器的第二端与所述单片机微控制器的第二端连接，所述单片机微控制器的第二端与所述电参数测量仪的第三端连接，所述电参数测量仪的第三端与所述上位机的第二端连接；

所述隔离变压器用于向所述单片机微控制器、电参数测量仪以及上位机提供稳定的供电。

进一步地，所述上位机用于，根据各所述电子元器件的电参数测量数据，生成每一所述电子元器件性能参数随时间变化的曲线。

进一步地，所述恒温恒湿箱的第二端设有出线孔，以通过所述出线孔将各所述电子元器件的待测端通过导线进行引出，并与所述多路复用器的第一端进行连接。

本发明的实施例，具有如下有益效果：

本发明提供了一种电子元器件加速老化连续测量系统，包括：若干电子元器件、恒温恒湿箱、射频开关、多路复用器以及电参数测量仪。当处于每一预设时间周期的第一预设时段内时，通过射频开关接通恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，以及断开恒温恒湿箱的第二端与多路复用器第一端的通路，为各所述电子元器件提供稳定电源；当处于每一预设时间周期的第二预设时段内时，再通过射频开关断开恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，以及接通恒温恒湿箱的第二端与多路复用器第一端的通路，使多路复用器在第二预设时段内，逐一将各个电子元器件与电参数测量仪连接，以通过所述电参数测量仪对各所述电子元器件进行测量并获取电参数测量数据。本发明能够直接通过射频开关周期性地控制系统进入电子元器件的加速老化过程和测量过程，不需要等待恒温恒湿箱的降温和升温过程，大大减少了加速老化试验当中的无效时间，可以直接电参数测量仪对电子元器件进行测量，极大的缩短了电参数测量数据获取时间，提高了电子元器件的测量效率，并且提高了加速老化试验结果的准确性。

附图说明

图1是本发明一实施例提供的一种电子元器件加速老化连续测量系统结构示意图；

图2是本发明一实施例提供的一种电子元器件加速老化连续测量系统的试验流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1所示，一实施例提供的一种电子元器件加速老化连续测量系统，包括：若干电子元器件、恒温恒湿箱、射频开关、多路复用器以及电参数测量仪；

所述若干电子元器件设置于所述恒温恒湿箱内，所述恒温恒湿箱的第一端连接电源、所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器的第一端连接，所述多路复用器的第二端与所述电参数测量仪的第一端连接；所述射频开关的第一端与所述恒温恒湿箱的第一端连接，所述射频开关的第二端与所述恒温恒湿箱的第二端连接；

所述射频开关，用于在每一预设时间周期的第一预设时段内，接通所述恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，以及断开所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器第一端的通路；在每一预设时间周期的第二预设时段内，断开所述恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，以及接通所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器第一端的通路；其中，每一预设时间周期包括：第一预设时段和第二预设时段；所述第一预设时段与所述第二预设时段之间无交集；

所述恒温恒湿箱，用于在各个预设时间周期内，为各所述电子元器件提供稳定的温度和湿度环境；

所述多路复用器，用于在每一预设时间周期的第二预设时段内，将所述恒温恒湿箱中的各个电子元器件与所述电参数测量仪连接，以通过所述电参数测量仪对各所述电子元器件进行测量，并获取各所述电子元器件的电参数测量数据。

具体地，所述各所述预设时间周期为均为预先设置的时间周期，每一时间周期由一个第一预设时段和一个第二预设时段组成；所述预设时间周期、第一预设时段以及第二预设时段均可以根据实际需求进行设定，本发明不做具体限定。

首先，对于每一个预设时间周期，当处于第一预设时段内时，所述射频开关会接通所述恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，同时，断开所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器第一端的通路。此时，恒温恒湿箱内的各个电子原件均接通电源，所述恒温恒湿箱始终处于加热加湿至预设恒温阈值以及预设恒湿阈值并保持的阶段，各个电子元器件处于加速老化的阶段；其中，所述预设恒温阈值以及预设恒湿阈值均可以根据实际需求进行设置，本发明不做具体限定。

当处于第二预设时段内时，所述射频开关会断开所述恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，同时，接通所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器第一端的通路。此时，恒温恒湿箱内的各个电子原件均没有接通电源，所述多路复用器会逐一将所述恒温恒湿箱中的各个电子元器件与所述电参数测量仪连接，不需要等待逐渐降温后将各个电子元器件从恒温恒湿箱中取出再与电参数测量仪进行连接测试，因此节省了等待降温和升温所需的时间，所述电参数测量仪在接通电子元器件后，就能够直接对电子元器件进行测试，获取电参数测量数据。由于每经过一个预设时间周期都能够获取对应的电参数测量数据，并且省去了恒温恒湿箱降温和升温的等待时间，因此在每次进行加速老化试验过程中都能够获取更多的电参数测量数据，在电参数测量数据较多的情况下，最终的电子元器件加速老化测试结果更具有说服力，准确性较高。

在一个优选的实施例中，所述恒温恒湿箱的第二端设有出线孔，以通过所述出线孔将各所述电子元器件的待测端通过导线进行引出，并与所述多路复用器的第一端进行连接。

具体地，多路复用器是一种用于将多个输入信号组合成一个单一的输出信号的电子设备，它的结构通常包括一个输入端口和一个输出端口，以及一个或多个复用通道。

所述恒温恒湿箱的第二端设有出线孔，所述出线孔是用于将各电子元器件待测端通过导线引出，然后与多路复用器的第一端连接，再通过所述多路复用器的第二端与所述电参数测量仪的第一端连接，如此以来，各个电子元器件就能够通过所述多路复用器与各所述电参数测量仪的第一端连接，进而所述电参数测量仪就能够对各电子元器件进行测量，并获取各所述电子元器件的电参数测量数据。

在一个优选的实施例中，所述电子元器件加速老化连续测量系统，还包括：定时器；

所述定时器的第一端与所述射频开关的第三端连接；

所述定时器用于，在每一预设时间周期的第一预设时段内，向所述射频开关发送第一控制开断信号，以使所述射频开关根据所述第一控制开断信号，接通所述恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，以及断开所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器第一端的通路；在每一预设时间周期的第二预设时段内，向所述射频开关发送第二控制开断信号，以使所述射频开关根据所述第二控制开断信号，断开所述恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，以及接通所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器的通路。

具体地，所述定时器按照设定的时间间隔，周期性地控制射频开关的开断状态，即在达到每一预设时间周期的第一预设时段时，向所述射频开关发送第一控制开断信号，使得所述射频开关在接收到所述第一控制开断信号之后，根据所述第一控制开断信号，接通所述恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，以及断开所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器第一端的通路；

在达到每一预设时间周期的第二预设时段时，向所述射频开关发送第二控制开断信号，使得所述射频开关在接收到所述第二控制开断信号之后，根据所述第二控制开断信号，断开所述恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，同时，接通所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器第一端的通路，以使电参数测量仪能够对恒温恒湿箱内的各个电子元器件进行测试。

在一个优选的实施例中，所述电子元器件加速老化连续测量系统，还包括：单片机微控制器；

所述单片机微控制器的第一端与所述定时器的第二端连接；

所述单片机微控制器用于向所述定时器发送控制信号，以使所述定时器根据所述控制信号，在每一预设时间周期的第一预设时段内，向所述射频开关发送第一控制开断信号，以及在每一预设时间周期的第二预设时段内，向所述射频开关发送第二控制开断信号。

具体地，在开始进行加速老化试验时，需要通过所述单片机微控制器向所述定时器发送控制信号，定时器会根据接收到的控制信号，周期性地向所述射频开关发送第一控制开断信号和第二控制开断信号。即以使所述定时器在每一预设时间周期的第一预设时段内，向所述射频开关发送第一控制开断信号，以及在每一预设时间周期的第二预设时段内，向所述射频开关发送第二控制开断信号。

在一个优选的实施例中，所述电子元器件加速老化连续测量系统，还包括：上位机；

所述上位机的第一端与所述电参数测量仪的第二端连接；

所述电参数测量仪还用于，将各所述电子元器件的电参数测量数据发送至所述上位机。

在一个优选的实施例中，所述上位机用于，根据各所述电子元器件的电参数测量数据，生成每一所述电子元器件性能参数随时间变化的曲线。

具体地，所述上位机与所述电参数测量仪通信连接，当所述测量仪对各个电子元器件进行测量后，将各个电子元器件的电参数测量数据发送至上位机中，通过上位机进行保存，这些电参数测量数据反映了各电子元器件的性能表现。上位机还会根据这些电参数测量数据，生成每个电子元器件性能参数随时间变化的曲线，这样的曲线图直观地展示了电子元器件的老化过程和性能变化，便于用户进行深入的数据分析和处理。

在一个可选的实施例中，上位机还可以对接收到的电参数测量数据进行进一步的分析和评估。例如，它可以检测到某些元器件可能存在的早期故障，或者预测其未来的性能趋势。

在一个优选的实施例中，所述电子元器件加速老化连续测量系统，还包括：电源装置；

所述电源装置的第一端连接市电，所述电源装置的第二端与所述恒温恒湿箱的第一端连接；

所述电源装置用于向各所述电子元器件提供电源。

具体地，由于电子元器件是许多电子设备和系统的核心组件，有些元器件对电压的稳定性要求非常高，因此通过电源装置可以根据需要提供稳定的电压，确保电子元器件在正常工作范围内运行，并避免因电压波动而导致的性能下降或损坏，以达到模拟各个元器件在正常工作情况下的老化情况。

在一个优选的实施例中，所述电子元器件加速老化连续测量系统，还包括：隔离变压器；

所述隔离变压器的第一端连接市电，所述隔离变压器的第二端与所述单片机微控制器的第二端连接，所述单片机微控制器的第二端与所述电参数测量仪的第三端连接，所述电参数测量仪的第三端与所述上位机的第二端连接；

所述隔离变压器用于向所述单片机微控制器、电参数测量仪以及上位机提供稳定的供电。

具体地，隔离变压器的作用是确保系统中的各个组件获得稳定的供电包括：单片机微控制器、电参数测量仪以及上位机。

隔离变压器的第一端连接市电，从市电中获取电能，隔离变压器的第二端直接或者间接的连接了单片机微控制器的第二端、电参数测量仪的第三端以及上位机的第二端。为所述单片机微控制器、电参数测量仪以及上位机童工稳定的供电，确保这些组件在正常工作范围内运行，并避免因电压波动而导致的性能下降或损坏。

所述隔离变压器还可以起到电气隔离的作用，确保系统中的各个组件之间的电信号不会相互干扰，有助于提高系统的稳定性和可靠性。

在一个可选的实施例中，如图2所示，电子元器件加速老化连续测量系统的试验步骤为：

1)准备若干个同种型号电子元器件，测量得到电子元器件的初始性能参数，并将电子元器件样品放入至恒温恒湿试验箱内。恒温恒湿试验箱上设有出线孔，用于将待测电子元器件待测端通过导线进行引出。

2)将恒温恒湿试验箱温度、湿度调节为设定值。

3)连接好整体试验电路，启动单片机微控制器，通过单片机微控制器内置程序向定时器发送控制信号。

4)定时器接收单片机控制信号并向射频开关周期性发送控制射频开关开断的信号，射频开关接收控制信号选择性开断电路。

5)在定时器设定周期的T1时间内，射频开关处于电源向电子元器件的供电开通状态，同时射频开关处于多路复用器进行对电子元器件进行选择连接的断开状态。

6)在达到定时器设定周期的T1时间后，射频开关处于电源向电子元器件的供电断开状态，同时射频开关处于多路复用器进行对电子元器件进行选择连接的开通状态，并由多路复用器逐一选择电子元器件与电参数测量仪连接，通过电参数测量仪进行电子元器件电参数的测量，并将测量值自动上传至上位机系统进行记录存储。

7)定时器进行周期复位，在未结束试验的条件下进行下一次循环测量。

8)当达到电子元器件寿命终结条件时或者当进行到T2小时时进行结束试验，并由上位机得到电子元器件性能参数随时间变化的曲线。

在一个可选的实施例中，电子元器件加速老化连续测量系统包括：电源、隔离变压器、单片机微控制器、定时器、射频开关、多路复用器、电参数测量仪、上位机、恒温恒湿箱与试验元件。电源进行对电子元器件供电；通过隔离变压器再对仪器进行供电保证人身和设备安全；单片机微控制器通过内置程序向定时器发送控制信号；定时器接收单片机控制信号并向射频开关周期性发送控制开断信号；射频开关接收控制信号选择性开断电路；多路复用器逐一选择元件与电参数测量仪连接；电参数测量仪进行元件电参数测量，并将测量值自动上传至上位机系统；上位机接收电参数测量值进行记录储存；电子元器件放置在恒温恒湿试验箱内，以控制稳定的试验温度、湿度条件，恒温恒湿试验箱上设有出线孔，用于将电子元器件待测端通过导线引出。

在一个可选的实施中，电子元器件加速老化连续测量系统的测试方法包括：(1)准备若干个同种型号电子元器件，测量得到电子元器件的初始性能参数，并将电子元器件样品放入至恒温恒湿试验箱内。恒温恒湿试验箱上设有出线孔，用于将待测电子元器件待测端通过导线进行引出。(2)将恒温恒湿试验箱温度、湿度调节为设定值。(3)连接好整体试验电路，启动单片机微控制器，通过单片机微控制器内置程序向定时器发送控制信号。(4)定时器接收单片机控制信号并向射频开关周期性发送控制射频开关开断的信号，射频开关接收控制信号选择性开断电路。(5)在定时器设定周期的T1时间内，射频开关处于电源向电子元器件的供电开通状态，同时射频开关处于多路复用器进行对电子元器件进行选择连接的断开状态。(6)在达到定时器设定周期的T1时间后，射频开关处于电源向电子元器件的供电断开状态，同时射频开关处于多路复用器进行对电子元器件进行选择连接的开通状态，并由多路复用器逐一选择电子元器件与电参数测量仪连接，通过电参数测量仪进行电子元器件电参数的测量，并将测量值自动上传至上位机系统进行记录存储。(7)定时器进行周期复位，在未结束试验的条件下进行下一次循环测量。(8)当达到电子元器件寿命终结条件时或者当进行到T2小时时进行结束试验，并由上位机得到电子元器件性能参数随时间变化的曲线。

在一个可选的实施例中，本发明实施例中使用的电子元器件为金属化膜电容器元件，测得初始电容量为470μF。恒温恒湿试验箱设定温度85℃，相对湿度设定为85％。定时器周期设置为30min，以电容量下降超过初始值的5％为寿命终结条件。由上位机得到电子元器件电容量下降量百分比随时间变化曲线，与传统加速老化方式相比测量周期由之前的天级或小时级精度提高到了分钟级。

通过实施本发明上述实施例具有如下效果：

1.本发明可以保证测试条件的稳定性，不受外界环境等因素干扰。

2.本发明电子元器件加速老化连续自动测量装置，对在整个加速老化过程中对被测电子元器件的进行连续自动监测，消除了由于老化过程中断而产生的误差，也大大减少了试验当中的无效时间。

3.本发明能够直接通过射频开关周期性地控制系统进入电子元器件的加速老化过程和测量过程，不需要等待恒温恒湿箱的降温和升温过程，大大减少了加速老化试验当中的无效时间，可以直接通过电参数测量仪对电子元器件进行测量，极大的缩短了电参数测量数据获取时间，提高了电子元器件的测量效率，并提高了加速老化试验结果的准确性。

上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种电子元器件加速老化连续测量系统，其特征在于，包括：若干电子元器件、恒温恒湿箱、射频开关、多路复用器以及电参数测量仪；

所述若干电子元器件设置于所述恒温恒湿箱内，所述恒温恒湿箱的第一端连接电源、所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器的第一端连接，所述多路复用器的第二端与所述电参数测量仪的第一端连接；所述射频开关的第一端与所述恒温恒湿箱的第一端连接，所述射频开关的第二端与所述恒温恒湿箱的第二端连接；

所述射频开关，用于在每一预设时间周期的第一预设时段内，接通所述恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，以及断开所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器第一端的通路；在每一预设时间周期的第二预设时段内，断开所述恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，以及接通所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器第一端的通路；其中，每一预设时间周期包括：第一预设时段和第二预设时段；所述第一预设时段与所述第二预设时段之间无交集；

所述恒温恒湿箱，用于在各个预设时间周期内，为各所述电子元器件提供稳定的温度和湿度环境；

所述多路复用器，用于在每一预设时间周期的第二预设时段内，将所述恒温恒湿箱中的各个电子元器件与所述电参数测量仪连接，以通过所述电参数测量仪对各所述电子元器件进行测量，并获取各所述电子元器件的电参数测量数据。

2.如权利要求1所述的电子元器件加速老化连续测量系统，其特征在于，还包括：定时器；

所述定时器的第一端与所述射频开关的第三端连接；

所述定时器用于，在每一预设时间周期的第一预设时段内，向所述射频开关发送第一控制开断信号，以使所述射频开关根据所述第一控制开断信号，接通所述恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，以及断开所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器第一端的通路；在每一预设时间周期的第二预设时段内，向所述射频开关发送第二控制开断信号，以使所述射频开关根据所述第二控制开断信号，断开所述恒温恒湿箱的第一端与电源的通路，以及接通所述恒温恒湿箱的第二端与所述多路复用器的通路。

3.如权利要求2所述的电子元器件加速老化连续测量系统，其特征在于，还包括：单片机微控制器；

所述单片机微控制器的第一端与所述定时器的第二端连接；

所述单片机微控制器用于向所述定时器发送控制信号，以使所述定时器根据所述控制信号，在每一预设时间周期的第一预设时段内，向所述射频开关发送第一控制开断信号，以及在每一预设时间周期的第二预设时段内，向所述射频开关发送第二控制开断信号。

4.如权利要求3所述的电子元器件加速老化连续测量系统，其特征在于，还包括：上位机；

所述上位机的第一端与所述电参数测量仪的第二端连接；

所述电参数测量仪还用于，将各所述电子元器件的电参数测量数据发送至所述上位机。

5.如权利要求4所述的电子元器件加速老化连续测量系统，其特征在于，还包括：电源装置；

所述电源装置的第一端连接市电，所述电源装置的第二端与所述恒温恒湿箱的第一端连接；

所述电源装置用于向各所述电子元器件提供电源。

6.如权利要求5所述的电子元器件加速老化连续测量系统，其特征在于，还包括：隔离变压器；

所述隔离变压器的第一端连接市电，所述隔离变压器的第二端与所述单片机微控制器的第二端连接，所述单片机微控制器的第二端与所述电参数测量仪的第三端连接，所述电参数测量仪的第三端与所述上位机的第二端连接；

所述隔离变压器用于向所述单片机微控制器、电参数测量仪以及上位机提供稳定的供电。

7.如权利要求6所述的电子元器件加速老化连续测量系统，其特征在于，所述上位机用于，根据各所述电子元器件的电参数测量数据，生成每一所述电子元器件性能参数随时间变化的曲线。

8.如权利要求7所述的电子元器件加速老化连续测量系统，其特征在于，所述恒温恒湿箱的第二端设有出线孔，以通过所述出线孔将各所述电子元器件的待测端通过导线进行引出，并与所述多路复用器的第一端进行连接。