CN117760339B - 一种测量光束角和泛光角的方法 - Google Patents

Abstract

本发明创造涉及一种测量光束角和泛光角的方法，包括有控制处理中心和垂直设置的光照测试平台，所述光照测试平台内设置有若干呈“十”字形阵列分布的光学传感器，所述控制处理中心用于接收并处理所述光学传感器反馈的光学参数数据；该光学参数数据包括有色温、照度、色坐标、色偏差值、色度空间不均匀性，同时该设备可根据测量不同探测点的照度计算光学参数的光束角、泛光角、光通量和光的均匀性，相比较于现有技术，本发明具有更高测量光学的效率，其可以为灯具的生产实验以及品控测量都带来很大的方便性。

Description

一种测量光束角和泛光角的方法

技术领域

本发明创造涉及灯具光学测量技术领域，尤其涉及一种测量光束角和泛光角的方法。

背景技术

因需要满足各式各样的舞台表演，现在人们对舞台灯光效果提出了更高的要求，为了满足舞台灯实际生产实践和光学实验需求，因此需要对各类灯具的各个特征照射点的光学参数进行测量；传统测量方式是需要测试员使用测光仪C-7000手动移动到不同照射点进行光学参数的测量，并对所测的光学项目进行逐一记录，这样测量加记录数据时间消耗大，人工选点误差不可控，严重影响工厂高效率运作，因此我们急需研发一种高效率测量光学数据的设备。

发明内容

本发明创造为解决上述技术问题之一，提供一种基于传感器阵列测量光学的设备、应用设备测量光束角和泛光角的方法以及应用该设备测量光通量和光的均匀性的方法，其可以快速测量传感器阵列分布的各点位测量光学数据，从而提高测量效率。

为解决上述技术问题，本发明创造提供如下技术方案：

一种基于传感器阵列测量光学的设备，包括有控制处理中心和垂直设置的光照测试平台，所述光照测试平台内设置有若干呈“十”字形阵列分布的光学传感器，所述控制处理中心用于接收并处理所述光学传感器反馈的光学参数数据；所述控制处理中心上建立XY坐标系，位于“十”字形阵列中心位置的传感器设置在XY坐标系的中心O点并将其编号为A₀；其余一部分所述光学传感器依次排列设置在XY坐标系的X正半轴上，并沿着远离中心O点方向依次编号为A₁、A₂...A_n；其余一部分所述光学传感器依次排列设置在XY坐标系的X负半轴上，并沿着远离中心O点方向依次编号为C₁、C₂...C_n；其余一部分所述光学传感器依次排列设置在XY坐标系的Y正半轴上，并沿着远离中心O点方向依次编号为B₁、B₂...B_n；剩余部分所述光学传感器依次排列设置在XY坐标系的Y负半轴上，并沿着远离中心O点方向依次编号为D₁、D₂...D_n。

作为优选的实施方式，进一步限定为，位于X轴上的且相邻的两个所述光学传感器的探测点之间的间距L₁相等；位于Y轴上的且相邻的两个所述光学传感器的探测点之间的间距L₂相等，且L₁=L₂。

作为优选的实施方式，进一步限定为，所述光学参数数据包括有色温、照度、色坐标、色偏差值和色度空间不均匀性，所述设备可根据测量不同探测点的照度计算光学参数的光束角、泛光角、光通量和光的均匀性。

一种应用所述设备测量光束角和泛光角的方法，作为优选的实施方式，进一步限定为，包括有如下步骤：

步骤1，调整待测灯具与光照测试平台之间距离，将待测灯具的发光源O＇照射在所述光照测试平台并形成光斑，并将所述光斑的中心点与XY坐标系的中心O点重合，所有所述光学传感器采集光学参数数据，其中包括有光学传感器A₀采集中心O点的中心照度；

步骤2，所述控制处理中心接收并处理光学传感器的光学参数数据，所述控制处理中心根据所述光学传感器的阵列顺序，依次询查50%的中心照度的测量点，并将该测量点分别设定为E和F点；或/和询查10%的中心照度的测量点， 并将该测量点设定为G和H点；

步骤3，若测量点E、F、G和H均位于X轴或Y轴的光学传感器的探测点位置，所述控制处理中心根据已知距离OO＇和距离EF或OE或OF，计算出光束角∠EOF，根据已知距离OO＇和距离GH或GO或OH，计算出泛光角∠GOH；若测量点E、F、G和H有一个或一个以上没有位于X轴或Y轴的光学传感器的探测点位置，则需要执行步骤4-1或步骤4-2；

步骤4-1，所述控制处理中心根据光学传感器采集到的照度数据询查并确定50%的中心照度的测量点位于相邻两个所述光学传感器的探测点之间，所述控制处理中心通过数学上的线性插值法来确定50%的中心照度的测量点在这相邻两个所述光学传感器之间的确切位置，并记录该点为E或F点位置；或/和所述控制处理中心根据光学传感器采集到的照度数据询查并确定10%的中心照度的测量点位于另外相邻两个所述光学传感器的探测点之间，所述控制处理中心通过数学上的线性插值法来确定10%的中心照度的测量点在这相邻两个所述光学传感器之间的确切位置，并记录该点为G或H点位置；根据已知距离OO＇和距离EF或距离OF或距离OE，计算出光束角∠EOF；根据已知距离OO＇和距离GH或OG或OH，计算出泛光角∠GOH；

步骤4-2，所述控制处理中心读取X轴或Y轴上的每个光学传感器测量的照度数据，所述控制处理中心通过数学上的曲线拟合法来确定50%的中心照度的测量点在相邻两个所述光学传感器之间的确切位置，并记录该点为E或F点位置；或/和所述控制处理中心通过数学上的曲线拟合法来确定10%的中心照度的测量点在另外相邻两个所述光学传感器之间的确切位置，并记录该点为G或H点位置；根据已知距离OO＇和距离EF或距离OF或距离OE，计算出光束角∠EOF；根据已知距离OO＇和距离GH或OG或OH，计算出泛光角∠GOH。

作为优选的实施方式，进一步限定为，在步骤4-1中，设定和/>分别为距离中心O点的第n个和第n+1个光学传感器探测点的照度，/>为中心O点照度，需满足/>，其中，k=10%或k=50%，

参考线性插值法公式，可得，其中，/>，/>，L=L₁=L₂；若k=50%，则L_xy为中心O点与50%的中心照度的测量点之间的距离，即OE或OF的距离；若k=10%，则L_xy为中心O点与10%的中心照度的测量点之间的距离，即OG或OH的距离。

作为优选的实施方式，进一步限定为，在步骤4-2中，设定拟合公式y=f（x）=ax²+bx+c，其中，y为中点距离探测点x距离的照度，x为距离中点的距离，同时设定y_j为X轴或Y轴上第j个光学传感器测量的照度，j为沿着从左至右的X轴方向的或沿着从下至上Y轴方向的第j个光学传感器的探测点，其中1≤j≤2n+1；根据最小二乘法，求差值；当差值取最小值时，根据求导公式/>，即 ；/>，即 />；/>，即/>，求得a值、b值和c值并代入拟合公式y=f（x）=ax²+bx+c，当y等于50%的中心照度时，求得x值为距离OF或距离OE；当y等于10%的中心照度时，求得x值为距离OG或OH。

作为优选的实施方式，进一步限定为，在步骤1中，将光斑缩放成光点，将光点直射至中心O点，之后再将光点放大以形成光斑，测量光斑的半径R；或将光斑直接照射在光照测试平台上，以光斑的边缘为界线，在光照测试平台上画出两条位于界线内且不重合的最长直线，取两条直线的交点作为光斑中点，将整个“十”字形阵列的光学传感器的中心位置移动至光斑中点位置。

作为优选的实施方式，进一步限定为，还包括有步骤5，所述控制处理中心根据步骤4-1或步骤4-2算法优化后的照度数据处理并生成三维立体图。

一种应用所述设备测量光通量和光的均匀性的方法，作为优选的实施方式，进一步限定为，包括有如下步骤：

步骤1，调整待测灯具与光照测试平台之间距离，将待测灯具的发光源O＇照射在所述光照测试平台并形成光斑，并将光斑的中心点与XY坐标系的中心O点重合；同时测量光斑半径R；

步骤2，所述控制处理中心在XY坐标系中采集9个坐标点的光学数据，所述9个坐标点包括有（0,0）、（0.5R,0）、（0,0.5R）、（-0.5R,0）、（0,-0.5R）、（0,-0.9R）、（0.9R,0）、（0,0.9R）、（-0.9R,0），它们分别对应光学传感器编号为A₀、A₁₀、B₁₀、C₁₀、D₁₀、D₁₈、A₁₈、B₁₈、C₁₈；所述控制处理中心根据该9个坐标点上采集到光学照度数据处理并计算出光通量和光的均匀性。

作为优选的实施方式，进一步限定为，所述光通量Ψ计算根据公式，其 中，为第i个测量点的照度，所述9个坐标点（0,0）、（0.5R,0）、（0,0.5R）、（-0.5R,0）、（0,- 0.5R）、（0,-0.9R）、（0.9R,0）、（0,0.9R）、（-0.9R,0）依次排列的序号分别对应i=1、2...9；所 述光的均匀性计算根据公式。

作为优选的实施方式，进一步限定为，在步骤1中，将光斑缩放成光点，将光点直射至中心O点，之后再将光点放大以形成光斑，测量光斑的半径R；或将光斑直接照射在光照测试平台上，以光斑的边缘为界线，在光照测试平台上画出两条位于界线内且不重合的最长直线，取两条直线的交点作为光斑中点，将整个“十”字形阵列的光学传感器的中心位置移动至光斑中点位置。

采用上述技术方案后，本发明创造至少具有如下有益效果：本发明通过光学传感器组成的十字架形阵列，其可快速获取光学传感器阵列分布的各点位测量光学参数数据，该光学参数数据包括有色温、照度、色坐标、色偏差值、色度空间不均匀性，同时该设备通过与测量的方法结合测量出灯具的光束角、泛光角、光通量和光的均匀性，相比较于现有技术，本发明具有更高测量光学的效率，其可以为灯具的生产实验以及品控测量都带来很大的方便性。

附图说明

图1是本发明的“十”字形阵列分布的光学传感器的结构示图；

图2是本发明的光束角和泛光角的示意图；

图3是本发明的X轴方向照度数据正常分布图；

图4是本发明的Y轴方向照度数据正常分布图；

图5是本发明的X轴方向照度数据失真分布图；

图6是本发明的Y轴方向照度数据失真分布图；

图7是本发明的X轴方向照度数据模拟趋近分布图；

图8是本发明的Y轴方向照度数据模拟趋近分布图；

图9是本发明的照度数据优化后的三维数据分布图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本申请作进一步详细说明。

如附图1所示，一种基于传感器阵列测量光学的设备，包括有控制处理中心和垂直设置的光照测试平台，所述光照测试平台内设置有若干呈“十”字形阵列分布的光学传感器，所述控制处理中心用于接收并处理所述光学传感器反馈的光学参数数据；所述控制处理中心上建立XY坐标系，位于“十”字形阵列中心位置的传感器设置在XY坐标系的中心O点并将其编号为A₀；其余一部分所述光学传感器依次排列设置在XY坐标系的X正半轴上，并沿着远离中心O点方向依次编号为A₁、A₂...A_n；其余一部分所述光学传感器依次排列设置在XY坐标系的X负半轴上，并沿着远离中心O点方向依次编号为C₁、C₂...C_n；其余一部分所述光学传感器依次排列设置在XY坐标系的Y正半轴上，并沿着远离中心O点方向依次编号为B₁、B₂...B_n；剩余部分所述光学传感器依次排列设置在XY坐标系的Y负半轴上，并沿着远离中心O点方向依次编号为D₁、D₂...D_n；优选地，X正半轴、X负半轴、Y正半轴和Y负半轴上的光学传感器数据均设置有为20个，且位于X轴上的且相邻的两个所述光学传感器的探测点之间的间距L₁相等；位于Y轴上的且相邻的两个所述光学传感器的探测点之间的间距L₂相等，且L₁=L₂₌5cm；该“十”字架光学传感器阵列与软件算法集合形成专用的光学测量设备，其可以为灯具的生产实验以及品控测量都带来很大的方便性。

具体地，所述光学参数数据包括有色温、照度、色坐标、色偏差值和色度空间不均匀性，所述设备可根据测量不同探测点的照度计算光学参数的光束角、泛光角、光通量和光的均匀性。本发明通过光学传感器组成的十字架形阵列，其可快速获取光学传感器阵列分布的各点位测量光学参数数据，所述光学参数数据包括有色温、照度、色坐标、色偏差值、色度空间不均匀性、光束角、泛光角、光通量和光的均匀性。其中色温、照度、色坐标、色偏差值、色度空间不均匀性均可通过冷机测量，即在灯具开机的1-2min内，将灯具的光线照射在呈“十”字形阵列分布的光学传感器上，光学传感器可快速测量光学信号并反馈给控制处理中心上进行储存和处理。而光束角、泛光角、光通量和光的均匀性的参数可通过如下测量方法。

如附图2所示，一种应用所述设备测量光束角和泛光角的方法，包括有如下步骤：

步骤1，调整待测灯具与光照测试平台之间距离，将待测灯具的发光源O＇照射在所述光照测试平台并形成光斑，优选地，光斑面积尽可能覆盖所有光学传感器，并将所述光斑的中心点与XY坐标系的中心O点重合，所有所述光学传感器采集光学参数数据，其中包括有光学传感器A₀采集中心O点的中心照度；步骤2，所述控制处理中心接收并处理光学传感器的光学参数数据，所述控制处理中心根据所述光学传感器的阵列顺序，依次询查50%的中心照度的测量点，并将该测量点分别设定为E和F点；或/和询查10%的中心照度的测量点， 并将该测量点设定为G和H点；

步骤3，若测量点E、F、G和H均位于X轴或Y轴的光学传感器的探测点位置，所述控制处理中心根据已知距离OO＇和距离EF或OE或OF，计算出光束角∠EOF，根据已知距离OO＇和距离GH或GO或OH，计算出泛光角∠GOH；若测量点E、F、G和H有一个或一个以上没有位于X轴或Y轴的光学传感器的探测点位置，则需要执行步骤4-1或步骤4-2；

步骤4-1，所述控制处理中心根据光学传感器采集到的照度数据询查并确定50%的中心照度的测量点位于相邻两个所述光学传感器的探测点之间，所述控制处理中心通过数学上的线性插值法来确定50%的中心照度的测量点在这相邻两个所述光学传感器之间的确切位置，并记录该点为E或F点位置；或/和所述控制处理中心根据光学传感器采集到的照度数据询查并确定10%的中心照度的测量点位于另外相邻两个所述光学传感器的探测点之间，所述控制处理中心通过数学上的线性插值法来确定10%的中心照度的测量点在这相邻两个所述光学传感器之间的确切位置，并记录该点为G或H点位置；根据已知距离OO＇和距离EF或距离OF或距离OE，因∠EOF=2∠O＇OF，或∠EOF=2∠O＇OE，故计算出光束角∠EOF；根据已知距离OO＇和距离GH或OG或OH，因∠GOH=2∠OO＇H，或∠GOH=2∠OO＇G，故计算出泛光角∠GOH；

进一步地，线性插值法的计算如下:在步骤4-1中，设定和/>分别为距离中心O点的第n个和第n+1个光学传感器探测点的照度，/>为中心O点照度，需满足/>，其中，k=10%或k=50%，参考线性插值法公式，可得/>，其中，/>，/>，L=L₁=L₂；若k=50%，则L_xy为中心O点与50%的中心照度的测量点之间的距离，即OE或OF的距离；若k=10%，则L_xy为中心O点与10%的中心照度的测量点之间的距离，即OG或OH的距离。

如附图3和附图4，步骤4-2，所述控制处理中心读取X轴或Y轴上的每个光学传感器测量的照度数据，所述控制处理中心通过数学上的曲线拟合法来确定50%的中心照度的测量点在相邻两个所述光学传感器之间的确切位置，并记录该点为E或F点位置；或/和所述控制处理中心通过数学上的曲线拟合法来确定10%的中心照度的测量点在另外相邻两个所述光学传感器之间的确切位置，并记录该点为G或H点位置；根据已知距离OO＇和距离EF或距离OF或距离OE，计算出光束角∠EOF；根据已知距离OO＇和距离GH或OG或OH，计算出泛光角∠GOH，当测量光束角或泛光角时，50%的中心照度的测量点和10%的中心照度的测量点某相邻两个的光学传感器之间，此时可以通过曲线拟合的方式理论计算出该测量点位置，进得到比较精确的角度值；

进一步地，曲线拟合法的计算如下：在步骤4-2中，设定拟合公式y=f（x）=ax²+bx+c，其中，y为中点距离探测点x距离的照度，x为距离中点的距离，同时设定y_j为X轴或Y轴上第j个光学传感器测量的照度，j为沿着从左至右的X轴方向的或沿着从下至上Y轴方向的第j个光学传感器的探测点，其中1≤j≤2n+1；根据最小二乘法，求差值；当差值取最小值时，根据求导公式/>，即 ；/>，即 />；/>，即/>，求得a值、b值和c值并代入拟合公式y=f（x）=ax²+bx+c，当y等于50%的中心照度时，求得x值为距离OF或距离OE；当y等于10%的中心照度时，求得x值为距离OG或OH。

相比于步骤4-1线性插值法，步骤4-2所采用曲线拟合法主要选取临近点来估计预测点数据，结合这个X或Y轴的测量数据作为参考来估计预测点的数据，其测试结果更准确。

当然了也有可能是人为因素导致某个光学传感器测试不到数据，从而导致测量的数据丢失，如附图5和附图6所示。我们也可以通过上述的曲线拟合法来将数据进行模拟趋近，如附图7和附图8所示，从而计算出光束角∠EOF和泛光角∠GOH。

在步骤1中，将光斑缩放成光点，将光点直射至中心O点，之后再将光点放大以形成光斑，测量光斑的半径R；或将光斑直接照射在光照测试平台上，以光斑的边缘为界线，在光照测试平台上画出两条位于界线内且不重合的最长直线，取两条直线的交点作为光斑中点，将整个“十”字形阵列的光学传感器的中心位置移动至光斑中点位置，可通过移动光照平台带动整个“十”字形阵列的光学传感器，从而保证了光斑的中心点位于XY坐标系的中心O点，优选地，光斑面积尽可能覆盖所有光学传感器，有效减少测量光学参数的误差。

如附图9所示，还包括有步骤5，所述控制处理中心根据步骤4-1或步骤4-2算法优化后的照度数据处理并生成三维立体图；使测试员更能直观地了解灯具的照度参数情况，间接了解到灯具的品质问题。

上述的步骤通过控制处理中心通过与算法结合可快速测量光束角和泛光角的参数，相比于现有技术，该测量方法具有更快地测量效率。

本发明提供了一种应用所述设备测量光通量和光的均匀性的方法，包括有如下步骤：

步骤1，调整待测灯具与光照测试平台之间距离，将待测灯具的发光源O＇照射在所述光照测试平台并形成光斑，并将光斑的中心点与XY坐标系的中心O点重合；同时测量光斑半径R，在步骤1中，将光斑缩放成光点，将光点直射至中心O点，之后再将光点放大以形成光斑，测量光斑的半径R，或将光斑直接照射在光照测试平台上，以光斑的边缘为界线，在光照测试平台上画出两条位于界线内且不重合的最长直线，取两条直线的交点作为光斑中点，将整个“十”字形阵列的光学传感器的中心位置移动至光斑中点位置，可通过移动光照平台带动整个“十”字形阵列的光学传感器，从而保证了光斑的中心点位于XY坐标系的中心O点，优选地，光斑面积尽可能覆盖所有光学传感器，更能有效减少测量光学参数的误差；

步骤2，所述控制处理中心在XY坐标系中采集9个坐标点的光学数据，所述9个坐标 点包括有（0,0）、（0.5R,0）、（0,0.5R）、（-0.5R,0）、（0,-0.5R）、（0,-0.9R）、（0.9R,0）、（0, 0.9R）、（-0.9R,0），它们分别对应光学传感器编号为A₀、A₁₀、B₁₀、C₁₀、D₁₀、D₁₈、A₁₈、B₁₈、C₁₈；所述 光通量Ψ计算根据公式，其中，为第i个测量点的照度，所述9个坐标点（0,0）、 （0.5R,0）、（0,0.5R）、（-0.5R,0）、（0,-0.5R）、（0,-0.9R）、（0.9R,0）、（0,0.9R）、（-0.9R,0）依 次排列的序号分别对应i=1、2...9；所述光的均匀性计算根据公式，所述控制处理中心根据该9个坐标点上采集到光学照度数据处 理并计算出光通量和光的均匀性；最后根据用户设置的格式输出测量数据,并自动保存，进 一步地提高了测量效率。

尽管已经示出和描述了本发明创造的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解的是，在不脱离本发明创造的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种等效的变化、修改、替换和变型，本发明创造的范围由所附权利要求及其等同范围限定。

Claims (5)

1.一种测量光束角和泛光角的方法，其特征在于，该方法基于传感器阵列测量光学设备的实现，所述设备包括有控制处理中心和垂直设置的光照测试平台，所述光照测试平台内设置有若干呈“十”字形阵列分布的光学传感器，所述控制处理中心用于接收并处理所述光学传感器反馈的光学参数数据；所述控制处理中心上建立XY坐标系，位于“十”字形阵列中心位置的传感器设置在XY坐标系的中心O点并将其编号为A₀；其余一部分所述光学传感器依次排列设置在XY坐标系的X正半轴上，并沿着远离中心O点方向依次编号为A₁、A₂...A_n；其余一部分所述光学传感器依次排列设置在XY坐标系的X负半轴上，并沿着远离中心O点方向依次编号为C₁、C₂...C_n；其余一部分所述光学传感器依次排列设置在XY坐标系的Y正半轴上，并沿着远离中心O点方向依次编号为B₁、B₂...B_n；剩余部分所述光学传感器依次排列设置在XY坐标系的Y负半轴上，并沿着远离中心O点方向依次编号为D₁、D₂...D_n；应用所述测量光学设备的步骤如下：

步骤1，调整待测灯具与光照测试平台之间距离，将待测灯具的发光源O＇照射在所述光照测试平台并形成光斑，并将所述光斑的中心点与XY坐标系的中心O点重合，所有所述光学传感器采集光学参数数据，其中包括有光学传感器A₀采集中心O点的中心照度；

步骤2，所述控制处理中心接收并处理光学传感器的光学参数数据，所述控制处理中心根据所述光学传感器的阵列顺序，依次询查50%的中心照度的测量点，并将该测量点分别设定为E和F点；或/和询查10%的中心照度的测量点， 并将该测量点设定为G和H点；

步骤3，若测量点E、F、G和H均位于X轴或Y轴的光学传感器的探测点位置，所述控制处理中心根据已知距离OO＇和距离EF或OE或OF，计算出光束角∠EOF，根据已知距离OO＇和距离GH或GO或OH，计算出泛光角∠GOH；若测量点E、F、G和H有一个或一个以上没有位于X轴或Y轴的光学传感器的探测点位置，则需要执行步骤4-1或步骤4-2；

步骤4-1，所述控制处理中心根据光学传感器采集到的照度数据询查并确定50%的中心照度的测量点位于相邻两个所述光学传感器的探测点之间，所述控制处理中心通过数学上的线性插值法来确定50%的中心照度的测量点在这相邻两个所述光学传感器之间的确切位置，并记录该点为E或F点位置；或/和所述控制处理中心根据光学传感器采集到的照度数据询查并确定10%的中心照度的测量点位于另外相邻两个所述光学传感器的探测点之间，所述控制处理中心通过数学上的线性插值法来确定10%的中心照度的测量点在这相邻两个所述光学传感器之间的确切位置，并记录该点为G或H点位置；根据已知距离OO＇和距离EF或距离OF或距离OE，计算出光束角∠EOF；根据已知距离OO＇和距离GH或OG或OH，计算出泛光角∠GOH；

步骤4-2，所述控制处理中心读取X轴或Y轴上的每个光学传感器测量的照度数据，所述控制处理中心通过数学上的曲线拟合法来确定50%的中心照度的测量点在相邻两个所述光学传感器之间的确切位置，并记录该点为E或F点位置；或/和所述控制处理中心通过数学上的曲线拟合法来确定10%的中心照度的测量点在另外相邻两个所述光学传感器之间的确切位置，并记录该点为G或H点位置；根据已知距离OO＇和距离EF或距离OF或距离OE，计算出光束角∠EOF；根据已知距离OO＇和距离GH或OG或OH，计算出泛光角∠GOH。

2.根据权利要求1所述测量光束角和泛光角的方法，其特征在于，在步骤4-1中，设定和/>分别为距离中心O点的第n个和第n+1个光学传感器探测点的照度，/>为中心O点照度，需满足/>，其中，k=10%或k=50%，

参考线性插值法公式，可得，其中，/>，/>，位于X轴上的且相邻的两个所述光学传感器的探测点之间的间距L₁相等，位于Y轴上的且相邻的两个所述光学传感器的探测点之间的间距L₂相等，且L=L₁=L_2；若k=50%，则L_xy为中心O点与50%的中心照度的测量点之间的距离，即OE或OF的距离；若k=10%，则L_xy为中心O点与10%的中心照度的测量点之间的距离，即OG或OH的距离。

3.根据权利要求1所述测量光束角和泛光角的方法，其特征在于，在步骤4-2中，设定拟合公式y=f（x）=ax²+bx+c，其中，y为中点距离探测点x距离的照度，x为距离中点的距离，同时设定y_j为X轴或Y轴上第j个光学传感器测量的照度，j为沿着从左至右的X轴方向的或沿着从下至上Y轴方向的第j个光学传感器的探测点，其中1≤j≤2n+1；根据最小二乘法，求差值；当差值取最小值时，根据求导公式/>，即 ；/>，即 />；/>，即/>，求得a值、b值和c值并代入拟合公式y=f（x）=ax²+bx+c，当y等于50%的中心照度时，求得x值为距离OF或距离OE；当y等于10%的中心照度时，求得x值为距离OG或OH。

4.根据权利要求1所述测量光束角和泛光角的方法，其特征在于，在步骤1中，将光斑缩放成光点，将光点直射至中心O点，之后再将光点放大以形成光斑，测量光斑的半径R；或将光斑直接照射在光照测试平台上，以光斑的边缘为界线，在光照测试平台上画出两条位于界线内且不重合的最长直线，取两条直线的交点作为光斑中点，将整个“十”字形阵列的光学传感器的中心位置移动至光斑中点位置。

5.根据权利要求1所述测量光束角和泛光角的方法，其特征在于，所述光学参数数据包括有色温、照度、色坐标、色偏差值和色度空间不均匀性，所述设备还可根据测量不同探测点的照度计算光学参数的光通量和光的均匀性。