CN117686173A - 承载装置及测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种承载装置及测试系统。该承载装置包括多个承载件，每一承载件包括固定部和承载部，固定部围绕承载部设置；多个固定部能够沿第一方向层叠设置，沿第一方向，相邻的两个固定部之间可拆卸连接；其中，每一承载部用于承载一个电子设备。本申请的承载装置可承载多个电子设备，借助该承载装置将多个电子设备放置于振动测试平台，从而可一次性对多个电子设备进行振动测试，有助于提高对电子设备的测试效率。

Description

承载装置及测试系统

技术领域

本申请涉及治具技术领域，特别是涉及一种用于电子设备振动测试的承载装置及测试系统。

背景技术

在电子设备制造完成之后，通常会对电子设备进行振动测试来模拟实际运输、使用等情境下的振动环境，在完成振动测试后再对电子设备的产品外观和性能进行检测，以评估电子设备对振动环境的耐受性，但目前，振动测试平台的测试效率偏低，耗时长。

发明内容

基于此，本申请提供一种承载装置及测试系统，有助于提高对电子设备的测试效率。

根据本申请的一方面，提供一种承载装置，包括：

多个承载件，每一承载件包括固定部和承载部，固定部围绕承载部设置；多个固定部能够沿第一方向层叠设置，沿第一方向，相邻的两个固定部之间可拆卸连接；

其中，每一承载部用于承载一个电子设备。

在其中一个实施例中，承载部设有阶梯结构，阶梯结构能够对位于该承载部上的电子设备的周向进行限位。

在其中一个实施例中，阶梯结构包括沿第一方向设置的第一台阶面和围绕第一台阶面设置的限位面；

第一台阶面和限位面构成凹陷结构，第一台阶面用于承载电子设备，限位面用于对该电子设备的周向进行限位。

在其中一个实施例中，阶梯结构还包括沿第一方向设置的第二台阶面，第二台阶面围绕限位面设置；

承载装置还包括可拆卸设于承载部的第二阶梯面的多个限位件，且位于同一承载部上的多个限位件围绕第一台阶面的周向设置；

在电子设备承载于承载部的情况下，位于该承载部上的多个限位件分别与该电子设备的侧壁接触。

在其中一个实施例中，承载件设有位于第二台阶面的多个凹部，每一凹部内能够容纳一个限位件的至少一部分，且该凹部的侧壁与该限位件的侧壁接触。

在其中一个实施例中，承载装置还包括多个固定件，每一固定件用于可拆卸盖设于位于一个承载部上的电子设备，以沿第一方向对该电子设备进行固定。

在其中一个实施例中，限位件的至少另一部分相对于第二台阶面凸出设置；承载件设有位于第二台阶面的凸部，且凸部与限位件错位设置；

其中，同一承载件上，凸部沿第一方向的尺寸和限位件的该至少另一部分沿第一方向的尺寸，均等于位于该承载部上的电子设备沿第一方向凸出于第二台阶面的尺寸，以用于使固定件分别接触于凸部、限位件以及电子设备。

在其中一个实施例中，第一台阶面在参考面上的正投影具有一个轮廓线；或者

第一台阶面在参考面上的正投影具有两个轮廓线，且其中一个轮廓线位于其中另一个轮廓线内；

参考面为垂直于第一方向的平面。

在其中一个实施例中，固定部具有沿第一方向贯穿的多个通孔；沿第一方向，相邻的两个固定部，其中一个固定部的每一通孔，与其中另一个固定部的一个通孔对位设置；

承载装置还包括多个连接件，连接件沿第一方向可拆卸贯穿对位设置的通孔。

在其中一个实施例中，承载部在参考面上的正投影具有一个轮廓线；或者

承载部在参考面上的正投影具有两个轮廓线，且其中一个轮廓线位于其中另一个轮廓线内；

参考面为垂直于第一方向的平面。

在其中一个实施例中，承载装置还包括多个检测元件；每一检测元件设于一个固定部背离与该固定部连接的承载部的一侧表面，检测元件用于检测对应的承载件在振动测试情况下的振动信号。

在其中一个实施例中，固定部具有沿第二方向的第三尺寸，及沿第三方向的第四尺寸；

其中，第三尺寸大于或等于第四尺寸，检测元件设于固定部背离对应的承载部并为第三尺寸所在的一侧表面，且位于该第三尺寸的中间位置；或者

第三尺寸小于或等于第四尺寸，检测元件设于固定部背离对应的承载部并为第四尺寸所在的一侧表面，且位于该第四尺寸的中间位置；

第一方向、第二方向及第三方向彼此相互垂直。

在其中一个实施例中，振动信号表征为振动加速度；

在承载装置处于振动测试的情况下，检测元件检测到的振动加速度的均方根加速度在预设范围内。

在其中一个实施例中，多个承载件沿第一方向的最大尺寸小于或等于12.6厘米。

根据本申请的另一方面，提供一种测试系统，包括振动测试平台和如前任一项实施例的承载装置；多个承载件对应的多个固定部可拆卸固定于振动测试平台，以使振动测试平台用于对多个电子设备进行振动测试。

上述的承载装置及测试系统中，承载装置用于承载电子设备，该承载装置至少包括多个承载件，每个承载件包括固定部和承载部，固定部围绕承载部设置，多个固定部能够沿第一方向叠层设置，沿第一方向，相邻的两个固定部之间可拆卸连接，而承载部用于承载电子设备。如此，承载装置可承载多个电子设备，借助该承载装置将多个电子设备放置于振动测试平台，从而可一次性对多个电子设备进行振动测试，有助于提高对电子设备的测试效率。

附图说明

图1为本申请一实施例中的承载装置的结构示意图。

图2为图1中A处的局部放大示意图。

图3为图1中的承载装置的俯视图。

图4为本申请一实施例中的承载装置的固定件的结构示意图。

图5a为图1中的承载装置的一种部分剖视图。

图5b为图1中的承载装置的另一种部分剖视图。

图6为本申请一实施例中的承载装置在有限元分析软件中的仿真振动图。

图7a为本申请一具体实施例中的承载装置，其中一部分承载件在实际振动测试中的振动图谱。

图7b为本申请一具体实施例中的承载装置，其中另一部分承载件在实际振动测试中的振动图谱。

附图标号说明：

承载装置100；

承载件110、固定部111、开口111a、承载部112、阶梯结构T、第一台阶面112a、限位面112b、第二台阶面112c、凹部113、凸部114；

限位件120、连接部121；

检测元件M；

第一安装孔k1、第二安装孔k2、通孔Q；

第一尺寸h1、第二尺寸h2、第三尺寸h3、第四尺寸h4；

第一方向F1、第二方向F2、第三方向F3。

具体实施方式

为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进，因此本申请不受下面公开的具体实施例的限制。

在本申请的描述中，需要理解的是，若有出现这些术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等，这些术语指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，若有出现这些术语“第一”、“第二”，这些术语仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本申请的描述中，若有出现术语“多个”，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，若有出现术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等，这些术语应做广义理解。例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，若有出现第一特征在第二特征“上”或“下”等类似的描述，其含义可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第

一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

需要说明的是，若元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。若一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。如若存在，本申请所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

目前，在机械振动实验中，通常通过振动设备来实现，但因此振动平台尺寸的限制，一个振动平台最多只能平铺放置2个笔记本电脑、4个平板产品、1箱面板触控模块或1箱眼镜产品。此外，振动设备每次只能实现单轴振动，要想实现X轴、Y轴、Z轴三个轴向的振动测试，振动设备只能分三次进行振动测试，耗时较长。

参阅下表1，表1示出了一工厂中现存的一台振动设备某月对多种电子设备进行振动测试的工时情况。

表1

以实施例1为例，需要测试5个平板，具体是先将4个平板在振动平台上分别进行X轴、Y轴、Z轴三个轴向的振动测试，然后再将剩余的1个平板分别进行X轴、Y轴、Z轴三个轴向的振动测试。平板需要进行X轴、Y轴及Z轴三个轴向的振动测试，笔记本电脑只需进行Z轴振动测试。每个实施例均表示一次测试需求。

为满足工厂内所有电子设备的振动测试，一台振动设备的运转工时通常会达到正常转运工时的138.3％，属于超负荷运转。

基于此，本申请实施例提供一种承载装置及测试系统，以提高电子设备的测试效率，降低测试工时。

参阅图1，图1示出了本申请一实施例中的承载装置的结构示意图，本申请一实施例提供的承载装置100，包括多个承载件110，每一承载件110包括固定部111和承载部112，固定部111围绕承载部112设置。多个固定部111能够沿第一方向F1层叠设置，沿第一方向F1，相邻的两个固定部111之间可拆卸连接。其中，每一承载部112用于承载一个电子设备(图中未示出)。

电子设备是指平板、笔记本电脑、面板触控模块等设备。需要说明的是，承载件110是指用于承载电子设备的构件。各个承载件110是彼此独立且构造相同的部件。固定部111是指用于固定整个承载件110的结构。承载部112是指用于承载电子设备的结构。需要说明的是，固定部111和承载部112可以是一体式的结构。固定部111围绕承载部112设置，如此，将电子设备承载于承载件110的中间位置。进一步地，多个承载件110的固定部111能够沿第一方向F1层叠设置，并且沿第一方向F1，相邻的两个固定部111之间能够实现可拆卸连接。

需要说明的是，针对不同类型的电子设备，其电子设备的大小不同，则需要针对电子设备的大小，制作对应尺寸的承载件110，也即承载部112的大小可根据实际情况进行设置，本实施例在此不做限制。

具体至一些实施例中，在振动测试平台上固定放置一个承载件110，然后将一个电子设备放置于承载部112，接着再放置一个承载件110，并该承载件110的固定部111与前一个承载件110的固定部111可拆卸连接，然后再将另一个同类型的电子设备放置于承载部112，如此，承载件110和电子设备依次交替放置，呈堆叠设置。通常振动测试平台上，可以放置两个堆叠设置的承载装置100，从而可一次性对多个电子设备进行振动测试。

本实施例中，承载装置100用于承载电子设备，该承载装置100至少包括多个承载件110，每个承载件110包括固定部111和承载部112，固定部111围绕承载部112设置，多个固定部111能够沿第一方向F1叠层设置，沿第一方向F1，相邻的两个固定部111之间可拆卸连接，而承载部112用于承载电子设备。如此，承载装置100可承载多个电子设备，借助该承载装置100将多个电子设备放置于振动测试平台，从而可一次性对多个电子设备进行单轴振动测试，从整体上提高对电子设备的测试效率。相较于在振动测试平台上平铺放置电子设备，振动测试平台所承载的电子设备的数量较少，本申请实施例利用承载装置100将多个电子设备进行堆叠设置，并且振动测试平台上可放置多个承载装置100，从而可大大提高对电子设备的测试效率，降低振动测试平台的运转工时。

参阅图2，并结合图1，在一些实施例中，承载部112设有阶梯结构T，阶梯结构T能够对位于该承载部112上的电子设备的周向进行限位。具体的，该阶梯结构T是指具有台阶部的结构。在电子设备承载于承载部112上时，该承载部112的阶梯结构T的至少部分侧壁能够与该电子设备的侧壁进行接触，以对电子设备的周向进行限位。

在一些实施例中，阶梯结构T包括沿第一方向设置的第一台阶面112a和围绕第一台阶面112a设置的限位面112b。第一台阶面112a和限位面112b构成凹陷结构，第一台阶面112a用于承载电子设备，限位面112b用于对该电子设备的周向进行限位。

具体的，第一台阶面112a是指阶梯结构中用于承载电子设备的表面。第一台阶面的水平外轮廓大小略大于电子设备的水平外轮廓大小。限位面112b是指阶梯结构用于对电子设备的周向进行限位的侧壁表面。限位面112b围绕第一台阶面112a设置。在本实施例中，限位面112b垂直于第一台阶面112a，在其他实施例中，限位面112b还可与第一台阶面112a呈锐角或钝角设置，具体可根据实际情况设置，本实施例在此不做限制。进一步地，第一台阶面112a和限位面112b构成凹陷结构，该凹陷结构可看作是一个容纳结构，电子设备放置于第一台阶面112a之后，该电子设备的一部分侧壁与限位面112b接触，另一部分侧壁沿第一方向F1外露于限位面112b。如此，通过第一台阶面112a对电子设备进行承载，通过限位面对112b进行电子设备的周向限位，有助于提高固定电子设备的稳定性。

继续参阅图1和图2，并结合图3，在一些实施例中，阶梯结构T还包括沿第一方向F1设置的第二台阶面112c，第二台阶面112b围绕限位面112c设置。承载装置100还包括可拆卸设于承载部112的第二阶梯面112a的多个限位件120，且位于同一承载部112上的多个限位件120围绕第一台阶面112a的周向设置。在电子设备承载于承载部112的情况下，位于该承载部112上的多个限位件120分别与该电子设备的侧壁接触。

具体的，第二台阶面112c是指用于安装一些辅助固定电子设备的构件的表面。第二台阶面112c围绕限位面112b设置。限位件120是指用于对电子设备的水平方向进行限位的构件。每一承载部112可拆卸设有多个限位件120，位于同一承载部112上的多个限位件120可部分围绕第一台阶面112a设置，或者是可全部围绕第一台阶面112a设置。

进一步地，承载件110具有设于第二台阶面112c的多个第一安装孔k1。在本实施例中，限位件120设有两个连接部121，限位件120的连接部121能够容纳于对应的第一安装孔k1，在限位件120放置于承载部112的第二台阶面112c时，可将限位部120的连接部121贯穿于对应的第一安装孔k1。在其他实施例中，限位件120上可设有与第一安装孔k1对应的固定孔，在限位件120放置于承载部112的第二台阶面112c时，可将利用螺栓贯穿限位件120上的固定孔和承载件110上对应的第一安装孔k1，以实现限位件120与承载件110之间的可拆卸连接。进一步地，在电子设备承载于承载部112的情况下，位于该承载部112上的多个限位件120分别与该电子设备的侧壁接触。如此，通过设置限位件120对放置于第一台阶面112a的电子设备的周向进行限位，相较于只通过限位面112b对电子设备的周向进行限位的情况，本申请实施例通过设置限位件120，能够更加提高固定电子设备的稳定性，以便于在振动测试过程中，减少电子设备与承载装置100之间发生的碰撞情况。

继续参阅图1，在一些实施例中，承载件110设有位于第二台阶面112b的多个凹部113，每一凹部113内能够容纳一个限位件120的至少一部分，且该凹部113的侧壁与该限位件120的侧壁接触。

需要说明的是，凹部113是指用于容纳限位件120的至少一部分的结构。在本实施例中，凹部113的形状可为方形、圆形或其他形状，在此不做限制。具体的，限位件120的至少一部分能够容置于凹部113，且该凹部113的侧壁与该限位件120的侧壁接触。如此，利用凹部113的侧壁对限位件122的周向侧壁进行限位，减少限位件120在承载区域s1上发生水平移动的情况，并且方便限位件120拆装。

在一些实施例中，承载装置100还包括多个固定件(图中未示出)，每一固定件用于可拆卸盖设于位于一个承载部112上的电子设备，以沿第一方向F1对该电子设备进行固定。

具体的，固定件是指用于固定电子设备上表面的构件。固定件可构造为板状结构。固定件的平面尺寸小于或等于承载部的平面尺寸。在本实施例中，承载部112具有沿第二台阶面112c周向设置的多个第二安装孔k2，固定件的表面开设有与第二安装孔k2对应的固定孔。将电子设备放置于承载部112的第一台阶面112a之后，将一个固定件盖设于该电子设备，然后利用螺栓贯穿固定孔和对应的第一安装孔，并拧紧固定，从而将电子设备固定于承载件120和固定件之间，以对电子设备的竖直方向上进行限位。如此，可提高固定电子设备的稳定性，以便于在振动测试过程中，减少电子设备与承载装置100之间发生的碰撞情况。

继续参阅图1，在一些实施例中，限位件120的至少另一部分相对于第二台阶面112b凸出设置。承载件110设有位于第二台阶面112b的凸部114，且凸部114与限位件120错位设置。其中，同一承载件110上，凸部114沿第一方向F1的尺寸和限位件120的该至少另一部分沿第一方向F1的尺寸，均等于位于承载部112上的电子设备沿第一方向F1凸出于第二台阶面112c的尺寸。

需要说明的是，凸部114的数量可设有1个、2个、3个、4个或5个等，在此不做限制。承载部112的凸部114沿第一方向F1的尺寸，也即为凸部114的高度，限位件122的该至少另一部分沿第一方向F1的尺寸，也即为限位件122的至少另一部分凸出于第二台阶面112c的高度，位于承载部112上的电子设备沿第一方向F1凸出于第二台阶面112c的尺寸，也即为该电子设备凸出于第二台阶面112c的高度。如此，通过设置限位件120的该至少另一部分凸出于第二台阶面112c的高度，凸部114的高度及电子设备凸出于第二台阶面112c的高度三者相等，从而使固定件能够水平盖设于电子设备上，且固定件能够接触到限位件120和凸部114，有助于提高固定件的固定效果，同时能够减少对电子设备的外观产生损坏。

参阅图4，在一些实施例中，第一台阶面112a在参考面上的正投影具有一个轮廓线(图中未示出)。或者，第一台阶面112a在参考面上的正投影具有两个轮廓线(图中未示出)，且其中一个轮廓线位于其中另一个轮廓线内。参考面为垂直于第一方向F1的平面。具体的，第一台阶面112a在参考面上正投影具有一个轮廓线，该轮廓线可以是矩形线框、圆形线框或其他形状的线框，如此，该第一台阶面112a可构造为一个完整的平面，以便于提供较大的承载面积，用于承载电子设备。又或者，第一台阶面112a在参考面上的正投影具有两个轮廓线，且其中一个轮廓线位于其中另一个轮廓线内，也即两个轮廓线构成一个环状结构，例如，圆环结构、矩形环结构或者是椭圆环结构，在此不做限制。如此，可灵活设置该第一台阶面112a的具体结构，能够实现承载电子设备。

参阅图5a和图5b，并结合图1，在一些实施例中，同一承载件110中，固定部111设有贯穿的开口111a，承载部112围绕开口111a的内壁周向设置。其中，沿第一方向F1，开口111a所在的平面到承载部112的第二台阶面112c之间具有第一尺寸h1。沿第一方向F1，相邻的两个承载部112之间具有第二尺寸h2。第二尺寸h2大于或等于第一尺寸h1。

固定部111设有贯穿的开口111a，承载部112围绕开口111a的内壁周向设置，也即固定部111围绕承载部112设置，承载部112的边缘连接于开口111a的内壁。需要说明的是，固定部111和承载部112可以是一体式的结构。

具体的，沿第一方向F1，承载部112的第二台阶面112c距离该第二台阶面112c一侧的开口111a所在的平面之间具有第一尺寸h1，该第一尺寸h1可看作是第二台阶面112c相对于开口111a的深度。沿第一方向F1，相邻的两个承载部112之间具有第二尺寸h2，该第二尺寸h2是指在各个固定部111沿第一方向F1层叠设置的情况下，相邻的两个承载部112之间的竖直间距。其中，第二尺寸h2大于或等于第一尺寸h1。当设置第二尺寸h2与第一尺寸h1相等时，也即设置承载部112背离第二台阶面112c的一侧表面与固定部111沿第一方向F1的一侧表面平齐，如图5a所示。当设置第二尺寸h2大于第一尺寸h1时，设置承载部112背离第二台阶面112c的一侧表面与固定部111沿第一方向F1的一侧表面不平齐，如图5b所示。如此，承载部112相对于固定部111可看作呈凹部结构设置，从而方便将限位件120及固定件的部分放置第二台阶面112c上，并且可灵活设置承载部112相对于固定部111的位置，以实现多种实施方式。

继续参阅图1，在一些实施例中，固定部111具有沿第一方向F1贯穿的多个通孔Q。沿第一方向F1，相邻的两个固定部111，其中一个固定部111的每一通孔Q，与其中另一个固定部111的一个通孔Q对位设置。承载装置100还包括多个连接件(图中未示出)，连接件沿第一方向F1可拆卸贯穿对位设置的通孔Q。

需要说明的是，通孔Q的截面形状可为圆形、方形或其他形状，在此不做限制。连接件是指用于可拆卸连接多个固定部111的构件。连接件可采用螺杆等杆状结构的部件。连接件的数量与一个固定部111上通孔Q的数量相等，且均设有多个。具体的，沿第一方向F1，相邻的两个固定部111，其中一个固定部111的每一通孔Q，与其中另一个固定部111的一个通孔Q对位设置，连接件沿第一方向F1可拆卸贯穿对位设置的通孔Q。具体至一些实施例中，可将多个连接件按照固定部111上多个通孔Q的分布方式而固定于振动测试平台，将一个承载件110放置于平台，并且每一连接件贯穿固定部111上的一个通孔Q，然后再将一个电子设备放置于承载部112，然后再将下一个承载件110以此方式安装。如此，通过通孔Q和连接件之间的插接配合，以将各个固定部111进行对位，并且能够实现可拆卸连接，然后在最上层的承载件110上，可通过螺母等紧固件与连接件的固定配合，以减少在振动测试过程中，承载装置100发生移动的情况。

在一些实施例中，承载装置100还包括多个检测元件M。每一检测元件M设于一个固定部111背离与该固定部111连接的承载部112的一侧表面，检测元件M用于检测对应的承载件110在振动测试情况下的振动信号。需要说明的是，检测元件M是指用于检测承载件110的振动情况的部件。该检测元件M可采用振动传感器。具体的，在通过承载装置100将多个电子设备堆叠设置于振动测试平台之后，振动测试平台依次进行X轴、Y轴或Z轴方向的振动测试，如此，通过检测元件M检测各层中承载件110的振动情况，来评估承载装置100对电子设备的振动测试效果是否无显著影响。

继续参阅图4，并结合图1，在一些实施例中，固定部111具有沿第二方向F2的第三尺寸h3，及沿第三方向F3的第四尺寸h4。其中，第三尺寸h3大于或等于第四尺寸h4，检测元件M设于固定部111背离对应的承载部112并为第三尺寸h3所在的一侧表面，且位于该第三尺寸h3的中间位置。或者，第三尺寸h3小于或等于第四尺寸h4，检测元件M设于固定部111背离对应的承载部112并为第四尺寸h4所在的一侧表面，且位于该第四尺寸h4的中间位置。第一方向F1、第二方向F2及第三方向F3彼此相互垂直。

需要说明的是，如图6所示，可以通过计算机对设置六层承载件110的承载装置100进行三维建模，然后通过有限元分析软件(例如，Ansys软件)对承载装置100进行Y轴的仿真振动测试，通过仿真分析，相较于承载装置100长边一侧的两边位置，承载装置100长边一侧的中间位置在仿真振动测试过程中振动信号波动较大，因此，检测承载装置100长边一侧的中间位置处振动信号的波动幅度是否满足规定范围，是评估承载装置100对电子设备的振动测试效果是否无显著影响的重要依据。

具体至一些实施例中，承载件110在参考面上的正投影外轮廓为矩形，该参考面为垂直于第一方向F1的平面。固定部111具有第二方向F2的第三尺寸h3，具有第三方向F3的第四尺寸h4，当第三尺寸h3大于第四尺寸h4，也即第三尺寸h3为长边尺寸，第四尺寸h4为短边尺寸，检测元件M设置在固定部111背离对应的承载部112并为长边所在的一侧表面，且位于该长边的中间位置。当第三尺寸h3大于第四尺寸h4，也即第四尺寸h4为长边尺寸，第三尺寸h3为短边尺寸，检测元件M设置在固定部111背离对应的承载部112并为长边所在的一侧表面，且位于该长边的中间位置。当第三尺寸h3等于第四尺寸h4，检测元件M设置在固定部111背离对应的承载部112并为第三尺寸h3/第四尺寸h4所在的一侧表面，且位于第三尺寸h3/第四尺寸h4的中间位置。如此，在实际振动测试过程中，通过检测元件M检测每层承载件110的振动情况，有助于准确评估承载件110的振动信号的波动幅度。

在一些实施例中，振动信号表征为振动加速度。在电子设备处于振动测试的情况下，检测元件M检测到的振动加速度的均方根加速度在预设范围内。

要说明的是，该预设范围是指电子设备的振动规格参数范围。具体至一些实施例中，针对平板、笔记本电脑等电子设备，一般采用3g大小的振动加速度对电子设备进行振动测试，其中g表示重力加速度，而测试要求是均方根加速度为3g，另外可存在10％的最大公差。因此，用于承载电子设备的承载装置100也应满足电子设备的振动测试要求，反之，则承载装置100影响电子设备的振动测试效果。

进一步地，多个承载件110沿第一方向F1的最大尺寸小于或等于12.6厘米。需要说明的是，多个承载件110沿第一方向F1的最大尺寸也即承载装置100的最大高度。具体的，通过有限元分析软件对承载装置100进行仿真振动测试，并计算每层承载件110在振动信号波动幅度最大的位置处的均方根加速度，进而确定每层承载件110是否满足振动测试要求。在本实施例中，承载件110沿第一方向F1的最大尺寸可设置为2.1cm。通过对不同层叠层数的承载装置100进行仿真振动测试，确定出最多设置六层承载件110，其能够满足振动测试要求。在其他实施例中，根据承载件110沿第一方向F1的最大尺寸的不同，可确定承载装置100最多设置的层数。

请参阅表2，表2示出了一具体实施例中六层承载件110在仿真振动测试后的均方根加速度数据。由表2可知，各层承载件110的均方根加速度均满足3.0±10％的要求。而超过六层承载件110的承载装置100，层数越大，则对应的承载件110的均方根加速度与预设范围的偏差越大。

表2

层数	均方根加速度
		第一层	3.0027g
第二层	3.0031g
		第三层	3.0032g
第四层	3.0027g
		第五层	3.0014g
第六层	2.9874g

在本实施例中，根据有限元分析软件的仿真结果，确定出设置六层承载件110的承载装置100能够满足振动测试要求，进一步地，将该承载装置100在振动测试平台上进行实际振动测试，并且确定出承载装置100沿第一方向F1的最大高度不超过12.6厘米，在此种情况下，根据检测元件M检测承载件110的振动加速度，计算各层承载件110的均方根加速度，其结果也可满足预设范围。

表3

层数	均方根加速度
		第一层	2.8669g
第二层	2.8791g
		第三层	2.8759g
第四层	2.8275g
		第五层	2.8665g
第六层	2.8617g

具体至一实施例中，利用六层承载件110，将六个平板堆叠于振动测试平台，然后利用振动测试平台分别以X轴、Y轴、Z轴三个轴向各振动20h，利用检测元件M的检测，最终测得各层承载件110的均方根加速度(见表3)均在3.0±10％的预设范围内，并如图7a和图7b所示，图7a示出了本申请一具体实施例的承载装置中第一层至第三层承载件的均方根加速度情况，图7b示出了本申请一具体实施例的承载装置中第四层至第六层承载件的均方根加速度情况。此外，如下表4所示，对振动60h后的平板进行电驱动，以检测不同颜色画面的显示效果，其检测结果也均是通过。需要说明的是，将电子设备进行堆叠测试的方法已应用在实践当中，获得了较高的测试准确度，并且能够有效提升测试效率，建议推广使用。

表4

具体至一实施例中，将电子设备进行堆叠测试的测试方法已应用于各种类型平板的振动测试，具体的，采用设置六层承载件110的承载装置100承载六个平板，同时在振动测试平台上固定两个承载装置100，从而使振动测试平台每次进行单轴振动测试时最多可一次性测试12个平板。如下表5所示，表5示出了使用本申请实施例中的承载装置100来承载平板进行振动测试的工时情况，以实施例13为例，需要测试5个平板，则采用5个承载件来层叠设置，以承载该5个平板。根据表5中平板的各个实施例的振动工时，计算出平板所耗费的总振动工时为175.5h，相较于表1中平板所耗费的总振动工时为459h，本申请实施例能够缩短61.8％的工时，振动测试平台的运转工时能够大幅度降低，后续可将此堆叠测试方式应用于笔记本电脑等其他电子设备的振动测试中。

表5

基于同一发明构思，本申请实施例还提供一种测试系统，包括振动测试平台和如前任一项实施例的承载装置100。多个承载件110对应的多个固定部111可拆卸固定于振动测试平台，以使振动测试平台用于对多个电子设备进行振动测试。具体至一些实施例中，可将多个连接件按照固定部111上多个通孔Q的分布方式而固定于振动测试平台，将一个承载件110放置于平台，并且每一连接件贯穿固定部111上的一个通孔Q，然后再将一个电子设备放置于承载部112，然后再将下一个承载件110以此方式安装。如此，通过通孔Q和连接件之间的插接配合，以将各个固定部111进行对位，并且能够实现可拆卸固定于振动测试平台，从而通过振动测试平台对电子设备进行振动测试。此外，为减少外部振动情况的干扰，可在承载装置100的两侧设置一些紧固螺杆，以减少承载装置100相对振动测试平台产生移动的情况。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (14)

1.一种承载装置，其特征在于，包括：

多个承载件，每一所述承载件包括固定部和承载部，所述固定部围绕所述承载部设置；多个所述固定部能够沿第一方向层叠设置，沿所述第一方向，相邻的两个所述固定部之间可拆卸连接；

其中，每一所述承载部用于承载一个电子设备。

2.根据权利要求1所述的承载装置，其特征在于，所述承载部设有阶梯结构，所述阶梯结构能够对位于该所述承载部上的所述电子设备的周向进行限位。

3.根据权利要求2所述的承载装置，其特征在于，所述阶梯结构包括沿所述第一方向设置的第一台阶面和围绕所述第一台阶面设置的限位面；

所述第一台阶面和所述限位面构成凹陷结构，所述第一台阶面用于承载所述电子设备，所述限位面用于对该所述电子设备的周向进行限位。

4.根据权利要求3所述的承载装置，其特征在于，所述阶梯结构还包括沿所述第一方向设置的第二台阶面，所述第二台阶面围绕所述限位面设置；

所述承载装置还包括可拆卸设于所述承载部的第二阶梯面的多个限位件，且位于同一所述承载部上的多个所述限位件围绕所述第一台阶面的周向设置；

在所述电子设备承载于所述承载部的情况下，位于该所述承载部上的多个所述限位件分别与该所述电子设备的侧壁接触。

5.根据权利要求4所述的承载装置，其特征在于，所述承载件设有位于所述第二台阶面的多个凹部，每一所述凹部内能够容纳一个所述限位件的至少一部分，且该所述凹部的侧壁与该所述限位件的侧壁接触。

6.根据权利要求4所述的承载装置，其特征在于，所述承载装置还包括多个固定件，每一所述固定件用于可拆卸盖设于位于一个所述承载部上的所述电子设备，以沿所述第一方向对该所述电子设备进行固定。

7.根据权利要求6所述的承载装置，其特征在于，所述限位件的至少另一部分相对于所述第二台阶面凸出设置；所述承载件设有位于所述第二台阶面的凸部，且所述凸部与所述限位件错位设置；

其中，同一所述承载件上，所述凸部沿所述第一方向的尺寸和所述限位件的该至少另一部分沿所述第一方向的尺寸，均等于位于所述承载部上的所述电子设备沿所述第一方向凸出于所述第二台阶面的尺寸，以用于使所述固定件分别接触于所述凸部、所述限位件以及所述电子设备。

8.根据权利要求3所述的承载装置，其特征在于，所述第一台阶面在参考面上的正投影具有一个轮廓线；或者

所述第一台阶面在参考面上的正投影具有两个轮廓线，且其中一个所述轮廓线位于其中另一个所述轮廓线内；

所述参考面为垂直于所述第一方向的平面。

9.根据权利要求1-8任一项所述的承载装置，其特征在于，所述固定部具有沿所述第一方向贯穿的多个通孔；沿所述第一方向，相邻的两个所述固定部，其中一个所述固定部的每一所述通孔，与其中另一个所述固定部的一个所述通孔对位设置；

所述承载装置还包括多个连接件，所述连接件沿所述第一方向可拆卸贯穿所述对位设置的所述通孔。

10.根据权利要求1-8任一项所述的承载装置，其特征在于，所述承载装置还包括多个检测元件；每一所述检测元件设于一个所述固定部背离与该所述固定部连接的承载部的一侧表面，所述检测元件用于检测对应的所述承载件在振动测试情况下的振动信号。

11.根据权利要求10所述的承载装置，其特征在于，所述固定部具有沿第二方向的第三尺寸，及沿第三方向的第四尺寸；

其中，所述第三尺寸大于或等于所述第四尺寸，所述检测元件设于所述固定部背离对应的承载部并为所述第三尺寸所在的一侧表面，且位于该所述第三尺寸的中间位置；或者

所述第三尺寸小于或等于所述第四尺寸，所述检测元件设于所述固定部背离对应的承载部并为所述第四尺寸所在的一侧表面，且位于该所述第四尺寸的中间位置；

所述第一方向、所述第二方向及所述第三方向彼此相互垂直。

12.根据权利要求10所述的承载装置，其特征在于，所述振动信号表征为振动加速度；

在所述承载装置处于振动测试的情况下，所述检测元件检测到的振动加速度的均方根加速度在预设范围内。

13.根据权利要求1-8任一项所述的承载装置，其特征在于，所述多个承载件沿所述第一方向的最大尺寸小于或等于12.6厘米。

14.一种测试系统，其特征在于，包括振动测试平台和如权利要求1-13任一项所述的承载装置；所述多个承载件对应的多个固定部可拆卸固定于所述振动测试平台，以使所述振动测试平台用于对多个所述电子设备进行振动测试。