CN117641222A - 一种应用于耳机降噪的测试评价系统 - Google Patents

一种应用于耳机降噪的测试评价系统 Download PDF

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Abstract

本发明属于耳机性能检测技术领域,具体是一种应用于耳机降噪的测试评价系统,包括服务器、噪声发生器模块、响应采集模块、测试处理模块、降噪测试影响诊断模块和可视化操控模块;本发明通过噪声发生器模块模拟不同频率和强度的噪声信号,耳机在接收到噪声信号后产生相应的声压响应,响应采集模块采集耳机产生的声压响应以获取到响应信号,测试处理模块对响应信号进行分析处理以得到耳机的降噪性能指标,据此生成可视化评价信息,能够快速合理判断耳机的降噪性能,且能够在耳机降噪性能测试前精准评估耳机测试位置的合理性状况和所处测试环境的适宜性状况,有效保证耳机降噪性能测试评价结果的准确性,智能化和自动化程度高。

Description

一种应用于耳机降噪的测试评价系统
技术领域
本发明涉及耳机性能检测技术领域,具体是一种应用于耳机降噪的测试评价系统。
背景技术
耳机能够接受来自媒体播放器或接收器所发出的电讯号,利用贴近耳朵的扬声器将其转化成可以听到的音波,耳机的好处是在不影响旁人的情况下可独自聆听音响,亦可隔开周围环境的声响,随着人们生活质量的提高,耳机已成为日常生活中不可或缺的电子产品,而降噪耳机因其可以有效降低外界噪音和提高听音体验而受到广泛欢迎;
目前市场上对于耳机降噪性能的测试和评价缺乏统一的标准,难以快速合理判断耳机的降噪性能,且在通过相应测试设备对耳机降噪性能进行测试前无法精准评估耳机测试位置的合理性状况和所处测试环境的适宜性状况,测试人员无法及时且针对性的作出相应调整措施,不利于保证耳机降噪性能测试评价结果的准确性,智能化和自动化程度低;
针对上述的技术缺陷,现提出一种解决方案。
发明内容
本发明的目的在于提供一种应用于耳机降噪的测试评价系统,解决了现有技术难以快速合理判断耳机的降噪性能,且在对耳机降噪性能进行测试前无法精准评估耳机测试位置的合理性状况和所处测试环境的适宜性状况,不利于保证耳机降噪性能测试评价结果的准确性,智能化和自动化程度低的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种应用于耳机降噪的测试评价系统,包括服务器、噪声发生器模块、响应采集模块、测试处理模块、降噪测试影响诊断模块和可视化操控模块;在进行耳机降噪测试时,测试人员通过可视化操控模块发出相应控制指令,可视化操控模块经由服务器将相应控制指令发送至噪声发生器模块,噪声发生器模块基于相应控制指令以模拟不同频率和强度的噪声信号,所模拟的噪声信号覆盖用户在实际使用中遇到的各种噪声场景,耳机在接收到噪声信号后产生相应的声压响应;
响应采集模块通过麦克风或压力传感器捕捉耳机发声部分的振动,将耳机产生的声压响应转换为电信号,且将所转换的电信号标记为响应信号,并将响应信号经服务器发送至测试处理模块;测试处理模块对接收的响应信号进行分析处理,据此得到耳机的降噪性能指标,基于所得到的降噪性能指标生成相应的可视化评价信息,且将可视化评价信息经服务器发送至可视化操控模块;可视化操控模块对可视化评价信息进行显示;
降噪测试影响诊断模块用于在进行相应耳机的降噪测试前,获取到耳机位置合理性判断符号HG-1或HG-2,以及获取到耳机所处测试环境的降噪环境不良性判断符号HQ-1或HQ-2,若获取到HG-2∩HQ-2,则生成降噪测试低影响信号,其余情况则生成降噪测试高影响信号,且将降噪测试高影响信号经服务器发送至可视化操控模块,可视化操控模块接收到降噪测试高影响信号后对其进行显示并发出相应预警。
进一步的,测试处理模块的具体运行过程包括:
信号预处理:对响应信号进行预处理,包括滤波、放大和去噪操作,通过信号预处理去除信号中的噪声和其他干扰成分,提高信号的信噪比;
频谱分析:对响应信号进行快速傅里叶变换,将时域信号转换为频域信号,以分析信号在不同频率下的成分和强度,且通过比较噪声信号和响应信号的频谱分布,以评估耳机在不同频率下的降噪效果;
降噪深度计算:通过比较不同频率下噪声信号和响应信号的功率谱密度,计算出耳机的降噪深度;
性能指标提取:通过对信号进行频谱分析和降噪深度计算,提取出耳机的若干种性能指标,包括降噪深度、频响曲线和总谐波失真,相应指标全面反映耳机的降噪性能和声音质量;
统计分析:对提取出的性能指标进行统计分析,包括计算各性能指标的平均值和标准差来评估耳机的整体性能表现和一致性,以及通过进行对比分析和相关性分析来表现耳机的性能特点;
结果生成:将处理和分析后的数据以图表和曲线的形式来生成可视化评价信息,可视化评价信息包括频谱图、降噪深度曲线和性能指标表格。
进一步的,服务器与位置合理性评估模块以及降噪环境评估模块均通信连接,位置合理性评估模块用于在进行相应耳机的降噪测试前将其进行位置合理性评估分析,通过分析以生成耳机位置合理性判断符号HG-1或HG-2,且将耳机位置合理性判断符号HG-1或HG-2经服务器发送至降噪测试影响诊断模块;
降噪环境评估模块用于在进行相应耳机的降噪测试前对其所处测试环境进行监测,并通过降噪环境评估分析以生成降噪环境不良性判断符号HQ-1或HQ-2,且将降噪环境不良性判断符号HQ-1或HQ-2经服务器发送至降噪测试影响诊断模块。
进一步的,位置合理性评估分析的具体分析过程如下:
在耳机与相应测试设备佩戴连接完成后,通过摄像头采集到耳机的实际位置图像,基于实际位置图像采集到摄像头上若干个检测点的实际位置坐标,将对应检测点的实际位置坐标与相应的预设位置坐标进行距离计算,通过距离计算得到相应检测点的位置偏检值;
将位置偏检值与预设位置偏检值范围进行数值比较,若位置偏检值超过预设位置偏检值范围的最大值,则将对应检测点标记为脱位点;若位置偏检值未超过预设位置偏检值范围的最小值,则将对应检测点标记为正位点;若位置偏检值处于预设位置偏检值范围内,则将对应检测点标记为偏位点;若存在脱位点或不存在正位点,则向其分配耳机位置合理性判断符号HG-1。
进一步的,若不存在脱位点和存在正位点,则采集到偏位点的数量和正位点的数量,且将偏位点的数量与正位点的数量的比值标记为耳机偏数检析值,且将所有检测点的位置偏检值进行求和计算并取均值以得到耳机偏均检析值;
将耳机偏数检析值和为耳机偏均检析值进行数值计算得到耳机对接评估值,将耳机对接评估值与预设耳机对接评估阈值进行数值比较,若耳机对接评估值超过预设耳机对接评估阈值,则向其分配耳机位置合理性判断符号HG-1;若耳机对接评估值未超过预设耳机对接评估阈值,则向其分配耳机位置合理性判断符号HG-2。
进一步的,降噪环境评估分析的具体分析过程如下:
采集到耳机所处测试环境的实时温度值、实时湿度值和实时气压值,将实时温度值与耳机进行降噪测试时的预设标准温度范围的中值进行差值计算并取绝对值以得到耳机测温分析值,同理获取到耳机测湿分析值和耳机测压分析值;以及采集到耳机所处测试环境的实时干扰噪声分贝值并将其标记为耳机测噪分析值,将耳机测噪分析值、耳机测温分析值、耳机测湿分析值和耳机测压分析值进行数值计算得到耳机测试环检值;
将单位时间内若干个时刻的耳机测试环检值进行求和计算并取均值以得到耳机测试环析值,将耳机测试环析值与预设耳机测试环析阈值进行数值比较,若耳机测试环析值超过预设耳机测试环析阈值,则向其分配降噪环境不良性判断符号HQ-1。
进一步的,若耳机测试环析值未超过预设耳机测试环析阈值,则以时间为X轴、耳机测试环检值为Y轴建立位于第一象限的直角坐标系并将其标记为降噪环境坐标系;基于单位时间内所有时刻的耳机测试环检值在降噪环境坐标系中标出若干个环测点,并在降噪环境坐标系中作出平行于X轴且端点位于Y轴上的环析判定射线,将降噪环境坐标系中位于环析判定射线上方的环测点的数量标记为环测超检值;
将相邻两组环测点之间的纵向距离标记为环测波幅值,将所有环测波幅值进行均值计算得到环测波检值,且将降噪环境坐标系中位于最高处的环测点和位于最低处的环测点之间的纵向距离标记为环测波况值;将环测超检值、环测波检值和环测波况值进行数值计算得到耳机环测评估值,将耳机环测评估值与预设耳机环测评估阈值进行数值比较,若耳机环测评估值超过预设耳机环测评估阈值,则向其分配降噪环境不良性判断符号HQ-1;若耳机环测评估值未超过预设耳机环测评估阈值,则向其分配降噪环境不良性判断符号HQ-2。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
1、本发明中,通过噪声发生器模块模拟不同频率和强度的噪声信号,耳机在接收到噪声信号后产生相应的声压响应,响应采集模块采集耳机产生的声压响应以获取到响应信号,测试处理模块对响应信号进行分析处理以得到耳机的降噪性能指标,据此生成可视化评价信息,能够快速合理判断耳机的降噪性能;
2、本发明中,通过位置合理性评估模块在进行相应耳机的降噪测试前将其进行位置合理性评估分析,降噪环境评估模块对耳机所处测试环境进行降噪环境评估分析,为降噪测试影响诊断模块的分析过程提供数据支持,且通过降噪测试影响诊断模块对影响耳机降噪性能测试结果准确性的因素进行诊断分析并及时反馈预警,显著提升耳机降噪性能测试结果的准确性,智能化和自动化程度高。
附图说明
为了便于本领域技术人员理解,下面结合附图对本发明作进一步的说明;
图1为本发明中实施例一的系统框图;
图2为本发明中实施例二和实施例三的系统框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例一:如图1所示,本发明提出的一种应用于耳机降噪的测试评价系统,包括服务器、噪声发生器模块、响应采集模块、测试处理模块、降噪测试影响诊断模块和可视化操控模块;在进行耳机降噪测试时,测试人员通过可视化操控模块发出相应控制指令,可视化操控模块经由服务器将相应控制指令发送至噪声发生器模块,噪声发生器模块基于相应控制指令以模拟不同频率和强度的噪声信号,所模拟的噪声信号覆盖用户在实际使用中可能遇到的各种噪声场景,这些噪声信号具备一定的代表性,以便更好地评估耳机的降噪性能;
耳机在接收到噪声信号后产生相应的声压响应,响应采集模块通过麦克风或压力传感器等设备来捕捉耳机发声部分的振动,将耳机产生的声压响应转换为电信号,且将所转换的电信号标记为响应信号,并将响应信号经服务器发送至测试处理模块;测试处理模块对接收的响应信号进行分析处理,据此得到耳机的降噪性能指标,基于所得到的降噪性能指标生成相应的可视化评价信息,且将可视化评价信息经服务器发送至可视化操控模块;可视化操控模块对可视化评价信息进行显示;测试处理模块的具体运行过程如下:
信号预处理:对响应信号进行预处理,包括滤波、放大和去噪等操作,通过信号预处理去除信号中的噪声和其他干扰成分,以提高信号的信噪比,为后续的处理提供更纯净的数据;频谱分析:频谱分析是评估耳机降噪性能的重要手段之一,通过对响应信号进行快速傅里叶变换,将时域信号转换为频域信号,可以分析信号在不同频率下的成分和强度,且通过比较噪声信号和响应信号的频谱分布,可以评估耳机在不同频率下的降噪效果;
降噪深度计算:降噪深度是衡量耳机降噪性能的重要指标之一,通过比较不同频率下噪声信号和响应信号的功率谱密度,可以计算出耳机的降噪深度;需要说明的是,降噪深度越大,说明耳机在相应频率下的降噪效果越好;性能指标提取:通过对信号进行频谱分析和降噪深度计算,提取出耳机的若干种性能指标,如降噪深度、频响曲线、总谐波失真(THD)等,这些指标能够全面反映耳机的降噪性能和声音质量,为后续的评价提供依据;
统计分析:为了更全面地了解耳机的性能表现,对提取出的性能指标进行统计分析;例如,可以计算各性能指标的平均值、标准差等统计量,以评估耳机的整体性能表现和一致性;此外还可以进行对比分析、相关性分析等统计方法,以便更好地理解耳机的性能特点;结果生成:将处理和分析后的数据以图表和曲线的形式来生成可视化评价信息,可视化评价信息包括频谱图、降噪深度曲线和性能指标表格等,以便更直观地理解耳机的性能表现。
降噪测试影响诊断模块用于在进行相应耳机的降噪测试前,获取到耳机位置合理性判断符号HG-1或HG-2,以及获取到耳机所处测试环境的降噪环境不良性判断符号HQ-1或HQ-2,若获取到HG-2∩HQ-2,则生成降噪测试低影响信号,其余情况则生成降噪测试高影响信号,且将降噪测试高影响信号经服务器发送至可视化操控模块,可视化操控模块接收到降噪测试高影响信号后对其进行显示并发出相应预警,相应测试人员接收到预警时对耳机的佩戴位置进行校正调整或对测试环境进行相应调控和加强监管,以保证耳机佩戴位置与用户实际佩戴时的状态一致和保证耳机降噪测试环境处于适宜状态,有利于显著提升耳机降噪性能测试结果的准确性。
实施例二:如图2所示,本实施例与实施例1的区别在于,服务器与位置合理性评估模块通信连接,位置合理性评估模块用于在进行相应耳机的降噪测试前将其进行位置合理性评估分析,通过分析以生成耳机位置合理性判断符号HG-1或HG-2,且将耳机位置合理性判断符号HG-1或HG-2经服务器发送至降噪测试影响诊断模块,能够对耳机所处测试位置进行合理分析并精准评估反馈,为降噪测试影响诊断模块的分析过程提供数据支持,有效保证耳机降噪性能测试结果的准确性;位置合理性评估分析的具体分析过程如下:
在耳机与相应测试设备佩戴连接完成后,通过摄像头采集到耳机的实际位置图像,基于实际位置图像采集到摄像头上若干个检测点的实际位置坐标,将对应检测点的实际位置坐标与相应的预设位置坐标进行距离计算,通过距离计算得到相应检测点的位置偏检值;其中,位置偏检值的数值越大,则表明耳机上对应检测点的位置偏离程度越大;
将位置偏检值与预设位置偏检值范围进行数值比较,若位置偏检值超过预设位置偏检值范围的最大值,表明耳机上对应检测点的位置偏离程度极大,则将对应检测点标记为脱位点;若位置偏检值未超过预设位置偏检值范围的最小值,表明耳机上对应检测点的位置偏离程度较小,则将对应检测点标记为正位点;若位置偏检值处于预设位置偏检值范围内,表明耳机上对应检测点的位置偏离程度较大,则将对应检测点标记为偏位点;若存在脱位点或不存在正位点,表明耳机位置表现较差,需要对耳机的位置进行校正,则向其分配耳机位置合理性判断符号HG-1。
进一步而言,若不存在脱位点和存在正位点,则采集到偏位点的数量和正位点的数量,且将偏位点的数量与正位点的数量的比值标记为耳机偏数检析值,且将所有检测点的位置偏检值进行求和计算并取均值以得到耳机偏均检析值;需要说明的是,耳机偏数检析值和耳机偏均检析值的数值越大,则表明耳机的位置表现越差,越不利于保证耳机降噪性能测试结果的准确性,越需要对耳机进行位置校正;
通过公式WY=a1*WS+a2*WK将耳机偏数检析值WS和为耳机偏均检析值WK进行数值计算得到耳机对接评估值WY,其中,a1、a2为预设权重系数,a1>a2>0;并且,耳机对接评估值WY的数值越大,则表明耳机位置表现越差;将耳机对接评估值WY与预设耳机对接评估阈值进行数值比较,若耳机对接评估值超过预设耳机对接评估阈值,表明耳机位置表现较差,则向其分配耳机位置合理性判断符号HG-1;若耳机对接评估值WY未超过预设耳机对接评估阈值,表明耳机位置表现较好,则向其分配耳机位置合理性判断符号HG-2。
实施例三:如图2所示,本实施例与实施例1、实施例2的区别在于,服务器与降噪环境评估模块均通信连接,降噪环境评估模块用于在进行相应耳机的降噪测试前对其所处测试环境进行监测,并通过降噪环境评估分析以生成降噪环境不良性判断符号HQ-1或HQ-2,且将降噪环境不良性判断符号HQ-1或HQ-2经服务器发送至降噪测试影响诊断模块,能够对耳机所处测试环境状况进行合理分析并精准评估反馈,为降噪测试影响诊断模块的分析过程提供数据支持,以进一步保证耳机降噪性能测试结果的准确性;降噪环境评估分析的具体分析过程如下:
采集到耳机所处测试环境的实时温度值、实时湿度值和实时气压值,将实时温度值与耳机进行降噪测试时的预设标准温度范围的中值进行差值计算并取绝对值以得到耳机测温分析值,同理获取到耳机测湿分析值和耳机测压分析值;以及采集到耳机所处测试环境的实时干扰噪声分贝值并将其标记为耳机测噪分析值,需要说明的是,耳机测噪分析值、耳机测温分析值、耳机测湿分析值和耳机测压分析值的数值越大,则表明对应测试环境越不适宜进行耳机的降噪性能测试;
通过公式将耳机测噪分析值RZ、耳机测温分析值RW、耳机测湿分析值RS和耳机测压分析值RY进行数值计算得到耳机测试环检值RP;其中,eq1、eq2、eq3、eq4为预设比例系数,且eq1、eq2、eq3、eq4的取值均为正数;并且,耳机测试环检值RP的数值越大,表明对应时刻耳机所处测试环境越不适宜进行降噪性能测试;
将单位时间内若干个时刻的耳机测试环检值进行求和计算并取均值以得到耳机测试环析值,将耳机测试环析值与预设耳机测试环析阈值进行数值比较,若耳机测试环析值超过预设耳机测试环析阈值,表明综合而言耳机所处测试环境越不适宜进行降噪性能测试,越不利于保证耳机降噪性能测试结果的准确性,则向其分配降噪环境不良性判断符号HQ-1。
进一步而言,若耳机测试环析值未超过预设耳机测试环析阈值,则以时间为X轴、耳机测试环检值为Y轴建立位于第一象限的直角坐标系并将其标记为降噪环境坐标系;基于单位时间内所有时刻(相邻两时刻之间的时间间隔相同)的耳机测试环检值在降噪环境坐标系中标出若干个环测点,并在降噪环境坐标系中作出平行于X轴且端点位于Y轴上的环析判定射线(环析判定射线的Y轴坐标是指事先所设定的用于对耳机测试环检值进行判断的阈值);
将降噪环境坐标系中位于环析判定射线上方的环测点的数量标记为环测超检值,将相邻两组环测点之间的纵向距离标记为环测波幅值,将所有环测波幅值进行均值计算得到环测波检值,且将降噪环境坐标系中位于最高处的环测点和位于最低处的环测点之间的纵向距离标记为环测波况值;
通过公式QY=hy1*QF+(hy2*QK+hy3*QP)/hy1将环测超检值QF、环测波检值QK和环测波况值QP进行数值计算得到耳机环测评估值QY,其中,hy1、hy2、hy3为预设比例系数,hy1>hy2>hy3>0;并且,耳机环测评估值QY的数值越大,表明综合而言耳机所属测试环境的环境表现越差;
将耳机环测评估值QY与预设耳机环测评估阈值进行数值比较,若耳机环测评估值QY超过预设耳机环测评估阈值,表明综合而言耳机所属测试环境的环境表现较差,则向其分配降噪环境不良性判断符号HQ-1;若耳机环测评估值QY未超过预设耳机环测评估阈值,表明综合而言耳机所属测试环境的环境表现较好,则向其分配降噪环境不良性判断符号HQ-2。
本发明的工作原理:使用时,测试人员通过可视化操控模块发出相应控制指令,噪声发生器模块基于相应控制指令以模拟不同频率和强度的噪声信号,耳机在接收到噪声信号后产生相应的声压响应,响应采集模块将耳机产生的声压响应转换为电信号,且将所转换的电信号标记为响应信号,测试处理模块对响应信号进行分析处理以得到耳机的降噪性能指标,基于所得到的降噪性能指标生成相应的可视化评价信息,可视化操控模块对可视化评价信息进行显示,能够快速合理判断耳机的降噪性能,且在进行相应耳机的降噪测试前通过降噪测试影响诊断模块对影响耳机降噪性能测试结果准确性的因素进行诊断分析并及时反馈预警,在生成相应预警时对耳机的佩戴位置进行校正调整或对测试环境进行相应调控和加强监管,显著提升耳机降噪性能测试结果的准确性。
上述公式均是去量纲取其数值计算,公式是由采集大量数据进行软件模拟得到最近真实情况的一个公式,公式中的预设参数由本领域的技术人员根据实际情况进行设置。以上公开的本发明优选实施例只是用于帮助阐述本发明。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节,也不限制该发明仅为的具体实施方式。显然,根据本说明书的内容,可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例,是为了更好地解释本发明的原理和实际应用,从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本发明。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (7)

1.一种应用于耳机降噪的测试评价系统,其特征在于,包括服务器、噪声发生器模块、响应采集模块、测试处理模块、降噪测试影响诊断模块和可视化操控模块;在进行耳机降噪测试时,测试人员通过可视化操控模块发出相应控制指令,可视化操控模块经由服务器将相应控制指令发送至噪声发生器模块,噪声发生器模块基于相应控制指令以模拟不同频率和强度的噪声信号,所模拟的噪声信号覆盖用户在实际使用中遇到的各种噪声场景,耳机在接收到噪声信号后产生相应的声压响应;
响应采集模块通过麦克风或压力传感器捕捉耳机发声部分的振动,将耳机产生的声压响应转换为电信号,且将所转换的电信号标记为响应信号,并将响应信号经服务器发送至测试处理模块;测试处理模块对接收的响应信号进行分析处理,据此得到耳机的降噪性能指标,基于所得到的降噪性能指标生成相应的可视化评价信息,且将可视化评价信息经服务器发送至可视化操控模块;可视化操控模块对可视化评价信息进行显示;
降噪测试影响诊断模块用于在进行相应耳机的降噪测试前,获取到耳机位置合理性判断符号HG-1或HG-2,以及获取到耳机所处测试环境的降噪环境不良性判断符号HQ-1或HQ-2,若获取到HG-2∩HQ-2,则生成降噪测试低影响信号,其余情况则生成降噪测试高影响信号,且将降噪测试高影响信号经服务器发送至可视化操控模块,可视化操控模块接收到降噪测试高影响信号后对其进行显示并发出相应预警。
2.根据权利要求1所述的一种应用于耳机降噪的测试评价系统,其特征在于,测试处理模块的具体运行过程包括:
信号预处理:对响应信号进行预处理,包括滤波、放大和去噪操作,通过信号预处理去除信号中的噪声和其他干扰成分,提高信号的信噪比;
频谱分析:对响应信号进行快速傅里叶变换,将时域信号转换为频域信号,以分析信号在不同频率下的成分和强度,且通过比较噪声信号和响应信号的频谱分布,以评估耳机在不同频率下的降噪效果;
降噪深度计算:通过比较不同频率下噪声信号和响应信号的功率谱密度,计算出耳机的降噪深度;
性能指标提取:通过对信号进行频谱分析和降噪深度计算,提取出耳机的若干种性能指标,包括降噪深度、频响曲线和总谐波失真,相应指标全面反映耳机的降噪性能和声音质量;
统计分析:对提取出的性能指标进行统计分析,包括计算各性能指标的平均值和标准差来评估耳机的整体性能表现和一致性,以及通过进行对比分析和相关性分析来表现耳机的性能特点;
结果生成:将处理和分析后的数据以图表和曲线的形式来生成可视化评价信息,可视化评价信息包括频谱图、降噪深度曲线和性能指标表格。
3.根据权利要求1所述的一种应用于耳机降噪的测试评价系统,其特征在于,服务器与位置合理性评估模块以及降噪环境评估模块均通信连接,位置合理性评估模块用于在进行相应耳机的降噪测试前将其进行位置合理性评估分析,通过分析以生成耳机位置合理性判断符号HG-1或HG-2,且将耳机位置合理性判断符号HG-1或HG-2经服务器发送至降噪测试影响诊断模块;
降噪环境评估模块用于在进行相应耳机的降噪测试前对其所处测试环境进行监测,并通过降噪环境评估分析以生成降噪环境不良性判断符号HQ-1或HQ-2,且将降噪环境不良性判断符号HQ-1或HQ-2经服务器发送至降噪测试影响诊断模块。
4.根据权利要求3所述的一种应用于耳机降噪的测试评价系统,其特征在于,位置合理性评估分析的具体分析过程如下:
在耳机与相应测试设备佩戴连接完成后,通过摄像头采集到耳机的实际位置图像,基于实际位置图像采集到摄像头上若干个检测点的实际位置坐标,将对应检测点的实际位置坐标与相应的预设位置坐标进行距离计算,通过距离计算得到相应检测点的位置偏检值;
若位置偏检值超过预设位置偏检值范围的最大值,则将对应检测点标记为脱位点;若位置偏检值未超过预设位置偏检值范围的最小值,则将对应检测点标记为正位点;若位置偏检值处于预设位置偏检值范围内,则将对应检测点标记为偏位点;若存在脱位点或不存在正位点,则向其分配耳机位置合理性判断符号HG-1。
5.根据权利要求4所述的一种应用于耳机降噪的测试评价系统,其特征在于,若不存在脱位点和存在正位点,则采集到偏位点的数量和正位点的数量,且将偏位点的数量与正位点的数量的比值标记为耳机偏数检析值,且将所有检测点的位置偏检值进行求和计算并取均值以得到耳机偏均检析值;
将耳机偏数检析值和为耳机偏均检析值进行数值计算得到耳机对接评估值,若耳机对接评估值超过预设耳机对接评估阈值,则向其分配耳机位置合理性判断符号HG-1;若耳机对接评估值未超过预设耳机对接评估阈值,则向其分配耳机位置合理性判断符号HG-2。
6.根据权利要求3所述的一种应用于耳机降噪的测试评价系统,其特征在于,降噪环境评估分析的具体分析过程如下:
采集到耳机所处测试环境的实时温度值、实时湿度值和实时气压值,将实时温度值与耳机进行降噪测试时的预设标准温度范围的中值进行差值计算并取绝对值以得到耳机测温分析值,同理获取到耳机测湿分析值和耳机测压分析值;以及采集到耳机所处测试环境的实时干扰噪声分贝值并将其标记为耳机测噪分析值,将耳机测噪分析值、耳机测温分析值、耳机测湿分析值和耳机测压分析值进行数值计算得到耳机测试环检值;
将单位时间内若干个时刻的耳机测试环检值进行求和计算并取均值以得到耳机测试环析值,若耳机测试环析值超过预设耳机测试环析阈值,则向其分配降噪环境不良性判断符号HQ-1。
7.根据权利要求6所述的一种应用于耳机降噪的测试评价系统,其特征在于,若耳机测试环析值未超过预设耳机测试环析阈值,则以时间为X轴、耳机测试环检值为Y轴建立位于第一象限的直角坐标系并将其标记为降噪环境坐标系;基于单位时间内所有时刻的耳机测试环检值在降噪环境坐标系中标出若干个环测点,并在降噪环境坐标系中作出平行于X轴且端点位于Y轴上的环析判定射线,将降噪环境坐标系中位于环析判定射线上方的环测点的数量标记为环测超检值;
将相邻两组环测点之间的纵向距离标记为环测波幅值,将所有环测波幅值进行均值计算得到环测波检值,且将降噪环境坐标系中位于最高处的环测点和位于最低处的环测点之间的纵向距离标记为环测波况值;将环测超检值、环测波检值和环测波况值进行数值计算得到耳机环测评估值,若耳机环测评估值超过预设耳机环测评估阈值,则向其分配降噪环境不良性判断符号HQ-1;若耳机环测评估值未超过预设耳机环测评估阈值,则向其分配降噪环境不良性判断符号HQ-2。
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