CN117590015A - 样本进样方法、装置、样本分析仪及存储介质 - Google Patents
样本进样方法、装置、样本分析仪及存储介质 Download PDFInfo
- Publication number
- CN117590015A CN117590015A CN202311625027.5A CN202311625027A CN117590015A CN 117590015 A CN117590015 A CN 117590015A CN 202311625027 A CN202311625027 A CN 202311625027A CN 117590015 A CN117590015 A CN 117590015A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- sample
- control
- tray
- sequence
- trays
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000002347 injection Methods 0.000 title claims abstract description 150
- 239000007924 injection Substances 0.000 title claims abstract description 150
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 58
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 82
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/0092—Scheduling
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
- G01N35/1095—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices for supplying the samples to flow-through analysers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/0092—Scheduling
- G01N2035/0094—Scheduling optimisation; experiment design
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
本发明属于医疗技术领域,公开了一种样本进样方法、装置、样本分析仪及存储介质。该方法包括:在启动样本进样测试时,检测各样本托盘对应的控件状态;在各样本托盘对应的控件状态均为预设控制状态时,获取各样本托盘对应控件的控制时间;根据各样本托盘对应控件的控制时间确定各样本托盘的进样顺序;按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。通过上述方式,基于各样本托盘对应控件的控制时间确定各样本托盘的进样顺序,按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试,解决了在进行托盘进样顺序调整时所存在的灵活度低和实用性差的问题,降低了在测试过程中的用户操作难度和用户操作流程复杂度。
Description
技术领域
本发明涉及医疗技术领域,尤其涉及一种样本进样方法、装置、样本分析仪及存储介质。
背景技术
全自动生化分析仪的样本输入是由分析仪中的样本台模块完成,其在进行样本输入时采用的是系统指定托盘进样顺序方案。样本台内包含若干托盘用于存放待测样本,在现有技术中,全自动生化分析仪在样本输入之前的托盘测试顺序不可设定,测试顺序均为系统默认,从距离测试区最近的托盘开始进行样本输入,直到最远距离托盘内样本测试完成。样本架运输顺序由托盘所在位置决定,而样本台所拥有的放置托盘的位置是固定的,在进行样本架输入时如果需要进行顺序调整,需要使用者将优先级最高的测试托盘准确无误放在第一顺位的测试位置上,测试顺序第二的托盘放在第二顺位的测试位置上,以此类推,直至最后顺序的托盘放置完成,若存在放置错误,则需要重新手动进行调整。此种方案由于在测试时托盘的输入顺序固定,提升了在测试过程中的用户操作难度,复杂度也随之增加,所以存在着灵活性低、实用性差的缺陷。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种样本进样方法、装置、样本分析仪及存储介质,旨在解决现有技术中在进行托盘进样顺序调整时所存在的灵活度低和实用性差的技术问题。
为实现上述目的,本发明提供了一种样本进样方法,所述样本进样方法包括:
在启动样本进样测试时,检测各样本托盘对应的控件状态;
在各样本托盘对应的控件状态均为预设控制状态时,获取各样本托盘对应控件的控制时间;
根据各样本托盘对应控件的控制时间确定各样本托盘的进样顺序;
按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。
可选地,所述检测各样本托盘对应的控件状态之后,还包括:
在各样本托盘对应的控件状态均不为预设控制状态时,获取各样本托盘的托盘放置时间;
根据各样本托盘的托盘放置时间确定各样本托盘的进样顺序;
按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。
可选地,所述检测各样本托盘对应的控件状态之后,还包括:
在存在样本托盘对应的控件状态为预设控制状态时,根据各样本托盘对应的控件状态对多个样本托盘进行分类;
根据分类结果在多个样本托盘中确定多个第一控制托盘和多个第二控制托盘;
根据各第一控制托盘对应控件的控制时间和各第二控制托盘的托盘放置时间确定各样本托盘的进样顺序;
按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。
可选地,所述根据各第一控制托盘对应控件的控制时间和各第二控制托盘的托盘放置时间确定各样本托盘的进样顺序,包括:
根据各第一控制托盘对应控件的控制时间确定各第一控制托盘的第一控制顺序;
根据各第二控制托盘对应控件的托盘放置时间确定各第二控制托盘的第二控制顺序;
根据各第一控制托盘的第一控制顺序和各第二控制托盘的第二控制顺序确定各样本托盘的进样顺序。
可选地,所述根据各第一控制托盘的第一控制顺序和各第二控制托盘的第二控制顺序确定各样本托盘的进样顺序,包括:
确定第一控制托盘的数量;
根据所述数量和各第二控制托盘的第二控制顺序确定各第二控制托盘的进样顺序;
根据各第一控制托盘的第一控制顺序和各第二控制托盘的进样顺序确定各样本托盘的进样顺序。
可选地,所述在启动样本进样测试时,检测各样本托盘对应的控件状态之前,还包括:
检测当前设备状态;
在所述当前设备状态为预设工作状态时,发送托盘放置指令,以使用户对各样本托盘进行托盘放置;
在确定托盘放置完成时,检测是否接收到样本测试指令;
在接收到所述样本测试指令时,确定启动样本进样测试。
可选地,所述在确定托盘放置完成时,检测是否接收到样本测试指令之前,还包括:
检测样本托盘的放置间隔时间;
在所述放置间隔时间超过预设时间阈值时,确定托盘放置完成。
此外,为实现上述目的,本发明还提出一种样本进样装置,所述样本进样装置包括:
检测模块,用于在启动样本进样测试时,检测各样本托盘对应的控件状态;
获取模块,用于在各样本托盘对应的控件状态均为预设控制状态时,获取各样本托盘对应控件的控制时间;
处理模块,用于根据各样本托盘对应控件的控制时间确定各样本托盘的进样顺序;
测试模块,用于按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。
此外,为实现上述目的,本发明还提出一种样本分析仪,所述样本分析仪包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的样本进样程序,所述样本进样程序配置为实现如上文所述的样本进样方法。
此外,为实现上述目的,本发明还提出一种存储介质,所述存储介质上存储有样本进样程序,所述样本进样程序被处理器执行时实现如上文所述的样本进样方法。
本发明通过在启动样本进样测试时,检测各样本托盘对应的控件状态;在各样本托盘对应的控件状态均为预设控制状态时,获取各样本托盘对应控件的控制时间;根据各样本托盘对应控件的控制时间确定各样本托盘的进样顺序;按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。通过上述方式,在各样本托盘对应的控件状态均为预设控制状态时,基于各样本托盘对应控件的控制时间确定各样本托盘的进样顺序,按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试,能够对样本托盘的进样顺序进行任意调整,解决了在进行托盘进样顺序调整时所存在的灵活度低和实用性差的问题,降低了在测试过程中的用户操作难度和用户操作流程复杂度不停机的情况下完成样本的批量更换,解决了现有技术中需等待样本分析仪整体测试结束后才能进行换样的问题,提高了样本分析仪在进行批量更换样本时的工作效率和灵活性,在为用户提供便携服务的同时,节省了用户等待时间。
附图说明
图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的样本分析仪的结构示意图;
图2为本发明样本进样方法第一实施例的流程示意图;
图3为本发明样本进样方法第二实施例的流程示意图;
图4为本发明样本进样装置第一实施例的结构框图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
参照图1,图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的样本分析仪结构示意图。
如图1所示,该样本进样设备可以包括:处理器1001,例如中央处理器(CentralProcessing Unit,CPU),通信总线1002、用户接口1003,网络接口1004,存储器1005。其中,通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard),可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如无线保真(Wireless-Fidelity,Wi-Fi)接口)。存储器1005可以是高速的随机存取存储器(RandomAccess Memory,RAM)存储器,也可以是稳定的非易失性存储器(Non-Volatile Memory,NVM),例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
本领域技术人员可以理解,图1中示出的结构并不构成对样本进样设备的限定,可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件布置。
如图1所示,作为一种存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及样本进样程序。
在图1所示的样本进样设备中,网络接口1004主要用于与网络服务器进行数据通信;用户接口1003主要用于与用户进行数据交互;本发明样本进样设备中的处理器1001、存储器1005可以设置在样本进样设备中,所述样本进样设备通过处理器1001调用存储器1005中存储的样本进样程序,并执行本发明实施例提供的样本进样方法。
本发明实施例提供了一种样本进样方法,参照图2,图2为本发明一种样本进样方法第一实施例的流程示意图。
样本进样方法包括以下步骤:
步骤S10:在启动样本进样测试时,检测各样本托盘对应的控件状态。
需要说明的是,本实施例的执行主体样本进样系统中的控制单元,样本进样系统可存在于样本分析仪中,还可为其他设备,本实施例对此不加以限制。
可以理解的是,样本托盘指的是放置在样本分析仪的样本台内等待测试的托盘,样本托盘上装载有用户准备好的待测样本架,每个样本托盘对应一个控件,控件可为样本分析仪上的实体按键,也可为虚拟按钮,本实施例对控件的展现形式不做限制。
在具体实现中,在样本测试开始前,用户可使用样本托盘对应控件对样本托盘的进样顺序进行设定,在样本托盘放入完成后,按下控件的顺序即表示样本托盘的进样顺序。
需要说明的是,在样本分析仪启动样本测试后,会检测各样本托盘对应控件的控件状态,控件状态可体现样本托盘对应的控件是否被按下,控件状态包括控件按下状态和控件未按下状态两种,控件按下状态指的是样本托盘对应的控件被按下,控件未按下状态指的是样本托盘对应的控件未被按下。
可以理解的是,为了保证后续进样测试的正常进行,进一步地,所述在启动样本进样测试时,检测各样本托盘对应的控件状态之前,还包括:检测当前设备状态;在所述当前设备状态为预设工作状态时,发送托盘放置指令,以使用户对各样本托盘进行托盘放置;在确定托盘放置完成时,检测是否接收到样本测试指令;在接收到所述样本测试指令时,确定启动样本进样测试。
在具体实现中,当前设备状态可体现样本分析仪是否能正常工作的状态,当前设备状态包括正常工作状态和非正常工作状态两种,预设工作状态指的是正常工作状态,在当前设备状态为预设工作状态时,则发送托盘放置指令,托盘放置指令可通过语音播报形式进行发送或通过界面显示形式进行发送,用户根据托盘放置指令将各样本托盘放置到样本台上。
需要说明的是,在所有需要放置到样本台上的样本托盘放置完成后,则确定托盘放置完成,此时检测是否接收到用户发送的样本测试指令,样本测试指令用于启动样本进样测试,在确定接收到样本测试指令时,则说明需开始样本进样测试。
可以理解的是,为了保证所有需要放置到样本台上的样本托盘均已被放置到样本台上,进一步地,所述在确定托盘放置完成时,检测是否接收到样本测试指令之前,还包括:检测样本托盘的放置间隔时间;在所述放置间隔时间超过预设时间阈值时,确定托盘放置完成。
在具体实现中,检测放置每个样本托盘时之间的间隔时间,放置每个样本托盘时之间的间隔时间即为放置间隔时间,在放置间隔时间超过预设时间阈值时,则说明所有需要放置到样本台上的样本托盘均放置完成,此时确定托盘放置完成。
步骤S20:在各样本托盘对应的控件状态均为预设控制状态时,获取各样本托盘对应控件的控制时间。
需要说明的是,预设控制状态指的是控件按下状态,在各样本托盘对应的控件状态均为预设控制状态时,说明所有样本托盘对应的控件均被按下,用户通过样本托盘对应的控件对所有样本托盘的进样顺序进行设定。此时获取各样本托盘对应控件的被按下时间,各样本托盘对应控件的被按下时间即为各样本托盘对应控件的控制时间。
步骤S30:根据各样本托盘对应控件的控制时间确定各样本托盘的进样顺序。
需要说明的是,按照各样本托盘对应控件的控制时间的先后确定各样本托盘的进样顺序,控制时间越早,则进样顺序越靠前。
步骤S40:按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。
需要说明的是,按照各样本托盘的进样顺序依次对各样本托盘中的待测样本架进行进样运输测试。
本实施例通过在启动样本进样测试时,检测各样本托盘对应的控件状态;在各样本托盘对应的控件状态均为预设控制状态时,获取各样本托盘对应控件的控制时间;根据各样本托盘对应控件的控制时间确定各样本托盘的进样顺序;按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。通过上述方式,在各样本托盘对应的控件状态均为预设控制状态时,基于各样本托盘对应控件的控制时间确定各样本托盘的进样顺序,按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试,能够对样本托盘的进样顺序进行任意调整,解决了在进行托盘进样顺序调整时所存在的灵活度低和实用性差的问题,降低了在测试过程中的用户操作难度和用户操作流程复杂度不停机的情况下完成样本的批量更换,解决了现有技术中需等待样本分析仪整体测试结束后才能进行换样的问题,提高了样本分析仪在进行批量更换样本时的工作效率和灵活性,在为用户提供便携服务的同时,节省了用户等待时间。
参考图3,图3为本发明一种样本进样方法第二实施例的流程示意图。
基于上述第一实施例,本实施例样本进样方法中所述步骤S10之后,还包括:
步骤S11:在存在样本托盘对应的控件状态为预设控制状态时,根据各样本托盘对应的控件状态对多个样本托盘进行分类。
需要说明的是,在存在样本托盘对应的控件为预设控制状态时,说明不是所有样本托盘对应的控件均被按下,此时仅一部分样本托盘对应的控件被按下,此时根据各样本托盘对应的控件状态将多个样本托盘进行分类。
步骤S12:根据分类结果在多个样本托盘中确定多个第一控制托盘和多个第二控制托盘。
需要说明的是,第一控制托盘指的是多个样本托盘中,控件状态为预设控制状态的样本托盘,第二控制托盘指的是多个样本托盘中,控件状态不为预设控制状态的样本托盘。
可以理解的是,根据各样本托盘对应的控件状态将多个样本托盘进行分类,从而将多个样本托盘分为控件状态为预设控制状态和控件状态不为预设控制状态的两类,得到多个第一控制托盘和多个第二控制托盘。
步骤S13:根据各第一控制托盘对应控件的控制时间和各第二控制托盘的托盘放置时间确定各样本托盘的进样顺序。
需要说明的是,根据各第一控制托盘对应控件的控制时间和各第二控制托盘的托盘放置时间确定各样本托盘的进样顺序,控件控制的优先级大于未利用控件控制的优先级。
可以理解的是,为了准确得到各样本托盘的进样顺序,进一步地,所述根据各第一控制托盘对应控件的控制时间和各第二控制托盘的托盘放置时间确定各样本托盘的进样顺序,包括:根据各第一控制托盘对应控件的控制时间确定各第一控制托盘的第一控制顺序;根据各第二控制托盘对应控件的托盘放置时间确定各第二控制托盘的第二控制顺序;根据各第一控制托盘的第一控制顺序和各第二控制托盘的第二控制顺序确定各样本托盘的进样顺序。
在具体实现中,根据各第一控制托盘对应控件的控制时间的先后确定各第一控制托盘在所有第一控制托盘中的进样顺序,控制时间越早,则进样顺序越靠前,各第一控制托盘在所有第一控制托盘中的进样顺序即为各第一控制托盘的第一控制顺序;根据各第二控制托盘的托盘放置时间确定各第二控制托盘在所有第二控制托盘中的进样顺序,各第二控制托盘在所有第二控制托盘中的进样顺序即为各第二控制托盘的第二控制顺序。
需要说明的是,将各第一控制托盘的第一控制顺序和各第二控制托盘的第二控制顺序进行组合,从而得到各样本托盘的进样顺序,为了保证顺序确定的准确性,进一步地,所述根据各第一控制托盘的第一控制顺序和各第二控制托盘的第二控制顺序确定各样本托盘的进样顺序,包括:确定第一控制托盘的数量;根据所述数量和各第二控制托盘的第二控制顺序确定各第二控制托盘的进样顺序;根据各第一控制托盘的第一控制顺序和各第二控制托盘的进样顺序确定各样本托盘的进样顺序。
可以理解的是,确定所有样本托盘中,第一控制托盘的数量,根据第一控制托盘的数量可确定第二控制托盘的进样顺序的起始序号,根据起始序号和各第二控制托盘的第二控制顺序可确定各第二控制托盘在所有样本托盘中的进样顺序,各第一控制托盘的第一控制顺序也即为各第一控制托盘在所有样本托盘中的进样顺序,最终可得到各样本托盘的进样顺序。例如,存在六个样本托盘A、B、C、D、E、F,其中A、B、C为第一控制托盘,D、E、F为第二控制托盘,A、B、C的控制顺序分别为1、2、3,D、E、F的控制顺序分别为1、2、3,第一控制托盘的数量为3,则起始序号为4,此时确定D、E、F的进样顺序为4、5、6,最终得到样本托盘A、B、C、D、E、F的进样顺序分别为1、2、3、4、5、6。
步骤S14:按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。
需要说明的是,按照各样本托盘的进样顺序依次对各样本托盘中的待测样本架进行进样运输测试。
可以理解的是,为了准确得到不同控制方式下各样本托盘的进样顺序,进一步地,所述检测各样本托盘对应的控件状态之后,还包括:在各样本托盘对应的控件状态均不为预设控制状态时,获取各样本托盘的托盘放置时间;根据各样本托盘的托盘放置时间确定各样本托盘的进样顺序;按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。
在具体实现中,预设控制状态指的是控件按下状态,在各样本托盘对应的控件状态均不为预设控制状态时,说明所有样本托盘对应的控件均未被按下,用户未通过样本托盘对应的控件对样本托盘的进样顺序进行设定。此时获取各样本托盘放置到样本台内的时间,各样本托盘放置到样本台内的时间即为各样本托盘的托盘放置时间,按照各样本托盘的托盘放置时间的先后确定各样本托盘的进样顺序,托盘放置时间越早,则进样顺序越靠前,按照各样本托盘的进样顺序依次对各样本托盘中的待测样本架进行进样运输测试。
本实施例中通过在存在样本托盘对应的控件状态为预设控制状态时,根据各样本托盘对应的控件状态对多个样本托盘进行分类;根据分类结果在多个样本托盘中确定多个第一控制托盘和多个第二控制托盘;根据各第一控制托盘对应控件的控制时间和各第二控制托盘对应控件的托盘放置时间确定各样本托盘的进样顺序;按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。通过上述方式,在不同控制方式下,也能够保证各样本托盘的进样顺序确定的准确性。
此外,参照图4,本发明实施例还提出一种样本进样装置,所述样本进样装置包括:
检测模块10,用于在启动样本进样测试时,检测各样本托盘对应的控件状态。
获取模块20,用于在各样本托盘对应的控件状态均为预设控制状态时,获取各样本托盘对应控件的控制时间。
处理模块30,用于根据各样本托盘对应控件的控制时间确定各样本托盘的进样顺序。
测试模块40,用于按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。
本实施例通过在启动样本进样测试时,检测各样本托盘对应的控件状态;在各样本托盘对应的控件状态均为预设控制状态时,获取各样本托盘对应控件的控制时间;根据各样本托盘对应控件的控制时间确定各样本托盘的进样顺序;按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。通过上述方式,在各样本托盘对应的控件状态均为预设控制状态时,基于各样本托盘对应控件的控制时间确定各样本托盘的进样顺序,按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试,能够对样本托盘的进样顺序进行任意调整,解决了在进行托盘进样顺序调整时所存在的灵活度低和实用性差的问题,降低了在测试过程中的用户操作难度和用户操作流程复杂度。
在一实施例中,所述检测模块10,还用于在各样本托盘对应的控件状态均不为预设控制状态时,获取各样本托盘的托盘放置时间;
根据各样本托盘的托盘放置时间确定各样本托盘的进样顺序;
按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。
在一实施例中,所述检测模块10,还用于在存在样本托盘对应的控件状态为预设控制状态时,根据各样本托盘对应的控件状态对多个样本托盘进行分类;
根据分类结果在多个样本托盘中确定多个第一控制托盘和多个第二控制托盘;
根据各第一控制托盘对应控件的控制时间和各第二控制托盘的托盘放置时间确定各样本托盘的进样顺序;
按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。
在一实施例中,所述检测模块10,还用于根据各第一控制托盘对应控件的控制时间确定各第一控制托盘的第一控制顺序;
根据各第二控制托盘对应控件的托盘放置时间确定各第二控制托盘的第二控制顺序;
根据各第一控制托盘的第一控制顺序和各第二控制托盘的第二控制顺序确定各样本托盘的进样顺序。
在一实施例中,所述检测模块10,还用于确定第一控制托盘的数量;
根据所述数量和各第二控制托盘的第二控制顺序确定各第二控制托盘的进样顺序;
根据各第一控制托盘的第一控制顺序和各第二控制托盘的进样顺序确定各样本托盘的进样顺序。
在一实施例中,所述检测模块10,还用于检测当前设备状态;
在所述当前设备状态为预设工作状态时,发送托盘放置指令,以使用户对各样本托盘进行托盘放置;
在确定托盘放置完成时,检测是否接收到样本测试指令;
在接收到所述样本测试指令时,确定启动样本进样测试。
在一实施例中,所述检测模块10,还用于检测样本托盘的放置间隔时间;
在所述放置间隔时间超过预设时间阈值时,确定托盘放置完成。
由于本装置采用了上述所有实施例的全部技术方案,因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果,在此不再一一赘述。
此外,本发明实施例还提出一种存储介质,所述存储介质上存储有样本进样程序,所述样本进样程序被处理器执行时实现如上文所述的样本进样方法的步骤。
由于本存储介质采用了上述所有实施例的全部技术方案,因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果,在此不再一一赘述。
需要说明的是,以上所描述的工作流程仅仅是示意性的,并不对本发明的保护范围构成限定,在实际应用中,本领域的技术人员可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部来实现本实施例方案的目的,此处不做限制。
另外,未在本实施例中详尽描述的技术细节,可参见本发明任意实施例所提供的样本进样方法,此处不再赘述。
此外,需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到上述 实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通 过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的 技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体 现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质(如只读存储器(Read Only Memory,ROM)、RAM、磁碟、光 盘)中,包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机,计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
以上仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种样本进样方法,其特征在于,所述样本进样方法,包括:
在启动样本进样测试时,检测各样本托盘对应的控件状态;
在各样本托盘对应的控件状态均为预设控制状态时,获取各样本托盘对应控件的控制时间;
根据各样本托盘对应控件的控制时间确定各样本托盘的进样顺序;
按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。
2.如权利要求1所述的样本进样方法,其特征在于,所述检测各样本托盘对应的控件状态之后,还包括:
在各样本托盘对应的控件状态均不为预设控制状态时,获取各样本托盘的托盘放置时间;
根据各样本托盘的托盘放置时间确定各样本托盘的进样顺序;
按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。
3.如权利要求1所述的样本进样方法,其特征在于,所述检测各样本托盘对应的控件状态之后,还包括:
在存在样本托盘对应的控件状态为预设控制状态时,根据各样本托盘对应的控件状态对多个样本托盘进行分类;
根据分类结果在多个样本托盘中确定多个第一控制托盘和多个第二控制托盘;
根据各第一控制托盘对应控件的控制时间和各第二控制托盘的托盘放置时间确定各样本托盘的进样顺序;
按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。
4.如权利要求3所述的样本进样方法,其特征在于,所述根据各第一控制托盘对应控件的控制时间和各第二控制托盘的托盘放置时间确定各样本托盘的进样顺序,包括:
根据各第一控制托盘对应控件的控制时间确定各第一控制托盘的第一控制顺序;
根据各第二控制托盘对应控件的托盘放置时间确定各第二控制托盘的第二控制顺序;
根据各第一控制托盘的第一控制顺序和各第二控制托盘的第二控制顺序确定各样本托盘的进样顺序。
5.如权利要求4所述的样本进样方法,其特征在于,所述根据各第一控制托盘的第一控制顺序和各第二控制托盘的第二控制顺序确定各样本托盘的进样顺序,包括:
确定第一控制托盘的数量;
根据所述数量和各第二控制托盘的第二控制顺序确定各第二控制托盘的进样顺序;
根据各第一控制托盘的第一控制顺序和各第二控制托盘的进样顺序确定各样本托盘的进样顺序。
6.如权利要求1至5中任一项所述的样本进样方法,其特征在于,所述在启动样本进样测试时,检测各样本托盘对应的控件状态之前,还包括:
检测当前设备状态;
在所述当前设备状态为预设工作状态时,发送托盘放置指令,以使用户对各样本托盘进行托盘放置;
在确定托盘放置完成时,检测是否接收到样本测试指令;
在接收到所述样本测试指令时,确定启动样本进样测试。
7.如权利要求6所述的样本进样方法,其特征在于,所述在确定托盘放置完成时,检测是否接收到样本测试指令之前,还包括:
检测样本托盘的放置间隔时间;
在所述放置间隔时间超过预设时间阈值时,确定托盘放置完成。
8.一种样本进样装置,其特征在于,所述样本进样装置包括:
检测模块,用于在启动样本进样测试时,检测各样本托盘对应的控件状态;
获取模块,用于在各样本托盘对应的控件状态均为预设控制状态时,获取各样本托盘对应控件的控制时间;
处理模块,用于根据各样本托盘对应控件的控制时间确定各样本托盘的进样顺序;
测试模块,用于按照各样本托盘的进样顺序对各样本托盘进行样本进样测试。
9.一种样本分析仪,其特征在于,所述样本分析仪包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的样本进样程序,所述样本进样程序配置为实现如权利要求1至7中任一项所述的样本进样方法。
10.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质上存储有样本进样程序,所述样本进样程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的样本进样方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202311625027.5A CN117590015A (zh) | 2023-11-30 | 2023-11-30 | 样本进样方法、装置、样本分析仪及存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202311625027.5A CN117590015A (zh) | 2023-11-30 | 2023-11-30 | 样本进样方法、装置、样本分析仪及存储介质 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN117590015A true CN117590015A (zh) | 2024-02-23 |
Family
ID=89909678
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202311625027.5A Pending CN117590015A (zh) | 2023-11-30 | 2023-11-30 | 样本进样方法、装置、样本分析仪及存储介质 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN117590015A (zh) |
-
2023
- 2023-11-30 CN CN202311625027.5A patent/CN117590015A/zh active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN106370873B (zh) | 样本装载区的扩充方法、扩充装置和样本分析仪 | |
CN111398609B (zh) | 一种样本架的调度方法和进样处理系统 | |
EP4089420A1 (en) | Sample analysis system and sample scheduling method therefor | |
CN108334451B (zh) | 页面兼容性测试方法及装置 | |
CN116718789A (zh) | 样本进样方法、装置、样本分析仪及存储介质 | |
CN117590015A (zh) | 样本进样方法、装置、样本分析仪及存储介质 | |
US20240103064A1 (en) | Product line testing method and system | |
CN113821389B (zh) | 固态硬盘的性能测试方法、装置、设备及可读存储介质 | |
CN117607478A (zh) | 样本进样方法、装置、设备及存储介质 | |
CN111400193B (zh) | 测试用例生成方法、装置、设备及存储介质 | |
CN113140217B (zh) | 语音指令测试方法、测试装置及可读存储介质 | |
CN115685959A (zh) | 诊断写配置测试方法、装置、设备及存储介质 | |
CN102316211A (zh) | 一种实现按键加速的方法和装置 | |
CN114694809B (zh) | 测试任务获取方法、装置、电子设备及存储介质 | |
CN117607479A (zh) | 样本处理方法、装置、样本分析仪及存储介质 | |
CN111814934A (zh) | 一种电子产品老化管理方法及系统 | |
CN118549664A (zh) | 一种样本分析仪及其样本检测方法 | |
CN112345744B (zh) | 一种流水线系统及其测试方法 | |
CN117453552B (zh) | 一种脚本测试顺序的调整方法、装置及存储介质 | |
CN113868107B (zh) | 存储产品后端io的自适应调整方法、装置、设备及介质 | |
CN109831667B (zh) | 电视老化检测方法、装置、计算机可读存储介质及系统 | |
CN110875086B (zh) | 一种样本分析方法、样本分析系统及计算机存储介质 | |
CN117407283A (zh) | 性能测试方法、装置、终端设备以及存储介质 | |
CN118069896B (zh) | 功耗数据处理方法、装置、电子设备及存储介质 | |
CN114694821B (zh) | 测试项目添加方法、装置、电子设备及存储介质 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination |