CN117554791A - 测试环境生成方法、装置及测试设备 - Google Patents

测试环境生成方法、装置及测试设备 Download PDF

Info

Publication number
CN117554791A
CN117554791A CN202311507399.8A CN202311507399A CN117554791A CN 117554791 A CN117554791 A CN 117554791A CN 202311507399 A CN202311507399 A CN 202311507399A CN 117554791 A CN117554791 A CN 117554791A
Authority
CN
China
Prior art keywords
module
function
target
code
functional
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202311507399.8A
Other languages
English (en)
Inventor
裴江恒
张旭峰
张硕
康霁雯
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xi'an Ziguang Zhanrui Technology Co ltd
Original Assignee
Xi'an Ziguang Zhanrui Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xi'an Ziguang Zhanrui Technology Co ltd filed Critical Xi'an Ziguang Zhanrui Technology Co ltd
Priority to CN202311507399.8A priority Critical patent/CN117554791A/zh
Publication of CN117554791A publication Critical patent/CN117554791A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/31704—Design for test; Design verification
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02D—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00—Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

本申请实施例提供一种测试环境生成方法、装置及测试设备。该方法包括：获取测试环境生成请求，所述测试环境生成请求包括目标芯片的至少一个目标功能；根据所述测试环境生成请求，确定在所述多个功能模组中确定至少一个第一功能模组，所述第一功能模组用于实现对应的目标功能；确定每个第一功能模组对应的初始功能代码；根据所述至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成模拟所述至少一个目标功能的目标测试环境，所述目标测试环境用于对所述至少一个目标功能进行测试。提高了生成芯片的测试环境的准确性。

Description

测试环境生成方法、装置及测试设备
技术领域
本申请实施例涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种测试环境生成方法、装置及测试设备。
背景技术
芯片在正式使用之前，需要对芯片对应的多个功能进行测试，以使芯片可以正常运行对应的多个功能。
可以在进行测试之前，设置芯片的测试环境。在相关技术中，可以通过如下方式设置芯片的测试环境：在进行测试之前，确定芯片待测试的多个功能以及测试系统。测试系统可以为应用程序(例如，电子设计自动化(Electronics Design Automation，EDA))或者应用程序和硬件设备的组合(例如，PXP仿真测试系统)。根据待测试的多个功能，人工手动在测试系统中设置对应的测试环境。在上述过程中，在芯片测试过程中需要更换测试系统，尤其是从EDA测试系统更换为PXP测试系统时，测试环境复杂度较高，人工在更新测试环境的设置时，可能会存在错误或者遗漏的情况，导致生成芯片的测试环境的准确性较低。
发明内容
本申请实施例提供一种测试环境生成方法、装置及测试设备，用以生成芯片的测试环境的准确性较低解决的问题。
第一方面，本申请实施例提供一种测试环境生成方法，包括：
获取测试环境生成请求，所述测试环境生成请求包括目标芯片的至少一个目标功能；
根据所述测试环境生成请求，确定在所述多个功能模组中确定至少一个第一功能模组，所述第一功能模组用于实现对应的目标功能；
确定每个第一功能模组对应的初始功能代码；
根据所述至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成模拟所述至少一个目标功能的目标测试环境，所述目标测试环境用于对所述至少一个目标功能进行测试。
在一种可能的实施方式中，根据所述多个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成模拟所述至少一个目标功能的目标测试环境，包括：
确定每个第一功能模组对应的至少一个协议；
根据每个第一功能模组对应的至少一个协议，在所述至少一个第一功能模组中确定至少一个第二功能模组；
在所述多个验证模组中确定所述至少一个第二功能模组对应的目标验证模组，得到至少一个目标验证模组；
根据所述至少一个第一功能模组、所述至少一个目标验证模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成所述目标测试环境。
在一种可能的实施方式中，根据每个第一功能模组对应的至少一个协议，在所述至少一个第一功能模组中确定至少一个第二功能模组，包括：
针对任意一个第一功能模组，若所述第一功能模组对应的至少一个协议中包括预设协议，则确定所述第一功能模组为所述第二功能模组。
在一种可能的实施方式中，根据所述至少一个第一功能模组、所述至少一个目标验证模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成所述目标测试环境，包括：
获取所述多个第一功能模组对应的第一存储路径、以及所述至少一个目标验证模组对应的第二存储路径；
根据所述第一存储路径，获取每个第一功能模组的测试流程、以及根据所述第二存储路径，获取所述每个验证模组的验证流程；
根据每个第一功能模组的测试流程、每个验证模组的验证流程以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成所述目标测试环境。
在一种可能的实施方式中，根据每个第一功能模组的测试流程、每个验证模组的验证流程以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成所述目标测试环境，包括：
获取标准代码集合，所述标准代码集合包括多个标准代码、以及每个标准代码对应的代码类型；
根据每个第一功能模组对应的初始功能代码和所述标准代码集合，生成每个第一功能模组对应的目标功能代码；
根据每个第一功能模组的测试流程、每个验证模组的验证流程以及每个第一功能模组对应的目标功能代码，生成所述目标测试环境。
在一种可能的实施方式中，针对任意一个第一功能模组；根据所述第一功能模组对应的初始功能代码和所述标准代码集合，生成所述第一功能模组对应的目标功能代码，包括：
确定所述初始功能代码的第一代码类型；
根据所述第一代码类型，在所述标准代码集合中确定待选代码，所述待选代码的类型为所述第一代码类型；
获取所述初始功能代码的第一标识；
根据所述第一标识和所述待选代码，生成所述目标功能代码。
在一种可能的实施方式中，根据所述第一标识和所述待选代码，生成所述目标代码，包括：
获取所述待选代码对应的运行步骤，所述运行步骤包括多个字段；
在所述多个字段中，将所述待选代码对应的标识更新为所述第一标识，并将更新后的待选代码确定为所述目标代码。
第二方面，本申请实施例提供一种测试环境生成装置，所述装置包括：
获取模块，用于获取测试环境生成请求，所述测试环境生成请求包括目标芯片的至少一个目标功能；
第一确定模块，用于根据所述测试环境生成请求，确定在多个功能模组中确定至少一个第一功能模组，所述第一功能模组用于实现对应的目标功能；
第二确定模块，用于确定每个第一功能模组对应的初始功能代码；
生成模块，用于根据所述至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成模拟所述至少一个目标功能的目标测试环境，所述目标测试环境用于对所述至少一个目标功能进行测试。
在一种可能的实施方式中，所述生成模块具体用于：
确定每个第一功能模组对应的至少一个协议；
根据每个第一功能模组对应的至少一个协议，在所述至少一个第一功能模组中确定至少一个第二功能模组；
在所述多个验证模组中确定所述至少一个第二功能模组对应的目标验证模组，得到至少一个目标验证模组；
根据所述至少一个第一功能模组、所述至少一个目标验证模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成所述目标测试环境。
在一种可能的实施方式中，所述生成模块具体用于：
针对任意一个第一功能模组，若所述第一功能模组对应的至少一个协议中包括预设协议，则确定所述第一功能模组为所述第二功能模组。
在一种可能的实施方式中，所述生成模块具体用于：
获取所述多个第一功能模组对应的第一存储路径、以及所述至少一个目标验证模组对应的第二存储路径；
根据所述第一存储路径，获取每个第一功能模组的测试流程、以及根据所述第二存储路径，获取所述每个验证模组的验证流程；
根据每个第一功能模组的测试流程、每个验证模组的验证流程以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成所述目标测试环境。
在一种可能的实施方式中，所述生成模块具体用于：
获取标准代码集合，所述标准代码集合包括多个标准代码、以及每个标准代码对应的代码类型；
根据每个第一功能模组对应的初始功能代码和所述标准代码集合，生成每个第一功能模组对应的目标功能代码；
根据每个第一功能模组的测试流程、每个验证模组的验证流程以及每个第一功能模组对应的目标功能代码，生成所述目标测试环境。
在一种可能的实施方式中，所述生成模块具体用于：
确定所述初始功能代码的第一代码类型；
根据所述第一代码类型，在所述标准代码集合中确定待选代码，所述待选代码的类型为所述第一代码类型；
获取所述初始功能代码的第一标识；
根据所述第一标识和所述待选代码，生成所述目标功能代码。
在一种可能的实施方式中，所述生成模块具体用于：
获取所述待选代码对应的运行步骤，所述运行步骤包括多个字段；
在所述多个字段中，将所述待选代码对应的标识更新为所述第一标识，并将更新后的待选代码确定为所述目标代码。
第三方面，本申请提供一种芯片，所述芯片上存储有计算机程序，所述计算机程序被所述芯片执行时，实现如第一方面任一项所述的方法。
第四方面，本申请提供一种芯片模组，所述芯片模组上存储有计算机程序，所述计算机程序被所述芯片模组执行时，实现如第一方面任一项所述的方法。
第五方面，本申请实施例提供一种测试设备，包括：
至少一个处理器；以及
与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行第一方面任一项所述的方法。
第六方面，本申请实施例提供一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机指令用于使所述计算机执行第一方面中任一项所述的方法。
第七方面，本申请实施例提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现第一方面中任一项所述的方法。
本申请实施例提供的测试环境生成方法、装置及测试设备，获取测试环境生成请求，测试环境生成请求包括目标芯片的至少一个目标功能。根据测试环境生成请求，确定在多个功能模组中确定至少一个第一功能模组，第一功能模组用于实现对应的目标功能。确定每个第一功能模组对应的初始功能代码。根据至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成模拟至少一个目标功能的目标测试环境。在上述过程中，可以根据至少一个目标功能，确定至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码。并根据至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，自动生成模拟至少一个目标功能的目标测试环境，而不是人工手动在测试系统中设置对应的测试环境。提高了生成芯片的测试环境的准确性。
附图说明
图1为本申请实施例提供的应用场景的示意图；
图2为本申请实施例提供的一种测试环境生成方法的流程示意图；
图3为本申请实施例提供的仿真测试的过程示意图；
图4为本申请实施例提供的另一种测试环境生成方法的流程示意图；
图5为本申请实施例提供的测试环境生成过程的示意图；
图6为本申请实施例提供的一种测试环境生成装置的结构示意图；
图7为本申请实施例提供的测试设备的结构示意图。
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
为了便于理解，下面，结合图1，对本申请实施例所适用的应用场景进行说明。
图1为本申请实施例提供的应用场景的示意图。请参见图1，包括测试设备101。测试设备101可以为电脑，测试设备101中设置有测试系统。测试系统用于对芯片的多个功能进行测试。用户可以在确定芯片待测试的多个功能之后，通过测试设备101的设置页面确定芯片的测试环境。测试设备101的测试系统响应于用户的设置操作，生成对应的测试环境。
在实际应用过程中，需要用户人工手动在测试系统中设置对应的测试环境。在芯片测试过程中需要更换测试系统，尤其是从EDA测试系统更换为PXP测试系统时，测试环境复杂度较高，人工在更新测试环境的设置时，可能会存在错误或者遗漏的情况，导致生成芯片的测试环境的准确性较低。
本申请实施例中，获取测试环境生成请求，测试环境生成请求包括目标芯片的至少一个目标功能。根据测试环境生成请求，确定在多个功能模组中确定至少一个第一功能模组，第一功能模组用于实现对应的目标功能。确定每个第一功能模组对应的初始功能代码。根据至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成模拟至少一个目标功能的目标测试环境。在上述过程中，可以根据至少一个目标功能，确定至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码。并根据至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，自动生成模拟至少一个目标功能的目标测试环境，而不是人工手动在测试系统中设置对应的测试环境。提高了生成芯片的测试环境的准确性。
下面，通过具体实施例对本申请所示的方法进行说明。需要说明的是，下面几个实施例可以单独存在，也可以互相结合，对于相同或相似的内容，在不同的实施例中不再重复说明。
图2为本申请实施例提供的一种测试环境生成方法的流程示意图。请参见图2，该方法可以包括：
S201、获取测试环境生成请求。
本申请实施例的执行主体可以为测试设备，也可以为设置在测试设备中的芯片、芯片模组或测试环境生成装置等。测试环境生成装置可以通过软件实现，也可以通过软件和硬件的结合实现。测试设备可以为电脑，也可以为电脑和其他设备的组合。
测试设备中包括多个功能模组和多个验证模组。测试环境生成请求包括目标芯片的至少一个目标功能。
在对目标芯片进行测试之前，可以根据目标芯片对应的多个功能和目标芯片的使用场景，确定目标芯片的至少一个目标功能。
用户可以在确定待测试的至少一个目标功能之后，在测试设备的页面中输入至少一个目标功能对应的功能指令。测试设备响应于用户的输入选中操作，生成测试环境生成请求。
S202、根据测试环境生成请求，确定在多个功能模组中确定至少一个第一功能模组。
第一功能模组用于实现对应的目标功能。
多个功能模组中，每个功能模组用于实现芯片对应的一个功能。功能模组可以为知识产权(Intellectual Property，IP)核，IP核可以为逻辑单元或者可重用模组。
例如，功能模组可以为处理器核心、存储器控制器、接口协议等。若功能模组为处理器核心，功能模组实现的功能包括执行指令和处理数据。若功能模组为存储器控制器，功能模组实现的功能包括存储颗粒的支持类型、存储速度等。若功能模组为接口协议，功能模组实现的功能支持的数据传输方式、数据格式和通信协议。若功能模组为多媒体相关，功能模组实现的功能包括支持4K、90HZ、4摄等。
可以根据当前测试所用的测试系统，确定多个功能模组。若当前的测试系统为EDA仿真系统，则可以确定多个模组设置在EDA仿真系统中包括的多个功能模组。若当前的测试系统为EDA和PXP仿真系统，则可以确定多个模组设置在PXP仿真系统中。
例如，多个功能模组具体可以如表1所示：
表1
功能模组 实现的芯片功能
功能模组1 访问内存
功能模组2 支持4K显示
功能模组3 支持四摄
假设测试环境生成请求包括芯片1的支持4K显示功能和支持四摄功能。在表1所示的多个功能模组中，确定至少一个第一功能模组为支持4K显示功能对应的功能模组2、以及支持四摄对应的功能模组3。
S203、确定每个第一功能模组对应的初始功能代码。
可以通过运行初始功能代码，控制功能模组实现对应的目标功能，从而进行目标芯片的功能测试。
初始功能代码可以为测试系统中应用程序的组件。
可以提前设置多个功能模组、以及每个功能模组对应的初始功能代码，并将多个功能模组、以及每个功能模组对应的初始功能代码存储至测试设备的预设存储空间中。
例如，根据上数据举例所示，确定至少一个第一功能模组包括功能模组2以及功能模组3。在测试设备的预设存储空间获取多个功能模组、以及每个功能模组对应的初始功能代码。并根据多个功能模组、以及每个功能模组对应的初始功能代码，确定至少一个第一功能模组对应的初始功能代码具体可以如表2所示：
表2
功能模组 初始功能代码
功能模组2 功能代码B2
功能模组3 功能代码F1
S204、根据至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成模拟至少一个目标功能的目标测试环境。
目标测试环境用于对至少一个目标功能进行测试。
可以通过如下方式根据至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成模拟至少一个目标功能的目标测试环境：确定每个第一功能模组对应的至少一个协议；根据每个第一功能模组对应的至少一个协议，在至少一个第一功能模组中确定至少一个第二功能模组；在多个验证模组中确定至少一个第二功能模组对应的目标验证模组，得到至少一个目标验证模组；根据至少一个第一功能模组、至少一个目标验证模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成目标测试环境。
目标验证模组用于对对应的第二功能模组进行验证测试。
可以根据至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，通过auto_gen的脚本自动生成模拟至少一个目标功能的目标测试环境。
例如，根据上述举例所示，确定至少一个第一功能模组包括功能模组2以及功能模组3。在至少一个第一功能模组中，确定第二功能模组为功能模组2。在多个验证模组中确定至少一个第二功能模组对应的目标验证模组为验证模组4。根据功能模组2、功能模组3、验证模组4、功能代码B2以及功能代码F1，生成目标测试环境。目标测试环境用于对芯片1的支持4K显示功能以及支持4摄功能进行测试。
下面，结合图3，对仿真测试的过程进行说明。图3为本申请实施例提供的仿真测试的过程示意图。请参见图3，包括EDA仿真系统301和PXP仿真系统302。EDA仿真系统301中包括参考模型、比较器和2个运行组件。参考模型可以为用户提前设置的标准模型。参考模型用于对输入激励进行处理，得到输入激励对应的期望输出。
在对功能模型进行仿真测试过程中，通过运行组件1对功能模组输入激励。以使功能模组根据输入激励运行得到输出。同时运行组件1将输入激励发送至参考模型，以使参考模型对输入激励进行处理，得到输入激励对应的期望输出。功能模组向比较器发送功能模组对应的输出，参考模型向比较器发送期望输出。比较器根据功能模组对应的输出和期望输出，确定仿真测试的结果。
若用户确定只使用EDA仿真系统301进行仿真测试，则功能模组设置在EDA仿真系统301中。若想要对EDA仿真系统301的测试结果进行验证，需要将EDA仿真系统301的功能模组迁移至PXP仿真系统302。在迁移过程中需要修改的内容较多，手动修改容易出错。因此，可以使用EDA仿真系统301和PXP仿真系统302的联合系统，并直接将功能模组设置在PXP仿真系统302中。此时，测试环境的软件部分，设置在EDA仿真系统301中。测试环境的硬件部分，设置在PXP仿真系统302。EDA仿真系统301和PXP仿真系统302通过总线连接。EDA仿真系统301和PXP仿真系统302的联合系统根据至少一个功能模组以及每个功能模组对应的初始功能代码，自动生成EDA仿真系统301和PXP仿真系统302的联合系统的测试环境，避免人工手动修改，提高了生成测试环境的准确性。
本申请实施例提供的测试环境生成方法，获取测试环境生成请求。根据测试环境生成请求，确定在多个功能模组中确定至少一个第一功能模组。确定每个第一功能模组对应的初始功能代码。根据至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成模拟至少一个目标功能的目标测试环境。在上述过程中，可以根据至少一个目标功能，确定至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码。并根据至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，自动生成模拟至少一个目标功能的目标测试环境，而不是人工手动在测试系统中设置对应的测试环境。提高了生成芯片的测试环境的准确性。
在上述任意一个实施例基础上，下面，结合图4，对测试环境生成方法的详细过程进行说明。
图4为本申请实施例提供的另一种测试环境生成方法的流程示意图。请参见图4，该方法包括：
S401、获取测试环境生成请求。
需要说明的是，S401的执行过程可以参见S201，此处不再赘述。
S402、根据测试环境生成请求，确定在多个功能模组中确定至少一个第一功能模组。
例如，假设使用的测试系统为PXP仿真系统。根据测试环境生成请求，在PXP仿真系统中确定多个功能模组具体可以如表3所示：
表3
功能模组 实现的芯片功能
功能模组A 访问内存
功能模组B1 存储速度
功能模组P2 支持高速率刷新
功能模组P3 支持4K显示
测试环境生成请求包括芯片2的存储速度功能、支持高速率刷新功能以及支持4K显示功能。在表3所示的多个功能模组中确定至少一个第一功能模组包括存储速度功能对应的功能模组B1、支持高速率刷新功能对应的功能模组P2以及支持4K显示功能对应的功能模组P3。
S403、确定每个第一功能模组对应的初始功能代码。
例如，根据上述举例所示，确定第一功能模组包括功能模组B1、功能模组P2以及功能模组P3。在测试设备的预设存储空间中获取多个功能模组对应的初始功能代码，并根据多个功能模组对应的初始功能代码，确定每个第一功能模组对应的初始功能代码具体可以如表4所示：
表4
功能模组 初始功能代码
功能模组B1 功能代码S03
功能模组P2 功能代码S05
功能模组P3 功能代码S15
S404、确定每个第一功能模组对应的至少一个协议。
协议可以为芯片设计和测试对应的多个标准协议。
例如，根据上述举例所示，确定第一功能模组包括功能模组B1、功能模组P2以及功能模组P3。确定每个第一功能模组对应的至少一个协议具体可以如表5所示：
表5
功能模组 协议
功能模组B1 协议3、协议4、协议6
功能模组P2 协议3、协议5
功能模组P3 协议3、协议4、协议8
S405、根据每个第一功能模组对应的至少一个协议，在至少一个第一功能模组中确定至少一个第二功能模组。
可以通过如下方式，在至少一个第一功能模组中确定至少一个第二功能模组：针对任意一个第一功能模组，若第一功能模组对应的至少一个协议中包括预设协议，则确定第一功能模组为第二功能模组。
预设协议可以为片上总线协议(Advanced Microcontroller Bus Architecture，AMBA)。
例如，针对上述表5所示的功能模组P2，确定协议5为预设协议。因此，可以确定功能模组P2对应的至少一个协议中包括预设协议，则确定功能模组P2为第二功能模组。根据此方法，确定表5所示的多个第一功能模组中，第二功能模组为功能模组P2。
S406、在多个验证模组中确定至少一个第二功能模组对应的目标验证模组，得到至少一个目标验证模组。
当前测试所用的测试系统，确定多个验证模组。
可以提前设置多个验证模组、以及每个验证模组对应的第二功能模组，并将多个验证模组、以及每个验证模组对应的第二功能模组存储至测试设备的预设存储空间中。
例如，多个验证模组、以及每个验证模组对应的第二功能模组具体可以如表6所示：
表6
根据上述举例所示，确定第二功能模组为功能模组P2。在表6所示的多个验证模组、以及每个验证模组对应的第二功能模组，确定第二功能模组对应的目标验证模组为验证模组2。
S407、获取多个第一功能模组对应的第一存储路径、以及至少一个目标验证模组对应的第二存储路径。
例如，测试设备在确定多个第一功能模组、以及至少一个目标验证模组之后，获取多个第一功能模组对应的第一存储路径为测试设备磁盘1中的文件夹A1。获取至少一个目标验证模组对应的第二存储路径为测试设备磁盘1中的文件夹A2。
S408、根据第一存储路径，获取每个第一功能模组的测试流程、以及根据第二存储路径，获取每个验证模组的验证流程。
可以提前设置多个功能模组、以及每个功能模组的测试流程，并根据第一存储路径存储至测试设备。并提前设置多个验证模组、以及每个验证模组的测试流程，并根据第二存储路径存储至测试设备。
测试流程可以为执行测试过程的逻辑代码。
例如，根据上述举例所示，确定第一功能模组包括功能模组B1、功能模组P2以及功能模组P3，确定目标验证模组为验证模组2。根据测试设备磁盘1中的文件夹A1，获取功能模组B1的测试流程、功能模组P2的测试流程以及功能模组P3的测试流程。根据测试设备磁盘1中的文件夹A2，获取验证模组2的验证流程。
S409、获取标准代码集合。
标准代码集合包括多个标准代码、以及每个标准代码对应的代码类型。
可以设置标准代码集合，并将标准代码集合存储至测试设备的预设存储空间中。
例如，标准代码集合具体可以如表7所示：
表7
标准代码 代码类型
标准代码1 类型A1
标准代码2 类型A2
标准代码3 类型B1
标准代码4 类型B2
标准代码5 类型B3
标准代码6 类型C
S410、根据每个第一功能模组对应的初始功能代码和标准代码集合，生成每个第一功能模组对应的目标功能代码。
针对任意一个第一功能模组，可以通过如下方式，生成每个第一功能模组对应的目标功能代码：确定初始功能代码的第一代码类型；根据第一功能类型，在标准代码集合中确定待选代码，待选代码的类型为第一代码类型；获取初始功能代码的第一标识；根据第一标识和待选代码，生成目标功能代码。
可以通过如下方式根据第一标识和待选代码，生成目标功能代码：获取待选代码对应的运行步骤，运行步骤包括多个字段；在多个字段中，将待选代码对应的标识更新为第一标识，并将更新后的待选代码确定为目标代码。
例如，针对上述表4所示的功能模组B1，确定功能模组B1对应的初始功能代码为功能代码S03。确定功能代码S03的第一代码类型为类型B2。在上述表7所示的标准代码集合中，确定标准代码4的代码类型为第一代码类型。因此，将标准代码4确定为待选代码。标准代码4的运行步骤具体可以如表8所示：
表8
字段1 Agent_time_A5401
字段2 Agent_bkjin_A5401
字段3 Agent_oiukim_A5401
获取功能代码S03的第一标识为Agent1。在表8所示的多个字段中，将待选代码对应的标识Agent更新为第一标识Agent1，将更新后的待选代码确定为目标代码。目标代码具体可以如表9所示：
表9
字段1 Agent1_time_A5401
字段2 Agent1_bkjin_A5401
字段3 Agent1_oiukim_A5401
S411、根据每个第一功能模组的测试流程、每个验证模组的验证流程以及每个第一功能模组对应的目标功能代码，生成目标测试环境。
例如，根据上述举例所示，确定第一功能模组包括功能模组B1、功能模组P2以及功能模组P3，确定目标验证模组为验证模组2。根据功能模组B1的测试流程、功能模组P2的测试流程以及功能模组P3的测试流程、验证模组2的验证流程以及功能模组B1对应的目标功能代码、功能模组P2对应的目标功能代码以及功能模组C1对应的目标功能代码，生成目标测试环境。目标测试环境用于对芯片2的播放功能、计时功能以及拍照功能进行测试。
本申请实施例提供的测试环境生成方法，获取测试环境生成请求。根据测试环境生成请求，确定在多个功能模组中确定至少一个第一功能模组。确定每个第一功能模组对应的初始功能代码。确定每个第一功能模组对应的至少一个协议。根据每个第一功能模组对应的至少一个协议，在至少一个第一功能模组中确定至少一个第二功能模组。在多个验证模组中确定至少一个第二功能模组对应的目标验证模组，得到至少一个目标验证模组。根据至少一个第一功能模组、至少一个目标验证模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成目标测试环境。在上述过程中，可以根据至少一个目标功能，确定至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码。并根据至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，自动生成模拟至少一个目标功能的目标测试环境，而不是人工手动在测试系统中设置对应的测试环境。提高了生成芯片的测试环境的准确性。
在上述任意一个实施例基础上，下面，结合图5，对测试环境生成方法的过程进行举例说明。
图5为本申请实施例提供的测试环境生成过程的示意图。请参见图5，包括测试设备501。测试设备501可以为电脑，测试设备501中设置有预设存储空间，预设存储空间中存储有多个验证流程、多个测试流程以及标准代码集合。测试设备501对应的测试系统为EDX和PXP的联合仿真系统。
用户在打开测试设备501中的应用程序之后，显示处理页面。用户在测试设备501的处理页面中选择至少一个目标功能。测试设备响应于用户的输入选中操作，生成测试环境生成请求。测试环境生成请求包括芯片3的访问内存功能和存储速度功能。测试设备501根据测试环境生成请求，确定在PXP仿真系统中的多个功能模组中确定至少一个第一功能模组包括播放功能对应的功能模组D1以及录像功能对应的功能模组D2。测试设备501确定每个第一功能模组对应的初始功能代码具体可以如表10所示：
表10
功能模组 初始功能代码
功能模组D1 功能代码S01
功能模组D2 功能代码S20
测试设备501确定每个第一功能模组对应的至少一个协议具体可以如表11所示：
表11
功能模组 协议
功能模组D1 协议1、协议4、协议7
功能模组D2 协议2、协议5
测试设备501确定协议1为预设协议。因此，确定功能模组A为第二功能模组。测试设备501在PXP仿真系统中的多个验证模组中确定功能模组D1对应的目标验证模组为验证模组5。测试设备501获取多个第一功能模组对应的第一存储路径为测试设备磁盘2中的文件夹A。获取至少一个目标验证模组对应的第二存储路径为测试设备磁盘2中的文件夹B。测试设备501根据第一存储路径，在预设存储空间中获取功能模组A的测试流程以及功能模组D2的测试流程。根据第二存储路径，在预设存储空间中获取验证模组5的验证流程。
测试设备501在预设存储空间中获取标准代码集合。并根据每个第一功能模组对应的初始功能代码和标准代码集合，生成每个第一功能模组对应的目标功能代码。每个第一功能模组对应的目标功能代码具体可以如表12所示：
表12
测试设备501根据功能模组D1的测试流程、功能模组D2的测试流程、验证模组5的验证流程、功能代码SA01以及功能代码SP20，生成模拟至少一个目标功能的目标测试环境。目标测试环境用于在PXP仿真系统中对芯片3的访问内存功能和存储速度功能进行测试。
本申请实施例提供的测试环境生成过程，获取测试环境生成请求。根据测试环境生成请求，确定在多个功能模组中确定至少一个第一功能模组。确定每个第一功能模组对应的初始功能代码。确定每个第一功能模组对应的至少一个协议。根据每个第一功能模组对应的至少一个协议，在至少一个第一功能模组中确定至少一个第二功能模组。在多个验证模组中确定至少一个第二功能模组对应的目标验证模组，得到至少一个目标验证模组。根据至少一个第一功能模组、至少一个目标验证模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成目标测试环境。在上述过程中，可以根据至少一个目标功能，确定至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码。并根据至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，自动生成模拟至少一个目标功能的目标测试环境，而不是人工手动在测试系统中设置对应的测试环境。提高了生成芯片的测试环境的准确性。
图6为本申请实施例提供的一种测试环境生成装置的结构示意图。请参见图6，该测试环境生成装置10可以包括：
获取模块11，用于获取测试环境生成请求，所述测试环境生成请求包括目标芯片的至少一个目标功能；
第一确定模块12，用于根据所述测试环境生成请求，确定在多个功能模组中确定至少一个第一功能模组，所述第一功能模组用于实现对应的目标功能；
第二确定模块13，用于确定每个第一功能模组对应的初始功能代码；
生成模块14，用于根据所述至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成模拟所述至少一个目标功能的目标测试环境，所述目标测试环境用于对所述至少一个目标功能进行测试。
在一种可能的实施方式中，所述生成模块14具体用于：
确定每个第一功能模组对应的至少一个协议；
根据每个第一功能模组对应的至少一个协议，在所述至少一个第一功能模组中确定至少一个第二功能模组；
在所述多个验证模组中确定所述至少一个第二功能模组对应的目标验证模组，得到至少一个目标验证模组；
根据所述至少一个第一功能模组、所述至少一个目标验证模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成所述目标测试环境。
在一种可能的实施方式中，所述生成模块14具体用于：
针对任意一个第一功能模组，若所述第一功能模组对应的至少一个协议中包括预设协议，则确定所述第一功能模组为所述第二功能模组。
在一种可能的实施方式中，所述生成模块14具体用于：
获取所述多个第一功能模组对应的第一存储路径、以及所述至少一个目标验证模组对应的第二存储路径；
根据所述第一存储路径，获取每个第一功能模组的测试流程、以及根据所述第二存储路径，获取所述每个验证模组的验证流程；
根据每个第一功能模组的测试流程、每个验证模组的验证流程以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成所述目标测试环境。
在一种可能的实施方式中，所述生成模块14具体用于：
获取标准代码集合，所述标准代码集合包括多个标准代码、以及每个标准代码对应的代码类型；
根据每个第一功能模组对应的初始功能代码和所述标准代码集合，生成每个第一功能模组对应的目标功能代码；
根据每个第一功能模组的测试流程、每个验证模组的验证流程以及每个第一功能模组对应的目标功能代码，生成所述目标测试环境。
在一种可能的实施方式中，所述生成模块14具体用于：
确定所述初始功能代码的第一代码类型；
根据所述第一代码类型，在所述标准代码集合中确定待选代码，所述待选代码的类型为所述第一代码类型；
获取所述初始功能代码的第一标识；
根据所述第一标识和所述待选代码，生成所述目标功能代码。
在一种可能的实施方式中，所述生成模块14具体用于：
获取所述待选代码对应的运行步骤，所述运行步骤包括多个字段；
在所述多个字段中，将所述待选代码对应的标识更新为所述第一标识，并将更新后的待选代码确定为所述目标代码。
本申请实施例提供的测试环境生成装置可以执行上述方法实施例所示的技术方案，其实现原理以及有益效果类似，此处不再进行赘述。
图7为本申请实施例提供的测试设备的结构示意图。请参见图7，该测试设备20可以包括：存储器21、处理器22。示例性地，存储器21、处理器22，各部分之间通过总线23相互连接。
存储器21用于存储程序指令；
处理器22用于执行该存储器所存储的程序指令，用以使得测试设备20执行上述方法实施例所示的方法。
本申请实施例提供的测试设备可以执行上述方法实施例所示的技术方案，其实现原理以及有益效果类似，此处不再进行赘述。
本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，当所述计算机执行指令被处理器执行时用于实现上述方法。
本申请实施例还可提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可实现上述方法。
实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成。前述的程序可以存储于一可读取存储器中。该程序在执行时，执行包括上述各方法实施例的步骤；而前述的存储器(存储介质)包括：只读存储器(read-only memory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、快闪存储器、硬盘、固态硬盘、磁带(magnetictape)、软盘(floppy disk)、光盘(optical disc)及其任意组合。
本申请实施例是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理单元以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理单元执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
显然，本领域的技术人员可以对本申请实施例进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请实施例的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。
在本申请中，术语“包括”及其变形可以指非限制性的包括；术语“或”及其变形可以指“和/或”。本申请中术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。本申请中，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

Claims (11)

1.一种测试环境生成方法，其特征在于，应用于测试设备中，所述测试设备中包括多个功能模组和多个验证模组，所述方法包括：
获取测试环境生成请求，所述测试环境生成请求包括目标芯片的至少一个目标功能；
根据所述测试环境生成请求，确定在所述多个功能模组中确定至少一个第一功能模组，所述第一功能模组用于实现对应的目标功能；
确定每个第一功能模组对应的初始功能代码；
根据所述至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成模拟所述至少一个目标功能的目标测试环境，所述目标测试环境用于对所述至少一个目标功能进行测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述多个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成模拟所述至少一个目标功能的目标测试环境，包括：
确定每个第一功能模组对应的至少一个协议；
根据每个第一功能模组对应的至少一个协议，在所述至少一个第一功能模组中确定至少一个第二功能模组；
在所述多个验证模组中确定所述至少一个第二功能模组对应的目标验证模组，得到至少一个目标验证模组；
根据所述至少一个第一功能模组、所述至少一个目标验证模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成所述目标测试环境。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据每个第一功能模组对应的至少一个协议，在所述至少一个第一功能模组中确定至少一个第二功能模组，包括：
针对任意一个第一功能模组，若所述第一功能模组对应的至少一个协议中包括预设协议，则确定所述第一功能模组为所述第二功能模组。
4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，根据所述至少一个第一功能模组、所述至少一个目标验证模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成所述目标测试环境，包括：
获取所述多个第一功能模组对应的第一存储路径、以及所述至少一个目标验证模组对应的第二存储路径；
根据所述第一存储路径，获取每个第一功能模组的测试流程、以及根据所述第二存储路径，获取所述每个验证模组的验证流程；
根据每个第一功能模组的测试流程、每个验证模组的验证流程以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成所述目标测试环境。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据每个第一功能模组的测试流程、每个验证模组的验证流程以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成所述目标测试环境，包括：
获取标准代码集合，所述标准代码集合包括多个标准代码、以及每个标准代码对应的代码类型；
根据每个第一功能模组对应的初始功能代码和所述标准代码集合，生成每个第一功能模组对应的目标功能代码；
根据每个第一功能模组的测试流程、每个验证模组的验证流程以及每个第一功能模组对应的目标功能代码，生成所述目标测试环境。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，针对任意一个第一功能模组；根据所述第一功能模组对应的初始功能代码和所述标准代码集合，生成所述第一功能模组对应的目标功能代码，包括：
确定所述初始功能代码的第一代码类型；
根据所述第一代码类型，在所述标准代码集合中确定待选代码，所述待选代码的类型为所述第一代码类型；
获取所述初始功能代码的第一标识；
根据所述第一标识和所述待选代码，生成所述目标功能代码。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，根据所述第一标识和所述待选代码，生成所述目标代码，包括：
获取所述待选代码对应的运行步骤，所述运行步骤包括多个字段；
在所述多个字段中，将所述待选代码对应的标识更新为所述第一标识，并将更新后的待选代码确定为所述目标代码。
8.一种测试环境生成装置，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于获取测试环境生成请求，所述测试环境生成请求包括目标芯片的至少一个目标功能；
第一确定模块，用于根据所述测试环境生成请求，确定在多个功能模组中确定至少一个第一功能模组，所述第一功能模组用于实现对应的目标功能；
第二确定模块，用于确定每个第一功能模组对应的初始功能代码；
生成模块，用于根据所述至少一个第一功能模组以及每个第一功能模组对应的初始功能代码，生成模拟所述至少一个目标功能的目标测试环境，所述目标测试环境用于对所述至少一个目标功能进行测试。
9.一种测试设备，其特征在于，包括：
至少一个处理器；以及
与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1至7中任一项所述的方法。
10.一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其特征在于，其中，所述计算机指令用于使计算机执行根据权利要求1至7中任一项所述的方法。
11.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法。
CN202311507399.8A 2023-11-13 2023-11-13 测试环境生成方法、装置及测试设备 Pending CN117554791A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311507399.8A CN117554791A (zh) 2023-11-13 2023-11-13 测试环境生成方法、装置及测试设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311507399.8A CN117554791A (zh) 2023-11-13 2023-11-13 测试环境生成方法、装置及测试设备

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN117554791A true CN117554791A (zh) 2024-02-13

Family

ID=89815907

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202311507399.8A Pending CN117554791A (zh) 2023-11-13 2023-11-13 测试环境生成方法、装置及测试设备

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN117554791A (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111062580B (zh) 一种工作人员与目标项目的匹配方法及电子设备
CN108984389B (zh) 一种应用程序测试方法及终端设备
CN107659455B (zh) 一种iOS端Mock数据的方法、存储介质、设备及系统
CN111159049A (zh) 接口自动化测试方法及系统
CN109376088B (zh) 一种自动化测试系统及自动化测试方法
CN109359045B (zh) 一种测试方法、装置、设备和存储介质
CN110320378B (zh) 质控测试申请方法、装置、设备及计算机可读存储介质
CN110261758B (zh) 待测器件验证装置及相关产品
CN117554791A (zh) 测试环境生成方法、装置及测试设备
CN111782507A (zh) 数据测试方法、装置、存储介质及电子设备
CN109388564B (zh) 一种测试方法、装置及电子设备
CN109815083B (zh) 一种应用崩溃的监控方法、装置、电子设备及介质
CN112052157A (zh) 测试报文的构造方法、装置及系统
CN115757165A (zh) 自动化测试方法、装置、设备及存储介质
CN107229650B (zh) 测试方法及装置
KR101987110B1 (ko) 전자장비 입출력신호 및 ｓｗ 성능 시험 장치 및 방법
CN106682249B (zh) 模型无关的通用发布/订阅接口测试系统及方法
US20160132424A1 (en) Simulating sensors
CN109446091B (zh) 业务实体对象测试方法及装置
CN113779918A (zh) SoC仿真方法、装置、计算设备和计算机存储介质
CN105930260A (zh) 一种系统可用性测试方法及装置
CN111400181A (zh) 对象测试方法、装置和服务器
CN108628750B (zh) 一种测试代码处理方法及装置
CN116610557B (zh) 动作绑定信息排错方法、装置、存储介质及电子设备
CN117648263B (zh) 待测设计的测试方法、装置、电子设备和存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination