CN117521819A - 量子比特异常的测试方法及装置、量子计算机 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种量子比特异常的测试方法及装置、量子计算机，所述测试方法包括对所述第一量子比特以及所述第二量子比特执行第一实验，其中，所述第一实验的实验结果包括CZ门的展宽参数与幅值参数间的实际调制关系；最后基于所述实际调制关系判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响。本申请的提出的方案利用对两比特系统施加CZ门，然后通过CZ门的展宽参数与幅值参数间的实际调制关系可以直接判断出量子比特是否发生了串扰或畸变，除此之外，本申请的方案还可以对一些用于消除串扰或畸变影响的方案做效果检测。
Description
技术领域
本发明涉及量子计算技术领域，尤其是涉及一种量子比特异常的测试方法及装置、量子计算机。
背景技术
量子计算与量子信息是一门基于量子力学的原理来实现计算与信息处理任务的交叉学科，与量子物理、计算机科学、信息学等学科有着十分紧密的联系。在最近二十年有着快速的发展。因数分解、无结构搜索等场景的基于量子计算机的量子算法展现出了远超越现有基于经典计算机的算法的表现，也使这一方向被寄予了超越现有计算能力的期望。由于量子计算在解决特定问题上具有远超经典计算机性能的发展潜力，而为了实现量子计算机，需要获得一块包含有足够数量与足够质量量子比特的量子芯片，并且能够对量子比特进行极高保真度的量子逻辑门操作与读取。量子芯片之于量子计算机就相当于CPU之于传统计算机，量子芯片是量子计算机的核心部件，量子芯片就是执行量子计算的处理器。
量子芯片中的量子比特之间存在串扰影响，在对量子芯片上某个量子比特进行调控时，不仅会影响到被调控量子比特自身，还能影响到其它量子比特。例如，对量子芯片中某个量子比特的AC信号线施加一个AC信号时，除了影响该量子比特频率外，还会导致附近量子比特的频率产生变化，这种现象称为串扰。除此之外，对一个量子比特而言，Z线路的主要作用是往量子芯片上施加电压波形，从而调控比特频率，进而可以实现两量子比特逻辑门，Z线路上常见的元器件有Bias Tee(偏置器)、RC滤波器、衰减器等等，这些元器件的存在使得传输线路不是一个理想的线路，也就是说电压信号从AWG(任意波形发生器，ArbitraryWaveform Generator)输出端口输出，在到达芯片的时候，此时的电压信号已经发生了一些畸变，波形畸变的示例如图1所示，在t0时刻往Z线路上施加了一个幅值为A，时间为T的电压波形，在t0+T时刻波形结束，但是之后的一段时间内，Z线路上仍然有电压存在，这就是波形畸变。畸变带来的影响就是，如果在执行量子算法的时候，需要前后对量子比特Z线路施加一个波形，那么前面波形的畸变效应就会影响到后者，进而使得后一个波形的操控精度下降；如果我们跳过畸变效应的时间，让前后两个Z线路的波形间隔足够长的时间，但这样就会造成量子比特时间资源的浪费，影响量子线路的门深度。
因此，提出一种可以判别量子比特是否受到串扰或畸变影响的方案日益成为本领域亟待解决的问题。
需要说明的是，公开于本申请背景技术部分的信息仅仅旨在加深对本申请一般背景技术的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。
发明内容
本发明的目的在于提供一种量子比特异常的测试方法及装置、量子计算机，用于判别量子比特是否受到串扰或畸变影响。
为了解决以上技术问题，本发明提出一种量子比特异常的测试方法，包括：
提供第一量子比特以及第二量子比特；
对所述第一量子比特以及所述第二量子比特执行第一实验，其中，所述第一实验的实验结果包括CZ门的展宽参数与幅值参数间的实际调制关系；
基于所述实际调制关系判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响。
可选地，所述第一实验包括：
将所述第一量子比特以及所述第二量子比特制备到|1>态，并对所述第一量子比特施加所述CZ门；
获取所述第二量子比特的处于|0>态或|1>态概率随时间的变化情况；
基于所述变化情况获取所述CZ门此时遍历的幅值参数对应的展宽参数；
判断所述幅值参数在第一范围内是否均已遍历，所述第一范围为预先配置；
若否，则更新在所述第一范围内更新所述幅值参数，并返回执行所述将所述第一量子比特以及所述第二量子比特制备到|1>态，并对所述第一量子比特施加所述CZ门；
若是，则基于获取到的幅值参数以及对应的展宽参数确定所述实际调制关系。
可选地，所述基于所述变化情况获取所述CZ门此时遍历的幅值参数对应的展宽参数，包括：
依次基于所述变化情况的每个峰和每个谷获取对应的展宽参数，其中，所述变化情况为一条振荡曲线；
将每组数据按照峰和谷的次序存储，相同次序的峰或谷的数据在坐标系中构成一条曲线，其中，所述每组数据包括幅值参数以及对应的展宽参数，所述坐标包括以所述幅值参数为横坐标以及以所述展宽参数为纵坐标。
可选地，所述基于所述实际调制关系判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响，包括：
获取每条曲线的极值点；
基于所有的极值点判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响。
可选地，所述基于所有的极值点判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响，包括：
基于所述极值点获取对应的若干个幅值参数；
基于所述若干个幅值参数的数值变化判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响。
可选地，所述基于所述若干个幅值参数的数值变化判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响，包括：
获取所述若干个幅值参数的方差；
判断所述方差是否大于预先配置的第一阈值；
若是，则判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特存在串扰或畸变影响；
若否，则判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特不存在串扰或畸变影响。
可选地，所述第一实验还包括：
在所述第一范围内按照第一步长的间隔依次遍历所述幅值参数，所述第一步长为预先配置。
可选地，所述基于所述变化情况获取所述CZ门此时遍历的幅值参数对应的展宽参数，包括：
在所述变化情况中获取所述第二量子比特的处于|0>态或|1>态概率的两个相邻极值点的时间间隔；
所述时间间隔为此时所述幅值参数对应的展宽参数。
可选地，所述第一量子比特的工作频率比所述第二量子比特的频率大。
基于同一发明构思，本发明还提出一种量子比特异常的测试装置，包括：
量子芯片，包括第一量子比特以及第二量子比特；
第一实验执行单元，其被配置为对所述第一量子比特以及所述第二量子比特执行第一实验，其中，所述第一实验的实验结果包括CZ门的展宽参数与幅值参数间的实际调制关系；
判别单元，其被配置为基于所述实际调制关系判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响。
基于同一发明构思，本发明还提出一种量子控制系统，利用上述特征描述中任一项所述的量子比特异常的测试方法对量子比特进行判断，或包括上述特征描述所述的量子比特异常的测试装置。
基于同一发明构思，本发明还提出一种量子计算机，包括上述特征描述所述的量子控制系统。
基于同一发明构思，本发明还提出一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被一处理器执行时能实现上述特征描述中任一项所述的量子比特异常的测试方法。
与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：
本发明提出的量子比特异常的测试方法，对所述第一量子比特以及所述第二量子比特执行第一实验，其中，所述第一实验的实验结果包括CZ门的展宽参数与幅值参数间的实际调制关系；最后基于所述实际调制关系判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响。本申请的提出的方案利用对两比特系统施加CZ门，然后通过CZ门的展宽参数与幅值参数间的实际调制关系可以直接判断出量子比特是否发生了串扰或畸变，除此之外，本申请的方案还可以对一些用于消除串扰或畸变影响的方案做效果检测。
本发明提出的一种量子比特异常的测试装置、量子控制系统、量子计算机、可读存储介质，与所述量子比特异常的测试方法属于同一发明构思，因此具有相同的有益效果，在此不做赘述。
附图说明
图1为波形畸变的示意图；
图2为本发明实施例提出的一种量子比特异常的测试方法的流程示意图；
图3为所述变化情况的实验结果图；
图4为所述第一实验的实验结果图；
图5为本发明实施例提出的一种一种量子比特异常的测试装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合示意图对本发明的具体实施方式进行更详细的描述。根据下列描述和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或者位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
请参考图2，本申请实施例提出了一种量子比特异常的测试方法，包括：
S10：提供第一量子比特以及第二量子比特；
S20：对所述第一量子比特以及所述第二量子比特执行第一实验，其中，所述第一实验的实验结果包括CZ门的展宽参数与幅值参数间的实际调制关系；
S30：基于所述实际调制关系判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响。
与现有技术不同之处在于，本发明提出的量子比特异常的测试方法，对所述第一量子比特以及所述第二量子比特执行第一实验，其中，所述第一实验的实验结果包括CZ门的展宽参数与幅值参数间的实际调制关系；最后基于所述实际调制关系判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响。本申请的提出的方案利用对两比特系统施加CZ门，然后通过CZ门的展宽参数与幅值参数间的实际调制关系可以直接判断出量子比特是否发生了串扰或畸变，除此之外，本申请的方案还可以对一些用于消除串扰或畸变影响的方案做效果检测。
本领域技术人员可以理解的是，对于一个脉冲信号而言，如从零时刻开始，一个电压上升沿信号经过时间T，接着是下降沿，那么这个脉冲信号的展宽是T，在本申请中所述展宽参数指的是展宽T。需要注意的是，在本发明实施例中，所述第一量子比特的工作频率可以设置为比所述第二量子比特的频率大。
在本实施例中，所述第一实验具体包括：
将所述第一量子比特以及所述第二量子比特制备到|1>态，并对所述第一量子比特施加所述CZ门；
获取所述第二量子比特的处于|0>态或|1>态概率随时间的变化情况；
基于所述变化情况获取所述CZ门此时遍历的幅值参数对应的展宽参数；
判断所述幅值参数在第一范围内是否均已遍历，所述第一范围为预先配置；
若否，则更新在所述第一范围内更新所述幅值参数，并返回执行所述将所述第一量子比特以及所述第二量子比特制备到|1>态，并对所述第一量子比特施加所述CZ门；
若是，则基于获取到的幅值参数以及对应的展宽参数确定所述实际调制关系。
所述第一实验还包括：
在所述第一范围内按照第一步长的间隔依次遍历所述幅值参数，所述第一步长为预先配置。
请参考图3，图3反映的是在某个实施例下，在将所述第一量子比特以及所述第二量子比特制备到|1>态，并对所述第一量子比特施加所述CZ门后，获取到的所述第二量子比特处于|0>态或|1>态概率随时间的变化情况。
在本实施例中，所述基于所述变化情况获取所述CZ门此时遍历的幅值参数对应的展宽参数，具体包括：
依次基于所述变化情况的每个峰和每个谷获取对应的展宽参数，其中，所述变化情况为一条振荡曲线；
将每组数据按照峰和谷的次序存储，相同次序的峰或谷的数据在坐标系中构成一条曲线，其中，所述每组数据包括幅值参数以及对应的展宽参数，所述坐标包括以所述幅值参数为横坐标以及以所述展宽参数为纵坐标。
在本实施例中，所述基于所述变化情况获取所述CZ门此时遍历的幅值参数对应的展宽参数，具体包括：
在所述变化情况中获取所述第二量子比特的处于|0>态或|1>态概率的两个相邻极值点的时间间隔；
所述时间间隔为此时所述幅值参数对应的展宽参数。
为了便于理解本申请，以下以图3为例对本申请的技术方案进行简要阐述，首先在执行完所述第一实验后，我们会获取很多与图3类似的实验结果图，每遍历一个所述幅值参数就会对应地得到一个反映所述第二量子比特处于|0>态或|1>态概率随时间的变化情况的实验结果图。对于|0>态的变化情况，其第一个峰出现在20ns附近，其第二个峰出现在75ns附近，基于第一个峰与第二个峰的时间间隔可以获取第一个峰对应的展宽参数大约为55ns，其第三峰出现在120ns左右，基于第二峰与第三个峰的时间间隔可以获取第二个峰对应的展宽参数大约为45ns，依次类推，可以获取若干个组展宽参数，对于其它的实验结果图同样会获取若干个组展宽参数。对这些组展宽参数进行分组处理，以展宽参数的来源为依据，也即所有实验结果图中|0>态的第一个峰获取的展宽参数为一组(假设该组数据为a)，|0>态的第一个谷获取的展宽参数为一组(假设该组数据为b)，|0>态第二个峰获取的展宽参数为一组(假设该组数据为c)，|0>态的第二个谷获取的展宽参数为一组(假设该组数据为d)，|0>态第三个峰获取的展宽参数为一组(假设该组数据为e)，|0>态的第三个谷获取的展宽参数为一组(假设该组数据为f)...，|1>态的第一个峰获取的展宽参数为一组(假设该组数据为g)，|1>态的第一个谷获取的展宽参数为一组(假设该组数据为h)，|1>态的第二个峰获取的展宽参数为一组(假设该组数据为i)，|1>态的第二个谷获取的展宽参数为一组(假设该组数据为j)...。结合图4，为了便于理解，可以认为对数据a拟合出来的结果就是曲线A，曲线A中各个点就是数据a，对数据b拟合出来的结果就是曲线B，对数据c拟合出来的结果就是曲线C...。本领域技术人员可以理解的是，在实际应用时，实际拟合的结果可能与图4中的有不同之处，具体可表现为拟合出来的曲线数量不同，具体需要拟合多少数量的曲线可根据实际需要来选择，需要越多的曲线，我们需要获取的数据量(也即前述的数据a、b、c、d...等)就越大，在此不做限制。
进一步地，所述基于所述实际调制关系判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响，包括：
获取每条曲线的极值点；
基于所有的极值点判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响。
请参考图4中每条曲线中标注的三角形标识，三角形标识处就是各个曲线的极值点处，可以明显看出从曲线A到曲线H各个极值点对应的幅值并不完全相同，申请人发现这是由于存在畸变以及串扰导致的，因此，我们可通过对比每条曲线极值点来判断是否存在畸变以及串扰。
具体地，所述基于所有的极值点判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响，包括：
基于所述极值点获取对应的若干个幅值参数；
基于所述若干个幅值参数的数值变化判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响。
进一步地，所述基于所述若干个幅值参数的数值变化判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响，包括：
获取所述若干个幅值参数的方差；
判断所述方差是否大于预先配置的第一阈值；
若是，则判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特存在串扰或畸变影响；
若否，则判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特不存在串扰或畸变影响。
方差可以反映这些幅值参数的变化情况，通过获取这些幅值参数的方差可以对畸变以及串扰进行量化处理，例如，我们可以预设在某个设定范围内的方差对应的畸变或串扰是能容忍的，超出设定的范围的方差则定义为不能容忍的畸变或串扰，可以更加直观的观测量子芯片中的串扰以及畸变。
请参考图5，基于同一发明构思，本申请实施例还提出一种量子比特异常的测试装置，包括：
量子芯片100，包括第一量子比特以及第二量子比特；
第一实验执行单元200，其被配置为对所述第一量子比特以及所述第二量子比特执行第一实验，其中，所述第一实验的实验结果包括CZ门的展宽参数与幅值参数间的实际调制关系；
判别单元300，其被配置为基于所述实际调制关系判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响。
可以理解的是，所述量子芯片100、所述第一实验执行单元200以及所述判别单元300可以合并在一个装置中实现，或者其中的任意一个模块可以被拆分成多个子模块，或者，所述量子芯片100、所述第一实验执行单元200以及所述判别单元300中的一个或多个模块的至少部分功能可以与其他模块的至少部分功能相结合，并在一个功能模块中实现。根据本发明的实施例，所述量子芯片100、所述第一实验执行单元200以及所述判别单元300中的至少一个可以至少被部分地实现为硬件电路，例如现场可编程门阵列(FPGA)、可编程逻辑阵列(PLA)、片上系统、基板上的系统、封装上的系统、专用集成电路(ASIC)，或可以以对电路进行集成或封装的任何其他的合理方式等硬件或固件来实现，或以软件、硬件以及固件三种实现方式的适当组合来实现。或者，所述量子芯片100、所述第一实验执行单元200以及所述判别单元300中的至少一个可以至少被部分地实现为计算机程序模块，当该程序被计算机运行时，可以执行相应模块的功能。
基于同一发明构思，本申请实施例还提出一种量子控制系统，利用上述特征描述中任一项所述的量子比特异常的测试方法对量子比特进行判断，或包括上述特征描述中所述的量子比特异常的测试装置。
基于同一发明构思，本申请实施例还提出一种量子计算机，包括上述特征描述中所述的量子控制系统。
基于同一发明构思，本申请实施例还提出一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被一处理器执行时能实现上述特征描述中任一项所述的量子比特异常的测试方法。
所述可读存储介质可以是可以保持和存储由指令执行设备使用的指令的有形设备，例如可以是但不限于电存储设备、磁存储设备、光存储设备、电磁存储设备、半导体存储设备或者上述的任意合适的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、静态随机存取存储器(SRAM)、便携式压缩盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能盘(DVD)、记忆棒、软盘、机械编码设备、例如其上存储有指令的打孔卡或凹槽内凸起结构、以及上述的任意合适的组合。这里所描述的计算机程序可以从可读存储介质下载到各个计算/处理设备，或者通过网络、例如因特网、局域网、广域网和/或无线网下载到外部计算机或外部存储设备。网络可以包括铜传输电缆、光纤传输、无线传输、路由器、防火墙、交换机、网关计算机和/或边缘服务器。每个计算/处理设备中的网络适配卡或者网络接口从网络接收所述计算机程序，并转发该计算机程序，以供存储在各个计算/处理设备中的可读存储介质中。用于执行本发明操作的计算机程序可以是汇编指令、指令集架构(ISA)指令、机器指令、机器相关指令、微代码、固件指令、状态设置数据、或者以一种或多种编程语言的任意组合编写的源代码或目标代码，所述编程语言包括面向对象的编程语言—诸如Smalltalk、C++等，以及常规的过程式编程语言—诸如“C”语言或类似的编程语言。所述计算机程序可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络，包括局域网(LAN)或广域网(WAN)，连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。在一些实施例中，通过利用计算机程序的状态信息来个性化定制电子电路，例如可编程逻辑电路、现场可编程门阵列(FPGA)或可编程逻辑阵列(PLA)，该电子电路可以执行计算机可读程序指令，从而实现本发明的各个方面。
这里参照根据本发明实施例的方法、系统和计算机程序产品的流程图和/或框图描述了本发明的各个方面。应当理解，流程图和/或框图的每个方框以及流程图和/或框图中各方框的组合，都可以由计算机程序实现。这些计算机程序可以提供给通用计算机、专用计算机或其它可编程数据处理装置的处理器，从而生产出一种机器，使得这些程序在通过计算机或其它可编程数据处理装置的处理器执行时，产生了实现流程图和/或框图中的一个或多个方框中规定的功能/动作的装置。也可以把这些计算机程序存储在可读存储介质中，这些计算机程序使得计算机、可编程数据处理装置和/或其他设备以特定方式工作，从而，存储有该计算机程序的可读存储介质则包括一个制造品，其包括实现流程图和/或框图中的一个或多个方框中规定的功能/动作的各个方面的指令。
也可以把计算机程序加载到计算机、其它可编程数据处理装置、或其它设备上，使得在计算机、其它可编程数据处理装置或其它设备上执行一系列操作步骤，以产生计算机实现的过程，从而使得在计算机、其它可编程数据处理装置、或其它设备上执行的计算机程序实现流程图和/或框图中的一个或多个方框中规定的功能/动作。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”或“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例中以合适的方式结合。此外，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例进行接合和组合。
上述仅为本发明的优选实施例而已，并不对本发明起到任何限制作用。任何所属技术领域的技术人员，在不脱离本发明的技术方案的范围内，对本发明揭露的技术方案和技术内容做任何形式的等同替换或修改等变动，均属未脱离本发明的技术方案的内容，仍属于本发明的保护范围之内。
Claims (13)
1.一种量子比特异常的测试方法，其特征在于，包括：
提供第一量子比特以及第二量子比特；
对所述第一量子比特以及所述第二量子比特执行第一实验，其中，所述第一实验的实验结果包括CZ门的展宽参数与幅值参数间的实际调制关系；
基于所述实际调制关系判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响。
2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述第一实验包括：
将所述第一量子比特以及所述第二量子比特制备到|1>态，并对所述第一量子比特施加所述CZ门；
获取所述第二量子比特的处于|0>态或|1>态概率随时间的变化情况；
基于所述变化情况获取所述CZ门此时遍历的幅值参数对应的展宽参数；
判断所述幅值参数在第一范围内是否均已遍历，所述第一范围为预先配置；
若否，则更新在所述第一范围内更新所述幅值参数，并返回执行所述将所述第一量子比特以及所述第二量子比特制备到|1>态，并对所述第一量子比特施加所述CZ门；
若是，则基于获取到的幅值参数以及对应的展宽参数确定所述实际调制关系。
3.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述变化情况获取所述CZ门此时遍历的幅值参数对应的展宽参数，包括：
依次基于所述变化情况的每个峰和每个谷获取对应的展宽参数，其中，所述变化情况为一条振荡曲线；
将每组数据按照峰和谷的次序存储，相同次序的峰或谷的数据在坐标系中构成一条曲线，其中，所述每组数据包括幅值参数以及对应的展宽参数，所述坐标包括以所述幅值参数为横坐标以及以所述展宽参数为纵坐标。
4.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述实际调制关系判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响，包括：
获取每条曲线的极值点；
基于所有的极值点判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响。
5.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述基于所有的极值点判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响，包括：
基于所述极值点获取对应的若干个幅值参数；
基于所述若干个幅值参数的数值变化判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响。
6.如权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述若干个幅值参数的数值变化判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响，包括：
获取所述若干个幅值参数的方差；
判断所述方差是否大于预先配置的第一阈值；
若是，则判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特存在串扰或畸变影响；
若否，则判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特不存在串扰或畸变影响。
7.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述第一实验还包括：
在所述第一范围内按照第一步长的间隔依次遍历所述幅值参数，所述第一步长为预先配置。
8.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述变化情况获取所述CZ门此时遍历的幅值参数对应的展宽参数，包括：
在所述变化情况中获取所述第二量子比特的处于|0>态或|1>态概率的两个相邻极值点的时间间隔；
所述时间间隔为此时所述幅值参数对应的展宽参数。
9.如权利要求1-8中任一项所述的测试方法，其特征在于，所述第一量子比特的工作频率比所述第二量子比特的频率大。
10.一种量子比特异常的测试装置，其特征在于，包括：
量子芯片，包括第一量子比特以及第二量子比特；
第一实验执行单元，其被配置为对所述第一量子比特以及所述第二量子比特执行第一实验，其中，所述第一实验的实验结果包括CZ门的展宽参数与幅值参数间的实际调制关系；
判别单元，其被配置为基于所述实际调制关系判断所述第一量子比特以及所述第二量子比特是否存在串扰或畸变影响。
11.一种量子控制系统，其特征在于，利用如权利要求1-9中任一项所述的量子比特异常的测试方法对量子比特进行判断，或包括权利要求10所述的量子比特异常的测试装置。
12.一种量子计算机，其特征在于，包括如权利要求11所述的量子控制系统。
13.一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被一处理器执行时能实现权利要求1至9中任一项所述的量子比特异常的测试方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN202210897993.1A CN117521819A (zh) | 2022-07-28 | 2022-07-28 | 量子比特异常的测试方法及装置、量子计算机 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Family Applications (1)
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