CN117459888B - 一种数字发声芯片的一致性检测方法、装置以及系统 - Google Patents

一种数字发声芯片的一致性检测方法、装置以及系统 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种数字发声芯片的一致性检测方法、装置以及系统,涉及数字发声芯片成品检测技术领域,以提供一种能够对数字发声芯片中各个发声单元振动一致性进行检测的技术方案。所述数字发声芯片的一致性检测方法包括以下步骤:按照预设规律对多个阵列排布的发声单元进行遍历,以获取多个所述发声单元的声压信号以及位移信号;根据多个所述发声单元的声压信号以及位移信号,确定每个所述发声单元的一致性差异;根据每个所述发声单元的一致性差异,确定对应所述发声单元的补偿系数。

Description

一种数字发声芯片的一致性检测方法、装置以及系统
技术领域
本发明涉及数字发声芯片成品检测技术领域,尤其涉及一种数字发声芯片的一致性检测方法、装置以及系统。
背景技术
数字发声芯片由多个发声单元阵列组成,生产时多种因素均会导致发声单元振动并不一致。因此需要精确测量各个发声单元振动的一致性,以确保最终数字发声芯片成品的音质不发生劣化。
目前的检测方法局限于模拟扬声器,无法检测数字发声芯片的一致性。
发明内容
本发明的目的在于提供一种数字发声芯片的一致性检测方法、装置以及系统,以提供一种能够对数字发声芯片中各个发声单元振动一致性进行检测的技术方案。
基于此,第一方面,本发明公开了一种数字发声芯片的一致性检测方法,所述数字发声芯片包括多个发声单元,所述数字发声芯片的一致性检测方法包括以下步骤:
按照预设规律对多个阵列排布的发声单元进行遍历,以获取多个所述发声单元的声压信号以及位移信号;
根据多个所述发声单元的声压信号以及位移信号,确定每个所述发声单元的一致性差异;
根据每个所述发声单元的一致性差异,确定对应所述发声单元的补偿系数。
在采用上述技术方案的情况下,本发明中的数字发声芯片的一致性检测方法可以实现对数字芯片中的发声单元进行遍历,以采集数字发声芯片中发声单元的声压信号以及位移信号,以提高检测效率。进一步的,数字发声芯片的一致性检测方法用于根据采集到的发声单元的声压信号以及位移信号,确定每个所述发声单元的一致性差异,并根据所述的一致性差异,对相应所述发声单元分配补偿系数,从而实现数字发声芯片的一致性检测,且本发明的数字发声芯片的一致性检测方法具有较高的检测效率。
进一步的,所述多个发声单元按照行列矩阵排列;
所述按照预设规律对多个阵列排布的发声单元进行遍历,以获取多个所述发声单元的声压信号以及位移信号包括:
从所述数字发声芯片的第一行开始,逐个对发声单元进行遍历,以获取所述第一行中每个发声单元的声压信号以及位移信号;
完成所述第一行的遍历后,移至所述数字发声芯片的下一行中的第一个发声单元,如此循环直至获取所述数字发声芯片的所有发声单元的声压信号以及位移信号。
进一步的,所述按照预设规律对多个阵列排布的发声单元进行遍历,以获取多个所述发声单元的声压信号以及位移信号前,所述数字发声芯片的一致性检测方法还包括:
确定所述数字发声芯片中每个发声单元的工作状态满足预设工作状态。
进一步的,根据多个所述发声单元的声压信号以及位移信号,确定每个所述发声单元的一致性差异包括:
根据多个所述发声单元的声压信号以及位移信号,确定所述发声单元的声压信号均值,以及位移信号均值;
根据每个所述发声单元的声压信号以及所述声压信号均值,确定每个发声单元的声压信号的一致性差异;
根据每个所述发声单元的位移信号以及所述位移信号均值,确定每个发声单元的位移信号的一致性差异。
进一步的,根据每个所述发声单元的一致性差异,确定对应所述发声单元的补偿系数包括:
根据所述每个发声单元的声压信号的一致性差异,以及所述每个发声单元的位移信号的一致性差异,以及预设的比例系数,确定对应发声单元的综合一致性差异;
根据所述发声单元的综合一致性差异,确定对应所述发声单元的补偿系数,以使对应所述发声单元的综合一致性差异,与其他发声单元之间的综合一致性差异之间保持一致。
第二方面,本发明提供了一种数字发声芯片的一致性检测装置,所述数字发声芯片的一致性检测装置包括:
获取模块,用于按照预设规律对多个阵列排布的发声单元进行遍历,以获取多个所述发声单元的声压信号以及位移信号;
一致性差异确定模块,用于根据多个所述发声单元的声压信号以及位移信号,确定每个所述发声单元的一致性差异;
补偿系数确定模块,用于根据每个所述发声单元的一致性差异,确定对应所述发声单元的补偿系数。
第三方面,本发明提供了一种数字发声芯片的一致性检测系统,所述数字发声芯片的一致性检测系统包括:移动机构、信号采集组件以及第二方面所述的数字发声芯片的一致性检测装置,所述数字发声芯片的一致性检测装置与所述移动机构以及所述信号采集组件通信连接;
所述移动机构用于固定所述数字发声芯片,并在所述数字发声芯片的一致性检测装置的控制下,驱动所述数字发声芯片移动,以使所述数字发声芯片移动到预设测试位置;
所述信号采集组件设置在所述数字发声芯片的测试侧,用于在所述数字发声芯片的一致性检测装置的控制下,移动至所述数字发声芯片中待测发声单元的上方,所述移动机构还用于在所述数字发声芯片的一致性检测装置的控制下按照预设规则移动所述数字发声芯片,以使所述信号采集组件对所述数字发声芯片中的发声单元进行遍历,采集所述数字发声芯片中各个发声单元的声压信号以及位移信号,并将所述数字发声芯片中各个发声单元的声压信号以及位移信号传输至所述数字发声芯片的一致性检测装置;
所述数字发声芯片的一致性检测装置用于根据所述信号采集组件采集到的发声单元的声压信号以及位移信号,确定每个所述发声单元的一致性差异,并根据所述的一致性差异,对相应所述发声单元分配补偿系数;
进一步的,所述数字发声芯片的一致性检测系统还包括滑动组件以及支撑组件;所述支撑组件包括底座以及设置在底座上的支撑结构;所述移动机构设置在所述支撑组件的底座上,所述信号采集组件通过所述滑动组件设置在所述支撑结构上,且所述信号采集组件与所述滑动组件滑动连接;所述信号采集组件包括声压信号采集单元、位移信号采集单元以及与所述声压信号采集单元和所述位移信号采集单元驱动连接的驱动单元;
所述声压信号采集单元和所述位移信号采集单元均滑动设置在所述滑动组件上,驱动单元用于在所述声压信号采集单元采集所述数字发声芯片的声压信号的情况下,驱动所述声压信号采集单元沿所述滑动组件滑动至数字发声芯片的正上方,所述驱动单元还用于在所述位移信号采集单元采集所述数字发声芯片中发声单元的位移信号的情况下,驱动所述位移信号采集单元沿所述滑动组件滑动至数字发声芯片的正上方;
所述信号采集组件包括还包括工业显微镜模块,所述工业显微镜模块滑动设置在所述滑动组件上,用于在对所述数字发声芯片进行检测时,确定所述数字发声芯片中每个发声单元的工作状态是否满足预设工作状态。
进一步的,所述数字发声芯片的一致性检测系统包括工业显微镜模块;所述工业显微镜模块用于确定所述数字发声芯片中每个发声单元的工作状态满足预设工作状态。
进一步的,所述移动机构包括第一移动组件、第二移动组件以及固定工装;所述第一移动组件和所述第二移动组件均与所述数字发声芯片的一致性检测装置通信连接;
所述固定工装固定设置在所述第一移动组件上,用于固定所述数字发声芯片,所述第一移动组件滑动设置在所述第二移动组件上,用于在所述数字发声芯片的一致性检测装置的控制下,沿X轴的方向移动所述数字发声芯片,所述第二移动组件用于在所述数字发声芯片的一致性检测装置的控制下,带动所述第一移动组件以及所述固定工装沿Y轴的方向运动,以按照所述预设规则移动所述数字发声芯片。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本发明的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1为本发明实施例提供的一种数字发声芯片的一致性检测方法流程图;
图2为本发明实施例提供的一种数字发声芯片的一致性检测装置的流程图;
图3为本发明实施例提供的一种数字发声芯片的一致性检测系统的示意图。
附图标记:1-第一移动组件,2-第二移动组件,3-固定工装,4-数字发声芯片,5-支撑组件,6-滑块,7-滑轨,8-声压信号采集单元,9-工业显微镜模块,10-位移信号采集单元,11-外壳,12-数字发声芯片的一致性检测装置。
具体实施方式
以下,将参照附图来描述本公开的实施例。但是应该理解,这些描述只是示例性的,而并非要限制本公开的范围。此外,在以下说明中,省略了对公知结构和技术的描述,以避免不必要地混淆本公开的概念。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。“若干”的含义是一个或一个以上,除非另有明确具体的限定。
数字发声芯片由多个发声单元阵列组成,生产时多种因素均会导致发声单元振动并不一致。因此需要精确测量各个发声单元振动的一致性,以确保最终数字发声芯片成品的音质不发生劣化。
现有的测试设备针对传统动圈式扬声器,不适用于数字发声芯片领域。
第三方面,参照图1,本发明实施例提供了一种数字发声芯片的一致性检测方法,所述数字发声芯片包括多个发声单元,包括以下步骤:
S100,按照预设规律对多个阵列排布的发声单元进行遍历,以获取多个所述发声单元的声压信号以及位移信号。
在实际中,所述多个发声单元按照行列矩阵排列。基于此,可以从所述数字发声芯片的第一行开始,逐个对发声单元进行遍历,以获取所述第一行中每个发声单元的声压信号以及位移信号;
再完成所述第一行的遍历后,移至所述数字发声芯片的下一行中的第一个发声单元,如此循环直至获取所述数字发声芯片的所有发声单元的声压信号以及位移信号。应理解,之后若发声单元按其他规律排布,测试顺序也需要更改。
在此之前,还需要先驱动发声单元播放测试音频,以使发声单元播放测试音频,此时发声单元会发生振动,基于此,才能获取到发声单元的声压信号以及位移信号。
具体的,所述数字发声芯片的一致性检测方法应用于数字发声芯片的一致性检测系统中,所述数字发声芯片的一致性检测系统包括声压信号采集单元和位移信号采集单元;所述声压信号采集单元用于采集所述发声单元的声压信号;所述位移信号采集单元用于采集发声单元中振膜的位移信号。
示例性的,所述声压信号采集单元可以为1/2寸或1/4寸麦克风。位移信号采集单元可以为激光测振仪。
在一个具体的实施方式中,在所述按照预设规律对多个阵列排布的发声单元进行遍历,以获取多个所述发声单元的声压信号以及位移信号前,所述数字发声芯片的一致性检测方法还包括:
确定所述数字发声芯片中每个发声单元的工作状态满足预设工作状态。
所述数字发声芯片的一致性检测系统包括工业显微镜模块;所述工业显微镜模块用于确定所述数字发声芯片中每个发声单元的工作状态满足预设工作状态。其中,上述预设工作状态可以为所述发声单元的定位是否准确,以及在播放测试音频时,发声单元的是否发生振动以及振动的幅度。
S200,根据多个所述发声单元的声压信号以及位移信号,确定每个所述发声单元的一致性差异。
具体的,步骤S200可以包括:
根据多个所述发声单元的声压信号以及位移信号,确定所述发声单元的声压信号均值,以及位移信号均值。其中,声压信号均值为多个发声单元的声压信号求平均值得到的,位移信号均值为多个发声单元的位移信号求平均值得到的。
根据每个所述发声单元的声压信号以及所述声压信号均值,确定每个发声单元的声压信号的一致性差异。
根据每个所述发声单元的位移信号以及所述位移信号均值,确定每个发声单元的位移信号的一致性差异。
具体的,一致性差异是指发声单元振膜振动时所采集的信号与所有发声单元振膜振动时采集的信号均值之间的差异。采集的声压、位移等信号的一致性差异可以按照一定的比例分配,加权求和得到发声单元的综合一致性差异。其中,该一定的比例可根据实际的情况进行具体的分配,本发明实施例不作具体的限定。
S300,根据每个所述发声单元的一致性差异,确定对应所述发声单元的补偿系数。
具体的步骤S300可以包括:根据所述每个发声单元的声压信号的一致性差异,所述每个发声单元的位移信号的一致性差异,以及预设的比例系数,确定对应发声单元的综合一致性差异。
其中,预设比例系数可以根据发声单元的声压信号的一致性差异,所述每个发声单元的位移信号的一致性差异的实际情况进行确定,本发明实施例对此不作具体的限定。
根据所述发声单元的综合一致性差异,确定对应所述发声单元的补偿系数,以使对应所述发声单元的综合一致性差异,与其他发声单元之间的综合一致性差异之间保持一致。
基于以上描述,本发明实施例中的数字发声芯片的一致性检测方法可以实现对数字芯片中的发声单元进行遍历,以采集数字发声芯片中发声单元的声压信号以及位移信号,以提高检测效率。进一步,数字发声芯片的一致性检测方法用于根据采集到的发声单元的声压信号以及位移信号,确定每个所述发声单元的一致性差异,并根据所述的一致性差异,对相应所述发声单元分配补偿系数,从而实现数字发声芯片的一致性检测,且本发明的数字发声芯片的一致性检测方法具有较高的检测效率。
第二方面,参照图2,本发明实施例还提供了一种数字发声芯片的一致性检测装置,所述数字发声芯片的一致性检测装置包括:
获取模块101,用于按照预设规律对多个阵列排布的发声单元进行遍历,以获取多个所述发声单元的声压信号以及位移信号。
一致性差异确定模块201,用于根据多个所述发声单元的声压信号以及位移信号,确定每个所述发声单元的一致性差异。
补偿系数确定模块301,用于根据每个所述发声单元的一致性差异,确定对应所述发声单元的补偿系数。
上述主要从各个模块对本发明实施例提供的方案进行了介绍。可以理解的是,各个模块为了实现上述功能,其包含了执行各个功能相应的硬件结构和/或软件单元。本领域技术人员应该很容易意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,本发明能够以硬件或硬件和计算机软件的结合形式来实现。某个功能究竟以硬件还是计算机软件驱动硬件的方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
本发明实施例可以根据上述方法示例进行功能模块的划分,例如,可以对应各个功能划分各个功能模块,也可以将两个或两个以上的功能集成在一个处理模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能模块的形式实现。需要说明的是,本发明实施例中对模块的划分是示意性的,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式。
第四方面,本发明实施例还提供了一种数字发声芯片的一致性检测系统,所述数字发声芯片的一致性检测系统包括:移动机构、信号采集组件以及数字发声芯片的一致性检测装置,所述数字发声芯片的一致性检测装置与所述移动机构以及所述信号采集组件通信连接;
所述移动机构用于固定所述数字发声芯片,并在所述数字发声芯片的一致性检测装置的控制下,驱动所述数字发声芯片移动,以使所述数字发声芯片移动到预设测试位置;
所述信号采集组件设置在所述数字发声芯片的测试侧,用于在所述数字发声芯片的一致性检测装置的控制下,移动至所述数字发声芯片中待测发声单元的上方,所述移动机构还用于在所述数字发声芯片的一致性检测装置的控制下按照预设规则移动所述数字发声芯片,以使所述信号采集组件对所述数字发声芯片中的发声单元进行遍历,采集所述数字发声芯片中各个发声单元的声压信号以及位移信号,并将所述数字发声芯片中各个发声单元的声压信号以及位移信号传输至所述数字发声芯片的一致性检测装置;
所述数字发声芯片的一致性检测装置用于根据所述信号采集组件采集到的发声单元的声压信号以及位移信号,确定每个所述发声单元的一致性差异,并根据所述的一致性差异,对相应所述发声单元分配补偿系数。
基于以上结构,本发明实施例提供的数字发声芯片的一致性检测系统能够利用移动机构准确的移动数字发声芯片至预设测试位置,以保证对数字发声芯片的检测精度,移动机构还用于在所述数字发声芯片的一致性检测装置的控制下按照预设规则移动所述数字发声芯片,以使所述信号采集组件对所述数字发声芯片中的发声单元进行遍历,采集所述数字发声芯片中各个发声单元的声压信号以及位移信号,以提高检测效率。最后,数字发声芯片的一致性检测装置能够根据所述信号采集组件采集到的发声单元的声压信号以及位移信号,确定每个所述发声单元的一致性差异,并根据所述的一致性差异,对相应所述发声单元分配补偿系数,从而实现数字发声芯片的一致性检测,且本发明实施例中的数字发声芯片的一致性检测系统具有较高的检测效率与集成度。
进一步的,参照图3,所述移动机构包括第一移动组件1、第二移动组件2以及固定工装3;所述第一移动组件1和所述第二移动组件2均与所述数字发声芯片的一致性检测装置12通信连接;
所述固定工装3固定设置在所述第一移动组件1上,用于固定所述数字发声芯片4,所述第一移动组件1滑动设置在所述第二移动组件2上,用于在所述数字发声芯片的一致性检测装置12的控制下,沿X轴的方向移动所述数字发声芯片4,所述第二移动组件2用于在所述数字发声芯片的一致性检测装置12的控制下,带动所述第一移动组件1以及所述固定工装3沿Y轴的方向运动,以按照所述预设规则移动所述数字发声芯片4。
上述固定工装用于将数字发声芯片固定在第一移动组件上,同时保证数字发声芯片中发声单元排列方向与第一移动组件的移动方向一致。
在实际中,可以先利用数字发声芯片的一致性检测装置控制第一移动组件,使第一移动组件沿第二移动组件滑动,以使数字发声芯片沿X轴的方向移动,然后再利用数字发声芯片的一致性检测装置控制第二移动组件移动,以使数字发声芯片沿Y轴的方向移动,最终将数字发声芯片移动至预设测试位置。应理解,该预设测试位置为根据检测系统的实际情况进行设定的,以能够利用信号采集组件采集所述数字发声芯片中发声单元的声压信号以及位移信号为准。
上述预设规则包括沿所述数字发声芯片中的第一行逐个对发声单元进行遍历,完成一行后移至下一行第一个发声单元,如此循环直至测完所有发声单元。应理解,之后若发声单元按其他规律排布,本发明实施例中的测试顺序也需要更改。
进一步的,所述第一移动组件包括第一轨道、滑动设置在所述第一轨道上的第一滑块,以及与所述第一滑块驱动连接的第一驱动模块;所述第一驱动模块与所述数字发声芯片的一致性检测装置通信连接,所述固定工装设置在所述第一滑块上;所述第一驱动模块用于在所述数字发声芯片的一致性检测装置的控制下,驱动所述第一滑块,以带动所述固定工装以及所述数字发声芯片沿第一轨道运动,其中,所述第一轨道的延伸方向与所述X轴的方向相平行。
其中,上述第一轨道为直线导轨,第一驱动模块用于驱动第一滑块沿第一滑轨运动。在实际中,数字发声芯片的一致性检测装置可以根据实际中数字发声芯片与预设测试位置之间的距离驱动第一滑块沿第一轨道的运动距离,以使数字发声芯片根据预设检测位置沿其横向运动。数字发声芯片的一致性检测装置还可以根据预设规则驱动第一滑块沿第一轨道运动,以使所述信息采集组件沿所述数字发声芯片中的每一行逐个对发声单元进行遍历。
所述第二移动组件包括第二轨道、滑动设置在所述第二轨道上的第二滑块,以及与所述第二滑块驱动连接的第二驱动模块,所述第二驱动模块与所述数字发声芯片的一致性检测装置通信连接,所述第一轨道设置在所述第二滑块上,所述第二驱动模块用于在所述数字发声芯片的一致性检测装置的控制下,驱动第二滑块,以带动所述第一轨道、所述固定工装以及所述数字发声芯片沿第二轨道运动,其中,所述第二轨道的延伸方向与所述Y轴的方向相平行。
其中,上述第二轨道为直线导轨,第二驱动模块用于驱动第一滑块沿第一滑轨运动。在实际中,数字发声芯片的一致性检测装置可以根据实际中数字发声芯片与预设测试位置之间的距离驱动第二滑块沿第二轨道的运动距离,以使数字发声芯片根据预设检测位置沿其纵向运动。数字发声芯片的一致性检测装置还可以根据预设规则驱动第二滑块沿第二轨道运动,以使所述信息采集组件在遍历完所述数字发声芯片中的上一行发声单元后,移动至所述数字发声芯片中的下一行中的第一个发声单元。
在本发明实施例中,参照图3,所述数字发声芯片的一致性检测系统包括支撑组件5,所述支撑组件5包括底座以及设置在底座上的支撑结构;所述移动机构设置在所述支撑组件的底座上,所述信号采集组件滑动设置在所述支撑结构上。
在实际中,上述支撑结构包括相对设置在两个支撑件,两个支撑件均固定设置在支撑座上,信号采集组件滑动设置在两个支撑件之间,可沿着两个支撑件上下运动,以根据实际需求,对信号采集组件与数字发声芯片之间的距离进行调整。
所述数字发声芯片的一致性检测系统还包括滑动组件;所述信号采集组件通过所述滑动组件设置在所述支撑结构上,且所述信号采集组件与所述滑动组件滑动连接。
具体的,参照图3,所述滑动组件包括滑轨7、滑块6以及固定件,信号采集组件通过滑块6滑动设置在滑轨7上,滑轨7通过固定件固定设置在支撑结构上。在实际中,可以通过调整滑轨7与支撑结构之间的固定位置,对信号采集组件与数字发声芯片4之间的距离进行调整。
在一个具体的实施方式中,参照图3,所述信号采集组件包括声压信号采集单元8、位移信号采集单元10以及与所述声压信号采集单元8和所述位移信号采集单元10驱动连接的驱动单元。
所述声压信号采集单元8和所述位移信号采集单元10均滑动设置在所述滑动组件上,驱动单元用于在所述声压信号采集单元8采集所述数字发声芯片4的声压信号的情况下,驱动所述声压信号采集单元8沿所述滑动组件滑动至数字发声芯片4的正上方,所述驱动单元还用于在所述位移信号采集单元10采集所述数字发声芯片4中发声单元的位移信号的情况下,驱动所述位移信号采集单元10沿所述滑动组件滑动至数字发声芯片4的正上方。
其中,上述声压信号采集单元用于采集发声单元所发出的声压信号,可以为1/2寸或1/4寸麦克风。上述位移信号采集单元用于采集发声单元振动时振膜表面的位移信号,可以为激光测振仪。
所述信号采集组件包括还包括工业显微镜模块9,所述工业显微镜模块9滑动设置在所述滑动组件上,用于在对所述数字发声芯片4进行检测时,确定所述数字发声芯片4中每个发声单元的工作状态是否满足预设工作状态。实际中,工业显微镜模块用于定位并观察发声单元的振动情况。
进一步的,所述数字发声芯片的一致性检测装置12用于当所述声压信号采集单元8对所述数字发声芯片4进行检测时,控制所述驱动单元驱动所述声压信号采集单元8移动,对所述数字发声芯片4中的发声单元进行遍历,以采集所述数字发声芯片4中所有发声单元的声压信号。
进一步的,所述数字发声芯片的一致性检测装置12用于当所述位移信号采集单元10对所述数字发声芯片4进行检测时,控制所述驱动单元驱动所述位移信号采集单元10移动,对所述数字发声芯片4中的发声单元进行遍历,以采集所述数字发声芯片4中所有发声单元的位移信号。
更优的,参照图3,本发明实施例提供的数字发声芯片的检测系统还包括外壳11,所述外壳11用于隔声降噪,同时保护检测系统中的其他器件。
在实际中,本发明实施例中的数字发声芯片的一致性检测装置通过控制移动机构,驱动数字发声芯片,并将所述信号采集组件采集到的发声单元的声压信号以及位移信号生成测试结果。
值得注意的是,对数字发声芯片的定位和对数字发声芯片的信息采集并不能同时进行。首先将待测的数字发声芯片利用固定工装固定位置,使用工业显微镜观察所有发声单元的工作状态。随后操控第一移动组件和第二移动组件移动固定工装,使第一个待测发声单元的中心对准工业显微镜的视野中心。之后移开工业显微镜,将麦克风沿第一移动组件中的导轨移至同一位置,采集声压信号。第一移动组件和第二移动组件按照预设的程序移动,循环遍历所有发声单元。之后移开麦克风,将激光测振仪沿第一移动组件中的导轨移至同一位置,采集位移信号。第一移动组件和第二移动组件按照预设的程序移动,循环遍历所有发声单元。
检测时,由于信号采集组件需对准发声单元的中心,可在第一轨道、第二轨道、第一滑块和第二滑块上划分刻度标记,使信号采集组件可以移动到同一位置。之后将第一滑块和第二滑块锁止,以保证信号采集组件不会因意外触碰而易位。
在一个具体的示例中,本发明实施例中数字发声芯片的一致性检测系统的测试流程包括:
驱动数字发声芯片中的发声单元播放测试音频。
采集声压、发声单元振膜的位移信息、施行电路检测、光学检测等测试步骤。
以一定规律遍历测试数字发声芯片的所有发声单元:目前发声单元按行列矩阵分布,测试顺序为从一行一列开始,沿一行逐个检测,完成一行后移至下一行第一个发声单元,如此循环直至测完所有发声单元。之后若发声单元按其他规律排布,测试顺序也需要更改。
整合得到各个像素间的一致性差异:一致性差异是指发声单元振膜振动时所采集的信号与所有发声单元信号均值之间的差异。采集的声压、位移等信号的一致性差异可以按照一定的比例分配,加权求和得到发声单元的综合一致性差异。
对每个发声单元分配补偿系数:根据一致性差异,需要对各个发声单元给予补偿系数,使发声单元之间趋近于一致。
尽管在此结合各实施例对本发明进行了描述,然而,在实施所要求保护的本发明过程中,本领域技术人员通过查看附图、公开内容、以及所附权利要求书,可理解并实现公开实施例的其他变化。在权利要求中,“包括”(comprising)一词不排除其他组成部分或步骤,“一”或“一个”不排除多个的情况。单个处理器或其他单元可以实现权利要求中列举的若干项功能。相互不同的从属权利要求中记载了某些措施,但这并不表示这些措施不能组合起来产生良好的效果。
尽管结合具体特征及其实施例对本发明进行了描述,显而易见的,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,可对其进行各种修改和组合。相应地,本说明书和附图仅仅是所附权利要求所界定的本发明的示例性说明,且视为已覆盖本发明范围内的任意和所有修改、变化、组合或等同物。显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包括这些改动和变型在内。

Claims (9)

1.一种数字发声芯片的一致性检测方法,其特征在于,所述数字发声芯片包括多个发声单元,所述数字发声芯片的一致性检测方法包括以下步骤:
按照预设规律对多个阵列排布的发声单元进行遍历,以获取多个所述发声单元的声压信号以及多个所述发声单元中振膜的位移信号;
根据多个所述发声单元的声压信号以及多个所述发声单元中振膜的位移信号,确定每个所述发声单元的一致性差异;
根据每个所述发声单元的一致性差异,确定对应所述发声单元的补偿系数;
所述根据多个所述发声单元的声压信号以及位移信号,确定每个所述发声单元的一致性差异包括:
根据多个所述发声单元的声压信号以及多个所述发声单元中振膜的位移信号,确定所述发声单元的声压信号均值,以及位移信号均值;
根据每个所述发声单元的声压信号以及所述声压信号均值,确定每个发声单元的声压信号的一致性差异;
根据每个所述发声单元的位移信号以及所述位移信号均值,确定每个发声单元的位移信号的一致性差异。
2.根据权利要求1所述的数字发声芯片的一致性检测方法,其特征在于,所述多个发声单元按照行列矩阵排列;
所述按照预设规律对多个阵列排布的发声单元进行遍历,以获取多个所述发声单元的声压信号以及位移信号包括:
从所述数字发声芯片的第一行开始,逐个对发声单元进行遍历,以获取所述第一行中每个发声单元的声压信号以及位移信号;
完成所述第一行的遍历后,移至所述数字发声芯片的下一行中的第一个发声单元,如此循环直至获取所述数字发声芯片的所有发声单元的声压信号以及位移信号。
3.根据权利要求1所述的数字发声芯片的一致性检测方法,其特征在于,在所述按照预设规律对多个阵列排布的发声单元进行遍历,以获取多个所述发声单元的声压信号以及位移信号前,所述数字发声芯片的一致性检测方法还包括:
确定所述数字发声芯片中每个发声单元的工作状态满足预设工作状态。
4.根据权利要求1所述的数字发声芯片的一致性检测方法,其特征在于,根据每个所述发声单元的一致性差异,确定对应所述发声单元的补偿系数包括:
根据所述每个发声单元的声压信号的一致性差异,所述每个发声单元的位移信号的一致性差异,以及预设的比例系数,确定对应发声单元的综合一致性差异;
根据所述发声单元的综合一致性差异,确定对应所述发声单元的补偿系数,以使对应所述发声单元的综合一致性差异,与其他发声单元之间的综合一致性差异之间保持一致。
5.一种数字发声芯片的一致性检测装置,其特征在于,所述数字发声芯片的一致性检测装置包括:
获取模块,用于按照预设规律对多个阵列排布的发声单元进行遍历,以获取多个所述发声单元的声压信号以及多个所述发声单元中振膜的位移信号;
一致性差异确定模块,用于根据多个所述发声单元的声压信号以及多个所述发声单元中振膜的位移信号,确定每个所述发声单元的一致性差异;
补偿系数确定模块,用于根据每个所述发声单元的一致性差异,确定对应所述发声单元的补偿系数;
所述一致性差异确定模块包括:
信号均值确定单元,用于根据多个所述发声单元的声压信号以及多个所述发声单元中振膜的位移信号,确定所述发声单元的声压信号均值,以及位移信号均值;
第一一致性差异确定单元,用于根据每个所述发声单元的声压信号以及所述声压信号均值,确定每个发声单元的声压信号的一致性差异;
第二一致性差异确定单元,用于根据每个所述发声单元的位移信号以及所述位移信号均值,确定每个发声单元的位移信号的一致性差异。
6.一种数字发声芯片的一致性检测系统,其特征在于,所述数字发声芯片的一致性检测系统包括:移动机构、信号采集组件以及权利要求5所述的数字发声芯片的一致性检测装置,所述数字发声芯片的一致性检测装置与所述移动机构以及所述信号采集组件通信连接;
所述移动机构用于固定所述数字发声芯片,并在所述数字发声芯片的一致性检测装置的控制下,驱动所述数字发声芯片移动,以使所述数字发声芯片移动到预设测试位置;
所述信号采集组件设置在所述数字发声芯片的测试侧,用于在所述数字发声芯片的一致性检测装置的控制下,移动至所述数字发声芯片中待测发声单元的上方,所述移动机构还用于在所述数字发声芯片的一致性检测装置的控制下按照预设规则移动所述数字发声芯片,以使所述信号采集组件对所述数字发声芯片中的发声单元进行遍历,采集所述数字发声芯片中各个发声单元的声压信号以及位移信号,并将所述数字发声芯片中各个发声单元的声压信号以及位移信号传输至所述数字发声芯片的一致性检测装置;
所述数字发声芯片的一致性检测装置用于根据所述信号采集组件采集到的发声单元的声压信号以及位移信号,确定每个所述发声单元的一致性差异,并根据所述的一致性差异,对相应所述发声单元分配补偿系数。
7.根据权利要求6所述的数字发声芯片的一致性检测系统,其特征在于,所述数字发声芯片的一致性检测系统还包括滑动组件以及支撑组件;所述支撑组件包括底座以及设置在底座上的支撑结构;所述移动机构设置在所述支撑组件的底座上,所述信号采集组件通过所述滑动组件设置在所述支撑结构上,且所述信号采集组件与所述滑动组件滑动连接;
所述信号采集组件包括声压信号采集单元、位移信号采集单元以及与所述声压信号采集单元和所述位移信号采集单元驱动连接的驱动单元;
所述声压信号采集单元和所述位移信号采集单元均滑动设置在所述滑动组件上,驱动单元用于在所述声压信号采集单元采集所述数字发声芯片的声压信号的情况下,驱动所述声压信号采集单元沿所述滑动组件滑动至数字发声芯片的正上方,所述驱动单元还用于在所述位移信号采集单元采集所述数字发声芯片中发声单元的位移信号的情况下,驱动所述位移信号采集单元沿所述滑动组件滑动至数字发声芯片的正上方。
8.根据权利要求6数字发声芯片的一致性检测系统,其特征在于,所述数字发声芯片的一致性检测系统包括工业显微镜模块;所述工业显微镜模块用于确定所述数字发声芯片中每个发声单元的工作状态满足预设工作状态。
9.根据权利要求6数字发声芯片的一致性检测系统,其特征在于,所述移动机构包括第一移动组件、第二移动组件以及固定工装;所述第一移动组件和所述第二移动组件均与所述数字发声芯片的一致性检测装置通信连接;
所述固定工装固定设置在所述第一移动组件上,用于固定所述数字发声芯片,所述第一移动组件滑动设置在所述第二移动组件上,用于在所述数字发声芯片的一致性检测装置的控制下,沿X轴的方向移动所述数字发声芯片,所述第二移动组件用于在所述数字发声芯片的一致性检测装置的控制下,带动所述第一移动组件以及所述固定工装沿Y轴的方向运动,以按照所述预设规则移动所述数字发声芯片。
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