CN117459625B - 一种手机主板性能测试方法和系统 - Google Patents

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Abstract

本申请涉及手机安全技术领域，提供一种手机主板性能测试方法和系统，方法包括：获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件；根据预设的规定跳数，确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，及确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离；根据第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离及各参考电子元件的个数，分别确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件各自的接近中心性。本申请提高了计算主板拓扑中边界电子元件的重要性，提高了手机性能。

Description

一种手机主板性能测试方法和系统
技术领域
本申请涉及手机安全技术领域，尤其涉及一种手机主板性能测试方法和系统。
背景技术
主板拓扑是指手机中电子元件之间的连接关系，主板拓扑直接影响着手机的性能和可靠性。然而，随着主板拓扑复杂性的增加，主板拓扑也面临着越来越多的安全威胁和风险。为了有效地保护手机安全，识别主板拓扑中的关键电子元件变得尤为重要。关键电子元件是指对手机性能、稳定性和安全性具有重要影响的关键电子元件。
现有技术中，通常使用中心性算法计算主板拓扑中的关键电子元件的重要性。然而，随着手机服务的不断升级，主板拓扑结构也变得越来越复杂和多样化，随着电子元件链路的增多，在基于现有中心性算法的计算过程中，需要遍历所有的电子元件，导致计算量巨大，影响计算效率。而且，现有技术可以识别及确定核心电子元件的重要性，然而手机中很多边界电子元件也是手机维护和手机攻击的目标，现有技术无法计算边界电子元件的重要性。因此，如何计算主板拓扑中边界电子元件的重要性是亟待解决的问题。
发明内容
针对现有技术存在的问题，本申请提供一种手机主板性能测试方法和系统，旨在提高计算主板拓扑中边界电子元件的重要性，提高手机性能。
第一方面，本申请提供一种手机主板性能测试方法，包括：
获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件；所述至少一个关键边界电子元件包括第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件；
根据预设的规定跳数，确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，及确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离；
根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性。
根据本申请提供的一种手机主板性能测试方法，所述根据预设的规定跳数，确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，包括：
在所述主板拓扑中，确定所述第一关键边界电子元件在所述规定跳数以内到达的电子元件的第一集合；
在所述主板拓扑中，确定所述第二关键边界电子元件在所述规定跳数以内到达的电子元件的第二集合；
基于所述第一集合和所述第二集合的并集，确定所述多个参考电子元件。
根据本申请提供的一种手机主板性能测试方法，所述根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性，包括：
根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别使用公式（1）计算所述第一关键边界电子元件的接近中心性，及所述第二关键边界电子元件的接近中心性；
公式（1）；
其中，表示规定跳数，/>表示基于规定跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示主板拓扑中的电子元件总数，/>表示各所述参考电子元件的个数，/>表示电子元件/>到参考电子元件/>的最短距离。
根据本申请提供的一种手机主板性能测试方法，所述方法还包括：
获取需求跳数；
根据所述需求跳数、所述规定跳数对应的所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性，分别使用公式（2）计算所述第一关键边界电子元件的接近中心性的验证值，及所述第二关键边界电子元件的接近中心性的验证值；
公式（2）；
其中，表示电子元件/>的接近中心性的验证值，/>表示规定跳数，/>表示基于规定跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示需求跳数，/>表示基于跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示跳数/>与基于跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性的相关系数。
根据本申请提供的一种手机主板性能测试方法，所述获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件，包括：
获取所述主板拓扑中各个电子元件的目标属性；
根据各所述电子元件的目标属性，在各所述电子元件中确定至少一个关键边界电子元件；所述目标属性用于指示电子元件所归属的域。
根据本申请提供的一种手机主板性能测试方法，所述根据各所述电子元件的目标属性，在各所述电子元件中确定至少一个关键边界电子元件，包括：
对于所述主板拓扑中每一个电子元件，在所述电子元件与至少一个相邻电子元件的目标属性不同时，将所述电子元件确定为关键边界电子元件。
第二方面，本申请还提供一种手机主板性能测试系统，包括：
获取模块，用于获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件；所述至少一个关键边界电子元件包括第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件；
第一确定模块，用于根据预设的规定跳数，确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，及确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离；
第二确定模块，用于根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性。
根据本申请提供的一种手机主板性能测试系统，还用于：
获取需求跳数；
根据所述需求跳数、所述规定跳数对应的所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性，分别使用公式（2）计算所述第一关键边界电子元件的接近中心性的验证值，及所述第二关键边界电子元件的接近中心性的验证值；
公式（2）；
其中，表示电子元件/>的接近中心性的验证值，/>表示规定跳数，/>表示基于规定跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示需求跳数，/>表示基于跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示跳数/>与基于跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性的相关系数。
本申请还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述手机主板性能测试方法。
本申请还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述手机主板性能测试方法。
本申请还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种手机主板性能测试方法。
本申请提供的手机主板性能测试方法和系统，通过预设规定跳数，并基于规定条数确定多个关键边界电子元件可以到达的所有参考电子元件及最大电子元件个数，进而基于各个关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离分别确定各个关键边界电子元件的接近中心性，由于基于规定跳数限制了参考电子元件的个数，从而提高了计算主板拓扑中边界电子元件的重要性，提高了手机性能。
附图说明
为了更清楚地说明本申请或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请提供的手机主板性能测试方法的流程示意图之一；
图2是本发明提供的主板拓扑的示意图；
图3是本申请提供的手机主板性能测试方法的流程示意图之二；
图4是本申请提供的手机主板性能测试系统的结构示意图；
图5是本申请提供的电子设备的实体结构示意图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请中的附图，对本申请中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
图1是本申请提供的手机主板性能测试方法的流程示意图之一，如图1所示，该方法包括步骤101-步骤103，其中：
步骤101、获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件；至少一个关键边界电子元件包括第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件。
需要说明的是，本申请提供的手机主板性能测试方法可适用于对主板拓扑中关键边界电子元件重要性进行量化的场景中。该方法的执行主体可以为处理引擎，例如电子设备或者该系统中的用于执行本申请提供的手机主板性能测试方法的控制模块。
本申请中的主板拓扑指一个手机中电子元件之间的连接关系。主板拓扑可以分为物理拓扑和逻辑拓扑；其中，物理拓扑是指电子元件在物理空间中的连接关系，物理拓扑可以使用图形来表示，其中每个电子元件代表一个电子元件，每个边代表两个电子元件之间的连接。逻辑拓扑是指电子元件在逻辑层面的连接关系；逻辑拓扑可以使用路由表来表示，其中每个路由条目表示从一个电子元件到另一个电子元件的路由信息。电子元件链路指在手机中，用于转发数据包从源电子元件到目标电子元件的物理或逻辑连接。
主板拓扑中关键边界电子元件（即关键的边界风险电子元件、或风险关键电子元件）指在整个手机中对手机性能、稳定性和安全性具有重要影响的边界设备或边界电子元件。
本申请针对关键边界电子元件的考虑因素基于不同层面，包括：AS层、运营商层、地理层与服务层。不同层面对应电子元件的不同属性信息。也就是说，本申请可以基于各个电子元件的目标属性，从各个电子元件中搜索关键边界电子元件。目标属性包括以下至少一项：自治系统AS信息；运营商信息；地理地址信息；服务类型。目标属性用于指示电子元件所归属的域。
可选地，上述步骤101中获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件的实现方式可以包括：获取主板拓扑中各个电子元件的目标属性；根据各电子元件的目标属性，在各电子元件中确定至少一个关键边界电子元件。
具体地，根据各电子元件的目标属性，在各电子元件中确定至少一个关键边界电子元件的实现方式可以包括：对于主板拓扑中每一个电子元件，在电子元件与至少一个相邻电子元件的目标属性不同时，将电子元件确定为关键边界电子元件。也就说，对于主板拓扑中每一个电子元件，分别进行如下判断：
假设该电子元件为电子元件Z，分别判断电子元件Z与电子元件Z的每一个相邻电子元件的目标属性是否相同；若电子元件Z与电子元件Z的至少一个相邻电子元件的目标属性相同，则判定电子元件Z为关键边界电子元件；若电子元件Z与电子元件Z的任意一个相邻电子元件的目标属性都不相同，则判定电子元件Z不是关键边界电子元件。
步骤102、根据预设的规定跳数，确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，及确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离。
可选地，上述步骤102中根据预设的规定跳数，确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件的实现方式可以包括：
步骤a、在主板拓扑中，确定第一关键边界电子元件在规定跳数以内到达的电子元件的第一集合。
步骤b、在主板拓扑中，确定第二关键边界电子元件在规定跳数以内到达的电子元件的第二集合。
步骤c、基于第一集合和第二集合的并集，确定多个参考电子元件。
图2是为本申请提供的主板拓扑的示意图。
如图2所示，在计算电子元件G的重要性时，假设规定跳数为3，则在区域1中，电子元件G按照跳数为3可以到达的最远电子元件为电子元件C，电子元件G可到达的电子元件集合为{E、F、D和C}，电子元件个数为4。在计算时，分别要计算电子元件G在跳数为3以内时，可以到达的所有电子元件（包括E、F、D和C）的最短距离。
但是，在计算电子元件F的重要性时，假设规定跳数为3，则在区域1中，电子元件F按照跳数为3可以到达的电子元件却和电子元件G不完全一样，电子元件F可到达的电子元件为集合为{G、E、D、C和A（或B）}，电子元件个数为5。
但是，在比较电子元件G和电子元件F这两个电子元件的重要性时，由于两个电子元件对应的电子元件集合不一致，这会导致结构存在一定的差异性，影响电子元件重要性的量化结果。
本申请针对该问题，对现有技术进行了算法改进，将基于规定跳数3确定的电子元件G可到达的电子元件集合{E、F、D和C}和电子元件F可到达的电子元件为集合{G、E、D、C和A（或B）}进行并集处理，确定多个参考电子元件为F或G、E、D、C和A（或B），参考电子元件个数为5。
本申请将上述通过并集处理得到的多个参考电子元件，既作为第一关键边界电子元件可到达的全部电子元件，也作为第二关键边界电子元件可到达的全部电子元件，保证结构一致，提高电子元件重要性量化结果的可靠性和准确性。
步骤103、根据第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离及各参考电子元件的个数，分别确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件各自的接近中心性。
需要说明的是，在根据不同考虑因素（电子元件的不同属性）选择出来的关键边界电子元件中，通过明确的数值（例如接近中心性）来判断关键边界电子元件之间的重要性。接近中心性是衡量电子元件与其他电子元件距离的指标。一个电子元件的接近中心性越高，表示它与其他电子元件的距离越近，在手机中的信息传递效率也就越高。
可选地，上述步骤102中根据第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离及各参考电子元件的个数，分别确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件各自的接近中心性的实现方式可以包括：
根据第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离及各参考电子元件的个数，分别使用公式（1）计算第一关键边界电子元件的接近中心性，及第二关键边界电子元件的接近中心性；
公式（1）；
其中，表示规定跳数，/>表示基于规定跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示主板拓扑中的电子元件总数，/>表示各所述参考电子元件的个数，/>表示电子元件/>到参考电子元件/>的最短距离。
例如，在基于图2所示的主板拓扑中N为8，假设规定跳数为3，在计算电子元件G和电子元件F的重要性时，为5。
本申请提供的手机主板性能测试方法，通过预设规定跳数，并基于规定条数确定多个关键边界电子元件可以到达的所有参考电子元件及最大电子元件个数，进而基于各个关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离分别确定各个关键边界电子元件的接近中心性，由于基于规定跳数限制了参考电子元件的个数，从而提高了计算主板拓扑中边界电子元件的重要性，提高了手机性能。
可选地，在基于图1所示方法实施例的步骤，确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件各自的接近中心性之后，若满足以下触发条件，则对关键边界电子元件的接近中心性进行多电子元件相关性验证。
其中，触发条件包括以下至少一项：
1）、对于相同的规定跳数，第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件的接近中心性相同；
2）、步骤101中的主板拓扑需要考虑更多跳数；
3）、用户想要对关键边界电子元件做更全面和精确的重要性量化分析。
可选地，对关键边界电子元件的接近中心性进行多电子元件相关性验证的实现方式包括以下步骤：
步骤1、获取需求跳数；
步骤2、根据需求跳数、规定跳数对应的第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件各自的接近中心性，分别使用公式（2）计算第一关键边界电子元件的接近中心性的验证值，及第二关键边界电子元件的接近中心性的验证值；
公式（2）；
其中，表示电子元件/>的接近中心性的验证值，/>表示规定跳数，/>表示基于规定跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示需求跳数，/>表示基于跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示跳数/>与基于跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性的相关系数。
示例地，可以采用公式（3）计算得到：
公式（3）；
其中，x为跳数，y为电子元件/>的接近中心性；/>为x与y的协方差；/>为x的方差；/>为y的方差。
图3是本申请提供的手机主板性能测试方法的流程示意图之二，如图3所示，该方法包括步骤301-步骤306，其中：
步骤301、收集主板拓扑中所有的电子元件信息。
电子元件信息包括电子元件的目标属性，包括以下至少一项：自治系统（AS）信息；运营商信息；地理地址信息；服务类型。
可选地，对手机电子元件链路进行解析，根据主板拓扑中各个电子元件的地址，解析各个电子元件对应的电子元件信息，即多层级信息，多层级信息包括IP地址、AS号、运营商、物理地址、服务类型。
对于复杂的主板拓扑结构来讲，不同域之间的链路通信是重要的。作为域之间的边界电子元件，根据层级的不同，会造成不同程度的影响。比如，对于AS，不同的AS域中可能存在着不同的路由协议，不同AS域之间的电子元件链路一旦发生问题，可能造成的影响不单单是这一条链路，而是整个AS域。
步骤302、根据多层次考虑因素，找出所有的关键边界电子元件。
可选地，因为电子元件重要性的考虑因素是基于不同的层级，所以根据这些因素分别找出不同的关键边界电子元件，标记为，简称/>或N。关键边界电子元件是不同的域之间的边界电子元件。其中，id表示这个电子元件的电子元件号；factor表示这个电子元件是根据具体哪一种因素（电子元件信息）确定为重要电子元件的。factor的取值范围包括：as（即AS域信息）、ven（即运营商信息）、服务类型以及geo（地理地址信息）。
步骤303、利用公式（1）计算各个关键边界电子元件的接近中心性。
首先，对于域的边界电子元件来讲，电子元件链路是存在冗余链路的，为了防止单点故障而导致区域的影响，如图2所示，区域1和区域2属于不同的域。在区域1来讲，电子元件G和电子元件F都属于域的关键边界电子元件。在计算电子元件G的接近中心性的时候，在区域1，电子元件G在跳数3以内可以到达的最远电子元件为电子元件C，分别要计算电子元件G在跳数为3之内可以到达的所有电子元件（包括E、F、D和C）的最短距离。
现有技术中的接近中心性算法，不适用于大型的复杂主板拓扑结构。因为在复杂主板拓扑中，电子元件链路较多，基于现有技术中的接近中心性算法，在计算电子元件的接近中心性过程中，需要遍历所有的电子元件，导致计算量巨大，影响计算效率。针对现有技术中的存在的该问题，本申请提供的手机主板性能测试方法，通过预设一个新的参数/度量单位：规定跳数。规定跳数是指关键边界电子元件可到达电子元件的最大跳数。将规定跳数作为选择需要参与关键边界电子元件重要性量化计算的电子元件的标准。
如图2所示，在计算电子元件G的重要性时，假设规定跳数为3，则在区域1中，电子元件G按照跳数为3可以到达的最远电子元件为电子元件C，电子元件G可到达的电子元件集合为{E、F、D和C}，电子元件个数为4。所以在计算时，分别要计算电子元件G在跳数为3以内时，可以到达的所有电子元件（包括E、F、D和C）的最短距离。但是，在计算电子元件F的重要性时，假设规定跳数为3，则在区域1中，电子元件F按照跳数为3可以到达的电子元件却和电子元件G不完全一样，电子元件F可到达的电子元件为集合为{G、E、D、C和A（或B）}，电子元件个数为5。
然而，在比较电子元件G和电子元件F这两个电子元件的重要性时，由于两个电子元件对应的电子元件集合不一致，这会导致结构存在一定的差异性，影响电子元件重要性的量化结果。
本申请针对该问题，对现有技术进行改进了算法，将基于规定跳数3确定的电子元件G可到达的电子元件集合{E、F、D和C}和电子元件F可到达的电子元件为集合{G、E、D、C和A（或B）}进行并集处理，确定多个参考电子元件为F或G、E、D、C和A（或B），参考电子元件个数为5。
利用公式（1）计算各个关键边界电子元件的接近中心性。
公式（1）；
其中，表示规定跳数，/>表示基于规定跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示主板拓扑中的电子元件总数，/>表示各所述参考电子元件的个数，/>表示电子元件/>到参考电子元件/>的最短距离。
例如，在基于图2所示的主板拓扑中N为8，假设规定跳数为3，在计算电子元件G和电子元件F的重要性时，为5。
步骤304、判断主板拓扑复杂程度。
在利用公式（1）计算得到各个关键边界电子元件的接近中心性之后，在手机主板拓扑不复杂，且需要快速计算关键边界电子元件重要性的情况下，可以跳到步骤306，得出最终结论，即关键边界电子元件相互之间的重要性。但是，如果存在以下情况，则跳到步骤305，对关键边界电子元件的接近中心性进行多电子元件相关性验证；其中情况包含：
1）、对于相同的规定跳数m，各个关键边界电子元件的接近中心性是相同的，需要进一步区分重要性。
2）、主板拓扑需要考虑更多跳数。
3）、需要对关键边界电子元件做更全面和精确的重要性量化分析。
步骤305、多电子元件相关性验证。
为了对关键边界电子元件的接近中心性进行多电子元件相关性验证，从增加跳数入手，通过相关性计算，计算电子元件跳数和电子元件重要性的相关系数，最后判断关键边界电子元件的重要性。
跳数j与基于跳数j计算的电子元件i的接近中心性的相关系数可以采用公式（3）计算得到：
公式（3）；
其中，x为跳数，y为电子元件/>的接近中心性；/>为x与y的协方差；/>为x的方差；/>为y的方差。
然后，通过公式（2）计算关键边界电子元件的接近中心性的验证值。
公式（2）；
其中，表示电子元件/>的接近中心性的验证值，/>表示规定跳数，/>表示基于规定跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示需求跳数，/>表示基于跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示跳数/>与基于跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性的相关系数。
需要注意的是，计算时，是涉及跳数m至跳数j中所有跳数的计算，而不是仅针对m和j两个跳数的计算。比如当m=3，j=5时，可能涉及表1中的数据。需要计算的相关性，是包含No.1、No.2和No.3，而不是仅仅只有No.1和No.2。
表1 基于跳数计算的电子元件的接近中心性
步骤306、确定各个关键边界电子元件之间的重要性。
可选地，根据各个关键边界电子元件的接近中心性，确定各个关键边界电子元件之间的重要性。
本申请实现对于多层次因素对关键边界电子元件的识别，使用公式（1）计算关键边界电子元件重要性的量化表示；对于复杂主板拓扑结构时，使用公式（2）计算关键边界电子元件重要性的量化表示。
现有技术，忽略了电子元件本身的属性，无法计算出（由不同因素造成的）不同域之间的边界电子元件的重要性。本申请突破了现有技术的局限性，可以通过多层次多因素识别出关键的边界（风险）电子元件，且对其电子元件的重要性进行量化表示。另外，本申请也适用于复杂的主板拓扑结构，高效且准确。
下面对本申请提供的手机主板性能测试系统进行描述，下文描述的手机主板性能测试系统与上文描述的手机主板性能测试方法可相互对应参照。图4是本申请提供的手机主板性能测试系统的结构示意图；该手机主板性能测试系统400包括：获取模块401、第一确定模块402及第二确定模块403；其中，
获取模块401，用于获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件；至少一个关键边界电子元件包括第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件；
第一确定模块402，用于根据预设的规定跳数，确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，及确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离；
第二确定模块403，用于根据第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离及各参考电子元件的个数，分别确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件各自的接近中心性。
本申请提供的手机主板性能测试系统，通过预设规定跳数，并基于规定条数确定多个关键边界电子元件可以到达的所有参考电子元件及最大电子元件个数，进而基于各个关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离分别确定各个关键边界电子元件的接近中心性，由于基于规定跳数限制了参考电子元件的个数，从而提高了计算主板拓扑中边界电子元件的重要性，提高了手机性能。
可选地，第一确定模块402，具体用于：
在主板拓扑中，确定第一关键边界电子元件在规定跳数以内到达的电子元件的第一集合；
在主板拓扑中，确定第二关键边界电子元件在规定跳数以内到达的电子元件的第二集合；
基于第一集合和第二集合的并集，确定多个参考电子元件。
可选地，第二确定模块403，具体用于：
根据第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离及各参考电子元件的个数，分别使用公式（1）计算第一关键边界电子元件的接近中心性，及第二关键边界电子元件的接近中心性；
公式（1）；
其中，表示规定跳数，/>表示基于规定跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示主板拓扑中的电子元件总数，/>表示各所述参考电子元件的个数，/>表示电子元件/>到参考电子元件/>的最短距离。
可选的，手机主板性能测试系统400还用于：
获取需求跳数；
根据需求跳数、规定跳数对应的第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件各自的接近中心性，分别使用公式（2）计算第一关键边界电子元件的接近中心性的验证值，及第二关键边界电子元件的接近中心性的验证值；
公式（2）；
其中，表示电子元件/>的接近中心性的验证值，/>表示规定跳数，/>表示基于规定跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示需求跳数，/>表示基于跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示跳数/>与基于跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性的相关系数。
可选地，获取模块401，具体用于：
获取主板拓扑中各个电子元件的目标属性；
根据各电子元件的目标属性，在各电子元件中确定至少一个关键边界电子元件；目标属性用于指示电子元件所归属的域。
可选地，获取模块401，具体用于：对于主板拓扑中每一个电子元件，在电子元件与至少一个相邻电子元件的目标属性不同时，将电子元件确定为关键边界电子元件。
图5是本申请提供的电子设备的实体结构示意图，如图5所示，该电子设备可以包括：处理器(processor)510、通信接口(Communications Interface)520、存储器(memory)530和通信总线540，其中，处理器510，通信接口520，存储器530通过通信总线540完成相互间的通信。处理器510可以调用存储器530中的逻辑指令，以执行手机主板性能测试方法，该方法包括：
获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件；至少一个关键边界电子元件包括第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件；
根据预设的规定跳数，确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，及确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离；
根据第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离及各参考电子元件的个数，分别确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件各自的接近中心性。
此外，上述的存储器530中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者手机设备等）执行本申请各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
另一方面，本申请还提供一种计算机程序产品，计算机程序产品包括计算机程序，计算机程序可存储在非暂态计算机可读存储介质上，计算机程序被处理器执行时，计算机能够执行上述各方法所提供的手机主板性能测试方法，该方法包括：
获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件；至少一个关键边界电子元件包括第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件；
根据预设的规定跳数，确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，及确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离；
根据第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离及各参考电子元件的个数，分别确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件各自的接近中心性。
又一方面，本申请还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以执行上述各方法提供的手机主板性能测试方法，该方法包括：
获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件；至少一个关键边界电子元件包括第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件；
根据预设的规定跳数，确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，及确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离；
根据第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件分别到各参考电子元件的最短距离及各参考电子元件的个数，分别确定第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件各自的接近中心性。
以上所描述的系统实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个手机单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者手机设备等）执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (9)

1.一种手机主板性能测试方法，其特征在于，包括：
获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件；所述至少一个关键边界电子元件包括第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件；
根据预设的规定跳数，确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，及确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离；
根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性；
所述根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性，包括：
根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别使用公式（1）计算所述第一关键边界电子元件的接近中心性，及所述第二关键边界电子元件的接近中心性；
公式（1）；
其中，表示规定跳数，/>表示基于规定跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，表示主板拓扑中的电子元件总数，/>表示各所述参考电子元件的个数，/>表示电子元件/>到参考电子元件/>的最短距离。
2.根据权利要求1所述的手机主板性能测试方法，其特征在于，所述根据预设的规定跳数，确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，包括：
在所述主板拓扑中，确定所述第一关键边界电子元件在所述规定跳数以内到达的电子元件的第一集合；
在所述主板拓扑中，确定所述第二关键边界电子元件在所述规定跳数以内到达的电子元件的第二集合；
基于所述第一集合和所述第二集合的并集，确定所述多个参考电子元件。
3.根据权利要求1所述的手机主板性能测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
获取需求跳数；
根据所述需求跳数、所述规定跳数对应的所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性，分别使用公式（2）计算所述第一关键边界电子元件的接近中心性的验证值，及所述第二关键边界电子元件的接近中心性的验证值；
公式（2）；
其中，表示电子元件/>的接近中心性的验证值，/>表示规定跳数，/>表示基于规定跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示需求跳数，/>表示基于跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示跳数/>与基于跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性的相关系数。
4.根据权利要求1所述的手机主板性能测试方法，其特征在于，所述获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件，包括：
获取所述主板拓扑中各个电子元件的目标属性；
根据各所述电子元件的目标属性，在各所述电子元件中确定至少一个关键边界电子元件；所述目标属性用于指示电子元件所归属的域。
5.根据权利要求4所述的手机主板性能测试方法，其特征在于，所述根据各所述电子元件的目标属性，在各所述电子元件中确定至少一个关键边界电子元件，包括：
对于所述主板拓扑中每一个电子元件，在所述电子元件与至少一个相邻电子元件的目标属性不同时，将所述电子元件确定为关键边界电子元件。
6.一种手机主板性能测试系统，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件；所述至少一个关键边界电子元件包括第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件；
第一确定模块，用于根据预设的规定跳数，确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，及确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离；
第二确定模块，用于根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性；
所述根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性，包括：
根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别使用公式（1）计算所述第一关键边界电子元件的接近中心性，及所述第二关键边界电子元件的接近中心性；
公式（1）；
其中，表示规定跳数，/>表示基于规定跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，表示主板拓扑中的电子元件总数，/>表示各所述参考电子元件的个数，/>表示电子元件/>到参考电子元件/>的最短距离。
7.根据权利要求6所述的手机主板性能测试系统，其特征在于，所述手机主板性能测试系统还用于：
获取需求跳数；
根据所述需求跳数、所述规定跳数对应的所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性，分别使用公式（2）计算所述第一关键边界电子元件的接近中心性的验证值，及所述第二关键边界电子元件的接近中心性的验证值；
公式（2）；
其中，表示电子元件/>的接近中心性的验证值，/>表示规定跳数，/>表示基于规定跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示需求跳数，/>表示基于跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性，/>表示跳数/>与基于跳数/>计算的电子元件/>的接近中心性的相关系数。
8.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行程序时实现如权利要求1至5任一项所述手机主板性能测试方法。
9.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述手机主板性能测试方法。
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