CN117452176B - 器件耐功率测试系统、方法和夹具 - Google Patents

器件耐功率测试系统、方法和夹具 Download PDF

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Abstract

本申请涉及一种器件耐功率测试系统、方法和夹具。所述系统包括：测试夹具，用于安装待测器件；网络分析仪，用于采集待测器件的性能参数；信号源，连接于待测器件，用于提供待测器件所需的测试信号；第一功率计，用于检测输入至待测器件输入端的输入功率值；第二功率计，用于检测待测器件输出端的输出功率值；计算单元，用于根据输入功率值和输出功率值，确定待测器件是否达到耐功率状态，并根据待测器件在耐功率状态下对应的性能参数，判断待测器件是否失效。采用本方法能够准确掌握器件的最大耐功率值。

Description

器件耐功率测试系统、方法和夹具
技术领域
本申请涉及半导体集成电路技术领域，特别是涉及一种器件耐功率测试系统、方法和夹具。
背景技术
随着半导体器件的发展，越来越多的器件朝着小型化、精密化进行，将很多器件集中到电路板上。绝大多数精密器件使用在手机、基站等电子设备上，但有时候设备会超负荷运行，当部分器件承受不了大功率信号通过时，会导致击穿，从而造成设备故障。
目前的耐功率测试均是针对成型产品电路，通过使成型产品电路超负荷运行，得到成型产品电路的耐功率性能，但成型产品电路中包含多个器件，每个器件的耐功率性能不同；针对成型产品电路测得的耐功率极限值不一定是每个器件的耐功率极限值。
因此，需要确切知道每个器件的耐功率极限值，才能实现有效的耐功率筛选，有效减少后续故障的发生。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种器件耐功率测试系统、方法和夹具，能够确定单个器件的耐功率极限值。
第一方面，本申请提供了一种器件耐功率测试系统，包括：
测试夹具，用于安装待测器件；
网络分析仪，用于采集待测器件的性能参数；
信号源，连接于待测器件，用于提供待测器件所需的测试信号；
第一功率计，用于检测输入至待测器件输入端的输入功率值；第二功率计，用于检测待测器件输出端的输出功率值；
计算单元，用于根据输入功率值和输出功率值，确定待测器件是否达到耐功率状态，并根据待测器件在耐功率状态下对应的性能参数，判断待测器件是否失效。
在其中一个实施例中，器件耐功率测试系统还包括：
固态功率放大器，连接于信号源，用于对信号源提供的测试信号进行放大，以使得放大后的测试信号能够驱动待测器件工作。
在其中一个实施例中，器件耐功率测试系统还包括：
隔离器，连接于固态功率放大器的输出端，用于使得放大后的测试信号单向传输至待测器件。
在其中一个实施例中，器件耐功率测试系统还包括：
第一耦合器，连接于隔离器的输出端，用于根据放大后的测试信号，生成第一正常信号和第一衰减信号，第一正常信号用于供驱动待测器件工作，衰减信号用于供第一功率计检测输入至待测器件输入端的输入功率值；
第二耦合器，连接于待测器件的输出端，用于根据待测器件的输出信号，生成第二正常信号和第二衰减信号，第二衰减信号用于供第二功率计检测待测器件输出端的输出功率值。
在其中一个实施例中，器件耐功率测试系统还包括：
第一功率负载，连接于隔离器的输出端，用于消耗第一剩余信号，第一剩余信号由隔离器的输入信号数值减去待测器件输入端的输入信号数值确定；
第二功率负载，连接于第二耦合器的输出端，用于消耗第二剩余信号，第二剩余信号为第二耦合器的输出信号。
在其中一个实施例中，计算单元还包括：
确定输出功率值与输入功率值的差值的绝对值是否大于消耗阈值；
若是，则确定待测器件达到耐功率状态；
获取待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数；
根据待测器件的初始参数，以及待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数，判断待测器件是否失效。
第二方面，本申请还提供了一种器件耐功率测试方法，包括：
获取输入至待测器件输入端的输入功率值和待测器件输出端的输出功率值；
根据输入功率值和输出功率值，确定待测器件的耐功率状态，并根据耐功率状态以及待测器件的性能参数，判断待测器件是否失效。
在其中一个实施例中，根据输入功率值和输出功率值，确定待测器件的耐功率状态，并根据耐功率状态以及待测器件的性能参数，判断待测器件是否失效，包括：
确定输入功率值与输出功率值的差值的绝对值是否大于消耗阈值；
若是，则确定待测器件达到耐功率状态；
获取待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数；
根据待测器件的初始参数，以及待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数，判断待测器件是否失效。
在其中一个实施例中，根据输入功率值和输出功率值，确定待测器件的耐功率状态，并根据耐功率状态以及待测器件的性能参数，判断待测器件是否失效，还包括：
若输入功率值与输出功率值的差值的绝对值小于或等于消耗阈值，则确定待测器件未达到耐功率状态；
向信号源发出调整指令，调整信号源提供的测试信号，以增大输入至待测器件输入端的输入功率值。
第三方面，本申请还提供了一种测试夹具，包括：
测试板；
测试导线，安装于测试板上，与待测器件连接，用于接入对待测器件进行耐功率测试的测试信号；
连接器，安装于测试板上，且连接于测试导线的端部，用于将测试导线固定至测试板上。
上述器件耐功率测试系统、方法和夹具，通过根据确定输出功率值与输入功率值，判断输出功率值与输入功率值的差值的绝对值是否大于消耗阈值，以及待测器件是否达到耐功率状态，进而根据待测器件的状态，获取待测器件的当前性能参数，最终根据待测器件的当前性能参数和初始性能参数，对待测器件进行失效判断；相比于传统技术，根据成型产品电路的各性能参数确定耐功率值的方式，本申请以单个器件或多个器件串联的输出功率值与输入功率值的差值的绝对值作为判断待测器件是否达到耐功率状态的依据，最后根据待测器件测试前后的性能参数变化确定待测器件是否失效，可以精准确定各个器件的耐功率极限值。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例中提供的一种器件耐功率测试系统的拓扑图；
图2为本申请实施例中提供的一种计算单元的流程示意图；
图3为本申请实施例中提供的一种器件耐功率测试方法的流程示意图；
图4为本申请实施例中提供的另一种器件耐功率测试方法的流程示意图；
图5为本申请实施例中提供的一种器件耐功率测试装置的结构框图；
图6为本申请实施例中提供的一种计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
随着半导体器件的发展，器件越来越小型化、精密化，将很多器件集中到电路板上，直接将电路板安装在手机、基站等电子设备上。为了防止设备超负荷运行，需要知道各组成器件的耐功率极限值。
目前的耐功率测试均是针对成型的产品电路，通过使成型的产品电路超负荷运行，确定成型的产品电路的耐功率极限值，但成型的产品电路中包含多个器件，每个器件的耐功率性能不同。因此，针对成型产品电路测得的耐功率极限值不一定是型产品电路中各器件的耐功率极限值。
基于此，为了确定各器件的耐功率极限值，本申请实施例提供了一种器件耐功率测试方法，可以应用于计算机设备，该计算机设备可以是服务器，或者可以是计算功能比较强大的终端。
图1为本申请实施例中提供的一种器件耐功率测试系统，该系统包括测试夹具、网络分析仪、信号源、功率计及计算单元，其中：
测试夹具，用于安装待测器件；
网络分析仪，用于采集待测器件的性能参数；
信号源，连接于待测器件，用于提供待测器件所需的测试信号；
第一功率计，用于检测输入至待测器件输入端的输入功率值；第二功率计，用于检测待测器件输出端的输出功率值；
计算单元，用于根据输入功率值和输出功率值，确定待测器件是否达到耐功率状态，并根据待测器件在耐功率状态下对应的性能参数，判断待测器件是否失效。
可以理解的是，网络分析仪可以测得待测器件的性能参数，即S散射参数。S散射参数可以描述电磁波在待测器件的损耗和反射等特性。例如，选取S散射参数中的插入损耗，插入损耗表示有多少能量被传输到目的端，插入损耗的值越大越好，理想值是1，即0dB；插入损耗的值越大，传输的效率越高，一般建议插入损耗>0.7，即－3dB。
可以理解的是，待测器件处于正常工作状态，输出功率在预设差值范围内小于输入功率；若待测器件处于非正常工作状态，则输出功率与输入功率差值的绝对值会超出预设差值范围，此时待测器件达到耐功率状态。因此，本申请中，根据待测器件的输出功率与待测器件的输入功率的差值的绝对值作为判定待测器件是否达到耐功率状态的依据。其中，预设差值范围取决于待测器件的消耗性能；若待测器件的消耗性能较强，则预设差值范围也较大；若待测器件的消耗性能较弱，则预设差值范围也较小。
具体的，计算单元确定待测器件的输入功率值和待测器件的输出功率值的差值的绝对值，若该差值的绝对值过大，超过预设差值范围，表示此时流经待测器件的功率值达到待测器件可承受的功率最大值，即待测器件达到耐功率状态；此时再对待测器件的性能参数进行进一步分析，判断待测器件是否失效，通过确定待测器件的测试前后的性能参数变化，判断待测器件是否失效。
例如，选取性能参数中的插入损耗进行失效判断。当信号源提供测试信号W0i，待测器件输入端的输入功率值为W1i时，待测器件的输入功率值W1i和待测器件的输出功率值W2i差值的绝对值大于预设差值范围ΔW时，表示此刻待测器件达到耐功率状态；此时，根据待测器件的测试前的初始插入损耗S1，以及此时待测器件的当前插入损耗S2，确定待测器件插入损耗的变化幅度，根据变化幅度确定待测器件是否失效。
上述器件耐功率测试系统，通过根据确定输出功率值与输入功率值，判断输出功率值与输入功率值的差值的绝对值是否大于消耗阈值，以及待测器件是否达到耐功率状态，进而根据待测器件的状态，获取待测器件的当前性能参数，最终根据待测器件的当前性能参数和初始性能参数，对待测器件进行失效判断；相比于传统技术，根据成型产品电路的各性能参数确定耐功率值的方式，本申请以单个器件或多个器件串联的输出功率值与输入功率值的差值的绝对值作为判断待测器件是否达到耐功率状态的依据，最后根据待测器件测试前后的性能参数变化确定待测器件是否失效，可以精准确定各个器件的耐功率极限值。
在一个实施例中，计算单元，在根据输入功率值和输出功率值，确定待测器件的耐功率状态，并根据耐功率状态以及待测器件的性能参数，判断待测器件是否失效时，如图2所示，具体包括以下S201至S204。其中：
S201，确定输入功率值与输出功率值的差值的绝对值是否大于消耗阈值。
其中，输入功率值W1i是输入第一功率计的值；输出功率值W2i是第二功率计的输出值；消耗阈值时根据待测器件的性能设定的值，可根据待测器件的阻抗等性能进行调节。
示例性的，将输入功率值W1i和输出功率值W2i做差，将差值的绝对值与预设的消耗阈值进行比较，从而确定待测器件的状态。
S202，若是，则确定待测器件达到耐功率状态。
其中，耐功率状态表示当前流经器件的功率达到该器件可承受的最大功率值。
S203，获取待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数。
其中，性能参数通过网络分析仪采集得到。
示例性的，当输入功率值为W1i时，待测器件达到耐功率状态，通过网络分析仪对此时待测器件的S散射参数进行采集，例如，获取当前待测器件的插入损耗S2。
S204，根据待测器件的初始参数，以及待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数，判断待测器件是否失效。
如上示例，根据待测器件达到耐功率状态时对应的当前插入损耗S2，以及待测器件在测试前采集初始参数中的插入损耗S1，对待测器件进行失效判断，变化量ΔS可以表示为：
（1）
若ΔS大于5%，则判断待测器件失效，待测器件的耐功率极限值为W1i。
在本实施例中，通过输出功率值与输入功率值的差值与消耗阈值进行比较，从而确定待测器件的状态，并根据待测器件的状态判断是否进行失效判断，可以精准得知每个器件的耐功率极限值。
在一个实施例中，该测试系统还包括：
固态功率放大器，连接于信号源，用于对信号源提供的测试信号进行放大，以使得放大后的测试信号能够驱动待测器件工作。
进一步的，该测试系统还包括：隔离器，连接于固态功率放大器的输出端，用于使得放大后的测试信号单向传输至待测器件。
进一步的，该测试系统还包括：
第一耦合器，连接于隔离器的输出端，用于根据放大后的测试信号，生成第一正常信号和第一衰减信号，正常信号用于供驱动待测器件工作，衰减信号用于供第一功率计检测输入至待测器件输入端的输入功率值；
第二耦合器，连接于待测器件的输出端，用于根据待测器件的输出信号，生成第二正常信号和第二衰减信号，第二衰减信号用于供第二功率计检测待测器件输出端的输出功率值。
进一步的，该测试系统还包括：
第一功率负载，连接于隔离器的输出端，用于消耗第一剩余信号，第一剩余信号由隔离器的输入信号数值减去待测器件输入端的输入信号数值确定；
第二功率负载，连接于第二耦合器的输出端，用于消耗第二剩余信号，第二剩余信号为第二耦合器的输出信号。
示例性的，信号源提供待测器件所需的测试信号W0i，测试信号传输至固态功率放大器，固态功率放大器对测试信号进行放大；放大后的信号传输至隔离器，保证放大后的测试信号单向传输；信号流出隔离器后进入第一耦合器，第一耦合器生成第一正常信号和第一衰减信号，第一正常信号输入至待测器件，第一衰减信号输入至第一功率计，第一功率计对第一衰减信号进行测量，测量结果即为输入功率值W1i；第一正常信号从待测器件流出后，进入第二耦合器，第二耦合器根据流入的信号生成第二正常信号和第二衰减信号，第二衰减信号输入至第二功率计，第二功率计对第二衰减信号进行测量，测量结果即为输出功率值W2i，第二正常信号输入至功率负载，进行信号能量的消耗。
在本实施例中，通过固态功率放大器及耦合器等组成了器件耐功率测试系统，为实现器件的耐功率测试提供了条件。
在一个实施例中，基于上述器件耐功率测试系统，提供了一种器件耐功率测试方法，以该系统由计算单元执行为例进行说明。如图3所示，该器件耐功率测试方法包括以下S301至S302。其中：
S301，获取输入至待测器件输入端的输入功率值和待测器件输出端的输出功率值。
其中，输出功率值是第二功率计的输出值；输入功率值是输入第一功率计的值；消耗阈值时根据待测器件的性能设定的值，可根据待测器件的阻抗等性能进行调节。
需要说明的是，为了保证放大后的测试信号单向传输，在隔离器旁安装第一功率负载，实现多余信号能量的消耗；为了最后消耗多余的信号能量，在第二耦合器的输出端连接第二功率负载。
S302，根据输入功率值和输出功率值，确定待测器件的耐功率状态，并根据耐功率状态以及待测器件的性能参数，判断待测器件是否失效。
具体的，确定输出功率值与输入功率值的差值的绝对值是否大于消耗阈值；若是，则确定待测器件达到耐功率状态；获取待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数，根据待测器件的初始参数，以及待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数，判断待测器件是否失效；若输出功率值与输入功率值的差值的绝对值小于或等于消耗阈值，则确定待测器件未达到耐功率状态；向信号源发出调整指令，调整信号源提供的测试信号，以增大输入至待测器件输入端的输入功率值。
示例性的，当输入功率值为W1i和输出功率值为W2i时，将输出功率值为W2i和输入功率值为W1i做差，将差值的绝对值与消耗阈值ΔW进行比较，根据比较结果对待测器件的状态进行判断。当输出功率值W2i与输入功率值W1i的差值的绝对值大于消耗阈值ΔW时，判断此时待测器件达到耐功率状态，并通过网络分析仪对此时待测器件的S散射参数进行采集，例如查看当前待测器件的插入损耗S2，并根据待测器件在测试前采集初始参数中的插入损耗S1，对待测器件进行失效判断，变化量ΔS可以表示为：
（2）
若ΔS大于5%，则判断待测器件失效，待测器件的最大耐功率为W1i。若输出功率值W2i与输入功率值W1i的差值的绝对值小于或等于消耗阈值ΔW，则确定待测器件未达到耐功率状态，可以继续对待测器件进行耐功率测试，提高输入至待测器件输入端的输入功率值，可以通过调整信号源的输出实现；不断提高输入至待测器件输入端的输入功率值，直至待测器件达到耐功率状态，此时对待测器件进行失效判断。
上述器件耐功率测试方法，通过根据确定输出功率值与输入功率值，判断输出功率值与输入功率值的差值的绝对值是否大于消耗阈值，以及待测器件是否达到耐功率状态，进而根据待测器件的状态，获取待测器件的当前性能参数，最终根据待测器件的当前性能参数和初始性能参数，对待测器件进行失效判断；相比于传统技术，根据成型产品电路的各性能参数确定耐功率值的方式，本申请以单个器件或多个器件串联的输出功率值与输入功率值的差值的绝对值作为判断待测器件是否达到耐功率状态的依据，最后根据待测器件测试前后的性能参数变化确定待测器件是否失效，可以精准确定各个器件的耐功率极限值。
在上述实施例的基础上，本实施例提供了一种器件耐功率测试方法的可选实例。如图4所示，具体实现过程如下：
S401，获取输入至待测器件输入端的输入功率值和待测器件输出端的输出功率值。
S402，确定输出功率值与输入功率值的差值的绝对值是否大于消耗阈值。
S403，若是，则确定待测器件达到耐功率状态。
S404，获取待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数。
S405，根据待测器件的初始参数，以及待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数，判断待测器件是否失效。
S406，若输出功率值与输入功率值的差值小于或等于消耗阈值，则确定待测器件未达到耐功率状态。
S407，向信号源发出调整指令，调整信号源提供的测试信号，以增大输入至待测器件输入端的输入功率值。
上述S401-S407的具体过程可以参考上述方法实施例的描述，其实现原理和技术效果类似，在此不再赘述。
应该理解的是，虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时段执行完成，而是可以在不同的时段执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
基于同样的发明构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的器件耐功率测试方法的器件耐功率测试装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个器件耐功率测试装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于器件耐功率测试方法的限定，在此不再赘述。
在一个示例性的实施例中，如图5所示，提供了一种器件耐功率测试装置1，包括：获取模块10和判断模块20，其中：
获取模块10，用于获取输入至待测器件输入端的输入功率值和待测器件输出端的输出功率值。
判断模块20，用于根据输入功率值和输出功率值，确定待测器件的耐功率状态，并根据耐功率状态以及待测器件的性能参数，判断待测器件是否失效。
在一个实施例中，判断模块20具体还用于：
确定输出功率值与输入功率值的差值的绝对值是否大于消耗阈值；若是，则确定待测器件达到耐功率状态；获取待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数，根据待测器件的初始参数，以及待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数，判断待测器件是否失效。
在一个实施例中，判断模块20具体还用于：
若输出功率值与输入功率值的差值的绝对值小于或等于消耗阈值，则确定待测器件未达到耐功率状态；向信号源发出调整指令，调整信号源提供的测试信号，以增大输入至待测器件输入端的输入功率值。
上述器件耐功率测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个示例性的实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图6所示。该计算机设备包括处理器、存储器、输入/输出接口(Input/Output，简称I/O）和通信接口。其中，处理器、存储器和输入/输出接口通过系统总线连接，通信接口通过输入/输出接口连接到系统总线。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储试验数据。该计算机设备的输入/输出接口用于处理器与外部设备之间交换信息。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种器件耐功率测试方法。
本领域技术人员可以理解，图6中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个示例性的实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
获取输入至待测器件输入端的输入功率值和待测器件输出端的输出功率值；
根据输入功率值和输出功率值，确定待测器件的耐功率状态，并根据耐功率状态以及待测器件的性能参数，判断待测器件是否失效。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
确定输出功率值与输入功率值的差值的绝对值是否大于消耗阈值；若是，则确定待测器件达到耐功率状态；获取待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数，根据待测器件的初始参数，以及待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数，判断待测器件是否失效。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
若输出功率值与输入功率值的差值的绝对值小于或等于消耗阈值，则确定待测器件未达到耐功率状态；向信号源发出调整指令，调整信号源提供的测试信号，以增大输入至待测器件输入端的输入功率值。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
获取输入至待测器件输入端的输入功率值和待测器件输出端的输出功率值；
根据输入功率值和输出功率值，确定待测器件的耐功率状态，并根据耐功率状态以及待测器件的性能参数，判断待测器件是否失效。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
确定输出功率值与输入功率值的差值的绝对值是否大于消耗阈值；若是，则确定待测器件达到耐功率状态；获取待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数，根据待测器件的初始参数，以及待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数，判断待测器件是否失效。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
若输出功率值与输入功率值的差值的绝对值小于或等于消耗阈值，则确定待测器件未达到耐功率状态；向信号源发出调整指令，调整信号源提供的测试信号，以增大输入至待测器件输入端的输入功率值。
在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
获取输入至待测器件输入端的输入功率值和待测器件输出端的输出功率值；
根据输入功率值和输出功率值，确定待测器件的耐功率状态，并根据耐功率状态以及待测器件的性能参数，判断待测器件是否失效。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
确定输出功率值与输入功率值的差值的绝对值是否大于消耗阈值；若是，则确定待测器件达到耐功率状态；获取待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数，根据待测器件的初始参数，以及待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数，判断待测器件是否失效。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
若输出功率值与输入功率值的差值的绝对值小于或等于消耗阈值，则确定待测器件未达到耐功率状态；向信号源发出调整指令，调整信号源提供的测试信号，以增大输入至待测器件输入端的输入功率值。
在一个实施例中，上述器件耐功率测试系统通过一种测试夹具实现对器件耐功率的测试。该测试夹具主要包括：
测试板；
测试导线，安装于测试板上，与待测器件连接，用于接入对待测器件进行耐功率测试的测试信号；
连接器，安装于测试板上，且连接于测试导线的端部，用于将测试导线固定至测试板上。
上述测试夹具，可以将一个单独的器件接入到器件耐功率测试系统，确定该器件的耐功率极限值，也可以将多个器件串联接入到器件耐功率测试系统，确定多个串联器件的耐功率极限值。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器（Read-OnlyMemory，ROM）、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器（ReRAM）、磁变存储器（Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM）、铁电存储器（Ferroelectric Random Access Memory，FRAM）、相变存储器（Phase Change Memory，PCM）、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器（Random Access Memory，RAM）或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器（Static Random Access Memory，SRAM）或动态随机存取存储器（Dynamic RandomAccess Memory，DRAM）等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (5)

1.一种器件耐功率测试系统，其特征在于，包括：
测试夹具，用于安装待测器件；
网络分析仪，用于采集所述待测器件的性能参数；
信号源，连接于所述待测器件，用于提供所述待测器件所需的测试信号；
固态功率放大器，连接于所述信号源，用于对所述信号源提供的测试信号进行放大，以使得放大后的测试信号能够驱动所述待测器件工作；
隔离器，连接于所述固态功率放大器的输出端，用于使得放大后的测试信号单向传输至所述待测器件；
第一功率计，用于检测输入至所述待测器件输入端的输入功率值；第二功率计，用于检测所述待测器件输出端的输出功率值；
第一耦合器，连接于所述隔离器的输出端，用于根据放大后的测试信号，生成第一正常信号和第一衰减信号，所述第一正常信号用于供驱动所述待测器件工作，所述衰减信号用于供所述第一功率计检测输入至所述待测器件输入端的输入功率值；
第二耦合器，连接于所述待测器件的输出端，用于根据所述待测器件的输出信号，生成第二正常信号和第二衰减信号，所述第二衰减信号用于供所述第二功率计检测所述待测器件输出端的输出功率值；
第一功率负载，连接于所述隔离器的输出端，用于消耗第一剩余信号，所述第一剩余信号由所述隔离器的输入信号数值减去所述待测器件输入端的输入信号数值确定；
第二功率负载，连接于所述第二耦合器的输出端，用于消耗第二剩余信号，所述第二剩余信号为所述第二耦合器的输出信号；
计算单元，用于当所述输入功率值和所述输出功率值的差值的绝对值大于消耗阈值时，确定所述待测器件达到耐功率状态；并根据所述待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数与所述待测器件的初始参数，确定参数的变化量；并根据所述变化量，判断所述待测器件是否失效。
2.一种器件耐功率测试方法，应用于上述权利要求1中的器件耐功率测试系统，其特征在于，包括：
获取输入至待测器件输入端的输入功率值和所述待测器件输出端的输出功率值；
根据所述输入功率值和所述输出功率值，确定所述待测器件的耐功率状态，并根据所述耐功率状态以及所述待测器件的性能参数，判断所述待测器件是否失效。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述输入功率值和所述输出功率值，确定所述待测器件的耐功率状态，并根据所述耐功率状态以及所述待测器件的性能参数，判断所述待测器件是否失效，包括：
确定所述输入功率值与所述输出功率值的差值的绝对值是否大于消耗阈值；
若是，则确定所述待测器件达到耐功率状态；
获取所述待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数；
根据所述待测器件的初始参数，以及所述待测器件达到耐功率状态时对应的当前性能参数，判断所述待测器件是否失效。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述输入功率值和所述输出功率值，确定所述待测器件的耐功率状态，并根据所述耐功率状态以及所述待测器件的性能参数，判断所述待测器件是否失效，包括：
若所述输入功率值与所述输出功率值的差值的绝对值小于或等于消耗阈值，则确定所述待测器件未达到耐功率状态；
向信号源发出调整指令，调整所述信号源提供的测试信号，以增大输入至所述待测器件输入端的输入功率值。
5.一种测试夹具，应用于上述权利要求1中的器件耐功率测试系统，其特征在于，包括：
测试板；
测试导线，安装于所述测试板上，与待测器件连接，用于接入对所述待测试器件进行耐功率测试的测试信号；
连接器，安装于所述测试板上，且连接于所述测试导线的端部，用于将所述测试导线固定至所述测试板上。
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