CN117437304B - 安检机标定方法及相关方法、装置、设备和存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种安检机标定方法及相关方法、装置、设备和存储介质，其中，安检机标定方法包括：获取标定板放置于安检机的安检通道内不同高度处时由安检机所扫描的参考图像组，参考图像组包含参考主视图和参考侧视图，标定板包括基板以及设于基板的标定图案；对于各个参考图像组：基于参考主视图和标定图案的物理尺寸，得到安检机在主视视角下像素坐标系到物理坐标系的映射关系，并基于参考侧视图，得到标定板的像素高度，及基于映射关系与像素高度，构造得到表征主视视角下在像素高度由像素坐标系映射到物理坐标系的映射标定参数。上述方案，能够尽可能准确且高效地对像素坐标系到物理坐标系的映射参数进行标定，以便测算安检物品的物理尺寸。

Description

安检机标定方法及相关方法、装置、设备和存储介质

技术领域

本申请涉及安检机技术领域，特别是涉及一种安检机标定方法及相关方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

地铁、车站、机场等交通站通常配备安检机，用于对包裹、行李等进行检测，以快速检测过往物品，并在检测发现违禁品时及时干预。

然而，现有的安检机通常也仅局限于此，而无法测算出安检物品的物理尺寸。为了在安检机其扫描图像的基础上，进一步测算安检物品的物理尺寸，有必要尽可能准确且高效地对像素坐标系到物理坐标系的映射参数进行标定。

发明内容

本申请主要解决的技术问题是提供一种安检机标定方法及相关方法、装置、设备和存储介质，能够尽可能准确且高效地对像素坐标系到物理坐标系的映射参数进行标定，以便测算安检物品的物理尺寸。

为了解决上述技术问题，本申请第一方面提供了一种安检机标定方法，包括：获取标定板放置于安检机的安检通道内不同高度处时由安检机所扫描的参考图像组；其中，参考图像组包含参考主视图和参考侧视图，标定板包括基板以及设于基板的标定图案；对于各个参考图像组：基于参考主视图和标定图案的物理尺寸，得到安检机在主视视角下像素坐标系到物理坐标系的映射关系，并基于参考侧视图，得到标定板的像素高度，以及基于映射关系与像素高度，构造得到表征主视视角下在像素高度由像素坐标系映射到物理坐标系的映射标定参数。

为了解决上述技术问题，本申请第二方面提供了一种物品尺寸测量方法，包括：获取待检物品经过安检机的安检通道时由安检机所扫描的待测图像组，并获取安检机主视视角下在不同像素高度的映射标定参数；其中，待测图像组至少包括待测主视图，映射标定参数基于上述第一方面中的安检机标定方法得到；基于待测主视图进行检测，得到待检物品的第一目标区域，并选择像素高度下的映射标定参数，作为目标映射参数；基于目标映射参数对第一目标区域上轮廓点的像素坐标进行映射，得到轮廓点在物理坐标系中的物理坐标；基于轮廓点的物理坐标，得到待检物品的物理尺寸。

为了解决上述技术问题，本申请第三方面提供了一种安检机标定装置，包括：参考图像获取模块和映射参数标定模块，参考图像获取模块，用于获取标定板放置于安检机的安检通道内不同高度处时由安检机所扫描的参考图像组；其中，参考图像组包含参考主视图和参考侧视图，标定板包括基板以及设于基板的标定图案；映射参数标定模块，用于对于各个参考图像组：基于参考主视图和标定图案的物理尺寸，得到安检机在主视视角下像素坐标系到物理坐标的映射关系，并基于参考侧视图，得到标定板的像素高度，以及基于映射关系与像素高度，构造得到表征主视视角下在像素高度由像素坐标系映射到物理坐标的映射标定参数。

为了解决上述技术问题，本申请第四方面提供了一种物品尺寸测量装置，包括：待测图像获取模块、映射参数获取模块、待测图像检测模块、映射参数选择模块、像素坐标映射模块和物理尺寸度量模块，待测图像获取模块，用于获取待检物品经过安检机的安检通道时由安检机所扫描的待测图像组；其中，待测图像组至少包括待测主视图；映射参数获取模块，用于获取安检机主视视角下在不同像素高度的映射标定参数；其中，映射标定参数基于上述第三方面中的安检机标定装置得到；待测图像检测模块，用于基于待测主视图进行检测，得到待检物品的第一目标区域；映射参数选择模块，用于选择像素高度下的映射标定参数，作为目标映射参数；像素坐标映射模块，用于基于目标映射参数对第一目标区域上轮廓点的像素坐标进行映射，得到轮廓点在物理坐标系中的物理坐标；物理尺寸度量模块，用于基于轮廓点的物理坐标，得到待检物品的物理尺寸。

为了解决上述技术问题，本申请第五方面提供了一种电子设备，包括相互耦接的存储器和处理器，存储器中存储有程序指令，处理器用于执行程序指令以实现上述第一方面中的安检机标定方法，或实现上述第二方面中的物品尺寸测量方法。

为了解决上述技术问题，本申请第六方面提供了一种计算机可读存储介质，存储有能够被处理器运行的程序指令，程序指令用于实现上述第一方面的安检机标定方法，或实现上述第二方面中的物品尺寸测量方法。

上述方案，获取标定板放置于安检机的安检通道内不同高度处时由安检机所扫描的参考图像组，且参考图像组包含参考主视图和参考侧视图，标定板包括基本以及设于基板的标定图案。在此基础上，对于各个参考图像组，再基于参考主视图和标定图案的物理尺寸，得到安检机在主视视角下像素坐标系到物理坐标系的映射关系，并基于参考侧视图，得到标定板的像素高度，以及基于映射关系与像素高度，构造得到表征主视视角下在像素高度由像素坐标系映射到物理坐标系的映射标定参数，从而能够通过相同处理流程，标定得到不同像素高度处由像素坐标系映射到物理坐标系的映射标定参数，进而一方面能够免于对不同像素高度设计不同标定方式，有助于提升标定效率，另一方面通过组合不同像素高度的映射标定参数，能够提升标定精度，且有助于灵活满足实际应用过程中安检物品位于安检通道内不同高度的应用需求。故此，能够尽可能准确且高效地对像素坐标系到物理坐标系的映射参数进行标定，以便测算安检物品的物理尺寸。

附图说明

图1是本申请安检机标定方法一实施例的流程示意图；

图2a是安检机一实施例的构造示意图；

图2b是两件刀具类物体距离传送带相同高度且至传送带边缘不同距离时一实施例的成像示意图；

图2c是两件刀具类物体距离传送带不同高度且至传送带边缘相同距离时一实施例的成像示意图；

图2d是两件容器类物体距离传送带相同高度且至传送带边缘不同距离时一实施例的成像示意图；

图2e是两件容器类物体距离传送带不同高度且至传送带边缘相同距离时一实施例的成像示意图；

图2f是标定板一实施例的示意图；

图2g是参考主视图进行角点检测一实施例的示意图；

图3是本申请物品尺寸测量方法一实施例的流程示意图；

图4a是待测图像组一实施例的示意图；

图4b是待测图像组另一实施例的示意图；

图4c是待测图像组又一实施例的示意图；

图4d是坐标映射一实施例的效果示意图；

图4e是测试刀具一实施例的示意图；

图4f是测试容器一实施例的示意图；

图5是本申请安检机标定装置一实施例的框架示意图；

图6是本申请物品尺寸测量装置一实施例的框架示意图；

图7是本申请电子设备一实施例的框架示意图；

图8是本申请计算机可读存储介质一实施例的框架示意图。

具体实施方式

下面结合说明书附图，对本申请实施例的方案进行详细说明。

以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、接口、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请。

本文中术语“系统”和“网络”在本文中常被可互换使用。本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中片段“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。此外，本文中的“多”表示两个或者多于两个。

请参阅图1，图1是本申请安检机标定方法一实施例的流程示意图。具体而言，可以包括如下步骤：

步骤S11：获取标定板放置于安检机的安检通道内不同高度处时由安检机所扫描的参考图像组。

为了便于理解本申请公开实施例，下面先对安检机的工作原理进行简要说明。请参阅图2a，图2a是安检机一实施例的构造示意图。如图2a所示，由于物质对X射线的吸收作用，扇形X射线束穿过被检查物体后将有一部分能量被吸收，由于不同种类的材料对X射线的吸收能力不同，所以穿过不同材料的射线束到达L形探测器时的能量是不同的。在某一时刻扇形X射线束仅穿过被检行李包裹的一个横截面，同时线性（一维）阵列探测器将该截面内所包含的物体吸收过的X射线能量值记录下来。随着物体向前运动，被检行李包裹的每一个横截面被连续扫描，行李包裹的所有截面吸收过的X射线能量值都能被记录下来，这样就能得到从X射线源到探测器方向整个行李包裹的投影图像，再经计算机图像技术处理后可给不同种类的材料赋予不同的颜色，从而使行李包裹中危险品和违禁品能被检查出来。为了进一步理解不同类型物体在安检机中的成像原理，下面以刀具类物体和容器类物体为例，分别对刀具类物体和容器物体在安检机中的成像原理进行示例性说明。

在一个实施场景中，请结合参阅图2b和图2c，图2b是两件刀具类物体距离传送带相同高度且至传送带边缘不同距离时一实施例的成像示意图，图2c是两件刀具类物体距离传送带不同高度且至传送带边缘相同距离时一实施例的成像示意图。如图2b所示，L型探测器采集到的数据经过复杂的计算、相关的成像过程以及各种图像处理后得到可识别的 X射线透射图像并呈现在显示屏上。其中在图像处理阶段，可将垂直的L型探测器理解为拉伸成直线的探测器，具体过程可以参阅安检机的技术细节，在此不再赘述。假设HI、DE为长度相同的刀具，摆放在安检通道内距传送带相同高度且至传送带边缘不同距离。由相似三角形性质可知：

……（1）

……（2）

如图2c所示，假设刀具A和刀具B长度相同，摆放在距离传送带不同高度处，且分别至传送带边缘相同距离。则如图2c所示，与传送带高度差更大的刀具B投影航都L小于与传送带高度差小的刀具A的投影长度L2。

在一个实施场景中，请结合参阅图2d和图2e，图2d是两件容器类物体距离传送带相同高度且至传送带边缘不同距离时一实施例的成像示意图，图2e是两件容器类物体距离传送带不同高度且至传送带边缘相同距离时一实施例的成像示意图。如图2d所示，受容器高度影响，截面为圆形的两个相同容器，距离光源越远，投影面积越大。如图2e所示，受容器高度影响，截面为圆形的两个相同容器，距离光源越远，投影面积越小。

当然，上述举例仅仅是刀具类物体和容器类物体两类不同物体在安检机中的成像示例，并不因此而限定其他物体在安检机中的成像情况。本公开实施例中仅以此两类物体作为示例，示意性地说明安检机的成像原理，其他物体在安检机中的成像情况，在此不再一一举例。

本公开实施例中，参考图像组包含参考主视图和参考侧视图。需要说明的是，在具体标定过程中，可以以传送带的传送方向（如图2a中箭头方向）为X轴方向，垂直于传送方向为Y轴方向，安检机其安检通道的高度方向为Z轴方向，则安检机成像的主视图中任一像素坐标可以记为，对应于上述世界坐标/>，而安检机成像的侧视图中任一像素坐标可以记为/>，对应于上述世界坐标/>。

本公开实施例中，标定板包括基板以及设于基板的标定图案。需要说明的是，标定图案可以包括但不限于棋盘格、圆网格等，在此对标定图案的具体形状不做限定。以棋盘格作为标定图案为例，请结合参阅图2f，图2f是标定板一实施例的示意图。如图2f所示，标定板的基板可以设置为36cm*36cm，基板可以采用木板、塑料板等，特别地，可以通过3D打印得到基板。在此基础上，可以在基板上间隔嵌入2cm*2cm的铁片（如图2f中深色块）形成棋盘格，从而得到用于标定安检机的标定板。当然，图2f所示的标定板仅仅是实际应用过程中标定板的一种可能示例，并不因此而限定标定板的具体样式以及尺寸。

在一个实施场景中，在建立上述世界坐标以及标定板之后，可以沿世界坐标Z轴的不同z值（即安检机中安检通道内不同高度）处放置标定板，以建立主视视角下像素坐标系到物理坐标系的映射关系。此外，在标定过程中，标定板可以保持与传送带平行，即与XY平面平行，以获取参考主视图I1和参考侧视图I2。在实际应用过程中，可以每隔预设高度在安检通道内获取一个对应高度的参考图像图。预设高度可以根据实际需要进行设置，如对标定精度要求相对较高的情况下，预设高度可以设置地适当小一些，如可以设置为4cm、5cm等，或者，在标定精度要求相对宽松的情况下，预设高度可以设置地适当大一些，如可以设置为7cm、8cm等，在此对预设高度不做限定。

步骤S12：对于各个参考图像组：基于参考主视图和标定图案的物理尺寸，得到安检机在主视视角下像素坐标系到物理坐标系的映射关系，并基于参考侧视图，得到标定板的像素高度，以及基于映射关系与像素高度，构造得到表征主视视角下在像素高度由像素坐标系映射到物理坐标系的映射标定参数。

在一个实施场景中，如前所述，标定图案可以为以不同于基板材质的矩形片（如前述铁片）在基板上排列形成的棋盘格，则在标定映射关系的过程中，可以基于参考主视图进行检测，得到棋盘格的各个角点，再选择棋盘格上角点作为第一角点，并基于第一角点确定物理坐标系的坐标原点。在此基础上，可以基于参考主视图中第一角点和第二角点在目标方向上的像素坐标，划分参考主视图为若干图像区域，且第二角点为参考主视图上最后一个角点，目标方向为横向或纵向，再基于第一角点、第二角点分别在目标方向上的像素坐标和棋盘格在目标方向上的物理尺寸，得到图像区域内在目标方向上像素坐标系映射到物理坐标系的映射关系。上述方式，通过角点检测选择第一角点作为物理坐标系的坐标原点，并基于第一角点以及作为最后一个角点的第二角点两者在目标方向上的像素坐标，划分参考主视图为若干图像区域，从而在目标方向分别标定图像区域内像素坐标系到物理坐标系的映射关系，进而能够在标定过程中分区域、分横纵地标定坐标映射关系，有助于提升映射标定的准确性。

在一个具体的实施场景中，请结合参阅图2g，图2g是参考主视图进行角点检测一实施例的示意图。如图2g所示，白色块是标定板中未嵌入矩形块的对应区域，灰色块是标定板中嵌入矩形块的对应区域，圆形表示检测得到的各个角点。需要说明的是，图2g仅仅是参考主视图进行角点检测一示例性情况，并不因此而限定参考主视图的实际大小以及其中棋盘格的实际大小。此外，为了便于区分各个角点，可以将各个角点分别记为，即各个角点的像素坐标可以以二维数值来表达，则/>可以表示第i个角点的像素横坐标，/>可以表示第i个角点的像素纵坐标。

在一个具体的实施场景中，示例性地，可以选择棋盘格上第一个角点（如图2g中左上第一个圆形所示角点）作为第一角点，并以此第一角点作为物理坐标系的坐标原点。此外，物理坐标系的X轴可以为与传送方向相同，物理坐标系的Y轴可以垂直于传送方向。当然，上述举例仅仅是第一角点其中一种可能示例，并不因此而限定第一角点的具体选择。为了便于描述，可以将第一角点记为，并将第二角点记为/>。

在一个具体的实施场景中，请继续结合参阅图2g，在选择得到第一角点之后，可以选取在目标方向上像素坐标位于第一角点与第二角点之间的像素点，划分为第一图像区域，选取在目标方向上像素坐标小于第一角点的像素点，划分于第二图像区域，以及选取在目标方向上像素坐标大于第二角点的像素点，划分于第三图像区域。具体来说，对于目标方向为横向的情况，可以选取像素横坐标u位于第一角点的横坐标与第二角点的横坐标/>之间的像素点，划分于第一图像区域，并选取像素横坐标u小于第一角点的横坐标/>的像素点，划分于第二图像区域，以及选取像素横坐标u大于第二角点的横坐标/>的像素点，划分于第三图像区域。也就是说，在目标方向为横向的情况下，对于满足/>的像素点，可以划分至第一图像区域，对于满足/>的像素点，可以划分至第二图像区域，对于满足可以划分至第三图像区域。类似地，对于目标方向为纵向的情况，可以选取像素纵坐标v位于第一角点的纵坐标/>与第二角点的纵坐标之间的像素点，划分于第一图像区域，选取像素横坐标v小于第一角点的纵坐标/>的像素点，划分于第二图像区域，以及选取像素纵坐标v大于第二角点的纵坐标/>的像素点，划分于第三图像区域。也就是说，在目标方向为纵向的情况下，对于满足/>的像素点，可以划分至第一图像区域，对于满足/>的像素点，可以划分至第二图像区域，对于满足的像素点，可以划分至第三图像区域。需要说明的是，对于目标方向为横向的情况所划分的各个图像区域，以及对于目标方向为纵向的情况所划分的各个图像区域，并不相同。也就是说，对于目标方向为横向的情况所划分的第一图像区域与对于目标方向为纵向的情况所划分的第一图像区域并不相同，而对于目标方向为横向的情况所划分的第二图像区域与对于目标方向为纵向的情况所划分的第二图像区域并不相同，以及对于目标方向为横向的情况所划分的第三图像区域与对于目标方向为纵向的情况所划分的第三图像区域并不相同。上述方式，选取在目标方向上像素坐标位于第一角点与第二角点之间的像素点，划分于第一图像区域，并选取目标方向上像素坐标小于第一角点的像素点，划分于第二图像区域，以及选取目标方向上像素坐标大于第二角点的像素点，划分于第三图像区域，能够提升图像区域划分的清晰性。

在一个具体的实施场景中，在图像区域为所含像素点的像素坐标位于第一角点与第二角点之间的情况下，即对于基于目标方向所划分第一图像区域内任一像素点而言，可以选取目标方向上与像素点最接近的角点作为正例角点，并选取目标方向上与像素点次接近的角点作为负例角点。在此基础上，可以获取像素点与正例角点在目标方向的第一像素差距，并获取正例角点与负例角点在目标方向的第二像素差距，以及基于第一像素差距、第二像素差距、正例角点在目标方向上的像素坐标以及棋盘格在目标方向上的物理尺寸，得到目标方向上像素坐标系到物理坐标系的映射关系。示例性地，对于目标方向为横向的情况下，可以获取像素点在横向的像素坐标（即像素横坐标）分别与各个角点在横向的像素坐标之间的像素绝对差值，并按照像素绝对差值从小到小的顺序，对各个角点进行排序，以及选取其中位于第一位的角点作为正例角点，并选取其中位于第二位的角点作为负例角点/>：

……（3）

……（4）

上述公式（3）和（4）中，表示像素点在横向的像素坐标，/>表示角点在横向的像素坐标，/>表示绝对值，/>表示排序之后取前两位，min表示取较小值，max表示取较大值。类似地，对于目标方向为纵向的情况，可以获取像素点在纵向的像素坐标（即像素纵坐标）分别与各个角点在纵向的像素坐标之间的像素绝对差值，并按照像素绝对差值从小到小的顺序，对各个角点进行排序，以及选取其中位于第一位的角点作为正例角点/>，并选取其中位于第二位的角点作为负例角点/>：

……（5）

……（6）

上述公式（5）和（6）中，表示像素点在纵向的像素坐标，/>表示角点在纵向的像素坐标，/>表示绝对值，/>表示排序之后取前两位，min表示取较小值，max表示取较大值。在确定正例角点和负例角点之后，即可获取第一像素差距和第二像素差距。如对于目标方向为横向的情况，则可以获取第一像素差距以及第二像素差距/>；类似地，对于目标方向为纵向的情况，则可以获取第一像素差距/>以及第二像素差距。由此即可获取第一像素差距与第二像素差距之间的第一比值，并获取第一比值与棋盘格在目标方向上的物理尺寸的第一乘积，以及获取正例角点在目标方向上的像素坐标与棋盘格在目标方向上的物理尺寸的第二乘积，从而可以获取第一乘积与第二乘积之和，作为目标方向上像素坐标系到物理坐标系的映射关系。需要说明的是，棋盘格在目标方向上的物理尺寸是单个矩形片在目标方向上的物理尺寸。

以目标方向是横向为例，棋盘格在目标方向上物理尺寸可以记为，则横向上像素坐标系到物理坐标系的映射关系/>可以表示为：

……（7）

上述公式（7）中，表示第一乘积，表示第二乘积。示例性地，请结合参阅图2g，图2g中像素点P即位于第一图像区域，则其像素横坐标可以通过上述公式（7）映射至物理坐标系，得到物理横坐标。

以目标方向是纵向为例，棋盘格在目标方向上物理尺寸可以记为，则纵向上像素坐标系到物理坐标系的映射关系/>可以表示为：

……（8）

上述公式（8）中，表示第一乘积，表示第二乘积。示例性地，请结合参阅图2g，图2g中像素点P即位于第一图像区域，则其像素纵坐标可以通过上述公式（8）映射至物理坐标系，得到物理纵坐标。

在一个具体的实施场景中，区别于前述情况，在图像区域为所含像素点的像素坐标小于第一角点的情况下，即对于基于目标方向所划分第二图像区域内任一像素点而言，可以获取像素点与第一角点在目标方向的第三像素差距，并获取第三角点与第一角点在目标方向的第四像素差距，以及获取第三差距与第四像素差距之间的第二比值，且第三角点在目标方向上与第一角点相邻。在此基础上，可以获取第二比值与棋盘格在目标方向上的物理尺寸的第三乘积，作为目标方向上像素坐标系到物理坐标系的映射关系。

以目标方向是横向为例，在以作为第一角点的情况下，可以选取与其在横向相邻的角点/>作为第二角点。在此基础上，横向上像素坐标系到物理坐标系的映射关系/>可以表示为：

……（9）

上述公式（9）中，表示横向的第三像素差距，表示横向的第四像素差距，/>表示第二比值，/>表示棋盘格在横向的物理尺寸，如单个矩形片横向的物理尺寸。请结合参阅图2g，图2g中像素点K即位于第二图像区域，则其像素横坐标可以通过上述公式（9）映射至物理坐标系，得到物理横坐标。

以目标方向是纵向为例，在以作为第一角点的情况下，可以选取与其在纵向相邻的角点/>作为第二角点。在此基础上，纵向上像素坐标系到物理坐标系的映射关系/>可以表示为：

……（10）

上述公式（10）中，表示纵向的第三像素差距，表示纵向的第四像素差距，/>表示第二比值，/>表示棋盘格在纵向的物理尺寸，如单个矩形片纵向的物理尺寸。请结合参阅图2g，图2g中像素点K即位于第二图像区域，则其像素纵坐标可以通过上述公式（10）映射至物理坐标系，得到物理纵坐标。

在一个具体的实施场景中，区别于前述情况，在图像区域为所含像素点的像素坐标大于第二角点的情况下，即对于基于目标方向所划分第三图像区域内任一像素点而言，可以获取像素点与第二角点在目标方向的第五像素差距，并获取第四角点与第二角点在目标方向的第六像素差距，以及获取第五像素差距与第六像素差距之间的第三比值，且第四角点在目标方向上与第二角点相邻。在此基础上，可以获取第三比值与棋盘格在目标方向上的物理尺寸的第四乘积，并获取目标方向上的角点数量与棋盘格在目标方向上的物理尺寸的第五乘积，再获取第四乘积与第五乘积之和，作为目标方向上像素坐标系到物理坐标系的映射关系。

以目标方向是横向为例，在以作为第二角点的情况下，可以选取与其在横向上相邻角点作为第四角点/>。在此基础上，横向上像素坐标系到物理坐标系的映射关系/>可以表示为：

……（11）

上述公式（11）中，表示第五像素差距，表示第六像素差距，/>表示第三比值，/>表示棋盘格在横向的物理尺寸，如单个矩形片横向的物理尺寸，N表示横向上的角点数量。请结合参阅图2g，图2g中像素点Q即位于第三图像区域，则其像素横坐标可以通过上述公式（11）映射至物理坐标系，得到物理横坐标。

以目标方向是纵向为例，在以作为第二角点的情况下，可以选取与其在纵向上相邻角点作为第四角点/>。在此基础上，纵向上像素坐标系到物理坐标系的映射关系/>可以表示为：

……（12）

上述公式（12）中，表示第五像素差距，表示第六像素差距，/>表示第三比值，/>表示棋盘格在纵向的物理尺寸，如单个矩形片纵向的物理尺寸。请结合参阅图2g，图2g中像素点Q即位于第三图像区域，则其像素纵坐标可以通过上述公式（11）映射至物理坐标系，得到物理纵坐标。

需要说明的是，通过联立公式（7）（9）（11），即可得到横向上映射关系：

类似地，通过联立公式（8）（10）（12），即可得到纵向上映射关系：

在一个实施场景中，对于参考图像组中参考侧视图，可以基于参考侧视图进行检测，得到标定板的各个顶点。在此基础上，可以基于各个顶点在参考侧视图中的像素坐标，得到标定板的像素高度。示例性地，如前所述，标定板可以平行于传送带放置。为了便于描述，可以将各个顶点中任意两个对角顶点记为，则标定板的像素高度/>可以表示为：

……（13）

在此基础上，可以基于映射关系与像素高度，构造得到表征主视视角下在像素高度由像素坐标系映射到物理坐标系的映射标定参数，即像素高度下映射标定参数可以表示为/>。同理即可标定得到在主视视角不同像素高度下像素坐标系到物理坐标系的映射关系，在此不再一一赘述。

上述方案，获取标定板放置于安检机的安检通道内不同高度处时由安检机所扫描的参考图像组，且参考图像组包含参考主视图和参考侧视图，标定板包括基本以及设于基板的标定图案。在此基础上，对于各个参考图像组，再基于参考主视图和标定图案的物理尺寸，得到安检机在主视视角下像素坐标系到物理坐标系的映射关系，并基于参考侧视图，得到标定板的像素高度，以及基于映射关系与像素高度，构造得到表征主视视角下在像素高度由像素坐标系映射到物理坐标系的映射标定参数，从而能够通过相同处理流程，标定得到不同像素高度处由像素坐标系映射到物理坐标系的映射标定参数，进而一方面能够免于对不同像素高度设计不同标定方式，有助于提升标定效率，另一方面通过组合不同像素高度的映射标定参数，能够提升标定精度，且有助于灵活满足实际应用过程中安检物品位于安检通道内不同高度的应用需求。故此，尽可能准确且高效地对像素坐标系到物理坐标系的映射参数进行标定，以便测算安检物品的物理尺寸。

请参阅图3，图3是本申请物品尺寸测量方法一实施例的流程示意图。具体而言，可以包括如下步骤：

步骤S31：获取待检物品经过安检机的安检通道时由安检机所扫描的待测图像组，并获取安检机主视视角下在不同像素高度的映射标定参数。

本公开实施例中，待测图像组至少包括待测主视图，映射标定参数可以基于上述安检机标定方法实施例步骤得到，具体可以参阅前述公开实施例，在此不再赘述。此外，关于待测主视图的具体含义，可以参阅前述公开实施例中关于安检机的技术细节，在此不再赘述。

步骤S32：基于待测主视图进行检测，得到待检物品的第一目标区域，并选择像素高度下的映射标定参数，作为目标映射参数。

在一个实施场景中，可以采用由诸如U-Net等神经网络所实现的分割引擎，或采用基于诸如基于阈值的图像分割、基于区域的图像分割、基于边缘检测的图像分割等传统算法所实现的分割引擎，对待测主视图进行检测，得到待检物品的第一目标区域，在此对分割引擎的具体实现不做限定。

在一个实施场景中，如前述公开实施例中安检机的技术细节所述，待测图像组还可以包括待测侧视图，则还可以基于待测侧视图进行检测，到待测物品的第二目标区域，并基于第二目标区域上轮廓点的像素坐标，得到待检物品的像素高度，以及基于像素高度，选择映射标定参数作为目标映射参数。具体来说，可以采用诸如前述分割引擎对待测侧视图进行检测，得到待测物品在待测侧视图的第二目标区域，再基于第二目标区域，获取待测侧视图中待检物品的最小外接矩形，以及获取最小外接矩形四个顶点坐标，为了便于描述，可以表示为：

……（14）

在此基础上，可以对上述四个顶点在图像高度方向上的坐标值进行平均，得到待检物品的像素高度：

……（15）

由此即可选取不同像素高度下的映射标定参数中，与上述像素高度最接近的一者作为目标映射参数。也就是说，可以将待检物品的像素高度分别与不同映射标定参数分别对应的像素高度求取绝对差值，并选取绝对差值最小一者对应的映射标定参数，作为目标映射参数/>：

……（16）

上述公式（16）中，表示映射标定参数对应的像素高度，/>表示取最小一者。

在另一个实施场景中，区别于通过前述实施方式确定目标映射参数，为了进一步提升目标映射参数的准确性，还可以先检测待测主视图与待测侧视图是否确定关联相同物品。请结合参阅图4a，图4a是待测图像组一实施例的示意图。图4a中上部分为待测主视图，下部分为待测侧视图，如图4a所示，根据形态特征，可以关联待测主视图和待测侧视图中实线框内为相同物品；类似地，根据形态特征，可以关联待测主视图和待测侧视图中虚线框内相同物品。请结合参阅图4b，图4b是待测图像组另一实施例的示意图。图4b中上部分为待测主视图，下部分为待测侧视图，如图4b所示，根据形态特征，难以关联待测主视图和待测侧视图中虚线框内为相同物品，即待测侧视图中物品类型与待测主视图中物品类型难以对应。请结合参阅图4c，图4c是待测图像组又一实施例的示意图。图4c中上部分为待测主视图，下部分为待测侧视图，如图4c所示，根据形态特征，难以关联待测主视图中任一虚线框与待测侧视图中虚线框对应于相同物品，即待测侧视图中物品个数难以与待测主视图中物品个数相对应。当然，上述举例仅仅是实际应用过程中，待测主视图和待测侧视图关联物品的几种可能示例，并不因此而限定安检过程中的实际情况。不失一般性地，可以分别对待测主视图和待测侧视图进行物品检测，并获取两者中相同类型物品各自的像素坐标，根据待测主视图中物品的像素横坐标和待测侧视图中物品的像素横坐标/>均与世界坐标X对应的关系，即可确定待测主视图和待测侧视图关联相同物品，反之即不确定两者关联相同物品。在此基础上，响应于确定关联相同物品，即可基于待测侧视图进行检测，得到待检物品的第二目标区域，并基于第二目标区域上轮廓点的像素坐标，得到待检物品的像素高度，以及基于待检物品的像素高度，选择映射标定参数作为目标映射参数，具体可以参阅前述相关描述，在此不再赘述。反之，响应于不确定关联相同物品，则可以选择像素高度最接近于传送带的映射标定参数，作为目标映射参数。

步骤S33：基于目标映射参数对第一目标区域上轮廓点的像素坐标进行映射，得到轮廓点在物理坐标系中的物理坐标。

在一个实施场景中，可以将第一目标区域上轮廓点的像素坐标代入目标映射参数，即可得到轮廓点在物理坐标系中的物理坐标。更为具体地，可以将待测主视图与标定目标映射参数所采用的参考主视图进行对齐，相当于坐标映射时待检物品下方存在标定板作为参照物，如图4d所示，从而可以确定轮廓点所属的图像区域为第一图像区域、第二图像区域、第三图像区域中任一者，并在确定属于第一图像区域时，可以为轮廓点确定与其最接近以及次节点的角点，由此即可将轮廓点的像素横坐标代入目标映射参数中关于横坐标的映射关系，得到轮廓点的物理横坐标，并将轮廓点的像素纵坐标代入目标映射参数中关于纵坐标的映射关系，得到轮廓点的物理纵坐标。

在另一个实施场景中，为了更加贴合安检需求，可以先基于第一目标区域，确定待检物品的物品类型。示例性地，可以根据第一目标区域中待检物品的边缘特征等，匹配与之对应的物品类型，如可以匹配得到刀具类、容器类等。在此基础上，对于不同物品类型，可以分别采用不同映射方式。示例性地，对于物品类型为刀具类的情况，可以基于目标映射参数，对第一目标区域长度方向和宽度方向上轮廓点的像素坐标进行映射，得到物理坐标，且在此情况下，物理尺寸包含长度和宽度；或者，对于物品类型为容器类的情况，可以基于目标映射参数和缩放标定参数对第一目标区域高度方向和直径方向上轮廓点的像素坐标进行映射，得到物理坐标，且在此情况下物理尺寸至少包括高度和直径。对于物品类型为刀具类的情况，为了简化计算，可以基于第一目标区域获取待测主视图中待检物品的最小外接矩形，并取最小外接矩形上短边上两个顶点（如记为和/>）作为宽度方向的轮廓点，以及取最小外接矩形上长边上两个顶点（如记为/>和）作为长度方向的轮廓点，在此基础上，可以利用目标映射参数/>将短边上两个顶点的像素坐标进行映射，得到短边上两个顶点的物理坐标（如记为和/>），在此基础上，可以基于此得到物理宽度W：

……（17）

上述公式（17）中，表示对和/>的横坐标、纵坐标分别做差并取平方之后求和再开根，即求得短边顶点之间的物理距离，即代表物理宽度。类似地，可以利用目标映射参数将长边上两个顶点的像素坐标进行映射，得到长边上两个顶点的物理坐标（如记为和/>），在此基础上，可以基于此得到物理长度H：

……（18）

上述公式（18）中，表示对和/>的横坐标、纵坐标分别做差并取平方之后求和再开根，即求得长边顶点之间的物理距离，即代表物理长度。此外，对于物品类型为容器类的情况，可以先标定得到标定缩放参数，下面试以两种不同标定方式举例说明标定缩放参数的获取过程，实际应用过程中并不以下面两种实施方式为限：

以采用数据拟合来确定标定缩放参数为例，可以获取标准件放置于安检机的安检通道内至传送带的目标边缘不同垂直距离时由安检机所扫描的目标图像组，且目标图像组包含目标主视图和目标侧视图，对于各个目标图像组：可以基于目标侧视图，选择映射标定参数作为参考映射参数，并基于参考映射参数对目标主视图中标准件上像素坐标进行映射，得到标准件的物理坐标，基于目标主视图中标准件在预设方向的像素坐标，得到标准件至目标边缘的像素距离，及基于标准件的物理坐标与标准件的真实尺寸，得到对应像素距离下的缩放因子，且预设方向垂直目标边缘。需要说明的是，目标边缘具体可以是传送带平行于传送方向的两个边缘中靠近光源的其中一个边缘，当然，也可以是另一边缘，在此不做限定。

其中，基于目标侧视图，选择映射标定参数作为参考映射参数，包括：基于目标侧视图进行检测，得到标准件的第一包围区域；基于第一包围区域上各个顶点的像素坐标，得到标准件在目标侧视图中的像素高度；基于标准件在目标侧视图中的像素高度，选择映射标定参数作为参考映射参数。

其中，基于参考映射参数对目标主视图中标准件上像素坐标进行映射，得到物理坐标，包括：基于目标主视图进行检测，得到标准件的第二包围区域；基于第二包围区域，选取目标主视图中标准件的目标轮廓点；基于参考映射参数对目标轮廓点的像素坐标进行映射，得到物理坐标。

其中，基于物理坐标与标准件的真实尺寸，得到对应像素距离下的缩放因子，包括：基于物理坐标，度量得到标准件的测算尺寸；基于测算尺寸与真实尺寸之比，得到缩放因子。

其中，标准件为容器类，基于物理坐标，度量得到标准件的测算尺寸，包括：基于标准件在直径方向上的物理坐标，度量得到标准件的测算直径；基于测算尺寸与真实尺寸之比，得到缩放因子，包括：获取测算直径与标准件的真实直径之间的比值，作为缩放因子。

其中，基于目标主视图中标准件在预设方向的像素坐标，得到标准件至目标边缘的像素距离，包括：获取目标主视图中包围标准件的最小外接矩形；基于最小外接矩形上各个顶点在预设方向的像素坐标进行平均，得到标准件至目标边缘的像素距离。

其中，获取安检机主视视角下在不同像素高度由像素坐标系映射到物理坐标系的映射标定参数，包括：获取标定板放置于安检通道内不同高度处时由安检机所扫描的参考图像组；其中，参考图像组包含参考主视图和参考侧视图，标定板包括基板以及设于基板的标定图案；对于各个参考图像组：基于参考主视图和标定图案的物理尺寸，得到安检机在主视视角下像素坐标系到物理坐标系的映射关系，并基于参考侧视图，得到标定板的像素高度，以及基于映射关系与像素高度，构造得到表征主视视角下在像素高度由像素坐标系映射到物理坐标系的映射标定参数。

其中，标定图案为以不同于基板材质的矩形片在基板上排列形成的棋盘格，基于参考主视图和标定图案的物理尺寸，得到安检机在主视视角下像素坐标系到物理坐标系的映射关系，包括：基于参考主视图进行检测，得到棋盘格的各个角点；选择棋盘格上角点作为第一角点，并基于第一角点确定物理坐标系的坐标原点；基于参考主视图中第一角点和第二角点在目标方向上的像素坐标，划分参考主视图为若干图像区域；其中，第二角点为参考主视图上最后一个角点，且目标方向为横向或纵向；基于第一角点、第二角点分别在目标方向上的像素坐标和棋盘格在目标方向上的物理尺寸，得到图像区域内在目标方向上像素坐标系到物理坐标系的映射关系。

需要说明的是，对于采用数据拟合来确定标定缩放参数的情况，在基于目标映射参数和缩放标定参数，对第一目标区域高度方向和直径方向上轮廓点的像素坐标进行映射的过程中，可以先基于标定缩放参数和第一目标区域上轮廓点的像素坐标，得到待检物品的缩放因子，并基于目标映射参数对轮廓点的像素坐标进行映射，得到轮廓点在物理坐标系中的物理坐标，再基于待检物品的缩放因子对由轮廓点的物理坐标所得到的物理尺寸进行缩放，得到待检物品的校正尺寸。具体来说，可以基于第一目标区域上各个轮廓点在预设方向上的像素坐标进行平均，得到待检物品至目标边缘的像素距离，再将待检物品至目标边缘的像素距离代入至标定缩放参数，得到待检物品的缩放因子，与此同时，可以基于目标映射参数对高度方向上轮廓点的像素坐标进行映射，得到高度方向上轮廓点的物理坐标，并基于目标映射参数对直径方向上轮廓点的像素坐标进行映射，得到直径方向上轮廓点的物理坐标，再基于高度方向上轮廓点的物理坐标，得到待检物品的物理高度，并基于直径方向上轮廓点的物理坐标，得到待检物品的物理直径。在此基础上，可以基于待检物品的缩放因子对待检物品的物理直径进行缩放，得到待检物品的校正直径，并基于待检物品的物理高度和校正直径，得到校正尺寸，如直接将待检物品的物理高度和校正直径作为校正尺寸，或者还可以基于待检物品的物理高度和校正直径计算得到容积，从而可以将待检物品的物理高度、校正直径以及容积作为校正尺寸。

以采用动态测量来确定标定缩放参数为例，可以获取安检机的成像比例，并获取安检机中光源至传送带的垂直距离，以及获取标准件在安检机的安检通道内被扫描的标定主视图，再基于成像比例和标定主视图中第一轮廓点的第一像素坐标，得到形成第一轮廓点的第一射线与传送带的第一相交点至传送带上目标边缘的第一距离，并基于成像比例和标定主视图中第二轮廓点的第二像素坐标，得到形成第二轮廓点的第二射线与传送带的第二相交点至目标边缘的第二距离，且第一轮廓点和第二轮廓点位于标准件的直径两端，再获取第一距离与第二距离之差，作为以第一像素坐标和第二像素坐标为变量且表征第一相交点与第二相交点之间距离的第一表达式，并基于第一距离、第二距离分别与垂直距离之比，得到以标准件的真实半径为变量且表征第一相交点与第二相交点之间距离的第二表达式，从而基于第一表达式和第二表达式，构造表征真实半径与第一像素坐标、第二像素坐标之间映射关系的标定缩放参数。

其中，获取安检机的成像比例，包括：获取标定板水平放置于安检通道内被扫描的水平主视图；基于水平主视图进行检测，得到水平主视图中标定板相对边界之间的像素距离，并获取相对边界之间的物理距离；基于物理距离与像素距离之比，得到成像比例。

其中，获取安检机中光源至传送带的垂直距离，包括：获取标定板竖直放置于安检通道内被扫描的竖直主视图；基于竖直主视图进行检测，得到竖直主视图中标定板相对边界之间的像素距离；基于成像比例和像素距离，得到形成竖直主视图中相对边界的成像射线各自与传送带相交点之间的物理距离，并基于成像比例和相对边界中上边界的像素坐标，得到形成上边界的成像射线与传送带的相交点至目标边缘的物理距离，以及获取相对边界之间的物理距离；基于各物理距离，得到安检机中光源至传送带的垂直距离。

其中，基于成像比例和标定主视图中第一轮廓点的第一像素坐标，得到形成第一轮廓点的第一射线与传送带的第一相交点至传送带上目标边缘的第一距离，包括：获取第一像素坐标中位于预设方向的第一坐标值；其中，预设方向垂直于目标边缘；获取成像比例与第一坐标值之积，作为第一距离。

其中，基于成像比例和标定主视图中第二轮廓点的第二像素坐标，得到形成第二轮廓点的第二射线与传送带的第二相交点至目标边缘的第二距离，包括：获取第二像素坐标中位于预设方向的第二坐标值；其中，预设方向垂直于目标边缘；获取成像比例与第二坐标值之积，作为第二距离。

其中，基于第一距离、第二距离分别与垂直距离之比，得到以标准件的真实半径为变量且表征第一相交点与第二相交点之间距离的第二表达式，包括：基于第一距离与垂直距离之间的第一比值，得到以第一像素坐标为变量且表征第一相交点和直径中心的连接线与传送带之间夹角的第一角度，并基于第二距离与垂直距离之间的第二比值，得到以第二像素坐标为变量且表征第二相交点和直径中心的连接线与传送带之间夹角的第二角度；基于真实半径与第一角度，得到表征标准件和传送带的相切点与第一相交点之间距离的第一子项，并基于真实半径与第二角度，得到表征标准件和传送带的相切点与第二相交点之间距离的第二子项；获取第一子项和第二子项之和，作为第二表达式。

其中，基于第一距离与垂直距离之间的第一比值，得到以第一像素坐标为变量且表征第一相交点和直径中心的连接线与传送带之间夹角的第一角度，包括：基于反正切函数对第一比值进行处理，得到第一射线与经过光源的垂直线之间的第一夹角；基于由第一夹角所得到的第一射线与传送带之间夹角进行平均，得到第一角度。

其中，基于第二距离与垂直距离之间的第二比值，得到以第二像素坐标为变量且表征第二相交点和直径中心的连接线与传送带之间夹角的第二角度，包括：基于反正切函数对第二比值进行处理，得到第二射线与经过光源的垂直线之间的第二夹角；基于由第二夹角所得到的第二射线与传送带之间夹角进行平均，得到第二角度。

需要说明的是，对于采用动态测量来确定标定缩放参数的情况，在基于目标映射参数和缩放标定参数，对第一目标区域高度方向和直径方向上轮廓点的像素坐标进行映射的过程中，可以基于目标映射参数对第一目标区域高度方向上轮廓点的像素坐标进行映射，得到待检物品的物理高度，并将第一目标区域直径方向上轮廓点的像素坐标代入标定缩放参数，得到待检物品的物理半径，再基于待检物品的物理高度和物理半径，得到物理尺寸。例如，可以直接将待检物品的物理半径和物理高度，作为物理尺寸，或者，可以基于待检物品的物理半径和物理高度进行计算，得到待检物品的容积，从而可以将待检物品的物理半径、物理高度和容积，作为物理尺寸。

步骤S34：基于轮廓点的物理坐标，得到待检物品的物理尺寸。

具体地，在得到轮廓点的物理坐标之后，即可根据相应计算方式，得到待检物品的物理尺寸。如对于刀具类物品，可以根据物理坐标计算得到物理长度和物理宽度，而对于容器类物品，可以根据物理坐标计算得到物理高度、物理直径和容积等。具体可以参阅前述相关描述，在此不再赘述。下面分别说明采用本公开实施例对刀具类和容器类进行尺寸测量的试验结论。

对于刀具类，请结合参阅图4e，图4e是测试刀具一实施例的示意图。如图4e所示，对11把测试刀具分别编号1至11，经多次安检并采用本公开实施例进行测算，得到如下试验数据：

表1 测试刀具的实际长宽以及测算长宽一实施例的示意表

需要说明的是，绝对误差为测算平均值减去真实值之后与真实值之比。由此可见，刀具长度最大绝对误差为3.74%，最小绝对误差为0.67%，刀具宽度最大绝对误差为13.33%，最小绝对误差为3.7%。

对于容器类，请结合参阅图4f，图4f是测试容器一实施例的示意图。如图4f所示，可以对18件容器分别编号1至18。此外，为了对实际应用场景中不同容器进行分类，可以预先按照表2所示体积将常见容器进行分类。当然，表2所示仅仅是实际应用过程中一种可能的分类方式，并不因此而对容器分类进行限定。

表2 容器分类一实施例的示意表

在此基础上，经多次安检并采用本公开实施例进行测算，得到如下试验数据：

表3 测试容器的实际尺寸以及测算尺寸一实施例的示意表

由此可见，容器体积最大绝对误差为76.76%，最小绝对误差为0%。需要说明的是，在本次试验过程中，造成8号容器其体积绝对误差偏大的主要原因在于，8号容器实际为方形容器，但在试验测算时套用圆柱体积计算公式，故而导致误差偏大。此外，当容器内盛装液体较少时，扫描图像显现边缘模糊状态，分割结果无法完全覆盖整个容器是影响体积绝对误差的因素之一。当然，真实值使用容器瓶身标注的容积，而测算值为容器的整体体积，瓶身厚度也是影响体积绝对误差的因素之一。

上述方案，获取待检物品经过安检机的安检通道时由安检机所扫描的待测图像组，并获取安检机主视视角下在不同像素高度的映射标定参数，且待测图像组至少包括待测主视图，映射标定参数基于上述任一安检机标定方法得到，从而能够尽可能准确且高效地对像素坐标系到物理坐标系的映射参数进行标定，再基于待测主视图进行检测，得到待检物品的第一目标区域，并选择像素高度下的映射标定参数，作为目标映射参数，进而基于目标映射参数对第一目标区域上轮廓点的像素坐标进行映射，得到轮廓点在物理坐标系中的物理坐标，再基于轮廓点的物理坐标，得到待检物品的物理尺寸，故能够尽可能准确且高效地测量安检物品的物理尺寸。

请参阅图5，图5是本申请安检机标定装置50一实施例的框架示意图。安检机标定装置50包括：参考图像获取模块51和映射参数标定模块52，参考图像获取模块51，用于获取标定板放置于安检机的安检通道内不同高度处时由安检机所扫描的参考图像组；其中，参考图像组包含参考主视图和参考侧视图，标定板包括基板以及设于基板的标定图案；映射参数标定模块52，用于对于各个参考图像组：基于参考主视图和标定图案的物理尺寸，得到安检机在主视视角下像素坐标系到物理坐标的映射关系，并基于参考侧视图，得到标定板的像素高度，以及基于映射关系与像素高度，构造得到表征主视视角下在像素高度由像素坐标系映射到物理坐标的映射标定参数。

上述方案，安检机标定装置50获取标定板放置于安检机的安检通道内不同高度处时由安检机所扫描的参考图像组，且参考图像组包含参考主视图和参考侧视图，标定板包括基本以及设于基板的标定图案。在此基础上，对于各个参考图像组，再基于参考主视图和标定图案的物理尺寸，得到安检机在主视视角下像素坐标系到物理坐标系的映射关系，并基于参考侧视图，得到标定板的像素高度，以及基于映射关系与像素高度，构造得到表征主视视角下在像素高度由像素坐标系映射到物理坐标系的映射标定参数，从而能够通过相同处理流程，标定得到不同像素高度处由像素坐标系映射到物理坐标系的映射标定参数，进而一方面能够免于对不同像素高度设计不同标定方式，有助于提升标定效率，另一方面通过组合不同像素高度的映射标定参数，能够提升标定精度，且有助于灵活满足实际应用过程中安检物品位于安检通道内不同高度的应用需求。故此，尽可能准确且高效地对像素坐标系到物理坐标系的映射参数进行标定，以便测算安检物品的物理尺寸。

在一些公开实施例中，标定图案为以不同于基板材质的矩形片在基板上排列形成的棋盘格，映射参数标定模块52包括角点检测子模块，用于基于参考主视图进行检测，得到棋盘格的各个角点；映射参数标定模块52包括角点选择子模块，用于选择棋盘格上角点作为第一角点，并基于第一角点确定物理坐标系的坐标原点；映射参数标定模块52包括区域划分子模块，用于基于参考主视图中第一角点和第二角点在目标方向上的像素坐标，划分参考主视图为若干图像区域；其中，第二角点为参考主视图上最后一个角点，且目标方向为横向或纵向；映射参数标定模块52包括关系标定子模块，用于基于第一角点、第二角点分别在目标方向上的像素坐标和棋盘格在目标方向上的物理尺寸，得到图像区域内在目标方向上像素坐标系到物理坐标系的映射关系。

在一些公开实施例中，区域划分子模块包括第一划分单元，用于选取在目标方向上像素坐标位于第一角点与第二角点之间的像素点，划分于第一图像区域；区域划分子模块包括第二划分单元，用于选取在目标方向上像素坐标小于第一角点的像素点，划分于第二图像区域；区域划分子模块包括第三划分单元，用于选取在目标方向上像素坐标大于第二角点的像素点，划分于第三图像区域。

在一些公开实施例中，关系标定子模块包括正负例角点选择单元，用于在图像区域为所含像素点的像素坐标位于第一角点与第二角点之间的情况下，对于图像区域中任一像素点，选取目标方向上与像素点最接近的角点作为正例角点，并选取目标方向上与像素点次接近的角点作为负例角点；关系标定子模块包括像素距离获取单元，用于获取像素点与正例角点在目标方向的第一像素差距，并获取正例角点与负例角点在目标方向的第二像素差距；关系标定子模块包括第一区域标定单元，用于基于第一像素差距、第二像素差距、正例角点在目标方向上的像素坐标以及棋盘格在目标方向上的物理尺寸，得到目标方向上像素坐标系到物理坐标系的映射关系。

在一些公开实施例中，第一区域标定单元具体用于获取第一像素差距与第二像素差距之间的第一比值；获取第一比值与棋盘格在目标方向上的物理尺寸的第一乘积，并获取正例角点在目标方向上的像素坐标与棋盘格在目标方向上的物理尺寸的第二乘积；获取第一乘积与第二乘积之和，作为目标方向上像素坐标系到物理坐标系的映射关系。

在一些公开实施例中，关系标定子模块包括第一比值获取单元，用于在图像区域为所含像素点的像素坐标小于第一角点的情况下，对于图像区域中任一像素点，获取像素点与第一角点在目标方向的第三像素差距，并获取第三角点与第一角点在目标方向的第四像素差距，以及获取第三像素差距与第四像素差距之间的第二比值；其中，第三角点目标方向上与第一角点相邻；关系标定子模块包括第二区域标定单元，用于获取第二比值与棋盘格在目标方向上的物理尺寸的第三乘积，作为目标方向上像素坐标系到物理坐标系的映射关系。

在一些公开实施例中，关系标定子模块包括第二比值获取单元，用于在图像区域为所含像素点的像素坐标大于第二角点的情况下，对于图像区域中任一像素点，获取像素点与第二角点在目标方向的第五像素差距，并获取第四角点与第二角点在目标方向的第六像素差距，以及获取第五像素差距与第六像素差距之间的第三比值；其中，第四角点在目标方向上与第二角点相邻；关系标定子模块包括乘积获取单元，用于获取第三比值与棋盘格在目标方向上的物理尺寸的第四乘积，并获取目标方向上的角点数量与棋盘格在目标方向上的物理尺寸的第五乘积；关系标定子模块包括第三区域标定单元，用于获取第四乘积与第五乘积之和，作为目标方向上像素坐标系到物理坐标系的映射关系。

在一些公开实施例中，映射参数标定模块52包括顶点检测子模块，用于基于参考侧视图进行检测，得到标定板的各个顶点；映射参数标定模块52包括高度度量子模块，用于基于各个顶点在参考侧视图中的像素坐标，得到标定板的像素高度。

请参阅图6，图6是本申请物品尺寸测量装置60一实施例的框架示意图。物品尺寸测量装置60包括：待测图像获取模块61、映射参数获取模块62、待测图像检测模块63、映射参数选择模块64、像素坐标映射模块65和物理尺寸度量模块66。待测图像获取模块61，用于获取待检物品经过安检机的安检通道时由安检机所扫描的待测图像组；其中，待测图像组至少包括待测主视图；映射参数获取模块62，用于获取安检机主视视角下在不同像素高度的映射标定参数；其中，映射标定参数基于上述任一安检机标定装置得到；待测图像检测模块63，用于基于待测主视图进行检测，得到待检物品的第一目标区域；映射参数选择模块64，用于选择像素高度下的映射标定参数，作为目标映射参数；像素坐标映射模块65，用于基于目标映射参数对第一目标区域上轮廓点的像素坐标进行映射，得到轮廓点在物理坐标系中的物理坐标；物理尺寸度量模块66，用于基于轮廓点的物理坐标，得到待检物品的物理尺寸。

上述方案，物品尺寸测量装置60获取待检物品经过安检机的安检通道时由安检机所扫描的待测图像组，并获取安检机主视视角下在不同像素高度的映射标定参数，且待测图像组至少包括待测主视图，映射标定参数基于上述任一安检机标定装置得到，从而能够尽可能准确且高效地对像素坐标系到物理坐标系的映射参数进行标定，再基于待测主视图进行检测，得到待检物品的第一目标区域，并选择像素高度下的映射标定参数，作为目标映射参数，进而基于目标映射参数对第一目标区域上轮廓点的像素坐标进行映射，得到轮廓点在物理坐标系中的物理坐标，再基于轮廓点的物理坐标，得到待检物品的物理尺寸，故能够尽可能准确且高效地测量安检物品的物理尺寸。

在一些公开实施例中，待测图像组还包括待测侧视图，映射参数选择模块64包括关联检测子模块，用于检测待测主视图与待测侧视图是否确定关联相同物品；映射参数选择模块64包括第一选择子模块，用于响应于确定关联相同物品，基于待测侧视图进行检测，得到待检物品的第二目标区域，并基于第二目标区域上轮廓点的像素坐标，得到待检物品的像素高度，以及基于待检物品的像素高度，选择映射标定参数作为目标映射参数；映射参数选择模块64包括第二选择子模块，用于响应于不确定关联相同物品，选择像素高度最接近于传送带的映射标定参数，作为目标映射参数。

在一些公开实施例中，物品尺寸测量装置60包括物品类型检测模块，用于基于第一目标区域，确定待检物品的物品类型；像素坐标映射模块65包括第一映射子模块，用于响应于物品类型为刀具类，基于目标映射参数，对第一目标区域长度方向和宽度方向上轮廓点的像素坐标进行映射，得到物理坐标，且物理尺寸包括长度和宽度；像素坐标映射模块65包括第二映射子模块，用于响应于物品类型为容器类，基于目标映射参数和缩放标定参数，对第一目标区域高度方向和直径方向上轮廓点的像素坐标进行映射，得到物理坐标，且物理尺寸包括高度和直径。

在一些公开实施例中，物品尺寸测量装置60包括目标图像组获取模块，用于获取标准件放置于安检机的安检通道内至传送带的目标边缘不同垂直距离时由安检机所扫描的目标图像组；其中，目标图像组包含目标主视图和目标侧视图；物品尺寸测量装置60包括缩放因子获取模块，用于对于各个目标图像组：基于目标侧视图，选择映射标定参数作为参考映射参数，并基于参考映射参数对目标主视图中标准件上像素坐标进行映射，得到标准件的物理坐标，基于目标主视图中标准件在预设方向的像素坐标，得到标准件至目标边缘的像素距离，及基于标准件的物理坐标与标准件的真实尺寸，得到对应像素距离下的缩放因子；其中，预设方向垂直目标边缘；物品尺寸测量装置60包括缩放因子拟合模块，用于基于不同像素距离下的缩放因子进行拟合，得到表征像素距离与缩放因子之间映射关系的标定缩放参数。

在一些公开实施例中，物品尺寸测量装置60包括前置参数获取模块，用于获取安检机的成像比例，并获取安检机中光源至传送带的垂直距离，以及获取标准件在安检机的安检通道内被扫描的标定主视图；物品尺寸测量装置60包括交点距离度量模块，用于基于成像比例和标定主视图中第一轮廓点的第一像素坐标，得到形成第一轮廓点的第一射线与传送带的第一相交点至传送带上目标边缘的第一距离，并基于成像比例和标定主视图中第二轮廓点的第二像素坐标，得到形成第二轮廓点的第二射线与传送带的第二相交点至目标边缘的第二距离；其中，第一轮廓点和第二轮廓点位于标准件的直径两端；物品尺寸测量装置60包括表达式获取模块，用于获取第一距离与第二距离之差，作为以第一像素坐标和第二像素坐标为变量且表征第一相交点与第二相交点之间距离的第一表达式，并基于第一距离、第二距离分别与垂直距离之比，得到以标准件的真实半径为变量且表征第一相交点与第二相交点之间距离的第二表达式；物品尺寸测量装置60包括缩放参数获取模块，用于基于第一表达式和第二表达式，构造表征真实半径与第一像素坐标、第二像素坐标之间映射关系的标定缩放参数。

请参阅图7，图7是本申请电子设备70一实施例的框架示意图。电子设备70包括存储器71和处理器72，存储器71中存储有程序指令，处理器72用于执行程序指令以实现上述任一安检机标定方法实施例中的步骤，或实现上述任一物品尺寸测量方法实施例中的步骤。具体可以参阅前述公开实施例，在此不再赘述。电子设备70具体可以包括但不限于：服务器、工控机、笔记本电脑、平板电脑等，在此不做限定。当然，电子设备70也可以为安检机，即其还可以包括光源（未图示）、探测器（未图示）、传送带（未图示）等，具体可以参阅图2a，在此不做限定。

具体而言，处理器72用于控制其自身以及存储器71以实现上述任一安检机标定方法实施例中的步骤，或实现上述任一物品尺寸测量方法实施例中的步骤。处理器72还可以称为CPU（Central Processing Unit，中央处理单元）。处理器72可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。处理器72还可以是通用处理器、数字信号处理器（Digital SignalProcessor, DSP）、专用集成电路（Application Specific Integrated Circuit, ASIC）、现场可编程门阵列（Field-Programmable Gate Array, FPGA）或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。另外，处理器72可以由集成电路芯片共同实现。

上述方案，电子设备70一方面能够免于对不同像素高度设计不同标定方式，有助于提升标定效率，另一方面通过组合不同像素高度的映射标定参数，能够提升标定精度，且有助于灵活满足实际应用过程中安检物品位于安检通道内不同高度的应用需求。故此，尽可能准确且高效地对像素坐标系到物理坐标系的映射参数进行标定，有助于后续基于此尽可能准确且高效地测算安检物品的物理尺寸。

请参阅图8，图8是本申请计算机可读存储介质80一实施例的框架示意图。计算机可读存储介质80存储有能够被处理器运行的程序指令81，程序指令81用于实现上述任一安检机标定方法实施例中的步骤，或实现上述任一物品尺寸测量方法实施例中的步骤。

上述方案，计算机可读存储介质80一方面能够免于对不同像素高度设计不同标定方式，有助于提升标定效率，另一方面通过组合不同像素高度的映射标定参数，能够提升标定精度，且有助于灵活满足实际应用过程中安检物品位于安检通道内不同高度的应用需求。故此，尽可能准确且高效地对像素坐标系到物理坐标系的映射参数进行标定，有助于后续基于此尽可能准确且高效地测算安检物品的物理尺寸。

在一些实施例中，本公开实施例提供的装置具有的功能或包含的模块可以用于执行上文方法实施例描述的方法，其具体实现可以参照上文方法实施例的描述，为了简洁，这里不再赘述。

上文对各个实施例的描述倾向于强调各个实施例之间的不同之处，其相同或相似之处可以互相参考，为了简洁，本文不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的方法和装置，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施方式仅仅是示意性的，例如，模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性、机械或其它的形式。

作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施方式方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）或处理器（processor）执行本申请各个实施方式方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

若本申请技术方案涉及个人信息，应用本申请技术方案的产品在处理个人信息前，已明确告知个人信息处理规则，并取得个人自主同意。若本申请技术方案涉及敏感个人信息，应用本申请技术方案的产品在处理敏感个人信息前，已取得个人单独同意，并且同时满足“明示同意”的要求。例如，在摄像头等个人信息采集装置处，设置明确显著的标识告知已进入个人信息采集范围，将会对个人信息进行采集，若个人自愿进入采集范围即视为同意对其个人信息进行采集；或者在个人信息处理的装置上，利用明显的标识/信息告知个人信息处理规则的情况下，通过弹窗信息或请个人自行上传其个人信息等方式获得个人授权；其中，个人信息处理规则可包括个人信息处理者、个人信息处理目的、处理方式以及处理的个人信息种类等信息。

Claims (16)

1.一种安检机标定方法，其特征在于，包括：

获取标定板放置于安检机的安检通道内不同高度处时由所述安检机所扫描的参考图像组；其中，所述参考图像组包含参考主视图和参考侧视图，所述标定板包括基板以及设于所述基板的标定图案；

对于各个所述参考图像组：基于所述参考主视图和所述标定图案的物理尺寸，得到所述安检机在主视视角下像素坐标系到物理坐标系的映射关系，并基于所述参考侧视图，得到所述标定板的像素高度，以及基于所述映射关系与所述像素高度，构造得到表征所述主视视角下在所述像素高度由所述像素坐标系映射到所述物理坐标系的映射标定参数；

其中，所述标定图案为以不同于所述基板材质的矩形片在所述基板上排列形成的棋盘格，所述基于所述参考主视图和所述标定图案的物理尺寸，得到所述安检机在主视视角下像素坐标系到物理坐标系的映射关系，包括：

基于所述参考主视图进行检测，得到所述棋盘格的各个角点；

选择所述棋盘格上所述角点作为第一角点，并基于所述第一角点确定物理坐标系的坐标原点；

基于所述参考主视图中所述第一角点和第二角点在目标方向上的像素坐标，划分所述参考主视图为若干图像区域；其中，所述第二角点为所述参考主视图上最后一个所述角点，且所述目标方向为横向或纵向；

基于所述第一角点、所述第二角点分别在目标方向上的像素坐标和所述棋盘格在所述目标方向上的物理尺寸，得到所述图像区域内在所述目标方向上所述像素坐标系到所述物理坐标系的映射关系。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述参考主视图中所述第一角点和第二角点在目标方向上的像素坐标，划分所述参考主视图为若干图像区域，包括：

选取在所述目标方向上所述像素坐标位于所述第一角点与所述第二角点之间的像素点，划分于第一图像区域；

选取在所述目标方向上所述像素坐标小于所述第一角点的像素点，划分于第二图像区域；以及，

选取在所述目标方向上所述像素坐标大于所述第二角点的像素点，划分于第三图像区域。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述图像区域为所含像素点的像素坐标位于所述第一角点与所述第二角点之间的情况下，所述基于所述第一角点、所述第二角点分别在目标方向上的像素坐标和所述棋盘格在所述目标方向上的物理尺寸，得到所述图像区域内在所述目标方向上所述像素坐标系到所述物理坐标系的映射关系，包括：

对于所述图像区域中任一像素点，选取所述目标方向上与所述像素点最接近的角点作为正例角点，并选取所述目标方向上与所述像素点次接近的角点作为负例角点；

获取所述像素点与所述正例角点在所述目标方向的第一像素差距，并获取所述正例角点与所述负例角点在所述目标方向的第二像素差距；

基于所述第一像素差距、所述第二像素差距、所述正例角点在所述目标方向上的像素坐标以及所述棋盘格在所述目标方向上的物理尺寸，得到所述目标方向上所述像素坐标系到所述物理坐标系的映射关系。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一像素差距、所述第二像素差距、所述正例角点在所述目标方向上的像素坐标以及所述棋盘格在所述目标方向上的物理尺寸，得到所述目标方向上所述像素坐标系到所述物理坐标系的映射关系，包括：

获取所述第一像素差距与所述第二像素差距之间的第一比值；

获取所述第一比值与所述棋盘格在所述目标方向上的物理尺寸的第一乘积，并获取所述正例角点在所述目标方向上的像素坐标与所述棋盘格在所述目标方向上的物理尺寸的第二乘积；

获取所述第一乘积与所述第二乘积之和，作为所述目标方向上所述像素坐标系到所述物理坐标系的映射关系。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述图像区域为所含像素点的像素坐标小于所述第一角点的情况下，所述基于所述第一角点、所述第二角点分别在目标方向上的像素坐标和所述棋盘格在所述目标方向上的物理尺寸，得到所述图像区域内在所述目标方向上所述像素坐标系到所述物理坐标的映射关系，包括：

对于所述图像区域中任一像素点，获取所述像素点与所述第一角点在所述目标方向的第三像素差距，并获取第三角点与所述第一角点在所述目标方向的第四像素差距，以及获取所述第三像素差距与所述第四像素差距之间的第二比值；其中，所述第三角点所述目标方向上与所述第一角点相邻；

获取所述第二比值与所述棋盘格在所述目标方向上的物理尺寸的第三乘积，作为所述目标方向上所述像素坐标系到所述物理坐标系的映射关系。

6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述图像区域为所含像素点的像素坐标大于所述第二角点的情况下，所述基于所述第一角点、所述第二角点分别在目标方向上的像素坐标和所述棋盘格在所述目标方向上的物理尺寸，得到所述图像区域内在所述目标方向上所述像素坐标系到所述物理坐标的映射关系，包括：

对于所述图像区域中任一像素点，获取所述像素点与所述第二角点在所述目标方向的第五像素差距，并获取第四角点与所述第二角点在所述目标方向的第六像素差距，以及获取所述第五像素差距与所述第六像素差距之间的第三比值；其中，所述第四角点在所述目标方向上与所述第二角点相邻；

获取所述第三比值与所述棋盘格在所述目标方向上的物理尺寸的第四乘积，并获取所述目标方向上的角点数量与所述棋盘格在所述目标方向上的物理尺寸的第五乘积；

获取所述第四乘积与所述第五乘积之和，作为所述目标方向上所述像素坐标系到所述物理坐标系的映射关系。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述参考侧视图，得到所述标定板的像素高度，包括：

基于所述参考侧视图进行检测，得到所述标定板的各个顶点；

基于各个所述顶点在所述参考侧视图中的像素坐标，得到所述标定板的像素高度。

8.一种物品尺寸测量方法，其特征在于，包括：

获取待检物品经过安检机的安检通道时由所述安检机所扫描的待测图像组，并获取所述安检机主视视角下在不同像素高度的映射标定参数；其中，所述待测图像组至少包括待测主视图，所述映射标定参数基于权利要求1至7任一项所述的安检机标定方法得到；

基于所述待测主视图进行检测，得到所述待检物品的第一目标区域，并选择所述像素高度下的映射标定参数，作为目标映射参数；

基于所述目标映射参数对所述第一目标区域上轮廓点的像素坐标进行映射，得到所述轮廓点在物理坐标系中的物理坐标；

基于所述轮廓点的物理坐标，得到所述待检物品的物理尺寸。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述待测图像组还包括待测侧视图，所述选择所述像素高度下的映射标定参数，作为目标映射参数，包括：

检测所述待测主视图与所述待测侧视图是否确定关联相同物品；

响应于确定关联相同物品，基于所述待测侧视图进行检测，得到所述待检物品的第二目标区域，并基于所述第二目标区域上轮廓点的像素坐标，得到所述待检物品的像素高度，以及基于所述待检物品的像素高度，选择所述映射标定参数作为所述目标映射参数；

响应于不确定关联相同物品，选择所述像素高度最接近于传送带的映射标定参数，作为所述目标映射参数。

10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，在所述基于所述目标映射参数对所述第一目标区域上轮廓点的像素坐标进行映射，得到所述轮廓点在物理坐标系中的物理坐标之前，所述方法还包括：

基于所述第一目标区域，确定所述待检物品的物品类型；

所述基于所述目标映射参数对所述第一目标区域上轮廓点的像素坐标进行映射，得到所述轮廓点在物理坐标系中的物理坐标，包括：

响应于所述物品类型为刀具类，基于所述目标映射参数，对所述第一目标区域长度方向和宽度方向上轮廓点的像素坐标进行映射，得到所述物理坐标，且所述物理尺寸包括长度和宽度；

响应于所述物品类型为容器类，基于所述目标映射参数和缩放标定参数，对所述第一目标区域高度方向和直径方向上轮廓点的像素坐标进行映射，得到所述物理坐标，且所述物理尺寸包括高度和直径。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述缩放标定参数的获取步骤包括：

获取标准件放置于安检机的安检通道内至传送带的目标边缘不同垂直距离时由所述安检机所扫描的目标图像组；其中，所述目标图像组包含目标主视图和目标侧视图；

对于各个所述目标图像组：基于所述目标侧视图，选择所述映射标定参数作为参考映射参数，并基于所述参考映射参数对所述目标主视图中所述标准件上像素坐标进行映射，得到所述标准件的物理坐标，基于所述目标主视图中所述标准件在预设方向的像素坐标，得到所述标准件至所述目标边缘的像素距离，及基于所述标准件的物理坐标与所述标准件的真实尺寸，得到对应所述像素距离下的缩放因子；其中，所述预设方向垂直所述目标边缘；

基于不同所述像素距离下的缩放因子进行拟合，得到表征所述像素距离与所述缩放因子之间映射关系的标定缩放参数。

12.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述缩放标定参数的获取步骤包括：

获取所述安检机的成像比例，并获取所述安检机中光源至传送带的垂直距离，以及获取标准件在所述安检机的安检通道内被扫描的标定主视图；

基于所述成像比例和所述标定主视图中第一轮廓点的第一像素坐标，得到形成所述第一轮廓点的第一射线与所述传送带的第一相交点至所述传送带上目标边缘的第一距离，并基于所述成像比例和所述标定主视图中第二轮廓点的第二像素坐标，得到形成所述第二轮廓点的第二射线与所述传送带的第二相交点至所述目标边缘的第二距离；其中，所述第一轮廓点和所述第二轮廓点位于所述标准件的直径两端；

获取所述第一距离与所述第二距离之差，作为以所述第一像素坐标和所述第二像素坐标为变量且表征所述第一相交点与所述第二相交点之间距离的第一表达式，并基于所述第一距离、所述第二距离分别与所述垂直距离之比，得到以所述标准件的真实半径为变量且表征所述第一相交点与所述第二相交点之间距离的第二表达式；

基于所述第一表达式和所述第二表达式，构造表征所述真实半径与所述第一像素坐标、所述第二像素坐标之间映射关系的标定缩放参数。

13.一种安检机标定装置，其特征在于，包括：

参考图像获取模块，用于获取标定板放置于安检机的安检通道内不同高度处时由所述安检机所扫描的参考图像组；其中，所述参考图像组包含参考主视图和参考侧视图，所述标定板包括基板以及设于所述基板的标定图案；

映射参数标定模块，用于对于各个所述参考图像组：基于所述参考主视图和所述标定图案的物理尺寸，得到所述安检机在主视视角下像素坐标系到物理坐标的映射关系，并基于所述参考侧视图，得到所述标定板的像素高度，以及基于所述映射关系与所述像素高度，构造得到表征所述主视视角下在所述像素高度由所述像素坐标系映射到所述物理坐标的映射标定参数；

其中，所述标定图案为以不同于所述基板材质的矩形片在所述基板上排列形成的棋盘格，所述映射参数标定模块包括角点检测子模块，用于基于所述参考主视图进行检测，得到所述棋盘格的各个角点；所述映射参数标定模块包括角点选择子模块，用于选择所述棋盘格上所述角点作为第一角点，并基于所述第一角点确定物理坐标系的坐标原点；所述映射参数标定模块包括区域划分子模块，用于基于所述参考主视图中所述第一角点和第二角点在目标方向上的像素坐标，划分所述参考主视图为若干图像区域；其中，所述第二角点为所述参考主视图上最后一个所述角点，且所述目标方向为横向或纵向；所述映射参数标定模块包括关系标定子模块，用于基于所述第一角点、所述第二角点分别在目标方向上的像素坐标和所述棋盘格在所述目标方向上的物理尺寸，得到所述图像区域内在所述目标方向上所述像素坐标系到所述物理坐标系的映射关系。

14.一种物品尺寸测量装置，其特征在于，包括：

待测图像获取模块，用于获取待检物品经过安检机的安检通道时由所述安检机所扫描的待测图像组；其中，所述待测图像组至少包括待测主视图；

映射参数获取模块，用于获取所述安检机主视视角下在不同像素高度的映射标定参数；其中，所述映射标定参数基于权利要求13所述的安检机标定装置得到；

待测图像检测模块，用于基于所述待测主视图进行检测，得到所述待检物品的第一目标区域；

映射参数选择模块，用于选择所述像素高度下的映射标定参数，作为目标映射参数；

像素坐标映射模块，用于基于所述目标映射参数对所述第一目标区域上轮廓点的像素坐标进行映射，得到所述轮廓点在物理坐标系中的物理坐标；

物理尺寸度量模块，用于基于所述轮廓点的物理坐标，得到所述待检物品的物理尺寸。

15.一种电子设备，其特征在于，包括相互耦接的存储器和处理器，所述存储器中存储有程序指令，所述处理器用于执行所述程序指令以实现权利要求1至7任一项所述的安检机标定方法，或实现权利要求8至12任一项所述的物品尺寸测量方法。

16.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有能够被处理器运行的程序指令，所述程序指令用于实现权利要求1至7任一项所述的安检机标定方法，或实现权利要求8至12任一项所述的物品尺寸测量方法。