CN117347502A - 一种薄壁叶片的全聚焦成像方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种薄壁叶片的全聚焦成像方法和系统，涉及全聚焦成像领域，该方法包括获取薄壁叶片的全矩阵数据；对薄壁叶片的全矩阵数据进行处理，得到薄壁叶片的瞬时相位数据；基于薄壁叶片的瞬时相位数据，通过延时计算，得到瞬时相位图像矩阵；对瞬时相位图像矩阵进行数据变换，得到瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵和相干能量矩阵；基于瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵和相干能量矩阵，通过计算，得到薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像，解决了相控阵成像算法和设备因为盲区较大难以对曲面薄壁叶片进行超声检测的问题。

Description

一种薄壁叶片的全聚焦成像方法和系统

技术领域

本说明书涉及全聚焦成像领域，特别涉及一种薄壁叶片的全聚焦成像方法和系统。

背景技术

随着我国工业水平的逐年提高，提高薄壁叶片的超声无损检测能力迫在眉睫，传统的薄壁叶片的超声无损检测方法为手持单晶探头检测，但单晶探头在检测叶片曲率较大处时，存在耦合不佳的问题，导致丢失超声回波数据，并且单晶探头的检测结果不够直观；因此，现在多采用相控阵水浸的方式对曲面薄壁叶片进行全聚焦成像，采用水耦合的方式提升声波能量的入射效率，在采集到缺陷的全矩阵数据后，对缺陷数据采用全聚焦成像，使得缺陷显示更直观，检出能力更强。但是在曲面薄壁叶片中，需要较小的上表面盲区与下表面盲区，因为在超声波遇到水-曲面薄壁叶片的界面回弹时，接收到的界面回波不可避免地有一定的长度，并且界面回波有拖尾现象，这将导致上下表面盲区较大，导致距离上下表面较近的小当量缺陷无法检出。

为了降低上表面成像盲区，有研究者提出了围绕上表面界面的变迹方法，通过限制每一个相控阵晶片的有效成像角度，以及有效成像范围，去除每一次发射接收贡献不大的成像区域，从而能够减少上表面回波的幅值，但该方法无法降低下表面成像盲区，并且会导致缺陷的分辨率降低。

为了解决以上问题，提出了一种薄壁叶片的全聚焦成像方法和系统。

发明内容

本说明书一个或多个实施例提供一种薄壁叶片的全聚焦成像方法，所述薄壁叶片的全聚焦成像方法包括：S1：获取薄壁叶片的全矩阵数据；S2：对所述薄壁叶片的全矩阵数据进行处理，得到薄壁叶片的瞬时相位数据；S3：基于所述薄壁叶片的瞬时相位数据，通过延时计算，得到瞬时相位图像矩阵；S4：对所述瞬时相位图像矩阵进行数据变换，得到瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵和相干能量矩阵；S5：基于所述瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵和相干能量矩阵，通过计算，得到薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像。

本说明书一个或多个实施例提供一种薄壁叶片的全聚焦成像系统，包括第一获取模块、第二获取模块、第一确定模块、第二确定模块和全聚焦图像确定模块；所述第一获取模块，用于获取薄壁叶片的全矩阵数据；所述第二获取模块，用于对所述薄壁叶片的全矩阵数据进行处理，得到薄壁叶片的瞬时相位数据；所述第一确定模块，用于基于所述薄壁叶片的瞬时相位数据，通过延时计算，得到瞬时相位图像矩阵；所述第二确定模块，用于对所述瞬时相位图像矩阵进行数据变换，得到瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵和相干能量矩阵；所述全聚焦图像确定模块，用于基于所述瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵和相干能量矩阵，通过计算，得到薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像。

本说明书一个或多个实施例提供一种薄壁叶片的全聚焦成像装置，包括处理器，所述处理器用于执行以上任一项所述的薄壁叶片的全聚焦成像方法。

本说明书一个或多个实施例提供一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储计算机指令，当计算机读取存储介质中的计算机指令后，计算机执行以上任一项所述的薄壁叶片的全聚焦成像方法。

在本说明书的一些实施例中，处理器通过对薄壁叶片的全矩阵数据进行处理，得到薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像。通过这种方式，可以实时获取图像的相位数据，大幅度降低了上下表面盲区，提高了图像的分辨率，从而提高了图像的精度和超声设备对薄壁叶片的检测能力。

附图说明

本说明书将以示例性实施例的方式进一步说明，这些示例性实施例将通过附图进行详细描述。这些实施例并非限制性的，在这些实施例中，相同的编号表示相同的结构，其中：

图1是根据本说明书一些实施例所示的一种薄壁叶片的全聚焦成像系统的模块示意图；

图2是根据本说明书一些实施例所示的一种薄壁叶片的全聚焦成像方法的示例性流程图。

具体实施方式

为了更清楚地说明本说明书实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书的一些示例或实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图将本说明书应用于其它类似情景。除非从语言环境中显而易见或另做说明，图中相同标号代表相同结构或操作。

应当理解，本文使用的“系统”、“装置”、“单元”和/或“模块”是用于区分不同级别的不同组件、元件、部件、部分或装配的一种方法。然而，如果其他词语可实现相同的目的，则可通过其他表达来替换所述词语。

如本说明书和权利要求书中所示，除非上下文明确提示例外情形，“一”、“一个”、“一种”和/或“该”等词并非特指单数，也可包括复数。一般说来，术语“包括”与“包含”仅提示包括已明确标识的步骤和元素，而这些步骤和元素不构成一个排它性的罗列，方法或者设备也可能包含其它的步骤或元素。

本说明书中使用了流程图用来说明根据本说明书的实施例的系统所执行的操作。应当理解的是，前面或后面操作不一定按照顺序来精确地执行。相反，可以按照倒序或同时处理各个步骤。同时，也可以将其他操作添加到这些过程中，或从这些过程移除某一步或数步操作。

图1是根据本说明书一些实施例所示的一种薄壁叶片的全聚焦成像系统的模块示意图。

在一些实施例中，所述薄壁叶片的全聚焦成像系统100可以包括第一获取模块110、第二获取模块120、第一确定模块130、第二确定模块140和全聚焦图像确定模块150。

第一获取模块110，用于获取薄壁叶片的全矩阵数据；关于薄壁叶片的全矩阵数据的更多细节可以参见图2及其相关描述。

第二获取模块120，用于对所述薄壁叶片的全矩阵数据进行处理，得到薄壁叶片的瞬时相位数据；关于薄壁叶片的瞬时相位数据的更多细节可以参见图2及其相关描述。

第一确定模块130，用于基于所述薄壁叶片的瞬时相位数据，通过延时计算，得到瞬时相位图像矩阵；关于瞬时相位图像矩阵的更多细节可以参见图2及其相关描述。

第二确定模块140，用于对所述瞬时相位图像矩阵进行数据变换，得到瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵和相干能量矩阵；关于瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵的更多细节可以参见图2及其相关描述。

全聚焦图像确定模块150，用于基于所述瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵和相干能量矩阵，通过计算，得到薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像；关于薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像的更多细节可以参见图2及其相关描述。

需要注意的是，以上对于一种薄壁叶片的全聚焦成像系统及其模块的描述，仅为描述方便，并不能把本说明书限制在所举实施例范围之内。可以理解，对于本领域的技术人员来说，在了解该系统的原理后，可能在不背离这一原理的情况下，对各个模块进行任意组合，或者构成子系统与其他模块连接。在一些实施例中，图1中披露的第一获取模块110、第二获取模块120、第一确定模块130、第二确定模块140和全聚焦图像确定模块150可以是一个系统中的不同模块，也可以是一个模块实现上述的两个或两个以上模块的功能。例如，各个模块可以共用一个存储模块，各个模块也可以分别具有各自的存储模块。诸如此类的变形，均在本说明书的保护范围之内。

图2是根据本说明书一些实施例所示的一种薄壁叶片的全聚焦成像方法的示例性流程图，如图2所示，流程200包括下述步骤，在一些实施例中，流程200可以由处理器执行。

S1，处理器获取薄壁叶片的全矩阵数据。

薄壁叶片的全矩阵数据是薄壁叶片全面图像数据的具有三个维度的数据，例如，薄壁叶片的全矩阵数据可以是3840×32×32，表示在时间维度上可以有3840个采样点，接收的阵元数维度上可以有32个阵元，发射阵元数维度上可以有32个阵元。

在一些实施例中，处理器可以利用超声相控阵探头对薄壁叶片进行扫描，得到对应薄壁叶片的全矩阵数据。

在一些实施例中，处理器可以利用超声成像系统对薄壁叶片进行扫描，获取薄壁叶片的全矩阵数据。

超声成像系统是一种由显示器、主机和超声采集系统构成的图像采集系统。

在一些实施例中，处理器可以利用超声成像系统，通过超声回波采集薄壁叶片的全矩阵数据；例如，处理器可以利用超声成像系统，机械臂夹持超声水浸相控阵探头在规划好的扫查路径上运动，在经过薄壁叶片人工缺陷上方时，依次发射接收遍历每一个阵元的数据，得到超声相控阵探头采集薄壁叶片的全矩阵数据。

在一些实施例中，处理器可以设置超声成像系统中超声水浸相控阵探头阵元数为32，阵元中心距为0.6mm，超声波发射的中心频率为7.5MHz，超声回波采集系统的采样率为62.5MHz，对薄壁叶片进行图像采集。

S2，处理器对所述薄壁叶片的全矩阵数据进行处理，得到薄壁叶片的瞬时相位数据。

薄壁叶片的瞬时相位数据是频域中薄壁叶片全矩阵数据的瞬时相位的数据。

在一些实施例中，处理器可以对薄壁叶片的全矩阵数据进行时域到频域的变换，得到薄壁叶片的瞬时相位数据。

在一些实施例中，处理器可以对所述薄壁叶片的全矩阵数据，进行时间维度的希尔伯特变换，得到全矩阵数据的实部矩阵和对应的虚部矩阵；利用所述全矩阵数据的实部矩阵与对应的虚部矩阵，通过计算确定薄壁叶片的瞬时相位数据。

实部矩阵是基于薄壁叶片的全矩阵数据构建的矩阵。

在一些实施例中，处理器可以基于薄壁叶片的全矩阵数据中的三个维度，通过时间维度的希尔伯特变换，构建三维的全矩阵数据的实部矩阵；其中，/>表示时间维度，/>表示接收阵元数维度，/>表示发射阵元数维度。

虚部矩阵是与全矩阵数据的实部矩阵进行映射的矩阵。

在一些实施例中，处理器可以通过对全矩阵数据的实部矩阵在时间维度轴进行希尔伯特变换，得到全矩阵数据的虚部矩阵/>；虚部矩阵的规模与对应的实部矩阵一致，例如，实部矩阵规模为3840×32×32，则对应虚部矩阵规模为3840×32×32等。

在一些实施例中，处理器可以基于得到的全矩阵数据的实部矩阵和虚部矩阵，通过计算，确定薄壁叶片的瞬时相位数据：/>；其中，/>表示时间维度，/>表示接收阵元数维度，/>表示发射阵元数维度。

S3，处理器基于所述薄壁叶片的瞬时相位数据，通过延时计算，得到瞬时相位图像矩阵。

瞬时相位图像矩阵是用于进行相干矩阵和非相干矩阵计算的矩阵。

在一些实施例中，处理器可以基于薄壁叶片的瞬时相位数据，通过计算，确定对应的延时矩阵；对延时矩阵进行时域的延时计算，得到瞬时相位图像矩阵，其中，/>表示垂直于超声线性相控阵探头晶片排列方向，/>表示平行于超声线性相控阵探头晶片排列方向，/>表示样本点序号。

延时矩阵是用于分析薄壁叶片的全矩阵数据中提取的瞬时相位数据和时间关系的矩阵。

在一些实施例中，处理器可以对薄壁叶片的瞬时相位数据进行路径计算，得到所有从探头阵元处出发，经过界面轮廓，最后到达像素点的声波传播路径，计算每个发射接收阵元组合的声音传播最短时间，得到成像区域中各像素点最短时间的延时矩阵；例如，薄壁叶片的瞬时相位数据图像中/>轴像素点个数可以是600个，/>轴像素点个数可以是66个，/>轴样本点数量可以是1024个，则延时矩阵的规模可以是600×66×1024，其中，/>表示垂直于超声线性相控阵探头晶片排列方向，/>表示平行于超声线性相控阵探头晶片排列方向，/>表示样本点序号。

在一些实施例中，处理器可以遍历薄壁叶片的全矩阵数据中的轴和/>轴，获取第/>次发射第/>个阵元接收的/>扫信号，查找对应的延时矩阵进行时域的延时计算，对所有/>扫延时之后得到最终延时后的瞬时相位图像矩阵，其中，瞬时相位图像矩阵的规模与延时矩阵一致，/>扫表示幅值扫描；例如，延时矩阵的规模是600×66×1024，则对应的瞬时相位图像矩阵的规模是600×66×1024。

S4，处理器对所述瞬时相位图像矩阵进行数据变换，得到瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵。

瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵是用于构建薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像的分母矩阵。

在一些实施例中，处理器可以基于所述瞬时相位图像矩阵，同时遍历/>轴和/>轴所在维度，得到像素点对应的/>个样本点；对所述/>个样本点进行一维傅里叶变换，得到频域中的/>个样本点分量；基于所述频域中的/>个样本点，通过计算确定该像素点的非相干能量；遍历所有像素点的非相干能量，得到瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵；基于所述瞬时相位图像矩阵同时沿着/>轴维度和/>轴维度，遍历所有像素点并在/>轴维度求和后，再对求和结果立方，得到对应瞬时相位图像矩阵的相干能量矩阵。

在一些实施例中，处理器可以对于瞬时相位图像矩阵的每一个像素点，依次沿着/>轴和/>轴进行遍历，得到每一个像素点对应的/>个样本点/>，其中，/>表示第1个样本点，/>表示第2个样本点，/>表示第/>个样本点。

在一些实施例中，处理器可以对得到的多个样本点进行一维傅里叶变换，进入频域，得到频域中的个样本点分量/>，其中，/>表示第1个样本点在频域中的分量，/>表示第2个样本点在频域中的分量，/>表示第/>个样本点在频域中的分量。

在一些实施例中，处理器可以基于像素点中个样本点在频域中的频域分量，通过计算，确定该像素点的非相干能量/>：/>。

在一些实施例中，处理器可以对所有像素点的非相干能量进行遍历，得到瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵/>。

在一些实施例中，瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵的规模可以是600×66。

瞬时相位图像矩阵的相干能量矩阵是用于构建薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像分子矩阵。

在一些实施例中，处理器可以对瞬时相位图像矩阵中每一个像素点对应的频域中的/>个样本点分量/>同时沿着/>轴维度和/>轴维度遍历并在/>轴维度求和后，进行叠加后求立方，得到瞬时相位图像矩阵的相干能量矩阵/>；其中，/>表示垂直于超声线性相控阵探头晶片排列方向，/>表示平行于超声线性相控阵探头晶片排列方向，/>表示样本点序号，/>表示瞬时相位图像矩阵在/>轴维度的求和结果。

在一些实施例中，瞬时相位图像矩阵的相干能量矩阵的规模可以是600×66。

S5，处理器基于所述瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵和相干能量矩阵，通过计算，得到薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像。

薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像是通过瞬时相位一致性程度反映薄壁叶片扫查区域内部缺陷信息的图像。

在一些实施例中，处理器可以通过时域成像方法对薄壁叶片进行处理，得到薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像。

在一些实施例中，处理器可以对所述瞬时相位图像矩阵的相干能量矩阵逐像素点与对应瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵相除，得到薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像。

在一些实施例中，处理器可以将瞬时相位图像矩阵的相干能量矩阵中的像素点一一对应地除以瞬时相位图像矩阵的非相干能量中的像素点，得到最终的薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像：/>；其中，/>表示瞬时相位图像矩阵的相干能量矩阵，/>表示瞬时相位图像矩阵在/>轴维度的求和结果，/>表示对应瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵，/>表示垂直于超声线性相控阵探头晶片排列方向，表示平行于超声线性相控阵探头晶片排列方向。

在本说明书的一些实施例中，处理器通过对薄壁叶片的全矩阵数据进行处理，得到薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像；通过计算薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像，提取全矩阵信号的瞬时相位信息，可以实时获取图像的相位数据，大幅度降低了上下表面盲区，提高了图像的分辨率，从而提高了图像的精度和超声设备对薄壁叶片的检测能力；通过利用能量相干现象，进一步降低了上下表面的盲区。

应当注意的是，上述有关流程200的描述仅仅是为了示例和说明，而不限定本说明书的适用范围。对于本领域技术人员来说，在本说明书的指导下可以对流程200进行各种修正和改变。然而，这些修正和改变仍在本说明书的范围之内。

在一些实施例中，一种薄壁叶片的全聚焦成像装置包括处理器，该处理器可以用于执行薄壁叶片的全聚焦成像方法。

在一些实施例中，一种计算机可读存储介质存储计算机指令，当计算机读取存储介质中的计算机指令后，计算机可以执行薄壁叶片的全聚焦成像方法。

需要说明的是，不同实施例可能产生的有益效果不同，在不同的实施例里，可能产生的有益效果可以是以上任意一种或几种的组合，也可以是其他任何可能获得的有益效果。

上文已对基本概念做了描述，显然，对于本领域技术人员来说，上述详细披露仅仅作为示例，而并不构成对本说明书的限定。虽然此处并没有明确说明，本领域技术人员可能会对本说明书进行各种修改、改进和修正。该类修改、改进和修正在本说明书中被建议，所以该类修改、改进、修正仍属于本说明书示范实施例的精神和范围。

同时，本说明书使用了特定词语来描述本说明书的实施例。如“一个实施例”、“一实施例”、和/或“一些实施例”意指与本说明书至少一个实施例相关的某一特征、结构或特点。因此，应强调并注意的是，本说明书中在不同位置两次或多次提及的“一实施例”或“一个实施例”或“一个替代性实施例”并不一定是指同一实施例。此外，本说明书的一个或多个实施例中的某些特征、结构或特点可以进行适当的组合。

此外，除非权利要求中明确说明，本说明书所述处理元素和序列的顺序、数字字母的使用、或其他名称的使用，并非用于限定本说明书流程和方法的顺序。尽管上述披露中通过各种示例讨论了一些目前认为有用的发明实施例，但应当理解的是，该类细节仅起到说明的目的，附加的权利要求并不仅限于披露的实施例，相反，权利要求旨在覆盖所有符合本说明书实施例实质和范围的修正和等价组合。例如，虽然以上所描述的系统组件可以通过硬件设备实现，但是也可以只通过软件的解决方案得以实现，如在现有的服务器或移动设备上安装所描述的系统。

同理，应当注意的是，为了简化本说明书披露的表述，从而帮助对一个或多个发明实施例的理解，前文对本说明书实施例的描述中，有时会将多种特征归并至一个实施例、附图或对其的描述中。但是，这种披露方法并不意味着本说明书对象所需要的特征比权利要求中提及的特征多。实际上，实施例的特征要少于上述披露的单个实施例的全部特征。

一些实施例中使用了描述成分、属性数量的数字，应当理解的是，此类用于实施例描述的数字，在一些示例中使用了修饰词“大约”、“近似”或“大体上”来修饰。除非另外说明，“大约”、“近似”或“大体上”表明所述数字允许有±20%的变化。相应地，在一些实施例中，说明书和权利要求中使用的数值参数均为近似值，该近似值根据个别实施例所需特点可以发生改变。在一些实施例中，数值参数应考虑规定的有效数位并采用一般位数保留的方法。尽管本说明书一些实施例中用于确认其范围广度的数值域和参数为近似值，在具体实施例中，此类数值的设定在可行范围内尽可能精确。

针对本说明书引用的每个专利、专利申请、专利申请公开物和其他材料，如文章、书籍、说明书、出版物、文档等，特此将其全部内容并入本说明书作为参考。与本说明书内容不一致或产生冲突的申请历史文件除外，对本说明书权利要求最广范围有限制的文件（当前或之后附加于本说明书中的）也除外。需要说明的是，如果本说明书附属材料中的描述、定义、和/或术语的使用与本说明书所述内容有不一致或冲突的地方，以本说明书的描述、定义和/或术语的使用为准。

最后，应当理解的是，本说明书中所述实施例仅用以说明本说明书实施例的原则。其他的变形也可能属于本说明书的范围。因此，作为示例而非限制，本说明书实施例的替代配置可视为与本说明书的教导一致。相应地，本说明书的实施例不仅限于本说明书明确介绍和描述的实施例。

Claims (9)

1.一种薄壁叶片的全聚焦成像方法，其特征在于，包括：

S1：获取薄壁叶片的全矩阵数据；

S2：对所述薄壁叶片的全矩阵数据进行处理，得到薄壁叶片的瞬时相位数据；

S3：基于所述薄壁叶片的瞬时相位数据，通过延时计算，得到瞬时相位图像矩阵；

S4：对所述瞬时相位图像矩阵进行数据变换，得到瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵和相干能量矩阵；

S5：基于所述瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵和相干能量矩阵，通过计算，得到薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像。

2.根据权利要求1所述的薄壁叶片的全聚焦成像方法，其特征在于，所述S1包括：

利用多轴扫查系统对薄壁叶片进行扫描，获取薄壁叶片的全矩阵数据。

3.根据权利要求1所述的薄壁叶片的全聚焦成像方法，其特征在于，所述S2包括：

对所述薄壁叶片的全矩阵数据，进行时间维度的希尔伯特变换，得到全矩阵数据的实部矩阵和对应的虚部矩阵；

利用所述全矩阵数据的实部矩阵与对应的虚部矩阵，通过计算，得到薄壁叶片的瞬时相位数据：

；

其中，表示全矩阵数据的虚部矩阵，/>表示对应的实部矩阵，/>表示时间维度，/>表示接收阵元数维度，/>表示发射阵元数维度。

4.根据权利要求1所述的薄壁叶片的全聚焦成像方法，其特征在于，所述S3包括：

基于所述薄壁叶片的瞬时相位数据，通过计算，确定对应的延时矩阵；

对所述延时矩阵进行时域的延时计算，得到瞬时相位图像矩阵。

5.根据权利要求1所述的薄壁叶片的全聚焦成像方法，其特征在于，所述S4包括：

基于所述瞬时相位图像矩阵，同时遍历/>轴和/>轴所在维度，得到像素点/>对应的/>个样本点/>；其中，/>表示第1个样本点，/>表示第2个样本点，/>表示第/>个样本点；

对所述个样本点进行一维傅里叶变换，得到频域中的/>个样本点分量/>；其中，/>表示第1个样本点在频域中的分量，/>表示第2个样本点在频域中的分量，/>表示第/>个样本点在频域中的分量；

基于所述频域中的个样本点分量/>，通过计算确定该像素点的非相干能量/>：

；

遍历所有像素点的非相干能量，得到瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵/>；

基于所述瞬时相位图像矩阵同时沿着轴维度和/>轴维度，遍历所有像素点/>并在/>轴维度求和后，再对求和结果立方，得到对应瞬时相位图像矩阵的相干能量矩阵/>；其中，/>表示垂直于超声线性相控阵探头晶片排列方向，/>表示平行于超声线性相控阵探头晶片排列方向，/>表示样本点序号，/>表示瞬时相位图像矩阵在/>轴维度的求和结果。

6.根据权利要求1所述的薄壁叶片的全聚焦成像方法，其特征在于，所述S5包括：

对所述瞬时相位图像矩阵的相干能量矩阵逐像素点与对应瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵相除，得到薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像：

；

其中，表示瞬时相位图像矩阵的相干能量矩阵，/>表示瞬时相位图像矩阵在/>轴维度的求和结果，/>表示对应瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵，/>表示垂直于超声线性相控阵探头晶片排列方向，/>表示平行于超声线性相控阵探头晶片排列方向。

7.一种用于执行权利要求1~6任一项所述方法的薄壁叶片的全聚焦成像系统，包括第一获取模块、第二获取模块、第一确定模块、第二确定模块和全聚焦图像确定模块；

所述第一获取模块，用于获取薄壁叶片的全矩阵数据；

所述第二获取模块，用于对所述薄壁叶片的全矩阵数据进行处理，得到薄壁叶片的瞬时相位数据；

所述第一确定模块，用于基于所述薄壁叶片的瞬时相位数据，通过延时计算，得到瞬时相位图像矩阵；

所述第二确定模块，用于对所述瞬时相位图像矩阵进行数据变换，得到瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵和相干能量矩阵；

所述全聚焦图像确定模块，用于基于所述瞬时相位图像矩阵的非相干能量矩阵和相干能量矩阵，通过计算，得到薄壁叶片的瞬时相位全聚焦图像。

8.一种薄壁叶片的全聚焦成像装置，其特征在于，包括处理器，所述处理器用于执行权利要求1~6中任一项所述的薄壁叶片的全聚焦成像方法。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质存储计算机指令，当计算机读取存储介质中的计算机指令后，计算机执行如权利要求1~6任一项所述的薄壁叶片的全聚焦成像方法。