CN117116225B - 一种tft-lcd液晶显示器及其驱动方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种TFT‑LCD液晶显示器及其驱动方法，涉及半导体领域，其中，所述显示器包括：液晶显示模块包括液晶面板；显示驱动模块包括源极驱动器及栅极驱动器；温度采集模块包括分别设置在液晶面板的多个位置处的多个温度采集组件；温度调控模块，包括降温单元、升温单元及温度调控单元，调控单元用于基于多个温度采集组件采集的所在位置的温度相关信息，控制降温单元及升温单元对液晶面板进行温度调整；显示驱动模块还包括补偿驱动器，补偿驱动器用于基于多个温度采集组件采集的所在位置的温度相关信息，生成补偿信号，补偿信号用于预测温度调整结果，并基于预测的温度调整结果调整源极驱动器输出的灰阶电压，具有提高TFT‑LCD液晶显示的质量的优点。
Description
技术领域
本发明涉及半导体领域，特别涉及一种TFT-LCD液晶显示器及其驱动方法。
背景技术
TFT-LCD是采用新材料和新工艺的大规模半导体全集成电路制造技术，是液晶、无机和有机薄膜电致发光平板显示器的基础。薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)具有重量轻、平板化、低功耗、无辐射、显示品质优良等特点，其应用领域正在逐步扩大，已经从音像制品、笔记本电脑等显示器发展到台式计算机、工程工作站(EWS)用监视器，对液晶显示器要求也正在向高分辨率、高彩色化发展。LCD器件具有LC层，以及一对偏振轴相互垂直的偏振片。LC层控制着入射光的偏振方向，使用于显示图像的光透过偏振片。LC层控制着透射光的偏振方向，该层被夹在薄膜晶体管的衬底和反向衬底之间。TFT衬底包括透明衬底，其上放置有TFT阵列；像素电极，每一个像素电极对应于一个TFT。TFT(Thin Film Transistor)LCD即薄膜场效应晶体管LCD，是有源矩阵类型液晶显示器(AM-LCD)中的一种。
现有技术中，基于TFT的温度特性，随着温度的升高，TFT中的载流子的迁移率是下降的，因此随着温度的升高，Vtft，即TFT的源漏电压，是减小的，在不同温度环境下产生不同的泄漏电流，而在外部施加同样电压的情况下，将造成漏泄电流的增大，待机功耗增大，同时还会使液晶驱动电压增大，导致液晶显示效果变差，同时增加功耗。相反的，随着温度降低，Vtft是增大的，这样就会导致驱动电压下降，液晶显示效果变差，画面会出现泛白，甚至开不了机的现象。
因此，需要提供一种TFT-LCD液晶显示器及其驱动方法，用于提高TFT-LCD液晶显示的质量。
发明内容
本说明书实施例之一提供一种TFT-LCD液晶显示器，包括：液晶显示模块，包括以矩阵布置的m×n个像素单元的液晶面板，所述液晶面板包括相互交叉的m条源极线与n条栅线，所述液晶面板还包括设置在数据线和栅线的交叉点处的薄膜晶体管；显示驱动模块，包括用于将显示数据提供到液晶面板的所述m条源极线的源极驱动器，以及用于将扫描脉冲提供到所述n条栅线的栅极驱动器，所述栅极驱动器响应于时钟信号依次在所述n条栅线上输出扫描脉冲以控制相应栅线上的薄膜晶体管的导通和关断，所述源极驱动器在薄膜晶体管导通时将所述显示数据转换成灰阶电压来对像素单元充电，以实现所述显示数据的显示；温度采集模块，包括分别设置在所述液晶面板的多个位置处的多个温度采集组件，所述温度采集组件用于采集所在位置的温度相关信息；温度调控模块，包括降温单元、升温单元及温度调控单元，所述降温单元及所述升温单元均设置在所述液晶面板上，所述调控单元用于基于所述多个温度采集组件采集的所在位置的温度相关信息，控制所述降温单元及所述升温单元对所述液晶面板进行温度调整；所述显示驱动模块还包括补偿驱动器，用于预测所述温度调控模块的温度调整结果，还用于基于预测的所述温度调控模块的温度调整结果及所述显示数据，生成补偿信号，所述补偿信号用于调整所述源极驱动器输出的灰阶电压。
在一些实施例中，所述温度采集模块分别在所述液晶面板的多个位置处设置多个温度采集组件，包括：基于所述液晶面板的结构信息及约束条件集生成多种候选安装方案，其中，所述候选安装方案包括温度采集组件的数量及每个温度采集组件的候选安装位置；确定多种测试环境；对于每种所述候选安装方案，获取所述候选安装方案在每种所述测试环境下的测试数据，其中，所述测试数据包括在所述候选安装方案下的每个所述温度采集组件在所述测试环境下的温度相关信息；基于多种所述候选安装方案在每种所述测试环境下的测试数据，从多种所述候选安装方案中确定目标安装方案；基于所述目标安装方案分别在所述液晶面板的多个位置处设置多个温度采集组件。
在一些实施例中，所述温度采集模块基于多种所述候选安装方案在每种所述测试环境下的测试数据，从多种所述候选安装方案中确定目标安装方案，包括：对于每种所述候选安装方案，基于所述候选安装方案在每种所述测试环境下的测试数据，确定所述测试数据与对应的测试环境之间的关联性及所述测试数据的冗余度，基于所述测试数据与对应的测试环境之间的关联性及所述测试数据的冗余度，计算所述候选安装方案在所述测试环境下的测试性能分值；基于所述候选安装方案在每种所述测试环境下的测试性能分值，计算所述候选安装方案的方案性能分值；基于每种所述候选安装方案的方案性能分值，从多种所述候选安装方案中确定目标安装方案。
在一些实施例中，所述温度采集组件包括温度采集器及漏电流采集器，其中，所述温度采集器用于采集所在位置的像素单元的温度信息，所述漏电流采集器用于采集所在位置的薄膜晶体管的漏电流。
在一些实施例中，所述温度采集组件采集所在位置的温度相关信息，包括：基于所述温度采集器采集的所在位置的像素单元的温度信息，生成当前监测周期对应的温度序列；基于所述漏电流采集器采集的所在位置的薄膜晶体管的漏电流，生成当前监测周期对应的漏电流序列；基于所述当前监测周期对应的温度序列及所述当前监测周期对应的漏电流序列，生成所述温度采集组件采集所在位置的薄膜晶体管的温度信息。
在一些实施例中，所述温度采集组件基于所述当前监测周期对应的温度序列及所述当前监测周期对应的漏电流序列，生成所述温度采集组件采集所在位置的薄膜晶体管的温度信息，包括：对所述当前监测周期对应的温度序列进行去噪，生成去噪后的当前监测周期对应的温度序列；对所述当前监测周期对应的漏电流序列进行去噪，生成去噪后的当前监测周期对应的漏电流序列；基于所述去噪后的当前监测周期对应的温度序列及所述去噪后的当前监测周期对应的漏电流序列，生成所述温度采集组件采集所在位置的薄膜晶体管在当前监测周期的温度信息。
在一些实施例中，所述降温单元包括分别设置在所述液晶面板的多个位置处的多个降温组件，其中，所述降温组件包括第一发热衬底及第一吸热衬底，所述第一发热衬底与第一吸热衬底之间设置有至少一个降温器，所述降温器包括第一N型半导体件、第一P型半导体件、第一铜接触板、第二铜接触板及第三铜接触板，所述第一N型半导体件的一端经烧结接合连接至所述第一铜接触板，所述第一N型半导体件的另一端经烧结接合连接至所述第二铜接触板，所述第一P型半导体件的一端经烧结接合连接至所述第二铜接触板，所述第一P型半导体件的另一端经烧结接合连接至所述第三铜接触板，所述第二铜接触板焊接在所述第一吸热衬底上，所述第一铜接触板和所述第三铜接触板焊接在所述第一发热衬底上，所述第一吸热衬底与所述液晶面板接触。
在一些实施例中，所述升温单元包括分别设置在所述液晶面板的多个位置处的多个升温组件，其中，所述升温组件包括第二发热衬底及第二吸热衬底，所述第二发热衬底与第二吸热衬底之间设置有至少一个升温器，所述升温器包括第二N型半导体件、第二P型半导体件、第四铜接触板、第五铜接触板及第六铜接触板，所述第二N型半导体件的一端经烧结接合连接至所述第四铜接触板，所述第二N型半导体件的另一端经烧结接合连接至所述第五铜接触板，所述第二P型半导体件的一端经烧结接合连接至所述第五铜接触板，所述第二P型半导体件的另一端经烧结接合连接至所述第六铜接触板，所述第五铜接触板焊接在所述第一吸热衬底上，所述第四铜接触板和所述第六铜接触板焊接在所述第一发热衬底上，所述第二发热衬底与所述液晶面板接触。
在一些实施例中，所述调控单元基于所述多个温度采集组件采集的所在位置的温度相关信息，控制所述降温单元及所述升温单元对所述液晶面板进行温度调整，包括：基于所述多个温度采集组件采集的所在位置的温度相关信息，确定多个所述降温组件或多个所述升温组件的当前目标工作参数；基于多个所述降温组件或多个所述升温组件的当前目标工作参数，控制所述多个所述降温组件或多个所述升温组件对所述液晶面板进行温度调整。
本说明书实施例之一提供一种TFT-LCD液晶显示器驱动方法，包括：获取显示数据；获取液晶面板的多个位置处的温度相关信息；基于所述液晶面板的多个位置处的温度相关信息，对所述液晶面板进行温度调整；预测温度调整结果；基于预测的温度调整结果及所述显示数据，生成补偿信号，其中，所述补偿信号用于调整源极驱动器输出的灰阶电压；栅极驱动器响应于时钟信号依次在所述n条栅线上输出扫描脉冲以控制相应栅线上的薄膜晶体管的导通和关断；源极驱动器在薄膜晶体管导通时，基于所述补偿信号及所述显示数据转换成灰阶电压来对像素单元充电，以实现所述显示数据的显示。
相比于现有技术，本说明书提供的一种TFT-LCD液晶显示器及其驱动方法，至少具备以下有益效果：
1、通过在液晶面板的多个位置处设置多个温度采集组件，实现对液晶面板的多个位置处的温度监测，进一步的，调控单元基于多个温度采集组件采集的所在位置的温度相关信息，控制降温单元及升温单元对所述液晶面板进行温度调整，提高TFT-LCD液晶显示的质量；
2、基于多种候选安装方案在每种测试环境下的测试数据，确定测试数据与对应的测试环境之间的关联性及测试数据的冗余度，从多种候选安装方案中确定目标安装方案，使得在液晶面板的多个位置处设置的多个温度采集组件对液晶面板进行更加精准的温度监测的同时，减少了冗余数据量，提高了温度监测效率；
3、通过温度采集器及漏电流采集器同时进行数据采集，使得确定的温度采集组件所在位置的薄膜晶体管的温度信息更加准确；
4、降温单元和升温单元通过帕尔帖效应对液晶面板进行温度调控，避免了增加液晶面板的尺寸的同时，实现了温度调控。
附图说明
本说明书将以示例性实施例的方式进一步说明，这些示例性实施例将通过附图进行详细描述。这些实施例并非限制性的，在这些实施例中，相同的编号表示相同的结构，其中：
图1是根据本说明书一些实施例所示的TFT-LCD液晶显示器的模块示意图；
图2是根据本说明书一些实施例所示的液晶面板的结构示意图；
图3是根据本说明书一些实施例所示的在液晶面板的多个位置处设置多个温度采集组件的流程示意图；
图4是根据本说明书一些实施例所示的采集所在位置的温度相关信息的流程示意图；
图5是根据本说明书一些实施例所示的TFT-LCD液晶显示器驱动方法的流程示意图。
具体实施方式
为了更清楚地说明本说明书实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书的一些示例或实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图将本说明书应用于其它类似情景。除非从语言环境中显而易见或另做说明，图中相同标号代表相同结构或操作。
应当理解，本文使用的“系统”、“装置”、“单元”和/或“模块”是用于区分不同级别的不同组件、元件、部件、部分或装配的一种方法。然而，如果其他词语可实现相同的目的，则可通过其他表达来替换所述词语。
如本说明书和权利要求书中所示，除非上下文明确提示例外情形，“一”、“一个”、“一种”和/或“该”等词并非特指单数，也可包括复数。一般说来，术语“包括”与“包含”仅提示包括已明确标识的步骤和元素，而这些步骤和元素不构成一个排它性的罗列，方法或者设备也可能包含其它的步骤或元素。
本说明书中使用了流程图用来说明根据本说明书的实施例的系统所执行的操作。应当理解的是，前面或后面操作不一定按照顺序来精确地执行。相反，可以按照倒序或同时处理各个步骤。同时，也可以将其他操作添加到这些过程中，或从这些过程移除某一步或数步操作。
图1是根据本说明书一些实施例所示的TFT-LCD液晶显示器的模块示意图，如图1所示，TFT-LCD液晶显示器可以包括液晶显示模块、显示驱动模块、温度采集模块及温度调控模块。
液晶显示模块可以包括以矩阵布置的m×n个像素单元的液晶面板。图2是根据本说明书一些实施例所示的液晶面板的结构示意图，如图2所示，液晶面板包括相互交叉的m条源极线与n条栅线，液晶面板还包括设置在数据线和栅线的交叉点处的薄膜晶体管。
显示驱动模块可以包括用于将显示数据提供到液晶面板的m条源极线的源极驱动器，以及用于将扫描脉冲提供到n条栅线的栅极驱动器，栅极驱动器响应于时钟信号依次在n条栅线上输出扫描脉冲以控制相应栅线上的薄膜晶体管的导通和关断，源极驱动器在薄膜晶体管导通时将显示数据转换成灰阶电压来对像素单元充电，以实现显示数据的显示。
温度采集模块，包括分别设置在液晶面板的多个位置处的多个温度采集组件，温度采集组件用于采集所在位置的温度相关信息。
在一些实施例中，温度采集组件包括温度采集器及漏电流采集器，其中，温度采集器用于采集所在位置的像素单元的温度信息，漏电流采集器用于采集所在位置的薄膜晶体管的漏电流。
图3是根据本说明书一些实施例所示的在液晶面板的多个位置处设置多个温度采集组件的流程示意图，如图3所示，在一些实施例中，温度采集模块分别在液晶面板的多个位置处设置多个温度采集组件，包括：
基于液晶面板的结构信息及约束条件集生成多种候选安装方案，其中，候选安装方案包括温度采集组件的数量及每个温度采集组件的候选安装位置，约束条件集可以至少包括温度采集组件的最大数量约束、温度采集组件的最小数量约束、相邻两个温度采集组件之间的最短距离约束、相邻两个温度采集组件之间的最长距离约束及安装位置范围约束；
确定多种测试环境，其中，测试环境可以包括在多个测试时间点的测试环境温度、测试环境湿度、测试持续时间及测试显示数据；
对于每种候选安装方案，获取候选安装方案在每种测试环境下的测试数据，其中，测试数据包括在候选安装方案下的每个温度采集组件在测试环境下的温度相关信息；
基于多种候选安装方案在每种测试环境下的测试数据，从多种候选安装方案中确定目标安装方案；
基于目标安装方案分别在液晶面板的多个位置处设置多个温度采集组件。
在一些实施例中，温度采集模块基于多种候选安装方案在每种测试环境下的测试数据，从多种候选安装方案中确定目标安装方案，包括：
对于每种候选安装方案，基于候选安装方案在每种测试环境下的测试数据，确定测试数据与对应的测试环境之间的关联性及测试数据的冗余度，基于测试数据与对应的测试环境之间的关联性及测试数据的冗余度，计算候选安装方案在测试环境下的测试性能分值，其中，测试数据包括候选安装方案包括的每个温度采集组件在多个测试时间点的测试温度；
基于候选安装方案在每种测试环境下的测试性能分值，计算候选安装方案的方案性能分值；
基于每种候选安装方案的方案性能分值，从多种候选安装方案中确定目标安装方案。
具体的，对于每种测试环境，温度采集模块可以通过温度预测模型基于测试面板的结构信息和测试环境包括的在多个测试时间点的测试环境温度、测试环境湿度、测试持续时间及测试显示数据，预测该候选安装方案包括的多个每个温度采集组件的在多个测试时间点的预测温度，其中，温度预测模型可以为人工神经网络(Artificial NeuralNetwork，ANN)模型、循环神经网络(Recurrent Neural Networks，RNN)模型、长短时记忆网络(Long Short-Term Memory，LSTM)模型、双向循环神经网络(BRNN)模型等机器学习模型。
温度采集模块可以基于公式计算测试数据与对应的测试环境之间的关联性：
其中，R(Data,Environment,i,j)为第i种候选安装方案对应的测试数据与第j种测试环境之间的关联性，M为预设参数，n为第i种候选安装方案包括的温度采集组件的总数，T(prediction,n,i,j,x)为第i种候选安装方案包括的第m个温度采集组件在第j种测试环境下的第x个测试时间点的预测温度，T(test,n,i,j,x)为第i种候选安装方案包括的第m个温度采集组件在第j种测试环境下的第x个测试时间点的测试温度。
在一些实施例中，温度采集模块可以基于候选安装方案包括的相邻两个温度采集组件的监测范围的重叠度，计算测试数据的冗余度。可以理解的，相邻两个温度采集组件的监测范围的重叠度越大，测试数据的冗余度越大。
在一些实施例中，温度采集模块可以对归一化后的测试数据与对应的测试环境之间的关联性及测试数据的冗余度，计算候选安装方案在测试环境下的测试性能分值。具体的，温度采集模块可以对归一化后的测试数据与对应的测试环境之间的关联性及测试数据的冗余度进行加权求和，计算候选安装方案在测试环境下的测试性能分值。可以理解的，测试数据的冗余度越大，候选安装方案在测试环境下的测试性能分值越低，归一化后的测试数据与对应的测试环境之间的关联性越大，候选安装方案在测试环境下的测试性能分值越高。
在一些实施例中，温度采集模块可以对候选安装方案在每种测试环境下的测试性能分值进行加权求和，计算候选安装方案的方案性能分值。
在一些实施例中，温度采集模块可以将方案性能分值最高的候选安装方案作为目标安装方案，并按照目标安装方案分别在液晶面板的多个位置处多个温度采集组件。
图4是根据本说明书一些实施例所示的采集所在位置的温度相关信息的流程示意图，如图4所示，在一些实施例中，温度采集组件采集所在位置的温度相关信息，包括：
基于温度采集器采集的所在位置的像素单元的温度信息，生成当前监测周期对应的温度序列；
基于漏电流采集器采集的所在位置的薄膜晶体管的漏电流，生成当前监测周期对应的漏电流序列；
基于当前监测周期对应的温度序列及当前监测周期对应的漏电流序列，生成温度采集组件采集所在位置的薄膜晶体管的温度信息。
在一些实施例中，温度采集组件可以对当前监测周期对应的温度序列进行去噪，生成去噪后的当前监测周期对应的温度序列，对当前监测周期对应的漏电流序列进行去噪，生成去噪后的当前监测周期对应的漏电流序列；基于去噪后的当前监测周期对应的温度序列及去噪后的当前监测周期对应的漏电流序列，生成温度采集组件采集所在位置的薄膜晶体管在当前监测周期的温度信息。
具体的，温度采集模块可以通过以下步骤对当前监测周期对应的温度序列和当前监测周期对应的漏电流序列进行去噪：
基于当前监测周期对应的温度序列，生成当前监测周期对应的温度曲线；
基于当前监测周期对应的漏电流序列，生成当前监测周期对应的漏电流曲线；
将当前监测周期对应的温度曲线分解为至少一个温度内涵模态分量和一个温度残差；
将当前监测周期对应的漏电流曲线分解为至少一个漏电流内涵模态分量和一个漏电流残差；
通过去噪模型基于至少一个温度内涵模态分量和一个温度残差以及至少一个漏电流内涵模态分量和一个漏电流残差对当前监测周期对应的温度序列及当前监测周期对应的漏电流序列进行去噪，生成去噪后的当前监测周期对应的温度序列及去噪后的当前监测周期对应的漏电流序列，其中，去噪模型可以为人工神经网络(Artificial NeuralNetwork，ANN)模型、循环神经网络(Recurrent Neural Networks，RNN)模型、长短时记忆网络(Long Short-Term Memory，LSTM)模型、双向循环神经网络(BRNN)模型等机器学习模型。
在一些实施例中，温度采集模块可以基于去噪后的当前监测周期对应的温度序列，确定当前时间点的第一监测温度，并基于去噪后的当前监测周期对应的漏电流序列，确定当前时间点的第二监测温度，对第一监测温度和第二监测温度进行加权求和，确定温度采集组件所在位置处的薄膜晶体管的当前时间点的温度。
温度调控模块可以包括降温单元、升温单元及温度调控单元，降温单元及升温单元均设置在液晶面板上，调控单元用于基于多个温度采集组件采集的所在位置的温度相关信息，控制降温单元及升温单元对液晶面板进行温度调整。
在一些实施例中，降温单元包括分别设置在液晶面板的多个位置处的多个降温组件，其中，降温组件包括第一发热衬底及第一吸热衬底，第一发热衬底与第一吸热衬底之间设置有至少一个降温器，降温器包括第一N型半导体件、第一P型半导体件、第一铜接触板、第二铜接触板及第三铜接触板，第一N型半导体件的一端经烧结接合连接至第一铜接触板，第一N型半导体件的另一端经烧结接合连接至第二铜接触板，第一P型半导体件的一端经烧结接合连接至第二铜接触板，第一P型半导体件的另一端经烧结接合连接至第三铜接触板，第二铜接触板焊接在第一吸热衬底上，第一铜接触板和第三铜接触板焊接在第一发热衬底上，第一吸热衬底与液晶面板接触。第一发热衬底可以与第一导热板接触，第一导热板可以设置在液晶面板的外部。
可以理解的，降温组件可以通过帕尔帖效应对液晶面板进行降温。
在一些实施例中，升温单元包括分别设置在液晶面板的多个位置处的多个升温组件，其中，升温组件包括第二发热衬底及第二吸热衬底，第二发热衬底与第二吸热衬底之间设置有至少一个升温器，升温器包括第二N型半导体件、第二P型半导体件、第四铜接触板、第五铜接触板及第六铜接触板，第二N型半导体件的一端经烧结接合连接至第四铜接触板，第二N型半导体件的另一端经烧结接合连接至第五铜接触板，第二P型半导体件的一端经烧结接合连接至第五铜接触板，第二P型半导体件的另一端经烧结接合连接至第六铜接触板，第五铜接触板焊接在第一吸热衬底上，第四铜接触板和第六铜接触板焊接在第一发热衬底上，第二发热衬底与液晶面板接触。第二吸热衬底可以与第二导热板接触，第二导热板可以设置在液晶面板的外部。
可以理解的，升温组件可以通过帕尔帖效应对液晶面板进行升温。
在一些实施例中，温度调控模块基于多个温度采集组件采集的所在位置的温度相关信息，确定多个降温组件或多个升温组件的当前目标工作参数；基于多个降温组件或多个升温组件的当前目标工作参数，控制多个降温组件或多个升温组件对液晶面板进行温度调整。
例如，液晶面板过热时，温度调控模块可以基于多个温度采集组件采集的所在位置的温度相关信息，确定多个降温组件中的至少一个目标降温组件，并确定每个目标降温组件的当前目标工作参数(例如，在多个时间点的工作电压、工作电流及降温持续时长等)。
又例如，液晶面板温度过低时，温度调控模块可以基于多个温度采集组件采集的所在位置的温度相关信息，确定多个升温组件中的至少一个目标升温组件，并确定每个目标升温组件的当前目标工作参数(例如，在多个时间点的工作电压、工作电流及升温持续时长等)。
显示驱动模块还包括补偿驱动器，用于预测温度调控模块的温度调整结果，还用于基于预测的温度调控模块的温度调整结果及显示数据，生成补偿信号，补偿信号用于调整源极驱动器输出的灰阶电压。
在一些实施例中，显示驱动模块可以通过结果预测模型预测温度调控模块的温度调整结果。其中，结果预测模型可以为人工神经网络(Artificial Neural Network，ANN)模型、循环神经网络(Recurrent Neural Networks，RNN)模型、长短时记忆网络(Long Short-Term Memory，LSTM)模型、双向循环神经网络(BRNN)模型等机器学习模型。结果预测模型的输入可以包括TFT-LCD液晶显示器的结构信息、多个降温组件或多个升温组件的当前目标工作参数，结果预测模型的输出可以包括预测的温度调整后的液晶面板的多个位置处的温度信息。
在一些实施例中，显示驱动模块可以通过补偿预测模块基于结果预测模型输出的预测的温度调整后的液晶面板的多个位置处的温度信息，生成补偿信号矩阵，其中，补偿信号矩阵可以包括每个源极驱动器对应的补偿信号，补偿预测模块可以为人工神经网络(Artificial Neural Network，ANN)模型、循环神经网络(Recurrent Neural Networks，RNN)模型、长短时记忆网络(Long Short-Term Memory，LSTM)模型、双向循环神经网络(BRNN)模型等机器学习模型。
图5是根据本说明书一些实施例所示的TFT-LCD液晶显示器驱动方法的流程示意图，TFT-LCD液晶显示器驱动方法可以应用于上述的TFT-LCD液晶显示器，如图5所示，TFT-LCD液晶显示器驱动方法可以包括以下步骤：
步骤510，获取显示数据；
步骤520，获取液晶面板的多个位置处的温度相关信息；
步骤530，基于液晶面板的多个位置处的温度相关信息，对液晶面板进行温度调整；
步骤540，预测温度调整结果；
步骤550，基于预测的温度调整结果及显示数据，生成补偿信号，其中，补偿信号用于调整源极驱动器输出的灰阶电压；
步骤560，栅极驱动器响应于时钟信号依次在n条栅线上输出扫描脉冲以控制相应栅线上的薄膜晶体管的导通和关断；
步骤570，源极驱动器在薄膜晶体管导通时，基于补偿信号及显示数据转换成灰阶电压来对像素单元充电，以实现显示数据的显示。
关于TFT-LCD液晶显示器驱动方法的更多描述可以参见图1及其相关描述，此处不再赘述。
上文已对基本概念做了描述，显然，对于本领域技术人员来说，上述详细披露仅仅作为示例，而并不构成对本说明书的限定。虽然此处并没有明确说明，本领域技术人员可能会对本说明书进行各种修改、改进和修正。该类修改、改进和修正在本说明书中被建议，所以该类修改、改进、修正仍属于本说明书示范实施例的精神和范围。
同时，本说明书使用了特定词语来描述本说明书的实施例。如“一个实施例”、“一实施例”、和/或“一些实施例”意指与本说明书至少一个实施例相关的某一特征、结构或特点。因此，应强调并注意的是，本说明书中在不同位置两次或多次提及的“一实施例”或“一个实施例”或“一个替代性实施例”并不一定是指同一实施例。此外，本说明书的一个或多个实施例中的某些特征、结构或特点可以进行适当的组合。
此外，除非权利要求中明确说明，本说明书所述处理元素和序列的顺序、数字字母的使用、或其他名称的使用，并非用于限定本说明书流程和方法的顺序。尽管上述披露中通过各种示例讨论了一些目前认为有用的发明实施例，但应当理解的是，该类细节仅起到说明的目的，附加的权利要求并不仅限于披露的实施例，相反，权利要求旨在覆盖所有符合本说明书实施例实质和范围的修正和等价组合。例如，虽然以上所描述的系统组件可以通过硬件设备实现，但是也可以只通过软件的解决方案得以实现，如在现有的服务器或移动设备上安装所描述的系统。
同理，应当注意的是，为了简化本说明书披露的表述，从而帮助对一个或多个发明实施例的理解，前文对本说明书实施例的描述中，有时会将多种特征归并至一个实施例、附图或对其的描述中。但是，这种披露方法并不意味着本说明书对象所需要的特征比权利要求中提及的特征多。实际上，实施例的特征要少于上述披露的单个实施例的全部特征。
最后，应当理解的是，本说明书中所述实施例仅用以说明本说明书实施例的原则。其他的变形也可能属于本说明书的范围。因此，作为示例而非限制，本说明书实施例的替代配置可视为与本说明书的教导一致。相应地，本说明书的实施例不仅限于本说明书明确介绍和描述的实施例。
Claims (8)
1.一种TFT-LCD液晶显示器，其特征在于，包括：
液晶显示模块，包括以矩阵布置的m×n个像素单元的液晶面板，所述液晶面板包括相互交叉的m条源极线与n条栅线，所述液晶面板还包括设置在数据线和栅线的交叉点处的薄膜晶体管；
显示驱动模块，包括用于将显示数据提供到液晶面板的所述m条源极线的源极驱动器，以及用于将扫描脉冲提供到所述n条栅线的栅极驱动器，所述栅极驱动器响应于时钟信号依次在所述n条栅线上输出扫描脉冲以控制相应栅线上的薄膜晶体管的导通和关断，所述源极驱动器在薄膜晶体管导通时将所述显示数据转换成灰阶电压来对像素单元充电，以实现所述显示数据的显示；
温度采集模块，包括分别设置在所述液晶面板的多个位置处的多个温度采集组件，所述温度采集组件用于采集所在位置的温度相关信息；
温度调控模块，包括降温单元、升温单元及温度调控单元，所述降温单元及所述升温单元均设置在所述液晶面板上，所述调控单元用于基于所述多个温度采集组件采集的所在位置的温度相关信息，控制所述降温单元及所述升温单元对所述液晶面板进行温度调整；
所述显示驱动模块还包括补偿驱动器，用于预测所述温度调控模块的温度调整结果，还用于基于预测的所述温度调控模块的温度调整结果及所述显示数据，生成补偿信号，所述补偿信号用于调整所述源极驱动器输出的灰阶电压；
所述温度采集模块分别在所述液晶面板的多个位置处设置多个温度采集组件，包括：
基于所述液晶面板的结构信息及约束条件集生成多种候选安装方案，其中，所述候选安装方案包括温度采集组件的数量及每个温度采集组件的候选安装位置，约束条件集至少包括温度采集组件的最大数量约束、温度采集组件的最小数量约束、相邻两个温度采集组件之间的最短距离约束、相邻两个温度采集组件之间的最长距离约束及安装位置范围约束；
确定多种测试环境；
对于每种所述候选安装方案，获取所述候选安装方案在每种所述测试环境下的测试数据，其中，所述测试数据包括在所述候选安装方案下的每个所述温度采集组件在所述测试环境下的温度相关信息；
基于多种所述候选安装方案在每种所述测试环境下的测试数据，从多种所述候选安装方案中确定目标安装方案；
基于所述目标安装方案分别在所述液晶面板的多个位置处设置多个温度采集组件；
所述温度采集模块基于多种所述候选安装方案在每种所述测试环境下的测试数据，从多种所述候选安装方案中确定目标安装方案，包括：
对于每种所述候选安装方案，基于所述候选安装方案在每种所述测试环境下的测试数据，确定所述测试数据与对应的测试环境之间的关联性及所述测试数据的冗余度，基于所述测试数据与对应的测试环境之间的关联性及所述测试数据的冗余度，计算所述候选安装方案在所述测试环境下的测试性能分值；
基于所述候选安装方案在每种所述测试环境下的测试性能分值，计算所述候选安装方案的方案性能分值；
基于每种所述候选安装方案的方案性能分值，从多种所述候选安装方案中确定目标安装方案；
对于每种测试环境，温度采集模块通过温度预测模型基于测试面板的结构信息和测试环境包括的在多个测试时间点的测试环境温度、测试环境湿度、测试持续时间及测试显示数据，预测候选安装方案包括的每个温度采集组件的在多个测试时间点的预测温度；
温度采集模块基于公式计算测试数据与对应的测试环境之间的关联性：
其中，R(Data,Environment,i,j)为第i种候选安装方案对应的测试数据与第j种测试环境之间的关联性，M为预设参数，n为第i种候选安装方案包括的温度采集组件的总数，T(prediction,n,i,j,x)为第i种候选安装方案包括的第m个温度采集组件在第j种测试环境下的第x个测试时间点的预测温度，T(test,n,i,j,x)为第i种候选安装方案包括的第m个温度采集组件在第j种测试环境下的第x个测试时间点的测试温度；
温度采集模块基于候选安装方案包括的相邻两个温度采集组件的监测范围的重叠度，计算测试数据的冗余度，相邻两个温度采集组件的监测范围的重叠度越大，测试数据的冗余度越大；
温度采集模块对归一化后的测试数据与对应的测试环境之间的关联性及测试数据的冗余度，计算候选安装方案在测试环境下的测试性能分值，具体的，温度采集模块对归一化后的测试数据与对应的测试环境之间的关联性及测试数据的冗余度进行加权求和，计算候选安装方案在测试环境下的测试性能分值，测试数据的冗余度越大，候选安装方案在测试环境下的测试性能分值越低，归一化后的测试数据与对应的测试环境之间的关联性越大，候选安装方案在测试环境下的测试性能分值越高；
温度采集模块对候选安装方案在每种测试环境下的测试性能分值进行加权求和，计算候选安装方案的方案性能分值。
2.根据权利要求1所述的一种TFT-LCD液晶显示器，其特征在于，所述温度采集组件包括温度采集器及漏电流采集器，其中，所述温度采集器用于采集所在位置的像素单元的温度信息，所述漏电流采集器用于采集所在位置的薄膜晶体管的漏电流。
3.根据权利要求2所述的一种TFT-LCD液晶显示器驱动方法，其特征在于，所述温度采集组件采集所在位置的温度相关信息，包括：
基于所述温度采集器采集的所在位置的像素单元的温度信息，生成当前监测周期对应的温度序列；
基于所述漏电流采集器采集的所在位置的薄膜晶体管的漏电流，生成当前监测周期对应的漏电流序列；
基于所述当前监测周期对应的温度序列及所述当前监测周期对应的漏电流序列，生成所述温度采集组件采集所在位置的薄膜晶体管的温度信息。
4.根据权利要求3所述的一种TFT-LCD液晶显示器驱动方法，其特征在于，所述温度采集组件基于所述当前监测周期对应的温度序列及所述当前监测周期对应的漏电流序列，生成所述温度采集组件采集所在位置的薄膜晶体管的温度信息，包括：
对所述当前监测周期对应的温度序列进行去噪，生成去噪后的当前监测周期对应的温度序列；
对所述当前监测周期对应的漏电流序列进行去噪，生成去噪后的当前监测周期对应的漏电流序列；
基于所述去噪后的当前监测周期对应的温度序列及所述去噪后的当前监测周期对应的漏电流序列，生成所述温度采集组件采集所在位置的薄膜晶体管在当前监测周期的温度信息。
5.根据权利要求1-4中任意一项所述的一种TFT-LCD液晶显示器驱动方法，其特征在于，所述降温单元包括分别设置在所述液晶面板的多个位置处的多个降温组件，其中，所述降温组件包括第一发热衬底及第一吸热衬底，所述第一发热衬底与第一吸热衬底之间设置有至少一个降温器，所述降温器包括第一N型半导体件、第一P型半导体件、第一铜接触板、第二铜接触板及第三铜接触板，所述第一N型半导体件的一端经烧结接合连接至所述第一铜接触板，所述第一N型半导体件的另一端经烧结接合连接至所述第二铜接触板，所述第一P型半导体件的一端经烧结接合连接至所述第二铜接触板，所述第一P型半导体件的另一端经烧结接合连接至所述第三铜接触板，所述第二铜接触板焊接在所述第一吸热衬底上，所述第一铜接触板和所述第三铜接触板焊接在所述第一发热衬底上，所述第一吸热衬底与所述液晶面板接触。
6.根据权利要求5所述的一种TFT-LCD液晶显示器驱动方法，其特征在于，所述升温单元包括分别设置在所述液晶面板的多个位置处的多个升温组件，其中，所述升温组件包括第二发热衬底及第二吸热衬底，所述第二发热衬底与第二吸热衬底之间设置有至少一个升温器，所述升温器包括第二N型半导体件、第二P型半导体件、第四铜接触板、第五铜接触板及第六铜接触板，所述第二N型半导体件的一端经烧结接合连接至所述第四铜接触板，所述第二N型半导体件的另一端经烧结接合连接至所述第五铜接触板，所述第二P型半导体件的一端经烧结接合连接至所述第五铜接触板，所述第二P型半导体件的另一端经烧结接合连接至所述第六铜接触板，所述第五铜接触板焊接在所述第一吸热衬底上，所述第四铜接触板和所述第六铜接触板焊接在所述第一发热衬底上，所述第二发热衬底与所述液晶面板接触。
7.根据权利要求6所述的一种TFT-LCD液晶显示器驱动方法，其特征在于，所述调控单元基于所述多个温度采集组件采集的所在位置的温度相关信息，控制所述降温单元及所述升温单元对所述液晶面板进行温度调整，包括：
基于所述多个温度采集组件采集的所在位置的温度相关信息，确定多个所述降温组件或多个所述升温组件的当前目标工作参数；
基于多个所述降温组件或多个所述升温组件的当前目标工作参数，控制所述多个所述降温组件或多个所述升温组件对所述液晶面板进行温度调整。
8.一种TFT-LCD液晶显示器驱动方法，应用于权利要求1-7中任意一项所述的一种TFT-LCD液晶显示器，其特征在于，包括：
获取显示数据；
获取液晶面板的多个位置处的温度相关信息；
基于所述液晶面板的多个位置处的温度相关信息，对所述液晶面板进行温度调整；
预测温度调整结果；
基于预测的温度调整结果及所述显示数据，生成补偿信号，其中，所述补偿信号用于调整源极驱动器输出的灰阶电压；
栅极驱动器响应于时钟信号依次在所述n条栅线上输出扫描脉冲以控制相应栅线上的薄膜晶体管的导通和关断；
源极驱动器在薄膜晶体管导通时，基于所述补偿信号及所述显示数据转换成灰阶电压来对像素单元充电，以实现所述显示数据的显示。
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