CN117094969A - 显示面板检测方法、装置、设备及介质 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供的一种显示面板检测方法、装置、设备及介质，涉及显示面板检测技术领域，所述方法包括：获取显示面板的目标检测区域的图像；对所述目标检测区域的图像进行处理，以获得所述目标检测区域的图像中目标像素的数量；基于预设的目标像素是像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中目标像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素。本申请通过对显示面板的目标检测区域的图像进行处理，可以获得目标检测区域的图像中目标像素的数量；然后通过预设的像素数量阈值和目标检测区域的图像中目标像素的数量，可以更准确地判断目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素，从而可以更准确地检测出显示面板的缺陷。

Description

显示面板检测方法、装置、设备及介质

技术领域

本申请涉及显示面板检测技术领域，具体而言，涉及一种显示面板检测方法、装置、设备及介质。

背景技术

随着显示技术的发展，对显示面板的性能要求越来越高，为了提高显示面板的显示性能，需要对显示面板的显示进行缺陷检测。

现有技术中，自动检测技术对显示面板的显示区所有位置的不良进行识别，但显示面板某些区域的不规则性导致对显示面板的缺陷识别存在困难，从而不能准确地检测出显示面板的缺陷。

发明内容

为了克服上述技术背景中所提及的技术问题，本申请实施例第一方面提供了一种显示面板检测方法，所述方法包括：

获取显示面板的目标检测区域的图像；

对所述目标检测区域的图像进行处理，以获得所述目标检测区域的图像中目标像素的数量，所述目标像素包括发光像素或不发光像素；

基于预设的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中目标像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素。

在一种可能的实现方式中，所述获取显示面板的目标检测区域的图像的步骤，包括：

获取显示面板的图像；

从所述显示面板的图像中提取预设区域的图像作为所述显示面板的目标检测区域的图像。

在一种可能的实现方式中，所述获取显示面板的目标检测区域的图像的步骤，包括：

获取显示面板的包含弧形的目标检测区域的图像；

优选的，所述预设区域包括所述显示面板的图像的边角；

优选的，所述预设区域为所述显示面板的图像的边角的外接矩形。

在一种可能的实现方式中，所述对所述目标检测区域的图像进行处理，以获得所述目标检测区域的图像中目标像素的数量的步骤，包括：

对所述目标检测区域的图像进行二值化处理，以获得所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量；

所述基于预设的目标像素的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中目标像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素的步骤，包括：

基于预设的未发光像素的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素。

在一种可能的实现方式中，所述基于预设的未发光像素的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素的步骤，包括：

将预设的未发光像素的像素数量阈值与所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量进行比对，以判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素；若所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量大于所述未发光像素的像素数量阈值，则所述目标检测区域的图像中包含缺陷像素。

在一种可能的实现方式中，在所述基于预设的未发光像素的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素的步骤之前，还包括：

获取正常显示面板的标准区域的图像中未发光像素数量，以获得所述目标检测区域的图像中未发光像素的像素数量阈值；其中，所述正常显示面板与所述显示面板为像素排布相同的显示面板，所述正常显示面板的标准区域与所述显示面板的目标检测区域的位置对应，所述正常显示面板的标准区域的图像中不包含缺陷像素，所述缺陷像素包括不发光的像素。

在一种可能的实现方式中，所述获取正常显示面板的标准区域的图像中未发光像素数量，以获得所述目标检测区域的图像中未发光像素的像素数量阈值的步骤包括：

获取正常显示面板的标准区域的图像中未发光像素数量；

将所述标准区域的图像中未发光像素数量上调后作为所述目标检测区域的图像中未发光像素的像素数量阈值。

第二方面，本申请还提供了一种显示面板检测装置，所述装置包括：

获取模块，用于获取显示面板的目标检测区域的图像；

处理模块，用于对所述目标检测区域的图像进行二值化处理，以获得所述目标检测区域的图像中目标像素的数量，所述目标像素包括发光像素或不发光像素；

判断模块，用于基于预设的目标像素的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中目标像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素。

第三方面，本申请提供了一种电子设备，包括处理器及机器可读存储介质，所述机器可读存储介质存储有机器可执行指令，所述机器可执行指令在被所述处理器执行时，实现本申请提供的显示面板检测方法。

第四方面，本申请提供了一种机器可读存储介质，所述机器可读存储介质存储有机器可执行指令，所述机器可执行指令在被一个或多个处理器执行时，实现本申请提供的显示面板检测方法。

相对于现有技术而言，本申请至少具有以下有益效果：

本申请实施例提出的一种显示面板检测方法、装置、设备及介质，通过对显示面板的目标检测区域的图像进行处理，可以获得目标检测区域的图像中目标像素的数量；然后通过预设的目标像素的像素数量阈值和目标检测区域的图像中目标像素的数量，可以更准确地判断目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素，从而可以更准确地检测出显示面板的缺陷。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请实施例提供的一种显示面板检测方法的流程图；

图2为本申请实施例提供的步骤S10的一种具体执行方法的流程示意图；

图3为本申请实施例提供的获取的显示面板的图像示意图；

图4为本申请实施例提供的通过矩形框将显示面板的四个角框起来的示意图；

图5为本申请实施例提供的获得的目标检测区域的图像示意图；

图6为本申请实施例提供的将目标检测区域的图像进行二值化处理后的示意图；

图7为本申请实施例提供的获得未发光像素的像素数量阈值的方法流程示意图；

图8为本申请实施例涉及的硬件运行环境的电子设备结构示意图；

图9为本申请实施例提供的一种显示面板检测装置的示意图。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本申请的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该申请产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例中的不同特征之间可以相互结合。

目前显示面板因美观性需求，四角位置一般做倒角处理，不同的显示面板款式，倒角的大小和形态均有差异。显示面板自动检测技术需要对显示区所有位置不良进行识别，但倒角形态的不规则性导致边缘识别存在困难。遇到边缘像素失效无法点亮时，无法区分是产品的本征形态，还是当前的样本存在不良。因此，目前不能准确地检测出显示面板的缺陷。

有鉴于此，请参照图1，本申请的实施例提供了一种显示面板检测方法，下面对该方法的各个步骤进行详细阐述，该方法包括：

S10：获取显示面板的目标检测区域的图像。

在本实施例中，所述显示面板为需要进行缺陷检测的显示面板，所述目标检测区域为所述显示面板需要进行缺陷检测的区域，主要指所述显示面板包括边缘的区域。先获取显示面板的目标检测区域的图像，并以所述目标检测区域的图像作为检测对象。

S11：对所述目标检测区域的图像进行处理，以获得所述目标检测区域的图像中目标像素的数量。

在本实施例中，对所述目标检测区域的图像进行处理后，可以获得所述目标检测区域的图像中目标像素的数量。比如，可以将所述目标检测区域的图像中的发光像素二值化为0，将所述目标检测区域的图像中的未发光像素二值化为1，通过统计所述目标检测区域中0和1的数量情况，即可快速地获得所述目标检测区域的图像中目标像素的数量。

S12：基于预设的目标像素的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中目标像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素。

在本实施例中，所述像素数量阈值包括发光像素数量阈值或未发光像素数量阈值。若以所述目标检测区域的图像中发光像素为研究对象，则统计所述目标检测区域的图像中发光像素的数量，然后基于所述目标检测区域的图像中发光像素的数量和所述发光像素数量阈值，判断出所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素。若以所述目标检测区域的图像中未发光像素为研究对象，则统计所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量，然后基于所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量和所述未发光像素数量阈值，判断出所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素。

每个像素在所述显示面板上的衬底上的正投影面积相同，因此，上述像素数量可以等效为像素面积。比如，可以基于预设的目标像素的像素面积阈值和所述目标检测区域的图像中目标像素的面积，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素。

综上，本实施例通过对显示面板的目标检测区域的图像进行处理，可以获得目标检测区域的图像中目标像素的数量；然后通过预设的目标像素的像素数量阈值和目标检测区域的图像中目标像素的数量，可以更准确地判断目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素，从而可以更准确地检测出显示面板的缺陷。

在一种可能的实现方式中，请参见图2，所述获取显示面板的目标检测区域的图像的步骤，包括：

S101：获取显示面板的图像。

在本实施例中，通过常规的方式获取显示面板的图像；比如获取如图3所示的显示面板的图像。

S102：从所述显示面板的图像中提取预设区域的图像作为所述显示面板的目标检测区域的图像。

在本实施例中，所述预设区域可以通过相同大小的目标框框起来的区域，比如，图4中通过矩形框将所述显示面板的四个角框起来，所述显示面板四个角被矩形框框起来的区域的图像为所述显示面板的目标检测区域的图像。比如，得到如图5所示的A目标检测区域、B目标检测区域、C目标检测区域和D目标检测区域。如此，通过目标框将所述显示面板的图像框起来的区域作为所述目标检测区域，可以进一步缩小缺陷像素所在的区域，且所述目标框的大小相等，因此所述目标检测区域的大小相等，从而可以更准确地检测出所述显示面板的缺陷像素。另外，通过目标框将所述显示面板的图像框起来的区域作为所述目标检测区域的方式，可以适用于边缘规则的显示面板和边缘不规则的显示面板，因此，对所述显示面板的适用范围较广。

在一种可能的实现方式中，所述获取显示面板的目标检测区域的图像的步骤包括：获取显示面板的包含弧形的目标检测区域的图像。

在本实施例中，请再次参见图5，所述目标检测区域的图像中包含弧形，比如包含所述显示面板的顶角、圆孔以及弧形边缘等。弧形的边缘区域的图像中包含缺陷像素的概率更大，因此，所述目标检测区域的图像中包含弧形可以增加所述目标检测区域中包含缺陷像素的概率，从而可以进一步提高检测出所述显示面板的缺陷像素的准确率和效率。

优选的，所述预设区域包括所述显示面板的图像的边角。所述显示面板的图像的边角处更容易出现缺陷像素，因此，将所述预设区域设置为包括所述显示面板的图像的边角，可以更容易检测出该显示面板是否包括缺陷像素，从而可以更准确、更高效地检测出显示面板的缺陷。

优选的，所述预设区域为所述显示面板的图像的边角的外接矩形。通过外接矩形框住所述显示面板的图像的边角，可以使每个所述显示面板的所述预设区域中的像素的数量相等，从而可以提高对每个所述显示面板的缺陷检测的准确率。

在一种可能的实现方式中，所述对所述目标检测区域的图像进行二值化处理，以获得所述目标检测区域的图像中目标像素的数量的步骤，包括：对所述目标检测区域的图像进行二值化处理，以获得所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量。

在本实施例中，请参见图6，将上述实施例中的A目标检测区域、B目标检测区域、C目标检测区域和D目标检测区域进行二值化处理，并分别获得所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量。比如，A目标检测区域的未发光像素的数量为98个，B目标检测区域的未发光像素的数量为96个，C目标检测区域的未发光像素的数量为96个，D目标检测区域的未发光像素的数量为96个。

以所述目标检测区域中未发光像素的数量作为研究对象，可以使所述目标检测区域中未发光像素的数量不容易受到外界因素，比如遮挡等的影响，从而可以进一步准确地检测出所述显示面板的图像中的缺陷像素。

所述基于预设的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中目标像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素的步骤，包括：基于预设的未发光像素的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素。如此，将预设的未发光像素的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量作为判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素的两个基准，可以更容易检测出所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素。

所述基于预设的未发光像素的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素的步骤，包括：

将预设的未发光像素的像素数量阈值与所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量进行比对，以判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素。若所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量大于所述未发光像素的像素数量阈值，则所述目标检测区域的图像中包含缺陷像素。

在本实施例中，请再次参见图6，若将未发光像素的像素数量阈值设为97，A目标检测区域中的未发光像素的数量为98，B目标检测区域、C目标检测区域和D目标检测区域中的未发光像素的数量均为96，则A目标检测区域的未发光像素的数量大于所述未发光像素的像素数量阈值；B目标检测区域、C目标检测区域和D目标检测区域中的未发光像素的数量小于所述未发光像素的像素数量阈值。则，所述A目标检测区域包含缺陷像素，所述B目标检测区域、所述C目标检测区域和所述D目标检测区域不包含缺陷像素。

在一种可能的实现方式中，在所述基于预设的未发光像素的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素的步骤之前，还包括：获取正常显示面板的标准区域的图像中未发光像素数量，以获得所述目标检测区域的图像中未发光像素的像素数量阈值；其中，所述正常显示面板与所述显示面板为像素排布相同的显示面板，所述正常显示面板的标准区域与所述显示面板的目标检测区域的位置对应，所述正常显示面板的标准区域的图像中不包含缺陷像素，所述缺陷像素包括不发光的像素。

在本实施例中，选取与所述显示面板像素排布相同的的显示面板作为正常显示面板，且所述正常显示面板的标准区域的位置与所述显示面板的目标检测区域的位置对应，所述正常显示面板的标准区域的图像中不包含缺陷像素，且所述缺陷像素优选为包括不发光的像素。获取所述正常显示面板的标准区域的图像和所述显示面板的目标检测区域的图像时，可以使用相同大小的矩形框将所述正常显示面板与所述显示面板对应位置的图像框起来。如此，可以使所述正常显示面板的标准区域的图像中未发光像素的数量与没有缺陷像素的所述显示面板的目标检测区域的图像中未发光像素的数量相等。因此，以所述正常显示面板的标准区域的图像中未发光像素的数量作为基准，可以更准确地获得所述未发光像素阈值，从而可以更准确地检测出所述显示面板的目标检测区域的图像中是否有缺陷像素。

在一种可能的实现方式中，请参见图7，所述获取正常显示面板的标准区域的图像中未发光像素数量，以获得所述目标检测区域的图像中未发光像素的像素数量阈值的步骤包括：

S20：获取正常显示面板的标准区域的图像中未发光像素数量。

在本实施例中，通过获取所述显示面板的目标检测区域的图像中未发光像素数量的方式，获取正常显示面板的标准区域的图像中未发光像素数量。

S21：将所述标准区域的图像中未发光像素数量上调后作为所述目标检测区域的图像中未发光像素的像素数量阈值。

在本实施例中，由于检测可能会存在一定的误差，因此，需要将所述标准区域的图像中未发光像素数量上调后作为所述目标检测区域的图像的未发光像素的像素数量阈值，比如，在所述标准区域的图像中未发光像素数量的基础再上调1-4个像素后作为所述目标检测区域的图像中未发光像素的像素数量阈值。

请再次参见图6，若所述显示面板的目标检测区域的未发光像素为96个，在96个未发光像素的基础上上调一个1个未发光像素，即以97个未发光像素作为所述目标检测区域的图像中未发光像素的像素数量阈值。A目标检测区域、B目标检测区域、C目标检测区域和D目标检测区域中只有A目标检测区域的图像中未发光像素的数量为98个，因此，只有A目标检测区域包含缺陷像素。

综上，本申请中通过对显示面板的目标检测区域的图像进行处理，可以获得目标检测区域的图像中目标像素的数量；然后通过预设的目标像素的像素数量阈值和目标检测区域的图像中目标像素的数量，可以更准确地判断目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素，从而可以更准确地检测出显示面板的缺陷。

另外，相比现有技术中采用导入所述正常显示面板的图像后，将所述显示面板的图像与所述正常显示面板的图像进行对比，来检测所述显示面板的图像中是否包含缺陷像素的方式。本申请不需要导入所述正常显示面板的图像，仅检测当前所述显示面板的图像即可判断是否有缺陷像素，可以减少参数文件和占用空间，从而可以降低检测程序的运行时间，进而可以提高对所述显示面板的图像的缺陷检测效率。

本实施例还提供一种电子设备，该电子设备可以用于运行或实现本实施例提供的所述显示面板检测方法，该电子设备可以包括具有图像处理能力的设备，例如，服务器、个人电脑、笔记本电脑等。

请参照图8，所述电子设备100的示意图，所述电子设备100包括显示面板检测装置110、机器可读存储介质120和处理器130。

所述机器可读存储介质120、处理器130各元件相互之间直接或间接地电性连接，以实现数据的传输或交互。例如，这些元件相互之间可通过一条或多条通讯总线或信号线实现电性连接。所述显示面板检测装置110包括至少一个可以软件或固件(firmware)的形式存储于所述机器可读存储介质120中或固化在所述电子设备100的操作系统(operatingsystem，OS)中的软件功能模块。所述处理器130用于执行所述机器可读存储介质120中存储的可执行模块，例如所述显示面板检测装置110所包括的软件功能模块及计算机程序等。

其中，所述机器可读存储介质120可以是，但不限于随机存取存储器(RandomAccess Memory，RAM)，只读存储器(Read Only Memory，ROM)，可编程只读存储器(Programmable Read-Only Memory，PROM)，可擦除只读存储器(Erasable ProgrammableRead-Only Memory，EPROM)，电可擦除只读存储器(Electric Erasable ProgrammableRead-Only Memory，EEPROM)等。其中，所述机器可读存储介质120用于存储程序，所述处理器130在接收到执行指令后，执行所述程序/可执行本实施例提供的所述显示面板检测方法。

所述处理器130可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。上述的处理器可以是通用处理器，包括中央处理器(Central Processing Unit，简称CPU)、网络处理器(Network Processor，简称NP)等；还可以是数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本申请实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

在另一实施例中，请参考9，基于与前述实施例相同的发明思路，本申请的实施例还提供了一种显示面板检测装置110，所述显示面板检测装置110包括至少一个可以以软件形式存储于机器可读存储介质120中的功能模块。从功能上划分，该装置包括：

获取模块111，用于获取显示面板的目标检测区域的图像；

处理模块112，用于对所述目标检测区域的图像进行二值化处理，以获得所述目标检测区域的图像中目标像素的数量；

判断模块113，用于基于预设的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中目标像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素；其中，所述缺陷像素包括不发光的像素。

需要说明的是，本实施例中显示面板检测装置110中各模块是与前述实施例中的显示面板检测方法中的各步骤一一对应，因此，本实施例的具体实施方式和达到的技术效果可参照前述显示面板检测方法的实施方式，这里不再赘述。

在一种可能的实施方式中，本申请还提供了一种机器可读存储介质，所述机器可读存储介质存储有机器可执行指令，所述机器可执行指令在被一个或多个处理器执行时，实现本申请提供的显示面板检测方法。所述机器可执行指令可以采用程序、软件、软件模块、脚本或代码的形式，按任意形式的编程语言(包括编译或解释语言，或者声明性或过程性语言)来编写，并且其可按任意形式部署，包括被部署为独立的程序或者被部署为模块、组件、子例程或者适合在计算环境中使用的其它单元。

作为示例，所述机器可执行指令可被部署为在一个电子设备上执行，或者在位于一个地点的多个电子设备上执行，又或者，在分布在多个地点且通过通信网络互连的多个电子设备上执行。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本申请实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如只读存储器/随机存取存储器、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台多媒体终端设备(可以是手机，计算机，电视接收机，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述的方法。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种显示面板检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取显示面板的目标检测区域的图像；

对所述目标检测区域的图像进行处理，以获得所述目标检测区域的图像中目标像素的数量，所述目标像素包括发光像素或不发光像素；

基于预设的目标像素的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中目标像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素。

2.根据权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述获取显示面板的目标检测区域的图像的步骤，包括：

获取显示面板的图像；

从所述显示面板的图像中提取预设区域的图像作为所述显示面板的目标检测区域的图像。

3.根据权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述获取显示面板的目标检测区域的图像的步骤，包括：

获取显示面板的包含弧形的目标检测区域的图像；

优选的，所述预设区域包括所述显示面板的图像的边角；

优选的，所述预设区域为所述显示面板的图像的边角的外接矩形。

4.根据权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述对所述目标检测区域的图像进行处理，以获得所述目标检测区域的图像中目标像素的数量的步骤，包括：

对所述目标检测区域的图像进行二值化处理，以获得所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量；

所述基于预设的目标像素的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中目标像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素的步骤，包括：

基于预设的未发光像素的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素。

5.根据权利要求4所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述基于预设的未发光像素的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素的步骤，包括：

将预设的未发光像素的像素数量阈值与所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量进行比对，以判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素；若所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量大于所述未发光像素的像素数量阈值，则所述目标检测区域的图像中包含缺陷像素。

6.根据权利要求4所述的显示面板检测方法，其特征在于，在所述基于预设的未发光像素的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中未发光像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素的步骤之前，还包括：

获取正常显示面板的标准区域的图像中未发光像素数量，以获得所述目标检测区域的图像中未发光像素的像素数量阈值；其中，所述正常显示面板与所述显示面板为像素排布相同的显示面板，所述正常显示面板的标准区域与所述显示面板的目标检测区域的位置对应，所述正常显示面板的标准区域的图像中不包含缺陷像素，所述缺陷像素包括不发光的像素。

7.根据权利要求6所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述获取正常显示面板的标准区域的图像中未发光像素数量，以获得所述目标检测区域的图像中未发光像素的像素数量阈值的步骤包括：

获取正常显示面板的标准区域的图像中未发光像素数量；

将所述标准区域的图像中未发光像素数量上调后作为所述目标检测区域的图像中未发光像素的像素数量阈值。

8.一种显示面板检测装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取显示面板的目标检测区域的图像；

处理模块，用于对所述目标检测区域的图像进行处理，以获得所述目标检测区域的图像中目标像素的数量，所述目标像素包括发光像素或不发光像素；

判断模块，用于基于预设的目标像素的像素数量阈值和所述目标检测区域的图像中目标像素的数量，判断所述目标检测区域的图像中是否包含缺陷像素。

9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器及机器可读存储介质，所述机器可读存储介质存储有机器可执行指令，所述机器可执行指令在被所述处理器执行时，实现权利要求1-7任意一项所述的方法。

10.一种机器可读存储介质，其特征在于，所述机器可读存储介质存储有机器可执行指令，所述机器可执行指令在被一个或多个处理器执行时，实现权利要求1-7任意一项所述的方法。