CN117010802B - 基于mes系统的光学器件半成品入库方法及相关设备 - Google Patents
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Abstract
本申请提供一种基于MES系统的光学器件半成品入库方法及相关设备，方法包括：接收针对待入库的半成品的入库指令，入库指令携带有半成品的物料标识、入库工位标识、及物料信息数据表；根据物料标识，获取半成品对应的质检计划数据表，质检计划数据表包括物料标识和检验项目，且每个检验项目设置有对应的质检规则；按照物料信息数据表中的各个检验项目对应的质检规则，对物料信息数据表中的多项物料明细进行质检校验，生成校验结果；根据校验结果和入库工位标识确定半成品的入库信息，实现了对半成品各项物料明细的自动化质检，提高了对半成品的质检效率和校验结果的准确性，从而提高了入库信息的准确性，提高了对光学器件半成品的入库管理效率。
Description
技术领域
本申请涉及半导体激光器入库技术领域，具体涉及一种基于MES系统的光学器件半成品入库方法及相关设备。
背景技术
MES系统（Manufacturing Execution System，生产执行系统）是一套面向制造企业车间执行层的生产信息化管理系统，MES可以为企业提生产信息等管理模块，实现信息化和数字化。
目前，在半导体激光器的生产管理中，半成品的生产管理比较复杂，需要后续多道加工才能成为成品，所以在现有的生产线上，一般是通过半成品设置条形码或采用人工校验的方式进行数量校验和信息核对，实现对半成品的入库管理，其入库管理方式容易存在交接有误、易丢失、易混淆等问题，从而造成效率低下，作业成本高，不便于跟踪等不利于管理的影响。
发明内容
本申请提供一种基于MES系统的光学器件半成品入库方法及相关设备，旨在提高光学器件半成品入库信息的准确性，便于对光学器件半成品入库进行高效管理。
一方面，本申请提供一种基于MES系统的光学器件半成品入库方法，所述MES系统配置有光学器件数据库，所述光学器件数据库包括多个光学器件数据表，所述基于MES系统的光学器件半成品入库方法包括：
接收针对待入库的半成品的入库指令，所述入库指令携带有所述半成品的物料标识、入库工位标识、及所述物料标识对应的物料信息数据表，所述物料信息数据表包括所述物料标识和多项物料明细，所述物料信息数据表为所述光学器件数据库中的一个光学器件数据表；
根据所述物料标识，从所述MES系统获取所述半成品对应的质检计划数据表，所述质检计划数据表包括所述物料标识和检验项目，且每个所述检验项目设置有对应的质检规则，所述质检计划数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到；
按照所述物料信息数据表中的各个所述检验项目对应的所述质检规则，对所述物料信息数据表中的所述多项物料明细进行质检校验，生成校验结果；
根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息。
在本申请一种可能的实现方式中，在所述接收针对待入库的半成品的入库指令之前，还包括：
构建所述光学器件数据库，所述光学器件数据库中的多个光学器件数据表分为质检计划头表、质检计划行表、及所述物料信息数据表；
所述质检计划头表包括物料标识、头表标识，且所述物料标识与所述头表标识组合为所述质检计划头表对应的唯一索引；
所述质检计划行表包括头表标识、行表标识和检验项目，且所述头表标识、所述行表标识和所述检验项目组合为所述质检计划行表对应的唯一索引；
所述物料信息数据表包括物料标识，用于对各个半成品的物料信息进行定义。
在本申请一种可能的实现方式中，所述质检计划数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到，包括：
从所述MES系统获取所述物料标识对应的质检计划头表，作为第一质检计划子表；
根据所述第一质检计划子表的子表标识，从所述MES系统获取所述子表标识对应的质检计划行表，作为第二质检计划子表；
将所述第一质检计划子表和所述第二质检计划子表进行关联，得到所述质检计划数据表。
在本申请一种可能的实现方式中，所述多项物料明细包括所述物料标识对应的物料检验项描述、物料规格范围、物料规格单位和物料数量；所述检验项目包括检验项描述、检验项描述对应的物料的规格范围、物料的规格单位和物料的数量；所述质检规则包括物料检验项描述是否存在、所述物料规格范围是否在有效范围内、所述物料规格单位是否匹配、所述物料数量是否正确；
所述按照所述物料信息数据表中的各个所述检验项目对应的所述质检规则，对所述物料信息数据表中的所述物料明细进行质检校验，生成校验结果，包括：
若所述物料检验项描述存在、所述物料规格范围在有效范围内、所述物料规格单位匹配且所述物料数量正确，判定所述校验结果为合格；否则，判定所述校验结果为不合格。
在本申请一种可能的实现方式中，所述根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息，包括：
若所述校验结果为合格，则将所述半成品与所述入库工位标识进行关联，生成入库信息；
若所述校验结果为不合格，则对所述半成品进行跟踪标识，生成入库信息。
在本申请一种可能的实现方式中，所述物料信息数据表还包括各个物料标识对应的质检类型，所述质检类型分为首次质检和非首次质检；
在所述根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息之后，还包括：
若所述质检类型为首次质检，且所述检验结果为合格，则将所述半成品和所述检验结果保存至预设配置的入库数据表中；
若所述质检类型为首次质检，且所述检验结果为不合格，则将所述半成品和所述检验结果保存至预设配置的入库检修数据表中，所述入库检修数据表记录了不合格的半成品，用于指示对所述不合格的半成品进行维修；
若所述质检类型为非首次质检，则获取所述半成品进行维修后的校验结果；
若所述进行维修后的校验结果为不合格，则将所述半成品和所述检验结果保存至预设配置的入库检修数据表中；
若所述进行维修后的校验结果为合格，则将所述半成品和所述检验结果保存至预设配置的入库数据表中。
在本申请一种可能的实现方式中，所述MES系统配置有可视化界面，还包括：在所述可视化界面对所述待入库的半成品进行质检校验和/或入库管理。
另一方面，本申请提供一种基于MES系统的光学器件半成品入库装置，所述MES系统配置有光学器件数据库，所述光学器件数据库包括多个光学器件数据表，所述基于MES系统的光学器件半成品入库装置包括：
接收模块，用于接收针对待入库的半成品的入库指令，所述入库指令携带有所述半成品的物料标识、入库工位标识、及所述物料标识对应的物料信息数据表，所述物料信息数据表包括所述物料标识和多项物料明细，所述物料信息数据表为所述光学器件数据库中的一个光学器件数据表；
第一确定模块，用于根据所述物料标识，从所述MES系统获取所述半成品对应的质检计划数据表，所述质检计划数据表包括所述物料标识和检验项目，且每个所述检验项目设置有对应的质检规则，所述质检计划数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到；
校验模块，用于按照所述物料信息数据表中的各个所述检验项目对应的所述质检规则，对所述物料信息数据表中的所述多项物料明细进行质检校验，生成校验结果；
第二确定模块，用于根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息。
另一方面，本申请还提供一种计算机设备，所述计算机设备包括：
一个或多个处理器；
存储器；以及
一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储于所述存储器中，并配置为由所述处理器执行以实现所述的基于MES系统的光学器件半成品入库方法。
另一方面，本申请还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器进行加载，以执行所述的基于MES系统的光学器件半成品入库方法中的步骤。
本申请实施例提供的基于MES系统的光学器件半成品入库方法及相关设备，该方法包括：接收针对待入库的半成品的入库指令，所述入库指令携带有所述半成品的物料标识、入库工位标识、及所述物料标识对应的物料信息数据表，所述物料信息数据表包括所述物料标识和多项物料明细，所述物料信息数据表为所述光学器件数据库中的一个光学器件数据表；根据所述物料标识，从所述MES系统获取所述半成品对应的质检计划数据表，所述质检计划数据表包括所述物料标识和检验项目，且每个所述检验项目设置有对应的质检规则，所述质检计划数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到；按照所述物料信息数据表中的各个所述检验项目对应的所述质检规则，对所述物料信息数据表中的所述多项物料明细进行质检校验，生成校验结果；根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息，由于校验结果是通过基于MES系统中的光学器件数据库进行自动化分析，实现了对半成品各项物料明细的自动化质检，提高了对半成品的质检效率和校验结果的准确性，从而提高了入库信息的准确性，提高了对光学器件半成品的入库管理效率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前系统提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的基于MES系统的光学器件半成品入库系统的场景示意图；
图2是本申请实施例中提供的基于MES系统的光学器件半成品入库方法的一个实施例流程示意图；
图3是本申请实施例中提供的对半成品进行质检校验的可视化界面示意图；
图4是本申请实施例中提供的基于MES系统的光学器件半成品入库装置的一个实施例结构示意图；
图5是本申请实施例中提供的计算机设备的一个实施例结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在本申请中，“示例性”一词用来表示“用作例子、例证或说明”。本申请中被描述为“示例性”的任何实施例不一定被解释为比其它实施例更优选或更具优势。为了使本领域任何技术人员能够实现和使用本申请，给出了以下描述。在以下描述中，为了解释的目的而列出了细节。应当明白的是，本领域普通技术人员可以认识到，在不使用这些特定细节的情况下也可以实现本申请。在其它实例中，不会对公知的结构和过程进行详细阐述，以避免不必要的细节使本申请的描述变得晦涩。因此，本申请并非旨在限于所示的实施例，而是与符合本申请所公开的原理和特征的最广范围相一致。
本申请实施例提供一种基于MES系统的光学器件半成品入库及相关设备，以下分别进行详细说明。
如图1所示，图1是本申请实施例提供的基于MES系统的光学器件半成品入库系统的场景示意图，该基于MES系统的光学器件半成品入库系统可以包括计算机设备100，计算机设备100中集成有基于MES系统的光学器件半成品入库装置。
可以理解的是，本申请实施例中计算机设备100为终端时，所使用的终端可以是既包括接收和发射硬件的设备，即具有能够在双向通信链路上，执行双向通信的接收和发射硬件的设备。这种设备可以包括：蜂窝或其他通信设备，其具有单线路显示器或多线路显示器或没有多线路显示器的蜂窝或其他通信设备。
本领域技术人员可以理解，图1中示出的应用环境，仅仅是与本申请方案一种应用场景，并不以构建对本申请方案应用场景的限定，其他的应用环境还可以包括比图1中所示更多或更少的计算机设备，例如图1中仅示出1个计算机设备，可以理解的，该基于MES系统的光学器件半成品入库系统还可以包括一个或多个其他计算机设备，具体此处不作限定。
另外，如图1所示，该基于MES系统的光学器件半成品入库系统还可以包括存储器200，用于存储数据，如存储光学器件的物料数据和质检数据等。
需要说明的是，图1所示的基于MES系统的光学器件半成品入库系统的场景示意图仅仅是一个示例，本申请实施例描述的基于MES系统的光学器件半成品入库系统以及场景是为了更加清楚的说明本申请实施例的技术方案，并不构成对于本申请实施例提供的技术方案的限定，本领域普通技术人员可知，随着基于MES系统的光学器件半成品入库系统的演变和新业务场景的出现，本申请实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。
接下来，介绍本申请实施例提供的基于MES系统的光学器件半成品入库方法。
如图2所示，基于MES系统的光学器件半成品入库方法的一个实施例流程示意图，MES系统配置有光学器件数据库，该光学器件数据库包括多个光学器件数据表，该基于MES系统的光学器件半成品入库方法可以包括如下步骤301～304，具体如下：
301、接收针对待入库的半成品的入库指令，所述入库指令携带有所述半成品的物料标识、入库工位标识、及所述物料标识对应的物料信息数据表，所述物料信息数据表包括所述物料标识和多项物料明细，所述物料信息数据表为所述光学器件数据库中的一个光学器件数据表。
其中，本实施例中的MES系统是用于对光学器件半成品的生产管理过程数字化的系统，该MES系统预先配置有光学器件数据库，光学器件数据库是用于管理光学器件半成品的关系型数据库，且光学器件数据库包括多个光学器件数据表，该光学器件数据表用于作为对光学器件半成品进行数字化管理的关系型数据表，例如，可以是光学器件半成品的明细数据表、光学器件半成品的上生产单据的数据表、光学器件半成品的质检单的数据表等。
其中，待入库的半成品是指需要进行入库管理的光学器件半成品。针对待入库的半成品的入库指令可以是由客户端用户通过点击入库管理的按钮触发，也可以是通过语音触发，此处不做限制。入库指令包括半成品的物料标识、入库工位标识、及物料标识对应的物料信息数据表，其中的物料标识是指半成品的唯一标识，即半成品ID，该物料标识可以是多个或者一个，对于多个物料标识，可以是多个半成品进行抽样入库管理，也可以是全部半成品进行入库管理。物料标识对应的物料信息数据表是指用于对应半成品的物料相关信息的关系型数据表，该物料信息数据表具有物料标识和多项物料明细，多项物料明细可以是物料名称、物料数量、物料单位等。入库工位标识是指入库工位的ID，用于确定半成品入库的位置或者站点。
具体地，计算机设备在接收到针对待入库的半成品的入库指令后，该入库指令携带有半成品的物料标识、入库工位标识、及物料标识对应的物料信息数据表，物料信息数据表包括物料标识和多项物料明细，物料信息数据表为光学器件数据库中的一个光学器件数据表，可以理解地，本实施例中，基于接收到的入库指令，确定了待入库的半成品的相关信息和数据表，以便后续基于MSE系统实现对半成品的相关信息和数据表进行高效精准的处理。
在一具体实施方式中，步骤301所述接收针对待入库的半成品的入库指令之前，还可以包括如下步骤305，具体如下：
305、构建所述光学器件数据库，所述光学器件数据库中的多个光学器件数据表分为质检计划头表、质检计划行表、及所述物料信息数据表；所述质检计划头表包括物料标识、头表标识，且所述物料标识与所述头表标识组合为所述质检计划头表对应的唯一索引；所述质检计划行表包括头表标识、行表标识和检验项目，且所述头表标识、所述行表标识和所述检验项目组合为所述质检计划行表对应的唯一索引；所述物料信息数据表包括物料标识，用于对各个半成品的物料信息进行定义。
其中，质检计划头表、质检计划行表和物料信息数据表均为预先维护好的的用于确定对物料信息进行质检的数据表，以实现对待入库的半成品进行质检。质检计划头表是一种定义质检计划的每一项信息的结构化的表，质检计划行表则是存储与每一项信息相关的详细信息。质检计划头表包括物料标识、头表标识，且物料标识与头表标识的组合，即为质检计划头表对应的唯一索引，质检计划行表包括头表标识、行表标识和检验项目，且头表标识、行表标识和检验项目的组合即为质检计划行表对应的唯一索引。头表标识为质检计划头表的ID，且头表标识为质检计划头表的主键，行表标识为质检计划行表的ID，且行表标识为质检计划行表的主键，检验项目为质检计划行表中的字段，用于定义进行质检的项目，如数量、单位等。如表1所示，为一个实施例中的质检计划头表，如表2所示，为一个实施例中的质检计划行表。
表1、质检计划头表
表2、质检计划行表
具体地，可以通过连接数据库软件，如MongoDB软件，预先获取光学器件半成品的数据源，基于数据源在数据库软件中配置多个光学器件数据表，即质检计划头表、质检计划行表、物料信息数据表，从而构建得到光学器件数据库。可以理解地，本实施例中，通过构建质检计划头表、质检计划行表和物料信息数据表，不仅可以实现对待入库的半成品信息进行维护，无需人工一一清点，而且还可以对质检计划头表、质检计划行表和物料信息数据表根据实际需求，进行灵活调整和关联，有利于提高对光学器件数据表的灵活处理，提高对不同场景的半成品入库管理的效率。
302、根据所述物料标识，从所述MES系统获取所述半成品对应的质检计划数据表，所述质检计划数据表包括所述物料标识和检验项目，且每个所述检验项目设置有对应的质检规则，所述质检计划数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到。
其中，质检计划数据表是用于指导对半成品进行质检和入库管理的数据表，质检计划数据表包括物料标识和检验项目，检验项目可以包括多个检验项，如数量检验，半成品长度检验、宽度检验等，且一个检验项目设置有一个质检规则，其中的质检规则用于对检验项目下的数据进行检验，该质检规则可以是正则表达式、Oracle SQL语句校验等。质检计划数据表是基于光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到，即质检计划数据表是通关联了至少两个光学器件数据表。
具体地，可以根据物料标识，查找物料标识对应的一个光学器件数据表，然后，根据查找到的一个光学器件数据表中的关键字段，查找与之关联的另一个或者多个光学器件数据表，通过关键字段进行关联，生成质检计划数据表。也可以预先配置多个场景下的质检计划数据表，将能够关联的光学器件数据表标识为相同标号，根据相同的标识的光学器件数据表进行关联，以获取到质检计划数据表。可以理解地，本实施例中，根据物料标识，即可从MES系统获取半成品对应的质检计划数据表，以便实现对半成品的自动化质检处理，确保后续入库的半成品的合格度，提高对半成品的入库管理效率。
在一具体实施方式中，步骤302中所述质检计划数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到，可以包括如下步骤302A～302C，具体如下：
302A、从所述MES系统获取所述物料标识对应的质检计划头表，作为第一质检计划子表；
302B、根据所述第一质检计划子表的子表标识，从所述MES系统获取所述子表标识对应的质检计划行表，作为第二质检计划子表；
302C、将所述第一质检计划子表和所述第二质检计划子表进行关联，得到所述质检计划数据表。
其中，子表标识是指第一质检计划子表的标识，由于第一质检计划子表即为一个质检计划头表，即子表标识为质检计划头表的头表标识。
具体地，首先从MES系统获取物料标识对应的质检计划头表，作为第一质检计划子表，然后，从MES系统获取第一质检计划子表的子表标识对应的质检计划行表，作为第二质检计划子表，第二质检计划子表的获取方式可以是：将第一质检计划子表的子表标识作为查询标识，从MES系统的质检计划行表的头表标识中，查找与查询标识一致的质检计划行表，将第一质检计划子表和第二质检计划子表进行关联，得到质检计划数据表。继续以上述实施例中的表1和表2为例，按照步骤302A至步骤302C的步骤，可以生成如表3所示的质检计划数据表。
表3、质检计划数据表
可以理解地，本实施例中，通过物料标识，对MES系统中的多个光学器件数据表进行分析和关联，实现了自动生成质检计划数据表，便于后续对半成品进行自动化质检处理。
303、按照所述物料信息数据表中的各个所述检验项目对应的所述质检规则，对所述物料信息数据表中的所述多项物料明细进行质检校验，生成校验结果。
其中，校验结果分为两种，分别为合格和不合格。
具体地，可以根据检验项目与物料明细的相关度，确定对应的目标项物料明细，也可以预先将相关的检验项目与物料明细均配置相同的标号，然后利用检验项目对应的校验规则对目标项物料明细进行质检校验，得到各项物料明细各自对应的一个质检结果，根据各项物料明细对应的各个质检结果确定校验结果，当各个质检结果均为合格时，确定校验结果为合格，当存在一个质检结果为不合格，则确定校验结果为不合格，实现了对半成品的自动化质检校验，相较于人工检查，大大提高了质检校验效率。
在一具体实施方式中，所述多项物料明细包括所述物料标识对应的物料检验项描述、物料规格范围、物料规格单位和物料数量；所述检验项目包括检验项描述、检验项描述对应的物料的规格范围、物料的规格单位和物料的数量；所述质检规则包括物料检验项描述是否存在、所述物料规格范围是否在有效范围内、所述物料规格单位是否匹配、所述物料数量是否正确；步骤303中所述按照所述物料信息数据表中的各个所述检验项目对应的所述质检规则，对所述物料信息数据表中的所述物料明细进行质检校验，生成校验结果，可以包括如下步骤303A～303B，具体如下：
303A、若所述物料检验项描述存在、所述物料规格范围在有效范围内、所述物料规格单位匹配且所述物料数量正确，判定所述校验结果为合格；303B、否则，判定所述校验结果为不合格。
其中，多项物料明细包括物料标识对应的物料检验项描述、物料规格范围、物料规格单位和物料数量，检验项目包括检验项描述、检验项描述对应的物料的规格范围、检验项描述对应的物料的规格单位和检验项描述对应的物料的数量，质检规则包括物料检验项描述是否存在、物料规格范围是否在有效范围内、物料规格单位是否匹配、物料数量是否正确。
具体地，当各项物料明细对应的质检校验结果均满足质检规则时，即物料检验项描述存在、物料规格范围在有效范围内、物料规格单位匹配且物料数量正确，判定校验结果为合格，也即半成品为合格品，若存在至少一项物料明细对应的质检校验结果不满足质检规则时，如物料检验项描述不存在、物料规格范围不在有效范围内、物料规格单位不匹配、物料数量不正确等，则判定校验结果为不合格，即半成品为不合格品。
304、根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息。
其中，入库信息是用于表征半成品的入库管理信息，包括两种情形，校验结果为合格时，入库信息可以是入库时间、入库位置等；校验结果为不合格时，入库信息可以是不合格的物料明细、不合格原因或者存入返修数据库，用于提示后续对不合格品进行返修处理等。
具体地，根据校验结果的不同，分别配置不同的入库信息生成方式，采用根据入库工位标识，采用入库信息生成方式生成半成品的入库信息，以以便根据入库信息对半成品进行后续的生产管理。可以理解地，本实施例中，由于校验结果是通过基于MES系统中的光学器件数据库进行自动化分析，实现了对半成品各项物料明细的自动化质检，提高了对半成品的质检效率和校验结果的准确性，从而提高了入库信息的准确性，提高了对光学器件半成品的入库管理效率。
在一具体实施方式中，步骤304中所述根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息，可以包括如下步骤304A～304B，具体如下：
304A、若所述校验结果为合格，则将所述半成品与所述入库工位标识进行关联，生成入库信息；
304B、若所述校验结果为不合格，则对所述半成品进行跟踪标识，生成入库信息。
具体地，当校验结果为合格，则将半成品与入库工位标识进行关联，生成对应的入库信息，当校验结果为不合格，则对半成品进行跟踪标识，生成入库信息，以便后续对不合格的半成品进行进一步处理，提高对半成品的管理效率。
在一具体实施方式中，所述物料信息数据表还包括各个物料标识对应的质检类型，所述质检类型分为首次质检和非首次质检；步骤304所述根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息之后，还可以包括如下步骤306～310，具体如下：
306、若所述质检类型为首次质检，且所述检验结果为合格，则将所述半成品和所述检验结果保存至预设配置的入库数据表中；
307、若所述质检类型为首次质检，且所述检验结果为不合格，则将所述半成品和所述检验结果保存至预设配置的入库检修数据表中，所述入库检修数据表记录了不合格的半成品，用于指示对所述不合格的半成品进行维修；
308、若所述质检类型为非首次质检，则获取所述半成品进行维修后的校验结果；
309、若所述进行维修后的校验结果为不合格，则将所述半成品和所述检验结果保存至预设配置的入库检修数据表中；
310、若所述进行维修后的校验结果为合格，则将所述半成品和所述检验结果保存至预设配置的入库数据表中。
其中，首次质检，是指第一质检，即之前未进行质检。入库数据表是用于记录质检结果为合格品的半成品的相关信息的数据表，入库检修数据表是用于记录不合格的半成品，且提示需要进行维修的半成品的相关信息的数据表。
具体地，当质检类型为首次质检，且检验结果为合格，则将半成品和检验结果保存至预设配置的入库数据表中，当质检类型为首次质检，且检验结果为不合格，则将半成品和检验结果保存至预设配置的入库检修数据表中，入库检修数据表记录了不合格的半成品，用于指示对不合格的半成品进行维修，当质检类型为非首次质检，则获取半成品进行维修后的校验结果，若所述进行维修后的校验结果为不合格，则继续将半成品和检验结果保存至预设配置的入库检修数据表中，当进行维修后的校验结果为合格，则将半成品和检验结果保存至预设配置的入库数据表中，进一步提高了对半成品的入库管理效率。
在一具体实施方式中，所述MES系统配置有可视化界面，还包括：在所述可视化界面对所述待入库的半成品进行质检校验和/或入库管理。
具体地，可以预先在MES系统配置可视化界面，在可视化界面对待入库的半成品进行质检校验和/或入库管理，实现了对半成品信息的可视化分析和管理，更进一步提高了对光学器件半成品的入库管理效率。如图3所示，为一个实施例中，对半成品进行质检校验的可视化界面示意图。
为了更好实施本申请实施例中基于MES系统的光学器件半成品入库方法，在基于MES系统的光学器件半成品入库方法基础之上，本申请实施例中还提供一种基于MES系统的光学器件半成品入库装置，如图4所示，基于MES系统的光学器件半成品入库装置400包括：
接收模块401，用于接收针对待入库的半成品的入库指令，所述入库指令携带有所述半成品的物料标识、入库工位标识、及所述物料标识对应的物料信息数据表，所述物料信息数据表包括所述物料标识和多项物料明细，所述物料信息数据表为所述光学器件数据库中的一个光学器件数据表；
第一确定模块402，用于根据所述物料标识，从所述MES系统获取所述半成品对应的质检计划数据表，所述质检计划数据表包括所述物料标识和检验项目，且每个所述检验项目设置有对应的质检规则，所述质检计划数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到；
校验模块403，用于按照所述物料信息数据表中的各个所述检验项目对应的所述质检规则，对所述物料信息数据表中的所述多项物料明细进行质检校验，生成校验结果；
第二确定模块404，用于根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息。
在本申请的一些实施例中，基于MES系统的光学器件半成品入库装置400还包括：构建模块，用于构建所述光学器件数据库，所述光学器件数据库中的多个光学器件数据表分为质检计划头表、质检计划行表、及所述物料信息数据表；
所述质检计划头表包括物料标识、头表标识，且所述物料标识与所述头表标识组合为所述质检计划头表对应的唯一索引；
所述质检计划行表包括头表标识、行表标识和检验项目，且所述头表标识、所述行表标识和所述检验项目组合为所述质检计划行表对应的唯一索引；
所述物料信息数据表包括物料标识，用于对各个半成品的物料信息进行定义。
在本申请的一些实施例中，第一确定模块402，具体用于：
从所述MES系统获取所述物料标识对应的质检计划头表，作为第一质检计划子表；
根据将所述第一质检计划子表的子表标识，从所述MES系统获取所述子表标识对应的质检计划行表，作为第二质检计划子表；
将所述第一质检计划子表和所述第二质检计划子表进行关联，得到所述质检计划数据表。
在本申请的一些实施例中，所述多项物料明细包括所述物料标识对应的物料检验项描述、物料规格范围、物料规格单位和物料数量；所述检验项目包括检验项描述、检验项描述对应的物料的规格范围、物料的规格单位和物料的数量；所述质检规则包括物料检验项描述是否存在、所述物料规格范围是否在有效范围内、所述物料规格单位是否匹配、所述物料数量是否正确；校验模块403，具体用于：
若所述物料检验项描述存在、所述物料规格范围在有效范围内、所述物料规格单位匹配且所述物料数量正确，判定所述校验结果为合格；
否则，判定所述校验结果为不合格。
在本申请的一些实施例中，第二确定模块404，具体用于：
若所述校验结果为合格，则将所述半成品与所述入库工位标识进行关联，生成入库信息；
若所述校验结果为不合格，则对所述半成品进行跟踪标识，生成入库信息。
在本申请的一些实施例中，所述物料信息数据表还包括各个物料标识对应的质检类型，所述质检类型分为首次质检和非首次质检；基于MES系统的光学器件半成品入库装置400还包括：
第三确定模块，用于若所述质检类型为首次质检，且所述检验结果为合格，则将所述半成品和所述检验结果保存至预设配置的入库数据表中；
第四确定模块，用于若所述质检类型为首次质检，且所述检验结果为不合格，则将所述半成品和所述检验结果保存至预设配置的入库检修数据表中，所述入库检修数据表记录了不合格的半成品，用于指示对所述不合格的半成品进行维修；
第五确定模块，用于若所述质检类型为非首次质检，则获取所述半成品进行维修后的校验结果；
第六确定模块，用于若所述进行维修后的校验结果为不合格，则将所述半成品和所述检验结果保存至预设配置的入库检修数据表中；
第七确定模块，用于若所述进行维修后的校验结果为合格，则将所述半成品和所述检验结果保存至预设配置的入库数据表中。
在本申请的一些实施例中，所述MES系统配置有可视化界面，基于MES系统的光学器件半成品入库装置400还包括：处理模块，用于在所述可视化界面对所述待入库的半成品进行质检校验和/或入库管理。
除了上述介绍用于基于MES系统的光学器件半成品入库方法与基于MES系统的光学器件半成品入库装置之外，本申请实施例还提供一种计算机设备，其集成了本申请实施例所提供的任一种基于MES系统的光学器件半成品入库装置，计算机设备包括：
一个或多个处理器；
存储器；以及
一个或多个应用程序，其中一个或多个应用程序被存储于存储器中，并配置为由处理器执行上述基于MES系统的光学器件半成品入库方法的任一实施例中的任一步骤。
本申请实施例还提供一种计算机设备，其集成了本申请实施例所提供的任一种基于MES系统的光学器件半成品入库装置。如图5所示，其示出了本申请实施例所涉及的计算机设备的结构示意图，具体来讲：
该计算机设备可以包括一个或者一个以上处理核心的处理器601、一个或一个以上计算机可读存储介质的存储单元602、电源603和输入单元604等部件。本领域技术人员可以理解，图5中示出的计算机设备结构并不构成对计算机设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。其中：
处理器601是该计算机设备的控制中心，利用各种接口和线路连接整个计算机设备的各个部分，通过运行或执行存储在存储单元602内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储单元602的数据，执行计算机设备的各种功能和处理数据，从而对计算机设备进行整体监控。可选的，处理器601可包括一个或多个处理核心；优选的，处理器601可集成应用处理器和调制解调处理器，其中，应用处理器主要处理操作系统、用户界面和应用程序等，调制解调处理器主要处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调处理器也可以不集成到处理器601中。
存储单元602可用于存储软件程序以及模块，处理器601通过运行存储在存储单元602的软件程序以及模块，从而执行各种功能应用以及数据处理。存储单元602可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序（比如声音播放功能、图像播放功能等）等；存储数据区可存储根据计算机设备的使用所创建的数据等。此外，存储单元602可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。相应地，存储单元602还可以包括存储器控制器，以提供处理器601对存储单元602的访问。
计算机设备还包括给各个部件供电的电源603，优选的，电源603可以通过电源管理系统与处理器601逻辑相连，从而通过电源管理系统实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。电源603还可以包括一个或一个以上的直流或交流电源、再充电系统、电源故障检测电路、电源转换器或者逆变器、电源状态指示器等任意组件。
该计算机设备还可包括输入单元604，该输入单元604可用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与用户设置以及功能控制有关的键盘、鼠标、操作杆、光学或者轨迹球信号输入。
尽管未示出，计算机设备还可以包括显示单元等，在此不再赘述。具体在本申请实施例中，计算机设备中的处理器601会按照如下的指令，将一个或一个以上的应用程序的进程对应的可执行文件加载到存储单元602中，并由处理器601来运行存储在存储单元602中的应用程序，从而实现各种功能，如下：
接收针对待入库的半成品的入库指令，所述入库指令携带有所述半成品的物料标识、入库工位标识、及所述物料标识对应的物料信息数据表，所述物料信息数据表包括所述物料标识和多项物料明细，所述物料信息数据表为所述光学器件数据库中的一个光学器件数据表；
根据所述物料标识，从所述MES系统获取所述半成品对应的质检计划数据表，所述质检计划数据表包括所述物料标识和检验项目，且每个所述检验项目设置有对应的质检规则，所述质检计划数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到；
按照所述物料信息数据表中的各个所述检验项目对应的所述质检规则，对所述物料信息数据表中的所述多项物料明细进行质检校验，生成校验结果；
根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息。
为此，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以包括：只读存储器（ROM，Read Only Memory）、随机存取记忆体（RAM，Random AccessMemory）、磁盘或光盘等。该计算机可读存储介质中存储有多条指令，该指令能够被处理器进行加载，以执行本申请实施例所提供的任一种基于MES系统的光学器件半成品入库方法中的步骤。例如，该指令可以执行如下步骤：
接收针对待入库的半成品的入库指令，所述入库指令携带有所述半成品的物料标识、入库工位标识、及所述物料标识对应的物料信息数据表，所述物料信息数据表包括所述物料标识和多项物料明细，所述物料信息数据表为所述光学器件数据库中的一个光学器件数据表；
根据所述物料标识，从所述MES系统获取所述半成品对应的质检计划数据表，所述质检计划数据表包括所述物料标识和检验项目，且每个所述检验项目设置有对应的质检规则，所述质检计划数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到；
按照所述物料信息数据表中的各个所述检验项目对应的所述质检规则，对所述物料信息数据表中的所述多项物料明细进行质检校验，生成校验结果；
根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
以上对本申请实施例所提供的一种基于MES系统的光学器件半成品入库方法、基于MES系统的光学器件半成品入库装置、计算机设备及介质进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。
Claims (8)
1.一种基于MES系统的光学器件半成品入库方法，其特征在于，所述MES系统配置有光学器件数据库，所述光学器件数据库包括多个光学器件数据表，所述基于MES系统的光学器件半成品入库方法包括：
构建所述光学器件数据库，所述光学器件数据库中的多个光学器件数据表分为质检计划头表、质检计划行表、及物料信息数据表；
所述质检计划头表包括物料标识、头表标识，且所述物料标识与所述头表标识组合为所述质检计划头表对应的唯一索引；所述质检计划行表包括头表标识、行表标识和检验项目，且所述头表标识、所述行表标识和所述检验项目组合为所述质检计划行表对应的唯一索引；所述物料信息数据表包括物料标识，用于对各个半成品的物料信息进行定义；
接收针对待入库的半成品的入库指令，所述入库指令携带有所述半成品的物料标识、入库工位标识、及所述物料标识对应的物料信息数据表，所述物料信息数据表包括所述物料标识和多项物料明细，所述物料信息数据表为所述光学器件数据库中的一个光学器件数据表；
根据所述物料标识，从所述MES系统获取所述半成品对应的质检计划数据表，所述质检计划数据表包括所述物料标识和检验项目，且每个所述检验项目设置有对应的质检规则，所述质检计划数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到，包括：从所述MES系统获取所述物料标识对应的质检计划头表，作为第一质检计划子表；
根据所述第一质检计划子表的子表标识，从所述MES系统获取所述子表标识对应的质检计划行表，作为第二质检计划子表；
将所述第一质检计划子表和所述第二质检计划子表进行关联，得到所述质检计划数据表；
按照所述物料信息数据表中的各个所述检验项目对应的所述质检规则，对所述物料信息数据表中的所述多项物料明细进行质检校验，生成校验结果；
根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息。
2.如权利要求1所述的基于MES系统的光学器件半成品入库方法，其特征在于，所述多项物料明细包括所述物料标识对应的物料检验项描述、物料规格范围、物料规格单位和物料数量；所述检验项目包括检验项描述、检验项描述对应的物料的规格范围、物料的规格单位和物料的数量；所述质检规则包括物料检验项描述是否存在、所述物料规格范围是否在有效范围内、所述物料规格单位是否匹配、所述物料数量是否正确；
所述按照所述物料信息数据表中的各个所述检验项目对应的所述质检规则，对所述物料信息数据表中的所述物料明细进行质检校验，生成校验结果，包括：
若所述物料检验项描述存在、所述物料规格范围在有效范围内、所述物料规格单位匹配且所述物料数量正确，判定所述校验结果为合格；否则，判定所述校验结果为不合格。
3.如权利要求2所述的基于MES系统的光学器件半成品入库方法，其特征在于，所述根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息，包括：
若所述校验结果为合格，则将所述半成品与所述入库工位标识进行关联，生成入库信息；
若所述校验结果为不合格，则对所述半成品进行跟踪标识，生成入库信息。
4.如权利要求2所述的基于MES系统的光学器件半成品入库方法，其特征在于，所述物料信息数据表还包括各个物料标识对应的质检类型，所述质检类型分为首次质检和非首次质检；
在所述根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息之后，还包括：
若所述质检类型为首次质检，且所述校验结果为合格，则将所述半成品和所述校验结果保存至预设配置的入库数据表中；
若所述质检类型为首次质检，且所述校验结果为不合格，则将所述半成品和所述校验结果保存至预设配置的入库检修数据表中，所述入库检修数据表记录了不合格的半成品，用于指示对所述不合格的半成品进行维修；
若所述质检类型为非首次质检，则获取所述半成品进行维修后的校验结果；
若所述进行维修后的校验结果为不合格，则将所述半成品和所述校验结果保存至预设配置的入库检修数据表中；
若所述进行维修后的校验结果为合格，则将所述半成品和所述校验结果保存至预设配置的入库数据表中。
5.如权利要求1-4任一项所述的基于MES系统的光学器件半成品入库方法，其特征在于，所述MES系统配置有可视化界面，还包括：
在所述可视化界面对所述待入库的半成品进行质检校验和/或入库管理。
6.一种基于MES系统的光学器件半成品入库装置，其特征在于，所述MES系统配置有光学器件数据库，所述光学器件数据库包括多个光学器件数据表，所述基于MES系统的光学器件半成品入库装置包括：
构建模块，用于构建所述光学器件数据库，所述光学器件数据库中的多个光学器件数据表分为质检计划头表、质检计划行表、及物料信息数据表；
所述质检计划头表包括物料标识、头表标识，且所述物料标识与所述头表标识组合为所述质检计划头表对应的唯一索引；所述质检计划行表包括头表标识、行表标识和检验项目，且所述头表标识、所述行表标识和所述检验项目组合为所述质检计划行表对应的唯一索引；所述物料信息数据表包括物料标识，用于对各个半成品的物料信息进行定义；
接收模块，用于接收针对待入库的半成品的入库指令，所述入库指令携带有所述半成品的物料标识、入库工位标识、及所述物料标识对应的物料信息数据表，所述物料信息数据表包括所述物料标识和多项物料明细，所述物料信息数据表为所述光学器件数据库中的一个光学器件数据表；
第一确定模块，用于根据所述物料标识，从所述MES系统获取所述半成品对应的质检计划数据表，所述质检计划数据表包括所述物料标识和检验项目，且每个所述检验项目设置有对应的质检规则，所述质检计划数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到，包括：从所述MES系统获取所述物料标识对应的质检计划头表，作为第一质检计划子表；
根据所述第一质检计划子表的子表标识，从所述MES系统获取所述子表标识对应的质检计划行表，作为第二质检计划子表；
将所述第一质检计划子表和所述第二质检计划子表进行关联，得到所述质检计划数据表；
校验模块，用于按照所述物料信息数据表中的各个所述检验项目对应的所述质检规则，对所述物料信息数据表中的所述多项物料明细进行质检校验，生成校验结果；
第二确定模块，用于根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息。
7.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括：
一个或多个处理器；
存储器；以及
一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储于所述存储器中，并配置为由所述处理器执行以实现权利要求1至5中任一项所述的基于MES系统的光学器件半成品入库方法。
8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器进行加载，以执行权利要求1至5中任一项所述的基于MES系统的光学器件半成品入库方法中的步骤。
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