CN116953340A - 用于封装电路测试的数据处理系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及用于封装电路测试的数据处理系统及方法，其中系统包括：波形获取模块，用于从至少一个测试设备获取测试波形数据；波形分段模块，用于将测试波形数据分段；基础数据模块，用于存储参考波形数据，所述参考波形数据用于比对分析测试波形数据；波形数据检查模块，用于检查测试波形数据；波形相关性分析模块，用于对测试波形数据和对应的参考波形数据进行相关性分析；波形数据分析模块，用于对测试数据波形进行数据汇总分析。实现对采集到的电压波形进行自动化分析和处理，判定波形是否合格和进行相关性判断，对分析结果进行保存并输出。

Description

用于封装电路测试的数据处理系统及方法

技术领域

本发明属于测试技术领域，特别涉及用于封装电路测试的数据处理系统及方法。

背景技术

在测试领域常常需要对电路板的待测电压点进行电压采样和与参考的波形进行相识度分析，用以判断被采样电压点是否符合设计要求，在实际的采样中，存在毛刺和干扰等多种因素，导致采集到的电压波形不符合预期，而且常常需要逐个对波形进行分段比较，处理过程繁琐耗时，容易出现差错，且当被测的波形数据数量大时，需要花费大量的时间进行汇总处理，工作效率低。

发明内容

本发明提供用于封装电路测试的数据处理系统及方法，旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。本发明提出的用于封装电路测试的数据处理系统及方法，可以实现对采集到的电压波形进行自动化分析和处理，判定波形是否合格，对采集到的电压波形与参考波形进行相关性判断，达到判断测试波形与参考波形相似性的技术效果。

本发明的技术方案涉及用于封装电路测试的数据处理系统及方法，包括：

波形获取模块，用于从至少一个测试设备获取测试波形数据；

波形分段模块，用于将测试波形数据分段，所述波形分段模块与所述波形获取模块连接；

基础数据模块，用于存储参考波形数据，所述参考波形数据用于比对分析测试波形数据；

波形数据检查模块，用于检查测试波形数据，所述波形数据检查模块与所述波形分段模块连接；

波形相关性分析模块，用于对测试波形数据和对应的参考波形数据进行相关性分析，波形分段模块和所述基础数据模块分别与所述波形相关性分析模块连接；

波形数据分析模块，用于对测试数据波形进行数据汇总分析，波形分段模块、基础数据模块、波形数据检查模块和波形相关性分析模块分别与所述波形数据分析模块连接。

进一步，还包括数据存储模块，用于存储所述波形获取模块获取的波形、所述波形分段模块分段后的波形、所述波形数据检查模块对测试波形数据进行检查后的结果、所述波形相关性分析模块对测试波形数据进行相关性分析的结果以及所述波形数据分析模块的分析结果，所述波形分段模块、所述波形数据检查模块、所述波形相关性分析模块和所述波形数据分析模块分别与所述数据存储模块连接。

进一步，还包括波形呈现模块，用于输出测试波形数据和对应的参考波形数据的对比分析结果，所述波形呈现模块与所述数据存储模块连接。

进一步，所述参考波形数据包括与测试波形数据相对应的标准波形数据。

本发明还提出一种数据处理方法，基于用于封装电路测试的数据处理系统，所述数据处理方法包括：

S100、基于波形获取模块，从至少一个测试设备中获取至少一组测试波形数据，每组波形测试数据包含至少一个波形；

S200、基于每个测试设备的精度，确定每组测试波形的精度；

S300、基于波形分段模块，对每组测试波形数据进行分段，将每个波形分为稳定段和非稳定段，对稳定段和非稳定段，分别提权稳定段参数和非稳定段参数；

S400、基于波形数据检查模块，对每个波形的每一个稳定段和非稳定段，检查测试波形数据是否合格；

S500、基于波形相关性分析模块和基础数据模块，对每个波形的每一个分段进行相关性分析；

S600、基于所述波形数据分析模块，对多个测试波形数据和对应的参考波形数据进行汇总分析，得到汇总分析结果；

S700、基于所述数据存储模块，存储所述波形获取模块获取的波形、所述波形分段模块分段后的波形、所述波形数据检查模块对测试波形数据进行检查后的结果、所述波形相关性分析模块对测试波形数据进行相关性分析的结果以及所述波形数据分析模块的分析结果；

S800、基于所述波形呈现模块，输出所述汇总分析结果。

进一步，所述稳定段的参数包括稳定段开始时间、稳定段时长、稳定段电压开始值、稳定段电压结束值、稳定段电压平均值、稳定段电压值的范围、稳定段电压最大阈值和稳定段电压最小阈值，

所述稳定段电压平均值处于所述稳定段电压最大阈值和所述稳定段电压最小阈值之间；

所述非稳定段的参数包括非稳定段开始时间、非稳定段时长、非稳定段电压开始值、非稳定段电压结束值、非稳定段电压平均值、非稳定段电压值的范围、非稳定段电压开始值的最大阈值、非稳定段电压开始值的最小阈值、非稳定段电压结束值的最大阈值和非稳定段电压结束值的最小阈值。

进一步，若测试波形数据在某一段为稳定段，所述稳定段电压平均值处于稳定段电压最大阈值和稳定段电压最小阈值的范围内，测试波形数据在这一段合格；

若测试波形数据在某一段为非稳定段，所述非稳定段电压开始值处于非稳定段电压开始值的最大阈值和非稳定段电压开始值的最小阈值之间，且非稳定段电压结束值处于非稳定段电压结束值的最大阈值和非稳定段电压结束值的最小阈值之间，测试波形数据在这一段合格。

进一步，所述步骤S500包括：

S510、从所述基础数据模块中提取与所述测试波形数据对应的参考波形数据，所述参考波形数据包括参考波形数据的分段信息；

S520、基于所述波形相关性分析模块，分段计算所述测试波形数据和所述参考波形数据的相关性；

S530、判断测试波形数据和参考波形数据是否相关。

进一步，所述步骤S530还包括：

若测试波形数据和参考波形数据某一段的相关性系数大于等于预设值时，所述测试波形数据和所述参考波形数据在这一段相关；

若测试波形数据和参考波形数据某一段的相关性系数小于预设值时，所述测试波形数据和所述参考波形数据在这一段不相关；

若测试波形数据和参考波形数据每一段的相关性系数均大于等于预设值时，所述测试波形数据和所述参考波形数据相关。

本发明还提出一种计算机可读存储介质，其上储存有程序指令，所述程序指令被处理器执行时实施用于封装电路测试的数据处理方法。

根据本发明的一些实施例，本发明的有益效果如下：

本发明提出的用于封装电路测试的数据处理系统及方法，可以实现对采集到的电压波形进行自动化分析和处理，判定波形是否合格，对采集到的电压波形与参考波形进行相关性判断，对分析结果进行保存并输出，达到判断测试波形与参考波形相似性、综合汇总分析和输出分析结果的技术效果。

此外，本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

图1是根据本发明的用于封装电路测试的数据处理系统的示意图。

图2是根据本发明的用于封装电路测试的数据处理方法的流程图。

图3是根据本发明的用于封装电路测试的数据处理方法的相关性分析的流程图。

图4是根据本发明的用于封装电路测试的数据处理方法的上升沿映射的示意图。

图5是根据本发明的用于封装电路测试的数据处理方法的下降沿映射的示意图。

图6是根据本发明的用于封装电路测试的数据处理方法的台阶检测的示意图。

图7是根据本发明的用于封装电路测试的数据处理方法的测试波形数据第一稳定段段的示意图。

图8是根据本发明的用于封装电路测试的数据处理方法的测试波形数据第一非稳定段段的示意图。

图9是根据本发明的用于封装电路测试的数据处理方法的测试波形数据第二稳定段段的示意图。

图10是根据本发明的用于封装电路测试的数据处理方法的测试波形数据第二非稳定段段的示意图。

图11是根据本发明的用于封装电路测试的数据处理方法的测试波形数据第三稳定段段的示意图。

上述图中，100、波形获取模块；200、波形分段模块；300、基础数据模块；400、波形数据检查模块；500、波形相关性分析模块；600、波形数据分析模块；700、数据存储模块；800、波形呈现模块。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

以下将结合实施例和附图对本发明的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整的描述，以充分地理解本发明的目的、方案和效果。

需要说明的是，如无特殊说明，当某一特征被称为“固定”、“连接”在另一个特征，它可以直接固定、连接在另一个特征上，也可以间接地固定、连接在另一个特征上。本文所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。此外，除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与本技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例，而不是为了限制本发明。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的组合。

应当理解，尽管在本公开可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种元件，但这些元件不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的元件彼此区分开。例如，在不脱离本公开范围的情况下，第一元件也可以被称为第二元件，类似地，第二元件也可以被称为第一元件。本文所提供的任何以及所有实例或示例性语言(“例如”、“如”等)的使用仅意图更好地说明本发明的实施例，并且除非另外要求，否则不会对本发明的范围施加限制。此外，本文所采用的行业术语“位姿”是指某个元件相对于空间坐标系的位置和姿态。

参照图1至图11，用于封装电路测试的数据处理系统，参照图1，包括：

波形获取模块100，用于从至少一个测试设备获取测试波形数据；

波形分段模块200，用于将测试波形数据分段，所述波形分段模块200与所述波形获取模块100连接；

基础数据模块300，用于存储参考波形数据，所述参考波形数据用于比对分析测试波形数据；

波形数据检查模块400，用于检查测试波形数据，所述波形数据检查模块400与所述波形分段模块200连接；

波形相关性分析模块500，用于对测试波形数据和对应的参考波形数据进行相关性分析，波形分段模块200和所述基础数据模块300分别与所述波形相关性分析模块500连接；

波形数据分析模块600，用于对测试数据波形进行数据汇总分析，波形分段模块200、基础数据模块300、波形数据检查模块400和波形相关性分析模块500分别与所述波形数据分析模块600连接。

根据本发明的一些实施例，本发明的有益效果如下：

本发明提出的用于封装电路测试的数据处理系统及方法，可以实现对采集到的电压波形进行自动化分析和处理，判定波形是否合格，对采集到的电压波形与参考波形进行相关性判断，对分析结果进行保存并输出，达到判断测试波形与参考波形相似性、综合汇总分析和输出分析结果的技术效果。

进一步，参照图1，还包括数据存储模块700，用于存储所述波形获取模块100获取的波形、所述波形分段模块200分段后的波形、所述波形数据检查模块400对测试波形数据进行检查后的结果、所述波形相关性分析模块500对测试波形数据进行相关性分析的结果以及所述波形数据分析模块600的分析结果，所述波形分段模块200、所述波形数据检查模块400、所述波形相关性分析模块500和所述波形数据分析模块600分别与所述数据存储模块700连接。

进一步，参照图1，还包括波形呈现模块800，用于输出测试波形数据和对应的参考波形数据的对比分析结果，所述波形呈现模块800与所述数据存储模块700连接。

具体地，所述波形获取模块100从多个测试设备中获取测试波形数据，所述波形分段模块200对测试波形数据进行分段。

在一些实施例中，是测试波形数据为方波信号，所述波形分段模块200把波形分段为低电平段、上升沿段、高电平段和下降沿段。

所述波形数据检查模块400对经过分段后的测试波形数据进行分段检查，从所述基础数据模块300中调取所述测试波形数据对用的标准波形数据或其他波形数据进行比较，对测试波形数据的每个分段的上限值和下限值进行检查，若测试波形数据在每个分段均处于上限值和下限值的范围内，测试波形数据合格。

所述波形相关性分析模块500对测试波形数据和参考波形数据分段进行相关性检查，计算测试波形数据和参考波形数据的皮尔逊相关系数，在一些实施例中，当皮尔逊相关系数的值大于0.8时，所述测试波形数据和参考波形数据在这一分段相关，当所有分段的皮尔逊相关系数的值均大于0.8时，所述测试波形数据和所述参考波形数据相关。

所述波形数据分析模块600对所述测试波形数据和所述参考波形数据进行综合分析，也可以通过所述波形数据分析模块600综合分析所述测试波形数据和其他波形数据的相似度、毛刺等情况，衡量所述测试波形数据的波形质量。

所述数据存储模块700用于存储所有波形数据和检查分析结果报告。

所述波形呈现模块800用于对所有波形数据和检查分析进行输出。

进一步，所述参考波形数据包括与测试波形数据相对应的标准波形数据。

本发明还提出一种数据处理方法，参照图2，基于用于封装电路测试的数据处理系统，所述数据处理方法包括：

S100、基于波形获取模块100，从至少一个测试设备中获取至少一组测试波形数据，每组波形测试数据包含至少一个波形；

S200、基于每个测试设备的精度，确定每组测试波形的精度；

S300、基于波形分段模块200，对每组测试波形数据进行分段，将每个波形分为稳定段和非稳定段，对稳定段和非稳定段，分别提权稳定段参数和非稳定段参数；

S400、基于波形数据检查模块400，对每个波形的每一个稳定段和非稳定段，检查测试波形数据是否合格；

S500、基于波形相关性分析模块500和基础数据模块300，对每个波形的每一个分段进行相关性分析；

S600、基于所述波形数据分析模块600，对多个测试波形数据和对应的参考波形数据进行汇总分析，得到汇总分析结果；

S700、基于所述数据存储模块700，存储所述波形获取模块100获取的波形、所述波形分段模块200分段后的波形、所述波形数据检查模块400对测试波形数据进行检查后的结果、所述波形相关性分析模块500对测试波形数据进行相关性分析的结果以及所述波形数据分析模块600的分析结果；

S800、基于所述波形呈现模块800，输出所述汇总分析结果。

进一步，所述稳定段的参数包括稳定段开始时间、稳定段时长、稳定段电压开始值、稳定段电压结束值、稳定段电压平均值、稳定段电压值的范围、稳定段电压最大阈值和稳定段电压最小阈值，

所述稳定段电压平均值处于所述稳定段电压最大阈值和所述稳定段电压最小阈值之间；

所述非稳定段的参数包括非稳定段开始时间、非稳定段时长、非稳定段电压开始值、非稳定段电压结束值、非稳定段电压平均值、非稳定段电压值的范围、非稳定段电压开始值的最大阈值、非稳定段电压开始值的最小阈值、非稳定段电压结束值的最大阈值和非稳定段电压结束值的最小阈值。

进一步，若测试波形数据在某一段为稳定段，所述稳定段电压平均值处于稳定段电压最大阈值和稳定段电压最小阈值的范围内，测试波形数据在这一段合格；

若测试波形数据在某一段为非稳定段，所述非稳定段电压开始值处于非稳定段电压开始值的最大阈值和非稳定段电压开始值的最小阈值之间，且非稳定段电压结束值处于非稳定段电压结束值的最大阈值和非稳定段电压结束值的最小阈值之间，测试波形数据在这一段合格。

进一步，参照图3，所述步骤S500包括：

S510、从所述基础数据模块300中提取与所述测试波形数据对应的参考波形数据，所述参考波形数据包括参考波形数据的分段信息；

S520、基于所述波形相关性分析模块500，分段计算所述测试波形数据和所述参考波形数据的相关性；

S530、判断测试波形数据和参考波形数据是否相关。

进一步，所述步骤S530还包括：

若测试波形数据和参考波形数据某一段的相关性系数大于等于预设值时，所述测试波形数据和所述参考波形数据在这一段相关；

若测试波形数据和参考波形数据某一段的相关性系数小于预设值时，所述测试波形数据和所述参考波形数据在这一段不相关；

若测试波形数据和参考波形数据每一段的相关性系数均大于等于预设值时，所述测试波形数据和所述参考波形数据相关。

本发明还提出一种计算机可读存储介质，其上储存有程序指令，所述程序指令被处理器执行时实施用于封装电路测试的数据处理方法。

此外，对于步骤S300，参照图4和图5，对每一个测试波形数据分为稳定段和非稳定段，本发明还提出一种对测试波形数据分为稳定段和非稳定段的分段方法，包括：

S310、对测试波形数据进行滤波，得到每一条波形数据的滤波后的测试波形数据；

S320、基于滤波后的测试波形数据，进行上升沿检测，得到每个上升沿的上升起始点和上升终止点；

S330、基于滤波后的测试波形数据，进行下降沿检测，得到每个下降沿的下降起始点和下降终止点；

S340、把每个上升沿的上升起始点和上升终止点以及每个下降沿的下降起始点和下降终止点映射到对应的波形数据，得到测试波形数据的映射上升起始点、映射上升终止点、映射下降起始点和映射下降终止点。

具体地，步骤S310，参照图4和图5，使用滑动平均算法(convolve)进行滤波，得到整条曲线的缩略图,使用移动平均后的数据，图6和图7中，虚线为滤波后的数据，可以有效减少毛刺对波形数据分段处理的影响。

进一步，参照图4，所述步骤S320包括：

S321、基于最大电平和最小电平，从零时刻开始，标记上升起始点和上升终止点，所述上升起始点为测量电压值大于最小电平乘以第一阈值的第一个测量电压值，所述上升终止点为测量电压值小于最大电平乘以第二阈值的最后一个测量电压值；

S322、若从所述上升起始点开始到所述上升终止点结束的所有测量电压值单调上升，则把从所述上升起始点开始到所述上升终止点结束的所有测量电压采样点组成的线段记录为一个上升沿；

S323、重复步骤S321至步骤S322，直到遍历当前波形数据，得到所有上升沿。

具体地，参照图4，上升沿的检测，以滑动平均的数据做为检测源，上升沿的检测分为检测上升起始点和上升终止点，其中上升起始点按时序从零时刻开始，依次对滑动平均的数据曲线进行扫描和判断，当第一次检测到采集电压值的大小等于最小电平*第一阈值时，这一点即为上升起始点，其中，第一阈值为一个大于1且接近1的小数，如1.05、1.1、1.15等。

参照图4，A点为上升起始点。

当确定上升起始点后，需要确定上升终止点，所述上升终止点为测量电压值小于最大电平乘以第二阈值的最后一个测量电压值，其中，第二阈值为小于1且接近1的小数，如0.95、0.9、0.85等。

参照图4，B点为上升结束点。

检测到A点和B点后，需要对A点和B点之间所有的数据点进行判断，只有满足所述上升起始点(A点)开始到所述上升终止点(B点)结束的所有测量电压值单调上升，才能把从所述上升起始点开始到所述上升终止点结束的所有测量电压采样点组成的线段记录为一个上升沿。

参照图5，所述步骤S330包括：

S331、基于最大电平和最小电平，从零时刻开始，标记下降起始点和下降终止点，所述下降起始点为测量电压值小于最大电平乘以第三阈值的第一个测量电压值，所述下降终止点为测量电压值大于最小电平乘以第四阈值的最后一个测量电压值；

S332、若从所述下降起始点开始到所述下降终止点结束的所有测量电压值单调下降，则把从所述下降起始点开始到所述下降终止点结束的所有电压测量点组成的线段记录为一个下降沿；

S333、重复步骤S331至步骤S332，直到遍历当前波形数据，得到所有下降沿。

具体地，参照图5，下降沿的检测，以滑动平均的数据做为检测源，下降沿的检测分为检测下降起始点和下降终止点，其中下降起始点按时序从零时刻开始，依次对滑动平均的数据曲线进行扫描和判断，当第一次检测到采集电压值的大小小于最大电平乘以第三阈值时，这一点即为上升起始点，其中，第三阈值为小于1且接近1的小数，如0.95、0.9、0.85等。

参照图5，C点为下降起始点。

当确定下降起始点后，需要确定下降终止点，所述下降终止点为测量电压值大于最小电平乘以第四阈值的最后一个测量电压值，其中，第四阈值为一个大于1且接近1的小数，如1.05、1.1、1.15等。

参照图5，D点为上升结束点。

检测到C点和D点后，需要对C点和D点之间所有的数据点进行判断，只有满足所述下降起始点(C点)开始到所述下降终止点(D点)结束的所有测量电压值单调下降，才能把从所述下降起始点开始到所述下降终止点结束的所有测量电压采样点组成的线段记录为一个下降沿。

进一步，参照图4，所述步骤S340包括：

S341、对单一个上升沿，从上升终止点的横坐标开始到上升起始点的横坐标结束，寻找第一个满足波形数据的纵坐标与上升起始点的纵坐标相等的点为映射上升起始点；

S342、对单一个上升沿，从上升起始点的横坐标开始到上升终止点的横坐标结束，寻找第一个满足波形数据的纵坐标与上升终止点的纵坐标相等的点为映射上升终止点；

S343、重复步骤S341至步骤S342，直到遍历当前波形数据，得到所有上升沿对应的映射上升起始点和映射上升终止点。

进一步，参照图5，所述步骤S340还包括：

S344、对单一个下降沿，从下降终止点的横坐标开始到下降起始点的横坐标结束，寻找第一个满足波形数据的纵坐标与下降起始点的纵坐标相等的点为映射下降起始点；

S345、对单一个下降沿，从下降起始点的横坐标开始到下降终止点的横坐标结束，寻找第一个满足波形数据的纵坐标与下降终止点的纵坐标相等的点为映射下降终止点；

S346、重复步骤S344至步骤S345，直到遍历当前波形数据，得到所有下降沿对应的映射下降起始点和映射下降终止点。

具体地，参照图4和图5，需要把所述上升起始点(A点)、所述上升终止点(B点)、述下降起始点(C点)和所述下降终止点(D点)映射到真实的波形数据，以所述上升起始点(A点)为例，所述上升起始点(A点)的X坐标会直接落在电平上，不能直接用，需要通过所述上升起始点(A点)Y坐标，通过在X到X+窗体宽度(窗体宽度是使用滑动平均时所使用的值)的区间，从右往左寻找第一个小于所述上升起始点(A点)的Y值的点，这时候的点A’会落在真实的波形数据的上升沿。

具体地，把所述上升起始点(A点)、所述上升终止点(B点)、述下降起始点(C点)和所述下降终止点(D点)还原到真实的波形数据需要注意的是，在时序图上，起始点需要从右到左，结束点需要从左到右。

在一些实施例中，已经找到了真实的波形数据的上升沿和下降沿的坐标后，会出现误差，需要对真实的的上升沿起始点进行调整，利用步骤S220计算出的纹波(ripple),实现精确查找，以A’为例，以最小电平+纹波值为目标值，从A’从右往左查找第一个小于等于目标值的点，这个点就是要上升沿的起始点。

参照图6，在一些实施例中，需要进行台阶的判定，在上升或者下降过程中，有些部分并不会直接从最低电压升到最大电压或最大电压降到最小电压，会有一个或者多个台阶的出现，这时需要把完整下降/上升沿曲线数据对纹波进行取整得到新的数据，再使用新的数据进行峰值的查找，如果检测到峰值，则说明可能存在台阶，需要进一步通过计算台阶长度以及当前上升或下降的总长度比例，从而确定台阶是否存在。

具体地，在一些实施例中，参照图7至图11，

对所述测试波形数据进行分段，分别得到标准波形的第一稳定段、第一非稳定段、第二稳定段、第二非稳定段和第三稳定段。其中第一稳定段为低电平，第一非稳定段为上升沿，第二稳定段为高电平，第二非稳定段为下降沿，第三稳定段为低电平。

具体地，参照图7，所述测试波形数据的第一稳定段的电压为-0.226V，最小阈值为-0.552V，最大阈值为0.123V，稳定段电压开始值(BeginVoltage)为0V，电压范围为[-0.252V，-0.177V]，LSL为最小阈值电压，HSL为最大阈值电压。

具体地，参照图8，所述测试波形数据的第一非稳定段为电压上升沿，开始时间(StartTime)为6.249秒，非稳定段时长(Duration)为0.409秒，其中最小阈值为0.109秒，最大阈值为0.709秒，非稳定段电压开始值(BeginVoltage)-0.226V，最小阈值为-0.552V，最大阈值为0.123V，非稳定段电压结束值(EndVoltage)为12.598V，最小阈值为12.298V，最大阈值为12.898V。

具体地，参照图9，所述测试波形数据的第二稳定段，稳定段开始时间(StartTime)为6.657秒，第二稳定段的电压值为12.545V，电压最小阈值为12.073V，电压最大阈值为12.923V。

具体地，参照图10，所述测试波形数据的第二非稳定段，第二非稳定段为下降沿，非稳定段开始时间(StartTime)为108.604秒，非稳定段时长(Duration)为6.213秒，最小阈值为4.97秒，最大阈值为7.456秒，非稳定段电压开始值(BeginVoltage)为12.545V，最小阈值为12.073V，最大阈值为12.923V，非稳定段电压结束值(EndVoltage)为-0.452V，最小阈值为-0.452V，最大阈值为0.148V。

具体地，参照图11，所述测试波形数据的第三稳定段，稳定段开始时间(StartTime)为114.817秒，第三稳定段的电压值位-0.238V，电压最小阈值为-0.577V，电压最大阈值为0.198V。

应当认识到，本发明实施例中的方法步骤可以由计算机硬件、硬件和软件的组合、或者通过存储在非暂时性计算机可读存储器中的计算机指令来实现或实施。所述方法可以使用标准编程技术。每个程序可以以高级过程或面向对象的编程语言来实现以与计算机系统通信。然而，若需要，该程序可以以汇编或机器语言实现。在任何情况下，该语言可以是编译或解释的语言。此外，为此目的该程序能够在编程的专用集成电路上运行。

此外，可按任何合适的顺序来执行本文描述的过程的操作，除非本文另外指示或以其他方式明显地与上下文矛盾。本文描述的过程(或变型和/或其组合)可在配置有可执行指令的一个或多个计算机系统的控制下执行，并且可作为共同地在一个或多个处理器上执行的代码(例如，可执行指令、一个或多个计算机程序或一个或多个应用)、由硬件或其组合来实现。所述计算机程序包括可由一个或多个处理器执行的多个指令。

进一步，所述方法可以在可操作地连接至合适的任何类型的计算平台中实现，包括但不限于个人电脑、迷你计算机、主框架、工作站、网络或分布式计算环境、单独的或集成的计算机平台、或者与带电粒子工具或其它成像装置通信等等。本发明的各方面可以以存储在非暂时性存储介质或设备上的机器可读代码来实现，无论是可移动的还是集成至计算平台，如硬盘、光学读取和/或写入存储介质、RAM、ROM等，使得其可由可编程计算机读取，当存储介质或设备由计算机读取时可用于配置和操作计算机以执行在此所描述的过程。此外，机器可读代码，或其部分可以通过有线或无线网络传输。当此类媒体包括结合微处理器或其他数据处理器实现上文所述步骤的指令或程序时，本文所述的发明包括这些和其他不同类型的非暂时性计算机可读存储介质。当根据本发明所述的方法和技术编程时，本发明还可以包括计算机本身。

计算机程序能够应用于输入数据以执行本文所述的功能，从而转换输入数据以生成存储至非易失性存储器的输出数据。输出信息还可以应用于一个或多个输出设备如显示器。在本发明优选的实施例中，转换的数据表示物理和有形的对象，包括显示器上产生的物理和有形对象的特定视觉描绘。

以上所述，只是本发明的较佳实施例而已，本发明并不局限于上述实施方式，只要其以相同的手段达到本发明的技术效果，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。在本发明的保护范围内其技术方案和/或实施方式可以有各种不同的修改和变化。

Claims (10)

1.一种数据处理系统，其特征在于，包括：

波形获取模块(100)，用于从至少一个测试设备获取测试波形数据；

波形分段模块(200)，用于将测试波形数据分段，所述波形分段模块(200)与所述波形获取模块(100)连接；

基础数据模块(300)，用于存储参考波形数据，所述参考波形数据用于比对分析测试波形数据；

波形数据检查模块(400)，用于检查测试波形数据，所述波形数据检查模块(400)与所述波形分段模块(200)连接；

波形相关性分析模块(500)，用于对测试波形数据和对应的参考波形数据进行相关性分析，波形分段模块(200)和所述基础数据模块(300)分别与所述波形相关性分析模块(500)连接；

波形数据分析模块(600)，用于对测试数据波形进行数据汇总分析，波形分段模块(200)、基础数据模块(300)、波形数据检查模块(400)和波形相关性分析模块(500)分别与所述波形数据分析模块(600)连接。

2.根据权利要求1所述的数据处理系统，其特征在于，

还包括数据存储模块(700)，用于存储所述波形获取模块(100)获取的波形、所述波形分段模块(200)分段后的波形、所述波形数据检查模块(400)对测试波形数据进行检查后的结果、所述波形相关性分析模块(500)对测试波形数据进行相关性分析的结果以及所述波形数据分析模块(600)的分析结果，所述波形分段模块(200)、所述波形数据检查模块(400)、所述波形相关性分析模块(500)和所述波形数据分析模块(600)分别与所述数据存储模块(700)连接。

3.根据权利要求2所述的数据处理系统，其特征在于，

还包括波形呈现模块(800)，用于输出测试波形数据和对应的参考波形数据的对比分析结果，所述波形呈现模块(800)与所述数据存储模块(700)连接。

4.根据权利要求1所述的数据处理系统，其特征在于，

所述参考波形数据包括与测试波形数据相对应的标准波形数据。

5.一种数据处理方法，基于如权利要求1至4任一项所述的数据处理系统，其特征在于，所述数据处理方法包括：

S100、基于波形获取模块(100)，从至少一个测试设备中获取至少一组测试波形数据，每组波形测试数据包含至少一个波形；

S200、基于每个测试设备的精度，确定每组测试波形的精度；

S300、基于波形分段模块(200)，对每组测试波形数据进行分段，将每个波形分为稳定段和非稳定段，对稳定段和非稳定段，分别提权稳定段参数和非稳定段参数；

S400、基于波形数据检查模块(400)，对每个波形的每一个稳定段和非稳定段，检查测试波形数据是否合格；

S500、基于波形相关性分析模块(500)和基础数据模块(300)，对每个波形的每一个分段进行相关性分析；

S600、基于所述波形数据分析模块(600)，对多个测试波形数据和对应的参考波形数据进行汇总分析，得到汇总分析结果；

S700、基于所述数据存储模块(700)，存储所述波形获取模块(100)获取的波形、所述波形分段模块(200)分段后的波形、所述波形数据检查模块(400)对测试波形数据进行检查后的结果、所述波形相关性分析模块(500)对测试波形数据进行相关性分析的结果以及所述波形数据分析模块(600)的分析结果；

S800、基于所述波形呈现模块(800)，输出所述汇总分析结果。

6.根据权利要求5所述的数据处理方法，其特征在于，

所述稳定段的参数包括稳定段开始时间、稳定段时长、稳定段电压开始值、稳定段电压结束值、稳定段电压平均值、稳定段电压值的范围、稳定段电压最大阈值和稳定段电压最小阈值，

所述稳定段电压平均值处于所述稳定段电压最大阈值和所述稳定段电压最小阈值之间；

所述非稳定段的参数包括非稳定段开始时间、非稳定段时长、非稳定段电压开始值、非稳定段电压结束值、非稳定段电压平均值、非稳定段电压值的范围、非稳定段电压开始值的最大阈值、非稳定段电压开始值的最小阈值、非稳定段电压结束值的最大阈值和非稳定段电压结束值的最小阈值。

7.根据权利要求6所述的数据处理方法，其特征在于，

若测试波形数据在某一段为稳定段，所述稳定段电压平均值处于稳定段电压最大阈值和稳定段电压最小阈值的范围内，测试波形数据在这一段合格；

若测试波形数据在某一段为非稳定段，所述非稳定段电压开始值处于非稳定段电压开始值的最大阈值和非稳定段电压开始值的最小阈值之间，且非稳定段电压结束值处于非稳定段电压结束值的最大阈值和非稳定段电压结束值的最小阈值之间，测试波形数据在这一段合格。

8.根据权利要求5所述的数据处理方法，其特征在于，

所述步骤S500包括：

S510、从所述基础数据模块(300)中提取与所述测试波形数据对应的参考波形数据，所述参考波形数据包括参考波形数据的分段信息；

S520、基于所述波形相关性分析模块(500)，分段计算所述测试波形数据和所述参考波形数据的相关性；

S530、判断测试波形数据和参考波形数据是否相关。

9.根据权利要求8所述的数据处理方法，其特征在于，

所述步骤S530还包括：

若测试波形数据和参考波形数据某一段的相关性系数大于等于预设值时，所述测试波形数据和所述参考波形数据在这一段相关；

若测试波形数据和参考波形数据某一段的相关性系数小于预设值时，所述测试波形数据和所述参考波形数据在这一段不相关；

若测试波形数据和参考波形数据每一段的相关性系数均大于等于预设值时，所述测试波形数据和所述参考波形数据相关。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上储存有程序指令，所述程序指令被处理器执行时实施如权利要求5至9中任一项所述的方法。