CN116939085A - 一种测试TypeC设备的方法、装置、系统及存储介质 - Google Patents

Abstract

本公开关于一种测试TypeC设备的方法、装置、系统及存储介质。所述方法包括：通过上位机启动并执行测试程序，其中测试程序中依次包括多个测试流程，每个测试流程对应于待测TypeC设备中的一个待测功能；在切换测试流程时，控制下位机切换测试流程对应的模拟电路；下位机包括中央控制器以及分别与中央控制器的I/O端口连接的多个模拟电路，每个模拟电路对应于一个待测功能；从与上位机通过TypeC端口连接的移动终端接收各测试流程对应的运行数据；根据运行数据确定待测TypeC设备的待测功能的性能。本公开利用定制化设置的下位机模拟待测TypeC设备，在下位机设置各个待测功能对应的模拟电路，通过自动切换模拟电路，自动完成对待测TypeC设备的所有待测功能的测试。

Description

一种测试TypeC设备的方法、装置、系统及存储介质

技术领域

本公开涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试TypeC设备的方法、装置、系统及存储介质。

背景技术

随着手机制造业的不断发展，手机TypeC相关测试内容愈发繁杂。

相关技术中，手机TypeC的相关测试方案功能单一，比如在手机TypeC耳机功能测试方案中，只有单一测试某项功能的测试方案，比如耳麦驱动功能测试方案，对应用场景的泛型不足。硬件通路切换需重新连接外部设备，造成测试时间浪费。

因此，如何实现多功能的TypeC测试方案是亟待解决的问题。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种测试TypeC设备的方法、装置、系统及存储介质。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种测试TypeC设备的方法，所述方法包括：

通过上位机启动并执行测试程序，其中，所述测试程序中依次包括多个测试流程，每个测试流程对应于待测TypeC设备中的一个待测功能；

在切换测试流程时，控制下位机切换所述测试流程对应的模拟电路；其中，所述下位机包括：中央控制器以及分别与所述中央控制器的I/O端口连接的多个模拟电路，每个模拟电路对应于一个待测功能；

从与所述上位机通过TypeC端口连接的移动终端接收所述测试流程对应的运行数据；

根据所述运行数据确定待测TypeC设备的待测功能的性能。

在一些可能的实施方式中，所述方法还包括：

在所述测试流程中包括按键触发事件时，控制下位机发送用于模拟按键触发事件的触发信号；

所述根据所述运行数据确定待测TypeC设备的待测功能的性能，包括：

从所述运行数据中读取所述按键触发事件对应的寄存器的值，根据所述寄存器的值确定所述移动终端是否正常接收到所述按键触发事件。

在一些可能的实施方式中，所述方法还包括：

根据所述寄存器的值确定所述移动终端未正常接收到所述按键触发事件后，控制下位机重新发送用于模拟按键触发事件的触发信号，或者，控制下位机顺序发送用于模拟执行拔出TypeC端口操作的信号和用于模拟执行插入TypeC端口操作的信号，并复位下位机后重新发送用于模拟按键触发事件的触发信号。

在一些可能的实施方式中，所述待测功能为QC充电功能时，所述QC充电功能对应的测试流程包括：

检测所述移动终端的充电防烧电路是否产生指示断开充电的信号，其中，所述充电防烧电路用于在预设器件的温度大于第一温度时产生指示断开充电的信号；

如果检测结果为未产生指示断开充电的信号时，发送用于模拟设置所述预设器件的温度为第二温度的信号，所述第二温度大于所述第一温度，检测充电电路是否停止运行。

在一些可能的实施方式中，所述方法还包括：

检测充电电路停止运行后，发送用于模拟设置所述预设器件的温度为第三温度的信号，所述第三温度小于或等于所述第一温度，检测所述充电电路是否正常运行。

在一些可能的实施方式中，所述方法包括：

在测试过程需要执行插入TypeC端口操作时，控制下位机为所述移动终端的TypeC端口施加第一预设电压组合用于模拟插入操作，所述第一预设电压组合包括依次对应于每个引脚的电压；

和/或；

在测试过程中需要执行拔出TypeC端口操作时，控制下位机为所述移动终端的TypeC端口施加第二预设电压组合用于模拟拔出操作，所述第二预设电压组合包括依次对应于每个引脚的电压。

在一些可能的实施方式中，所述测试流程包括以下中的至少一种：

正向OTG功能、反向OTG功能、正向QC快充功能、反向QC快充功能、正向PD快充功能、反向PD快充功能、正向控制功能、反向控制功能。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种测试TypeC设备的装置，所述装置包括：

启动模块，被配置为通过上位机启动并执行测试程序，其中，所述测试程序中依次包括多个测试流程，每个测试流程对应于待测TypeC设备中的一个待测功能；

切换控制模块，被配置为在切换测试流程时，控制下位机切换所述测试流程对应的模拟电路；其中，所述下位机包括：中央控制器以及分别与所述中央控制器的I/O端口连接的多个模拟电路，每个模拟电路对应于一个待测功能；

接收模块，被配置为从与所述上位机通过TypeC端口连接的移动终端接收所述测试流程对应的运行数据；

确定模块，被配置为根据所述运行数据确定待测TypeC设备的待测功能的性能。

在一些可能的实施方式中，所述装置还包括：

发送控制模块，被配置为在所述测试流程中包括按键触发事件时，控制下位机发送用于模拟按键触发事件的触发信号；

所述确定模块还被配置为：

从所述运行数据中读取所述按键触发事件对应的寄存器的值，根据所述寄存器的值确定所述移动终端是否正常接收到所述按键触发事件。

在一些可能的实施方式中，所述装置还包括：

解析单元，被配置为根据所述寄存器的值确定所述移动终端未正常接收到所述按键触发事件后，控制下位机重新发送用于模拟按键触发事件的触发信号，或者，控制下位机顺序发送用于模拟执行拔出TypeC端口操作的信号和用于模拟执行插入TypeC端口操作的信号，并复位下位机后重新发送用于模拟按键触发事件的触发信号。

在一些可能的实施方式中，所述装置包括：

插拔控制模块，被配置为在测试过程需要执行插入TypeC端口操作时，控制下位机为所述移动终端的TypeC端口施加第一预设电压组合用于模拟插入操作，所述第一预设电压组合包括依次对应于每个引脚的电压；

和/或；

在测试过程中需要执行拔出TypeC端口操作时，控制下位机为所述移动终端的TypeC端口施加第二预设电压组合用于模拟拔出操作，所述第二预设电压组合包括依次对应于每个引脚的电压。

在一些可能的实施方式中，所述测试流程包括以下中的至少一种：

正向OTG功能、反向OTG功能、正向QC快充功能、反向QC快充功能、正向PD快充功能、反向PD快充功能、正向控制功能、反向控制功能。

根据本公开实施例的第三方面，提供一种测试TypeC设备的系统，所述系统包括上位机、下位机和移动终端：

所述上位机，被配置为启动并执行测试程序，其中，所述测试程序中依次包括多个测试流程，每个测试流程对应于待测TypeC设备中的一个待测功能；

所述下位机，被配置为在所述上位机切换测试流程时，切换所述测试流程对应的模拟电路；其中，所述下位机包括：中央控制器以及分别与所述中央控制器的I/O端口连接的多个模拟电路，每个模拟电路对应于一个待测功能；

所述上位机，还被配置为从与所述上位机通过TypeC端口连接的移动终端接收所述测试流程对应的运行数据；根据所述运行数据确定待测TypeC设备的待测功能的性能。

根据本公开实施例的第四方面，提供一种测试TypeC设备的装置，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为执行如本公开实施例的第一方面任一项所述的测试TypeC设备的方法。

根据本公开实施例的第五方面，提供一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由装置的处理器执行时，使得装置能够执行如本公开实施例的第一方面任一项所述的测试TypeC设备的方法。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：利用定制化设置的下位机模拟待测TypeC设备，在下位机设置各个待测功能对应的模拟电路，通过自动切换模拟电路，自动完成对待测TypeC设备的所有待测功能的测试，减少测试时间，并且免除测试过程中的人工操作，提高测试效率。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是根据一示例性的实施例示出的一种测试TypeC设备的测试系统的结构图；

图2是根据一示例性的实施例示出的一种测试TypeC设备的流程图；

图3是根据一示例性的实施例示出的一种测试TypeC设备的QC充电功能的测试流程图；

图4是根据一示例性的实施例示出的另一种测试TypeC设备的流程图；

图5是根据一示例性的实施例示出的一种测试TypeC设备的结构图；

图6是根据一示例性的实施例示出的一种测试TypeC设备的结构图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

在一些可能的实施方式中，在对TypeC耳机进行测量时，将TypeC耳机与移动设备进行手动连接，并且每进行一次手动连接后，只能测试一项单一的功能例如耳麦驱动功能，要完成对TypeC耳机的所有功能的测试，需要进行多次手动连接，从而导致测试时长较大，且无法实现自动化测试。

在一些可能的实施方式中，对TypeC耳机进行测试时，将TypeC耳机与移动设备进行手动连接后，上位机从移动终端接收运行数据时，使用GetEvent指令获取耳机按键上报信息，传输信息长，响应速度慢。以音量减按键为例其检测过程包括：按下音量减按键、发送同步报告、抬起音量减按键、发送同步报告。只有在发送了同步报告事件才能生效，即使用GetEvent指令的检测方法是异步测试过程，因此无法实现闭环检测，容易造成测试过程中ADBD管道阻塞，出现指令长时间未返回测试结果的情况。

本公开示例性的实施例中，提供一种测试TypeC设备的系统，图1是根据一示例性的实施例示出的一种测试TypeC设备的系统的结构图，如图1所示，此系统包括：上位机、下位机和移动终端。其中：

上位机可以是PC机。

下位机用于模拟TypeC设备的各项功能，下位机包括中央控制器以及分别与所述中央控制器的I/O端口连接的多个模拟电路，各个模拟电路相互独立，每个模拟电路对应于一个待测功能。下位机可以是基于ARM(Advanced RISC Machines)处理器的硬件控制小板。其中，中央控制器可以为STM32F芯片。

在一示例中，TypeC设备为TypeC耳机时，每个待测功能对应于一个模拟电路。待测功能包括：OTG(On The Go)功能、QC(Quick Charge)快充协议功能、PD(Power Delivery)快充协议功能、PD电流值功能、TypeC正向功能、TypeC反向功能。其中，TypeC正向功能和TypeC反向功能中包括TypeC耳机物理按键功能。其中的物理按键包括音量加按键、音量减按键、播放/暂停按键。

移动终端可以是手机、平板电脑等设备。移动终端上具有TypeC端口。TypeC端口具有24个引脚。

上位机与移动终端可以通过短距离无线通信方式(例如Wifi)连接，也可以通过数据线物理连接。

上位机与下位机可以采用串口连接，例如通过232串口连接。

下位机与移动终端通过TypeC连接线物理连接。

在此系统中，

上位机，被配置为启动并执行测试程序，所述测试程序中依次包括多个测试流程，每个测试流程对应于待测TypeC设备中的一个待测功能；

下位机，被配置为在所述上位机切换测试流程时，切换所述测试流程对应的模拟电路；

上位机，还被配置为从与所述上位机通过TypeC端口连接的移动终端接收各测试流程对应的运行数据；根据所述运行数据确定待测TypeC设备的待测功能的性能。

本公开示例性的实施例中，提供一种测试TypeC设备的方法，TypeC设备可以是TypeC耳机、TypeC手表等具有TypeC接口的电子设备。图2是根据一示例性的实施例示出的一种测试TypeC设备的方法的流程图，如图2所示，所述方法包括步骤S201-S204：

步骤S201，通过上位机启动并执行测试程序，其中，所述测试程序中依次包括多个测试流程，每个测试流程对应于待测TypeC耳机中的一个待测功能；

步骤S202，在切换测试流程时，控制下位机切换所述测试流程对应的模拟电路；其中，所述下位机包括：中央控制器以及分别与所述中央控制器的I/O端口连接的多个模拟电路，每个模拟电路对应于一个待测功能；

步骤S203，从与所述上位机通过TypeC端口连接的移动终端接收所述测试流程对应的运行数据；

步骤S204，根据所述运行数据确定待测TypeC设备的待测功能的性能。

其中，

步骤S201中的上位机可以运行与待测TypeC设备对应的测试程序，此测试程序执行后，可以执行按顺序设置的多个测试流程，每个测试流程对应于待测TypeC设备中的一个待测功能。

在一示例中，TypeC设备为TypeC耳机时，待测功能包括：OTG(On The Go)功能、QC(Quick Charge)快充协议功能、PD(Power Delivery)快充协议功能、PD电流值功能、TypeC正向功能、TypeC反向功能等TypeC耳机相关功能测试。

各待测功能的排列顺序可以在开发测试程序时进行设置。

步骤S202中，下机位中包括用于实现不同测试功能的模拟电路，每个测试功能对应于一个测试流程。下位机在运行测试程序的过程中，当需要切换测试流程时，控制下机位切换所述测试流程对应的模拟电路。

在一示例中，当需要切换测试流程时，通过小板上的中央控制芯片控制I/O接口切换所要切换的测试流程对应的模拟电路。

在一些可能的实施方式中，在测试过程需要执行插入TypeC端口操作时，控制下位机为所述移动终端的TypeC端口施加第一预设电压组合用于模拟插入操作，所述第一预设电压组合包括依次对应于每个引脚的电压；和/或；在测试过程中需要执行拔出TypeC端口操作时，控制下位机为所述移动终端的TypeC端口施加第二预设电压组合用于模拟拔出操作，所述第二预设电压组合包括依次对应于每个引脚的电压。

在一示例中，TypeC端口包括24个引脚，则通过上位机控制下位机为移动终端的TypeC端口中的24个引脚施加与相应引脚对应的设定电压，所施加的设定电压能够模拟插入TypeC端口的操作，当需要执行拔出TypeC端口操作时，在对24个引脚施加能够模拟拔出TypeC端口操作的设定电压。

步骤S203中上位机与移动终端可以通过短距离无线通信技术(例如wifi)连接。

步骤S204中，在上机位执行完测试程序后，测试程序的运行结果即为TypeC设备所有待测功能对应的运行结果，根据运行结果确定待测TypeC设备的所有待测功能的性能。

所述测试流程中包括按键触发事件时，控制下位机发送用于模拟按键触发事件的触发信号，上位机从移动终端接收所述测试流程对应的运行数据后，从所述运行数据中读取所述按键触发事件对应的寄存器的值，从而根据所述寄存器的值确定所述移动终端是否正常接收到所述按键触发事件，根据是否正常接收的结果判断所述测试流程对应的待测功能的性能。

相比于使用getevent方式时，上位机需要从移动终端接收移动终端的所有按键触发事件的信息，并且通过关键字识别TypeC设备的按键触发事件，再查找TypeC设备的按键触发事件的具体信息的方式，直接读取寄存器的数值的方式可以大量提高获取信息的速度。

在一些可能的实施方式中，测试按键触发事件时，根据按键触发事件对应的寄存器的值，确定移动终端未正常接收到所述按键触发事件后，控制下位机重新发送用于模拟按键触发事件的触发信号，或者，控制下位机顺序发送用于模拟执行拔出TypeC端口操作的信号和用于模拟执行插入TypeC端口操作的信号，并复位下位机后重新发送用于模拟按键触发事件的触发信号。

当确定移动终端未正常接收到所述按键触发事件时，可能是由于信号接收出现问题，因此通过控制下位机重新发送用于模拟按键触发事件的触发信号，以确保终端能够接收到触发信号；也可能是由于模拟插入TypeC端口的模拟电路出现问题，以致于终端连接失败，无法接收到触发信号，因此通过重新模拟插入TypeC端口的操作，并重新发送触发信号，以确保TypeC端口正确插入。

本公开示例性的实施例中，利用定制化设置的下位机模拟待测TypeC设备，在下位机设置各个待测功能对应的模拟电路，通过自动切换模拟电路，自动完成对待测TypeC设备的所有待测功能的测试，减少测试时间，并且免除测试过程中的人工操作，提高测试效率。

本公开示例性的实施例中，当待测功能为QC充电功能时，如图3所示，测试TypeC设备的QC充电功能的测试流程包括步骤S301-S303：

步骤S301：检测移动终端的充电防烧电路是否产生指示断开充电的信号；

其中，所述充电防烧电路用于在预设器件的温度大于第一温度时产生指示断开充电的信号；若是，执行步骤S303，若否，执行步骤S302。

充电防烧电路为移动终端中防止充电过程中温度过高而损坏终端器件的电路，在对其进行测试时，需要模拟充电防烧电路的工作原理，即当预设器件的温度大于第一温度时断开充电。预设器件可以为处理器或者终端的壳体，第一温度例如可以是75℃，当预设器件的温度值大于第一温度时，充电防烧电路应该控制停止充电，以保护终端，因此在模拟该电路时，需要检测移动终端的充电防烧电路是否可以产生指示断开充电的信号。

步骤S302：发送用于模拟设置所述预设器件的温度为第二温度的信号，所述第二温度大于所述第一温度；

如果检测结果为未产生指示断开充电的信号时，说明此时充电电路处于正常工作状态，在模拟测试充电防烧电路功能时，需要模拟该电路进行工作的条件，即使终端的预设器件温度高于第一温度。发送用于模拟设置所述预设器件的温度为第二温度的信号，所述第二温度大于所述第一温度，检测充电电路是否停止运行。

步骤S303：检测充电电路是否停止运行；

若是，说明充电防烧电路控制充电电路停止运行的功能正常；若否，说明充电防烧电路功能异常。

在一些可能的实施方式中，测试TypeC设备的QC充电功能的测试流程还包括：检测充电电路停止运行后，发送用于模拟设置所述预设器件的温度为第三温度的信号，所述第三温度小于或等于所述第一温度，检测所述充电电路是否正常运行。

充电防烧电路的功能除了在预设器件温度较高时需要控制停止充电，还需要在预设器件温度恢复时恢复正常充电，因此，模拟测试充电防烧电路时还需要模拟充电电路停止运行后，是否能在预设器件温度恢复正常时，恢复充电。即在检测充电电路停止运行后，发送用于模拟设置预设器件的温度为第三温度的信号，所述第三温度小于或等于所述第一温度，检测所述充电电路是否恢复正常运行。

在本公开示例性的实施例中，根据充电防烧电路的工作原理，模拟其执行控制充电电路断开或者恢复正常运行的条件，能够检测充电防烧电路功能是否能够在达到预设条件时正常运行。

本公开提供一个具体的实施例，以TypeC耳机功能测试为例，上机位为测试工具，下机位为基于ARM处理器的硬件控制小板，下机位模拟TypeC耳机的功能，如图4所示，测试TypeC设备的耳机功能测试方法包括以下步骤S401-S406：

步骤S401，确定插入TypeC端口的方向为正向，通过测试工具控制硬件控制小板为TypeC端口的各引脚施加正向电压；

步骤S402，通过测试工具启动测试程序，测试程序中包括耳机功能测试的测试流程；

步骤S403，控制硬件控制小板选通耳机功能测试的测试流程对应的模拟电路；

步骤S404，测试工具通过wifi从移动终端接收运行数据；

其中，在测试流程中包括按键触发事件时，从所述运行数据中读取所述按键触发事件对应的寄存器的值，从而根据所述寄存器的值确定所述移动终端是否正常接收到所述按键事件。

耳机的按键触发事件可以共包括为插入事件、音量加事件、音量减事件、播放事件、拔出事件时，移动终端中与耳机的按键触发事件对应的寄存器共包括5个U16(十六进制)的数字，每个U15对应于一个上述事件。其中，耳机插入事件和拔出事件，分别对应于三段式耳机的三个层面，为物理插孔、麦克风、耳机听筒；音量加事件、音量减事件和播放事件中对应于按下按键和抬起按键的操作。触发相应按键触发事件时，从移动终端获取相应的运行数据。

步骤S405，根据接收到的运行数据分析待测功能的性能。

以耳机插入事件、音量加事件中的按下按键操作和抬起按键操作为例，根据接收到的运行数据分析待测功能的性能：

在该功能测试流程开始之前，使用清空指令，将寄存器中的数据初始化为(0，0，0，0，0)。

测试流程中触发插入事件后，移动终端的运行数据中，如果读取到寄存器的值为(0x0111，0x0000，0x0000，0x0000，0x0000)，说明识别到耳机插入；如果读取到寄存器的值为(0x0000，0x0000，0x0000，0x0000，0x0000)，说明未识别到耳机插入；如果读取到寄存器的值为(0x0101，0x0000，0x0000，0x0000，0x0000)，说明连接未完全响应；未识别到耳机插入或者连接未完全响应时，需要清空寄存器数据后，重新触发插入事件。

测试流程中触发音量加事件后，移动终端的运行数据中，如果读取到寄存器的值为(0x0111，0x0011，0x0000，0x0000，0x0000)，说明识别到音量加事件的按下按键操作和抬起按键操作；如果读取到寄存器的值为(0x0111，0x0000，0x0000，0x0000，0x0000)，说明未识别到音量加事件的按下按键操作和抬起按键操作；如果读取到寄存器的值为(0x0111，0x0010，0x0000，0x0000，0x0000)，说明只识别到按下按键操作，未识别到抬起按键操作；如果读取到寄存器的值为(0x0111，0x0001，0x0000，0x0000，0x0000)，说明只识别到抬起按键操作，未识别到按下按键操作；未正常识别到按下按键操作和抬起按键操作时，都需要清空寄存器数据后重新触发音量加事件。

在任一测试流程中，上位机在读取寄存器数据后，使用清空指令，将寄存器中的数据初始化为(0，0，0，0，0)。

本公开示例性的实施例中，提供一种测试TypeC设备的装置。图5是根据一示例性的实施例示出的一种测试TypeC设备的装置框图，如图5所示，所述装置包括：

启动模块501，被配置为通过上位机启动并执行测试程序，其中，所述测试程序中依次包括多个测试流程，每个测试流程对应于待测TypeC设备中的一个待测功能；

切换控制模块502，被配置为在切换测试流程时，控制下位机切换所述测试流程对应的模拟电路；其中，所述下位机包括：中央控制器以及分别与所述中央控制器的I/O端口连接的多个模拟电路，每个模拟电路对应于一个待测功能；

接收模块503，被配置为从与所述上位机通过TypeC端口连接的移动终端接收所述测试流程对应的运行数据；

确定模块504，被配置为根据所述运行数据确定待测TypeC设备的待测功能的性能。

在一可能的实施方式中，所述装置还包括：

发送控制模块，被配置为在所述测试流程中包括按键触发事件时，控制下位机发送用于模拟按键触发事件的触发信号；

所述确定模块还被配置为：

从所述运行数据中读取所述按键触发事件对应的寄存器的值，根据所述寄存器的值确定所述移动终端是否正常接收到所述按键触发事件。

在一可能的实施方式中，所述装置还包括：

解析单元，被配置为根据所述寄存器的值确定所述移动终端未正常接收到所述按键触发事件后，控制下位机重新发送用于模拟按键触发事件的触发信号，或者，控制下位机顺序发送用于模拟执行拔出TypeC端口操作的信号和用于模拟执行插入TypeC端口操作的信号，并复位下位机后重新发送用于模拟按键触发事件的触发信号。

在一可能的实施方式中，所述装置包括：

插拔控制模块，被配置为在测试过程需要执行插入TypeC端口操作时，控制下位机为所述移动终端的TypeC端口施加第一预设电压组合用于模拟插入操作，所述第一预设电压组合包括依次对应于每个引脚的电压；

和/或；

在测试过程中需要执行拔出TypeC端口操作时，控制下位机为所述移动终端的TypeC端口施加第二预设电压组合用于模拟拔出操作，所述第二预设电压组合包括依次对应于每个引脚的电压。

在一可能的实施方式中，所述测试流程包括以下中的至少一种：

正向OTG功能、反向OTG功能、正向QC快充功能、反向QC快充功能、正向PD快充功能、反向PD快充功能、正向控制功能、反向控制功能。

关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。

当上位机为终端时，其结构如图6所示。图6是根据一示例性的实施例示出的一种上位机终端设备600的框图。例如，设备600可以是移动电话，计算机，数字广播终端，消息收发设备，游戏控制台，平板设备，医疗设备，健身设备，个人数字助理等。

参照图6，设备600可以包括以下一个或多个组件：处理组件602，存储器604，电源组件606，多媒体组件608，音频组件610，输入/输出(I/O)的接口612，传感器组件614，以及通信组件616。

处理组件602通常控制设备600的整体操作，诸如与显示，电话呼叫，数据通信，相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件602可以包括一个或多个处理器620来执行指令，以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外，处理组件602可以包括一个或多个模块，便于处理组件602和其他组件之间的交互。例如，处理组件602可以包括多媒体模块，以方便多媒体组件608和处理组件602之间的交互。

存储器604被配置为存储各种类型的数据以支持在设备600的操作。这些数据的示例包括用于在设备600上操作的任何应用程序或方法的指令，联系人数据，电话簿数据，消息，图片，视频等。存储器604可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。

电源组件606为设备600的各种组件提供电力。电源组件606可以包括电源管理系统，一个或多个电源，及其他与为设备600生成、管理和分配电力相关联的组件。

多媒体组件608包括在所述设备600和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中，屏幕可以包括液晶显示器(LCD)和触摸面板(TP)。如果屏幕包括触摸面板，屏幕可以被实现为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界，而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中，多媒体组件608包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当设备600处于操作模式，如拍摄模式或视频模式时，前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。

音频组件610被配置为输出和/或输入音频信号。例如，音频组件610包括一个麦克风(MIC)，当设备600处于操作模式，如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时，麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器604或经由通信组件616发送。在一些实施例中，音频组件610还包括一个扬声器，用于输出音频信号。

I/O接口612为处理组件602和外围接口模块之间提供接口，上述外围接口模块可以是键盘，点击轮，按钮等。这些按钮可包括但不限于：主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。

传感器组件614包括一个或多个传感器，用于为设备600提供各个方面的状态评估。例如，传感器组件614可以检测到设备600的打开/关闭状态，组件的相对定位，例如所述组件为设备600的显示器和小键盘，传感器组件614还可以检测设备600或设备600一个组件的位置改变，用户与设备600接触的存在或不存在，设备600方位或加速/减速和设备600的温度变化。传感器组件614可以包括接近传感器，被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件614还可以包括光传感器，如CMOS或CCD图像传感器，用于在成像应用中使用。在一些实施例中，该传感器组件614还可以包括加速度传感器，陀螺仪传感器，磁传感器，压力传感器或温度传感器。

通信组件616被配置为便于设备600和其他设备之间有线或无线方式的通信。设备600可以接入基于通信标准的无线网络，如WiFi，4G或5G，或它们的组合。在一个示例性实施例中，通信组件616经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，所述通信组件616还包括近场通信(NFC)模块，以促进短程通信。例如，在NFC模块可基于射频识别(RFID)技术，红外数据协会(IrDA)技术，超宽带(UWB)技术，蓝牙(BT)技术和其他技术来实现。

在示例性实施例中，设备600可以被一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述方法。

本公开示例性的实施例中，还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器604，上述指令可由设备600的处理器620执行以完成上述方法。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的实施方案后，将容易想到本公开的其它实施方案。本公开旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (15)

1.一种测试TypeC设备的方法，其特征在于，所述方法包括：

通过上位机启动并执行测试程序，其中，所述测试程序中依次包括多个测试流程，每个测试流程对应于待测TypeC设备中的一个待测功能；

在切换测试流程时，控制下位机切换所述测试流程对应的模拟电路；其中，所述下位机包括：中央控制器以及分别与所述中央控制器的I/O端口连接的多个模拟电路，每个模拟电路对应于一个待测功能；

从与所述上位机通过TypeC端口连接的移动终端接收所述测试流程对应的运行数据；

根据所述运行数据确定待测TypeC设备的待测功能的性能。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述测试流程中包括按键触发事件时，控制下位机发送用于模拟按键触发事件的触发信号；

所述根据所述运行数据确定待测TypeC设备的待测功能的性能，包括：

从所述运行数据中读取所述按键触发事件对应的寄存器的值，根据所述寄存器的值确定所述移动终端是否正常接收到所述按键触发事件。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述寄存器的值确定所述移动终端未正常接收到所述按键触发事件后，控制下位机重新发送用于模拟按键触发事件的触发信号，或者，控制下位机顺序发送用于模拟执行拔出TypeC端口操作的信号和用于模拟执行插入TypeC端口操作的信号，并复位下位机后重新发送用于模拟按键触发事件的触发信号。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述待测功能为QC充电功能时，所述QC充电功能对应的测试流程包括：

检测所述移动终端的充电防烧电路是否产生指示断开充电的信号，其中，所述充电防烧电路用于在预设器件的温度大于第一温度时产生指示断开充电的信号；

如果检测结果为未产生指示断开充电的信号时，发送用于模拟设置所述预设器件的温度为第二温度的信号，所述第二温度大于所述第一温度，检测充电电路是否停止运行。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

检测充电电路停止运行后，发送用于模拟设置所述预设器件的温度为第三温度的信号，所述第三温度小于或等于所述第一温度，检测所述充电电路是否正常运行。

6.如权利要求1、2或3所述的方法，其特征在于，所述方法包括：

在测试过程需要执行插入TypeC端口操作时，控制下位机为所述移动终端的TypeC端口施加第一预设电压组合用于模拟插入操作，所述第一预设电压组合包括依次对应于每个引脚的电压；

和/或；

在测试过程中需要执行拔出TypeC端口操作时，控制下位机为所述移动终端的TypeC端口施加第二预设电压组合用于模拟拔出操作，所述第二预设电压组合包括依次对应于每个引脚的电压。

7.如权利要求1至6中任一权利要求所述的方法，其特征在于，

所述测试流程包括以下中的至少一种：

正向OTG功能、反向OTG功能、正向QC快充功能、反向QC快充功能、正向PD快充功能、反向PD快充功能、正向控制功能、反向控制功能。

8.一种测试TypeC设备的装置，其特征在于，所述装置包括：

启动模块，被配置为通过上位机启动并执行测试程序，其中，所述测试程序中依次包括多个测试流程，每个测试流程对应于待测TypeC设备中的一个待测功能；

切换控制模块，被配置为在切换测试流程时，控制下位机切换所述测试流程对应的模拟电路；其中，所述下位机包括：中央控制器以及分别与所述中央控制器的I/O端口连接的多个模拟电路，每个模拟电路对应于一个待测功能；

接收模块，被配置为从与所述上位机通过TypeC端口连接的移动终端接收所述测试流程对应的运行数据；

确定模块，被配置为根据所述运行数据确定待测TypeC设备的待测功能的性能。

9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

发送控制模块，被配置为在所述测试流程中包括按键触发事件时，控制下位机发送用于模拟按键触发事件的触发信号；

所述确定模块还被配置为：

从所述运行数据中读取所述按键触发事件对应的寄存器的值，根据所述寄存器的值确定所述移动终端是否正常接收到所述按键触发事件。

10.如权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

解析单元，被配置为根据所述寄存器的值确定所述移动终端未正常接收到所述按键触发事件后，控制下位机重新发送用于模拟按键触发事件的触发信号，或者，控制下位机顺序发送用于模拟执行拔出TypeC端口操作的信号和用于模拟执行插入TypeC端口操作的信号，并复位下位机后重新发送用于模拟按键触发事件的触发信号。

11.如权利要求8、9或10所述的装置，其特征在于，所述装置包括：

插拔控制模块，被配置为在测试过程需要执行插入TypeC端口操作时，控制下位机为所述移动终端的TypeC端口施加第一预设电压组合用于模拟插入操作，所述第一预设电压组合包括依次对应于每个引脚的电压；

和/或；

在测试过程中需要执行拔出TypeC端口操作时，控制下位机为所述移动终端的TypeC端口施加第二预设电压组合用于模拟拔出操作，所述第二预设电压组合包括依次对应于每个引脚的电压。

12.如权利要求8至11中任一权利要求所述的装置，其特征在于，

所述测试流程包括以下中的至少一种：

正向OTG功能、反向OTG功能、正向QC快充功能、反向QC快充功能、正向PD快充功能、反向PD快充功能、正向控制功能、反向控制功能。

13.一种测试TypeC设备的系统，其特征在于，所述系统包括上位机、下位机和移动终端：

所述上位机，被配置为启动并执行测试程序，其中，所述测试程序中依次包括多个测试流程，每个测试流程对应于待测TypeC设备中的一个待测功能；

所述下位机，被配置为在所述上位机切换测试流程时，切换所述测试流程对应的模拟电路；其中，所述下位机包括：中央控制器以及分别与所述中央控制器的I/O端口连接的多个模拟电路，每个模拟电路对应于一个待测功能；

所述上位机，还被配置为从与所述上位机通过TypeC端口连接的移动终端接收所述测试流程对应的运行数据；根据所述运行数据确定待测TypeC设备的待测功能的性能。

14.一种测试TypeC设备的装置，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为执行权利要求1-7任一项所述的测试TypeC设备的方法。

15.一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由终端的处理器执行时，使得终端能够执行如权利要求1-7任一项所述的测试TypeC设备的方法。