CN116884330A - 一种显示面板的可靠性测试方法及测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种显示面板的可靠性测试方法及测试系统，包括：将至少两个待测显示面板放置于承载基板上；获取待测显示面板的待测区域；根据待测区域设定第一预设测试参数，并根据第一预设测试参数获取第一阈值电压测试值；设定第一预设阈值电压范围；根据第一阈值电压测试值和第一预设阈值电压范围，获取待测显示面板的性能测试结果；根据待测区域设定第二预设测试参数，并根据第二预设测试参数获取阈值电压差值；设定第二预设阈值电压范围；根据阈值电压差值和第二预设阈值电压范围，获取待测显示面板的寿命测试结果；根据性能测试结果和寿命测试结果判断待测显示面板的可靠性，保证显示面板中器件的可靠性，保证显示面板的使用效果。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的可靠性测试方法及测试系统。
背景技术
随着显示技术的发展，液晶显示面板、有机发光显示面板等类型的显示面板广泛应用于手机、电脑等显示装置中。由于显示面板的质量直接影响了显示装置的性能，因此，显示面板出厂前的检测变得尤其重要。
显示面板中通常包括像素电路和发光器件，通常由像素电路驱动发光元件发光，实现画面显示的功能，其中像素电路中包括开关元件，但是由于开关元件存在性能不稳定的问题，影响显示面板的显示效果。现有技术中对显示面板出厂前的测试方法无法对开光元件的性能进行精准检测，进而造成显示面板的可靠度和安全性无法达到预期效果，进而严重影响使用效果。
发明内容
本发明提供了一种显示面板的可靠性测试方法及测试系统，以提高显示面板中器件的可靠性，保证显示面板的使用效果。
根据本发明的一方面，提供了一种显示面板的可靠性测试方法，包括：
将至少两个待测显示面板放置于承载基板上；
获取所述待测显示面板的待测区域；
根据所述待测区域设定第一预设测试参数，并根据所述第一预设测试参数获取第一阈值电压测试值；
设定第一预设阈值电压范围；
根据所述第一阈值电压测试值和所述第一预设阈值电压范围，获取所述待测显示面板的性能测试结果；
根据所述待测区域的第二预设测试参数，并根据所述第二预设测试参数获取阈值电压差值；
设定第二预设阈值电压范围；
根据所述阈值电压差值和所述第二预设阈值电压范围，获取所述待测显示面板的寿命测试结果；
根据所述性能测试结果和所述寿命测试结果判断所述待测显示面板的可靠性。
可选的，根据所述待测区域设定第一预设测试参数，并根据所述第一预设测试参数获取第一阈值电压测试值，包括：
设定所述待测区域中开关元件的第一预设源漏电压参数值和预设栅源电压参数范围；
根据所述第一预设源漏电压参数值和预设栅源电压参数范围获取所述开关元件的导通电流值；
根据所述导通电流值获取第一阈值电压测试值。
可选的，根据所述第一阈值电压测试值和所述第一预设阈值电压范围，获取所述待测显示面板的性能测试结果，包括：
判断所述第一阈值电压测试值是否在所述第一预设阈值电压范围内；
若是，则获取所述待测显示面板的性能测试结果；
若否，则重复执行获取所述待测区域中开关元件的第一预设源漏电压参数值和预设栅源电压参数范围的步骤。
可选的，重复执行获取所述待测区域中开关元件的第一预设源漏电压参数值和预设栅源电压参数范围的步骤之前，还包括：
获取性能测试结果的次数；
判断所述次数是否小于预设次数；
若是，则重复执行获取所述待测区域中开关元件的第一预设源漏电压参数值和预设栅源电压参数范围的步骤；
若否，则结束操作并输出测试异常信号。
可选的，根据所述待测区域设定第二预设测试参数，并根据所述第二预设测试参数获取阈值电压差值，包括：
设定所述待测区域中开关元件的第二预设源漏电压参数值和第二预设栅源电压参数值，其中所述第二预设源漏电压参数值大于零；
设定第一预设压力时间和第一预设温度值；
根据所述第二预设源漏电压参数值、所述第二预设栅源电压参数值、所述第一预设压力时间和所述第一预设温度值获取所述开关元件的第二阈值电压测试值；
获取第一初始阈值电压值；
根据所述第二阈值电压测试值和所述第一初始阈值电压值获取第一阈值电压差值。
可选的，所述第二预设阈值电压范围包括第一子预设阈值电压范围；设定第二预设阈值电压范围；根据所述阈值电压差值和所述第二预设阈值电压范围，获取所述待测显示面板的寿命测试结果，包括：
设定所述第一子预设阈值电压范围；
判断所述第一阈值电压差值是否在所述第一子预设阈值电压范围内；
若是，则获取所述待测显示面板的寿命测试结果；
若否，则判断当前所述待测显示面板的寿命测试是否完成；
若当前所述待测显示面板的寿命测试完成，则重复执行获取所述待测区域中开关元件的第二预设源漏电压参数值和第二预设栅源电压参数值的步骤，其中，所述第二预设源漏电压参数值大于零；
若当前所述待测显示面板的寿命测试未完成，则重复执行获取第一预设压力时间和第一预设温度值的步骤。
可选的，根据所述待测区域设定第二预设测试参数，并根据所述第二预设测试参数获取阈值电压差值，包括：
设定所述待测区域中开关元件的第三预设源漏电压参数值和第三预设栅源电压参数值，其中，所述第三预设源漏电压参数值小于零；
设定第二预设压力时间、第二预设温度值和预设光亮度值；
根据所述第三预设源漏电压参数值、所述第三预设栅源电压参数值、所述第二预设压力时间、所述第二预设温度值和所述预设光亮度值获取所述开关元件的第三阈值电压测试值；
获取第二初始阈值电压值；
根据所述第三阈值电压测试值和所述第二初始阈值电压值获取第二阈值电压差值。
可选的，所述第二预设阈值电压范围包括第二子预设阈值电压范围；设定第二预设阈值电压范围；根据所述阈值电压差值和所述第二预设阈值电压范围，获取所述待测显示面板的寿命测试结果，包括：
设定所述第二子预设阈值电压范围；
判断所述第二阈值电压差值是否在所述第二子预设阈值电压范围内；
若是，则获取所述待测显示面板的寿命测试结果；
若否，则判断当前所述待测显示面板的寿命测试是否完成；
若当前所述待测显示面板的寿命测试完成，则重复执行获取所述待测区域中开关元件的第三预设源漏电压参数值和第三预设栅源电压参数值的步骤，其中，所述第三预设源漏电压参数值小于零；
若当前所述待测显示面板的寿命测试未完成，则重复执行获取第二预设压力时间、第二预设温度值和预设光亮度值的步骤。
可选的，获取所述待测显示面板的待测区域之前，还包括：
设定所述待测显示面板的测试周期。
根据本发明的另一方面，提供了一种显示面板的可靠性测试系统，所述显示面板的可靠性测试系统用于执行上述方面中任一项所述的显示面板的可靠性测试方法；
所述显示面板的可靠性测试系统包括：
待测显示面板放置模块，用于将至少两个待测显示面板放置于承载基板上；
待测区域获取模块，用于获取所述待测显示面板的待测区域；
第一阈值电压测试值获取模块，用于根据所述待测区域设定第一预设测试参数，并根据所述第一预设测试参数获取第一阈值电压测试值；
第一预设阈值电压范围设定模块，用于设定第一预设阈值电压范围；
性能测试结果获取模块，用于根据所述第一阈值电压测试值和所述第一预设阈值电压范围，获取所述待测显示面板的性能测试结果；
阈值电压差值获取模块，用于根据所述待测区域设定第二预设测试参数，并根据所述第二预设测试参数获取阈值电压差值；
第二预设阈值电压范围设定模块，用于设定第二预设阈值电压范围；
寿命测试结果获取模块，用于根据所述阈值电压差值和所述第二预设阈值电压范围，获取所述待测显示面板的寿命测试结果；
待测显示面板的可靠性判断模块，用于根据所述性能测试结果和所述寿命测试结果判断所述待测显示面板的可靠性。
本发明实施例的技术方案，通过提供一种显示面板的可靠性测试方法，包括：将至少两个待测显示面板放置于承载基板；获取待测显示面板的待测区域；待测区域设定第一预设测试参数，并根据第一预设测试参数获取第一阈值电压测试值；设定第一预设阈值电压范围；根据第一阈值电压测试值和第一预设阈值电压范围，获取待测显示面板的性能测试结果；根据待测区域设定第二预设测试参数，并根据所述第二预设测试参数获取阈值电压差值；设定第二预设阈值电压范围；根据阈值电压差值和第二预设阈值电压范围，获取待测显示面板的寿命测试结果；根据性能测试结果和寿命测试结果判断待测显示面板的可靠性，对显示面板中器件性能进行监测，验证器件性能，进而保证显示面板中器件的可靠性，保证显示面板的使用效果。
应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图；
图2为本发明实施例提供的一种承载基板的结构示意图；
图3为本发明实施例提供的另一种承载基板的结构示意图；
图4为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图；
图5为本发明实施例提供的一种开关元件的结构示意图；
图6为本发明实施例提供的一种电流电压测试曲线；
图7为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图；
图8为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图；
图9为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图；
图10为本发明实施例提供的一种第一预设压力时间与第一阈值电压差值的测试曲线；
图11为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图；
图12为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图；
图13为本发明实施例提供的一种第二预设压力时间与第二阈值电压差值的测试曲线；
图14为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图；
图15为本发明实施例提供的另一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图；
图16为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试系统的结构示意图；
图17为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
图1为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图，本实施例可适用于显示面板中器件性能监测情况，该方法可以由显示面板的可靠性测试系统来执行，该显示面板的可靠性测试系统可以采用硬件和/或软件的形式实现。如图1所示，该方法包括：
S101，将至少两个待测显示面板放置于承载基板上。
其中，图2为本发明实施例提供的一种承载基板的结构示意图，图3为本发明实施例提供的另一种承载基板的结构示意图，如图2所示，示例性的，一个承载基板110上承载五个待测显示面板111；如图3所示，示例性的，一个承载基板110上承载四个待测显示面板111，可以对同一待测显示面板中的待测区域112进行测试，上述方式均能保证同一承载基板110上对待测显示面板进行同时检测，避免多次进行待测显示面板111的转移，影响测试效率。
S102，获取待测显示面板的待测区域。
其中，对承载基板中的每一待测显示面板的待测区域进行获取，如图2所示，选择在承载基板的四个角和中心位置为待测区域，即对承载基板中的每一待测显示面板均进行测试。待测显示面板的待测区域的选择可以根据实际设计需求进行选择，本发明实施例不做具体限定。
S103，根据待测区域设定第一预设测试参数，并根据第一预设测试参数获取第一阈值电压测试值。
其中，在待测区域测试过程中，对待测区域中的开关元件进行性能测测试，根据待测区域设定开关元件性能测试所需的第一预设测试参数，第一预设测试参数可以包括栅源电压值和源漏电压值，进而根据第一预设测试参数获取第一阈值电压测试值，以反映开关元件的开关效果。
S104，设定第一预设阈值电压范围。
其中，对应显示面板中的不同开关元件设置有不同的阈值电压范围，示例性的，对于第一种开关元件(Dr TR)的第一预设阈值电压范围为-1.5V～2.0V，第二种开关元件(Scan TR)的第一预设阈值电压范围为-1.5V～2.0V，第三种开关元件(Sence TR)的第一预设阈值电压范围为-1.5V～2.0V。
S105，根据第一阈值电压测试值和第一预设阈值电压范围，获取待测显示面板的性能测试结果。
其中，根据开关元件的第一阈值电压测试值和提前设定的第一预设阈值电压范围，进而获取待测显示面板中开关元件的性能测试结果，体现待测显示面板的性能。
S106，根据待测区域设定第二预设测试参数，并根据第二预设测试参数获取阈值电压差值。
其中，第二预设测试参数包括栅源电压值、源漏电压值、压力时间、测试温度和光亮度等，根据不同的测试需求，进而便于获取待测区域中开关元件的阈值电压差值，进而反映开关元件的寿命性能。
S107，设定第二预设阈值电压范围。
S108，根据阈值电压差值和第二预设阈值电压范围，获取待测显示面板的寿命测试结果。
其中，对待测显示面板中开关元件的寿命进行测试，具体测试包括测定在高温正电压条件下，在一定时间后的经过开关元件中晶体的热化特性的试验，即PBTS(PositiveBias Temperature Stress)；是加速试验的其中一种，为了提前测定晶体的热化，在高温正电压条件下进行测试；还包括测定在在光、高温和负电压条件下，在一定时间后的经过开关元件中晶体的热化特性的试验，即NBTiS(Negative Bias Temperature IlluminationStress)，也是加速试验的其中一种，为了提前测定晶体的热化，在光和高温负电压压条件下进行测试。根据不同测试需求对应获取待测显示面板的寿命测试结果。
S109，根据性能测试结果和寿命测试结果判断待测显示面板的可靠性。
其中，通过获取得到的性能测试结果和寿命测试结果反映待测显示面板的可靠性，进而保证后续出厂后的显示面板的使用性能，保证使用效果，降低损坏风险。
本发明实施例通过对待测显示面板的待测区域进行测试分别获取性能测试结果和寿命测试结果判断待测显示面板的可靠性，对显示面板中器件性能进行监测，验证器件性能，进而保证显示面板中器件的可靠性，保证显示面板的使用效果。
可选的，图4为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图，如图4所示，该方法包括：
S201，将至少两个待测显示面板放置于承载基板上。
S202，获取待测显示面板的待测区域。
S203，设定待测区域中开关元件的第一预设源漏电压参数值和预设栅源电压参数范围。
S204，根据第一预设源漏电压参数值和预设栅源电压参数范围获取开关元件的导通电流值。
其中，图5为本发明实施例提供的一种开关元件的结构示意图，开关元件包括源极113、漏极114、栅极115和半导体区116，栅极115处接入栅源电压Vgs,漏极114处接入源漏电压Vds，图6为本发明实施例提供的一种电流电压测试曲线，如图5和图6所示，第一预设源漏电压参数值可以为低压0.1V或者高压10V，预设栅源电压参数范围可以为-15V～20V，测试过程中栅源电压以0.2V的电压步进逐渐增加，进而分别在低压和高压下获得如图6所示的测试曲线，进而获取开关元件导通时的导通电流值。
S205，根据导通电流值获取第一阈值电压测试值。
其中，当测试过程中，开关元件中导通时所对应的栅源电压值为阈值电压值Vth，即根据开关元件导通时，根据导通电流值对应获得的栅源电压值，进而根据栅源电压值获取第一阈值电压测试值。
S206，设定第一预设阈值电压范围。
S207，根据第一阈值电压测试值和第一预设阈值电压范围，获取待测显示面板的性能测试结果。
S208，根据待测区域设定第二预设测试参数，并根据第二预设测试参数获取阈值电压差值。
S209，设定第二预设阈值电压范围。
S210，根据阈值电压差值和第二预设阈值电压范围，获取待测显示面板的寿命测试结果。
S211，根据性能测试结果和寿命测试结果判断待测显示面板的可靠性。
本发明实施例通过获取待测区域中开关元件的第一预设源漏电压参数值和预设栅源电压参数范围，进而获取导通电流值和第一阈值电压测试值，进而获取待测显示面板的性能测试结果，同时也能获取待测显示面板的寿命测试结果，进而根据性能测试结果和寿命测试结构判断待测显示面板的可靠性，对显示面板中器件性能进行监测，验证器件性能，进而保证显示面板中器件的可靠性，保证显示面板的使用效果。
可选的，图7为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图，如图7所示，该方法包括：
S301，将至少两个待测显示面板放置于承载基板上。
S302，获取待测显示面板的待测区域。
S303，设定待测区域中开关元件的第一预设源漏电压参数值和预设栅源电压参数范围。
S304，根据第一预设源漏电压参数值和预设栅源电压参数范围获取开关元件的导通电流值。
S305，根据导通电流值获取第一阈值电压测试值。
S306，设定第一预设阈值电压范围。
S307，判断第一阈值电压测试值是否在第一预设阈值电压范围内；若是，则执行步骤S308；若否，则执行步骤S303。
其中，判断第一阈值电压测试值是否在第一预设阈值电压范围内，若是，则认为开关元件的性能正常，若否，则对待测区域中的不同位置再次进行性能测试。
S308，获取待测显示面板的性能测试结果。
S309，根据待测区域设定第二预设测试参数，并根据第二预设测试参数获取阈值电压差值。
S310，设定第二预设阈值电压范围。
S311，根据阈值电压差值和第二预设阈值电压范围，获取待测显示面板的寿命测试结果。
S312，根据性能测试结果和寿命测试结果判断待测显示面板的可靠性。
本发明实施例通过判断第一阈值电压测试值是否在第一预设阈值电压范围内，进而获取显示面板的性能测试结果，反映待测显示面板的可靠性，保证显示面板的使用效果。
可选的，图8为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图，如图8所示，该方法包括：
S401，将至少两个待测显示面板放置于承载基板上。
S402，获取待测显示面板的待测区域。
S403，设定待测区域中开关元件的第一预设源漏电压参数值和预设栅源电压参数范围。
S404，根据第一预设源漏电压参数值和预设栅源电压参数范围获取开关元件的导通电流值。
S405，根据导通电流值获取第一阈值电压测试值。
S406，设定第一预设阈值电压范围。
S407，判断第一阈值电压测试值是否在第一预设阈值电压范围内；若是，则执行步骤S408；若否，则执行步骤S409。
S408，获取待测显示面板的性能测试结果。
S409，获取性能测试结果的次数。
S410，判断次数是否小于预设次数；若是，则执行步骤S403；若否，则执行步骤S411。
S411，结束操作并输出测试异常信号。
其中，当第一阈值电压测试值不在第一预设阈值电压范围内，则获取性能测试结构的次数，预设次数通常设置为三次，当次数小于预设次数时，则继续进行性能测试，回到步骤S403，当次数大于等于预设次数时，则结束操作并输出测试异常信号。
S412，根据待测区域设定第二预设测试参数，并根据第二预设测试参数获取阈值电压差值。
S413，设定第二预设阈值电压范围。
S414，根据阈值电压差值和第二预设阈值电压范围，获取待测显示面板的寿命测试结果。
S415，根据性能测试结果和寿命测试结果判断待测显示面板的可靠性。
本发明实施例通过判断第一阈值电压测试值是否在第一预设阈值电压范围内，进而获取性能测试结果的次数，判断次数是否小于预设次数，保证性能次数，进而更为精准的反映显示面板的性能测试结果，保证待测显示面板的可靠性，保证显示面板的使用效果。
可选的，图9为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图，如图9所示，该方法包括：
S501，将至少两个待测显示面板放置于承载基板上。
S502，获取待测显示面板的待测区域。
S503，根据待测区域设定第一预设测试参数，并根据第一预设测试参数获取第一阈值电压测试值。
S504，设定第一预设阈值电压范围。
S505，根据第一阈值电压测试值和第一预设阈值电压范围，获取待测显示面板的性能测试结果。
S506，设定待测区域中开关元件的第二预设源漏电压参数值和第二预设栅源电压参数值，其中第二预设源漏电压参数值大于零。
其中，对待测显示面板进行PBTS测试，反映待测显示面板中开关元件在高温和正电压条件下经过一定压力时间后的晶体热化性能，第二预设源漏电压参数值可以选择30V,第二预设栅源电压参数值为0V。
S507，设定第一预设压力时间和第一预设温度值。
其中，第一预设压力时间通常为10s、100s、1000s、2000s、3000s、3600s、4000s、50000s、10000s、20000s、30000s、40000s，总测试压力时长约为11h，第一预设温度值可以为60℃。
S508，根据第二预设源漏电压参数值、第二预设栅源电压参数值、第一预设压力时间和第一预设温度值获取开关元件的第二阈值电压测试值。
其中，在每一第一预设压力时间下，进行如上述实施例中相关的开关元件性能测试，进而获取第二阈值电压测试值。
S509，获取第一初始阈值电压值。
S510，根据第二阈值电压测试值和第一初始阈值电压值获取第一阈值电压差值。
其中，图10为本发明实施例提供的一种第一预设压力时间与第一阈值电压差值的测试曲线，如图10所示，提前获取开关元件的第一初始阈值电压值，第二阈值电压测试值与第一初始阈值电压值进行差值运算，获取第一阈值电压差值，即每一第一预设压力时间下对应获取第一阈值电压差值，得到第一预设压力时间与第一阈值电压差值的测试曲线，反映待测显示面板进行PBTS测试下的开关元件性能。
S511，设定第二预设阈值电压范围。
S512，根据第一阈值电压差值和第二预设阈值电压范围，获取待测显示面板的寿命测试结果。
其中，表1示例性的展示一种在进行PBTS测试时的不同第一预设压力时间T1下的第一阈值电压差值ΔVth1的对应关系，对于进行PBTS测试，第二预设阈值电压范围为大于等于零的正值范围，第二预设阈值电压范围可以在0～1.5V内，对比不同预设压力时间下的第一阈值电压差值是否均在第二预设阈值电压范围，进而反映待测显示面板的寿命测试结果。
表1不同第一预设压力时间T1下的第一阈值电压差值ΔVth1的对应表
S513，根据性能测试结果和寿命测试结果判断待测显示面板的可靠性。
本发明实施例通过对获取待测区域中开关元件的第二预设源漏电压参数值和第二预设栅源电压参数值获取开关元件的第二阈值电压测试值，进而结合第一初始阈值电压值获取第一阈值电压差值，得到待测显示面板的寿命测试结果，保证待测显示面板的可靠性，保证显示面板的使用效果。
可选的，图11为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图，如图11所示，该方法包括：
S601，将至少两个待测显示面板放置于承载基板上。
S602，获取待测显示面板的待测区域。
S603，根据待测区域设定第一预设测试参数，并根据第一预设测试参数获取第一阈值电压测试值。
S604，设定第一预设阈值电压范围。
S605，根据第一阈值电压测试值和第一预设阈值电压范围，获取待测显示面板的性能测试结果。
S606，设定待测区域中开关元件的第二预设源漏电压参数值和第二预设栅源电压参数值，其中第二预设源漏电压参数值大于零。
S607，设定第一预设压力时间和第一预设温度值。
S608，根据第二预设源漏电压参数值、第二预设栅源电压参数值、第一预设压力时间和第一预设温度值获取开关元件的第二阈值电压测试值。
S609，获取第一初始阈值电压值。
S610，根据第二阈值电压测试值和第一初始阈值电压值获取第一阈值电压差值。
S611，设定第一子预设阈值电压范围。
其中，对于进行PBTS测试，第一子预设阈值电压范围可以在0～1.5V内。
S612，判断第一阈值电压差值是否在第一子预设阈值电压范围内；若是，则执行步骤S613；若否，则执行步骤S614。
S613，获取待测显示面板的寿命测试结果。
其中，判断第一阈值电压差值是否在第一子预设阈值电压范围内，若第一阈值电压差值在第一子预设阈值电压范围内，则获取寿命测试结果，若第一阈值电压差值不在第一子预设阈值电压范围内，则需要判断当前是否完成当次的寿命测试，即是否当前测试下的预设压力时间为最大预设压力时间，示例性的，如表1中最大预设压力时间为40000s。
S614，判断当前待测显示面板的寿命测试是否完成；若是，则执行步骤S606；若否，则执行步骤S607。
其中，判断当前的寿命测试，即PBTS测试是否完成，若未完成，当前寿命测试并未完成，需要在不同第一预设压力时间下继续进行测试，重复执行步骤S607；若完成，当前测试下的当前第一预设压力时间为最大预设压力时间，即如表1中的最大预设压力时间为40000s，则认为此次测试已完成。考虑测试系统的测试精度，需要再进行一次PBTS测试,即重复步骤S606。
S615，根据性能测试结果和寿命测试结果判断待测显示面板的可靠性。
本发明实施例通过判断当前待测显示面板的PBTS测试是否完成，进而执行不同的操作流程，保证寿命测试结果的精确和完整，进而保证待测显示面板的可靠性，保证显示面板的使用效果。
可选的，图12为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图，如图12所示，该方法包括：
S701，将至少两个待测显示面板放置于承载基板上。
S702，获取待测显示面板的待测区域。
S703，根据待测区域设定第一预设测试参数，并根据第一预设测试参数获取第一阈值电压测试值。
S704，设定第一预设阈值电压范围。
S705，根据第一阈值电压测试值和第一预设阈值电压范围，获取待测显示面板的性能测试结果。
S706，设定待测区域中开关元件的第三预设源漏电压参数值和第三预设栅源电压参数值，其中，第三预设源漏电压参数值小于零。
其中，对待测显示面板进行NBTS测试，反映待测显示面板中开关元件在高温、光照和负电压条件下经过一定压力时间后的晶体热化性能，第三预设源漏电压参数值可以选择-30V,第三预设栅源电压参数值为0V。
S707，设定第二预设压力时间、第二预设温度值和预设光亮度值。
其中，示例性的，第二预设压力时间通常为10s、100s、1000s、2000s、3000s、3600s、4000s、50000s、10000s、20000s、30000s、40000s，总测试压力时长约为11h，第二预设温度值可以为60℃，预设光亮度值为4500nit。
S708，根据第三预设源漏电压参数值、第三预设栅源电压参数值、第二预设压力时间、第二预设温度值和预设光亮度值获取开关元件的第三阈值电压测试值。
其中，在每一第二预设压力时间下，进行如上述实施例中相关的开关元件性能测试，进而获取第三阈值电压测试值。
S709，获取第二初始阈值电压值。
S710，根据第三阈值电压测试值和第二初始阈值电压值获取第二阈值电压差值。
其中，图13为本发明实施例提供的一种第二预设压力时间与第二阈值电压差值的测试曲线，第二预设压力时间与第二阈值电压差值的测试曲线，如图13所示，提前获取开关元件的第二初始阈值电压值，第三阈值电压测试值与第二初始阈值电压值进行差值运算，获取第二阈值电压差值，即每一第二预设压力时间下对应获取第二阈值电压差值，得到第二预设压力时间与第二阈值电压差值的测试曲线，反映待测显示面板进行NBTS测试下的开关元件性能。
S711，设定第二预设阈值电压范围。
S712，根据第一阈值电压差值和第二预设阈值电压范围，获取待测显示面板的寿命测试结果。
其中，表2示例性的展示一种在进行NBTS测试时的不同第二预设压力时间T2下的第二阈值电压差值ΔVth2的对应关系，对于进行NBTS测试，第二预设阈值电压范围为小于等于零的负值范围，第二预设阈值电压范围可以在0～-12V内，对比不同预设压力时间下的第二阈值电压差值是否均在第二预设阈值电压范围，进而反映待测显示面板的寿命测试结果。
表2不同第二预设压力时间T2下的第二阈值电压差值ΔVth2的对应表
S713，根据性能测试结果和寿命测试结果判断待测显示面板的可靠性。
本发明实施例通过对获取待测区域中开关元件的第三预设源漏电压参数值和第三预设栅源电压参数值获取开关元件的第三阈值电压测试值，进而结合第二初始阈值电压值获取第二阈值电压差值，得到待测显示面板的寿命测试结果，保证待测显示面板的可靠性，保证显示面板的使用效果。
可选的，图14为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图，如图14所示，该方法包括：
S801，将至少两个待测显示面板放置于承载基板上。
S802，获取待测显示面板的待测区域。
S803，根据待测区域设定第一预设测试参数，并根据第一预设测试参数获取第一阈值电压测试值。
S804，设定第一预设阈值电压范围。
S805，根据第一阈值电压测试值和第一预设阈值电压范围，获取待测显示面板的性能测试结果。
S806，设定待测区域中开关元件的第三预设源漏电压参数值和第三预设栅源电压参数值，其中，第三预设源漏电压参数值小于零。
S807，设定第二预设压力时间、第二预设温度值和预设光亮度值。
S808，根据第三预设源漏电压参数值、第三预设栅源电压参数值、第二预设压力时间、第二预设温度值和预设光亮度值获取开关元件的第三阈值电压测试值。
S809，获取第二初始阈值电压值。
S810，根据第三阈值电压测试值和第二初始阈值电压值获取第二阈值电压差值。
S811，设定第二子预设阈值电压范围。
其中，对于进行NBTS测试，第二子预设阈值电压范围可以在0～-12V内。
S812，判断第二阈值电压差值是否在第二子预设阈值电压范围内；若是，则执行步骤S813；若否，则执行步骤S814。
S813，获取待测显示面板的寿命测试结果。
其中，判断第二阈值电压差值是否在第二子预设阈值电压范围内，若第二阈值电压差值在第二子预设阈值电压范围内，则获取寿命测试结果，若第二阈值电压差值不在第二子预设阈值电压范围内，则需要判断当前是否完成当次的寿命测试，即是否当前测试下的预设压力时间为最大预设压力时间，示例性的，如表1所示，最大预设压力时间为40000s。
S814，判断当前待测显示面板的寿命测试是否完成；若是，则执行步骤S806；若否，则执行步骤S807。
其中，判断当前的寿命测试，即NBTS测试是否完成，若未完成，当前寿命测试并未完成，需要在不同第二预设压力时间下继续进行测试，重复执行步骤S807；若完成，当前测试下的当前第二预设压力时间为最大预设压力时间，即如表2中的最大预设压力时间为40000s，则认为此次测试已完成，考虑测试系统的测试精度，需要再进行一次NBTS测试,即重复步骤S806。
S815，根据性能测试结果和寿命测试结果判断待测显示面板的可靠性。
本发明实施例通过判断当前待测显示面板的NBTS测试是否完成，进而执行不同的操作流程，保证寿命测试结果的精确和完整，进而保证待测显示面板的可靠性，保证显示面板的使用效果。
可选的，图15为本发明实施例提供的另一种显示面板的可靠性测试方法的流程示意图，如图15所示，该方法包括：
S901，将至少两个待测显示面板放置于承载基板上。
S902，设定待测显示面板的测试周期。
其中，在测试前需要获取测试周期，在一定时间范围内进行性能测试和寿命测试，进而保证显示面板的使用性能。测试周期可以根据实际测试需求进行选择，本发明实施例不做具体限定。
S903，获取待测显示面板的待测区域。
S904，根据待测区域设定第一预设测试参数，并根据第一预设测试参数获取第一阈值电压测试值。
S905，设定第一预设阈值电压范围。
S906，根据第一阈值电压测试值和第一预设阈值电压范围，获取待测显示面板的性能测试结果。
S907，根据待测区域设定第二预设测试参数，并根据第二预设测试参数获取阈值电压差值。
S908，设定第二预设阈值电压范围。
S909，根据阈值电压差值和第二预设阈值电压范围，获取待测显示面板的寿命测试结果。
S910，根据性能测试结果和寿命测试结果判断待测显示面板的可靠性。
本发明实施例通过获取待测显示面板的待测区域之前，获取待测显示面板的测试周期，保证待测显示面板的可靠性，保证显示面板的使用效果。
图16为本发明实施例提供的一种显示面板的可靠性测试系统的结构示意图，如图16所示，显示面板的可靠性测试系统用于执行上述实施例中任一项所述的显示面板的可靠性测试方法；
显示面板的可靠性测试系统200包括：
待测显示面板放置模块201，用于将至少两个待测显示面板放置于承载基板上；
待测区域获取模块202，用于获取待测显示面板的待测区域；
第一阈值电压测试值获取模块203，用于根据待测区域设定第一预设测试参数，并根据所述第一预设测试参数获取第一阈值电压测试值；
第一预设阈值电压范围设定模块204，用于设定第一预设阈值电压范围；
性能测试结果获取模块205，用于根据第一阈值电压测试值和第一预设阈值电压范围，获取待测显示面板的性能测试结果；
阈值电压差值获取模块206，用于根据待测区域设定第二预设测试参数，并根据第二预设测试参数获取阈值电压差值；
第二预设阈值电压范围设定模块207，用于设定第二预设阈值电压范围；
寿命测试结果获取模块208，用于根据阈值电压差值和第二预设阈值电压范围，获取待测显示面板的寿命测试结果；
待测显示面板的可靠性判断模块209，用于根据性能测试结果和寿命测试结果判断待测显示面板的可靠性。
需要说明的是，由于本实施例提供的显示面板的可靠性测试系统包括如本发明实施例提供的任意所述的显示面板的可靠性测试方法，其具有显示面板的可靠性测试方法相同或相应的有益效果，此处不做赘述。
图17为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图，如图17所示。电子设备旨在表示各种形式的数字计算机，诸如，膝上型计算机、台式计算机、工作台、个人数字助理、服务器、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置，诸如，个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备(如头盔、眼镜、手表等)和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例，并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本发明的实现。
如图17所示，电子设备10包括至少一个处理器11，以及与至少一个处理器11通信连接的存储器，如只读存储器(ROM)12、随机访问存储器(RAM)13等，其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，处理器11可以根据存储在只读存储器(ROM)12中的计算机程序或者从存储单元18加载到随机访问存储器(RAM)13中的计算机程序，来执行各种适当的动作和处理。在RAM 13中，还可存储电子设备10操作所需的各种程序和数据。处理器11、ROM 12以及RAM 13通过总线14彼此相连。输入/输出(I/O)接口15也连接至总线14。
电子设备10中的多个部件连接至I/O接口15，包括：输入单元16，例如键盘、鼠标等；输出单元17，例如各种类型的显示器、扬声器等；存储单元18，例如磁盘、光盘等；以及通信单元19，例如网卡、调制解调器、无线通信收发机等。通信单元19允许电子设备10通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据。
处理器11可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。处理器11的一些示例包括但不限于中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、各种专用的人工智能(AI)计算芯片、各种运行机器学习模型算法的处理器、数字信号处理器(DSP)、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。处理器11执行上文所描述的各个方法和处理，例如显示面板的可靠性测试方法。
在一些实施例中，显示面板的可靠性测试方法可被实现为计算机程序，其被有形地包含于计算机可读存储介质，例如存储单元18。在一些实施例中，计算机程序的部分或者全部可以经由ROM 12和/或通信单元19而被载入和/或安装到电子设备10上。当计算机程序加载到RAM 13并由处理器11执行时，可以执行上文描述的显示面板的可靠性测试方法的一个或多个步骤。备选地，在其他实施例中，处理器11可以通过其他任何适当的方式(例如，借助于固件)而被配置为执行显示面板的可靠性测试方法。
本文中以上描述的系统和技术的各种实施方式可以在数字电子电路系统、集成电路系统、场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)、专用标准产品(ASSP)、芯片上系统的系统(SOC)、负载可编程逻辑设备(CPLD)、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括：实施在一个或者多个计算机程序中，该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上执行和/或解释，该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器，可以从存储系统、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令，并且将数据和指令传输至该存储系统、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。
用于实施本发明的方法的计算机程序可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些计算机程序可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器，使得计算机程序当由处理器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。计算机程序可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。
在本发明的上下文中，计算机可读存储介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的计算机程序。计算机可读存储介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。备选地，计算机可读存储介质可以是机器可读信号介质。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。
为了提供与用户的交互，可以在电子设备上实施此处描述的系统和技术，该电子设备具有：用于向用户显示信息的显示装置(例如，CRT(阴极射线管)或者LCD(液晶显示器)监视器)；以及键盘和指向装置(例如，鼠标或者轨迹球)，用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给电子设备。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈(例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈)；并且可以用任何形式(包括声输入、语音输入或者、触觉输入)来接收来自用户的输入。
可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统(例如，作为数据服务器)、或者包括中间件部件的计算系统(例如，应用服务器)、或者包括前端部件的计算系统(例如，具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机，用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互)、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信(例如，通信网络)来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括：局域网(LAN)、广域网(WAN)、区块链网络和互联网。
计算系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。服务器可以是云服务器，又称为云计算服务器或云主机，是云计算服务体系中的一项主机产品，以解决了传统物理主机与VPS服务中，存在的管理难度大，业务扩展性弱的缺陷。
应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本发明的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。
上述具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明保护范围之内。
Claims (10)
1.一种显示面板的可靠性测试方法，其特征在于，包括：
将至少两个待测显示面板放置于承载基板上；
获取所述待测显示面板的待测区域；
根据所述待测区域设定第一预设测试参数，并根据所述第一预设测试参数获取第一阈值电压测试值；
设定第一预设阈值电压范围；
根据所述第一阈值电压测试值和所述第一预设阈值电压范围，获取所述待测显示面板的性能测试结果；
根据所述待测区域设定第二预设测试参数，并根据所述第二预设测试参数获取阈值电压差值；
设定第二预设阈值电压范围；
根据所述阈值电压差值和所述第二预设阈值电压范围，获取所述待测显示面板的寿命测试结果；
根据所述性能测试结果和所述寿命测试结果判断所述待测显示面板的可靠性。
2.根据权利要求1所述的显示面板的可靠性测试方法，其特征在于，根据所述待测区域设定第一预设测试参数，并根据所述第一预设测试参数获取第一阈值电压测试值，包括：
设定所述待测区域中开关元件的第一预设源漏电压参数值和预设栅源电压参数范围；
根据所述第一预设源漏电压参数值和预设栅源电压参数范围获取所述开关元件的导通电流值；
根据所述导通电流值获取第一阈值电压测试值。
3.根据权利要求2所述的显示面板的可靠性测试方法，其特征在于，根据所述第一阈值电压测试值和所述第一预设阈值电压范围，获取所述待测显示面板的性能测试结果，包括：
判断所述第一阈值电压测试值是否在所述第一预设阈值电压范围内；
若是，则获取所述待测显示面板的性能测试结果；
若否，则重复执行获取所述待测区域中开关元件的第一预设源漏电压参数值和预设栅源电压参数范围的步骤。
4.根据权利要求3所述的显示面板的可靠性测试方法，其特征在于，重复执行获取所述待测区域中开关元件的第一预设源漏电压参数值和预设栅源电压参数范围的步骤之前，还包括：
获取性能测试结果的次数；
判断所述次数是否小于预设次数；
若是，则重复执行获取所述待测区域中开关元件的第一预设源漏电压参数值和预设栅源电压参数范围的步骤；
若否，则结束操作并输出测试异常信号。
5.根据权利要求1所述的显示面板的可靠性测试方法，其特征在于，根据所述待测区域设定第二预设测试参数，并根据所述第二预设测试参数获取阈值电压差值，包括：
设定所述待测区域中开关元件的第二预设源漏电压参数值和第二预设栅源电压参数值，其中所述第二预设源漏电压参数值大于零；
设定第一预设压力时间和第一预设温度值；
根据所述第二预设源漏电压参数值、所述第二预设栅源电压参数值、所述第一预设压力时间和所述第一预设温度值获取所述开关元件的第二阈值电压测试值；
获取第一初始阈值电压值；
根据所述第二阈值电压测试值和所述第一初始阈值电压值获取第一阈值电压差值。
6.根据权利要求5所述的显示面板的可靠性测试方法，其特征在于，所述第二预设阈值电压范围包括第一子预设阈值电压范围；设定第二预设阈值电压范围；根据所述阈值电压差值和所述第二预设阈值电压范围，获取所述待测显示面板的寿命测试结果，包括：
设定所述第一子预设阈值电压范围；
判断所述第一阈值电压差值是否在所述第一子预设阈值电压范围内；
若是，则获取所述待测显示面板的寿命测试结果；
若否，则判断当前所述待测显示面板的寿命测试是否完成；
若当前所述待测显示面板的寿命测试完成，则重复执行获取所述待测区域中开关元件的第二预设源漏电压参数值和第二预设栅源电压参数值的步骤，其中所述第二预设源漏电压参数值大于零；
若当前所述待测显示面板的寿命测试未完成，则重复执行获取第一预设压力时间和第一预设温度值的步骤。
7.根据权利要求1所述的显示面板的可靠性测试方法，其特征在于，根据所述待测区域设定第二预设测试参数，并根据所述第二预设测试参数获取阈值电压差值，包括：
设定所述待测区域中开关元件的第三预设源漏电压参数值和第三预设栅源电压参数值，其中，所述第三预设源漏电压参数值小于零；
设定第二预设压力时间、第二预设温度值和预设光亮度值；
根据所述第三预设源漏电压参数值、所述第三预设栅源电压参数值、所述第二预设压力时间、所述第二预设温度值和所述预设光亮度值获取所述开关元件的第三阈值电压测试值；
获取第二初始阈值电压值；
根据所述第三阈值电压测试值和所述第二初始阈值电压值获取第二阈值电压差值。
8.根据权利要求7所述的显示面板的可靠性测试方法，其特征在于，所述第二预设阈值电压范围包括第二子预设阈值电压范围；设定第二预设阈值电压范围；根据所述阈值电压差值和所述第二预设阈值电压范围，获取所述待测显示面板的寿命测试结果，包括：
设定所述第二子预设阈值电压范围；
判断所述第二阈值电压差值是否在所述第二子预设阈值电压范围内；
若是，则获取所述待测显示面板的寿命测试结果；
若否，则判断当前所述待测显示面板的寿命测试是否完成；
若当前所述待测显示面板的寿命测试完成，则重复执行获取所述待测区域中开关元件的第三预设源漏电压参数值和第三预设栅源电压参数值的步骤，其中，所述第三预设源漏电压参数值小于零；
若当前所述待测显示面板的寿命测试未完成，则重复执行获取第二预设压力时间、第二预设温度值和预设光亮度值的步骤。
9.根据权利要求1所述的显示面板的可靠性测试方法，其特征在于，获取所述待测显示面板的待测区域之前，还包括：
设定所述待测显示面板的测试周期。
10.一种显示面板的可靠性测试系统，其特征在于，所述显示面板的可靠性测试系统用于执行权利要求1-9中任一项所述的显示面板的可靠性测试方法；
所述显示面板的可靠性测试系统包括：
待测显示面板放置模块，用于将至少两个待测显示面板放置于承载基板上；
待测区域获取模块，用于获取所述待测显示面板的待测区域；
第一阈值电压测试值获取模块，用于根据所述待测区域设定第一预设测试参数，并根据所述第一预设测试参数获取第一阈值电压测试值；
第一预设阈值电压范围设定模块，用于设定第一预设阈值电压范围；
性能测试结果获取模块，用于根据所述第一阈值电压测试值和所述第一预设阈值电压范围，获取所述待测显示面板的性能测试结果；
阈值电压差值获取模块，用于根据所述待测区域设定第二预设测试参数，根据所述第二预设测试参数获取阈值电压差值；
第二预设阈值电压范围设定模块，用于设定第二预设阈值电压范围；
寿命测试结果获取模块，用于根据所述阈值电压差值和所述第二预设阈值电压范围，获取所述待测显示面板的寿命测试结果；
待测显示面板的可靠性判断模块，用于根据所述性能测试结果和所述寿命测试结果判断所述待测显示面板的可靠性。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117907789A (zh) * | 2024-03-19 | 2024-04-19 | 忱芯科技(上海)有限公司 | 一种半导体晶圆的可靠性测试方法 |
| CN117907789B (zh) * | 2024-03-19 | 2024-05-31 | 忱芯科技(上海)有限公司 | 一种半导体晶圆的可靠性测试方法 |
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