CN116762205A - 一种电池卷芯卷绕覆盖检测方法、装置及设备 - Google Patents

一种电池卷芯卷绕覆盖检测方法、装置及设备 Download PDF

Info

Publication number
CN116762205A
CN116762205A CN202180091951.2A CN202180091951A CN116762205A CN 116762205 A CN116762205 A CN 116762205A CN 202180091951 A CN202180091951 A CN 202180091951A CN 116762205 A CN116762205 A CN 116762205A
Authority
CN
China
Prior art keywords
cathode
anode
coating
distance
boundary
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202180091951.2A
Other languages
English (en)
Inventor
陈继伟
王绪明
谢金潭
张园园
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Contemporary Amperex Technology Co Ltd
Original Assignee
Contemporary Amperex Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Contemporary Amperex Technology Co Ltd filed Critical Contemporary Amperex Technology Co Ltd
Publication of CN116762205A publication Critical patent/CN116762205A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/05—Accumulators with non-aqueous electrolyte
    • H01M10/058—Construction or manufacture
    • H01M10/0587—Construction or manufacture of accumulators having only wound construction elements, i.e. wound positive electrodes, wound negative electrodes and wound separators
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/04—Construction or manufacture in general
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/10—Energy storage using batteries
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Secondary Cells (AREA)

Abstract

本申请涉及电池领域，具体涉及一种电池卷芯卷绕覆盖检测方法、装置及设备。在检测方法中，通过将第一图像采集装置的第一基准线和第二图像采集装置的第二基准线设置为在同一坐标系中重合，使得在阳极涂层侧图像中以第一基准线为参考计算得到的第一距离和在阴极涂层侧图像中以第二基准线为参考计算得到的第三距离相当于是在同一坐标系中遵循同一基准线，因此可通过第一距离和第三距离能够准确判断第一阳极涂层边界是否覆盖第一阴极涂层边界。同理，可通过第二距离和第四距离能够准确判断第二阳极涂层边界是否覆盖第二阴极涂层边界。通过上述方式，能准确检测电池卷芯卷绕过程中阳极极片与阴极极片之间的覆盖情况。

Description

一种电池卷芯卷绕覆盖检测方法、装置及设备 技术领域
本申请涉及电池领域，具体涉及一种电池卷芯卷绕覆盖检测方法、装置及设备。
背景技术
目前电动汽车上主要使用电池作为动力，电池具有高容量、输出电压高、较好的充放电循环性能等特点。在电池的生产过程中，一般需要将阳极极片、阴极极片、隔膜卷绕成卷芯。
在电池卷绕技术中，通常需要检测卷芯在卷绕过程中的覆盖情况，一般阳极涂层边界应该覆盖阴极涂层边界，如果覆盖不良，容易导致卷芯在循环充放电时刺穿隔膜，严重时甚至会导致燃爆，对电池的安全性影响极大。
发明内容
鉴于上述问题，本申请提供一种电池卷芯卷绕覆盖检测方法、装置及设备，能准确检测电池卷芯卷绕过程中阳极极片与阴极极片之间的覆盖情况。
第一方面，本申请提供了一种电池卷芯覆盖检测方法，被检测的电池卷芯包括：具有阳极涂层的阳极极片、具有阴极涂层的阴极极片、以及位于阳极极片和阴极极片之间的隔膜；检测方法应用于电池卷芯的卷绕制备阶段。
该方法包括：
获取阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像，阳极涂层侧图像包括处于即将入卷状态下或卷绕状态下的阳极极片的图像，阴极涂层侧图像包括处于即将入卷状态下的阴极极片的图像。
根据阳极涂层侧图像，确定阳极涂层侧中远离极耳的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的第一距离、以及阳极涂层侧中靠近极耳的第二阳极涂层边界与第一基准线之间的第二距离，其中，第一基准线为用于采集阳极涂层侧图像的第一图像采集装置标定的基准线。
根据阴极涂层侧图像，确定阴极涂层侧中远离极耳的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的第三距离、以及阴极涂层侧中靠近极耳的第二阴极涂层边界与第二基准线之间的第四距离，其中，第二基准线为用于采集阴极涂层侧图像的第二图像采集装置标定的基准线，第一基准线和第二基准线在同一坐标系中重合。
根据第一距离和第三距离，确定第一阳极涂层边界是否覆盖第一阴极涂层边界；根据第二距离和第四距离，确定第二阳极涂层边界是否覆盖第二阴极涂层边界。
本申请实施例的技术方案中，在上述检测方法中，通过将用于采集阳极涂层侧图像的第一图像采集装置的第一基准线和用于采集阴极涂层侧图像的第二图像采集装置的第二基准线设置为在同一坐标系中重合(例如第一基准线和第二基准线在世界坐标系重合)，从而使得在阳极涂层侧图像中以第一基准线为参考计算得到的第一距离和在阴极涂层侧图像中以第二基准线为参考计算得到的第三距离相当于是在同一坐标系中遵循同一基准线。并且，由于第一基准线和第二基准线是确定的，因此通过第一距离和第三距离能够准确判断第一阳极涂层边界是否覆盖第一阴极涂层边界。同理，在阳极涂层侧图像中以第一基准线为参考计算得到的第二距离和在阴极涂层侧图像中以第二基准线为参考计算得到的第四距离相当于是在同一坐标系遵循同一基准线，并且，由于第一基准线和第二基准线是确定的，因此，通过第二距离和第四距离能够准确判断第二阳极涂层边界是否覆盖第二阴极涂层边界。即通过上述方式，能准确检测电池卷芯卷绕过程中阳极极片与阴极极片之间的覆盖情况。
在第一方面的一种可能实现方式中，阳极涂层侧图像中所包括的阳极极片与阴极涂层侧图像中所包括的阴极极片在电池卷芯中处于同一卷绕段；其中，该卷绕段包括至少一对目标阳极极耳和目标阴极极耳，该目标阳极极耳和目标阴极极耳相邻。
本申请实施例的技术方案中，通过阳极涂层侧图像中所包括的阳极极片与阴极涂层侧图像中所包括的阴极极片在电池卷芯中处于同一卷绕段，使得第一距离和第三距离评价的是卷芯上同一位置的第一阳极涂层边界和第一阴极涂层边界之间的覆盖情况；同理，使得第二距离和第四距离评价的是卷芯上同一位置的第二阳极涂层边界和第二阴极涂层边界之间的覆盖 情况。从而，能够确定卷心的同一位置上阳极极片和阴极极片之间的覆盖情况，使得覆盖检测更加准确。可以理解的是，该卷绕段包括至少一对相邻的目标阳极极耳和目标阴极极耳，能够方便在进行图像分析时，以目标阳极极耳和目标阴极极耳为参考，抓取同一位置的阳极涂层边界和阴极涂层边界，从而，有助于提高覆盖检测的准确性。
在第一方面的一种可能实现方式中，前述“根据阳极涂层侧图像，确定阳极涂层侧中远离极耳的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的第一距离、以及阳极涂层侧中靠近极耳的第二阳极涂层边界与第一基准线之间的第二距离”，包括：
通过阳极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的距离计算第一距离；通过阳极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第二阳极涂层边界与第一基准线之间的距离计算第二距离。
本申请实施例的技术方案中，通过以目标阳极极耳和目标阴极极耳为参考，使得用于计算第一距离的第一阳极涂层边界和用于计算第二距离的第二阳极涂层边界均位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间，即能够实现准确抓取同一位置的第一阳极涂层边界和第二阳极涂层边界，使得第一距离和第二距离反映同一位置处第一阳极涂层边界和第二阳极涂层边界分别和第一基线之间的距离。
在第一方面的一种可能实现方式中，前述“通过阳极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的距离计算第一距离”，包括：根据第一阳极涂层边界与第二阳极涂层边界之间的距离和阳极涂层在阳极涂层侧图像中所占用的像素点个数，确定阳极涂层像素当量；确定第一距离为阳极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的像素点数量和阳极涂层像素当量的乘积。
在第一方面的一种可能实现方式中，前述“通过阳极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第二阳极涂层边界与第一基准线之间的距离计算第二距离”，包括：根据第一阳极涂层边界与第二阳极涂层边界之间的距离和阳极涂层在阳极涂层侧图像中所占用的像素点个数，确定阳极涂层像素当量；确定第二距离为阳极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极 极耳之间的第二阳极涂层边界与第一基准线之间的像素点数量和阳极涂层像素当量的乘积。
本申请实施例的技术方案中，对阳极涂层侧图像进行分析，计算阳极涂层像素当量(即阳极涂层侧图像中一个像素代表的距离)，然后，通过阳极涂层像素当量和位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的像素点数量相乘，能够得到同一位置处准确的第一距离。同理，以类似的方式，通过阳极涂层像素当量和位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第二阳极涂层边界与第一基准线之间的像素点数量相乘，能够得到同一位置处准确的第二距离。
在第一方面的一种可能实现方式中，前述“根据阴极涂层侧图像，确定阴极涂层侧中远离极耳的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的第三距离、以及阴极涂层侧中靠近极耳的第二阴极涂层边界与第二基准线之间的第四距离”，包括：
通过阴极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的距离计算第三距离；通过阴极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第二阴极涂层边界与第二基准线之间的距离计算第四距离。
本申请实施例的技术方案中，通过以目标阳极极耳和目标阴极极耳为参考，使得用于计算第三距离的第一阴极涂层边界和用于计算第四距离的第二阴极涂层边界均位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间，即能够实现准确抓取同一位置的第一阴极涂层边界和第二阴极涂层边界，使得第三距离和第四距离反映同一位置处第一阴极涂层边界和第二阴极涂层边界分别和第二基线之间的距离。
在第一方面的一种可能实现方式中，前述“通过阴极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的距离计算第三距离”，包括：根据第一阴极涂层边界与第二阴极涂层边界之间的距离和阴极涂层在阴极涂层侧图像中所占用的像素点个数，确定阴极涂层像素当量；确定第三距离为阴极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的像素点数量和阳极涂层像素当量的乘积。
在第一方面的一种可能实现方式中，前述“通过阴极涂层侧图像中位于 目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第二阴极涂层边界与第二基准线之间的距离计算第四距离”，包括：根据第一阴极涂层边界与第二阴极涂层边界之间的距离和阴极涂层在阴极涂层侧图像中所占用的像素点个数，确定阴极涂层像素当量；确定第四距离为阴极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第二阴极涂层边界与第二基准线之间的像素点数量和阴极极片像素当量的乘积。
本申请实施例的技术方案中，对阴极涂层侧图像进行分析，计算阴极涂层像素当量(即阴极涂层侧图像中一个像素代表的距离)，然后，通过阴极涂层像素当量和位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的像素点数量相乘，能够得到同一位置处准确的第三距离。同理，以类似的方式，通过阴极涂层像素当量和位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第二阴极涂层边界与第二基准线之间的像素点数量相乘，能够得到同一位置处准确的第四距离。
在第一方面的一种可能实现方式中，前述“根据第一距离和第三距离，确定第一阳极涂层边界是否覆盖第一阴极涂层边界”，包括：如果第一距离减去第三距离得到的差值大于或等于第一预设阈值，则确定第一阳极涂层边界覆盖第一阴极涂层边界。
本申请实施例的技术方案中，通过设置第一预设阈值，使得第一距离大于第三距离的情况下，才确定第一阳极涂层边界覆盖第一阴极涂层边界，使得覆盖检测结果更加谨慎，能够避免测量误差来带的误判。
在第一方面的一种可能实现方式中，前述“根据第二距离和第四距离，确定第二阳极涂层边界是否覆盖第二阴极涂层边界”，包括：如果第二距离减去第四距离得到的差值大于或等于第二预设阈值，则确定第二阳极涂层边界覆盖第二阴极涂层边界。
本申请实施例的技术方案中，通过设置第二预设阈值，使得第二距离大于第四距离的情况下，才确定第二阳极涂层边界覆盖第二阴极涂层边界，使得覆盖检测结果更加谨慎，能够避免测量误差来带的误判。
在第一方面的一种可能实现方式中，当在第二阴极涂层边界与阴极极耳之间设置有绝缘涂层时，该方法还包括：根据阴极涂层侧图像，确定绝缘涂层靠近阴极极耳的边界与第二基准线之间的第五距离；根据第五距离和第二距离，确定绝缘涂层靠近阴极极耳的边界是否覆盖第二阳极涂层边界。
本申请实施例的技术方案中，第二阴极涂层边界与阴极极耳之间设置有绝缘涂层，从而，可以根据阴极涂层侧图像，计算绝缘涂层靠近阴极极耳的边界与第二基准线之间的第五距离，基于第一基准线和第二基准线在同一坐标系中重合，从而，以第二基准线为参考计算得到的第五距离和以第一基准线计算得到的第二距离遵循同一基准线，并且，第一基准线和第二基准线是确定的，因此，通过第五距离和第二距离能够准确判断绝缘涂层靠近阴极极耳的边界是否覆盖第二阳极涂层边界。
在第一方面的一种可能实现方式中，前述“根据第五距离和第二距离，确定绝缘涂层靠近阴极极耳的边界是否覆盖第二阳极涂层边界”，包括：如果第五距离减去第二距离得到的差值大于或等于第三预设阈值，则确定绝缘涂层靠近阴极极耳的边界覆盖第二阳极涂层边界。
本申请实施例的技术方案中，通过设置第三预设阈值，使得第五距离大于第二距离的情况下，才确定绝缘涂层靠近阴极极耳的边界覆盖第二阳极涂层边界，使得覆盖检测结果更加谨慎，能够避免测量误差来带的误判。
在第一方面的一种可能实现方式中，第一基准线为第一图像采集装置的视野中线，第二基准线为第二图像采集装置的视野中线。
本申请实施例的技术方案中，将第一基准线设置为第一图像采集装置的视野中线，将第二基准线设置为第二图像采集装置的视野中线，能够方便计算设备分别对阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像进行识别处理计算，有益于提高覆盖检测结果的准确性。
在第一方面的一种可能实现方式中，第一图像采集装置的视野中线位于阳极极片的周向中线位置，第二图像采集装置的视野中线位于阴极极片的周向中线位置。
本申请实施例的技术方案中，第一图像采集装置的视野中线位于阳极极片的周向中线位置，使得阳极极片位于阳极涂层侧图像的中间，能够方便计算设备对阳极涂层侧图像进行识别处理计算，有益于提高覆盖检测结果的准确性。同理，第二图像采集装置的视野中线位于阴极极片的周向中线位置，使得阴极极片位于阴极涂层侧图像的中间，能够方便计算设备对阴极涂层侧图像进行识别处理计算，有益于提高覆盖检测结果的准确性。
在第一方面的一种可能实现方式中，第一图像采集装置包括红外光源和第一线扫描相机，第二图像采集装置包括可见光光源和第二线扫描相机。
本申请实施例的技术方案中，第一图像采集装置采用红外光源和第一线扫描相机，一方面，第一线扫描相机能够连续拍摄到卷绕过程中卷芯的阳极极片，对卷芯进行实时监测，另外一方面，红外光源能够穿透隔膜，帮助第一线扫描相机获取阳极极片的图像，提高阳极涂层侧图像的质量。另外，第二图像采集装置采用可见光光源和第二线扫描相机，能够连续拍摄到卷绕过程中卷芯的阴极极片，对卷芯进行实时监测，可见光光源能够帮助第二线扫描相机获取清晰的阴极极片的图像，提高阴极涂层侧图像的质量。通过上述方式提高阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像的质量，有益于提高覆盖检测结果的准确性。
第二方面，本申请提供了一种电池卷芯卷绕覆盖检测装置，包括图像获取模块、边界距离确定模块和覆盖确定模块。
图像获取模块，用于获取阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像，阳极涂层侧图像包括处于即将入卷状态下或卷绕状态下的阳极极片的图像，阴极涂层侧图像包括处于即将入卷状态下的阴极极片的图像。
边界距离确定模块，用于根据阳极涂层侧图像，确定阳极涂层侧中远离极耳的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的第一距离、以及阳极涂层侧中靠近极耳的第二阳极涂层边界与第一基准线之间的第二距离，其中，第一基准线为用于采集阳极涂层侧图像的第一图像采集装置标定的基准线。
其中，边界距离确定模块还用于根据阴极涂层侧图像，确定阴极涂层侧中远离极耳的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的第三距离、以及阴极涂层侧中靠近极耳的第二阴极涂层边界与第二基准线之间的第四距离，其中，第二基准线为用于采集阴极涂层侧图像的第二图像采集装置标定的基准线，第一基准线和第二基准线在同一坐标系中重合。
覆盖确定模块，用于根据第一距离和第三距离，确定第一阳极涂层边界是否覆盖第一阴极涂层边界；其中，覆盖确定模块还用于根据第二距离和第四距离，确定第二阳极涂层边界是否覆盖第二阴极涂层边界。
本申请实施例的技术方案中，通过设置用于采集阳极涂层侧图像的第一图像采集装置的第一基准线和用于采集阴极涂层侧图像的第二图像采集装置的第二基准线在同一坐标系中重合，例如第一基准线和第二基准线在世界坐标系重合，从而使得边界距离确定模块在阳极涂层侧图像中以第一基准线为参考计算得到的第一距离和在阴极涂层侧图像中以第二基准线为参考计算得 到的第三距离相当于是在同一坐标系中遵循同一基准线。并且，由于第一基准线和第二基准线是确定的，因此，覆盖确定模块通过第一距离和第三距离能够准确判断第一阳极涂层边界是否覆盖第一阴极涂层边界。同理，边界距离确定模块在阳极涂层侧图像中以第一基准线为参考计算得到的第二距离和在阴极涂层侧图像中以第二基准线为参考计算得到的第四距离相当于是在同一坐标系遵循同一基准线，并且，由于第一基准线和第二基准线是确定的，因此，覆盖确定模块通过第二距离和第四距离能够准确判断第二阳极涂层边界是否覆盖第二阴极涂层边界。即通过上述方式，上述装置能准确检测电池卷芯卷绕过程中阳极极片与阴极极片之间的覆盖情况。
第三方面，本申请提供了一种，电池卷芯卷绕覆盖检测设备，电池卷芯包括：具有阳极涂层的阳极极片、具有阴极涂层的阴极极片、以及位于阳极极片和阴极极片之间的隔膜。
检测设备包括第一图像采集装置、第二图像采集装置、处理器和存储器，其中，第一图像采集装置用于采集阳极涂层侧图像，阳极涂层侧图像包括处于入卷状态下或卷绕状态下的阳极极片的图像，第一基准线为第一图像采集装置标定的基准线。第二图像采集装置用于采集阴极涂层侧图像，阴极涂层侧图像包括处于入卷状态下的阴极极片的图像，第二基准线为第二图像采集装置标定的基准线，第一基准线和第二基准线在同一坐标系中重合。处理器分别与第一图像采集装置和第二图像采集装置通信连接，以获取阳极涂层侧图像、阴极涂层侧图像、第一基准线和第二基准线。存储器与处理器通信连接，存储器存储有可被处理器执行的指令，指令被处理器执行，以使处理器能够执行第一方面的方法。
本申请实施例的技术方案中，电池卷芯卷绕覆盖检测设备，能够准确检测卷绕过程中阳极极片与阴极极片之间的覆盖情况。
第四方面，本申请提供了一种电池卷芯卷绕机，其包括第三方面的电池卷芯卷绕覆盖检测设备。
本申请实施例的技术方案中，电池卷芯卷绕机具有准确的覆盖检测能力，有益于确保生产出来的电池卷芯合格。
上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。
附图说明
通过阅读对下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本申请的限制。而且在全部附图中，用相同的附图标号表示相同的部件。在附图中：
图1为本申请一些实施例提供的电池卷芯卷绕过程示意图；
图2为本申请一些实施例提供的阳极极片和阴极极片之间的覆盖关系示意图；
图3为本申请一些实施例提供的以隔膜为基准的覆盖检测示意图；
图4为本申请一些实施例提供的电池卷芯卷绕覆盖检测方法的流程示意图；
图5为本申请一些实施例提供的阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像的采集示意图；
图6为本申请一些实施例提供的以第一基准线和第二基准线为基准的覆盖检测示意图；
图7为本申请一些实施例提供的阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像的采集示意图；
图8为图4所示方法中步骤S20的一子流程示意图；
图9为本申请一些实施例提供的阳极涂层边界和阴极涂层边界的获取示意图；
图10为图8所示方法中步骤S21的一子流程示意图；
图11为图8所示方法中步骤S22的一子流程示意图；
图12为图4所示方法中步骤S30的一子流程示意图；
图13为图12所示方法中步骤S31的一子流程示意图；
图14为图12所示方法中步骤S32的一子流程示意图；
图15为图4所示方法中步骤S40的一子流程示意图；
图16为图4所示方法中步骤S50的一子流程示意图；
图17为本申请一些实施例提供的阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像的示意图；
图18为本申请一些实施例提供的电池卷芯卷绕覆盖检测方法的流程 示意图；
图19为图18所示方法中步骤S70的一子流程示意图；
图20为本申请一些实施例提供的电池卷芯卷绕覆盖检测装置的结构示意图；以及
图21为本申请一些实施例提供的电池卷心卷绕覆盖检测设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本申请技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本申请的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本申请的保护范围。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同；本文中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请；本申请的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
在本申请实施例的描述中，技术术语“第一”“第二”等仅用于区别不同对象，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量、特定顺序或主次关系。在本申请实施例的描述中，“多个”的含义是两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
在本申请实施例的描述中，术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
在本申请实施例的描述中，术语“多个”指的是两个以上(包括两个)， 同理，“多组”指的是两组以上(包括两组)，“多片”指的是两片以上(包括两片)。
在本申请实施例的描述中，技术术语“中心”“纵向”“横向”“长度”“宽度”“厚度”“上”“下”“前”“后”“左”“右”“竖直”“水平”“顶”“底”“内”“外”“顺时针”“逆时针”“轴向”“径向”“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请实施例的限制。
在本申请实施例的描述中，除非另有明确的规定和限定，技术术语“安装”“相连”“连接”“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；也可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请实施例中的具体含义。
随着绿色能源的发展，电池的应用越来越广泛，尤其是在近年来兴起的新能源汽车领域、信息家电领域或光伏发电领域，电池都作为重要的储能供电设备，例如，为新能源汽车或终端设备等供电，为太阳能板储能。随着电池应用领域的不断扩大，其市场的需求量也在不断地扩增。
在卷绕电池的生产过程中，需要先将阳极极片、阴极极片、隔膜卷绕成卷芯。该工序中，两极片之间的覆盖情况是衡量电芯质量的一个重要的指标，如果两极片之间的覆盖情况达不到要求，会对电芯的使用寿命和安全性能产生重大影响，甚至会直接导致卷芯的报废。
在实际的卷绕操作中，如图1所示，在卷绕起始阶段，首先如图1(a)所示，第一隔膜101和第二隔膜102一起先进入卷针103，在卷针103上卷绕至少一圈后，如图1(b)所示，阳极极片104在第一隔膜101和第二隔膜102之间进入卷针103。在阳极极片104进入卷针103一定长度后，如图1(c)所示，阴极极片105在第二隔膜102远离阳极极片104的一侧进入卷针103，等阴极极片105进入入卷状态后，进入稳定卷绕阶段。在稳定卷绕阶段，从卷芯外看，按照第一隔膜101、阳极极片104、第二隔膜102和阴极极片105的顺序层叠后一起进入卷针103进行卷绕。可以理解的是， 第一隔膜101、阳极极片104、第二隔膜102和阴极极片105均可以经过导辊106传送。
在卷芯中，第一隔膜101用于使阳极极片104与卷针103之间绝缘，第二隔膜102用于使阴极极片105和阳极极片104之间绝缘。在一些实施例中，第一隔膜101和第二隔膜102呈乳白色。阳极极片104的两个表面分别涂覆有阳极涂层，阳极涂层一般为黑色，阴极极片105的两个表面分别涂覆有阴极涂层。
可以理解的是，阳极极片的一侧设置有按距离排布的多个阳极极耳(图1未示)，阴极极片的一侧设置有按距离排布的多个阴极极耳(图1未示)，卷绕后，在卷芯中，多个阳极极耳对齐，多个阴极极耳对齐。可以理解的是，阳极极片上阳极极耳之间的距离，从卷绕头端至尾端逐渐增大，具体可根据卷绕而事先计算设置；阴极极片上阴极极耳之间的距离，从卷绕头端至尾端逐渐增大，具体可根据卷绕而事先计算设置。关于极片的设置是本领域技术人员所熟知的，在此不再详细介绍。
对于卷芯，除了需要满足阴极极耳对齐、阳极极耳对齐外，还需要保持在卷芯的各段，第一隔膜和第二隔膜均超出两极片(阳极极片和阴极极片)的边缘，以更好地绝缘，防止短路；此外，阳极极片上的阳极涂层边界应该覆盖阴极涂层外界，如果覆盖不良，容易导致卷芯在循环充放电时刺穿隔膜，严重时甚至会导致燃爆，对电池的安全性影响极大。可以理解的是，如图2所示(为方便示意，图2中未示出第一隔膜和第二隔膜)，这里的覆盖是指在卷芯中心轴线方向，远离阳极极耳的阳极涂层边界超过远离阴极极耳的阴极涂层边界，靠近阳极极耳的阳极涂层边界超过靠近阴极极耳的阴极涂层边界。
为了监测卷芯中阳极极片和阴极极片之间的覆盖情况，在卷芯的卷绕制备阶段，采用卷芯卷绕覆盖检测设备，对阳极极片和阴极极片之间的覆盖情况进行实时检测。在一种实施方式中，采用相机获取进入卷针前的极片的图像，如图3所示，图3(a)是相机在阳极极片侧拍摄到的图像A，图3(b)为相机在阴极极片侧拍摄到的图像B，正常情况下，第一隔膜和第二隔膜重叠，以两个隔膜的边界为基准，根据图像A获取阳极极片上阳极涂层边界至隔膜边界的距离X1和X3，根据图像B获取阴极极片上阴极涂层边界至隔膜边界的距离X2和X4。从而，根据(X2-X1)和(X4-X3)则 可以分别确定阳极极片上两阳极涂层边界分别覆盖阴极极片上两阴极涂层边界。
然而，在卷绕过程中，由于震动或其它干扰因素，会导致第一隔膜和第二隔膜发生错位现象(如图3(a)中所示)，从而，在对图像A和图像B进行分析时，导致误抓隔膜边界，使得获取到的隔膜边界不准确，则上述距离X1、X2、X3和X4均不准确，使得覆盖检测结果不准确，误差较大，影响生产。
基于以上考虑，本申请发明人经过研究发现，可以分别在阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像(如图3(a)和图3(b)所示)中设置准确的基准线，以基准线为参考，获取两个阳极涂层边界分别至基准线的第一距离和第二距离，获取两个阴极涂层边界分别至基准线的第三距离和第四距离，从而，基于第一距离、第二距离、第三距离和第四距离即可准确检测出阳极极片与阴极极片之间的覆盖情况。
具体地，获取阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像，阳极涂层侧图像包括处于即将入卷状态下或卷绕状态下的阳极极片的图像，阴极涂层侧图像包括处于即将入卷状态下的阴极极片的图像。
根据阳极涂层侧图像，确定阳极涂层侧中远离极耳的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的第一距离、以及阳极涂层侧中靠近极耳的第二阳极涂层边界与第一基准线之间的第二距离。根据阴极涂层侧图像，确定阴极涂层侧中远离极耳的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的第三距离、以及阴极涂层侧中靠近极耳的第二阴极涂层边界与第二基准线之间的第四距离。
其中，第一基准线为用于采集阳极涂层侧图像的第一图像采集装置标定的基准线，第二基准线为用于采集阴极涂层侧图像的第二图像采集装置标定的基准线，由于第一基准线和第二基准线在同一坐标系中重合，例如第一基准线和第二基准线在世界坐标系重合。从而，可以根据第一距离和第三距离，确定第一阳极涂层边界是否覆盖第一阴极涂层边界，根据第二距离和第四距离，确定第二阳极涂层边界是否覆盖第二阴极涂层边界。
在上述方案中，通过将用于采集阳极涂层侧图像的第一图像采集装置的第一基准线和用于采集阴极涂层侧图像的第二图像采集装置的第二基准线设置为在同一坐标系中重合，例如第一基准线和第二基准线在世界坐标系重合。从而使得在阳极涂层侧图像中以第一基准线为参考计算得到的第一距离和在 阴极涂层侧图像中以第二基准线为参考计算得到的第三距离相当于是在同一坐标系中遵循同一基准线。并且，由于第一基准线和第二基准线是确定的，因此通过第一距离和第三距离能够准确判断第一阳极涂层边界是否覆盖第一阴极涂层边界。同理，在阳极涂层侧图像中以第一基准线为参考计算得到的第二距离和在阴极涂层侧图像中以第二基准线为参考计算得到的第四距离相当于是在同一坐标系遵循同一基准线，并且，由于第一基准线和第二基准线是确定的，因此，通过第二距离和第四距离能够准确判断第二阳极涂层边界是否覆盖第二阴极涂层边界。即通过上述方式，能准确检测电池卷芯卷绕过程中阳极极片与阴极极片之间的覆盖情况。
由于本申请实施例提供的方法涉及电池卷芯卷绕覆盖检测方法，该方法可以应用于电池卷芯卷绕覆盖检测设备。
可以理解的是，在进行卷绕检测时，电池卷芯卷绕覆盖检测设备设置于电池卷芯卷绕机周边或电池卷芯卷绕机上，与电池卷芯卷绕机配合使用，从而，可以将电池卷芯卷绕覆盖检测设备应用于电池卷芯卷绕机，为电池卷芯卷绕机提供覆盖检测功能。从而，电池卷芯卷绕机包括电池卷芯卷绕覆盖检测设备。
根据本申请的一些实施例，请参照图4，图4为本申请实施例提供的电池卷芯卷绕覆盖检测方法的一种流程示意图，该方法S200具体可以包括如下步骤：
S10：获取阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像。
阳极涂层侧图像包括处于即将入卷状态下或卷绕状态下的阳极极片的图像，阴极涂层侧图像包括处于即将入卷状态下的阴极极片的图像。
其中，卷绕状态是指卷绕进入卷针后的状态。如图5所示，卷绕状态可以理解为卷绕在卷针103上的状态。即将入卷状态是指准备入卷而未入卷的状态。如图5所示，即将入卷状态可以理解为经过导辊106后未进入卷针103前的状态。
如图5所示，当第一图像采集装置107正对卷针103采集阳极涂层侧图像时，阳极涂层侧图像包括卷绕状态下的阳极极片104的图像。当第一图像采集装置107正对处于导辊106后卷针前的阳极极片104采集阳极涂层侧图像时，阳极涂层侧图像包括即将入卷状态下的阳极极片104的图像。可选地，在另一实施例中，可调整第一图像采集装置107的位置，使得阳极涂层侧图 像包括卷绕状态下的阳极极片104的图像。
可以理解的是，为了拍摄到阴极极片105的图像，将第二图像采集装置108正对处于导辊106后卷针103前的阴极极片105采集阴极涂层侧图像，则阴极涂层侧图像包括即将入卷状态下的阴极极片105的图像。
S20：根据阳极涂层侧图像，确定阳极涂层侧中远离极耳的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的第一距离、以及阳极涂层侧中靠近极耳的第二阳极涂层边界与第一基准线之间的第二距离。
其中，第一基准线为用于采集阳极涂层侧图像的第一图像采集装置标定的基准线。
基于阳极极片一侧分布有极耳(这里的极耳也可以称为阳极极耳)，将远离极耳的阳极涂层边界称为第一阳极涂层边界，将靠近极耳的阳极涂层边界称为第二阳极涂层边界。图6(a)示出了一阳极涂层侧图像的示意图，如图6(a)所示，“0”和“4096”表示第一图像采集装置的视野范围，代表图像宽度方向共有4096个像素点，L1为第一基准线。可以理解的是，图6(a)中Y1为第一阳极涂层边界与第一基准线之间的第一距离，Y2为第二阳极涂层边界与第一基准线之间的第二距离。
该第一基准线是在第一采集装置上事先标定的。例如，第一基准线在图像坐标系中可以为阳极涂层侧图像的中位线，若第一图像采集装置的视野范围为(0,4096)，则阳极涂层侧图像的宽度为4096像素，第一基准线在2048像素处。可以理解的而是，第一基准线的像素位置的可取范围为(0,4096)。基于世界坐标系是现实空间中的绝对坐标系，当第一基准线在2048像素处，且阳极极片的周向中线位于第一图像采集装置的视野中间时，第一基准线(2048像素处)在世界坐标系中投影于阳极极片的周向中线。这里，可以理解的是，由于阳极极片入卷后是卷绕在卷针上，从而，周向中线指卷绕周向上的中位线。
S30：根据阴极涂层侧图像，确定阴极涂层侧中远离极耳的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的第三距离、以及阴极涂层侧中靠近极耳的第二阴极涂层边界与第二基准线之间的第四距离。
其中，第二基准线为用于采集阴极涂层侧图像的第二图像采集装置标定的基准线，第一基准线和第二基准线在同一坐标系中重合。
基于阴极极片一侧分布有极耳(这里的极耳也可以称为阴极极耳)，将 远离极耳的阴极涂层边界称为第一阴极涂层边界，将靠近极耳的阴极涂层边界称为第二阴极涂层边界。图6(b)示出了一阴极涂层侧图像的示意图，如图6(b)所示，“0”和“4096”表示第二图像采集装置的视野范围，代表图像宽度方向共有4096个像素点，L2为第二基准线。可以理解的是，图6(b)中Y3为第一阴极涂层边界与第二基准线之间的第三距离，Y4为第二阴极涂层边界与第二基准线之间的第四距离。
该第二基准线是在第二采集装置上事先标定的。例如，第二基准线在图像坐标系中可以为阴极涂层侧图像的中位线，若第二图像采集装置的视野范围为(0,4096)，则阴极涂层侧图像的宽度为4096像素，第二基准线在2048像素处。可以理解的而是，第二基准线的像素位置的可取范围为(0,4096)。基于世界坐标系是现实空间中的绝对坐标系，当第二基准线在2048像素处，且阴极极片的周向中线位于第二图像采集装置的视野中间时，第二基准线(2048像素处)在世界坐标系中投影于阴极极片的周向中线。这里，可以理解的是，由于阴极极片入卷后是卷绕在卷针上，从而，轴向中线指卷绕周向上的中位线。
这里，第一基准线和第二基准线在同一坐标系中重合。例如，第一基准线在世界坐标系中投影于阳极极片的周向中线，第二基准线在世界坐标系中投影于阴极极片的周向中线，而在实际卷绕中，阳极极片和阴极极片的周向中线可近似于重合，因此，第一基准线和第二基准线在世界坐标系中重合。
再例如，若阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像的大小相同，图像比例相同时，第一基准线和第二基准线位于同一像素处，例如均在2048像素处，则第一基准线和第二基准线在图像坐标系中重合。
S40：根据第一距离和第三距离，确定第一阳极涂层边界是否覆盖第一阴极涂层边界。
S50：根据第二距离和第四距离，确定第二阳极涂层边界是否覆盖第二阴极涂层边界。
由于第一基准线和第二基准线在同一坐标系中重合，即使第一基准线和第二基准线在两个独立的图像中，也可认为第一距离和第三距离是参考同一基准线计算得到的，第二距离和第四距离是参考同一基准线计算得到的，因此，可以根据第一距离和第三距离确定第一阳极涂层边界是否覆盖第一阴极涂层边界，例如第一距离大于第三距离，则确定第一阳极涂层边界覆盖第一 阴极涂层边界。同理，可以根据第二距离和第四距离确定第二阳极涂层边界是否覆盖第二阴极涂层边界，例如第二距离大于第四距离，则确定第二阳极涂层边界覆盖第二阴极涂层边界。
本申请实施例的技术方案中，通过将用于采集阳极涂层侧图像的第一图像采集装置的第一基准线和用于采集阴极涂层侧图像的第二图像采集装置的第二基准线设置为在同一坐标系中重合，例如第一基准线和第二基准线在世界坐标系重合，从而使得在阳极涂层侧图像中以第一基准线为参考计算得到的第一距离和在阴极涂层侧图像中以第二基准线为参考计算得到的第三距离相当于是在同一坐标系中遵循同一基准线。并且，由于第一基准线和第二基准线是确定的，因此通过第一距离和第三距离能够准确判断第一阳极涂层边界是否覆盖第一阴极涂层边界。同理，在阳极涂层侧图像中以第一基准线为参考计算得到的第二距离和在阴极涂层侧图像中以第二基准线为参考计算得到的第四距离相当于是在同一坐标系遵循同一基准线，并且，由于第一基准线和第二基准线是确定的，因此，通过第二距离和第四距离能够准确判断第二阳极涂层边界是否覆盖第二阴极涂层边界。即通过上述方式，能准确检测电池卷芯卷绕过程中阳极极片与阴极极片之间的覆盖情况。
根据本申请的一些实施例，可选地，阳极涂层侧图像中所包括的阳极极片与阴极涂层侧图像中所包括的阴极极片在电池卷芯中处于同一卷绕段；其中，该卷绕段包括至少一对目标阳极极耳和目标阴极极耳，该目标阳极极耳和目标阴极极耳相邻。
请参阅图7，由于阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像是在卷芯卷绕过程中拍摄的，且用于拍摄阳极涂层侧图像的第一图像采集装置107和用于拍摄阴极涂层侧图像的第二图像采集装置108安装设置在不同的位置，若第一图像采集装置107和第二图像采集装置108在同一时刻同时拍摄，则获取到的阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像不是同一卷绕段的图像。例如，如图7所示，图像1#和图像2#是分别由第一图像采集装置和第二图像采集装置在同一时刻获取，则在图像1#中的卷绕段和图像2#中的卷绕段不是同一段，从而，使得第一距离、第二距离的测量位置分别与第三距离、第四距离和测量位置在卷绕段上错位，影响覆盖检测结果的准确性。
为了避免第一距离、第二距离的测量位置分别与第三距离、第四距离的测量位置在卷绕段上错位的问题，设置第一图像采集装置和第二图像采集装 置对同一卷绕段拍摄，例如，卷绕段A传送至第二图像采集装置的视野范围内时，由第二图像采集装置拍摄获得阴极涂层侧图像，当卷绕段A传送至卷针上，即在第一图像采集装置的视野范围内时，由第一图像采集装置拍摄获取阳极涂层侧图像。从而，使得阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像分别是卷绕段A两面的图像，使得第一距离、第二距离的测量位置分别与第三距离、第四距离的测量位置在卷绕段上是同一位置，有益于检测结果的准确性。
此外，该卷绕段包括至少一对相邻的目标阳极极耳和目标阴极极耳，能够方便在进行图像分析时，以目标阳极极耳和目标阴极极耳为参考，能够方便抓取同一位置的阳极涂层边界和阴极涂层边界，使得覆盖检测结果更加准确。
本申请实施例的技术方案中，通过阳极涂层侧图像中所包括的阳极极片与阴极涂层侧图像中所包括的阴极极片在电池卷芯中处于同一卷绕段，使得第一距离和第三距离评价的是卷芯上同一位置的第一阳极涂层边界和第一阴极涂层边界之间的覆盖情况，同理，使得第二距离和第四距离评价的是卷芯上同一位置的第二阳极涂层边界和第二阴极涂层边界之间的覆盖情况。从而，能够确定卷心的同一位置上阳极极片和阴极极片之间的覆盖情况，使得覆盖检测更加准确。可以理解的是，该卷绕段包括至少一对相邻的目标阳极极耳和目标阴极极耳，能够方便在进行图像分析时，以目标阳极极耳和目标阴极极耳为参考，抓取同一位置的阳极涂层边界和阴极涂层边界，从而，有助于提高覆盖检测的准确性。
根据本申请的一些实施例，可选地，请参阅图8，前述步骤S20具体包括：
S21：通过阳极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的距离计算第一距离。
S22：通过阳极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第二阳极涂层边界与第一基准线之间的距离计算第二距离。
例如，如图9所示，阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像中的卷绕段包括相邻的目标阳极极耳C和目标阴极极耳D，若目标阳极极耳C和目标阴极极耳D之间间隔6mm，在进行图像分析时，可以在远离极耳侧取目标阳极极耳C上方3mm处一段边界像素，作为第一阳极涂层边界。通过第一阳极涂层边界和第一基准线之间的距离计算得到第一距离。可以在靠近极耳侧取目标阳极极耳C上方3mm处一段边界像素，作为第二阳极涂层边界。通过第二阳极 涂层边界和第一基准线之间的距离计算得到第二距离。
本申请实施例的技术方案中，通过以目标阳极极耳和目标阴极极耳为参考，使得用于计算第一距离的第一阳极涂层边界和用于计算第二距离的第二阳极涂层边界均位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间，即能够实现准确抓取同一位置的第一阳极涂层边界和第二阳极涂层边界，使得第一距离和第二距离反映同一位置处第一阳极涂层边界和第二阳极涂层边界分别和第一基线之间的距离。
根据本申请的一些实施例，可选地，请参阅图10，步骤S21具体包括：
S211：根据第一阳极涂层边界与第二阳极涂层边界之间的距离和阳极涂层在阳极涂层侧图像中所占用的像素点个数，确定阳极涂层像素当量。
S212：确定第一距离为阳极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的像素点数量和阳极涂层像素当量的乘积。
这里，第一阳极涂层边界与第二阳极涂层边界之间的距离相当于阳极极片的宽(以卷绕方向为长度方向)，阳极涂层像素当量反映阳极涂层侧图像中一个像素代表的距离，从而，将阳极极片的宽除以阳极涂层在阳极涂层侧图像中所占用的像素点个数，即可得到阳极涂层像素当量。
在确定阳极涂层像素当量后，将阳极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的像素点数量乘以阳极涂层像素当量，即可计算得到第一距离。例如，请再次参阅图9，在远离极耳侧取目标阳极极耳C上方3mm处的第一阳极涂层边界，然后，计算该第一阳极涂层边界与第一基准线之间的像素点数量，再乘以阳极涂层像素当量，得到第一距离。
本申请实施例的技术方案中，对阳极涂层侧图像进行分析，计算阳极涂层像素当量(即阳极涂层侧图像中一个像素代表的距离)，然后，通过阳极涂层像素当量和位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的像素点数量相乘，能够得到同一位置处准确的第一距离。
根据本申请的一些实施例，可选地，请参阅图11，步骤S22具体包括：
S221：根据第一阳极涂层边界与第二阳极涂层边界之间的距离和阳极涂层在阳极涂层侧图像中所占用的像素点个数，确定阳极涂层像素当量。
S222：确定第二距离为阳极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极 极耳之间的第二阳极涂层边界与第一基准线之间的像素点数量和阳极涂层像素当量的乘积。
同理，第一阳极涂层边界与第二阳极涂层边界之间的距离相当于阳极极片的宽(以卷绕方向为长度方向)，阳极涂层像素当量反映阳极涂层侧图像中一个像素代表的距离，从而，将阳极极片的宽除以阳极涂层在阳极涂层侧图像中所占用的像素点个数，即可得到阳极涂层像素当量。
在确定阳极涂层像素当量后，将阳极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第二阳极涂层边界与第一基准线之间的像素点数量乘以阳极涂层像素当量，即可计算得到第二距离。例如，请再次参阅图9，在靠近极耳侧取目标阳极极耳C上方3mm处的第二阳极涂层边界，然后，计算该第二阳极涂层边界与第一基准线之间的像素点数量，再乘以阳极涂层像素当量，得到第二距离。
本申请实施例的技术方案中，对阳极涂层侧图像进行分析，计算阳极涂层像素当量(即阳极涂层侧图像中一个像素代表的距离)，然后，通过阳极涂层像素当量和位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第二阳极涂层边界与第一基准线之间的像素点数量相乘，能够得到同一位置处准确的第二距离。
根据本申请的一些实施例，可选地，请参阅图12，步骤S30具体包括：
S31：通过阴极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的距离计算第三距离。
S32：通过阴极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第二阴极涂层边界与第二基准线之间的距离计算第四距离。
请再次参阅图9，阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像中的卷绕段包括相邻的目标阳极极耳C和目标阴极极耳D，若目标阳极极耳C和目标阴极极耳D之间间隔6mm，在进行图像分析时，可以在远离极耳侧取目标阴极极耳D下方3mm处一段边界像素，作为第一阴极涂层边界。通过第一阴极涂层边界和第二基准线之间的距离计算第三距离。可以在靠近极耳侧取目标阴极极耳D下方3mm处一段边界像素，作为第二阴极涂层边界。通过第二阴极涂层边界和第二基准线之间的距离计算第四距离。
本申请实施例的技术方案中，通过以目标阳极极耳和目标阴极极耳为参考，使得用于计算第三距离的第一阴极涂层边界和用于计算第四距离的第二阴极涂层边界均位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间，即能够实现准确抓 取同一位置的第一阴极涂层边界和第二阴极涂层边界，使得第三距离和第四距离反映同一位置处第一阴极涂层边界和第二阴极涂层边界分别和第二基线之间的距离。
根据本申请的一些实施例，可选地，请参阅图13，步骤S31具体包括：
S311：根据第一阴极涂层边界与第二阴极涂层边界之间的距离和阴极涂层在阴极涂层侧图像中所占用的像素点个数，确定阴极涂层像素当量。
S312：确定第三距离为阴极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的像素点数量和阳极涂层像素当量的乘积。
这里，第一阴极涂层边界与第二阴极涂层边界之间的距离相当于阴极极片的宽(以卷绕方向为长度方向)，阴极涂层像素当量反映阴极涂层侧图像中一个像素代表的距离，从而，将阴极极片的宽除以阴极涂层在阴极涂层侧图像中所占用的像素点个数，即可得到阴极涂层像素当量。
在确定阴极涂层像素当量后，将阴极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的像素点数量乘以阴极涂层像素当量，即可计算得到第三距离。例如，请再次参阅图8，在远离极耳侧取目标阳极极耳D下方3mm处的第一阴极涂层边界，然后，计算该第一阴极涂层边界与第二基准线之间的像素点数量，再乘以阴极涂层像素当量，得到第三距离。
本申请实施例的技术方案中，对阴极涂层侧图像进行分析，计算阴极涂层像素当量(即阴极涂层侧图像中一个像素代表的距离)，然后，通过阴极涂层像素当量和位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的像素点数量相乘，能够得到同一位置处准确的第三距离。
根据本申请的一些实施例，可选地，请参阅图14，步骤S32具体包括：
S321：根据第一阴极涂层边界与第二阴极涂层边界之间的距离和阴极涂层在阴极涂层侧图像中所占用的像素点个数，确定阴极涂层像素当量。
S322：确定第四距离为阴极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第二阴极涂层边界与第二基准线之间的像素点数量和阴极极片像素当量的乘积。
这里，第一阴极涂层边界与第二阴极涂层边界之间的距离相当于阴极极片的宽(以卷绕方向为长度方向)，阴极涂层像素当量反映阴极涂层侧图像 中一个像素代表的距离，从而，将阴极极片的宽除以阴极涂层在阴极涂层侧图像中所占用的像素点个数，即可得到阴极涂层像素当量。
在确定阴极涂层像素当量后，将阴极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第二阴极涂层边界与第二基准线之间的像素点数量乘以阴极涂层像素当量，即可计算得到第四距离。例如，请再次参阅图9，在靠近极耳侧取目标阳极极耳D下方3mm处的第二阴极涂层边界，然后，计算该第二阴极涂层边界与第二基准线之间的像素点数量，再乘以阴极涂层像素当量，得到第四距离。
本申请实施例的技术方案中，对阴极涂层侧图像进行分析，计算阴极涂层像素当量(即阴极涂层侧图像中一个像素代表的距离)，然后，通过阴极涂层像素当量和位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第二阴极涂层边界与第二基准线之间的像素点数量相乘，能够得到同一位置处准确的第四距离。
根据本申请的一些实施例，可选地，请参阅图15，步骤S40具体包括：
S41：如果第一距离减去第三距离得到的差值大于或等于第一预设阈值，则确定第一阳极涂层边界覆盖第一阴极涂层边界。
可以理解的是，在第一阳极涂层边界覆盖第一阴极涂层边界的情况下，需要第一距离大于第三距离即可。由于测量计算得到的第一距离和第三距离可能存在误差，为了减少测量误差对覆盖检测结果的影响。设置第一预设阈值，当第一距离减去第三距离得到的差值大于或等于第一预设阈值，才确定第一阳极涂层边界覆盖第一阴极涂层边界，使得覆盖检测结果更加谨慎，不会出现误检漏检。可以理解的是，第一预设阈值可由本领域技术人员根据实际情况而设置。
本申请实施例的技术方案中，通过设置第一预设阈值，使得第一距离大于第三距离的情况下，才确定第一阳极涂层边界覆盖第一阴极涂层边界，使得覆盖检测结果更加谨慎，能够避免测量误差来带的误判。
根据本申请的一些实施例，可选地，请参阅图16，步骤S50具体包括：
S51：如果第二距离减去第四距离得到的差值大于或等于第二预设阈值，则确定第二阳极涂层边界覆盖第二阴极涂层边界。
可以理解的是，在第二阳极涂层边界覆盖第二阴极涂层边界的情况下，需要第二距离大于第四距离即可。由于测量计算得到的第二距离和第四距离可能存在误差，为了减少测量误差对覆盖检测结果的影响。设置第二预设阈 值，当第二距离减去第四距离得到的差值大于或等于第二预设阈值，才确定第二阳极涂层边界覆盖第二阴极涂层边界，使得覆盖检测结果更加谨慎，不会出现误检漏检。可以理解的是，第二预设阈值可由本领域技术人员根据实际情况而设置。
本申请实施例的技术方案中，通过设置第二预设阈值，使得第二距离大于第四距离的情况下，才确定第二阳极涂层边界覆盖第二阴极涂层边界，使得覆盖检测结果更加谨慎，能够避免测量误差来带的误判。
根据本申请的一些实施例，可选地，如图17所示，在第二阴极涂层边界与阴极极耳之间设置有绝缘涂层。可以理解的是，绝缘涂层由绝缘材料制成。绝缘涂层能够防止因阳极涂层与阴极极片箔材接触而引起的内部短路。
对于卷芯，需要保持在卷芯的各段，绝缘涂层靠近阴极极耳的边界超过第二阳极涂层边界，第二阳极涂层边界超过第二阴极涂层边界，即绝缘涂层靠近阴极极耳的边界覆盖第二阳极涂层边界，第二阳极涂层边界覆盖第二阴极涂层边界。
请参阅图18，该方法S200还包括：
S60：根据阴极涂层侧图像，确定绝缘涂层靠近阴极极耳的边界与第二基准线之间的第五距离。
S70：根据第五距离和第二距离，确定绝缘涂层靠近阴极极耳的边界是否覆盖第二阳极涂层边界。
请再次参阅图17，Y1为第一阳极涂层边界与第一基准线之间的第一距离，Y2为第二阳极涂层边界与第一基准线之间的第二距离，Y3为第一阴极涂层边界与第二基准线之间的第三距离，Y4为第二阴极涂层边界与第二基准线之间的第四距离，Y5为绝缘涂层靠近阴极极耳的边界与第二基准线之间的第五距离。由上可知，第一基准线和第二基准线在同一坐标系中重合，即使第一基准线和第二基准线在两个独立的图像中，也可认为第五距离Y5和第二距离Y2是参考同一基准线计算得到的，因此，可以根据第五距离Y5和第二距离Y2确定绝缘涂层靠近阴极极耳的边界是否覆盖第二阳极涂层边界，例如若第五距离Y5大于第二距离Y2，则确定绝缘涂层靠近阴极极耳的边界覆盖第二阳极涂层边界。
本申请实施例的技术方案中，第二阴极涂层边界与阴极极耳之间设置有绝缘涂层，从而，可以根据阴极涂层侧图像，计算绝缘涂层靠近阴极极耳的 边界与第二基准线之间的第五距离，基于第一基准线和第二基准线在同一坐标系中重合，从而，以第二基准线为参考计算得到的第五距离和以第一基准线计算得到的第二距离遵循同一基准线，并且，第一基准线和第二基准线是确定的，因此，通过第五距离和第二距离能够准确判断绝缘涂层靠近阴极极耳的边界是否覆盖第二阳极涂层边界。
根据本申请的一些实施例，可选地，请参阅图19，前述步骤S70具体包括：
S71：如果第五距离减去第二距离得到的差值大于或等于第三预设阈值，则确定绝缘涂层靠近阴极极耳的边界覆盖第二阳极涂层边界。
可以理解的是，在绝缘涂层靠近阴极极耳的边界覆盖第二阳极涂层边界的情况下，需要第五距离大于第二距离即可。由于测量计算得到的第五距离和第二距离可能存在误差，为了减少测量误差对覆盖检测结果的影响。设置第三预设阈值，当第五距离减去第二距离得到的差值大于或等于第三预设阈值，才确定绝缘涂层靠近阴极极耳的边界覆盖第二阳极涂层边界，使得覆盖检测结果更加谨慎，不会出现误检漏检。可以理解的是，第一预设阈值可由本领域技术人员根据实际情况而设置。
本申请实施例的技术方案中，通过设置第三预设阈值，使得第五距离大于第二距离的情况下，才确定绝缘涂层靠近阴极极耳的边界覆盖第二阳极涂层边界，使得覆盖检测结果更加谨慎，能够避免测量误差来带的误判。
根据本申请的一些实施例，可选地，第一基准线为第一图像采集装置的视野中线，第二基准线为第二图像采集装置的视野中线。
请再次参阅图6，若第一图像采集装置的视野范围为(0,4096)，则阳极涂层侧图像的宽度为4096像素，第一基准线在2048像素处时，为第一图像采集装置的视野中线。可以理解的是，当第一基准线为第一图像采集装置的视野中线时，在获取到由第一图像采集装置拍摄到的阳极涂层侧图像后，可直接由阳极涂层侧图像的尺寸确定第一基准线，计算简单方便。
同理，若第一图像采集装置的视野范围为(0,4096)，则阳极涂层侧图像的宽度为4096像素，第一基准线在2048像素处时，为第一图像采集装置的视野中线。可以理解的是，当第二基准线为第二图像采集装置的视野中线时，在获取到由第二图像采集装置拍摄到的阴极涂层侧图像后，可直接由阴极涂层侧图像的尺寸确定第二基准线，计算简单方便。
本申请实施例的技术方案中，将第一基准线设置为第一图像采集装置的视野中线，将第二基准线设置为第二图像采集装置的视野中线，能够方便计算设备分别对阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像进行识别处理计算，有益于提高覆盖检测结果的准确性。
根据本申请的一些实施例，可选地，第一图像采集装置的视野中线位于阳极极片的周向中线位置，第二图像采集装置的视野中线位于阴极极片的周向中线位置。
在对由第一图像采集装置拍摄到的阳极涂层侧图像进行计算处理时，首先需要识别出阳极极片，若第一图像采集装置的视野中线位于阳极极片的周向中线位置，则阳极极片位于阳极涂层侧图像的中间。可以理解的是，由于阳极极片入卷后是卷绕在卷针上，从而，周向中线指卷绕周向上的中位线。
因此，在识别阳极极片时，可以直接以阳极涂层侧图像的中间为基础采用现有识别算法即可快速识别，节省寻找阳极极片的时间，提高运算效率和检测结果的准确性。其中，现有识别算法可以为本领域技术人员采用深度神经网络训练好的目标识别算法，或，现有识别算法也可以为像素对比法。
可以理解的是，第二图像采集装置的视野中线位于阴极极片的周向中线位置，也具有上述效果，在此不再赘述。
本申请实施例的技术方案中，第一图像采集装置的视野中线位于阳极极片的周向中线位置，使得阳极极片位于阳极涂层侧图像的中间，能够方便计算设备对阳极涂层侧图像进行识别处理计算，有益于提高覆盖检测结果的准确性。同理，第二图像采集装置的视野中线位于阴极极片的周向中线位置，使得阴极极片位于阴极涂层侧图像的中间，能够方便计算设备对阴极涂层侧图像进行识别处理计算，有益于提高覆盖检测结果的准确性。
根据本申请的一些实施例，可选地，第一图像采集装置包括红外光源和第一线扫描相机，第二图像采集装置包括可见光光源和第二线扫描相机。
其中，红外光源为以产生红外辐射为主要目的的非照明用电光源。红外辐射是波长大于红色光波长的一定范围的电磁辐射。这里，红外光源可以为红外灯，和第一线扫描相机配合使用。具体地，红外光源能够穿透隔膜，帮助第一线扫描相机获取阳极极片的图像，提高阳极涂层侧图像的质量。
第一线扫描相机可以为线阵电荷耦合器件(Charge Coupled Device，CCD)工业相机，由一行或多行感光芯片构成，拍照时，卷芯卷绕，形成相对运动， 获得阳极涂层侧图像。
可见光光源可以为发射白光的电光源。在可见光光源下，第二线扫描相机能够清晰拍摄到阴极涂层侧图像。
第二线扫描相机也可以为线阵电荷耦合器件(Charge Coupled Device，CCD)工业相机，由一行或多行感光芯片构成，拍照时，卷芯卷绕，形成相对运动，获得阴极涂层侧图像。
本申请实施例的技术方案中，第一图像采集装置采用红外光源和第一线扫描相机，一方面，第一线扫描相机能够连续拍摄到卷绕过程中卷芯的阳极极片，对卷芯进行实时监测，另外一方面，红外光源能够穿透隔膜，帮助第一线扫描相机获取阳极极片的图像，提高阳极涂层侧图像的质量。另外，第二图像采集装置采用可见光光源和第二线扫描相机，能够连续拍摄到卷绕过程中卷芯的阴极极片，对卷芯进行实时监测，可见光光源能够帮助第二线扫描相机获取清晰的阴极极片的图像，提高阴极涂层侧图像的质量。通过上述方式提高阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像的质量，有益于提高覆盖检测结果的准确性。
根据本申请的一些实施例，提供一种电池卷芯覆盖检测方法，被检测的电池卷芯包括：具有阳极涂层的阳极极片、具有阴极涂层的阴极极片、以及位于阳极极片和阴极极片之间的隔膜；检测方法应用于电池卷芯的卷绕制备阶段。
该方法包括：
(1)如图5所示，采用第一图像获取装置获取阳极涂层侧图像，阳极涂层侧图像包括处于卷绕状态下的阳极极片的图像，采用第二图像获取装置获取阴极涂层侧图像，阴极涂层侧图像包括处于即将入卷状态下的阴极极片的图像。
其中，第一图像获取装置包括红外光源和4K线扫描相机，第一图像获取装置的视野包括4096像素点，将其视野中线(2048像素处)标定为第一基准线。第二图像获取装置包括可见光光源和4K线扫描相机，第二图像获取装置的视野包括4096像素点，将其视野中线(2048像素处)标定为第二基准线。第一基准线和第二基准线在世界坐标系中重合。
阳极涂层侧图像中所包括的阳极极片与阴极涂层侧图像中所包括的阴极极片在电池卷芯中处于同一卷绕段；其中，该卷绕段包括至少一对目标阳极 极耳和目标阴极极耳，该目标阳极极耳和目标阴极极耳相邻。
(2)通过阳极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的距离计算第一距离；通过阳极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第二阳极涂层边界与第一基准线之间的距离计算第二距离
(3)通过阴极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的距离计算第三距离；通过阴极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的第二阴极涂层边界与第二基准线之间的距离计算第四距离。
(4)根据第一距离和第三距离，确定第一阳极涂层边界是否覆盖第一阴极涂层边界；根据第二距离和第四距离，确定第二阳极涂层边界是否覆盖第二阴极涂层边界。
本申请实施例的技术方案中，通过将用于采集阳极涂层侧图像的第一图像采集装置的第一基准线和用于采集阴极涂层侧图像的第二图像采集装置的第二基准线设置为在同一坐标系中重合，例如第一基准线和第二基准线在世界坐标系重合，从而使得在阳极涂层侧图像中以第一基准线为参考计算得到的第一距离和在阴极涂层侧图像中以第二基准线为参考计算得到的第三距离相当于是在同一坐标系中遵循同一基准线。并且，由于第一基准线和第二基准线是确定的，因此通过第一距离和第三距离能够准确判断第一阳极涂层边界是否覆盖第一阴极涂层边界。同理，在阳极涂层侧图像中以第一基准线为参考计算得到的第二距离和在阴极涂层侧图像中以第二基准线为参考计算得到的第四距离相当于是在同一坐标系遵循同一基准线，并且，由于第一基准线和第二基准线是确定的，因此，通过第二距离和第四距离能够准确判断第二阳极涂层边界是否覆盖第二阴极涂层边界。
阳极涂层侧图像中所包括的阳极极片与阴极涂层侧图像中所包括的阴极极片在电池卷芯中处于同一卷绕段，使得第一距离和第三距离评价的是卷芯上同一位置的第一阳极涂层边界和第一阴极涂层边界之间的覆盖情况。同理，使得第二距离和第三距离评价的是卷芯上同一位置的第二阳极涂层边界和第二阴极涂层边界之间的覆盖情况。从而，能够确定卷心的同一位置上阳极极片和阴极极片之间的覆盖情况，使得覆盖检测更加准确。可以理解的是，该卷绕段包括至少一对相邻的目标阳极极耳和目标阴极极耳，能够方便在进行 图像分析时，以目标阳极极耳和目标阴极极耳为参考，抓取同一位置的阳极涂层边界和阴极涂层边界，从而，有助于提高覆盖检测的准确性。
即通过上述方式，能准确检测电池卷芯卷绕过程中阳极极片与阴极极片之间的覆盖情况。
根据本申请的一些实施例，请参阅图20，本申请还提供了一种电池卷芯卷绕覆盖检测装置300，包括图像获取模块301、边界距离确定模块302和覆盖确定模块303。
图像获取模块301，用于获取阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像，阳极涂层侧图像包括处于即将入卷状态下或卷绕状态下的阳极极片的图像，阴极涂层侧图像包括处于即将入卷状态下的阴极极片的图像。
边界距离确定模块302，用于根据阳极涂层侧图像，确定阳极涂层侧中远离极耳的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的第一距离、以及阳极涂层侧中靠近极耳的第二阳极涂层边界与第一基准线之间的第二距离，其中，第一基准线为用于采集阳极涂层侧图像的第一图像采集装置标定的基准线。
其中，边界距离确定模块302还用于根据阴极涂层侧图像，确定阴极涂层侧中远离极耳的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的第三距离、以及阴极涂层侧中靠近极耳的第二阴极涂层边界与第二基准线之间的第四距离，其中，第二基准线为用于采集阴极涂层侧图像的第二图像采集装置标定的基准线，第一基准线和第二基准线在同一坐标系中重合。
覆盖确定模块303，用于根据第一距离和第三距离，确定第一阳极涂层边界是否覆盖第一阴极涂层边界；其中，覆盖确定模块303还用于根据第二距离和第四距离，确定第二阳极涂层边界是否覆盖第二阴极涂层边界。
在上述实施方式中，通过设置用于采集阳极涂层侧图像的第一图像采集装置的第一基准线和用于采集阴极涂层侧图像的第二图像采集装置的第二基准线在同一坐标系中重合，例如第一基准线和第二基准线在世界坐标系重合，从而使得边界距离确定302模块在阳极涂层侧图像中以第一基准线为参考计算得到的第一距离和在阴极涂层侧图像中以第二基准线为参考计算得到的第三距离相当于是在同一坐标系中遵循同一基准线。并且，由于第一基准线和第二基准线是确定的，因此，覆盖确定模块303通过第一距离和第三距离能够准确判断第一阳极涂层边界是否覆盖第一阴极涂层边界。同理，边界距离确定模块302在阳极涂层侧图像中以第一基准线为参考计算得到的第二距离 和在阴极涂层侧图像中以第二基准线为参考计算得到的第四距离相当于是在同一坐标系遵循同一基准线，并且，由于第一基准线和第二基准线是确定的，因此，覆盖确定模块303通过第二距离和第四距离能够准确判断第二阳极涂层边界是否覆盖第二阴极涂层边界。即通过上述方式，上述装置能准确检测电池卷芯卷绕过程中阳极极片与阴极极片之间的覆盖情况。
根据本申请的一些实施例，请参阅图21，本申请还提供了一种电池卷芯卷绕覆盖检测设备400，电池卷芯包括：具有阳极涂层的阳极极片、具有阴极涂层的阴极极片、以及位于阳极极片和阴极极片之间的隔膜。
检测设备400包括第一图像采集装置401、第二图像采集装置402、处理器403和存储器404，其中，第一图像采集装置401用于采集阳极涂层侧图像，阳极涂层侧图像包括处于入卷状态下或卷绕状态下的阳极极片的图像，第一基准线为第一图像采集装置401标定的基准线。第二图像采集装置402用于采集阴极涂层侧图像，阴极涂层侧图像包括处于入卷状态下的阴极极片的图像，第二基准线为第二图像采集装置402标定的基准线，第一基准线和第二基准线在同一坐标系中重合。
处理器403分别与第一图像采集装置401和第二图像采集装置402通信连接，以获取阳极涂层侧图像、阴极涂层侧图像、第一基准线和第二基准线。存储器404与处理器403通信连接，存储器404存储有可被处理器403执行的指令，指令被处理器403执行，以使处理器403能够执行本申请实施例中的电池卷芯卷绕覆盖检测方法。
其中，存储器404可以包括只读存储器和随机存取存储器，并向处理器提供指令和数据。存储器404的一部分还可以包括非易失性随机存取存储器(non-volatile random accedd memory，NVRAM)。存储器404存储有操作指令、可执行模块或者数据结构，或者它们的子集，或者它们的扩展集。
处理器403可以是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，本申请实施例中的电池卷芯卷绕覆盖检测方法的各步骤可以通过处理器403中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器403可以是通用处理器、数字信号处理器(diginal signal processing，DSP)、微处理器或微控制器，还可进一步包括专用集成电路(application specific integrated circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(field-programmable gate array，FPGA)或者其它可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。该 处理器可实现或者执行本申请实施例中的电池卷芯卷绕覆盖检测方法。
在上述实施例中，电池卷芯卷绕覆盖检测设备，能够准确检测卷绕过程中阳极极片与阴极极片之间的覆盖情况。
根据本申请的一些实施例，本申请还提供了一种电池卷芯卷绕机，其包括前述电池卷芯卷绕覆盖检测设备。
在上述实施例中，电池卷芯卷绕机具有准确的覆盖检测能力，有益于确保生产出来的电池卷芯合格。
可以理解的是，在进行卷绕检测时，电池卷芯卷绕覆盖检测设备设置于电池卷芯卷绕机周边或电池卷芯卷绕机上，与电池卷芯卷绕机配合使用，从而，可以将电池卷芯卷绕覆盖检测设备应用于电池卷芯卷绕机，为电池卷芯卷绕机提供覆盖检测功能。从而，电池卷芯卷绕机包括电池卷芯卷绕覆盖检测设备。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围，其均应涵盖在本申请的权利要求和说明书的范围当中。尤其是，只要不存在结构冲突，各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本申请并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。

Claims (16)

  1. 一种电池卷芯覆盖检测方法，其特征在于，所述电池卷芯包括：具有阳极涂层的阳极极片、具有阴极涂层的阴极极片、以及位于所述阳极极片和所述阴极极片之间的隔膜；
    所述检测方法应用于电池卷芯的卷绕制备阶段，所述方法包括：
    获取阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像，所述阳极涂层侧图像包括处于即将入卷状态下或卷绕状态下的阳极极片的图像，所述阴极涂层侧图像包括处于即将入卷状态下的阴极极片的图像；
    根据所述阳极涂层侧图像，确定所述阳极涂层侧中远离极耳的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的第一距离、以及所述阳极涂层侧中靠近极耳的第二阳极涂层边界与所述第一基准线之间的第二距离，其中，所述第一基准线为用于采集所述阳极涂层侧图像的第一图像采集装置标定的基准线；
    根据所述阴极涂层侧图像，确定所述阴极涂层侧中远离极耳的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的第三距离、以及所述阴极涂层侧中靠近极耳的第二阴极涂层边界与所述第二基准线之间的第四距离，其中，所述第二基准线为用于采集所述阴极涂层侧图像的第二图像采集装置标定的基准线，所述第一基准线和所述第二基准线在同一坐标系中重合；
    根据所述第一距离和所述第三距离，确定所述第一阳极涂层边界是否覆盖所述第一阴极涂层边界；
    根据所述第二距离和所述第四距离，确定所述第二阳极涂层边界是否覆盖所述第二阴极涂层边界。
  2. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述阳极涂层侧图像中所包括的阳极极片与所述阴极涂层侧图像中所包括的阴极极片在所述电池卷芯中处于同一卷绕段；
    其中，所述卷绕段包括至少一对目标阳极极耳和目标阴极极耳，所述目标阳极极耳和所述目标阴极极耳相邻。
  3. 根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述阳极涂层侧图像，确定所述阳极涂层侧中远离极耳的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的第一距离、以及所述阳极涂层侧中靠近极耳的第二阳极涂层边界与所述第一基准线之间的第二距离，包括：
    通过所述阳极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的所述第一阳极涂层边界与所述第一基准线之间的距离计算所述第一距离；
    通过所述阳极涂层侧图像中位于所述目标阳极极耳和所述目标阴极极耳之间的所述第二阳极涂层边界与所述第一基准线之间的距离计算所述第二距离。
  4. 根据权利要求3所述的方法，其特征在于，
    所述通过所述阳极涂层侧图像中位于目标阳极极耳和目标阴极极耳之间的所述第一阳极涂层边界与所述第一基准线之间的距离计算所述第一距离，包括：
    根据所述第一阳极涂层边界与所述第二阳极涂层边界之间的距离和所述阳极涂层在所述阳极涂层侧图像中所占用的像素点个数，确定阳极涂层像素当量；
    确定所述第一距离为所述阳极涂层侧图像中位于所述目标阳极极耳和所述目标阴极极耳之间的所述第一阳极涂层边界与所述第一基准线之间的像素点数量和所述阳极涂层像素当量的乘积；
    或，
    所述通过所述阳极涂层侧图像中位于所述目标阳极极耳和所述目标阴极极耳之间的所述第二阳极涂层边界与所述第一基准线之间的距离计算所述第二距离，包括：
    根据所述第一阳极涂层边界与所述第二阳极涂层边界之间的距离和所述阳极涂层在所述阳极涂层侧图像中所占用的像素点个数，确定阳极涂层像素当量；
    确定所述第二距离为所述阳极涂层侧图像中位于所述目标阳极极耳和所述目标阴极极耳之间的所述第二阳极涂层边界与所述第一基准线之间的像素点数量和所述阳极涂层像素当量的乘积。
  5. 根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述阴极涂层侧图像，确定所述阴极涂层侧中远离极耳的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的第三距离、以及所述阴极涂层侧中靠近极耳的第二阴极涂层边界与所述第二基准线之间的第四距离，包括：
    通过所述阴极涂层侧图像中位于所述目标阳极极耳和所述目标阴极极耳之间的所述第一阴极涂层边界与所述第二基准线之间的距离计算所述第三距 离；
    通过所述阴极涂层侧图像中位于所述目标阳极极耳和所述目标阴极极耳之间的所述第二阴极涂层边界与所述第二基准线之间的距离计算所述第四距离。
  6. 根据权利要求5所述的方法，其特征在于，
    所述通过所述阴极涂层侧图像中位于所述目标阳极极耳和所述目标阴极极耳之间的所述第一阴极涂层边界与所述第二基准线之间的距离计算所述第三距离，包括：
    根据所述第一阴极涂层边界与所述第二阴极涂层边界之间的距离和所述阴极涂层在所述阴极涂层侧图像中所占用的像素点个数，确定阴极涂层像素当量；
    确定所述第三距离为所述阴极涂层侧图像中位于所述目标阳极极耳和所述目标阴极极耳之间的所述第一阴极涂层边界与所述第二基准线之间的像素点数量和所述阳极涂层像素当量的乘积；
    或，
    所述通过所述阴极涂层侧图像中位于所述目标阳极极耳和所述目标阴极极耳之间的所述第二阴极涂层边界与所述第二基准线之间的距离计算所述第四距离，包括：
    根据所述第一阴极涂层边界与所述第二阴极涂层边界之间的距离和所述阴极涂层在所述阴极涂层侧图像中所占用的像素点个数，确定阴极涂层像素当量；
    确定所述第四距离为所述阴极涂层侧图像中位于所述目标阳极极耳和所述目标阴极极耳之间的所述第二阴极涂层边界与所述第二基准线之间的像素点数量和所述阴极极片像素当量的乘积。
  7. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一距离和所述第三距离，确定所述第一阳极涂层边界是否覆盖所述第一阴极涂层边界，包括：
    如果所述第一距离减去所述第三距离得到的差值大于或等于第一预设阈值，则确定所述第一阳极涂层边界覆盖所述第一阴极涂层边界。
  8. 根据权利要求1-7中任意一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二距离和所述第四距离，确定所述第二阳极涂层边界是否覆盖所述第二阴 极涂层边界，包括：
    如果所述第二距离减去所述第四距离得到的差值大于或等于第二预设阈值，则确定所述第二阳极涂层边界覆盖所述第二阴极涂层边界。
  9. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当在所述第二阴极涂层边界与阴极极耳之间设置有绝缘涂层时，所述方法还包括：
    根据所述阴极涂层侧图像，确定所述绝缘涂层靠近所述阴极极耳的边界与所述第二基准线之间的第五距离；
    根据所述第五距离和所述第二距离，确定所述绝缘涂层靠近所述阴极极耳的边界是否覆盖所述第二阳极涂层边界。
  10. 根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述根据所述第五距离和所述第二距离，确定所述绝缘涂层靠近所述阴极极耳的边界是否覆盖所述第二阳极涂层边界，包括：
    如果所述第五距离减去所述第二距离得到的差值大于或等于第三预设阈值，则确定所述绝缘涂层靠近所述阴极极耳的边界覆盖所述第二阳极涂层边界。
  11. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一基准线为所述第一图像采集装置的视野中线，所述第二基准线为所述第二图像采集装置的视野中线。
  12. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一图像采集装置的视野中线位于所述阳极极片的周向中线位置，所述第二图像采集装置的视野中线位于所述阴极极片的周向中线位置。
  13. 根据权利要求11或12所述的方法，其特征在于，所述第一图像采集装置包括红外光源和第一线扫描相机，所述第二图像采集装置包括可见光光源和第二线扫描相机。
  14. 一种电池卷芯卷绕覆盖检测装置，其特征在于，包括：
    图像获取模块，用于获取阳极涂层侧图像和阴极涂层侧图像，所述阳极涂层侧图像包括处于即将入卷状态下或卷绕状态下的阳极极片的图像，所述阴极涂层侧图像包括处于即将入卷状态下的阴极极片的图像；
    边界距离确定模块，用于根据所述阳极涂层侧图像，确定所述阳极涂层侧中远离极耳的第一阳极涂层边界与第一基准线之间的第一距离、以及所述阳极涂层侧中靠近极耳的第二阳极涂层边界与所述第一基准线之间的第二距 离，其中，所述第一基准线为用于采集所述阳极涂层侧图像的第一图像采集装置标定的基准线；
    其中，所述边界距离确定模块还用于根据所述阴极涂层侧图像，确定所述阴极涂层侧中远离极耳的第一阴极涂层边界与第二基准线之间的第三距离、以及所述阴极涂层侧中靠近极耳的第二阴极涂层边界与所述第二基准线之间的第四距离，其中，所述第二基准线为用于采集所述阴极涂层侧图像的第二图像采集装置标定的基准线，所述第一基准线和所述第二基准线在同一坐标系中重合；以及
    覆盖确定模块，用于根据所述第一距离和所述第三距离，确定所述第一阳极涂层边界是否覆盖所述第一阴极涂层边界；
    其中，所述覆盖确定模块还用于根据所述第二距离和所述第四距离，确定所述第二阳极涂层边界是否覆盖所述第二阴极涂层边界。
  15. 一种电池卷芯卷绕覆盖检测设备，其特征在于，所述电池卷芯包括：具有阳极涂层的阳极极片、具有阴极涂层的阴极极片、以及位于所述阳极极片和阴极极片之间的隔膜；
    所述检测设备包括：
    第一图像采集装置，用于采集阳极涂层侧图像，所述阳极涂层侧图像包括处于入卷状态下或卷绕状态下的阳极极片的图像，第一基准线为所述第一图像采集装置标定的基准线；
    第二图像采集装置，用于采集阴极涂层侧图像，所述阴极涂层侧图像包括处于入卷状态下的阴极极片的图像，第二基准线为所述第二图像采集装置标定的基准线，所述第一基准线和所述第二基准线在同一坐标系中重合；
    处理器，所述处理器分别与所述第一图像采集装置和所述第二图像采集装置通信连接，以获取所述阳极涂层侧图像、所述阴极涂层侧图像、所述第一基准线和所述第二基准线；
    存储器，所述存储器与所述处理器通信连接，所述存储器存储有可被所述处理器执行的指令，所述指令被所述处理器执行，以使所述处理器能够执行如权利要求1-14中任意一项所述的方法。
  16. 一种电池卷芯卷绕机，其特征在于，包括如权利要求15所述的电池卷芯卷绕覆盖检测设备。
CN202180091951.2A 2021-10-29 2021-10-29 一种电池卷芯卷绕覆盖检测方法、装置及设备 Pending CN116762205A (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/CN2021/127557 WO2023070552A1 (zh) 2021-10-29 2021-10-29 一种电池卷芯卷绕覆盖检测方法、装置及设备

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN116762205A true CN116762205A (zh) 2023-09-15

Family

ID=86158882

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202180091951.2A Pending CN116762205A (zh) 2021-10-29 2021-10-29 一种电池卷芯卷绕覆盖检测方法、装置及设备

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN116762205A (zh)
WO (1) WO2023070552A1 (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117109447B (zh) * 2023-10-24 2024-01-05 钛玛科（北京）工业科技有限公司 自适应极耳宽度检测方法、装置及设备
CN117638194B (zh) * 2024-01-26 2024-06-11 宁德时代新能源科技股份有限公司 电池生产系统和方法
CN117704968B (zh) * 2024-02-06 2024-05-14 钛玛科（北京）工业科技有限公司 一种基于图像投影的锂电卷绕OverHang检测方法及系统

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4595500B2 (ja) * 2004-11-17 2010-12-08 ソニー株式会社 巻回装置および巻きずれ検査方法
JP4716138B2 (ja) * 2008-01-11 2011-07-06 トヨタ自動車株式会社 電極巻取装置、帯状電極と帯状セパレータとのずれ検知方法、当該ずれ量測定方法、当該ずれ量補正方法、および、電極巻取方法
JP6246684B2 (ja) * 2014-09-08 2017-12-13 Ckd株式会社 検査装置及び捲回装置
CN109444145A (zh) * 2018-08-31 2019-03-08 广州超音速自动化科技股份有限公司 极片制片贴胶和极片纠偏检测方法、设备、介质及系统
JP2021061196A (ja) * 2019-10-08 2021-04-15 株式会社豊田自動織機 電極捲回装置及び電極捲回方法
CN112577421A (zh) * 2019-12-11 2021-03-30 广东利元亨智能装备股份有限公司 一种电芯检测方法、装置及设备
CN111416142B (zh) * 2020-03-31 2021-03-30 广东利元亨智能装备股份有限公司 电芯的纠偏方法、装置、纠偏控制设备和纠偏系统
CN113313677B (zh) * 2021-05-17 2023-04-18 武汉工程大学 一种卷绕锂电池x光图像的质量检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2023070552A1 (zh) 2023-05-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN116762205A (zh) 一种电池卷芯卷绕覆盖检测方法、装置及设备
US20240077432A1 (en) Cell detection method, apparatus, and system, computer device, and storage medium
WO2024108847A1 (zh) 辊、点检方法及装置、卷材传送方法及装置、设备、介质
WO2024032000A1 (zh) 裸电芯外观检测方法、装置、计算机设备和存储介质
CN109786853A (zh) 一种锂电池卷绕层边界位移的自动修正方法
WO2024124738A1 (zh) 光学检测装置、检测方法及装置、电子设备和存储介质
KR20240032094A (ko) 극편 표면 접착 검출 방법, 장치, 설비 및 극편 접착기
CN116523921B (zh) 一种针对极耳翻折情况的检测方法、装置和系统
CN117541592B (zh) 相机安装偏差的确定方法和视觉检测补偿方法
EP4382858A1 (en) Gap measurement device and gap measurement method
CN115839959A (zh) 极耳检测系统及极耳检测方法
CN217504721U (zh) 叠片电芯的极耳翻折检测装置及叠片设备
CN112819764B (zh) 一种堆叠燃料电池膜电极mea极位检测方法
WO2023202209A1 (zh) 对复合料带的阴极极片进行折角检测的方法、装置和系统
CN117630021A (zh) 焊接检测装置及焊接检测方法
US11875531B1 (en) Detection method, electronic device, and computer-readable storage medium
US11841328B2 (en) Method and device for testing electrode sheet
EP3328057A1 (en) Camera assembly, method for portrait tracking based on the same, and electronic device
CN115728386A (zh) 电池汇流排质量检测装置及方法
EP4230953A1 (en) Deviation detection method and deviation detection device
WO2024016266A1 (zh) 检测电芯组件的极耳外观的方法与装置、电子设备
CN220137711U (zh) 一种用于塔式光热场镜相机的标定装置
US20240230324A9 (en) Gap inspection apparatus and gap inspection method
US11935260B1 (en) Method and apparatus for measuring dimensions, and computer-readable storage medium
CN117638194B (zh) 电池生产系统和方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination