CN116758967A - 内存质量检测方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种内存质量检测方法及系统，该方法包括：基于第一预设内存测试参数，对待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定待检测内存的质量等级为第一等级；若测试未通过，基于第二预设内存测试参数，对待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定待检测内存的质量等级为第二等级；其中，第一预设内存测试参数和第二预设内存测试参数是基于多个不同加严程度的内存测试参数对样本内存进行测试所得到的测试结果确定得到的；第一等级对应的内存质量高于第二等级。本发明基于不同加严程度的内存测试参数对样本内存进行测试得到的多种预设内存测试参数，对待检测内存进行质量等级检测，实现了内存质量的精细化等级划分。
Description
技术领域
本发明涉及内存检测技术领域，尤其涉及一种内存质量检测方法及系统。
背景技术
内存(Memory)作为服务器的重要组成部件，用于暂时存储服务器运行过程中的一些临时数据和程序，例如，中央处理器(Central Processing Unit，简称CPU)产生的运算数据。由于服务器中所有程序的运行都在内存中进行，现有服务器在发生故障时，有很大一部分是由内存导致，内存的质量决定了服务器整体运行效率。
内存在生产过程中需要经历很多次检测，测试不通过的内存标记为不合格品，测试通过的内存为合格品，合格品在工厂进行生产组装后方可出厂。然而，现有内存测试只有统一的合格品鉴定标准，如焊接检测、外观检测和基础功能检测等，检测结果也仅包括合格与不合格两种标准，未对内存质量做进一步的细致化检测。
因此，现在亟需一种内存质量检测方法及系统来解决上述问题。
发明内容
针对现有技术存在的问题，本发明提供一种内存质量检测方法及系统。
本发明提供一种内存质量检测方法，包括：
基于第一预设内存测试参数，对待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第一等级；
若测试未通过，基于第二预设内存测试参数，对所述待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第二等级；
其中，所述第一预设内存测试参数和所述第二预设内存测试参数是基于多个不同加严程度的内存测试参数对样本内存进行测试所得到的测试结果确定得到的；所述第一等级对应的内存质量高于所述第二等级。
根据本发明提供的一种内存质量检测方法，在所述基于第一预设内存测试参数，对待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第一等级之前，所述方法还包括：
获取第一样本内存集合和第二样本内存集合，其中，所述第一样本内存集合为内存质量属于所述第一等级的第一样本内存的集合，所述第二样本内存集合为内存质量属于所述第二等级的第二样本内存的集合；
根据预设参数加严阈值和初始测试参数，生成多个不同加严程度的内存测试参数；
按照加严程度从高到低的顺序，将多个所述内存测试参数进行排序，并基于排序后的内存测试参数，分别对所述第一样本内存集合和所述第二样本内存集合进行内存测试；
根据所述第一样本内存集合对应的内存检测结果，从所述内存测试参数中确定所述第一预设内存测试参数，根据所述第二样本内存集合对应的内存检测结果，从所述内存测试参数中确定所述第二预设内存测试参数。
根据本发明提供的一种内存质量检测方法，所述基于排序后的内存测试参数，分别对所述第一样本内存集合和所述第二样本内存集合进行内存测试，包括：
基于排序后的内存测试参数，对所述第一样本内存集合进行内存测试，并将每一次测试通过的第一样本内存从所述第一样本内存集合中移除；
若所述第一样本内存集合中的第一样本内存的数量小于或等于预设数量，生成第三样本内存集合，并获取所述第三样本内存集合对应的内存检测结果；
基于排序后的内存测试参数，对所述第二样本内存集合进行内存测试，并将每一次测试通过的第二样本内存从所述第二样本内存集合中移除；
若所述第二样本内存集合中的第二样本内存的数量小于或等于所述预设数量，生成第四样本内存集合，并获取所述第四样本内存集合对应的内存检测结果。
根据本发明提供的一种内存质量检测方法，所述根据所述第一样本内存集合对应的内存检测结果，从所述内存测试参数中确定所述第一预设内存测试参数，根据所述第二样本内存集合对应的内存检测结果，从所述内存测试参数中确定所述第二预设内存测试参数，包括：
根据所述第三样本内存集合对应的内存检测结果，确定第一目标样本内存，并将所述第一目标样本内存通过内存测试时所对应的内存测试参数确定为所述第一预设内存测试参数；
根据所述第四样本内存集合对应的内存检测结果，确定第二目标样本内存，并将所述第二目标样本内存通过内存测试时所对应的内存测试参数确定为所述第二预设内存测试参数。
根据本发明提供的一种内存质量检测方法，所述获取第一样本内存集合和第二样本内存集合，包括：
获取多个已运行在客户端，且在预设运行时长内未出现内存报错情况的样本内存，构建得到所述第一样本内存集合；
获取多个老化测试通过的样本内存，构建得到所述第二样本内存集合。
根据本发明提供的一种内存质量检测方法，所述方法还包括：
根据所述待检测内存的内存测试结果，将所述待检测内划分到对应的样本内存集合中，得到更新后的第一样本内存集合或更新后的第二样本内存集合；
基于所述更新后的第一样本内存集合，对所述第一预设内存测试参数进行调整，或，基于所述更新后的第二样本内存集合，对所述第二预设内存测试参数进行调整。
根据本发明提供的一种内存质量检测方法，所述方法还包括：
若基于所述第二预设内存测试参数，对所述待检测内存进行的内存测试未通过，对所述待检测内存进行基础测试；
若所述基础测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第三等级，其中，所述第三等级对应的内存质量低于所述第二等级；
若所述基础测试未通过，确定所述待检测内存的质量等级为不合格等级。
本发明还提供一种内存质量检测系统，包括：
第一测试模块，用于基于第一预设内存测试参数，对待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第一等级；
第二测试模块，用于若测试未通过，基于第二预设内存测试参数，对所述待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第二等级；
其中，所述第一预设内存测试参数和所述第二预设内存测试参数是基于多个不同加严程度的内存测试参数对样本内存进行测试所得到的测试结果确定得到的；所述第一等级对应的内存质量高于所述第二等级。
本发明还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述内存质量检测方法。
本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述内存质量检测方法。
本发明提供的内存质量检测方法及系统，基于不同加严程度的内存测试参数对样本内存进行测试得到的多种预设内存测试参数，对待检测内存进行质量等级检测，提高了内存检测结果的准确性，实现了内存质量的精细化等级划分。
附图说明
为了更清楚地说明本发明或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图进行简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明提供的内存质量检测方法的流程示意图；
图2为本发明提供的基于不同加严程度测试参数的样本内存测试通过数量的示意图；
图3为本发明提供的预设内存测试参数的优化过程示意图；
图4为本发明提供的样本内存的分级采样流程图；
图5为本发明提供的内存质量等级的检测示意图；
图6为本发明提供的内存质量检测系统的结构示意图；
图7为本发明提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
内存是服务器的重要组成部件，在服务器使用过程中，内存报错对系统性能和稳定性有很大影响，内存故障可分为可纠正错误(Error Correcting Code，简称ECC)和不可纠正错误(Uncorrectable Error，简称UCE)，其中，ECC会占用CPU纠错资源，而UCE错误则会直接导致系统致命性的宕机，这些内存故障的产生主要是内存质量导致的。当前服务器故障中内存质量导致的问题占据了较高的比例，目前针对内存的检测过程，只有统一的合格品鉴定标准，仅对内存进行一些基础检测，对于测试通过的合格品，没有继续进行质量品质水平的划分，未区分出达到合格标准的内存中良品质量和优品质量的内存数量和占比情况，无法更加精细化地把控内存的整体质量分布情况。
本发明根据内存应用表现进行抽样检验，对抽样的各层级样本内存的关键工作参数进行逐级测试，通过参数分析数据，构建内存的良品质量和优品质量的质量标准，依据该质量标准实施对内存分级质量检测，并根据分级实施后的质量检测结果，完善分级参数标准，实现了内存质量等级的准确划分，从而精细化检测每批次内存的质量等级分布情况，提前预防批次问题。
图1为本发明提供的内存质量检测方法的流程示意图，如图1所示，本发明提供了一种内存质量检测方法，包括：
步骤101，基于第一预设内存测试参数，对待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第一等级。
在本发明中，基于前期已构建好的预设内存测试参数(即第一预设内存测试参数和第二预设内存测试参数)，对每批次到货的内存(即待检测内存)进行内存质量检验和分级。具体地，在本发明中，可通过测试软件，利用不同的关键参数，对内存质量进行检测，例如，基于不同的内存刷新(Refresh)参数，检测待检测内存的质量(如检测是否出现报错情况)，其中，预设内存检测参数至少包括两个，从而将内存质量等级划分为优品质量等级(即第一等级)和良品质量等级(即第二等级)。在对当前批次的内存进行质量检测时，首先采用参数更为严格的第一预设内存测试参数对各个内存进行质量检测，将测试结果未出现报错的内存(如数据未丢失，可正常保存数据等)，标记为优品等级的内存，将未通过第一预设内存测试参数检测的内存用于后续的检测。在本发明中，由于预设内存测试参数是基于多个不同加严程度的内存测试参数，对样本内存进行测试后自动生成的，避免了人为设置检测标准不统一，导致质量内存检测准确性存在偏差的问题。
步骤102，若测试未通过，基于第二预设内存测试参数，对所述待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第二等级；
其中，所述第一预设内存测试参数和所述第二预设内存测试参数是基于多个不同加严程度的内存测试参数对样本内存进行测试所得到的测试结果确定得到的；所述第一等级对应的内存质量高于所述第二等级。
在本发明中，将基于第一预设内存测试参数的标准检验测试通过的内存划分为优品质量等级；对于无法达到优品质量标准的内容，继续对相应的待检测内存进行第二预设内存测试参数的标准检测测试，将检测通过的内存划分为良品质量等级。
可选地，在上述实施例的基础上，所述方法还包括：
若基于所述第二预设内存测试参数，对所述待检测内存进行的内存测试未通过，对所述待检测内存进行基础测试；
若所述基础测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第三等级，其中，所述第三等级对应的内存质量低于所述第二等级；
若所述基础测试未通过，确定所述待检测内存的质量等级为不合格等级。
在本发明中，对于无法达到良品质量标准的内存，即未通过第二预设内存测试参数检测的内存，可以通过基础测试(即合格品标准检测，如通电测试)对内存进行复检，对于合格品标准检验测试通过的内存划分为合格品等级(即第三等级)，仍然无法达标的内存划分为不合格品等级。需要说明的是，待检测内存在前期已通过抽样检测方式进行相应的合格品标准检测，本发明提供的内存质量检测过程中的基础测试相当于是复检，对于前期合格品标准检测未抽检到的内存进行复检，可进一步提升检测准确性。
本发明提供的内存质量检测方法，基于不同加严程度的内存测试参数对样本内存进行测试得到的多种预设内存测试参数，对待检测内存进行质量等级检测，提高了内存检测结果的准确性，实现了内存质量的精细化等级划分。
在上述实施例的基础上，在所述基于第一预设内存测试参数，对待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第一等级之前，所述方法还包括：
获取第一样本内存集合和第二样本内存集合，其中，所述第一样本内存集合为内存质量属于所述第一等级的第一样本内存的集合，所述第二样本内存集合为内存质量属于所述第二等级的第二样本内存的集合；
根据预设参数加严阈值和初始测试参数，生成多个不同加严程度的内存测试参数；
按照加严程度从高到低的顺序，将多个所述内存测试参数进行排序，并基于排序后的内存测试参数，分别对所述第一样本内存集合和所述第二样本内存集合进行内存测试；
根据所述第一样本内存集合对应的内存检测结果，从所述内存测试参数中确定所述第一预设内存测试参数，根据所述第二样本内存集合对应的内存检测结果，从所述内存测试参数中确定所述第二预设内存测试参数。
在本发明中，首先获取两种质量等级标准的样本内存，即获取已确定为良品质量等级的样本内存集合和优品质量等级的样本内存集合。具体地，所述获取第一样本内存集合和第二样本内存集合，包括：
获取多个已运行在客户端，且在预设运行时长内未出现内存报错情况的样本内存，构建得到所述第一样本内存集合；
获取多个老化测试通过的样本内存，构建得到所述第二样本内存集合。
企业用户在内存到货入厂前，一般会再次对内存进行入厂检验测试，测试不通过的内存为不合格品，测试通过的内存为合格品，合格品的内存之后会进行老化测试，本发明将通过老化测试的内存定义为良品质量，从而作为第二样本内存。
进一步地，将老化测试通过的内存搭载在产品上，从而在用户端正常使用。用户端经过长时间的使用后，会出现一部分报错失效的内存，对于长时间使用仍未报错的内存，本发明将这些内存定义为优品质量，从而作为第一样本内存。本发明通过利用已有内存(如将已运行较长时间的内存作为样本)构建对应的样本内存集合进行测试，无需再采取相关测试确定样本内存的质量标准，在保证测试效率的同时，也使得样本内存的质量等级划分标准更为准确。
进一步地，在确定了样本内存集合之后，即选取在用户端长时间稳定应用的样本内存为第一样本集合，以及老化测试通过的样本内存为第二样本集合，进而对这两种样本内存集合进行抽样检验。具体地，在一实施例中，从SPEC基线开始(即初始测试参数)，设置内存的关键测试参数(如设置内存的Refresh参数)，再按照预设参数加严阈值(如按一定百分比)对关键测试参数进行逐级加严，例如，以初始测试参数为1进行说明，预设参数加严阈值为10％，在第一次加严后，得到内存测试参数对应的值为1+10％，在第二次加严后，得到的内存测试测试对应的值为1+20％，以此类推，从而形成多个不同加严程度的内存测试参数。在一实施例中，对于每一次加严后的内存测试参数，其测试通过的内存数量相比加严前的内存测试参数，一般会减少，因此，在整个加严测试过程中，对于一批样本内存，若当前加严后的内存测试参数下能通过的样本内存数量为零，此时不再继续进行内存测试参数加严，确定加严程度最高的内存测试参数。在另一实施例中，也可以通过设置一个较大加严程度的内存测试参数(即该内存测试参数保证当前内存测试下通过测试的样本内存数量为零)，进而再在这个内存测试参数的基础上，设置加严程度较低的内存测试参数。
然后，基于多个不同加严程度的内存测试参数，按照从高到低的顺序，分别对两个样本内存集合进行内存测试，并根据每一种加严程度的内存测试参数的测试结果，将每次通过的样本内存从集合中去除，进而根据相应样本内存集合中剩余的样本内存的测试结果，获取预设内存测试参数，即确定第一预设内存测试参数和第二预设内存测试参数。本发明通过不同加严程度的测试参数，根据样本内存的测试通过数量来确定预设内存测试参数，使得后续实际内存质量检测的标准更为准确。
在上述实施例的基础上，所述基于排序后的内存测试参数，分别对所述第一样本内存集合和所述第二样本内存集合进行内存测试，包括：
基于排序后的内存测试参数，对所述第一样本内存集合进行内存测试，并将每一次测试通过的第一样本内存从所述第一样本内存集合中移除；
若所述第一样本内存集合中的第一样本内存的数量小于或等于预设数量，生成第三样本内存集合，并获取所述第三样本内存集合对应的内存检测结果；
基于排序后的内存测试参数，对所述第二样本内存集合进行内存测试，并将每一次测试通过的第二样本内存从所述第二样本内存集合中移除；
若所述第二样本内存集合中的第二样本内存的数量小于或等于所述预设数量，生成第四样本内存集合，并获取所述第四样本内存集合对应的内存检测结果。
在本发明中，基于加严程度排序后的内存测试参数，分别对第一样本内存集合和第二样本内存集合中的样本内存进行内存测试，记录每个测试点(即每一种加严程度所对应的内存测试参数)可以测试通过的样本内存数量；同时，在每一个测试点，将测试通过的样本内存从相应的集合中去除，并继续对集合中剩余样本内存进行下一加严程度的测试，当集合中剩余样本内存数量满足预设条件时，例如，将第一样本内存集合(或第二样本内存集合)中剩余5％(预设数量可根据实际检测需求进行修改)的样本数量作为选取标准，从而构建新的样本内存集合，进而根据预设条件从这5％的样本内存中获取测试通过时所对应的内存测试参数，以确定第一预设内存测试参数和第二预设内存测试参数。
在上述实施例的基础上，所述根据所述第一样本内存集合对应的内存检测结果，从所述内存测试参数中确定所述第一预设内存测试参数，根据所述第二样本内存集合对应的内存检测结果，从所述内存测试参数中确定所述第二预设内存测试参数，包括：
根据所述第三样本内存集合对应的内存检测结果，确定第一目标样本内存，并将所述第一目标样本内存通过内存测试时所对应的内存测试参数确定为所述第一预设内存测试参数；
根据所述第四样本内存集合对应的内存检测结果，确定第二目标样本内存，并将所述第二目标样本内存通过内存测试时所对应的内存测试参数确定为所述第二预设内存测试参数。
图2为本发明提供的基于不同加严程度测试参数的样本内存测试通过数量的示意图，可参考图2所示，在本发明中，横坐标为测试参数加严程度，其加严程度从左往右逐渐减少，纵坐标为在该严程度下可以测试通过的样本内存数量，如图2所示，第二样本内存集合的整体参数加严程度略低于第一样本内存集合。由于每一个测试点下通过测试的样本内存，都会从相应集合中去除，当样本内存集合中的样本数量少于一定数量后，从剩余的样本内存中选取目标样本内存，并根据目标样本内存的测试通过所对应的内存测试参数，确定预设内存测试参数，例如，在一实施例中，以第一样本内存集合进行说明，假设样本总数量为100个，预设数量设置为5％，即当集合中剩余的样本数量为5个时，开始确定预设内存测试参数(即第一预设内存参数)，然后，继续对这5个样本内存进行测试，选取其中一个样本内存在通过测试时所对应的内存测试参数为第一预设内存参数。优选地，在另一实施例中，将上述实施例5个样本内存中，通过内存测试时所对应的最高加严程度的内存测试参数作为第一预设内存参数，即在100个样本内存中，按照加严程度的测试通过顺序，前95个样本内存的质量等级属于第一等级，第96个样本内存对应的预设内存参数作为第一等级和第二等级的分界线。需要说明的是，在本发明中，也可将5个样本内存中通过内存测试时所对应的最低加严程度的内存测试参数作为第一预设内存参数，以根据实际检测需求降低检测标准。相应地，对于第二预设内存测试参数也采用上述同样过程确定得到，可参考图2所示，第二预设内存测试参数所对应的加严程度，相比第一预设内存测试参数对应的加严程度会更低，使得处于第一预设内存测试参数与第二预设内存测试参数之间通过测试的样本内存确定为第二等级，而低于第二预设内存测试参数通过的样本内存仅可能属于第三等级或不合格等级。
在上述实施例的基础上，所述方法还包括：
根据所述待检测内存的内存测试结果，将所述待检测内划分到对应的样本内存集合中，得到更新后的第一样本内存集合或更新后的第二样本内存集合；
基于所述更新后的第一样本内存集合，对所述第一预设内存测试参数进行调整，或，基于所述更新后的第二样本内存集合，对所述第二预设内存测试参数进行调整。
图3为本发明提供的预设内存测试参数的优化过程示意图，可参考图3所示，在本发明中，首先选取样品内存，然后对样本内存进行抽样并分析内存测试参数，以确定各加严级别对应的参数标准；然后，根据不同加严等级下的样本内存的测试通过数据，构建相应的内存分级参数标准(即确定第一预设内存测试参数和第二预设内存测试参数)；最后，基于内存分级参数标准，对实际场景下的内存进行分级，并根据分级后的质量表现，继续优化内存分级参数标准，例如，根据分级之后的内存实际老化测试以及用户端应用结果，定期进行抽样优化，持续完善分级的参数管控标准，提高质量检测的准确性。在一实施例中，可根据实际质量检测需求，对第一预设内存测试参数和第二预设内存测试参数作进一步细分，即根据不同测试点的样本内存通过数量，再划分多个质量检测区间，从而制定更为细致化的质量检测标准，例如，针对第一预设内存测试参数，将加严程度更为严格的测试参数作为一个质量检测标准，从而在优品质量等级中再划分第一优品质量等级、第二优品质量等级和第三优品质量等级等(根据加严程度的减少，其对应质量等级也逐渐减少)。
图4为本发明提供的样本内存的分级采样流程图，可参考图4所示，在本发明中，选取入厂基础检验测试的内存样本为合格品样本A，若未通过基础检测测试，则将内存样本标记为不合格品；进而再对样本A进行老化测试，将通过老化测试的样本内存作为良品，标记为样本B，而未通过的样本A则确定其属于合格样本；接着，根据样本B在用户端长时间的稳定运行数据，确定是否为优品样本，即样本C，具体地，若样本B稳定运行时长超过预设时长，则将其标记为优品样本，否则，仅作为良品样本。
图5为本发明提供的内存质量等级的检测示意图，可参考图5所示，对于一批内存，首先按照优品标准进行检验测试，将通过的内存划分为优品等级；无法达到优品标准的内存，再进行良品标准检验测试，若通过该质量等级测试，将其划分为良品等级；若内存无法达到良品标准，可继续通过合格品标准进行检验测试，并将检测通过的内存划分为合格品等级，仍然无法达标的划分为不合格品等级。
本发明根据样本内存实际应用表现进行抽样检验，对抽样的各层级样本内存的关键工作参数进行逐级加严测试，根据参数分析结果制定不同的质量标准测试参数，从而依据相应标准的测试参数实施内存分级质量管控；同时，根据分级实施后的内存检测结果，完善质量标准测试参数，实现了内存质量等级的区分，可以精细化掌控每批次内存的质量等级分布情况，提前预防批次问题。
下面对本发明提供的内存质量检测系统进行描述，下文描述的内存质量检测系统与上文描述的内存质量检测方法可相互对应参照。
图6为本发明提供的内存质量检测系统的结构示意图，如图6所示，本发明提供了一种内存质量检测系统，包括第一测试模块601和第二测试模块602，其中，第一测试模块601用于基于第一预设内存测试参数，对待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第一等级；第二测试模块602用于若测试未通过，基于第二预设内存测试参数，对所述待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第二等级；其中，所述第一预设内存测试参数和所述第二预设内存测试参数是基于多个不同加严程度的内存测试参数对样本内存进行测试所得到的测试结果确定得到的；所述第一等级对应的内存质量高于所述第二等级。
本发明提供的内存质量检测系统，基于不同加严程度的内存测试参数对样本内存进行测试得到的多种预设内存测试参数，对待检测内存进行质量等级检测，提高了内存检测结果的准确性，实现了内存质量的精细化等级划分。
在上述实施例的基础上，所述系统还包括样本构建模块、测试参数生成模块、样本测试模块和测试参数处理模块，其中，样本构建模块用于获取第一样本内存集合和第二样本内存集合，其中，所述第一样本内存集合为内存质量属于所述第一等级的第一样本内存的集合，所述第二样本内存集合为内存质量属于所述第二等级的第二样本内存的集合；测试参数生成模块用于根据预设参数加严阈值和初始测试参数，生成多个不同加严程度的内存测试参数；样本测试模块用于按照加严程度从高到低的顺序，将多个所述内存测试参数进行排序，并基于排序后的内存测试参数，分别对所述第一样本内存集合和所述第二样本内存集合进行内存测试；测试参数处理模块用于根据所述第一样本内存集合对应的内存检测结果，从所述内存测试参数中确定所述第一预设内存测试参数，根据所述第二样本内存集合对应的内存检测结果，从所述内存测试参数中确定所述第二预设内存测试参数。
在上述实施例的基础上，所述样本测试模块具体用于：
基于排序后的内存测试参数，对所述第一样本内存集合进行内存测试，并将每一次测试通过的第一样本内存从所述第一样本内存集合中移除；若所述第一样本内存集合中的第一样本内存的数量小于或等于预设数量，生成第三样本内存集合，并获取所述第三样本内存集合对应的内存检测结果；基于排序后的内存测试参数，对所述第二样本内存集合进行内存测试，并将每一次测试通过的第二样本内存从所述第二样本内存集合中移除；若所述第二样本内存集合中的第二样本内存的数量小于或等于所述预设数量，生成第四样本内存集合，并获取所述第四样本内存集合对应的内存检测结果。
在上述实施例的基础上，所述测试参数处理模块具体用于：
根据所述第三样本内存集合对应的内存检测结果，确定第一目标样本内存，并将所述第一目标样本内存通过内存测试时所对应的内存测试参数确定为所述第一预设内存测试参数；根据所述第四样本内存集合对应的内存检测结果，确定第二目标样本内存，并将所述第二目标样本内存通过内存测试时所对应的内存测试参数确定为所述第二预设内存测试参数。
在上述实施例的基础上，所述样本构建模块包括第一构建单元和第二构建单元，其中，第一构建单元用于获取多个已运行在客户端，且在预设运行时长内未出现内存报错情况的样本内存，构建得到所述第一样本内存集合；第二构建单元用于获取多个老化测试通过的样本内存，构建得到所述第二样本内存集合。
在上述实施例的基础上，所述系统还包括测试参数调整模块，用于根据所述待检测内存的内存测试结果，将所述待检测内划分到对应的样本内存集合中，得到更新后的第一样本内存集合或更新后的第二样本内存集合；基于所述更新后的第一样本内存集合，对所述第一预设内存测试参数进行调整，或，基于所述更新后的第二样本内存集合，对所述第二预设内存测试参数进行调整。
在上述实施例的基础上，所述系统还包括基础测试模块，基础测试模块具体用于：
若基于所述第二预设内存测试参数，对所述待检测内存进行的内存测试未通过，对所述待检测内存进行基础测试；若所述基础测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第三等级，其中，所述第三等级对应的内存质量低于所述第二等级；若所述基础测试未通过，确定所述待检测内存的质量等级为不合格等级。
本发明提供的系统是用于执行上述各方法实施例的，具体流程和详细内容请参照上述实施例，此处不再赘述。
图7为本发明提供的电子设备的结构示意图，如图7所示，该电子设备可以包括：处理器(Processor)701、通信接口(Communications Interface)702、存储器(Memory)703和通信总线704，其中，处理器701，通信接口702，存储器703通过通信总线704完成相互间的通信。处理器701可以调用存储器703中的逻辑指令，以执行内存质量检测方法，该方法包括：基于第一预设内存测试参数，对待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第一等级；若测试未通过，基于第二预设内存测试参数，对所述待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第二等级；其中，所述第一预设内存测试参数和所述第二预设内存测试参数是基于多个不同加严程度的内存测试参数对样本内存进行测试所得到的测试结果确定得到的；所述第一等级对应的内存质量高于所述第二等级。
此外，上述的存储器703中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
另一方面，本发明还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被计算机执行时，计算机能够执行上述各方法所提供的内存质量检测方法，该方法包括：基于第一预设内存测试参数，对待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第一等级；若测试未通过，基于第二预设内存测试参数，对所述待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第二等级；其中，所述第一预设内存测试参数和所述第二预设内存测试参数是基于多个不同加严程度的内存测试参数对样本内存进行测试所得到的测试结果确定得到的；所述第一等级对应的内存质量高于所述第二等级。
又一方面，本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以执行上述各实施例提供的内存质量检测方法，该方法包括：基于第一预设内存测试参数，对待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第一等级；若测试未通过，基于第二预设内存测试参数，对所述待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第二等级；其中，所述第一预设内存测试参数和所述第二预设内存测试参数是基于多个不同加严程度的内存测试参数对样本内存进行测试所得到的测试结果确定得到的；所述第一等级对应的内存质量高于所述第二等级。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种内存质量检测方法，其特征在于，包括：
基于第一预设内存测试参数，对待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第一等级；
若测试未通过，基于第二预设内存测试参数，对所述待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第二等级；
其中，所述第一预设内存测试参数和所述第二预设内存测试参数是基于多个不同加严程度的内存测试参数对样本内存进行测试所得到的测试结果确定得到的；所述第一等级对应的内存质量高于所述第二等级。
2.根据权利要求1所述的内存质量检测方法，其特征在于，在所述基于第一预设内存测试参数，对待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第一等级之前，所述方法还包括：
获取第一样本内存集合和第二样本内存集合，其中，所述第一样本内存集合为内存质量属于所述第一等级的第一样本内存的集合，所述第二样本内存集合为内存质量属于所述第二等级的第二样本内存的集合；
根据预设参数加严阈值和初始测试参数，生成多个不同加严程度的内存测试参数；
按照加严程度从高到低的顺序，将多个所述内存测试参数进行排序，并基于排序后的内存测试参数，分别对所述第一样本内存集合和所述第二样本内存集合进行内存测试；
根据所述第一样本内存集合对应的内存检测结果，从所述内存测试参数中确定所述第一预设内存测试参数，根据所述第二样本内存集合对应的内存检测结果，从所述内存测试参数中确定所述第二预设内存测试参数。
3.根据权利要求2所述的内存质量检测方法，其特征在于，所述基于排序后的内存测试参数，分别对所述第一样本内存集合和所述第二样本内存集合进行内存测试，包括：
基于排序后的内存测试参数，对所述第一样本内存集合进行内存测试，并将每一次测试通过的第一样本内存从所述第一样本内存集合中移除；
若所述第一样本内存集合中的第一样本内存的数量小于或等于预设数量，生成第三样本内存集合，并获取所述第三样本内存集合对应的内存检测结果；
基于排序后的内存测试参数，对所述第二样本内存集合进行内存测试，并将每一次测试通过的第二样本内存从所述第二样本内存集合中移除；
若所述第二样本内存集合中的第二样本内存的数量小于或等于所述预设数量，生成第四样本内存集合，并获取所述第四样本内存集合对应的内存检测结果。
4.根据权利要求3所述的内存质量检测方法，其特征在于，所述根据所述第一样本内存集合对应的内存检测结果，从所述内存测试参数中确定所述第一预设内存测试参数，根据所述第二样本内存集合对应的内存检测结果，从所述内存测试参数中确定所述第二预设内存测试参数，包括：
根据所述第三样本内存集合对应的内存检测结果，确定第一目标样本内存，并将所述第一目标样本内存通过内存测试时所对应的内存测试参数确定为所述第一预设内存测试参数；
根据所述第四样本内存集合对应的内存检测结果，确定第二目标样本内存，并将所述第二目标样本内存通过内存测试时所对应的内存测试参数确定为所述第二预设内存测试参数。
5.根据权利要求2所述的内存质量检测方法，其特征在于，所述获取第一样本内存集合和第二样本内存集合，包括：
获取多个已运行在客户端，且在预设运行时长内未出现内存报错情况的样本内存，构建得到所述第一样本内存集合；
获取多个老化测试通过的样本内存，构建得到所述第二样本内存集合。
6.根据权利要求2所述的内存质量检测方法，其特征在于，所述方法还包括：
根据所述待检测内存的内存测试结果，将所述待检测内划分到对应的样本内存集合中，得到更新后的第一样本内存集合或更新后的第二样本内存集合；
基于所述更新后的第一样本内存集合，对所述第一预设内存测试参数进行调整，或，基于所述更新后的第二样本内存集合，对所述第二预设内存测试参数进行调整。
7.根据权利要求1所述的内存质量检测方法，其特征在于，所述方法还包括：
若基于所述第二预设内存测试参数，对所述待检测内存进行的内存测试未通过，对所述待检测内存进行基础测试；
若所述基础测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第三等级，其中，所述第三等级对应的内存质量低于所述第二等级；
若所述基础测试未通过，确定所述待检测内存的质量等级为不合格等级。
8.一种内存质量检测系统，其特征在于，包括：
第一测试模块，用于基于第一预设内存测试参数，对待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第一等级；
第二测试模块，用于若测试未通过，基于第二预设内存测试参数，对所述待检测内存进行内存测试，若测试通过，确定所述待检测内存的质量等级为第二等级；
其中，所述第一预设内存测试参数和所述第二预设内存测试参数是基于多个不同加严程度的内存测试参数对样本内存进行测试所得到的测试结果确定得到的；所述第一等级对应的内存质量高于所述第二等级。
9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述内存质量检测方法。
10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述内存质量检测方法。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202310594223.4A CN116758967A (zh) | 2023-05-24 | 2023-05-24 | 内存质量检测方法及系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202310594223.4A Pending CN116758967A (zh) | 2023-05-24 | 2023-05-24 | 内存质量检测方法及系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| CN (1) | CN116758967A (zh) |
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2023
- 2023-05-24 CN CN202310594223.4A patent/CN116758967A/zh active Pending
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