CN116735996A - 测试设备及测试方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种测试设备及测试方法。该测试设备包括若干测试模组及交换机。若干测试模组，各测试模组包括老化板及与老化板连接的控制主板；老化板上设置有测试卡槽；其中，不同测试模组的测试卡槽用于插置不同电压规格的待测器件；控制主板用来调节各老化板的电压规格；以对不同型号的待测器件进行测试；交换机，与各测试模组的控制主板连接，用于接收控制信号后，将控制信号传递给对应的控制主板，交换机还用于通过控制主板获取待测器件的工作状态。各测试模组相互独立，互不干扰。通过交换机给各测试模组的控制主板提供不同的控制信号，来调整各测试模组的老化板不同规格的电压，从而可以对多种不同电压规格的待测器件进行测试。

Description

测试设备及测试方法

技术领域

本申请涉及元器件测试的技术领域，特别是涉及一种测试设备及测试方法。

背景技术

ESD(Electro-Static Discharge，静电放电)器件是用于保护关键敏感器件免受来自外部静电的击伤的电子元件，其大规模应用在电路板上面。ESD器件批量生产过程中，需要抽检样品进行老化测试，以确保大批量生产的ESD器件电气参数达到相关的技术指标。

常规的器件老化方法是操作人员将ESD器件样品焊接在测试板上，然后在通电的条件下放入高温高湿箱进行老化，老化期间操作人员需定期一直或频繁对样品进行人工电压及电流状态监测。另一方面，当需要对数量众多的，不同电压规格的ESD器件进行老化测试时，需要通过众多接线给不同规格的ESD器件提供不同的电压，各规格的电压需要采用人工手动调节，测试效率低，人工投入成本大。

发明内容

本申请主要解决的技术问题是提供一种测试设备及测试方法，以解决电子元件的老化测试过程测试效率低，难以同时测试不同规格的电子元件的问题。

为解决上述技术问题，本申请采用的技术方案是：提供一种测试设备，该测试设备包括：若干测试模组，各所述测试模组包括老化板及与所述老化板连接的控制主板；所述老化板上设置有测试卡槽；其中，不同所述测试模组的测试卡槽用于插置不同电压规格的待测器件；所述控制主板用来调节各所述老化板的电压规格；以对不同型号的所述待测器件进行测试；交换机，与各所述测试模组的所述控制主板连接，用于接收控制信号后，将控制信号传递给对应的所述控制主板，所述交换机还用于通过所述控制主板获取所述待测器件的工作状态。

在一种可能的实施方式中，操作终端，与所述交换机连接，用于生成发送给各所述控制主板的所述控制信号，并接收所述工作状态进行显示。

在一种可能的实施方式中，所述老化板上设置有多个测试卡槽以及外部接口，所述外部接口连接所述控制主板以及所述测试卡槽，通过所述外部接口为所述测试卡槽提供电流并接收所述待测器件的工作状态后传递给所述控制主板。

在一种可能的实施方式中，所述测试卡槽包括开槽及设置在开槽内的插座连接器，所述插座连接器包括多个金属引脚，各所述金属引脚连接所述外部接口。

在一种可能的实施方式中，所述测试设备还包括若干测试板，与所述测试卡槽插置连接，所述测试板用于装载所述待测器件，所述待测器件通过所述测试板连接所述测试卡槽的插座连接器。

在一种可能的实施方式中，所述测试板上设置有正极金手指与负极金手指，当所述测试板插置于所述测试卡槽时，所述正极金手指与所述负极金手指均与所述金属引脚连接，所述正极金手指与所述负极金手指通过导电线路分别连接所述待测器件的正极与负极。

在一种可能的实施方式中，所述控制主板上设置有供电与监控模块、主控芯片及通信接口，所述供电与监控模块一端连接所述主控芯片，另一端连接所述外部接口，所述主控芯片还连接所述通信接口，所述通信接口还连接所述交换机。

在一种可能的实施方式中，所述供电与监控模块包括指定电压输出单元、电压监测单元及短路保护单元；所述指定电压输出单元与所述电压监测单元均连接所述主控芯片以及所述外部接口，所述指定电压输出单元用于为所述老化板提供固定电压，所述电压监测单元用于监测所述待测器件的工作状态；所述指定电压输出单元以及所述电压监测单元通过所述短路保护单元连接所述外部接口。

在一种可能的实施方式中，所述供电与监控模块包括多组供电与监控单元，各所述供电与监控单元均包括指定电压输出单元、电压监测单元及单路保护单元；所述老化板上设置有多个外部接口，各所述外部接口与各所述供电与监控单元连接，多个所述测试卡槽划分为多组卡槽组，各所述卡槽组与所述外部接口一一对应，分别连接。

为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种元器件的测试方法，该测试方法应用于上述实施例描述的测试设备，该测试方法包括：获取待测器件，将待测器件按电压规格划分为多组；将待测器件装载在老化板上，其中，不同电压规格的待测器件装载在不同的老化板上，将所述老化板放入高温高湿箱内；

通过各所述测试模组的所述控制主板给各所述老化板提供指定规格的电压，以使所述待测器件工作；通过所述控制主板实时读取所述待测器件的工作状态，并进行发送。

本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请提供一种测试设备及测试方法，测试设备包括多个测试模组，各测试模组相互独立，互不干扰。通过交换机给各测试模组的控制主板提供不同的控制信号，来调整各测试模组的老化板不同规格的电压，从而可以对多种不同电压规格的待测器件进行测试。另一方面，交换机连接各测试模组，获取各测试模组的老化板上的待测器件的工作状态，可以确定待测器件是否正常，不需要人工监测老化板的电压电流状态，从而实现自动监测，测试效率高，人工成本低。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：

图1是本申请测试设备一实施方式的结构示意框图；

图2是图1中的插座连接器的结构示意框图；

图3是图1中的测试板的结构示意框图；

图4是图1中的控制主板的结构示意图；

图5是图1的操作终端的显示界面示意图；

图6是本申请元器件的测试方法一实施方式的流程图。

附图说明：100、测试设备；10、测试模组；110、老化板；120、控制主板；130、交换机；140、操作终端；111、测试卡槽；112、外部接口；121、供电与监控模块；122、主控芯片；123、通信接口；112、插座连接器；113、金属引脚；150、测试板；151、正极金手指；152、负极金手指；153、待测器件；1211、指定电压输出单元；1212、电压监测单元；1213、短路保护单元。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，均属于本申请保护的范围。

在本申请实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请。在本申请实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上文清楚地表示其他含义，“多种”一般包含至少两种，但是不排除包含至少一种的情况。

应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

应当理解，本文中使用的术语“包括”、“包含”或者其他任何变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

下面结合附图和实施例对本申请提供的一种测试设备及测试方法进行详细描述。

请参阅图1至图5。图1是本申请测试设备一实施方式的结构示意框图。图2是图1中的插座连接器的结构示意框图。图3是图1中的测试板的结构示意框图。图4是图1中的控制主板的结构示意图。图5是图1的操作终端的显示界面示意图。如图1所示，在本实施方式中，该测试设备100包括测试模组10及交换机130。

测试设备100包括若干测试模组10，各测试模组10包括老化板110及与老化板110连接的控制主板120。老化板110上设置有测试卡槽111。其中，不同测试模组10的测试卡槽111用于插置不同电压规格的待测器件153。控制主板120用来调节各老化板110的电压规格。以对不同型号的待测器件153进行测试。具体地，本实施方式的测试设备100设置有多个测试模组10，各个测试模组10具有不同的电压规格输入，以能同时对多种不同电压规格的待测器件153进行测试。各控制主板120用于接收控制信号，来调节提供给各老化板110的电压规格，在测试过程中老化板110上待测器件153的工作状态还会传输给控制主板120，以监控待测器件153的工作。

交换机130与各测试模组10的控制主板120连接，用于接收控制信号后，将控制信号传递给对应的控制主板120，交换机130还用于通过控制主板120获取待测器件153的工作状态。具体地，交换机130同时连接各测试模组10的控制主板120，交换机130还连接操作终端140。起到信号中转的作用。在将不同电压规格的待测器件153插置在不同的测试模组10的测试卡槽111上后，管理员通过操作终端140发送控制信号给交换机130，再由交换机130将控制信号传递给各测试模组10的控制主板120，以控制各测试模组10提供给待测器件153的电压规格。其中交换机130与各测试模组10通过独立的线路进行信号传递，各个测试模组10给不同型号的待测器件153提供不同规格的电压，例如5V、7V、9V、15V、20V等。各个测试模组10彼此独立，互不干扰。在测试过程中，控制主板120读取老化板110的电压状态，采集待测器件153的电压状态信息，并通过交换机130将电压状态信息传递至外部终端进行显示。通过操作终端140可以直观显示各路测试模组10上的待测器件153的电压状态信息。对各电压规格型号的待测器件153进行测试和监控。

区别于现有技术，本申请提供一种测试设备100，该测试设备100包括多个测试模组10，各测试模组10相互独立，互不干扰。通过交换机130给各测试模组10的控制主板120提供不同的控制信号，来调整各测试模组10的老化板110不同规格的电压，从而可以对多种不同电压规格的待测器件153进行测试。另一方面，交换机130连接各测试模组10，获取各测试模组10的老化板110上的待测器件153的工作状态，可以确定待测器件153是否正常，不需要人工监测老化板110的电压电流状态，从而实现自动监测，测试效率高，人工成本低。

本实施方式中，测试设备100可以包括5个相互独立的测试模组10，各测试模组10可以给待测器件153提供例如5V、7V、9V、12V、15V的电压输出，来测试不同型号的待测器件153。在其他实施方式中，测试设备100也能设置有4个、6个、7个等其他数量的测试模组10，各测试模组10提供不同参数的电压输出，以测试不同电压型号的待测器件153。进一步地，在一些实施例中，交换机130与各测试模组10的控制主板120之间设置有射频开关，当需要测量的待测器件153的电压规格的型号的种类少于测试模组10的数量时，通过交换机130传输控制信号控制部分测试模组10关停，并控制对应射频开关处于断开状态，使工作状态的测试模组10的数量等于需要测量的待测器件153的电压规格的型号的种类。

在本实施方式中，测试设备100还包括操作终端140，操作终端140与交换机130连接，用于生成发送给各控制主板120的控制信号，并接收工作状态进行显示。具体地，交换机130接收到的各路测试模组10上的待测器件153的电压状态信息均发送给操作终端140，操作终端140编写的软件界面下，实时直观的显示各不同测试模组10的老化板110的电压状态信息，在老化测试器件，当某一个测试模组10的老化板110上的某一待测器件153异常，就会导致对应的测试板150电压异常，可以通过操作终端140的软件界面直观的显示出来，管理人员即可知道当前哪一个测试模组10的老化板110发生了异常。

在本申请中，以是对静电放电器件进行老化检测为例进行解释说明，在其他实施方式中，也可以对其他合理的电子元器件进行检测。

在本实施例中，老化板110上设置有多个测试卡槽111以及外部接口112，外部接口112连接控制主板120以及测试卡槽111，通过外部接口112为测试卡槽111提供电流并接收待测器件153的工作状态后传递给控制主板120。具体地，老化板110由外部接口112进行供电。测试卡槽111设置有多个，以便一次性能够测试更多的待测器件153。

在本实施例中，测试卡槽111包括开槽及设置在开槽内的插座连接器160，插座连接器160包括多个金属引脚113，各金属引脚113连接外部接口112。测试设备100还包括若干测试板150，测试板150与测试卡槽111插置连接，测试板150用于装载待测器件153，待测器件153通过测试板150连接测试卡槽111的插座连接器160。具体地，测试板150与测试卡槽111可插置连接。当测试板150插置在测试卡槽111内时，测试板150与插座连接器160上的多个金属引脚113连接，测试板150用于装载待测器件153，从而使待测器件153与插座连接器160连接后与外部接口112连接。从而外部接口112为测试卡槽111提供的电流能提供给各待测器件153。

在一些实施例中，测试板150上设置有正极金手指151与负极金手指152，当测试板150插置于测试卡槽111时，正极金手指151与负极金手指152均与金属引脚113连接，正极金手指151与负极金手指152通过导电线路分别连接待测器件153的正极与负极。具体地，各测试模组10的每个测试卡槽111中设置有多个金属引脚113，外部接口112连接控制主板120以及金属引脚113，为金属引脚113提供直流电。另外，测试板150上设置有正极金手指151与负极金手指152，当测试板150插置于测试卡槽111时，正极金手指151与负极金手指152均与金属引脚113连接，正极金手指151与负极金手指152通过导电线路分别连接待测器件153的正极与负极。测试板150的一端形成有测试金手指，测试金手指与金属引脚113一一对应，且在测试板150插置于测试卡槽111时，测试板150金手指与金属引脚113抵触连接。金属引脚113与测试板150金手指抵接，从而用于与待测器件153连接。这样，外部接口112所提供的电压通过金属引脚113、测试板150金手指后作用于待测器件153上，从而达到为待测器件153供电的目的。使用外部接口112是为了使直流电作用于待测器件153上，从而达到最佳的检测效果。其中，测试板150金手指包括正极金手指151以及负极金手指152。正极金手指151与负极金手指152在测试板150插置于测试卡槽111时，均与金属引脚113抵触连接。正极金手指151与负极金手指152通过导电线路分别连接待测器件153的正极与负极。本实施例中，每个测试模组10的老化板110上设置有多个测试卡槽111，在一些其他实施例中，根据实际需要，老化板110上最少可以只设置一个测试卡槽111。一般来说，待测器件153需要预先焊接至测试板150上。

控制主板120与老化板110连接，为老化板110以及待测器件153供电，并检测待测器件153的工作状态。控制主板120上设置有供电与监控模块121、主控芯片122及通信接口123，供电与监控模块121一端连接主控芯片122，另一端连接外部接口112，主控芯片122还连接通信接口123，通信接口123还连接交换机130。具体的，供电与监控模块121包括短路保护单元1213、指定电压输出单元1211以及电压监测单元1212。指定电压输出单元1211以及电压监测单元1212通过短路保护单元1213连接外部接口112，并且短路保护单元1213、指定电压输出单元1211与电压监测单元1212均连接主控芯片122。指定电压输出单元1211用于为老化板110提供固定电压，电压监测单元1212用于监测待测器件153的工作状态。短路保护单元1213连接指定电压输出单元1211与外部接口112，老化过程中测试器件发生短路异常时，可防止对整个老化测试系统正常运行造成影响。

短路保护单元1213采用硬件自动短路保护电路，测试器件发生短路后，将自动触发硬件保护机制，切断供电通路，避免对其他供电网络造成影响；指定电压输出单元1211采用类似电源多路复用器构成的电压供电网络，通过程序控制设置，可输出不同的供电电压，为测试器件提供匹配的供电电压；电压监测单元1212由外部电阻分压网络与主控芯片122内部的ADC部分构成，或者采用专业的ADC芯片，通过串口通信实时监控器件供电电压的变化。在本实施例中，短路保护单元1213、指定电压输出单元1211以及电压监测单元1212组成一个专用测试单元连接主控芯片122，而在其他实施例中，各单元之间或各单元与主控芯片122之间可以分别通过单独的线路连接。

进一步地，在本实施例中，供电与监控模块121包括多组供电与监控单元，各供电与监控单元均包括指定电压输出单元1211、电压监测单元1212及单路保护单元；老化板110上设置有多个外部接口112，各外部接口112与各供电与监控单元连接，多个测试卡槽111划分为多组卡槽组，各卡槽组与外部接口112一一对应，分别连接。具体地，为尽可能同时测量较多数量的待测元件，老化板110上设置有多个测试卡槽111。当测试卡槽111数量过多，通过唯一一外部接口112给各测试卡槽111供电容易产生信号串扰，且接收的待测器件153的工作状态信号的数据在操作终端140的界面显示时，若老化板110上某一测试卡槽111上的待测器件153出现异常，没法在老化板110上众多测试卡槽111上挑选出工作出现异常的测试卡槽111。在本实施方式中，将多个测试卡槽111划分为多个卡槽组，外部接口112也设置有多个，外部接口112的数量与卡槽组的数量相等。各卡槽组内的测试卡槽111与一对应的外部接口112连接，老化板110上外部接口112的数量与控制主板120上供电与监控单元的数量相等。从而将一个老化板110上的若干测试卡槽111分为多个独立的卡槽组，在接收各独立卡槽组的状态信息在操作终端140进行显示时，可以更细致展示各卡槽组的工作状态，避免老化板110上众多测试卡槽111某一卡槽异常时没法快速找出异常卡槽的问题。

其中，在本实施方式中，每一老化板110包括四个外部接口112，一个控制主板120包括四个供电与监控单元。而在其他实施方式中，每一老化板110可包括任意个外部接口112，一个控制主板120可以包括对应任意个供电与监控单元。在另外一些实施例中，外部接口112的数量与供电与监控单元的数量甚至可以不对应，只需要能够实现控制主板120可以为老化板110供电，并对老化板110进行检测即可。

交换机130与控制主板120连接，通过控制主板120获取待测器件153的工作状态，并进行发送。具体的，交换机130与控制主板120的通信接口123连接。其一端与控制主板120的通信接口123通信连接，另一端与操作终端140通信连接，接收操作终端140的指令并发送给控制主板120的主控芯片122，由主控芯片122控制供电与监控模块121的工作状态。交换机130还接收主控芯片122发出的供电与监控模块121的监控数据，此监控数据可以包括老化板110的测试卡槽111中插置的测试板150的工作状态，若出现异常数据，例如电压变化，还可加入时间标签，以得知出现异常数据的时间，从而进一步节约人力。每一控制主板120包括多个供电与监控模块121，每一老化板110包括多个外部接口112，一个供电与监控模块121连接一个外部接口112。操作终端140优选为用户电脑、个人计算机或其他终端。

在使用时，首先进行测试板150装载。将焊接有多颗待测器件153的测试板150依次插入到老化板110的各个测试卡槽111内，测试板150与插座连接器160连接。完成所有测试卡槽111的测试板150嵌入装配。按照这样的操作方式，将数量众多的测试板150依次插入到每个老化板110的测试卡槽111内。同时，可以对多个老化板110进行编号，并且还可对每个老化板110上的测试卡槽111分组进行编号，从而能够得知哪个测试板150上的待测器件153有问题。

然后，对测试板150进行供电。将老化板110全部放入到高温高湿箱的支架空间内，使用直流电源线缆连接控制主板120，使其获取指定测试电压。通过老化板110的外部接口112接入，给每片老化板110的每个测试卡槽111提供供电。这样，每片测试板150的正极金手指151均全部接入供电电压的正极，负极金手指152全部接入供电电压的负极，每个待测器件153在老化测试期间均处于指定测试电压上电状态。其中，根据各老化板110上相同型号的待测器件153的电压规格，指定的测试电压可通过主控芯片122进行电压参数的设置。

之后就可以进行测试板150工作状态实时监控。控制主板120通过编程控制，以及供电与监控模块121，实时读取每片装载有待测器件153的老化板110各路的电压状态，并将采集到的各路电压状态信息，按照专门的通信协议格式，使用通信接口123、交换机130连接的方式，上传这些电压状态信息到操作终端140。在编写的操作终端140软件界面下，实时直观的显示每个老化板110每一路的电压状态信息。在老化测试期间，当某一个测试板150上的某一颗待测器件153异常，就会导致对应的测试板150电压异常。此电压异常现象通过供电与监控模块121、主控芯片122、通信接口123以及交换机130传输到操作终端140，可以通过操作终端140的软件界面直观的显示出来，用户或工作人员即可知道当前是哪一片老化板110发生了异常。同时，如果待测器件153发生失效短路，将自动触发控制主板120的短路保护单元1213，切断相应老化板110的供电，自动避免了老化测试期间对其他待测器件153样品、供电模块的影响，确保了待测器件153长期老化实验过程中安全可靠，而又实时处于监控状态。

区别于现有技术，本申请提供一种测试设备100，测试设备100包括若干测试模组10与交换机130。各测试模组10相互独立，互不干扰。通过交换机130给各测试模组10的控制主板120提供不同的控制信号，来调整各测试模组10的老化板110不同规格的电压，从而可以对多种不同电压规格的待测器件153进行测试。另一方面，交换机130连接各测试模组10，获取各测试模组10的老化板110上的待测器件153的工作状态，可以确定待测器件153是否正常，不需要人工监测老化板110的电压电流状态，从而实现自动监测，测试效率高，人工成本低。

请参阅图6，图6是本申请元器件的测试方法一实施方式的流程图。优选的，元器件的测试方法使用上述实施例所述的测试设备。该测试方法包括：

S11：获取待测器件，将待测器件按电压规格划分为多组。

不同型号的待测器件在测试时需要提供不同规格的电压，例如5V、7V、9V、15V的电压输入。根据电压规格的不同将待测器件分类。

S12：将待测器件装载在老化板上，其中，不同电压规格的待测器件装载在不同的老化板上，将老化板放入高温高湿箱内。

将焊接有多颗同一电压规格待测器件的测试板依次插入到老化板的各个测试卡槽内，完成所有测试卡槽的测试板嵌入装配。按照这样的操作方式，将数量众多的测试板依次插入到每个老化板的测试卡槽内。同时，对多个老化板进行编号，并且还可对每个老化板上的测试卡槽分组后进行编号，从而能够得知哪个测试板上的待测器件有问题。

S13：通过各测试模组的控制主板给各老化板提供指定规格的电压，以使待测器件工作。

将老化板全部放入到高温高湿箱的支架空间内，使用直流电源线缆连接控制主板，使其获取指定的测试电压。通过老化板的外部接口接入，给每片老化板的每个测试卡槽提供供电。这样，每片测试板的正极金手指均全部接入供电电压的正极，负极金手指全部接入供电电压的负极，每个待测器件在老化测试期间均处于指定测试电压上电状态。其中，指定的测试电压可通过操作终端生成控制信号控制主控芯片进行不同电压参数的设置。

S14：通过控制主板实时读取待测器件的工作状态，并进行发送。

控制主板通过编程控制，以及供电与监控模块，实时读取每片装载有待测器件的老化板各路的电压状态，并将采集到的各路电压状态信息。按照专门的通信协议格式，使用通信接口、交换机连接的方式，上传这些电压状态信息到操作终端。在编写的操作终端软件界面下，实时直观的显示每个老化板每一路的电压状态信息。在老化测试期间，当某一个测试板上的某一颗待测器件异常，就会导致对应的测试板电压异常。此电压异常现象通过供电与监控模块、主控芯片、通信接口以及交换机传输到操作终端，可以通过操作终端的软件界面直观的显示出来，用户或工作人员即可知道当前是哪一片老化板发生了异常。

通过上述方式，各测试模组相互独立，互不干扰。通过交换机给各测试模组的控制主板提供不同的控制信号，来调整各测试模组的老化板不同规格的电压，从而可以对多种不同电压规格的待测器件进行测试。另一方面，交换机连接各测试模组，获取各测试模组的老化板上的待测器件的工作状态，可以确定待测器件是否正常，不需要人工监测老化板的电压电流状态，从而实现自动监测，测试效率高，人工成本低。以上所述仅为本申请的实施方式，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效原理变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种测试设备，其特征在于，包括：

若干测试模组，各所述测试模组包括老化板及与所述老化板连接的控制主板；所述老化板上设置有测试卡槽；其中，不同所述测试模组的测试卡槽用于插置不同电压规格的待测器件；所述控制主板用来调节各所述老化板的电压规格；以对不同型号的所述待测器件进行测试；

交换机，与各所述测试模组的所述控制主板连接，用于接收控制信号后，将控制信号传递给对应的所述控制主板，所述交换机还用于通过所述控制主板获取所述待测器件的工作状态。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，还包括：

操作终端，与所述交换机连接，用于生成发送给各所述控制主板的所述控制信号，并接收所述工作状态进行显示。

3.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，

所述老化板上设置有多个测试卡槽以及外部接口，所述外部接口连接所述控制主板以及所述测试卡槽，通过所述外部接口为所述测试卡槽提供电流并接收所述待测器件的工作状态后传递给所述控制主板。

4.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，

所述测试卡槽包括开槽及设置在开槽内的插座连接器，所述插座连接器包括多个金属引脚，各所述金属引脚连接所述外部接口。

5.根据权利要求4所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括

若干测试板，与所述测试卡槽插置连接，所述测试板用于装载所述待测器件，所述待测器件通过所述测试板连接所述测试卡槽的插座连接器。

6.根据权利要求5所述的测试设备，其特征在于，

所述测试板上设置有正极金手指与负极金手指，当所述测试板插置于所述测试卡槽时，所述正极金手指与所述负极金手指均与所述金属引脚连接，所述正极金手指与所述负极金手指通过导电线路分别连接所述待测器件的正极与负极。

7.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，

所述控制主板上设置有供电与监控模块、主控芯片及通信接口，所述供电与监控模块一端连接所述主控芯片，另一端连接所述外部接口，所述主控芯片还连接所述通信接口，所述通信接口还连接所述交换机。

8.根据权利要求7所述的测试设备，其特征在于，

所述供电与监控模块包括指定电压输出单元、电压监测单元及短路保护单元；所述指定电压输出单元与所述电压监测单元均连接所述主控芯片以及所述外部接口，所述指定电压输出单元用于为所述老化板提供固定电压，所述电压监测单元用于监测所述待测器件的工作状态；所述指定电压输出单元以及所述电压监测单元通过所述短路保护单元连接所述外部接口。

9.根据权利要求8所述的测试设备，其特征在于，

所述供电与监控模块包括多组供电与监控单元，各所述供电与监控单元均包括指定电压输出单元、电压监测单元及单路保护单元；

所述老化板上设置有多个外部接口，各所述外部接口与各所述供电与监控单元连接，多个所述测试卡槽划分为多组卡槽组，各所述卡槽组与所述外部接口一一对应，分别连接。

10.一种元器件的测试方法，应用于权利要求1-9任一项所述的测试设备，其特征在于，包括：

获取待测器件，将待测器件按电压规格划分为多组；

将待测器件装载在老化板上，其中，不同电压规格的待测器件装载在不同的老化板上，将所述老化板放入高温高湿箱内；

通过各所述测试模组的所述控制主板给各所述老化板提供指定规格的电压，以使所述待测器件工作；

通过所述控制主板实时读取所述待测器件的工作状态，并进行发送。