CN116698359A - 基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置及方法，该装置包括：能量‑时间纠缠双光子源，用于产生若干光信号，其中，所述光信号包括信号光子和闲置光子；偏振分光器，用于将所述信号光子和闲置光子进行分光，并使所述信号光子经过待测色散介质；由关联时间处理模块在符合测量积分窗口的宽度下对闲置光子到达第一单光子探测器的第一到达时间进行记录以及由关联时间处理模块在符合测量积分窗口的宽度下对信号光子到达第二单光子探测器的第二到达时间进行记录,根据第一到达时间、第二到达时间得到双光子相干时间宽度；关联时间处理模块，用于根据第一到达时间和第二到达时间得到符合计数；处理模块，用于根据所述符合计数得到对应双光子相干时间宽度，以根据所述双光子相干宽度和所述符合测量积分窗口的宽度计算待测色散介质的色散值。

Description

基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置及方法

技术领域

本发明属于色散测量技术领域，具体涉及一种基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置及方法。

背景技术

目前色散测量主要有两种，分别是相移法和白光干涉法。

相移法通过测量不同波长光信号经过色散介质后的相移量，计算出相对群时延。为了方便测量群时延，某一波长的光载波被正弦射频信号幅度调制后，被分为两路，一路直接连接到输出端，作为参考信号，另一路通过被测色散介质后作为被测信号，将参考信号与被测信号进行比对测量，即可得到随不同波长变化的相移量，进而得到相对群时延。结合群时延定义，再经拟合、微分，可进一步得到被测色散介质的色散曲线。

差分相移法是上述相移法的改进，通过将正弦射频信号分别幅度调制到两个不同波长的光载波上，并测量这两个光信号经过被测色散介质后的相对相移量，进而得到相对群时延。然而，相移法缺点在于如果选择的光载波波长远离参考波长时，或当相位差超过(-p, p)，该方法就难以精确分辨相移。所以为规避该色散测量方法中固有的测量模糊度问题，要求适当选择调制频率，并且波长调节的步长足够小，这样就需要精度足够高的可调谐光源，增加了测量成本。

白光干涉法采用宽带时间非相干光源结合麦克尔逊或马赫-曾德尔干涉仪实现。干涉仪的一臂为参考臂，另一臂包含待测色散介质，通过扫描两臂间的相对时间延迟，获得白光干涉图案。通过处理干涉图样，可提取两臂在不同波长下的相对相位，进而得到被测介质的色散特性。但该装置在使用过程中还需要一个相干涉仪的零时延基准参考和校准，实施较为复杂。

发明内容

为了解决现有技术中存在的上述问题，本发明提供了一种基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置及方法。本发明要解决的技术问题通过以下技术方案实现：

一种基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置，用于测量待测色散介质，包括：

能量-时间纠缠双光子源，用于产生若干光信号，其中，所述光信号包括信号光子和闲置光子；

偏振分光器，用于将所述信号光子和闲置光子进行分光，并使所述信号光子经过待测色散介质；

第一干涉模块，用于将闲置光子进行分束后分别输出至第一线路和第二线路，对经过第一线路的闲置光子进行时延后与第二线路的闲置光子进行合束,使得从第一线路和第二线路输入的闲置光子具有第一预设臂长差，以使第一单光子探测器对合束后的闲置光子探测后由关联时间处理模块在符合测量积分窗口的宽度下对闲置光子到达所述第一单光子探测器的第一到达时间进行记录；

第二干涉模块，用于将信号光子进行分束后分别输出至第三线路和第四线路，对经过第三线路的信号光子进行时延后与第四线路的信号光子进行合束,使得从第三线路和第四线路输入的信号光子具有第二臂长差，以使第二单光子探测器对合束后的信号光子探测后由关联时间处理模块在符合测量积分窗口的宽度下对信号光子到达所述第二单光子探测器的第二到达时间进行记录，其中，对经过第三线路的信号光子进行时延的长度由对经过第一线路的闲置光子进行时延的长度确定；

关联时间处理模块，用于根据第一到达时间和第二到达时间得到符合计数；

处理模块，用于根据所述符合计数得到对应双光子相干时间宽度，以根据所述双光子相干宽度和所述符合测量积分窗口的宽度计算待测色散介质的色散值。

在一个具体实施方式中，所述第一干涉模块包括：第一光纤分束器、第一单模光纤、第一光纤延迟单元、第一光纤合束器；

所述第一光纤分束器用于将闲置光子进行分束后通过第一线路输出至第一光纤延迟单元以及通过第二线路输出至第一单模光纤；

所述第一光纤延迟单元用于对闲置光子进行延时，使得从第一线路和第二线路输入的闲置光子具有第一预设臂长差；

第一光纤合束器，用于对通过第一单模光纤和第一光纤延迟单元输出的闲置光子进行合束。

在一个具体实施方式中，所述第二干涉模块包括：第二光纤分束器、第二单模光纤、第二光纤延迟单元、第二光纤合束器；

所述第二光纤分束器用于将信号光子进行分束后通过第三线路输出至第二光纤延迟单元以及通过第四线路输出至第二单模光纤；

所述第二光纤延迟单元用于对信号光子进行延时，使得从第三线路和第四线路输入的信号光子具有第二预设臂长差；

第二光纤合束器，用于对通过第二单模光纤和第二光纤延迟单元输出的信号光子进行合束。

在一个具体实施方式中，还包括：

第一偏振控制器，连接所述第一单模光纤，用于控制所述第一单模光纤的偏振特性，以使在第一线路和第二线路上传输的闲置光子具有相同的偏振；

第二偏振控制器，连接所述第二单模光纤，用于控制所述第二单模光纤的偏振特性，以使在第三线路和第四线路上传输的信号光子具有相同的偏振。

在一个具体实施方式中，所述第一预设臂长差与所述第二臂长差均为500ps-1ns。

在一个具体实施方式中，所述处理模块的计算公式为：，其 中，Δ₀为单光子相干时间宽度，τ为符合测量积分窗口的宽度，D为色散系数，Δ_FI为干涉图 谱宽度。

在一个具体实施方式中，当符合测量积分窗口宽度满足τ＜＜|D|/Δ₀时，所述处理模块的计算公式为：Δ_FI≈2|D|/τ，其中，Δ₀为单光子相干时间宽度，τ为符合测量积分窗口的宽度，D为色散系数，Δ_FI为干涉图谱宽度。

在一个具体实施方式中，所述第一干涉模块和所述第二干涉模块均为光纤不等臂马赫曾德干涉仪。

本发明同时提供一种基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量方法，应用于上述的基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置，该方法包括：

步骤1、调整第三线路的时延，使得关联时间处理模块测量在每一个延迟设定位置处信号光子与闲置光子的符合计数，由处理模块进行记录结果并画图拟合franson干涉；

步骤2、通过关联时间处理模块设置符合测量积分窗口的宽度τ，以确保信号光子和闲置光子经过色散介质和第一干涉模块、第二干涉模块后的时间关联分布完整包含在符合测量积分窗口的宽度区间内，重复步骤1，得到不受色散影响的Franson二阶量子干涉图谱，其宽度即为原始宽度Δ_0；

步骤3、利用关联时间处理模块将符合测量积分窗口的宽度设置为远小于信号光子和闲置光子的符合分布宽度，此时重复步骤2，得到对应的Franson二阶量子干涉图谱干涉宽度Δ_FI（τ）；

步骤4、根据步骤2和3分别得到的Δ₀和Δ_FI（τ），计算待测介质的色散值|D|。

在一个具体实施方式中，还包括：

步骤5、通过关联时间处理模块设置多个不同的符合测量积分窗口的宽度τ，并重复执行步骤2和3，得到多个对应的Franson二阶量子干涉图谱干涉宽度Δ_FI（τ），将多个不同的符合测量积分窗口的宽度τ与多个对应的Franson二阶量子干涉图谱干涉宽度Δ_FI（τ）进行曲线拟合，以根据拟合结果得到待测介质的色散值|D|。

本发明的有益效果：

本发明的基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置通过量子干涉技术，将光子进行偏振得到信号光子和闲置光子，并通过干涉装置实现Franson二阶量子干涉图谱测量，以根据测量到的Franson二阶量子干涉图谱的宽度与符合积分窗口宽度得到待测介质在所通过光子中心波长处的色散系数，从而使得色散系数测量不再受测量模糊度影响且不需要提供校准光源，从而保证对待测介质的色散系数的精确测量。

以下将结合附图及实施例对本发明做进一步详细说明。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置模块框图；

图2是本发明实施例提供的第一干涉模块的模块框图；

图3是本发明实施例提供的第二干涉模块的模块框图；

图4是本发明实施例提供的又一个第一干涉模块的模块框图；

图5是本发明实施例提供的又一个第二干涉模块的模块框图。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本发明做进一步详细的描述，但本发明的实施方式不限于此。

实施例一

在对本发明实施例进行说明之前，先对相关原理推导进行介绍。Franson二阶量子干涉图谱的可见度和宽度反映了能量-时间纠缠双光子源的纠缠质量和时间关联宽度。发明人发现，当能量-时间纠缠的双光子经过色散介质（如光纤）后，Franson二阶量子干涉图谱宽度将受符合测量积分宽度和色散系数的联合影响。基于此，通过采用连续激光源泵浦满足二类相位匹配条件的非线性光学晶体或波导（如PPKTP晶体、PPLN波导），基于参量下转换过程产生的具有时间-能量纠缠特性的双光子源偏振相互垂直且共线传输，其中水平偏振方向的光子被称为信号光子，竖直偏振的光子被称为闲置光子。干涉模块通过两个臂长差大于一定要求的不等臂干涉仪构成，其中的一个不等臂干涉仪输入端连接信号光子光路，另一个不等臂干涉仪输入端连接闲置光子光路，色散介质放在其中一臂。两个干涉模块的输出端分别接到一个单光子探测器上，并由事件计时器记录信号光子和闲置光子到达单光子探测器的时间，随后由关联时间处理模块实现对信号光子和闲置光子之间的符合分布测量和给定符合测量积分窗口下的Franson二阶量子干涉图谱测量。当选取符合测量积分的时间窗口足够小，且色散足够大时，测量到的Franson二阶量子干涉图谱的宽度与符合积分窗口宽度的比值即为待测介质在所通过光子中心波长处的色散系数。

假设该能量-时间纠缠双光子源的单光子相干时间宽度为Δ₀，符合测量积分选取 的时间窗口宽度为τ，色散介质插入信号光子一臂的传输路径上。当插入色散介质的色散系 数为D（指所通过光子中心频率处的色散系数）时，基于Franson二阶量子干涉测量装置获得 的干涉图谱宽度可表示为：，需要说明的是，这里给出的宽度 均为自然宽度，Franson二阶量子干涉图谱对应的半高全宽为。可以看到， 当符合测量积分窗口宽度满足τ＜＜|D|/Δ₀，可得到Δ_FI≈2|D|/τ，即：Franson二阶量子干 涉图谱的宽度为色散系数与符合测量积分窗口宽度的比值。因此，色散系数可通过测量到 的干涉宽度与符合测量积分窗口宽度的比值直接计算得到。该方法对于测量高色散介质的 色散系数尤其有用。而当τ＜＜|D|/Δ₀无法被满足时，由于符合测量积分窗口宽度可以通 过事后选择灵活改变，还可以通过干涉图谱宽度表示对于在不同窗口宽度下得到的二阶量 子干涉宽度结果进行拟合，进而得到色散系数。

根据Franson干涉条件的要求，两个光纤不等臂干涉仪的长臂和短臂的臂长差应同时满足远大于纠缠双光子源的单光子相干时间和远小于泵浦光相干时间的条件。假设光纤不等臂干涉仪的臂长差分别为ΔT1和ΔT2，需满足的关系可表示为：Δ₀＜＜ΔT1≈ΔT2＜＜TP，其中，Δ₀是单光子相干时间，由参量下转换条件下非线性介质的相位匹配宽度决定；TP为连续泵浦光的相干时间，一般的，两者相差至少一个数量级即可认为是远小于，例如Δ₀一般为皮秒级别，TP一般为百纳秒级别。

基于上述原理说明，请参见图1，图1是本发明实施例提供的一种基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置模块框图，包括：

能量-时间纠缠双光子源10，用于产生若干光信号，其中，所述光信号包括信号光子和闲置光子；

偏振分光器20，用于将所述信号光子和闲置光子进行分光，并使所述信号光子经过待测色散介质30；

第一干涉模块40，用于将闲置光子进行分束后分别输出至第一线路401和第二线路402，对经过第一线路401的闲置光子进行时延后与第二线路402的闲置光子进行合束使得从第一线路401和第二线路402输入的闲置光子具有第一预设臂长差，以使第一单光子探测器60对合束后的闲置光子探测后由关联时间处理模块80在符合测量积分窗口的宽度下对闲置光子到达所述第一单光子探测器60的第一到达时间进行记录；需要说明的是，第一预设臂长差根据具体情况进行设置，一般为500ps-1ns。

第二干涉模块50，用于将信号光子进行分束后分别输出至第三线路501和第四线路502，对经过第三线路501的信号光子进行时延后与第四线路502的信号光子进行合束使得从第三线路501和第四线路502输入的信号光子具有第二臂长差，以使第二单光子探测器70对合束后的信号光子探测后由关联时间处理模块80在符合测量积分窗口的宽度下对信号光子到达所述第二单光子探测器70的第二到达时间进行记录，其中，对经过第三线路501的信号光子进行时延的长度由对经过第一线路401的闲置光子进行时延的长度确定；

关联时间处理模块80，用于根据第一到达时间和第二到达时间得到符合计数；

处理模块90，用于根据所述符合计数得到对应双光子相干时间宽度，以根据所述双光子相干宽度和所述符合测量积分窗口的宽度计算待测色散介质的色散值。

在一个具体实施方式中，所述第一干涉模块40包括：第一光纤分束器41、第一单模光纤42、第一光纤延迟单元43、第一光纤合束器44；

所述第一光纤分束器41用于将闲置光子进行分束后通过第一线路401输出至第一光纤延迟单元43以及通过第二线路402输出至第一单模光纤42；其中，光纤分束器为50/50分束器。

所述第一光纤延迟单元43用于对闲置光子进行延时，使得从第一线路401和第二线路402输入的闲置光子具有第一预设臂长差；优选的第一光纤延迟单元43为手动光纤延迟线。

第一光纤合束器44，用于对通过第一单模光纤42和第一光纤延迟单元43输出的闲置光子进行合束，该第一光纤合束器为2´1光纤合束器。

在一个具体实施方式中，所述第二干涉模块50包括：第二光纤分束器51、第二单模光纤52、第二光纤延迟单元53、第二光纤合束器54；

所述第二光纤分束器51用于将信号光子进行分束后通过第三线路501输出至第二光纤延迟单元53以及通过第四线路502输出至第二单模光纤52；

所述第二光纤延迟单元43用于对信号光子进行延时，使得从第三线路501和第四线路502输入的信号光子具有第二预设臂长差；优选的第二光纤延迟单元43为电动光纤延迟线。

第二光纤合束器54，用于对通过第二单模光纤52和第二光纤延迟单元53输出的信号光子进行合束。

在一个具体实施方式中，还包括：

第一偏振控制器45，连接所述第一单模光纤42，用于控制所述第一单模光纤42的偏振特性，以使在第一线路401和第二线路402上传输的闲置光子具有相同的偏振；

第二偏振控制器55，连接所述第二单模光纤52，用于控制所述第二单模光纤52的偏振特性，以使在第三线路501和第四线路502上传输的信号光子具有相同的偏振。

在一个具体实施方式中，所述第一预设臂长差与所述第二臂长差均为500ps-1ns，且所述第一预设臂长差与所述第二臂长差不相同。

在一个具体实施方式中，所述处理模块的计算公式为：，其中， Δ₀为单光子相干时间宽度，τ为符合测量积分窗口的宽度，D为色散系数，Δ_FI为干涉图谱宽 度。

在一个具体实施方式中，当符合测量积分窗口宽度满足τ＜＜|D|/Δ₀时，所述处理模块的计算公式为：Δ_FI≈2|D|/τ，其中，Δ₀为单光子相干时间宽度，τ为符合测量积分窗口的宽度，D为色散系数，Δ_FI为干涉图谱宽度。

在一个具体实施方式中，所述第一干涉模块和所述第二干涉模块均为光纤不等臂马赫曾德干涉仪。

本实施例的基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置通过量子干涉技术，将光子进行偏振得到信号光子和闲置光子，并通过干涉装置实现Franson二阶量子干涉图谱测量，以根据测量到的Franson二阶量子干涉图谱的宽度与符合积分窗口宽度得到待测介质在所通过光子中心波长处的色散系数，从而使得色散系数测量不再受测量模糊度影响且不需要提供校准光源，从而保证对待测介质的色散系数的精确测量。

本发明同时提供一种基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量方法，其特征在于，应用于上述的基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置，该方法包括：

步骤1、调整第三线路的时延，使得关联时间处理模块测量在每一个延迟设定位置处信号光子与闲置光子的符合计数，由处理模块进行记录结果并画图拟合franson干涉，在进行第三线路时延调整时，需要保持第一线路的时延不变；

步骤2、通过关联时间处理模块设置符合测量积分窗口的宽度τ，以确保信号光子和闲置光子经过色散介质和第一干涉模块、第二干涉模块后的时间关联分布完整包含在符合测量积分窗口的宽度区间内，重复步骤1，得到不受色散影响的Franson二阶量子干涉图谱，其宽度即为原始宽度Δ_0；

步骤3、利用关联时间处理模块将符合测量积分窗口的宽度设置为远小于信号光子和闲置光子的符合分布宽度，此时重复步骤2，得到对应的Franson二阶量子干涉图谱干涉宽度Δ_FI（τ），即双光子相干宽度；

步骤4、根据步骤2和3分别得到的Δ₀和Δ_FI（τ），计算待测介质的色散值|D|。

在一个具体实施方式中，还包括：

步骤5、通过关联时间处理模块设置多个不同的符合测量积分窗口的宽度τ，并重复执行步骤2和3，得到多个对应的Franson二阶量子干涉图谱干涉宽度Δ_FI（τ），将多个不同的符合测量积分窗口的宽度τ与多个对应的Franson二阶量子干涉图谱干涉宽度Δ_FI（τ）进行曲线拟合，以根据拟合结果得到待测介质的色散值|D|。

需要说明的是，对于高色散介质的色散测量，可直接设置τ＜＜|D|/Δ₀，Franson二阶量子干涉图谱的宽度为待测介质在所通过光子中心波长处的色散系数与符合测量积分窗口宽度的比值。因此，色散系数可通过测量到的干涉宽度与符合测量积分窗口宽度的比值直接计算得到。

而对于同一待测色散介质在不同频率处的色散值测量，可以通过对本实施例中用于产生纠缠双光子源的非线性介质进行温度调节，通过改变非线性介质的工作温度，可以使得参量下转换产生的信号光子中心频率发生变化，进而通过本发明描述的测量装置即可实现在不同频率处色散介质的色散值。

Claims (10)

1.一种基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置，用于测量待测色散介质，其特征在于，包括：

能量-时间纠缠双光子源，用于产生若干光信号，其中，所述光信号包括信号光子和闲置光子；

偏振分光器，用于将所述信号光子和闲置光子进行分光，并使所述信号光子经过待测色散介质；

第一干涉模块，用于将闲置光子进行分束后分别输出至第一线路和第二线路，对经过第一线路的闲置光子进行时延后与第二线路的闲置光子进行合束,使得从第一线路和第二线路输入的闲置光子具有第一预设臂长差，以使第一单光子探测器对合束后的闲置光子探测后由关联时间处理模块在符合测量积分窗口的宽度下对闲置光子到达所述第一单光子探测器的第一到达时间进行记录；

第二干涉模块，用于将信号光子进行分束后分别输出至第三线路和第四线路，对经过第三线路的信号光子进行时延后与第四线路的信号光子进行合束,使得从第三线路和第四线路输入的信号光子具有第二臂长差，以使第二单光子探测器对合束后的信号光子探测后由关联时间处理模块在符合测量积分窗口的宽度下对信号光子到达所述第二单光子探测器的第二到达时间进行记录，其中，对经过第三线路的信号光子进行时延的长度由对经过第一线路的闲置光子进行时延的长度确定；

关联时间处理模块，用于根据第一到达时间和第二到达时间得到符合计数；

处理模块，用于根据所述符合计数得到对应双光子相干时间宽度，以根据所述双光子相干宽度和所述符合测量积分窗口的宽度计算待测色散介质的色散值。

2.根据权利要求1所述的基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置，其特征在于，所述第一干涉模块包括：第一光纤分束器、第一单模光纤、第一光纤延迟单元、第一光纤合束器；

所述第一光纤分束器用于将闲置光子进行分束后通过第一线路输出至第一光纤延迟单元以及通过第二线路输出至第一单模光纤；

所述第一光纤延迟单元用于对闲置光子进行延时，使得从第一线路和第二线路输入的闲置光子具有第一预设臂长差；

第一光纤合束器，用于对通过第一单模光纤和第一光纤延迟单元输出的闲置光子进行合束。

3.根据权利要求1所述的基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置，其特征在于，所述第二干涉模块包括：第二光纤分束器、第二单模光纤、第二光纤延迟单元、第二光纤合束器；

所述第二光纤分束器用于将信号光子进行分束后通过第三线路输出至第二光纤延迟单元以及通过第四线路输出至第二单模光纤；

所述第二光纤延迟单元用于对信号光子进行延时，使得从第三线路和第四线路输入的信号光子具有第二预设臂长差；

第二光纤合束器，用于对通过第二单模光纤和第二光纤延迟单元输出的信号光子进行合束。

4.根据权利要求3所述的基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置，其特征在于，还包括：

第一偏振控制器，连接所述第一单模光纤，用于控制所述第一单模光纤的偏振特性，以使在第一线路和第二线路上传输的闲置光子具有相同的偏振；

第二偏振控制器，连接所述第二单模光纤，用于控制所述第二单模光纤的偏振特性，以使在第三线路和第四线路上传输的信号光子具有相同的偏振。

5.根据权利要求1所述的基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置，其特征在于，所述第一预设臂长差与所述第二臂长差均为500ps-1ns。

6.根据权利要求1所述的基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置，其特征在 于，所述处理模块的计算公式为：，其中，Δ₀为单光子相干时间 宽度，τ为符合测量积分窗口的宽度，D为色散系数，Δ_FI为干涉图谱宽度。

7.根据权利要求1所述的基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置，其特征在于，当符合测量积分窗口宽度满足τ＜＜|D|/Δ₀时，所述处理模块的计算公式为：Δ_FI≈2|D|/τ，其中，Δ₀为单光子相干时间宽度，τ为符合测量积分窗口的宽度，D为色散系数，Δ_FI为干涉图谱宽度。

8.根据权利要求1所述的基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置，其特征在于，所述第一干涉模块和所述第二干涉模块均为光纤不等臂马赫曾德干涉仪。

9.一种基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量方法，其特征在于，应用于如权利要求1-8任一项所述的基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量装置，该方法包括：

步骤1、调整第三线路的时延，使得关联时间处理模块测量在每一个延迟设定位置处信号光子与闲置光子的符合计数，由处理模块进行记录结果并画图拟合franson干涉；

步骤2、通过关联时间处理模块设置符合测量积分窗口的宽度τ，以确保信号光子和闲置光子经过色散介质和第一干涉模块、第二干涉模块后的时间关联分布完整包含在符合测量积分窗口的宽度区间内，重复步骤1，得到不受色散影响的Franson二阶量子干涉图谱，其宽度即为原始宽度Δ_0；

步骤3、利用关联时间处理模块将符合测量积分窗口的宽度设置为远小于信号光子和闲置光子的符合分布宽度，此时重复步骤2，得到对应的Franson二阶量子干涉图谱干涉宽度Δ_FI（τ）；

步骤4、根据步骤2和3分别得到的Δ₀和Δ_FI（τ），计算待测介质的色散值|D|。

10.根据权利要求9所述的基于Franson二阶量子干涉技术的色散测量方法，其特征在于，还包括：

步骤5、通过关联时间处理模块设置多个不同的符合测量积分窗口的宽度τ，并重复执行步骤2和3，得到多个对应的Franson二阶量子干涉图谱干涉宽度Δ_FI（τ），将多个不同的符合测量积分窗口的宽度τ与多个对应的Franson二阶量子干涉图谱干涉宽度Δ_FI（τ）进行曲线拟合，以根据拟合结果得到待测介质的色散值|D|。