CN116659816A - 轴一致性检测系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种轴一致性检测系统及方法，涉及光学测量领域，轴一致性检测系统包括：指示激光发射器、观瞄激光发射器、测量升降架、测量主机、中控设备；指示激光发射器发射指示激光信号，观瞄激光发射器发射观瞄激光信号，设置在测量升降架上的测量主机，接收指示激光信号、观瞄激光信号并得到数字图像，进一步地，中控设备根据数字图像，分析被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性；保证测量精度的同时，解决了室外检测不易操作，易受人为主观因素影响的问题。

Description

轴一致性检测系统及方法

技术领域

本发明涉及光学测量领域，特别是涉及一种轴一致性检测系统及方法。

背景技术

随着光电技术的不断发展，集激光测距、可见光成像和红外成像等为一体的多传感器集成的光电武器设备，因其具有精度高、可靠性强等在各类武器装备上得已广泛的应用，其承担着观瞄、目标跟踪、方位指示等关键任务，大大提高了武器装备的作战能力，成为了各国发展武器装备的重点技术。要保证光电武器装备的功能首先要保证发射系统光轴无论在设计还是安装过程中都要保持高度一致性，因此，研究发射系统的轴一致性问题能够确保武器装备系统的瞄准精度等具有重大意义。

为保证检测仪器的精准检测，必须使各个光轴都达到一致性的要求。现有的室内环境中轴一致性检测方法有：平行光管法、离轴抛物镜法和靶标法；在室外环境下的主要检测方法有：投影靶标法、像纸法和CMOS法。现有的检测方法有很多问题存在，室内检测方法虽然精度较高，但使用场合有所限制，不适合外场检测；适合外场检测的方法对场地大小有一定要求，布站时间长、工作强度大、受环境影响大、测量效率和精度较低。

发明内容

本发明的目的是提供一种轴一致性检测系统及方法，可用来分析被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性，解决了室外检测不易操作，易受人为主观因素影响的问题。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

一种轴一致性检测系统，所述检测系统用于检测被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性，所述检测系统包括：

指示激光发射器，与所述被测产品的任一发射管同轴设置，用于发射指示激光信号；

观瞄激光发射器，与所述被测产品的观瞄装置同轴设置，用于发射观瞄激光信号；

测量升降架，跨设在所述指示激光信号及观瞄激光信号的传输光路上；

测量主机，设置在所述测量升降架上，用于接收所述指示激光信号、观瞄激光信号，并根据所述指示激光信号、观瞄激光信号得到数字图像；

中控设备，与所述测量主机连接，用于控制所述测量主机的运行，并根据所述数字图像，分析所述被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性。

可选地，所述测量主机包括：

测量主单元，设置在所述测量升降架上，与所述中控设备连接，用于接收所述指示激光信号或观瞄激光信号；

伸缩筒，内部中空且一端与所述测量主单元连接；

测量副单元，设置在所述伸缩筒的另一端，用于接收所述观瞄激光信号或指示激光信号，并通过所述伸缩筒将所述观瞄激光信号或指示激光信号传送至所述测量主单元；所述测量主单元根据所述指示激光信号、观瞄激光信号得到所述数字图像，并将所述数字图像传送至所述中控设备。

可选地，所述测量主单元包括：

套筒，设置在所述测量升降架上；

耦合棱镜，设置在所述套筒的一端，且与所述伸缩筒的一端连接，用于接收所述指示激光信号及观瞄激光信号；

接收物镜，与所述耦合棱镜相对应，设置在所述套筒内；

接收屏，与所述接收物镜相对应，设置在所述套筒内；所述指示激光信号或观瞄激光信号依次透射通过所述耦合棱镜、接收物镜后到达所述接收屏，产生第一光斑；所述观瞄激光信号或指示激光信号在所述耦合棱镜处发生折射后，透射通过所述接收物镜到达所述接收屏，产生第二光斑；

相机，设置在所述套筒的另一端，与所述中控设备连接，用于在所述中控设备的控制下运行，根据所述第一光斑、第二光斑得到所述数字图像，并将所述数字图像传输至所述中控设备。

可选地，所述测量副单元包括：

旋转结构，设置在所述伸缩筒的另一端；

反射棱镜，设置在所述旋转结构上，用于在所述旋转结构的带动下进行转动，接收所述观瞄激光信号或指示激光信号，并对所述观瞄激光信号或指示激光信号进行反射，反射后的所述观瞄激光信号或指示激光信号通过所述伸缩筒传送至所述测量主单元。

可选地，所述测量主机包括：

配重块，与所述伸缩筒对应，设置在所述测量主单元上。

可选地，所述中控设备包括：

测控电路，与所述测量主机连接，用于控制所述测量主机的运行，并获取所述数字图像；

数据处理单元，与所述测控电路连接，用于根据所述数字图像分析所述被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性。

可选地，所述测量升降架为龙门式结构，且设置有圆形水准仪。

可选地，所述测量主机的测角分辨率为2.6角秒，0.012mil，测角范围方位俯仰均为±0.7°，±11.67mil。

可选地，所述中控设备根据所述数字图像，分析所述被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性，具体包括：

根据所述数字图像，利用轴一致性原理公式，对所述被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性进行分析；

所述轴一致性原理公式为：

其中θ_x1为第一光斑在x轴方向的角度，θ_x2为第二光斑在x轴方向的角度，θ_y1为第一光斑在y轴方向的角度，θ_y2为第二光斑在y轴方向的角度，N₀为接收屏标定靶点间距所占像素值，N₁为第一光斑所占像元数，N₂为第二光斑所占像元数，D₀为接收屏标定靶点间距，f'为接收物镜的焦距。

为实现上述目的，本发明还提供了如下方案：

一种轴一致性检测方法，所述检测方法用于检测被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性，所述检测方法包括：

选择所述被测产品的任一发射管进行检测，对应所述发射管设置指示激光发射器，并利用机械定心机构令所述指示激光发射器与所述发射管同轴；

对应所述被测产品的观瞄装置设置观瞄激光发射器，令所述观瞄激光发射器与所述观瞄装置同轴；

通过所述指示激光发射器得到发射指示激光信号；

通过所述观瞄激光发射器得到观瞄激光信号；

通过设置在测量升降架上的测量主机，接收所述指示激光信号、观瞄激光信号，所述指示激光信号透射通过所述测量主机的接收物镜，在所述测量主机的接收屏上产生第一光斑，所述观瞄激光信号透射通过所述测量主机的接收物镜，在所述测量主机的接收屏上产生第二光斑；通过所述测量主机的相机，根据所述第一光斑、第二光斑得到数字图像；

根据所述数字图像，利用轴一致性原理公式，对所述被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性进行分析；

所述轴一致性原理公式为：

其中θ_x1为第一光斑在x轴方向的角度，θ_x2为第二光斑在x轴方向的角度，θ_y1为第一光斑在y轴方向的角度，θ_y2为第二光斑在y轴方向的角度，N₀为接收屏标定靶点间距所占像素值，N₁为第一光斑所占像元数，N₂为第二光斑所占像元数，D₀为接收屏标定靶点间距，f'为接收物镜的焦距。

根据本发明提供的具体实施例，本发明公开了以下技术效果：

本发明所提供的轴一致性检测系统，利用指示激光发射器发射指示激光信号，观瞄激光发射器发射观瞄激光信号，通过设置在测量升降架上的测量主机，接收指示激光信号、观瞄激光信号并得到数字图像，进一步地，中控设备根据数字图像，分析被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性；保证测量精度的同时，解决了室外检测不易操作，易受人为主观因素影响的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明轴一致性检测系统的组成框图；

图2为本发明轴一致性检测系统的一种实施例示意图；

图3为测量升降架结构示意图；

图4为测量主机结构示意图；

图5为测量主机内部结构示意图；

图6为测量光路示意图；

图7为本发明测量原理示意图1；

图8为本发明测量原理示意图2；

图9为本发明轴一致性检测方法流程图。

符号说明：

被测产品-01，发射管-02、观瞄装置-03、指示激光发射器-1，观瞄激光发射器-2，测量升降架-3，测量主机-4，测量主单元-41，套筒-411，耦合棱镜-412，接收物镜-413，接收屏-414，相机-415，伸缩筒-42，测量副单元-43，旋转结构-431，反射棱镜-432，配重块-44，中控设备-5，测控电路-51，数据处理单元-52。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明提供一种轴一致性检测系统及方法，解决了室外检测不易操作，易受人为主观因素影响的问题。

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

如图1、图2所示，本发明所提供的轴一致性检测系统，用于检测被测产品01的发射轴与瞄准轴的轴一致性，所述检测系统包括：指示激光发射器1、观瞄激光发射器2、测量升降架3、测量主机4和中控设备5。

所述指示激光发射器1与所述被测产品01的任一发射管同轴设置；所述指示激光发射器1用于发射指示激光信号。

所述观瞄激光发射器2与所述被测产品01的观瞄装置同轴设置；所述观瞄激光发射器2用于发射观瞄激光信号。

所述测量升降架3跨设在所述指示激光信号及观瞄激光信号的传输光路上。

所述测量主机4设置在所述测量升降架3上；所述测量主机4用于接收所述指示激光信号、观瞄激光信号，并根据所述指示激光信号、观瞄激光信号得到数字图像。

所述中控设备5与所述测量主机4连接；所述中控设备5用于控制所述测量主机4的运行，并根据所述数字图像，分析所述被测产品01的发射轴与瞄准轴的轴一致性。

本发明所提供的轴一致性检测系统，采用瞄准目标模拟光路(瞄准轴)和激光接收(发射轴)光路共光路耦合结构，通过对激光光斑图像进行数字化测量，不受激光波长的限制，既可检测可见光，也可检测近红外光，具有测量精度高、适用性强、可在亮场环境下进行检测的特点。

此外，指示激光发射器1专门设计高精度的机械定心机构，定心轴线角度偏差不大于0.3mil，保证了指示激光信号与发射管轴线一致。通过设置指示激光发射器1，利用可见的激光指示被测产品的发射管轴线，实现发射管轴线在测量靶板的投影可视化，方便测量主机4的视觉对准读数。

示例性地，指示激光信号波长采用绿光，观瞄激光信号波长采用红光，如此，不仅增加激光信号的区分度，还可增加人眼的敏感度，保证在较强背景照度环境下也可以清晰可见。

进一步地，如图3所示，所述测量升降架3为龙门式结构，且设置有圆形水准仪。所述测量升降架3能够完成二维倾斜调整，实现所述测量主机4的上下位置升降调节。此外，固定测量主机4的工作台既可以电动控制操作，同时兼顾人工操作；操作人员站在阶梯式工作平台或地面，这样测量时不会触碰被测产品，亦不会触碰升降台，以免振动或位置变化造成测量误差。

具体地，所述测量主机4的测角分辨率为2.6角秒，0.012mil，测角范围方位俯仰均为±0.7°，±11.67mil。

如图4所示，所述测量主机4包括：测量主单元41、伸缩筒42和测量副单元43。

所述测量主单元41设置在所述测量升降架3上，与所述中控设备5连接；所述测量主单元41用于接收所述指示激光信号或观瞄激光信号。

所述伸缩筒42内部中空且一端与所述测量主单元41连接。

所述测量副单元43设置在所述伸缩筒42的另一端；所述测量副单元43用于接收所述观瞄激光信号或指示激光信号，并通过所述伸缩筒将所述观瞄激光信号或指示激光信号传送至所述测量主单元；所述测量主单元根据所述指示激光信号、观瞄激光信号得到所述数字图像，并将所述数字图像传送至所述中控设备。

进一步地，所述测量主机4还包括：配重块44。

所述配重块44与所述伸缩筒42对应，设置在所述测量主单元41上。通过设置所述配重块44，配重平衡测量副单元43的力矩，便于测量副单元43的转动调节和锁紧固定。

如图5所示，所述测量主单元41包括：套筒411、耦合棱镜412、接收物镜413、接收屏414和相机415。

所述套筒411设置在所述测量升降架3上。

所述耦合棱镜412设置在所述套筒411的一端，且与所述伸缩筒42的一端连接；所述耦合棱镜412用于接收所述指示激光信号及观瞄激光信号。

所述接收物镜413与所述耦合棱镜412相对应，设置在所述套筒411内。

所述接收屏414与所述接收物镜413相对应，设置在所述套筒411内。所述指示激光信号或观瞄激光信号依次透射通过所述耦合棱镜412、接收物镜413后到达所述接收屏414，产生第一光斑；所述观瞄激光信号或指示激光信号在所述耦合棱镜412处发生折射后，透射通过所述接收物镜413到达所述接收屏414，产生第二光斑。

所述相机415设置在所述套筒411的另一端，与所述中控设备55连接，用于在所述中控设备的控制下运行，根据所述第一光斑、第二光斑得到所述数字图像，并将所述数字图像传输至所述中控设备5。

具体地，所述接收物镜413口径≥50mm；所述相机415的分辨率≥2048×2028像素，像元≤5um。

示例性地，所述相机415为CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor，互补金属氧化物半导体)相机。

所述测量副单元43包括：旋转结构431、反射棱镜432。

所述旋转结构431设置在所述伸缩筒42的另一端。

所述反射棱镜432设置在所述旋转结构431上；所述反射棱镜432用于在所述旋转结构431的带动下进行转动，接收所述观瞄激光信号或指示激光信号，并对所述观瞄激光信号或指示激光信号进行反射，反射后的所述观瞄激光信号或指示激光信号通过所述伸缩筒42传送至所述测量主单元41。

测量副单元43的转动调节和伸缩筒42的伸缩，可以设计为电动控制，提高调整操作及测量的工作效率，转动调整范围为360°；伸缩筒42的伸缩范围根据指示激光发射器1与观瞄激光发射器3之间的距离来确定具体大小，同时兼顾人工操作。

如图6所示，测量副单元43的接收激光经反射棱镜432反射后，通过伸缩筒42，再经过测量主单元41的耦合棱镜反射，和测量主单元41接收的透射光束一起入射到接收屏414上，并在接收屏414上呈现各自的光斑；接收屏414后方的CMOS相机对接收屏414所在平面成像，数字图像传输到计算机，经过软件解算两路激光光斑信息，得到所需要的轴一致性参数。

所述中控设备5包括：测控电路51、数据处理单元52。

所述测控电路51与所述测量主机4连接；所述测控电路51用于控制所述测量主机4的运行，并获取所述数字图像。

所述数据处理单元52与所述测控电路51连接；所述数据处理单元52用于根据所述数字图像分析所述被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性。

具体地，测控电路51主要包括主控制箱和操作手柄两部分，主要完成测量主机4的CMOS相机视频图像采集、旋转角度和伸缩调节控制等，测量主机4的输出通过总线传输到数据处理单元52。

示例性地，数据处理单元52为工业控制计算机，内部的PCI总线插槽上插放测控电路的板卡，实现CMOS相机视频信号采集、测量副单元转动和伸缩筒42伸缩调节的电动控制，并通过测量软件进行数据计算、解析、显示、存储和打印。

进一步地，所述中控设备5根据所述数字图像，分析所述被测产品01的发射轴与瞄准轴的轴一致性，具体包括：

根据所述数字图像，利用轴一致性原理公式，对所述被测产品01的发射轴与瞄准轴的轴一致性进行分析；

所述轴一致性原理公式为：

其中θ_x1为第一光斑在x轴方向的角度，θ_x2为第二光斑在x轴方向的角度，θ_y1为第一光斑在y轴方向的角度，θ_y2为第二光斑在y轴方向的角度，N₀为接收屏标定靶点间距所占像素值，N₁为第一光斑所占像元数，N₂为第二光斑所占像元数，D₀为接收屏标定靶点间距，f'为接收物镜的焦距。

在系统工作时，将测量主机4的测量主单元41对准观瞄激光发射器2(或指示激光发射器1)，测量主机4的测量副单元43对准指示激光发射器1(或观瞄激光发射器2)，观瞄激光发射器2发射的激光与指示激光发射器1发出的激光在耦合棱镜412处耦合一起，透射通过接收物镜413，并在接收物镜413的焦平面上用接收屏414接收两路激光光斑，CMOS相机采集接收屏上的光斑图像，得到数字图像，通过测量软件对数字图像进行处理，得到两光斑的位置，通过原理公式最终解算两套装置轴线的一致性。

进一步地，如图9所示，本发明还提供了一种轴一致性检测方法，所述检测方法包括：

步骤S01：选择所述被测产品的任一发射管进行检测，对应所述发射管设置指示激光发射器，并利用机械定心机构令所述指示激光发射器与所述发射管同轴。

步骤S02：对应所述被测产品的观瞄装置设置观瞄激光发射器，令所述观瞄激光发射器与所述观瞄装置同轴。

步骤S03：通过所述指示激光发射器得到发射指示激光信号。

步骤S04：通过所述观瞄激光发射器得到观瞄激光信号。

步骤S05：通过设置在测量升降架上的测量主机，接收所述指示激光信号、观瞄激光信号，所述指示激光信号透射通过所述测量主机的接收物镜，在所述测量主机的接收屏上产生第一光斑，所述观瞄激光信号透射通过所述测量主机的接收物镜，在所述测量主机的接收屏上产生第二光斑；通过所述测量主机的相机，根据所述第一光斑、第二光斑得到数字图像。

步骤S06：根据所述数字图像，利用轴一致性原理公式，对所述被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性进行分析。

所述轴一致性原理公式为：

其中θ_x1为第一光斑在x轴方向的角度，θ_x2为第二光斑在x轴方向的角度，θ_y1为第一光斑在y轴方向的角度，θ_y2为第二光斑在y轴方向的角度，N₀为接收屏标定靶点间距所占像素值，N₁为第一光斑所占像元数，N₂为第二光斑所占像元数，D₀为接收屏标定靶点间距，f'为接收物镜的焦距。

参照图7、图8，下面对测量原理做进一步介绍：

假设接收物镜的焦距为f'，口径为D，若初始将待测产品某一轴的光斑对准CMOS相机的视场中心时，投射在CMOS相机上的激光光斑质心与CMOS相机光敏面中心之间的距像素数为Δx，进一步可推导另一个轴的光斑在x轴方向的角度θ为：

设另一光斑在CMOS相机光敏面上的像与视场中心的距离为Δx'，CMOS相机成像物镜的放大倍率为β，有Δx＝Δx'/β，则公式(1)可以换算为：

通过图像处理技术标定光斑所占像元数N和像元数的大小d，有Δx'＝N×d，进一步可得：

最后，由于接收屏大小的设计即标定靶点间距D₀的设计是根据点间距所占像元数来确定的，D₀和接收屏标定靶点间距所占像素值N₀之间的关系：D₀＝N₀×dβ，dβ＝D₀N₀；则公式(3)又可以换算为：

其中，N为光斑所占像元数。

上述公式(4)可作为解算x方向两轴一致性的原理公式，而y方向的公式与之类似，只是计数值N不同，此处不再赘述。

在实际应用过程中，主要的误差因素包括：图像处理中光斑图像的计数误差ΔN、接收物镜焦距误差Δf'、接收屏标定靶点间距加工误差ΔD₀，以及，接收屏标定靶点间距所占像素数计数误差ΔN₀。

其中，Δf'主要由物镜的安装误差引起；ΔD₀主要由接收屏标定点距离标定引起；ΔN和ΔN₀，主要是在图像处理过程中引起，如质心的定位误差和质心之间像素数的解算误差。

上述误差Δf'、ΔD₀、ΔN和ΔN₀，既可是通过实际测量计算获得，也可利用经验数值，具体可根据实际情况灵活选择。

同样以x方向为例，为了获取测量误差Δθ以提高计算精度，可对公式(4)进行全微分，即：

进一步，利用上述Δf'、ΔD₀、ΔN和ΔN₀分别对f'、D₀、N和N₀进行数值修正，将修正后的f'、D₀、N和N₀带入公式(5)，从而便可计算测量误差Δθ。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的系统而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种轴一致性检测系统，其特征在于，所述检测系统用于检测被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性，所述检测系统包括：

指示激光发射器，与所述被测产品的任一发射管同轴设置，用于发射指示激光信号；

观瞄激光发射器，与所述被测产品的观瞄装置同轴设置，用于发射观瞄激光信号；

测量升降架，跨设在所述指示激光信号及观瞄激光信号的传输光路上；

测量主机，设置在所述测量升降架上，用于接收所述指示激光信号、观瞄激光信号，并根据所述指示激光信号、观瞄激光信号得到数字图像；

中控设备，与所述测量主机连接，用于控制所述测量主机的运行，并根据所述数字图像，分析所述被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性。

2.根据权利要求1所述的轴一致性检测系统，其特征在于，所述测量主机包括：

测量主单元，设置在所述测量升降架上，与所述中控设备连接，用于接收所述指示激光信号或观瞄激光信号；

伸缩筒，内部中空且一端与所述测量主单元连接；

测量副单元，设置在所述伸缩筒的另一端，用于接收所述观瞄激光信号或指示激光信号，并通过所述伸缩筒将所述观瞄激光信号或指示激光信号传送至所述测量主单元；所述测量主单元根据所述指示激光信号、观瞄激光信号得到所述数字图像，并将所述数字图像传送至所述中控设备。

3.根据权利要求2所述的轴一致性检测系统，其特征在于，所述测量主单元包括：

套筒，设置在所述测量升降架上；

耦合棱镜，设置在所述套筒的一端，且与所述伸缩筒的一端连接，用于接收所述指示激光信号及观瞄激光信号；

接收物镜，与所述耦合棱镜相对应，设置在所述套筒内；

接收屏，与所述接收物镜相对应，设置在所述套筒内；所述指示激光信号或观瞄激光信号依次透射通过所述耦合棱镜、接收物镜后到达所述接收屏，产生第一光斑；所述观瞄激光信号或指示激光信号在所述耦合棱镜处发生折射后，透射通过所述接收物镜到达所述接收屏，产生第二光斑；

相机，设置在所述套筒的另一端，与所述中控设备连接，用于在所述中控设备的控制下运行，根据所述第一光斑、第二光斑得到所述数字图像，并将所述数字图像传输至所述中控设备。

4.根据权利要求2所述的轴一致性检测系统，其特征在于，所述测量副单元包括：

旋转结构，设置在所述伸缩筒的另一端；

反射棱镜，设置在所述旋转结构上，用于在所述旋转结构的带动下进行转动，接收所述观瞄激光信号或指示激光信号，并对所述观瞄激光信号或指示激光信号进行反射，反射后的所述观瞄激光信号或指示激光信号通过所述伸缩筒传送至所述测量主单元。

5.根据权利要求2所述的轴一致性检测系统，其特征在于，所述测量主机包括：

配重块，与所述伸缩筒对应，设置在所述测量主单元上。

6.根据权利要求1所述的轴一致性检测系统，其特征在于，所述中控设备包括：

测控电路，与所述测量主机连接，用于控制所述测量主机的运行，并获取所述数字图像；

数据处理单元，与所述测控电路连接，用于根据所述数字图像分析所述被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性。

7.根据权利要求1所述的轴一致性检测系统，其特征在于，所述测量升降架为龙门式结构，且设置有圆形水准仪。

8.根据权利要求1所述的轴一致性检测系统，其特征在于，所述测量主机的测角分辨率为2.6角秒，0.012mil，测角范围方位俯仰均为±0.7°，±11.67mil。

9.根据权利要求3所述的轴一致性检测系统，其特征在于，所述中控设备根据所述数字图像，分析所述被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性，具体包括：

根据所述数字图像，利用轴一致性原理公式，对所述被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性进行分析；

所述轴一致性原理公式为：

其中θ_x1为第一光斑在x轴方向的角度，θ_x2为第二光斑在x轴方向的角度，θ_y1为第一光斑在y轴方向的角度，θ_y2为第二光斑在y轴方向的角度，N₀为接收屏标定靶点间距所占像素值，N₁为第一光斑所占像元数，N₂为第二光斑所占像元数，D₀为接收屏标定靶点间距，f'为接收物镜的焦距。

10.一种轴一致性检测方法，其特征在于，所述检测方法用于检测被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性，所述检测方法包括：

选择所述被测产品的任一发射管进行检测，对应所述发射管设置指示激光发射器，并利用机械定心机构令所述指示激光发射器与所述发射管同轴；

对应所述被测产品的观瞄装置设置观瞄激光发射器，令所述观瞄激光发射器与所述观瞄装置同轴；

通过所述指示激光发射器得到发射指示激光信号；

通过所述观瞄激光发射器得到观瞄激光信号；

通过设置在测量升降架上的测量主机，接收所述指示激光信号、观瞄激光信号，所述指示激光信号透射通过所述测量主机的接收物镜，在所述测量主机的接收屏上产生第一光斑，所述观瞄激光信号透射通过所述测量主机的接收物镜，在所述测量主机的接收屏上产生第二光斑；通过所述测量主机的相机，根据所述第一光斑、第二光斑得到数字图像；

根据所述数字图像，利用轴一致性原理公式，对所述被测产品的发射轴与瞄准轴的轴一致性进行分析；

所述轴一致性原理公式为：

其中θ_x1为第一光斑在x轴方向的角度，θ_x2为第二光斑在x轴方向的角度，θ_y1为第一光斑在y轴方向的角度，θ_y2为第二光斑在y轴方向的角度，N₀为接收屏标定靶点间距所占像素值，N₁为第一光斑所占像元数，N₂为第二光斑所占像元数，D₀为接收屏标定靶点间距，f'为接收物镜的焦距。