CN116540145A - 一种聚合物绝缘子界面的检测方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种聚合物绝缘子界面的检测方法及装置，包括通过预设的老化技术对待检测聚合物绝缘子进行老化处理，获得绝缘子样品，再将所述绝缘子样品放置在预设的电极结构中，并对所述电极结构进行施压进而获取所述绝缘子样品界面的泄漏电流，同时通过预设的温度测试仪获得所述绝缘子样品的表面温升，根据所述泄漏电流及所述表面温升，通过与预设的电流阈值及温升阈值进行比较，获得所述聚合物绝缘子界面的酥朽状态检测结果，提高绝缘子界面酥朽状态评估的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及电力设备运行状态评估技术领域，尤其涉及一种聚合物绝缘子界面的检测方法及装置。
背景技术
目前复合绝缘子断裂故障主要分为脆性断裂(以下简称脆断)、酥朽断裂(以下简称酥断)和大屈曲折断三种。复合绝缘子脆断是芯棒玻璃纤维受到酸液侵蚀，在很低的载荷下芯棒纤维逐渐断裂，最终整支芯棒断裂。脆断往往发生在复合绝缘子场强集中的高压端，一般都存在护套或者端部密封破损的情况；芯棒脆断的典型特征是断裂表面光滑，其断面总是垂直指向芯棒轴线，有很少的玻璃纤维拉出。复合绝缘子大屈曲断裂是在极端天气(如大风、覆冰舞动)下，复合绝缘子承受较大屈曲疲劳负荷，超过允许应力值，绝缘子串发生断裂的现象。断裂位置位于低压端端部金具与护套交界面，断口参差不齐、疏松，类似木材反复弯折的效果，为单纯的屈曲疲劳破坏。复合绝缘子酥断可能是在受潮、放电、热电解、酸性介质、机械应力共同作用下一种异常断裂现象。
目前，针对脆断已有较多的研究，运行经验表明通过使用耐酸芯棒，可以有效遏制脆断的发生。针对大屈曲折断，可以通过优化金具和杆塔的设计，而有效避免其发生。但针对酥朽断裂，目前没有有效的根治措施，只能通过酥朽断裂前期的温升征兆对其进行预判断。复合绝缘子酥朽断串由较多因素联合导致，水分入侵与泄漏电流的产生是复合绝缘子产生异常温升及酥朽断串的重要因素。而目前对在运复合绝缘子状态检测方法通常采用塔下红外测温仪进行测试，通过观察复合绝缘子串与环境温度差异判断其是否存在界面酥朽缺陷。然而仅通过红外测温的单一检测方法难以准确了解复合绝缘子界面酥朽状态，无法有效区分聚合物绝缘子的表面发热和界面酥朽引起的发热，存在准确度低，误判率高的问题。
发明内容
本发明公开了一种聚合物绝缘子界面的检测方法及装置，用于对聚合物绝缘子界面的酥朽状态进行检测及分级判断，提高绝缘子界面酥朽状态评估的准确性。
为了实现上述目的，本发明公开了一种聚合物绝缘子界面的检测方法，包括：
通过预设的老化技术对待检测聚合物绝缘子进行老化处理，获得绝缘子样品；
通过将所述绝缘子样品放置在预设的电极结构中，并对所述电极结构进行施压进而获取所述绝缘子样品界面的泄漏电流，同时通过预设的温度测试仪获得所述绝缘子样品的表面温升；
根据所述泄漏电流及所述表面温升，通过与预设的电流阈值及温升阈值进行比较，获得所述聚合物绝缘子界面的酥朽状态检测结果。
本发明公开了一种聚合物绝缘子界面的检测方法，通过对所述待检测的聚合物绝缘子样品进行水煮实验，模仿所述聚合物绝缘子的老化时间，使得所述聚合物绝缘子界面的酥朽状态变得更加明显，当对所述聚合物绝缘子进行一定时间的水煮实验后，通过将所述聚合物绝缘子样品放置到预设的电极结构中，以使对所述电极结构施压进而直接通过所述点击结构获得所述聚合物绝缘子界面的泄漏电流，以使直接通过所述界面的泄漏电流判断所述界面的酥朽状态，提高检测的准确度，并通过预设的温度检测仪检测所述聚合物绝缘子样品的表面获得表面温升，以使结合所述表面温升及所述泄漏电流，有效区分聚合物绝缘子的表面发热和界面酥朽引起的发热，提高界面酥朽状态检测的准确度。
作为优选例子，在所述通过预设的老化技术对待检测聚合物绝缘子进行老化处理，具体包括：
清洁所述聚合物绝缘子的裸露表面且利用防水涂层对所述裸露表面进行隔离，并将所述聚合物绝缘子放置于预设的水浴锅中进行水煮老化；
采集所述水煮老化的时间，并将所述时间与预设的时间阈值进行比较，当所述时间大于或等于所述预设的时间阈值时，取出所述聚合物绝缘子。
本发明对所述聚合物绝缘子表面进行清洁并利用防水涂层对所述裸露表面进行隔离，防止后续水煮老化时对所述聚合物绝缘子的界面造成破坏，提高检测精准度，同时本发明利用水煮实验模仿聚合物绝缘子在老化过程中受到的水分入侵等因素的影响，提高检测的准确度。
作为优选例子，在所述将所述绝缘子样品放置在预设的电极结构中，并对所述电极结构进行施压进而获取所述绝缘子样品界面的泄漏电流，具体包括：
将所述绝缘子样品放置于预设的四电级结构的顶部电极及底部组合电极之间，并将所述绝缘子样品的芯棒，界面及护套分别放置在所述底部组合电极的第一电极、第二电极及第三电极上；
通过对所述四电级结构进行施压，根据所述第二电极获得所述绝缘子样品的界面出的泄漏电流。
本发明通过将所述绝缘子样品放置于预设的四电级结构中，通过向所述四电级结构施压，以使所述顶部电极及所述底部组合电极形成电流回路，使得电流在所述绝缘子样品上进行流通，同时所述绝缘子样品的芯棒、界面及护套分别与所述底部组合电极中的各个电极连接，由此可直接通过所述第二电极获得所述界面的泄漏电流，无需对所述绝缘子界面进行解剖，提高工作效率。
作为优选例子，在所述通过预设的表面温度测试仪获得所述绝缘子样品的表面温升，具体包括：
通过预设的红外相机对所述绝缘子样品的上下表面的温度分布进行测试，获得所述绝缘子样品的表面温升及发生温升的区域。
本发明通过对所述绝缘子样品的上下表面进行温度测试，以此来判断所述绝缘子样品发生温升的区域是否为界面，进一步提高界面检测的准确性，并根据所述红外相机获得所述绝缘子样品的表面温升，以便于为界面酥朽状态的检测提供更精确的数据，以使提高检测的准确度。
作为优选例子，在所述通过与预设的电流阈值及温升阈值进行比较，获得所述聚合物绝缘子界面的酥朽状态检测结果，具体包括：
通过将所述表面温升与所述温升阈值进行比较及将所述泄漏电流与所述电流阈值进行比较，判断所述聚合物绝缘子界面是否存在酥朽类缺陷；所述温升阈值包括第一温升阈值、第二温升阈值及第三温升阈值；所述电流阈值包括第一电流阈值、第二电流阈值及第三电流阈值；
若所述表面温升小于或等于所述第一温升阈值及所述泄漏电流小于或等于所述第一电流阈值，则判定所述聚合物绝缘子界面不存在酥朽类缺陷；
若所述表面温升大于所述第一温升阈值或所述泄漏电流大于所述第一电流阈值，则判定所述聚合物绝缘子界面存在酥朽类缺陷。
本发明集合所述界面的泄漏电流及所述绝缘子样品在进行电流测试后的表面温升，对所述界面的酥朽状态做更精准的判断，提高界面状态检测的准确性。
第二方面，本发明还提供了一种聚合物绝缘子界面的检测装置，包括老化模块、检测模块及判断模块；
所述老化模块用于通过预设的老化技术对待检测聚合物绝缘子进行老化处理，获得绝缘子样品；
所述检测模块用于通过将所述绝缘子样品放置在预设的电极结构中，并对所述电极结构进行施压进而获取所述绝缘子样品界面的泄漏电流，同时通过预设的温度测试仪获得所述绝缘子样品的表面温升；
所述判断模块用于根据所述泄漏电流及所述表面温升，通过与预设的电流阈值及温升阈值进行比较，获得所述聚合物绝缘子界面的酥朽状态检测结果。
本发明公开了一种聚合物绝缘子界面的检测装置，通过对所述待检测的聚合物绝缘子样品进行水煮实验，模仿所述聚合物绝缘子的老化时间，使得所述聚合物绝缘子界面的酥朽状态变得更加明显，当对所述聚合物绝缘子进行一定时间的水煮实验后，通过将所述聚合物绝缘子样品放置到预设的电极结构中，以使对所述电极结构施压进而直接通过所述点击结构获得所述聚合物绝缘子界面的泄漏电流，以使直接通过所述界面的泄漏电流判断所述界面的酥朽状态，提高检测的准确度，并通过预设的温度检测仪检测所述聚合物绝缘子样品的表面获得表面温升，以使结合所述表面温升及所述泄漏电流，有效区分聚合物绝缘子的表面发热和界面酥朽引起的发热，提高界面酥朽状态检测的准确度。
作为优选例子，在所述老化模块包括处理单元及时间单元；
所述处理单元用于清洁所述聚合物绝缘子的裸露表面且利用防水涂层对所述裸露表面进行隔离，并将所述聚合物绝缘子放置于预设的水浴锅中进行水煮老化；
所述时间单元用于采集所述水煮老化的时间，并将所述时间与预设的时间阈值进行比较，当所述时间大于或等于所述预设的时间阈值时，取出所述聚合物绝缘子。
本发明对所述聚合物绝缘子表面进行清洁并利用防水涂层对所述裸露表面进行隔离，防止后续水煮老化时对所述聚合物绝缘子的界面造成破坏，提高检测精准度，同时本发明利用水煮实验模仿聚合物绝缘子在老化过程中受到的水分入侵等因素的影响，提高检测的准确度。
作为优选例子，在所述检测模块包括电流单元及温升单元；
所述电流单元用于将所述绝缘子样品放置于预设的四电级结构的顶部电极及底部组合电极之间，并将所述绝缘子样品的芯棒，界面及护套分别放置在所述底部组合电极的第一电极、第二电极及第三电极上；通过对所述四电级结构进行施压，根据所述第二电极获得所述绝缘子样品的界面出的泄漏电流；
所述温升单元用于通过预设的红外相机对所述绝缘子样品的上下表面的温度分布进行测试，获得所述绝缘子样品的表面温升及发生温升的区域。
本发明通过将所述绝缘子样品放置于预设的四电级结构中，通过向所述四电级结构施压，以使所述顶部电极及所述底部组合电极形成电流回路，使得电流在所述绝缘子样品上进行流通，同时所述绝缘子样品的芯棒、界面及护套分别与所述底部组合电极中的各个电极连接，由此可直接通过所述第二电极获得所述界面的泄漏电流，无需对所述绝缘子界面进行解剖，提高工作效率，同时通过对所述绝缘子样品的上下表面进行温度测试，以此来判断所述绝缘子样品发生温升的区域是否为界面，进一步提高界面检测的准确性，并根据所述红外相机获得所述绝缘子样品的表面温升，以便于为界面酥朽状态的检测提供更精确的数据，以使提高检测的准确度。
作为优选例子，在所述判断模块包括比较单元及判定单元；
所述比较单元用于通过将所述表面温升与所述温升阈值进行比较及将所述泄漏电流与所述电流阈值进行比较，判断所述聚合物绝缘子界面是否存在酥朽类缺陷；所述温升阈值包括第一温升阈值、第二温升阈值及第三温升阈值；所述电流阈值包括第一电流阈值、第二电流阈值及第三电流阈值；
所述判定单元用于若所述表面温升小于或等于所述第一温升阈值及所述泄漏电流小于或等于所述第一电流阈值，则判定所述聚合物绝缘子界面不存在酥朽类缺陷；若所述表面温升大于所述第一温升阈值或所述泄漏电流大于所述第一电流阈值，则判定所述聚合物绝缘子界面存在酥朽类缺陷。
本发明集合所述界面的泄漏电流及所述绝缘子样品在进行电流测试后的表面温升，对所述界面的酥朽状态做更精准的判断，提高界面状态检测的准确性。
第三方面，本发明还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现如第一方面所述的一种聚合物绝缘子界面的检测方法。
附图说明
图1：为本发明实施例提供的一种聚合物绝缘子界面的检测方法的流程示意图；
图2：为本发明实施例提供的一种聚合物绝缘子界面的检测装置的结构示意图；
图3：为本发明实施例提供的一种四电级结构的结构示意图；
图4:为本发明实施例提供的一种四电级的底部组合电极的俯视结构示意图；
图5：为本发明实施例提供的一种四电级的底部组合电极的左视结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一
本发明实施例提供了一种聚合物绝缘子界面的检测方法，该方法的具体实施流程请参照图1，主要包括步骤101至步骤103，所述步骤具体包括：
步骤101：通过预设的老化技术对待检测聚合物绝缘子进行老化处理，获得绝缘子样品。
在本实施例中，该步骤具体包括：清洁所述聚合物绝缘子的裸露表面且利用防水涂层对所述裸露表面进行隔离，并将所述聚合物绝缘子放置于预设的水浴锅中进行水煮老化；采集所述水煮老化的时间，并将所述时间与预设的时间阈值进行比较，当所述时间大于或等于所述预设的时间阈值时，取出所述聚合物绝缘子。
在本实施例中，该步骤具体为：获取待检测的复合物绝缘子样品，使用酒精和干燥的滤纸清洁所述聚合物绝缘子样品的裸露表面，使短样表面保持干燥清洁，采用防水涂层对所述聚合物复合绝缘子样品的裸露表面进行隔离，将清洁隔离后的所述聚合物绝缘子样品放置于预设的水浴锅中进行水煮实验，并在所述水浴锅中加入1％NaC l的去离子水，待所述水煮实验的时间必须超过预设的时间阈值及预设的100h之后，将所述聚合物绝缘子样品才能从所述水浴锅中取出。
本实施例对所述聚合物绝缘子表面进行清洁并利用防水涂层对所述裸露表面进行隔离，防止后续水煮老化时对所述聚合物绝缘子的界面造成破坏，提高检测精准度，同时本发明利用水煮实验模仿聚合物绝缘子在老化过程中受到的水分入侵等因素的影响，提高检测的准确度。
步骤102：通过将所述绝缘子样品放置在预设的电极结构中，并对所述电极结构进行施压进而获取所述绝缘子样品界面的泄漏电流，同时通过预设的温度测试仪获得所述绝缘子样品的表面温升。
在本实施例中，该步骤具体包括：将所述绝缘子样品放置于预设的四电级结构的顶部电极及底部组合电极之间，并将所述绝缘子样品的芯棒，界面及护套分别放置在所述底部组合电极的第一电极、第二电极及第三电极上；通过对所述四电级结构进行施压，根据所述第二电极获得所述绝缘子样品的界面出的泄漏电流；通过预设的红外相机对所述绝缘子样品的上下表面的温度分布进行测试，获得所述绝缘子样品的表面温升及发生温升的区域。
在本实施例中，该步骤具体为：将所述聚合物绝缘子样品取出后置于30℃的冷水中冷却至室温，并将所述聚合物绝缘子样品放置于预设的四电级结构的顶部电极及底部组合电极之间，在本实施例中，所述四电级结构请参照图3，主要包括高压电源、保护电路、电流采集装置、红外相机及数据记录和处理，同时所述保护电路中设置的有四电级，所述四电级包括顶部第一电极及底部组合电极，所述底部组合电极的具体结构请参照图4和图5，主要包括第二电极、第三电极及第四电极，将所述聚合物绝缘子样品的上下表面分别放置于所述保护电路中设置的四电级中，将上表面与所述顶部第一电极连接，将下表面与所述底部组合电极连接，使得所述聚合物绝缘子样品的芯棒位置放置于顶部电极与底部第二电极之间，所述界面位置放置于顶部电极与底部第三电极之间，所述护套位置放置于顶部电极与底部第四电极之间。所述通过对所述四电级结构进行施压，根据所述第二电极获得所述绝缘子样品的界面出的泄漏电流即通过所述高压电源对所述保护电路中设置的四电级进行施压，施加的电压为12kV，升压速率为1kV/s并保持60s，以使所述四电级的顶部点击及底部组合电极之间形成电流回路，使得电流流通，以使所述第三电极的获得界面处的泄漏电流数据信号，并通过所述电流采集装置及所述数据记录及处理装置处理所述泄漏电流信号，获得所述界面的泄漏电流，在获得所述聚合物绝缘子样品的泄漏电流后，将所述聚合物绝缘子样品取出，利用红外相机对样品上下表面而非侧面温度分布进行拍摄，拍摄的图片反映出样品护套、界面及芯棒温度分布，从而判断温升是否产生在界面处以及界面处温升大小。
本实施例通过将所述绝缘子样品放置于预设的四电级结构中，通过向所述四电级结构施压，以使所述顶部电极及所述底部组合电极形成电流回路，使得电流在所述绝缘子样品上进行流通，同时所述绝缘子样品的芯棒、界面及护套分别与所述底部组合电极中的各个电极连接，由此可直接通过所述第二电极获得所述界面的泄漏电流，无需对所述绝缘子界面进行解剖，提高工作效率，同时对所述绝缘子样品的上下表面进行温度测试，以此来判断所述绝缘子样品发生温升的区域是否为界面，进一步提高界面检测的准确性，并根据所述红外相机获得所述绝缘子样品的表面温升，以便于为界面酥朽状态的检测提供更精确的数据，以使提高检测的准确度。
步骤103：根据所述泄漏电流及所述表面温升，通过与预设的电流阈值及温升阈值进行比较，获得所述聚合物绝缘子界面的酥朽状态检测结果。
在本实施例中，该步骤具体包括：通过将所述表面温升与所述温升阈值进行比较及将所述泄漏电流与所述电流阈值进行比较，判断所述聚合物绝缘子界面是否存在酥朽类缺陷；所述温升阈值包括第一温升阈值、第二温升阈值及第三温升阈值；所述电流阈值包括第一电流阈值、第二电流阈值及第三电流阈值；
若所述表面温升小于或等于所述第一温升阈值及所述泄漏电流小于或等于所述第一电流阈值，则判定所述聚合物绝缘子界面不存在酥朽类缺陷；若所述表面温升大于所述第一温升阈值或所述泄漏电流大于所述第一电流阈值，则判定所述聚合物绝缘子界面存在酥朽类缺陷。
在本实施例中，该步骤具体为：在获得所述界面的泄漏电流及表面温升后，将所述泄漏电流与预设的电流阈值进行比较及将所述表面温升与预设的闻声阈值进行比较，以此判断所述聚合物绝缘子是否存在酥朽类缺陷，在本实施例中，提供了一种酥朽状态等级表，该表如下；
由上表可知，根据所述聚合物绝缘子样品的种类，在所述酥朽等级表中获得对应的电流阈值及温升阈值，在本实施例中，如硅橡胶复合绝缘子为例，当对所述硅橡胶复合绝缘子进行老化试验后，获得所述泄漏电流超过0.3mA后，或所述温升超过5℃，则所述硅橡胶复合绝缘子界面部分酥朽，对于绝缘子安全运行存在隐患，即存在酥朽缺陷，同时还可根据上述的登记表，对所述酥朽进行分级，若复合绝缘子异常温升及泄漏电流试验数据在同一界面酥朽状态等级范围时，认为复合绝缘子界面酥朽状态为该等级；当复合绝缘子异常温升及泄漏电流测试数据不在同一界面酥朽状态等级范围时，认为复合绝缘子界面酥朽状态为两者中更高等级状态。
本实施例集合所述界面的泄漏电流及所述绝缘子样品在进行电流测试后的表面温升，对所述界面的酥朽状态做更精准的判断，提高界面状态检测的准确性。
另一方面，本发明实施例还提供了一种聚合物绝缘子界面的检测装置，该装置的具体结构请参照图2，主要包括老化模块201、检测模块202及判断模块203。
所述老化模块201用于通过预设的老化技术对待检测聚合物绝缘子进行老化处理，获得绝缘子样品；
所述检测模块202用于通过将所述绝缘子样品放置在预设的电极结构中，并对所述电极结构进行施压进而获取所述绝缘子样品界面的泄漏电流，同时通过预设的温度测试仪获得所述绝缘子样品的表面温升；
所述判断模块203用于根据所述泄漏电流及所述表面温升，通过与预设的电流阈值及温升阈值进行比较，获得所述聚合物绝缘子界面的酥朽状态检测结果。
在本实施例中，所述老化模块201包括处理单元及时间单元；
所述处理单元用于清洁所述聚合物绝缘子的裸露表面且利用防水涂层对所述裸露表面进行隔离，并将所述聚合物绝缘子放置于预设的水浴锅中进行水煮老化；
所述时间单元用于采集所述水煮老化的时间，并将所述时间与预设的时间阈值进行比较，当所述时间大于或等于所述预设的时间阈值时，取出所述聚合物绝缘子。
在本实施例中，所述检测模块202包括电流单元及温升单元；
所述电流单元用于将所述绝缘子样品放置于预设的四电级结构的顶部电极及底部组合电极之间，并将所述绝缘子样品的芯棒，界面及护套分别放置在所述底部组合电极的第一电极、第二电极及第三电极上；通过对所述四电级结构进行施压，根据所述第二电极获得所述绝缘子样品的界面出的泄漏电流；
所述温升单元用于通过预设的红外相机对所述绝缘子样品的上下表面的温度分布进行测试，获得所述绝缘子样品的表面温升及发生温升的区域。
在本实施例中，所述判断模块203包括比较单元及判定单元；
所述比较单元用于通过将所述表面温升与所述温升阈值进行比较及将所述泄漏电流与所述电流阈值进行比较，判断所述聚合物绝缘子界面是否存在酥朽类缺陷；所述温升阈值包括第一温升阈值、第二温升阈值及第三温升阈值；所述电流阈值包括第一电流阈值、第二电流阈值及第三电流阈值；
所述判定单元用于若所述表面温升小于或等于所述第一温升阈值及所述泄漏电流小于或等于所述第一电流阈值，则判定所述聚合物绝缘子界面不存在酥朽类缺陷；若所述表面温升大于所述第一温升阈值或所述泄漏电流大于所述第一电流阈值，则判定所述聚合物绝缘子界面存在酥朽类缺陷。
除上述方法及装置外，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现如本发明实施例提供的一种聚合物绝缘子界面的检测方法。
本实施例公开的一种聚合物绝缘子界面的检测方法、装置及存储介质，通过对所述待检测的聚合物绝缘子样品进行水煮实验，模仿所述聚合物绝缘子的老化时间，使得所述聚合物绝缘子界面的酥朽状态变得更加明显，当对所述聚合物绝缘子进行一定时间的水煮实验后，通过将所述聚合物绝缘子样品放置到预设的电极结构中，以使对所述电极结构施压进而直接通过所述点击结构获得所述聚合物绝缘子界面的泄漏电流，以使直接通过所述界面的泄漏电流判断所述界面的酥朽状态，提高检测的准确度，并通过预设的温度检测仪检测所述聚合物绝缘子样品的表面获得表面温升，以使结合所述表面温升及所述泄漏电流，有效区分聚合物绝缘子的表面发热和界面酥朽引起的发热，提高界面酥朽状态检测的准确度。
以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步的详细说明，应当理解，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限定本发明的保护范围。特别指出，对于本领域技术人员来说，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种聚合物绝缘子界面的检测方法，其特征在于，包括：
通过预设的老化技术对待检测聚合物绝缘子进行老化处理，获得绝缘子样品；
通过将所述绝缘子样品放置在预设的电极结构中，并对所述电极结构进行施压进而获取所述绝缘子样品界面的泄漏电流，同时通过预设的温度测试仪获得所述绝缘子样品的表面温升；
根据所述泄漏电流及所述表面温升，通过与预设的电流阈值及温升阈值进行比较，获得所述聚合物绝缘子界面的酥朽状态检测结果。
2.如权利要求1所述的一种聚合物绝缘子界面的检测方法，其特征在于，所述通过预设的老化技术对待检测聚合物绝缘子进行老化处理，具体包括：
清洁所述聚合物绝缘子的裸露表面且利用防水涂层对所述裸露表面进行隔离，并将所述聚合物绝缘子放置于预设的水浴锅中进行水煮老化；
采集所述水煮老化的时间，并将所述时间与预设的时间阈值进行比较，当所述时间大于或等于所述预设的时间阈值时，取出所述聚合物绝缘子。
3.如权利要求1所述的一种聚合物绝缘子界面的检测方法，其特征在于，所述将所述绝缘子样品放置在预设的电极结构中，并对所述电极结构进行施压进而获取所述绝缘子样品界面的泄漏电流，具体包括：
将所述绝缘子样品放置于预设的四电级结构的顶部电极及底部组合电极之间，并将所述绝缘子样品的芯棒，界面及护套分别放置在所述底部组合电极的第一电极、第二电极及第三电极上；
通过对所述四电级结构进行施压，根据所述第二电极获得所述绝缘子样品的界面出的泄漏电流。
4.如权利要求1所述的一种聚合物绝缘子界面的检测方法，其特征在于，所述通过预设的表面温度测试仪获得所述绝缘子样品的表面温升，具体包括：
通过预设的红外相机对所述绝缘子样品的上下表面的温度分布进行测试，获得所述绝缘子样品的表面温升及发生温升的区域。
5.如权利要求1所述的一种聚合物绝缘子界面的检测方法，其特征在于，所述通过与预设的电流阈值及温升阈值进行比较，获得所述聚合物绝缘子界面的酥朽状态检测结果，具体包括：
通过将所述表面温升与所述温升阈值进行比较及将所述泄漏电流与所述电流阈值进行比较，判断所述聚合物绝缘子界面是否存在酥朽类缺陷；所述温升阈值包括第一温升阈值、第二温升阈值及第三温升阈值；所述电流阈值包括第一电流阈值、第二电流阈值及第三电流阈值；
若所述表面温升小于或等于所述第一温升阈值及所述泄漏电流小于或等于所述第一电流阈值，则判定所述聚合物绝缘子界面不存在酥朽类缺陷；
若所述表面温升大于所述第一温升阈值或所述泄漏电流大于所述第一电流阈值，则判定所述聚合物绝缘子界面存在酥朽类缺陷。
6.一种聚合物绝缘子界面的检测装置，其特征在于，包括老化模块、检测模块及判断模块；
所述老化模块用于通过预设的老化技术对待检测聚合物绝缘子进行老化处理，获得绝缘子样品；
所述检测模块用于通过将所述绝缘子样品放置在预设的电极结构中，并对所述电极结构进行施压进而获取所述绝缘子样品界面的泄漏电流，同时通过预设的温度测试仪获得所述绝缘子样品的表面温升；
所述判断模块用于根据所述泄漏电流及所述表面温升，通过与预设的电流阈值及温升阈值进行比较，获得所述聚合物绝缘子界面的酥朽状态检测结果。
7.如权利要求6所述的一种聚合物绝缘子界面的检测装置，其特征在于，所述老化模块包括处理单元及时间单元；
所述处理单元用于清洁所述聚合物绝缘子的裸露表面且利用防水涂层对所述裸露表面进行隔离，并将所述聚合物绝缘子放置于预设的水浴锅中进行水煮老化；
所述时间单元用于采集所述水煮老化的时间，并将所述时间与预设的时间阈值进行比较，当所述时间大于或等于所述预设的时间阈值时，取出所述聚合物绝缘子。
8.如权利要求6所述的一种聚合物绝缘子界面的检测装置，其特征在于，所述检测模块包括电流单元及温升单元；
所述电流单元用于将所述绝缘子样品放置于预设的四电级结构的顶部电极及底部组合电极之间，并将所述绝缘子样品的芯棒，界面及护套分别放置在所述底部组合电极的第一电极、第二电极及第三电极上；通过对所述四电级结构进行施压，根据所述第二电极获得所述绝缘子样品的界面出的泄漏电流；
所述温升单元用于通过预设的红外相机对所述绝缘子样品的上下表面的温度分布进行测试，获得所述绝缘子样品的表面温升及发生温升的区域。
9.如权利要求6所述的一种聚合物绝缘子界面的检测装置，其特征在于，所述判断模块包括比较单元及判定单元；
所述比较单元用于通过将所述表面温升与所述温升阈值进行比较及将所述泄漏电流与所述电流阈值进行比较，判断所述聚合物绝缘子界面是否存在酥朽类缺陷；所述温升阈值包括第一温升阈值、第二温升阈值及第三温升阈值；所述电流阈值包括第一电流阈值、第二电流阈值及第三电流阈值；
所述判定单元用于若所述表面温升小于或等于所述第一温升阈值及所述泄漏电流小于或等于所述第一电流阈值，则判定所述聚合物绝缘子界面不存在酥朽类缺陷；若所述表面温升大于所述第一温升阈值或所述泄漏电流大于所述第一电流阈值，则判定所述聚合物绝缘子界面存在酥朽类缺陷。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述的一种聚合物绝缘子界面的检测方法。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310522465.2A CN116540145A (zh) | 2023-05-09 | 2023-05-09 | 一种聚合物绝缘子界面的检测方法及装置 |
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|---|---|---|---|
| CN202310522465.2A CN116540145A (zh) | 2023-05-09 | 2023-05-09 | 一种聚合物绝缘子界面的检测方法及装置 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116540145A true CN116540145A (zh) | 2023-08-04 |
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| CN202310522465.2A Pending CN116540145A (zh) | 2023-05-09 | 2023-05-09 | 一种聚合物绝缘子界面的检测方法及装置 |
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| Country | Link |
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| CN (1) | CN116540145A (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117347912A (zh) * | 2023-12-06 | 2024-01-05 | 清华大学深圳国际研究生院 | 光纤绝缘子界面性能测试装置以及界面性能评价方法 |
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2023
- 2023-05-09 CN CN202310522465.2A patent/CN116540145A/zh active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117347912A (zh) * | 2023-12-06 | 2024-01-05 | 清华大学深圳国际研究生院 | 光纤绝缘子界面性能测试装置以及界面性能评价方法 |
| CN117347912B (zh) * | 2023-12-06 | 2024-03-22 | 清华大学深圳国际研究生院 | 光纤绝缘子界面性能测试装置以及界面性能评价方法 |
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