CN116483634A - 防止测试工序遗漏的内存条测试方法、装置、设备及介质 - Google Patents

防止测试工序遗漏的内存条测试方法、装置、设备及介质 Download PDF

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CN116483634A CN202310389657.0A CN202310389657A CN116483634A CN 116483634 A CN116483634 A CN 116483634A CN 202310389657 A CN202310389657 A CN 202310389657A CN 116483634 A CN116483634 A CN 116483634A
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Abstract

本发明实施例公开了一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法、装置、设备及介质，涉及内存条测试技术领域。方法包括：按顺序从测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序；判断目标测试工序是否是第一个测试工序；若否，判断内存条预设的存储器是否存储有目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息；若是，对内存条执行目标测试工序；判断内存条是否通过目标测试工序；若是，判断目标测试工序是否是最后一个测试工序；若否，将目标测试工序对应的标识信息写入存储器中，并转到按顺序从测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤。本发明能够有效避免内存条的测试工序遗漏。

Description

防止测试工序遗漏的内存条测试方法、装置、设备及介质
技术领域
本发明涉及内存条测试技术领域，尤其涉及一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法、装置、设备及介质。
背景技术
内存条(Memory module)，是电脑必不可少的组成部分，主要作用是临时存放CPU的运算数据以及与硬盘等外部存储器交换的数据。内存条在电脑中起到至关重要的作用。
因此，内存条在出厂之前需要经过多项测试。现有技术中，对内存条的各项测试是独立进行的，经常出现遗漏部分测试工序的情况发生，由此可能会导致一些不合格的内存条出厂，给企业造成严重的损失。
发明内容
本发明实施例提供了一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法、装置、设备及介质，旨在解决现有内存条测试中遗漏测试工序的问题。
第一方面，本发明实施例提供了一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法，预设的测试序列中包括多个按顺序排列的测试工序，所述方法用于测试内存条，所述方法包括：
按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序；
判断所述目标测试工序是否是第一个测试工序；
若所述目标测试工序不是第一个测试工序，判断所述内存条预设的存储器是否存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息；
若所述内存条预设的存储位置存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，对所述内存条执行所述目标测试工序；
判断所述内存条是否通过所述目标测试工序；
若所述内存条通过所述目标测试工序，判断所述目标测试工序是否是最后一个测试工序；
若所述目标测试工序不是最后一个测试工序，将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，并转到所述按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤。
其进一步的技术方案为，所述方法还包括：
若所述目标测试工序是第一个测试工序，对所述内存条执行所述目标测试工序；判断所述内存条是否通过所述目标测试工序；若所述内存条通过所述目标测试工序，将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，并转到所述按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤。
其进一步的技术方案为，所述方法还包括：
若所述目标测试工序是最后一个测试工序，输出测试结果。
其进一步的技术方案为，所述方法还包括：
若所述内存条预设的存储位置未存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，输出告警信息。
其进一步的技术方案为，所述存储器为所述内存条中用于存储所述内存条的SPD信息的EEPROM，所述将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，包括：
将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述EEPROM的SPD标志位中。
其进一步的技术方案为，所述判断所述内存条预设的存储器是否存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，包括：
读取所述EEPROM的SPD标志位中的信息作为目标信息；
判断所述目标信息是否包括所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息；
若所述目标信息包括所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，判定所述内存条预设的存储器存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息。
其进一步的技术方案为，所述测试序列的测试工序包括ET测试、MT测试、烧机测试以及SPD检测。
第二方面，本发明实施例还提供了一种防止测试工序遗漏的内存条测试装置，其包括用于执行上述方法的单元。
第三方面，本发明实施例还提供了一种计算机设备，其包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法。
第四方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序当被处理器执行时可实现上述方法。
本发明实施例提供了一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法、装置、设备及介质。其中，所述方法包括：按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序；判断所述目标测试工序是否是第一个测试工序；若所述目标测试工序不是第一个测试工序，判断所述内存条预设的存储器是否存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息；若所述内存条预设的存储位置存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，对所述内存条执行所述目标测试工序；判断所述内存条是否通过所述目标测试工序；若所述内存条通过所述目标测试工序，判断所述目标测试工序是否是最后一个测试工序；若所述目标测试工序不是最后一个测试工序，将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，并转到所述按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤。本发明实施例由于在执行一个测试工序(第一个测试工序除外)之前，首先判断所述内存条预设的存储器是否存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，即判断上一个测试工序是否执行完成；同时，在测试工序(最后一个测试工序除外)完成后，将该测试工序的标识信息储存到存储器中，从而能够有效避免测试工序的遗漏。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的防止测试工序遗漏的内存条测试方法的流程示意图；
图2为本发明实施例提供的防止测试工序遗漏的内存条测试装置的示意性框图；
图3为本发明实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
如在本说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
请参阅图1，图1是本发明实施例提供的一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法的流程示意图。预设的测试序列中包括多个按顺序排列的测试工序，所述方法用于测试内存条，如图1所示，该方法包括以下步骤S1-S7。
S1，按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序。
具体实施中，测试序列由用户设定，本发明对此不具体限定。测试序列中包括多个按顺序排列的测试工序。测试序列的测试工序包括ET测试、MT测试、烧机测试以及SPD检测。例如，在一实施例中，测试序列为：ET测试，MT测试，烧机测试，SPD检测。
按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序，可以理解地，第一次获取到的是第一个测试工序，第二次获取到的是第二个测试工序，以此类推直到获取最后一个测试工序。
需要说明的是，ET(Electric Test，电气性能测试)测试是指通过ET测试仪器检查内存条的电气性能。MT测试，可具体为MT86测试，是指通过MemTest86软件对内存条进行测试。MemTest86是UEFI模式下的内存条测试软件。烧机测试是指通过烧机软件(例如，MemBurninTest软件)来对内存条进行测试。SPD检测是指检查内存条的性能/参数是否与SPD信息匹配。SPD(Serial Presence Detect，串行存在检测)信息存储在内存条的EEPROM中，是一组关于内存模组的配置信息，如内存的芯片及模组厂商、工作频率、工作电压、速度、容量、电压、行/列地址以及带宽等参数。
S2，判断所述目标测试工序是否是第一个测试工序。
具体实施中，判断所述目标测试工序是否是第一个测试工序，即判断目标测试工序是否是测试序列中排在第一个的测试工序。
S3，若所述目标测试工序不是第一个测试工序，判断所述内存条预设的存储器是否存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息。
本发明实施例中，在测试工序(最后一个测试工序除外)结束后，会将该测试工序对应的标识信息写入存储器中。
为了避免测试工序遗漏，在所述目标测试工序不是第一个测试工序时，判断所述内存条预设的存储器是否存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息。具体地，预先建立标识对应表，在标识对应表中存储各测试工序对应的标识信息。之后可以通过标识对应表查询各测试工序对应的标识信息。例如，在一实施例中，ET测试、MT测试、烧机测试以及SPD检测的标识信息分别为0x01、0x02、0x03以及0x04。
进一步地，若所述目标测试工序是第一个测试工序，对所述内存条执行所述目标测试工序；判断所述内存条是否通过所述目标测试工序；若所述内存条通过所述目标测试工序，将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，并转到所述按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤。
具体实施中，如果目标测试工序是第一个测试工序，则直接对所述内存条执行所述目标测试工序，并在内存条通过目标测试工序后，将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，并转到所述按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤，即将目标测试工序的下一个测试工序作为新的目标测试工序，并循环执行上述步骤。如果内存条未通过所述目标测试工序，则判定内存条不合格，输出提示信息，中断测试，等待用户处理。
S4，若所述内存条预设的存储位置存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，对所述内存条执行所述目标测试工序。
具体实施中，如果所述内存条预设的存储位置存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，说明所述目标测试工序的上一个测试工序已经完成，并未遗漏。此时，可正常对所述内存条执行所述目标测试工序。
进一步地，如果所述内存条预设的存储位置未存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，说明所述目标测试工序的上一个测试工序并未执行，即遗漏了测试工序。此时，可输出告警信息(例如，发送告警提示消息)，并中断测试，等待用户处理。
S5，判断所述内存条是否通过所述目标测试工序。
具体实施中，判断所述内存条是否通过所述目标测试工序。如果内存条未通过所述目标测试工序，则判定内存条不合格，输出提示信息，中断测试，等待用户处理。
S6，若所述内存条通过所述目标测试工序，判断所述目标测试工序是否是最后一个测试工序。
具体实施中，如果所述内存条通过所述目标测试工序，进一步判断所述目标测试工序是否是最后一个测试工序，即判断目标测试工序是否是测试序列中的最后一个测试工序。
S7，若所述目标测试工序不是最后一个测试工序，将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，并转到所述按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤。
具体实施中，如果所述目标测试工序不是最后一个测试工序，将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，并转到所述按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤，即将目标测试工序的下一个测试工序作为新的目标测试工序，并循环执行上述步骤。
在一实施例中，所述存储器为所述内存条中用于存储所述内存条的SPD信息的EEPROM，所述将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，包括：将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述EEPROM的SPD标志位中。
具体实施中，SPD标志位是指EEPROM中存储SPD标志信息的存储位置，可具体为一寄存器。EEPROM(Electrically Erasable Programmable read only memory，带电可擦可编程只读存储器)是指带电可擦可编程只读存储器，是一种掉电后数据不丢失的存储芯片。
通过将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述EEPROM的SPD标志位中，可保证掉电后标识信息也不消失。
在一实施例中，所述判断所述内存条预设的存储器是否存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，包括：读取所述EEPROM的SPD标志位中的信息作为目标信息；判断所述目标信息是否包括所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息；若所述目标信息包括所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，判定所述内存条预设的存储器存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息。进一步地，若所述目标信息不包括所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，判定所述内存条预设的存储器没有存储所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息。
通过直接读取SPD标志位中的信息作为目标信息，并进一步判断目标信息是否包括所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，从而能够快速准确的判断目标测试工序的上一个测试工序是否执行完成。
进一步地，若所述目标测试工序是最后一个测试工序，输出测试结果。
具体实施中，若所述目标测试工序是最后一个测试工序，则输出测试结果。测试结果包括每个测试工序的测试数据。例如，可生成记录文件记录每个测试工序的测试数据，并将记录文件保存到用户设定的存储位置中。
本发明实施例的技术方案中，在执行一个测试工序(第一个测试工序除外)之前，首先判断所述内存条预设的存储器是否存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，即判断上一个测试工序是否执行完成；同时，在测试工序(最后一个测试工序除外)完成后，将该测试工序的标识信息储存到存储器中，从而能够有效避免测试工序的遗漏。
参见图2，图2是本发明实施例提供的一种防止测试工序遗漏的内存条测试装置20的示意性框图。对应于以上防止测试工序遗漏的内存条测试方法，本发明还提供一种防止测试工序遗漏的内存条测试装置20。该防止测试工序遗漏的内存条测试装置20包括用于执行上述防止测试工序遗漏的内存条测试方法的单元，该防止测试工序遗漏的内存条测试装置20可以被配置于台式电脑、平板电脑、手提电脑等设备中。具体地，预设的测试序列中包括多个按顺序排列的测试工序，该防止测试工序遗漏的内存条测试装置20包括：
第一获取单元21，用于按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序；
第一判断单元22，用于判断所述目标测试工序是否是第一个测试工序；
第二判断单元23，用于若所述目标测试工序不是第一个测试工序，判断所述内存条预设的存储器是否存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息；
第一执行单元24，用于若所述内存条预设的存储位置存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，对所述内存条执行所述目标测试工序；
第三判断单元25，用于判断所述内存条是否通过所述目标测试工序；
第四判断单元26，用于若所述内存条通过所述目标测试工序，判断所述目标测试工序是否是最后一个测试工序；
写入单元27，用于若所述目标测试工序不是最后一个测试工序，将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，并转到所述按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤。
在一实施例中，所述防止测试工序遗漏的内存条测试装置20，还包括：
第二执行单元，用于若所述目标测试工序是第一个测试工序，对所述内存条执行所述目标测试工序；判断所述内存条是否通过所述目标测试工序；若所述内存条通过所述目标测试工序，将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，并转到所述按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤。
在一实施例中，所述防止测试工序遗漏的内存条测试装置20，还包括：
第一输出单元，用于若所述目标测试工序是最后一个测试工序，输出测试结果。
在一实施例中，所述防止测试工序遗漏的内存条测试装置20，还包括：
第二输出单元，用于若所述内存条预设的存储位置未存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，输出告警信息。
在一实施例中，所述存储器为所述内存条中用于存储所述内存条的SPD信息的EEPROM，所述将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，包括：
将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述EEPROM的SPD标志位中。
在一实施例中，所述判断所述内存条预设的存储器是否存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，包括：
读取所述EEPROM的SPD标志位中的信息作为目标信息；
判断所述目标信息是否包括所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息；
若所述目标信息包括所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，判定所述内存条预设的存储器存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息。
在一实施例中，所述测试序列的测试工序包括ET测试、MT测试、烧机测试以及SPD检测。
需要说明的是，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，上述防止测试工序遗漏的内存条测试装置20和各单元的具体实现过程，可以参考前述方法实施例中的相应描述，为了描述的方便和简洁，在此不再赘述。
上述防止测试工序遗漏的内存条测试装置可以实现为一种计算机程序的形式，该计算机程序可以在如图3所示的计算机设备上运行。
请参阅图3，图3是本申请实施例提供的一种计算机设备的示意性框图。该计算机设备500可以是终端，也可以是服务器，其中，终端可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式电脑、个人数字助理和穿戴式设备等具有通信功能的电子设备。服务器可以是独立的服务器，也可以是多个服务器组成的服务器集群。
该计算机设备500包括通过系统总线501连接的处理器502、存储器和网络接口505，其中，存储器可以包括非易失性存储介质503和内存储器504。
该非易失性存储介质503可存储操作系统5031和计算机程序5032。该计算机程序5032被执行时，可使得处理器502执行一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法。
该处理器502用于提供计算和控制能力，以支撑整个计算机设备500的运行。
该内存储器504为非易失性存储介质503中的计算机程序5032的运行提供环境，该计算机程序5032被处理器502执行时，可使得处理器502执行一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法。
该网络接口505用于与其它设备进行网络通信。本领域技术人员可以理解，上述结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备500的限定，具体的计算机设备500可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
其中，所述处理器502用于运行存储在存储器中的计算机程序5032，以实现以上任一方法实施例提供的一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法的步骤。
应当理解，在本申请实施例中，处理器502可以是中央处理单元(CentralProcessing Unit，CPU)，该处理器502还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中，通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
本领域普通技术人员可以理解的是实现上述实施例的方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成。该计算机程序可存储于一存储介质中，该存储介质为计算机可读存储介质。该计算机程序被该计算机系统中的至少一个处理器执行，以实现上述方法的实施例的流程步骤。
因此，本发明还提供一种存储介质。该存储介质可以为计算机可读存储介质。该存储介质存储有计算机程序。该计算机程序被处理器执行时使处理器执行以上任一方法实施例提供的一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法的步骤。
所述存储介质为实体的、非瞬时性的存储介质，例如可以是U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的实体存储介质。所述计算机可读存储介质可以是非易失性，也可以是易失性。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的。例如，各个单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。
本发明实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。本发明实施例装置中的单元可以根据实际需要进行合并、划分和删减。另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以是两个或两个以上单元集成在一个单元中。
该集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术作出贡献的部分，或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，终端，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详细描述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，尚且本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法，其特征在于，预设的测试序列中包括多个按顺序排列的测试工序，所述方法用于测试内存条，所述方法包括：
按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序；
判断所述目标测试工序是否是第一个测试工序；
若所述目标测试工序不是第一个测试工序，判断所述内存条预设的存储器是否存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息；
若所述内存条预设的存储位置存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，对所述内存条执行所述目标测试工序；
判断所述内存条是否通过所述目标测试工序；
若所述内存条通过所述目标测试工序，判断所述目标测试工序是否是最后一个测试工序；
若所述目标测试工序不是最后一个测试工序，将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，并转到所述按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤。
2.根据权利要求1所述的防止测试工序遗漏的内存条测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
若所述目标测试工序是第一个测试工序，对所述内存条执行所述目标测试工序；判断所述内存条是否通过所述目标测试工序；若所述内存条通过所述目标测试工序，将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，并转到所述按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤。
3.根据权利要求1所述的防止测试工序遗漏的内存条测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
若所述目标测试工序是最后一个测试工序，输出测试结果。
4.根据权利要求1所述的防止测试工序遗漏的内存条测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
若所述内存条预设的存储位置未存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，输出告警信息。
5.根据权利要求1所述的防止测试工序遗漏的内存条测试方法，其特征在于，所述存储器为所述内存条中用于存储所述内存条的SPD信息的EEPROM，所述将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，包括：
将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述EEPROM的SPD标志位中。
6.根据权利要求5所述的防止测试工序遗漏的内存条测试方法，其特征在于，所述判断所述内存条预设的存储器是否存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，包括：
读取所述EEPROM的SPD标志位中的信息作为目标信息；
判断所述目标信息是否包括所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息；
若所述目标信息包括所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，判定所述内存条预设的存储器存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息。
7.根据权利要求1所述的防止测试工序遗漏的内存条测试方法，其特征在于，所述测试序列的测试工序包括ET测试、MT测试、烧机测试以及SPD检测。
8.一种防止测试工序遗漏的内存条测试装置，其特征在于，包括用于执行如权利要求1-7任一项所述方法的单元。
9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7中任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序当被处理器执行时可实现如权利要求1-7中任一项所述的方法。
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