CN116454663B - 射频连接器、服务器测试设备和服务器测试方法 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供了一种射频连接器、服务器测试设备和服务器测试方法。其中，射频连接器包括：外壳；轴体，轴体设置在外壳内，轴体具有用于与外部件对接的对接孔；第一连接件；第二连接件，第一连接件和第二连接件中的一者与轴体电导通，第一连接件和第二连接件中的另一者与负载电导通，第二连接件活动设置，并具有与第一连接件接触的导通状态和与第一连接件分离的分离状态，第二连接件具有位于对接孔内的驱动端，驱动端未受力时第二连接件位于导通状态，轴体与负载电连接；外部件施力驱动端时第二连接件位于分离状态，轴体与负载电断开。本申请解决了相关技术中的信号测试时成本较高的问题。

Description

射频连接器、服务器测试设备和服务器测试方法

技术领域

本申请实施例涉及信号测试领域，具体而言，涉及一种射频连接器、服务器测试设备和服务器测试方法。

背景技术

高速信号测试需要用到各种SMA（Small A Type，小型A类）射频连接器。SMA射频连接器使用时，会用螺丝钉通过安装孔安装到测试板PCB上，测试板PCB上一般会有大量SMA射频连接器，分别连接不同的被测信号。实际使用时，部分SMA射频连接器通过cable接头（电缆接头）连接到测试仪器，而其余SMA射频连接器一般会要求用50欧姆负载端接，防止信号反射以及串扰，避免对测试结果造成干扰。

50Ω负载和cable接头都是公头，SMA射频连接器是母头，中间接触探针传输信号，外壳则接地。公头和母头之间通过螺纹拧紧，连接后公头的针会插入到母头的孔中，实现信号连接。

上述方式虽然可以实现不使用的SMA射频连接器的屏蔽，但是其所使用的50Ω负载通常价格较贵，因此测试成本较高。同时，测试时不使用的SMA射频连接器数量较多，需要安装大量50Ω负载，更换测试信号时还需要交换50Ω负载位置，造成很多人工工作量。而且，反复安装50Ω负载也会对SMA射频连接器和50Ω负载本身造成磨损，增加损坏几率。

发明内容

本申请实施例提供了一种射频连接器、服务器测试设备和服务器测试方法，以至少解决相关技术中的信号测试时成本较高的问题。

根据本申请的一个实施例，提供了一种射频连接器，包括：外壳；轴体，轴体设置在外壳内，轴体具有用于与外部件对接的对接孔；第一连接件；第二连接件，第一连接件和第二连接件中的一者与轴体电导通，第一连接件和第二连接件中的另一者与负载电导通，第二连接件活动设置，并具有与第一连接件接触的导通状态和与第一连接件分离的分离状态，第二连接件具有位于对接孔内的驱动端，驱动端未受力时第二连接件位于导通状态，轴体与负载电连接；外部件施力驱动端时第二连接件位于分离状态，轴体与负载电断开。

在一个示例性实施例中，第二连接件包括对接部和驱动部，驱动部位于对接孔内，并具有驱动端，对接部为导体，对接部与负载电导通，第二连接件处于导通状态时，对接部与第一连接件接触。

在一个示例性实施例中，对接部相比于第一连接件远离对接孔的开口侧。

在一个示例性实施例中，对接部呈环形，并且设置在轴体的外周侧。

在一个示例性实施例中，第二连接件还包括连接部，驱动部与对接部之间通过连接部连接，连接部和/或驱动部为非导体。

在一个示例性实施例中，对接部呈环形，驱动部呈柱形并且轴向设置在对接部的轴线上，连接部径向设置以连接驱动部和对接部。

在一个示例性实施例中，连接部为多个，各连接部沿对接部的周向设置。

在一个示例性实施例中，轴体具有用于避让连接部的避让通道，避让通道沿第二连接件的移动方向延伸预定距离。

在一个示例性实施例中，射频连接器还包括复位件，复位件与第二连接件连接，并带动第二连接件向导通状态运动。

在一个示例性实施例中，复位件为导体，复位件与负载电连接。

在一个示例性实施例中，复位件为多个，并且第二连接件周向相对的两侧均设置有复位件。

在一个示例性实施例中，第一连接件呈环形，并且设置在轴体的外周侧。

在一个示例性实施例中，外壳包括容纳腔，容纳腔包括顺次连接的第一段和第二段，轴体位于第二段，并且对接孔与第一段连通。

在一个示例性实施例中，第一段的内侧壁和/或第一段的外侧壁具有用于与外部件对接配合的连接结构。

在一个示例性实施例中，第一连接件和第二连接件均具有环形结构，环形结构设置在轴体的外周侧；第一连接件的环形结构相比于第二连接件的环形结构靠近对接孔的开口侧；第一连接件和第二连接件沿轴体的轴向依次排列；第二连接件包括呈环形的对接部、呈柱形的驱动部和连接部，对接部为导体并用于与第一连接件接触，驱动部和连接部为非导体，驱动部位于对接孔内，并具有驱动端，连接部连接对接部和驱动部。

根据本申请的另一个实施例，提供了一种服务器测试设备，包括上述的射频连接器。

根据本申请的另一个实施例，提供了一种服务器测试方法，采用上述的射频连接器，服务器测试方法包括：未插接外部件时，第二连接件处于导通状态，第二连接件与第一连接件接触，轴体和负载之间导通；插接外部件时，外部件施力于驱动端，并带动第二连接件切换至分离状态，第二连接件与第一连接件分离，轴体和负载之间断开。

在一个示例性实施例中，服务器测试方法还包括：在插接外部件时，外部件与对接部接触，并通过推动对接部带动驱动部运动，驱动部与第一连接件分离。

在一个示例性实施例中，服务器测试方法还包括：在插接后拔出外部件时，复位件带动第二连接件向导通状态运动，第二连接件重新与第一连接件接触，轴体和负载重新导通。

本申请的技术方案，通过设置有第一连接件和第二连接件，第一连接件和第二连接件中的一者与轴体电导通，第一连接件和第二连接件中的另一者与负载电导通，而第一连接件和第二连接件之间并非是保持接触导通的，而是可以在导通和断开的关系之间切换，当射频连接器并未对接外部件，即电缆接头时，第二连接件与第一连接件处于导通状态，此时，轴体通过第一连接件、第二连接件与负载之间电导通，从而实现射频连接器与负载之间的导通；而当射频连接器对接电缆接头时，电缆接头的探针插入到对接孔内，探针插入到对接孔内时会带动驱动端运动，从而带动第二连接件运动，使得第二连接件由导通状态切换到分离状态，第一连接件和第二连接件之间分离从而电断开，轴体与负载之间也就随之不导通，此时轴体可以与探针接触从而与电缆之间导通。上述设置方式可以使得负载直接集成安装在射频连接器内或者集成在测试板上，从而不必单独设置负载元件，相比于单独的负载元件，集成设置负载的成本大大降低，从而有利于降低测试成本，同时由于使用时不需要对负载进行操作，只需要正常地将电缆接头插拔到射频连接器上即可，从而使得人工工作量大大降低，有利于提高测试效率，而且负载不需要拔插有利于延长负载的使用寿命。

附图说明

图1是根据本申请实施例的射频连接器在轴体处的结构示意图；

图2是图1中的射频连接器安装在测试板上的结构示意图；

图3是图1中的第二连接件的主视图；

图4是图1中的第二连接件的俯视图；

图5是图1中的第一连接件与第二连接件的配合示意图；

图6是图1中的射频连接器与电缆接头配合时的结构示意图。

其中，上述附图包括以下附图标记：

10、外壳；20、轴体；21、对接孔；30、第一连接件；40、第二连接件；41、对接部；42、驱动部；43、连接部；50、复位件；60、负载；70、电缆接头。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

需要指出的是，除非另有指明，本申请使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。

在本发明中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上、下、顶、底”通常是针对附图所示的方向而言的，或者是针对部件本身在竖直、垂直或重力方向上而言的；同样地，为便于理解和描述，“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内、外，但上述方位词并不用于限制本发明。

为了解决相关技术中的信号测试时成本较高的问题，本申请实施例提供了一种射频连接器、服务器测试设备和服务器测试方法。其中，服务器测试设备具有下述的射频连接器。

如图1至图6所示的一种射频连接器，包括外壳10、轴体20、第一连接件30和第二连接件40，轴体20设置在外壳10内，轴体20具有用于与外部件对接的对接孔21；第一连接件30和第二连接件40中的一者与轴体20电导通，第一连接件30和第二连接件40中的另一者与负载60电导通，第二连接件40活动设置，并具有与第一连接件30接触的导通状态和与第一连接件30分离的分离状态，第二连接件40具有位于对接孔21内的驱动端，驱动端未受力时第二连接件40位于导通状态，轴体20与负载60电连接；外部件施力驱动端时第二连接件40位于分离状态，轴体20与负载60电断开。

本实施例通过设置有第一连接件30和第二连接件40，第一连接件30和第二连接件40中的一者与轴体20电导通，第一连接件30和第二连接件40中的另一者与负载60电导通，而第一连接件30和第二连接件40之间并非是保持接触导通的，而是可以在导通和断开的关系之间切换，当射频连接器并未对接外部件，即电缆接头70时，第二连接件40与第一连接件30处于导通状态，此时，轴体20通过第一连接件30、第二连接件40与负载60之间电导通，从而实现射频连接器与负载60之间的导通；而当射频连接器对接电缆接头70时，电缆接头70的探针插入到对接孔21内，探针插入到对接孔21内时会带动驱动端运动，从而带动第二连接件40运动，使得第二连接件40由导通状态切换到分离状态，第一连接件30和第二连接件40之间分离从而电断开，轴体20与负载60之间也就随之不导通，此时轴体20可以与探针接触从而与电缆之间导通。上述设置方式可以使得负载60直接集成安装在射频连接器内或者集成在测试板上，从而不必单独设置负载60元件，相比于单独的负载60元件，集成设置负载60的成本大大降低，从而有利于降低测试成本，同时由于使用时不需要对负载60进行操作，只需要正常地将电缆接头70插拔到射频连接器上即可，从而使得人工工作量大大降低，有利于提高测试效率，而且负载60不需要拔插有利于延长负载60的使用寿命。

本实施例以射频连接器用于服务器测试设备为例进行说明，负载60采用50欧姆的负载60。当然，射频连接器也可以应用在其他测试设备，或者其他需要安装射频连接器的设备、部件上。同时，本实施例以第一连接件30与轴体20始终接触导通，第二连接件40始终与负载60导通为例进行说明，当然，上述二者也可以互换，即第一连接件30与负载60导通、第二连接件40与轴体20导通。此外，本实施例所说的导通、断开是按电学意义而言的，即导通的两部分之间能够直接或间接地发生信号的传输，断开的两部分之间无法传输信号。

如图3至图5所示，在本实施例中，第二连接件40采用沿轴体20轴向移动的运动方式，第二连接件40包括对接部41和驱动部42，其中，对接部41主要用于与第一连接件30对接，起导通轴体20和负载60的作用，因此，第一连接件30和对接部41均采用导体，同时，对接部41与负载60之间为始终导通的关系，这样，当第二连接件40在导通状态和分离状态之间的切换时，对接部41即可在与第一连接件30接触导通的状态和与第一连接件30分离的状态之间切换，从而实现第一连接件30和第二连接件40之间的导通和断开。驱动部42则起到与电缆接头70配合的作用，驱动部42和对接部41二者直接或者间接连接在一起，使得第二连接件40整体运动，驱动部42位于对接孔21内，并且驱动部42朝向对接孔21开口侧的一端作为驱动端，这样，当电缆接头70插入到对接孔21内，其探针即可抵顶在驱动部42的驱动端端面上，从而随着电缆接头70的插入探针挤压驱动端使得驱动部42运动，也就使得对接部41运动从而与第一连接件30之间分离，实现第二连接件40由导通状态切换至分离状态的效果。

优选地，对接部41相比于第一连接件30远离对接孔21的开口侧，如图1和图5所示。之所以这样设置，是考虑到电缆接头70插入到射频连接器上时，探针对驱动部42的力主要为推动力，因而将第一连接件30设置在对接部41和对接孔21的开口侧之间，这样，探针插入到对接孔21内时直接推动驱动端即可使得驱动端向伸入对接孔21的方向运动，从而使得对接部41向伸入对接孔21的方向运动从而与第一连接件30之间分离。

当然，也可以将对接部41设置在靠近对接孔21开口侧的一侧，此时，探针直接推动驱动部42无法实现对接部41与第一连接件30的分离，需要额外设置其他结构，例如U形的筋条，U形筋条自身有一定的运动能力，U形筋条的一端外露于对接孔21，另一端与第二连接件40抵接，此时，通过探针直接推动U形筋条的一端，使得该端向伸入对接孔21的方向运动，由于U形筋条沿自身结构延伸方向运动，从而使得U形筋条的另一端向伸出对接孔21的方向移动，从而带动第二连接件40运动，使得对接部41与第一连接件30之间分离。

在本实施例中，第一连接件30和第二连接件40均具有环形结构，环形结构设置在轴体20的外周侧。为了保证第一连接件30与对接部41之间的可靠配合，本实施例将对接部41和第一连接件30二者均设置呈环形，即第一连接件30整体即为环形结构，而第二连接件40的对接部41为环形结构，并且二者均设置在轴体20的外周侧。当然，第一连接件30和对接部41也可以采用其他形状，例如，将第一连接件30和对接部41采用块状结构嵌设在外壳10内，其中，第一连接件30可以与轴体20之间接触配合，而对接部41则不与轴体20之间接触，等等方式，不局限于本实施例的方式。

同时，考虑到第一连接件30需要与轴体20之间保持接触，而对接部41不可以与直接与轴体20之间接触导通，因而本实施例的第一连接件30内圈直径与轴体20的外圈直径大致相同，而对接部41的内圈直径大于轴体20的外圈直径，从而使得第一连接件30的内圈直径小于对接部41的内圈直径，这样，第一连接件30自然地与轴体20之间保持始终接触导通的关系，而对接部41与轴体20之间始终保持不直接接触的关系。同时，由于驱动部42需要在对接孔21内移动，因而驱动部42的直径需要略小于对接孔21的直径，以保证流畅运动。当然，具体的配合方式不局限于本实施例上述的方式，当其设置方式发生改变时，其配合关系也可以相应改变，只要能够实现上述的效果即可。

在实际加工时，第一连接件30和对接部41均可以采用嵌设在外壳10内，第一连接件30采用固定嵌设的方式，而第二连接件40采用可移动地嵌设的方式，当然，第一连接件30的一部分也可以嵌入到轴体20内，或者也可以采用其他加工方式。具体加工方式可以采用一体成型或者后续装配，或者将外壳10分为多个部分，各部分之间可以拼接形成整个外壳10，此时，在拼接外壳10的各部分时，即可将第一连接件30、第二连接件40安装到外壳10内，从而实现部件的组装。

需要说明的是，外壳10为非导体，对接部41无法通过外壳10与轴体20之间实现导通。

如图4所示，在本实施例中，第二连接件40还包括连接部43，连接部43起到连接对接部41和驱动部42的作用，即驱动部42与对接部41之间通过连接部43连接，从而使得第二连接件40形成一个整体。由于驱动部42会与电缆接头70的探针接触，而对接部41为导体，因而为了避免探针通过驱动部42和连接部43与对接部41、负载60之间导通，可以将连接部43和驱动部42中的至少一者设置为非导体，从而实现探针与对接部41之间的电断开。考虑到连接部43和驱动部42均可能会与轴体20接触，因而本实施例优选连接部43和驱动部42均为非导体。

由于对接孔21一般为有一定长度的柱状孔，因而本实施例的驱动部42采用与对接孔21形状相适配的柱形，从而使得驱动部42在对接孔21内只能够轴向移动，保证移动的稳定可靠。驱动部42位于环形的对接部41的轴线处，并且驱动部42和对接部41二者的轴线重合设置，而连接部43则径向设置，从而可以将驱动部42和对接部41之间连接起来。

需要说明的是，驱动部42轴向的长度可以根据需要设置，当第二连接件40处于导通状态时，驱动部42的驱动端可以伸出对接孔21，也可以不伸出对接孔21，只要保证电缆接头70的探针伸入到对接孔21内时能够推动驱动部42运动，使得第二连接件40切换至分离状态即可。

考虑到驱动部42在对接孔21内，而对接部41位于轴体20外侧，因而连接部43需要穿设在轴体20内，因此，本实施例在轴体20上径向开设有用于避让连接部43的避让通道，连接部43穿设在避让通道内，从而实现与内侧的驱动部42和外侧的对接部41的连接。同时，考虑到第二连接件40具有轴向的移动，因而避让通道除了径向贯穿轴体20外，还轴向延伸一定的长度，从而为连接部43的运动提供充足的活动空间，保证第二连接件40可轴向移动的效果。

可选地，连接部43的数量可以根据需要设置，设置一个或者多个均可，本实施例设置有四个连接部43，并且四个连接部43沿对接部41的周向等间隔设置，从而使得对接部41和驱动部42之间同步运动的稳定性。

相应地，当连接部43设置有多个时，避让通道的数量也可以相应增加，优选连接部43和避让通道二者之间一一对应设置，从而保证每个连接部43均能够可靠地轴向移动。当然，也可以将多个避让通道连通起来形成一个大的通道，该大的通道内可以同时穿设有多个连接部43，但是需要注意的是，为了保证轴体20的整体性，大的通道不能够覆盖轴体20的所有横截面。或者可以将轴体20分成轴向的两个节段，两个节段之间通过筋条连接在一起形成一个整体，此时，两个节段之间自然地形成供连接部43穿设、运动的通道。

如图2和图6所示，在本实施例中，第二连接件40由导通状态向分离状态的运动是通过电缆接头70的推动实现的，而由分离状态向导通状态的运动则是通过设置的复位件50实现的。具体而言，射频连接器还包括复位件50，复位件50可以采用弹簧等部件，复位件50的一端与第二连接件40的对接部41上远离第一连接件30的一侧连接，复位件50的另一端可以与外壳10连接，也可以与测试板上的接地部分连接，由于本实施例的外壳10整体均为非导体，因而本实施例的复位件50与测试板上的接地部分接触连接，负载60的一端也与接地部分接触连接，从而实现接地的需求。复位件50能够带动第二连接件40向导通状态运动，从而使得第二连接件40始终具有向导通状态运动的趋势，当电缆接头70未对接射频连接器或者从射频连接器上拔下时，第二连接件40在复位件50的作用下由分离状态切换至导通状态，从而实现射频连接器不使用时自动与负载60导通，同时保证轴体20与负载60之间保持导通的可靠性。

如图2所示，在本实施例中，考虑到第二连接件40自身可移动，因而其与之间负载60可能会存在不便于直接连接的情况，基于此，本实施例将复位件50也设置成导体，复位件50与负载60之间直接电连接，配合复位件50又与对接部41连接，从而使得对接部41通过复位件50与负载60之间导通。当然，除了通过复位件50外，也可以通过其他部件实现负载60与对接部41之间的导通，或者可以设置结构实现对接部41与负载60之间稳定可靠的连接。

可选地，复位件50的具体数量可以根据需要相应设置，设置一个或者多个均可，本实施例设置有两个复位件50，并且两个复位件50分别位于第二连接件40周向相对的两侧，这样保证复位件50对对接部41的受力均匀，避免对接部41一侧受力产生的运动不流畅甚至卡死等情况。复位件50也可以设置四个，与连接部43相似，在对接部41周向等间隔设置四个复位件50。

在本实施例中，外壳10包括中部的主体部分以及位于主体部分两侧的连接部分，主体部分中部开设有容纳腔，轴体20即设置在容纳腔内。本实施例的容纳腔包括顺次连接的第一段和第二段，其中，第一段并未设置有部件，其用于对接电缆接头70，而第二段容纳有轴体20，即轴体20位于第二段，并且轴体20的对接孔21与第一段连通，这样，当电缆接头70插入到容纳腔内时，探针经过第一段插入到对接孔21内，电缆接头70的端部插入到第一段内，从而起到定位、导向等作用，保证射频连接器与电缆接头70之间的稳定对接。

而连接部分设置在主体部分的侧面，本实施例设置有两个连接部分，两个连接部分位于主体部分周向的两侧，主体部分为外壳10主要的安装、容纳部分，而连接部分则为外壳10与测试板之间连接的部分。具体而言，本实施例在连接部分上开设有安装孔，安装孔与测试板上的过孔配合，通过螺栓等部件即可将连接部分安装固定在测试板上，也就将射频连接器安装固定在测试板上，实现射频连接器的安装。当然，外壳10的具体结构不局限于本实施例上述的方式，其可以根据需要相应调整改变。

可选地，第一段的内侧壁和/或第一段的外侧壁具有用于与外部件对接配合的连接结构。本实施例在第一段和第二段的外侧壁上均设置有外螺纹，外螺纹作为连接结构，从而可以与电缆接头70上的内螺纹配合，操作人员使用时将电缆接头70通过螺纹结构旋入到射频连接器上即可，在该过程中，探针即可推动驱动部42，使得第二连接件40切换至分离状态，实现负载60与轴体20的断开以及探针与轴体20的导通。

可选地，本实施例将第一段和第二段之间采用非等径的设置方式，也就是说，第一段和第二段两部分的直径大小不相等，更具体地说是第一段的直径大于第二段的直径，这样，一方面第一段的直径大小更大，能够更好地与电缆接头70之间进行对接、引导配合，另一方面第二段的厚度较厚，可以为嵌设第一连接件30、第二连接件40等提供空间，降低第一连接件30、第二连接件40的设置对部件整体大小的影响，有利于小型化。同时第一段和第二段之间还自然地形成有台阶结构，台阶结构能够对电缆接头70插接到射频连接器上的位置为进行限位，当电缆接头70的端部抵顶台阶结构时，说明电缆接头70对接到位，电缆接头70无法继续旋入，从而避免对接过位导致无法拆除等问题，保证使用的可靠性。

为了保证轴体20与探针之间可靠的配合，本实施例在对接孔21的内壁处设置有弹片，弹片为导体，弹片可以采用分瓣结构，通过瓣状结构结合弹片自身的弹性，使得探针插入到对接孔21内时，瓣状结构能够对探针起到夹持多用，从而保证探针与弹片之间接触，这样，通过弹片与轴体20实现导通，从而保证接触导通的可靠性。

本实施例还提供了一种服务器测试方法，采用上述的射频连接器，服务器测试方法包括：未插接外部件时，第二连接件40处于导通状态，第二连接件40与第一连接件30接触，轴体20和负载60之间导通；插接外部件时，外部件施力于驱动端，并带动第二连接件40切换至分离状态，第二连接件40与第一连接件30分离，轴体20和负载60之间断开。

在本实施例中，服务器测试方法还包括：在插接外部件时，外部件与对接部41接触，并通过推动对接部41带动驱动部42运动，驱动部42与第一连接件30分离。

在本实施例中，服务器测试方法还包括：在插接后拔出外部件时，复位件50带动第二连接件40向导通状态运动，第二连接件40重新与第一连接件30接触，轴体20和负载60重新导通。

本实施例的服务器测试方法，即射频连接器与电缆接头70的具体配合过程如下：

对于不使用的射频连接器，电缆接头70未插入射频连接器上，第二连接件40在复位件50的驱动下保持在导通状态，此时对接部41与第一连接件30接触导通，轴体20通过第一连接件30、对接部41、复位件50与负载60导通。

对于需要使用的射频连接器，电缆接头70插入到射频连接器上，电缆接头70的探针伸入到对接孔21内，探针推动驱动部42的驱动端使得第二连接件40向分离状态切换，此时对接部41与第一连接件30分离，二者不再导通，从而使得轴体20与负载60之间不导通，轴体20通过探针与电缆接头70所连接的线缆导通，可以实现信号的传输，同时第二连接件40的移动过程中压缩复位件50，使得复位件50储存有弹力，以便于后续进行复位。电缆接头70插入后转动，通过螺纹结构旋紧在射频连接器上，从而实现与射频连接器之间的稳定连接。

使用完毕后拔下电缆接头70时，电缆接头70反向转动从射频连接器上旋下，在探针退出对接孔21的过程中，复位件50作用于第二连接件40，使得第二连接件40跟随探针一同移动，直到切换至导通状态，此时第二连接件40的对接部41抵接在第一连接件30上，使得轴体20通过第一连接件30、对接部41、复位件50重新与负载60导通，而探针则退出对接孔21，从而其与射频连接器之间不再导通。

由于在实际使用过程中，在测试板上会同时安装有多个射频连接器，因而在所有的射频连接器中，会有部分射频连接器使用，需要与电缆接头70对接，剩余部分射频连接器则为不使用，其不与电缆接头70对接，从而使得上述使用射频连接器和不使用射频连接器两种情况会同时在一块测试板上出现。

需要说明的是，上述实施例中的多个指的是至少两个。

从以上的描述中，可以看出，本发明上述的实施例实现了如下技术效果：

本实施例的技术方案通过设置有第一连接件30和第二连接件40，第一连接件30和第二连接件40中的一者与轴体20电导通，第一连接件30和第二连接件40中的另一者与负载60电导通，而第一连接件30和第二连接件40之间并非是保持接触导通的，而是可以在导通和断开的关系之间切换，当射频连接器并未对接外部件，即电缆接头70时，第二连接件40与第一连接件30处于导通状态，此时，轴体20通过第一连接件30、第二连接件40与负载60之间电导通，从而实现射频连接器与负载60之间的导通；而当射频连接器对接电缆接头70时，电缆接头70的探针插入到对接孔21内，探针插入到对接孔21内时会带动驱动端运动，从而带动第二连接件40运动，使得第二连接件40由导通状态切换到分离状态，第一连接件30和第二连接件40之间分离从而电断开，轴体20与负载60之间也就随之不导通，此时轴体20可以与探针接触从而与电缆之间导通。上述设置方式可以使得负载60直接集成安装在射频连接器内或者集成在测试板上，从而不必单独设置负载60元件，相比于单独的负载60元件，集成设置负载60的成本大大降低，从而有利于降低测试成本，同时由于使用时不需要对负载60进行操作，只需要正常地将电缆接头70插拔到射频连接器上即可，从而使得人工工作量大大降低，有利于提高测试效率，而且负载60不需要拔插有利于延长负载60的使用寿命。

本实施例的射频连接器在非测试连接状态下自动与内部的50欧姆负载端接。在测试连接状态时自动断开50欧姆负载进入测试状态，从而省去人工拆装50欧姆负载的工作。其可以带来如下收益：

1、对于连接器厂商，新型SMA射频连接器将SMA本身与50欧姆负载合二为一，节省物料。

2、对于测试厂商，省去额外购买大量50欧姆负载元件，大幅度降低测试成本。

3、省去测试板上大量的50欧姆负载人工安装和拆除工作。

4、测试过程中只需要更换被测信号与电缆接头的连接，不需要更换50欧姆负载连接，减少SMA射频连接器的损坏几率。

显然，上述所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、工作、器件、组件和/或它们的组合。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施方式能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (16)

1.一种射频连接器，其特征在于，包括：

外壳（10）；

轴体（20），所述轴体（20）设置在所述外壳（10）内，所述轴体（20）具有用于与外部件对接的对接孔（21）；

第一连接件（30）；

第二连接件（40），所述第一连接件（30）和所述第二连接件（40）中的一者与所述轴体（20）电导通，所述第一连接件（30）和所述第二连接件（40）中的另一者与负载（60）电导通，所述第二连接件（40）活动设置，并具有与所述第一连接件（30）接触的导通状态和与所述第一连接件（30）分离的分离状态，所述第二连接件（40）具有位于所述对接孔（21）内的驱动端，所述驱动端未受力时所述第二连接件（40）位于所述导通状态，所述轴体（20）与所述负载（60）电连接；所述外部件施力所述驱动端时所述第二连接件（40）位于所述分离状态，所述轴体（20）与所述负载（60）电断开；

所述第二连接件（40）包括对接部（41）和驱动部（42），所述驱动部（42）位于所述对接孔（21）内，并具有所述驱动端，所述对接部（41）为导体，所述对接部（41）与所述负载（60）电导通，所述第二连接件（40）处于所述导通状态时，所述对接部（41）与所述第一连接件（30）接触；

所述第二连接件（40）还包括连接部（43），所述驱动部（42）与所述对接部（41）之间通过所述连接部（43）连接，所述连接部（43）和/或所述驱动部（42）为非导体；

所述射频连接器还包括复位件（50），所述复位件（50）与所述第二连接件（40）连接，并带动所述第二连接件（40）向所述导通状态运动。

2.根据权利要求1所述的射频连接器，其特征在于，所述对接部（41）相比于所述第一连接件（30）远离所述对接孔（21）的开口侧。

3.根据权利要求1所述的射频连接器，其特征在于，所述对接部（41）呈环形，并且设置在所述轴体（20）的外周侧。

4.根据权利要求1所述的射频连接器，其特征在于，所述对接部（41）呈环形，所述驱动部（42）呈柱形并且轴向设置在所述对接部（41）的轴线上，所述连接部（43）径向设置以连接所述驱动部（42）和所述对接部（41）。

5.根据权利要求4所述的射频连接器，其特征在于，所述连接部（43）为多个，各所述连接部（43）沿所述对接部（41）的周向设置。

6.根据权利要求1所述的射频连接器，其特征在于，所述轴体（20）具有用于避让所述连接部（43）的避让通道，所述避让通道沿所述第二连接件（40）的移动方向延伸预定距离。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的射频连接器，其特征在于，所述复位件（50）为导体，所述复位件（50）与所述负载（60）电连接。

8.根据权利要求1至6中任一项所述的射频连接器，其特征在于，所述复位件（50）为多个，并且所述第二连接件（40）周向相对的两侧均设置有所述复位件（50）。

9.根据权利要求1至6中任一项所述的射频连接器，其特征在于，所述第一连接件（30）呈环形，并且设置在所述轴体（20）的外周侧。

10.根据权利要求1至6中任一项所述的射频连接器，其特征在于，所述外壳（10）包括容纳腔，所述容纳腔包括顺次连接的第一段和第二段，所述轴体（20）位于所述第二段，并且所述对接孔（21）与所述第一段连通。

11.根据权利要求10所述的射频连接器，其特征在于，所述第一段的内侧壁和/或所述第一段的外侧壁具有用于与所述外部件对接配合的连接结构。

12.根据权利要求1所述的射频连接器，其特征在于，

所述第一连接件（30）和所述第二连接件（40）均具有环形结构，所述环形结构设置在所述轴体（20）的外周侧；

所述第一连接件（30）的环形结构相比于所述第二连接件（40）的环形结构靠近所述对接孔（21）的开口侧；

所述第一连接件（30）和所述第二连接件（40）沿所述轴体（20）的轴向依次排列；

所述第二连接件（40）包括呈环形的所述对接部（41）、呈柱形的所述驱动部（42）和所述连接部（43），所述驱动部（42）和所述连接部（43）为非导体。

13.一种服务器测试设备，其特征在于，包括权利要求1至12中任一项所述的射频连接器。

14.一种服务器测试方法，其特征在于，采用权利要求1至12中任一项所述的射频连接器，所述服务器测试方法包括：

未插接外部件时，第二连接件（40）处于导通状态，所述第二连接件（40）与第一连接件（30）接触，轴体（20）和负载（60）之间导通；

插接所述外部件时，所述外部件施力于驱动端，并带动所述第二连接件（40）切换至分离状态，所述第二连接件（40）与所述第一连接件（30）分离，所述轴体（20）和所述负载（60）之间断开。

15.根据权利要求14所述的服务器测试方法，其特征在于，所述服务器测试方法还包括：

在插接所述外部件时，所述外部件与对接部（41）接触，并通过推动所述对接部（41）带动驱动部（42）运动，所述驱动部（42）与所述第一连接件（30）分离。

16.根据权利要求14所述的服务器测试方法，其特征在于，所述服务器测试方法还包括：

在插接后拔出所述外部件时，复位件（50）带动所述第二连接件（40）向所述导通状态运动，所述第二连接件（40）重新与所述第一连接件（30）接触，所述轴体（20）和所述负载（60）重新导通。