CN116448241A - 屏下光传感器的测试方法、系统、设备、电子设备、存储介质和程序产品 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种屏下光传感器的测试方法、系统、设备、电子设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：获取所述待测显示屏的显示区域平面的XY坐标系；根据所述XY坐标系将屏下的光传感器感光区域划分为多个感光子区域；控制所述待测显示屏在第一分割线和所述第二分割线两侧分别发光；根据每一所述感光子区域的第一发光强度和每一所述感光子区域的第二发光强度获得光传感器的中心在Y轴上的坐标；根据每一所述感光子区域的第三发光强度和每一所述感光子区域的第四发光强度获得光传感器的中心在X轴上的坐标。本发明提供的技术方案，实现对屏下光传感器的组装位置检测，增加了测试功能，提高了测试效率。

Description

屏下光传感器的测试方法、系统、设备、电子设备、存储介质和 程序产品

技术领域

本发明实施例涉及显示屏测试技术领域，尤其涉及一种屏下光传感器的测试方法、系统、设备、电子设备、存储介质和程序产品。

背景技术

液晶屏(LCD/OLED)凭借其超薄、节能、画质清晰、辐射低等诸多优点，在可穿戴电子设备领域有着十分广泛的应用。现在的智能穿戴设备、智能手持终端等，为了降低显示功耗，通常需要根据周围光强度来调整屏幕亮度，这就需要使用到屏下光传感器感应环境光强度。

为了能够根据环境光强度调整屏幕的亮度，需要对屏下的光传感器的感光漏光性能进行测试，现有技术中，屏下光传感器的测试系统不能实现对屏下光传感器的组装位置检测，测试功能存在不足。

发明内容

本发明提供一种屏下光传感器的测试方法、系统、设备、电子设备、存储介质和程序产品，实现对屏下光传感器的组装位置检测，增加了测试功能，提高了测试效率。

第一方面，本发明实施例提供一种屏下光传感器的测试方法，屏下光传感器的测试方法，包括：

获取待测显示屏的显示区域平面的XY坐标系；

根据XY坐标系将屏下的光传感器感光区域划分为多个感光子区域，其中，每个感光子区域面积相等；并且在XY坐标系的X方向和Y方向上的感光子区域个数相等，个数为2n+1个，n大于0且为整数；

控制待测显示屏在第一分割线Y方向的一侧进行发光，并获取每一感光子区域的第一发光强度；控制待测显示屏在第一分割线Y方向的反方向一侧进行发光，并获取每一感光子区域的第二发光强度；控制待测显示屏在第二分割线的X方向的反方向的一侧进行发光，获取每一感光子区域的第三发光强度；控制待测显示屏在第二分割线方向的X方向的一侧进行发光，获取每一感光子区域的第四发光强度；其中，第一分割线与X方向平行，第二分割线与Y方向平行，并均经过光传感器感光区域的中心；

根据每一感光子区域的第一发光强度和每一感光子区域的第二发光强度获得光传感器的中心在Y轴上的坐标；根据每一感光子区域的第三发光强度和每一感光子区域的第四发光强度获得光传感器的中心在X轴上的坐标。

可选的，由屏下光传感器的测试系统执行，系统包括主控单元和屏下光传感器测试设备；屏下光传感器的测试设备包括：遮光箱，遮光箱的顶部设置测试光源；遮光箱的底部设置抽屉式放置板；遮光箱的中部设置均匀导光板，其中，均匀导光板包括圆形导光区域；抽屉式放置板上包括：多个照度单元和多个待测显示屏承载位；照度单元和待测显示屏承载位设置在圆形导光区域在抽屉式放置板上形成的圆形透光区域上，其中，一个照度单元设置在圆形透光区域中心，其余照度单元和待测显示屏承载位设置在圆形透光区域的圆周上；主控单元通过主控板分别与测试光源、照度单元和待测显示屏承载位上设置的待测显示屏电连接；照度单元用于检测遮光箱内的光照强度；主控单元用于执行的屏下光传感器的测试方法。

可选的，根据每一感光子区域的第一发光强度和每一感光子区域的第二发光强度获得光传感器的中心在Y轴上的坐标，包括：

分别计算每一感光子区域的第一发光强度和每一感光子区域的第二发光强度的比值；

将X方向上同一行的每一感光子区域的比值与第一预设比值率相比获得第一比值参数；

并根据显示区域Y方向的长度和第一比值参数表示光传感器的中心在Y轴上的坐标。

可选的，根据每一感光子区域的第三发光强度和每一感光子区域的第四发光强度获得光传感器的中心在X轴上的坐标，包括：

分别计算每一感光子区域的第三发光强度和每一感光子区域的第四发光强度的比值；

将Y方向上同一列的每一感光子区域的比值与第二预设比值率相比获得第二比值参数；

并根据显示区域X方向的长度和第二比值参数表示光传感器的中心在X轴上的坐标。

可选的，在根据每一感光子区域的第一发光强度和每一感光子区域的第二发光强度获得光传感器的中心在Y轴上的坐标；根据每一感光子区域的第三发光强度和每一感光子区域的第四发光强度获得光传感器的中心在X轴上的坐标，之后，包括：

将第一分割线上的感光子区域进行发光，并检测感光子区域的第五发光强度；并根据每一感光子区域的第五发光强度获取光传感器在X轴上的修正坐标；

将第二分割线上的感光子区域进行发光，并检测感光子区域的第六发光强度；根据每一感光子区域的第六发光强度获取光传感器在Y轴上的修正坐标；

根据X轴上的修正坐标和Y轴上的修正坐标分别对光传感器的中心在X轴上的坐标和光传感器的中心在Y轴上的坐标进行修正获得实际坐标点。

可选的，根据每一感光子区域的第五发光强度获取光传感器在X轴上的修正坐标，包括：

通过第一计算公式获取X轴上的修正坐标，第一计算公式包括：

其中，Xk为X轴上的修正坐标，Xp为第一分割线上的第p个感光子区域的发光强度，p大于0，且小于n为整数；其中，第一分割线上的第1个感光子区域为与Y轴相邻的感光子区域。

可选的，根据每一感光子区域的第六发光强度获取光传感器在Y轴上的修正坐标，包括：

通过第二计算公式获取Y轴上的修正坐标，第二计算公式包括：

其中，Yk为Y轴上的修正坐标，Ym为第二分割线上第m个感光子区域的发光强度，m大于0，且小于n为整数；其中，第二分割线上的第1个感光子区域为远离X轴的感光子区域。

可选的，在根据X轴上的修正坐标和Y轴上的修正坐标分别对光传感器的中心在X轴上的坐标和光传感器的中心在Y轴上的坐标进行修正获得实际坐标点，之后，还包括：

控制待测显示屏形成至少四个发光区域，其中，发光区域围绕光传感器设置；每个发光区域的中点与实际坐标点的距离相同，且每个发光区域的形状和面积相同；

获取每个发光区域的发光强度；

根据发光强度判断光传感器的安装水平度。

可选的，在根据发光强度判断光传感器的安装水平度，之后，还包括：

控制待测显示屏不发光，并控制测试光源依次递增光照强度进行发光，同步检测测试光源的光照强度；

获取屏下光传感器的检测强度，根据光照强度和检测强度对屏下光传感器进行精度校准。

可选的，在获取屏下光传感器的检测强度，根据光照强度和检测强度对屏下光传感器进行精度校准，之后，还包括：

控制测试光源不发光，控制待测显示屏围绕屏下光传感器的组装位置以不同像素面积进行发光；

获取各个像素面积下的屏下光传感器的检测强度，并根据各个像素面积下的屏下光传感器的检测强度，获得每个像素区域内每个像素点的漏光值。

可选的，在获取待测显示屏的显示区域平面的XY坐标系，之前，包括：

控制测试光源与待测显示屏均不发光；

根据照度单元检测的光照强度进行箱内漏光校验。

可选的，在根据照度单元检测的光照强度进行箱内漏光校验，之后，还包括：

控制测试光源以不同占空比发光；

根据照度单元检测的光照强度进行光源校准。

第二方面，本发明实施例提供一种屏下光传感器的测试系统，包括：主控单元和屏下光传感器测试设备；

屏下光传感器的测试设备包括：遮光箱，遮光箱的顶部设置测试光源；遮光箱的底部设置抽屉式放置板；遮光箱的中部设置均匀导光板，其中，均匀导光板包括圆形导光区域；

抽屉式放置板上包括：多个照度单元和多个待测显示屏承载位；照度单元和待测显示屏承载位设置在圆形导光区域在抽屉式放置板上形成的圆形透光区域上，其中，一个照度单元设置在圆形透光区域中心，其余照度单元和待测显示屏承载位设置在圆形透光区域的圆周上；

主控单元通过主控板分别与测试光源、照度单元和待测显示屏承载位上设置的待测显示屏电连接；照度单元用于检测遮光箱内的光照强度；

主控单元用于执行时实现本发明实施例任意的屏下光传感器的测试方法。

第三方面，本发明实施例提供一种屏下光传感器测试设备，包括：遮光箱，遮光箱的顶部设置测试光源；遮光箱的底部设置抽屉式放置板；遮光箱的中部设置均匀导光板，其中，均匀导光板包括圆形导光区域；

抽屉式放置板上包括：多个照度单元和多个待测显示屏承载位；照度单元和待测显示屏承载位设置在圆形导光区域在抽屉式放置板上形成的圆形透光区域上，其中，一个照度单元设置在圆形透光区域中心，其余照度单元和待测显示屏承载位设置在圆形透光区域的圆周上。

可选的，测试光源包括：白光源、红光源、绿光源和蓝光源；其中，测试光源以白光源、红光源、绿光源和蓝光源的顺序循环设置为环状平面灯板。

可选的，的屏下光传感器测试设备，还包括扩散板；扩散板设置在测试光源与均匀导光板之间。

第四方面，本发明实施例提供一种电子设备，电子设备包括：

至少一个处理器；以及

与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，计算机程序被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器能够执行本发明实施例任意的屏下光传感器的测试方法。

第五方面，本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机指令，计算机指令用于使处理器执行时实现本发明实施例任意的屏下光传感器的测试方法。

第六方面，本发明实施例提供一种计算机程序产品，计算机程序产品包括计算机程序，计算机程序在被处理器执行时实现本发明实施例任意的屏下光传感器的测试方法。

本发明实施例通过将屏下的光传感器感光区域划分为多个感光子区域，控制所述待测显示屏在以第一分割线和第二分割线在不同区域内进行发光，利用光传感器的感光强度与距离相关的关系，依据第一发光强度和第二发光强度的比例关系，和第三发光强度和第四发光强度的比例关系，可以推算光传感器的组装位置，从而实现对屏下光传感器的组装位置检测，增加测试功能，同时在后续的感光漏光检测中，无需再次取出待测试显示屏，提高了测试效率。

附图说明

图1为手表液晶屏屏下光传感器的设置结构示意图。

图2为本发明实施例提供的一种屏下光传感器的测试系统的结构示意图。

图3为本发明实施例提供一种屏下光传感器的测试方法的流程示意图。

图4为本发明实施例提供一种待测显示屏的坐标系示意图。

图5为本发明实施例提供一种光传感器感光区域划分示意图。

图6为本发明实施例提供一种第一分割线显示划分示意图。

图7为本发明实施例提供一种第二分割线显示划分示意图。

图8为本发明实施例提供一种获得光传感器的中心在Y轴上的坐标的方法流程示意图。

图9为本发明实施例提供一种获得光传感器的中心在X轴上的坐标的方法流程示意图。

图10为本发明实施例提供又一种屏下光传感器的测试方法的流程示意图。

图11为本发明实施例提供一种待测显示屏发光位置示意图。

图12为本发明实施例提供又一种待测显示屏发光位置示意图。

图13示出了可以用来实施本发明的实施例的一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

可穿戴电子设备领域对液晶屏的应用越来越广泛。作为手表液晶屏的背光亮度自适应方案显得相当重要。为了避免人员在不同环境使用产生视觉疲劳，液晶屏的背光亮度不宜太亮和太暗，不然会使使用人员难以识别到显示内容，因此在不同环境的光照强度下智能手表液晶屏的背光亮度应该有所差别。这就需要使用自动调光技术，让手表液晶屏亮度根据环境光强度自动调整到最佳状态，在明亮的环境下，液晶屏亮度自动调节到较亮的程度，在昏暗的环境下，液晶屏亮度调节到较暗的程度，不需要用户手动调整，就可以使显示的图像信息更加清晰适合人眼观看。

为了能够根据环境光强度调整屏幕的亮度，需要对屏下的光传感器的感光漏光性能进行测试，现有的测试系统通常只能对感光漏光性能测试，但无法在同一设备中检测屏下的光传感器的组装位置，而组装位置的偏差通常会影响性能测试的准确度。

图1为手表液晶屏屏下光传感器的设置结构示意图，参见图1，手表液晶屏光传感器10设置在手表液晶屏玻璃保护层20、触摸屏传感器30和OLED液晶发光层40的下方，手表液晶屏发光时，一部分光会泄漏到光传感器10上。光传感器10接收到环境光后，计算出外界环境光照强度，将外界环境光照强度给到手表液晶屏发光控制芯片，手表液晶屏发光控制芯片根据环境光照强度调整手表液晶屏背光亮度提升用户使用手表体验。手表液晶屏光传感器10检测环境光照强度的精确度越高，手表液晶屏控制液晶屏亮度就越精确，用户体验就越好，所以需要下光传感器10的测试系统具有大规模生产时快速检测生产质量的要求，例如实现组装位置、感光、漏光和校准等检测要求。

有鉴于此，图2为本发明实施例提供的一种屏下光传感器的测试系统的结构示意图，本实施例可适用于屏下的光传感器的测试情况，该系统可采用硬件和/或软件的方式来实现。参见图2，该系统包括：主控单元和屏下光传感器测试设备；

屏下光传感器的测试设备包括：遮光箱2的顶部设置测试光源4；遮光箱2的底部设置抽屉式放置板14；遮光箱2的中部设置均匀导光板5，其中，均匀导光板5包括圆形导光区域；

抽屉式放置板14上包括：多个照度单元7和多个待测显示屏承载位8；照度单元7和待测显示屏承载位8设置在圆形导光区域在抽屉式放置板14上形成的圆形透光区域上，其中，一个照度单元7设置在圆形透光区域中心，其余照度单元7和待测显示屏承载位8设置在圆形透光区域的圆周上；

主控单元13通过主控板12分别与测试光源4、照度单元7和待测显示屏承载位8上设置的待测显示屏电连接；照度单元7用于检测遮光箱2内的光照强度；

主控单元13用于执行本发明实施例任意的屏下光传感器的测试方法。

具体的，遮光箱2内部顶部设置测试光源4，测试光源4可以通过光通量控制发光配比，增强光源的通用性，示例性的，测试光源4可以由多个红光、绿光、蓝光和白光的组合，形成均匀光源。测试光源4出射的光可以透过均匀导光板5均匀照射至圆形透光区域，示例性的，均匀导光板5可以采用亚克力材质的导光板，通常导光板越厚，导光效果越好。遮光箱2内部的底部设置抽屉式放置板14可以活动抽出，当抽屉式放置板14放回至遮光箱2可以在遮光箱2内组成严密的遮光箱2内部，避免产生漏光至遮光箱2内部。抽屉式放置板14上圆形透光区域的中心位置设置一个照度单元9，在圆形透光区域的圆周上设置其余的照度单元7，通过中心上的照度单元7和圆周上的照度单元7的检测光照强度可以用来判断测试光源4的是否具有均匀性。待测显示屏承载位8用于承载待测显示屏，待测显示屏承载位8同样设置在圆形透光区域的圆周上，从而在感光测试时，可以确保屏下光传感器10检测的环境光的一致性。主控单元13控制待测显示屏的发光参数，并获取待测显示屏的屏下光传感器10的检测光强，根据发光参数和检测光强确定屏下光传感器10的组装位置。

示例性的，主控单元13可以包括工业电脑等具有数据处理功能的计算机。还可以包括液晶显示器、鼠标和键盘等外部设备，工业电脑的视频接口、外设接口通过视频电缆、USB电缆分别与液晶显示器、鼠标和键盘相连。液晶显示器作为人机交互的输入输出平台，用于通过测试程序UI界面显示测试过程及测试结果；工业电脑为测试程序的硬件运行平台，工业电脑通过USB电缆与待测显示屏相连，以USB通信协议进行USB通信；工业电脑和手屏下光传感器10测试设备使用以太网线与工厂生产制造网服务器相连，进行数据传输与交互。

基于上述实施例，图3为本发明实施例提供一种屏下光传感器的测试方法的流程示意图，本实施例可适用于屏下光传感器的组装位置测试情况，由屏下光传感器的测试系统执行，该装置可采用硬件和/或软件的方式来实现。该方法具体包括如下步骤：

S110、获取待测显示屏的显示区域平面的XY坐标系；

具体的，根据待测显示屏的显示区域建立平面XY坐标系，便于对屏下光传感器10的中心位置进行坐标标定。示例性的，图4为本发明实施例提供一种待测显示屏的坐标系示意图，参见图4，将待测显示屏的一角作为坐标系原点，以相邻的边作为X轴和Y轴。

S120、根据XY坐标系将屏下的光传感器感光区域划分为多个感光子区域，其中，每个感光子区域面积相等；并且在XY坐标系的X方向和Y方向上的感光子区域个数相等，个数为2n+1个，n大于0且为整数；

具体的，将光传感器10的感光区域11平均划分为多个感光子区域，其中，每个感光子区域为正方形区域，XY坐标系的X方向和Y方向上的感光子区域个数相等，也就是说，将光传感器10的感光区域11的边进行均匀划分，其中划分的个数为奇数个，例如3、5、7……等，从而可以确保光传感器10的实际中心位置可以落在中心的感光子区域。示例性的，图5为本发明实施例提供一种光传感器感光区域划分示意图，参见图5，将光传感器10的感光区域11每个边划分3个，即划分为9个相同的感光子区域，示例性的，每个感光子区域的面积为5*5个像素点。

S130、控制待测显示屏在第一分割线Y方向的一侧进行发光，并获取每一感光子区域的第一发光强度；控制待测显示屏在第一分割线Y方向的反方向一侧进行发光，并获取每一感光子区域的第二发光强度；控制待测显示屏在第二分割线的X方向的反方向的一侧进行发光，获取每一感光子区域的第三发光强度；控制待测显示屏在第二分割线方向的X方向的一侧进行发光，获取每一感光子区域的第四发光强度；其中，第一分割线与X方向平行，第二分割线与Y方向平行，并均经过光传感器感光区域的中心；

具体的，第一分割线和第二分割线为待测显示屏的显示分割线，其中，第一分割线和第二分割线均经过光传感器10感光区域的中心，此时光传感器10感光区域的中心为供应商提供的已知坐标点。示例性的，图6为本发明实施例提供一种第一分割线显示划分示意图，图7为本发明实施例提供一种第二分割线显示划分示意图，结合图5，参见图6和图7，当控制待测显示屏在第一分割线a在Y方向的一侧进行发光时，即第一区域LY1发光，当控制待测显示屏在第一分割线a在Y方向的另一侧进行发光时，即第二区域LY2发光。当控制待测显示屏在第二分割线b的X方向的反方向的一侧进行发光时，即第三区域LX1发光，当控制待测显示屏在第二分割线b的X方向的一侧进行发光时，即第四区域LX2发光。依次对第一区域LY1、第二区域LY2、第三区域LX1和第四区域LX2进行发光，并对应获取每一感光子区域的第一发光强度、第二发光强度、第三发光强度和第四发光强度。

S140、根据每一感光子区域的第一发光强度和每一感光子区域的第二发光强度获得光传感器的中心在Y轴上的坐标；根据每一感光子区域的第三发光强度和每一感光子区域的第四发光强度获得光传感器的中心在X轴上的坐标。

具体的，屏下光传感器10的中心位置的感光强度是以圆形面积覆盖，也就是说，液晶屏的像素点距离发光传感器10越近，光传感器10接收的光强度越大，光传感器10的感光强度与距离有关。因此，当光传感器10的中心位置与供应商提供的已知坐标点存在偏移时,则靠近光传感器10的发光区域的检测的发光强度较大，远离光传感器10的发光区域的检测的发光强度较小，因此，依据第一发光强度和第二发光强度的比例关系，可以计算在Y轴的坐标，依据第三发光强度和第四发光强度的比例关系，计算在X轴的坐标，可以通过将该坐标与提供的光传感器10组装位置进行比较，判断光传感器10组装位置质量是否满足要求。

本发明实施例通过将屏下的光传感器感光区域划分为多个感光子区域，控制所述待测显示屏在以第一分割线和第二分割线在不同区域内进行发光，利用光传感器的感光强度与距离相关的关系，依据第一发光强度和第二发光强度的比例关系，和第三发光强度和第四发光强度的比例关系，可以推算光传感器的组装位置，从而实现对屏下光传感器的组装位置检测，增加测试功能，同时在后续的感光漏光检测中，无需再次取出待测试显示屏，提高了测试效率。

基于上述实施例，图8为本发明实施例提供一种获得光传感器的中心在Y轴上的坐标的方法流程示意图，参见图8，包括：

S210、分别计算每一感光子区域的第一发光强度和每一感光子区域的第二发光强度的比值；

具体的，为了便于说明，以图5中9个感光子区域为例，结合图6和图7，第一区域LY1发光时，第一分割线a从第4个感光子区域、第5个感光子区域和第6个感光子区域中心穿过，分别记录1-9的感光子区域的第一发光强度，分别记录为Y_N_1、Y_N_2、Y_N_3、Y_N_4、Y_N_5、Y_N_6、Y_N_7、Y_N_8和Y_N_9。第二区域LY2发光时，分别记录1-9的感光子区域的第二发光强度，分别记录为Y_S_1、Y_S_2、Y_S_3、Y_S_4、Y_S_5、Y_S_6、Y_S_7、Y_S_8、Y_S_9。其中，第一区域LY1在Y方向上的发光长度为Y_N，第二区域LY2在Y方向上的发光长度为Y_S，则待测显示屏的显示区域Y方向的长度为Yf＝Y_N+Y_S。分别计算至/>的比值。

S220、将X方向上同一行的每一感光子区域的比值与第一预设比值率相比获得第一比值参数；

具体的，每一行的感光子区域设置一个第一预设比值率，第一预设比值率是根据历史多次发光经验进行设置。因此，和/>与第7个感光子区域、第8个感光子区域和第9个感光子区域的第一预设比值率0-n相比；/>和/>与第4个感光子区域、第5个感光子区域和第6个感光子区域的第一预设比值率n-m相比；/> 和/>与第1个感光子区域、第2个感光子区域和第3个感光子区域的第一预设比值率m相比，从而得到对应的第一比值参数。

S230、并根据显示区域Y方向的长度和第一比值参数表示光传感器的中心在Y轴上的坐标。

具体的，光传感器10的中心在Y轴上的坐标可以通过算式进行表示，该算式为：

其中，Yf为待测显示屏的显示区域Y方向的长度，参数“3”可以根据具体的感光子区域的行数调整为对应参数。

基于上述实施例，图9为本发明实施例提供一种获得光传感器的中心在X轴上的坐标的方法流程示意图，参见图9，包括：

S310、分别计算每一感光子区域的第三发光强度和每一感光子区域的第四发光强度的比值；

具体的，为了便于说明，以图5中9个感光子区域为例，结合图6和图7，第三区域LX1发光时，第二分割线b从第2个感光子区域、第5个感光子区域和第8个感光子区域中心穿过，分别记录1-9的感光子区域的第三发光强度，分别记录为X_E_1、X_E_2、X_E_3、X_E_4、X_E_5、X_E_6、X_E_7、X_E_8、X_E_9。第四区域LX2发光时，分别记录1-9的感光子区域的第四发光强度，分别记录为X_W_1、X_W_2、X_W_3、X_W_4、X_W_5、X_W_6、X_W_7、X_W_8、X_W_9。其中，第三区域LX1发光时在X方向上的发光长度为X_E，第四区域LX2X方向上的发光长度为X_W，则待测显示屏的显示区域X方向的长度为Xf＝X_E+X_W。分别计算至/>的比值。

S320、将Y方向上同一列的每一感光子区域的比值与第二预设比值率相比获得第二比值参数；

具体的，每一列的感光子区域设置一个第二预设比值率，第二预设比值率是根据历史多次发光经验进行设置。因此，和/>与第3个感光子区域、第6个感光子区域和第9个感光子区域的第二预设比值率0-h相比；/>和/>与第2个感光子区域、第5个感光子区域和第8个感光子区域的第二预设比值率h-g相比，/> 和/>与第1个感光子区域、第4个感光子区域和第7个感光子区域的第二预设比值率g相比；从而得到对应的第二比值参数。

S330、并根据显示区域X方向的长度和第二比值参数表示光传感器的中心在X轴上的坐标。

具体的，光传感器的中心在X轴上的坐标可以通过算式进行表示，该算式为：

其中，Xf为待测显示屏的显示区域X方向的长度，参数“3”可以根据具体的感光子区域的列数调整为对应参数。

基于上述实施例，可选的，在根据每一感光子区域的第一发光强度和每一感光子区域的第二发光强度获得光传感器的中心在Y轴上的坐标；根据每一感光子区域的第三发光强度和每一感光子区域的第四发光强度获得光传感器的中心在X轴上的坐标，之后，包括：

将第一分割线上的感光子区域进行发光，并检测感光子区域的第五发光强度；并根据每一感光子区域的第五发光强度获取光传感器10在X轴上的修正坐标；

将第二分割线上的感光子区域进行发光，并检测感光子区域的第六发光强度；根据每一感光子区域的第六发光强度获取光传感器10在Y轴上的修正坐标；

根据X轴上的修正坐标和Y轴上的修正坐标分别对光传感器10的中心在X轴上的坐标和光传感器10的中心在Y轴上的坐标进行修正获得实际坐标点。

具体的，基于上述实施例，可以求得光传感器10的中心位置坐标(X1n，Y1n)，然后，将第一分割线a上的感光子区域进行发光，也就是说，结合图5，控制第4个感光子区域、第5个感光子区域和第6个感光子区域上的液晶屏进行发光，形成X轴上的轨迹发光，第4个感光子区域检测的第五发光强度为X1，第5个感光子区域检测的第五发光强度为X2，第6个感光子区域检测的第五发光强度为X3，可选的，根据每一感光子区域的第五发光强度获取光传感器10在X轴上的修正坐标，包括：

通过第一计算公式获取X轴上的修正坐标，第一计算公式包括：

其中，Xk为X轴上的修正坐标，Xp为第一分割线a上的第p个感光子区域的发光强度，p大于0，且小于n为整数；其中，第一分割线a上的第1个感光子区域为与Y轴相邻的感光子区域。因此光传感器10的中心位置x轴的修正坐标

将第二分割线b上的感光子区域进行发光，也就是说，结合图5，控制第2个感光子区域、第5个感光子区域和第8个感光子区域上的液晶屏进行发光，形成Y轴上的轨迹发光，第2个感光子区域检测的第六发光强度为Y1，第5个感光子区域检测的第六发光强度为Y2，第8个感光子区域检测的第六发光强度为Y3，可选的，根据每一感光子区域的第六发光强度获取光传感器10在Y轴上的修正坐标，包括：

通过第二计算公式获取Y轴上的修正坐标，第二计算公式包括：

其中，Yk为Y轴上的修正坐标，Ym为第二分割线b上第m个感光子区域的发光强度，m大于0，且小于n为整数；其中，第二分割线b上的第1个感光子区域为远离X轴的感光子区域。因此光传感器10的中心位置Y轴的修正坐标则屏下光传感器10的中心位置x轴坐标Xn＝X1n+(1-Xk)*5,Yn＝Y1n+(1-Yk)*5,，其中，参数“5”为感光子区域的一边的像素个数，结合图5，示例性的，选择为5。比较供应商提供的光传感器10中心位置理论坐标与实际坐标(Xn,Yn)偏差，确保屏下光传感器10在液晶屏的相对坐标位置质量满足要求。

图10为本发明实施例提供又一种屏下光传感器的测试方法的流程示意图，参见图10，包括：

S410、获取待测显示屏的显示区域平面的XY坐标系；

S420、根据XY坐标系将屏下的光传感器感光区域划分为多个感光子区域，其中，每个感光子区域面积相等；并且在XY坐标系的X方向和Y方向上的感光子区域个数相等，个数为2n+1个，n大于0且为整数；

S430、控制待测显示屏在第一分割线在Y方向的一侧进行发光，并获取每一感光子区域的第一发光强度；控制待测显示屏在第一分割线在Y方向的反方向一侧进行发光，并获取每一感光子区域的第二发光强度；控制待测显示屏在第二分割线的X方向的反方向的一侧进行发光，获取每一感光子区域的第三发光强度；控制待测显示屏在第二分割线方向的X方向的一侧进行发光，获取每一感光子区域的第四发光强度；其中，第一分割线与X方向平行，第二分割线与Y方向平行，并均经过光传感器感光区域的中心；

S440、根据每一感光子区域的第一发光强度和每一感光子区域的第二发光强度获得光传感器的中心在Y轴上的坐标；根据每一感光子区域的第三发光强度和每一感光子区域的第四发光强度获得光传感器的中心在X轴上的坐标。

S450、将第一分割线上的感光子区域进行发光，并检测感光子区域的第五发光强度；并根据每一感光子区域的第五发光强度获取光传感器在X轴上的修正坐标；

S460、将第二分割线上的感光子区域进行发光，并检测感光子区域的第六发光强度；根据每一感光子区域的第六发光强度获取光传感器在Y轴上的修正坐标；

S470、根据X轴上的修正坐标和Y轴上的修正坐标分别对光传感器的中心在X轴上的坐标和光传感器的中心在Y轴上的坐标进行修正获得实际坐标点。

S480、控制待测显示屏形成至少四个发光区域，其中，发光区域围绕光传感器设置；每个发光区域的中点与实际坐标点的距离相同，且每个发光区域的形状和面积相同；

具体的，液晶屏光传感器10实际坐标(Xn,Yn)检测后，保持测试环境为黑暗环境，控制待测显示屏围绕组装位置，形成至少四个发光区域进行发光，发光区域关于实际坐标对称，并且与实际坐标点的距离相同。图11为本发明实施例提供一种待测显示屏发光位置示意图，参见图11，示例性的显示四个画面，四个画面距离光传感器10的等效距离和面积相等，因此光传感器10四周的液晶屏像素发光泄漏到光传感器10理论上光强度相等。

S490、获取每个发光区域的发光强度；

S500、根据发光强度判断光传感器的安装水平度。

具体的，四个画面的发光强度分别记录为Lux-E,Lux-N，Lux-W和Lux-S，。当光传感器10与液晶屏安装的相对垂直距离发生变化，即液晶屏发光泄漏到光传感器10的发光强度发生变化，例如光传感器的一边高，一边低，则光传感器10一边离屏幕近，另一边离屏幕距离远，因此光传感器10靠近液晶屏接收的发光强度比远离液晶屏接收的发光强度大，因此根据发光强度Lux-E与发光强度Lux-W差值,发光强度Lux-N与发光强度Lux-S差值大小就可以判断光传感器10安装水平质量是否满足要求，提升了产品的一致性。

可选的，在根据发光强度判断光传感器10的安装水平度，之后，还包括：

控制待测显示屏不发光，并控制测试光源4依次递增光照强度进行发光，同步检测测试光源4的光照强度；

获取屏下光传感器10的检测强度，根据光照强度和检测强度对屏下光传感器10进行精度校准。

具体的，控制液晶屏不发光，然后根据液晶屏光传感器10感光强度曲线，依次控制测试光源4分别发出不同白光强度，例如LUX-50-W，LUX-100-W，LUX-150-W，LUX-200-W，LUX-300-W，LUX-500-W，LUX-800-W，LUX-1000-W，同时每个照度单元7、待测显示屏承载位8上的待测显示屏同步检测接收的光照强度，其中，在测试前测试光源4需要校验，确保每个照度单元7和待测显示屏处于同一平面，光强度均匀分布。将照度单元7检测的光照强度和待测显示屏的光传感器10检测的光照强度比较，照度单元7的光照强度作为校准值，待测显示屏的光传感器10根据校准值校准自身参数，示例性的，校准过程为照度单元7检测的光照强度为x，x相当于标准光强度值，但光传感器10可能检测的实际值为y，需将y值校准为x值，如比例积分法y*m＝x，m为比例校准系数，并将校准后参数值写入内部存储器，使光传感器10检测环境光精度更好。同样的，针对不同色光进行校准，例如控制测试光源4分别发出设定的不同红光、绿光和蓝光强度，完成光传感器10对环境红光、绿光、蓝光的校准。

由于用户使用手表产品的时候，液晶屏是点亮的，液晶屏的光传感器10读到的亮度除了外界的光，还有液晶屏屏自身发的光，即漏光，漏光为液晶屏发光漏到光传感器10上的光。因此，光传感器10检测组装位置和水平度质量后需要检测检测手表液晶屏的漏光。

可选的，在获取屏下光传感器10的检测强度，根据光照强度和检测强度对屏下光传感器10进行精度校准，之后，还包括：

控制测试光源4不发光，控制待测显示屏围绕屏下光传感器10的组装位置以不同像素面积进行发光；

获取各个像素面积下的屏下光传感器10的检测强度，并根据各个像素面积下的屏下光传感器10的检测强度，获得每个像素区域内每个像素点的漏光值。

具体的，为了精确的获取外界环境光的亮度，因此需要把显示屏自身漏光减去，所以获取液晶屏上每个像素点漏光值。距离光传感器10越近的像素点，漏光检测值越大，距离越远的像素点漏光检测值越小。将液晶屏中每个像素点单独发光，获取该像素点漏光强度，精度是最好的，但像素点数量非常多，因此需要测试时间较长，严重降低测试效率。因此根据光传感器10的中心点实际坐标将液晶屏像素点与实际坐标的距离进行线性化计算，将液晶屏的像素发光区域进行则可以大大降低测试时间，同时像素的漏光精度也满足要求。图12为本发明实施例提供又一种待测显示屏发光位置示意图，参见图12，把屏幕上的像素点分成了几个区域，围绕光传感器10的实际中心9个以内像素点，9-13像素点，13-19像素点，19-29像素点，29-71像素点，全屏的像素点。将区域内像素点离实际坐标点距离线性化，例如，在9个以内像素点发光时，光传感器10检测漏光的检测强度为LUX-9，则该区域内每个像素点漏光值＝LUX-9/Rn*Kn，其中Rn为每个区域内的像素点数，Kn为区域内像素点离中心距离线性化值，从而可以测试计算出液晶屏发白光时每个像素点对光传感器10漏光的漏光值。液晶屏发光由红光、蓝光和绿光三基色组合而成，因此需要测量手表液晶屏每个像素点在红光、蓝光、绿光的漏光值。液晶屏全屏红光每个像素点漏光值检测：控制测试光源4不发光，控制液晶屏全屏发红光，光传感器10检测全屏红光的漏光值LUX_full_R,计算出液晶屏每个像素点发红光时的漏光值，并将每个像素点漏光值写入存储器；液晶屏全屏绿光每个像素点漏光值检测：控制测试光源4不发光，控制液晶屏全屏发绿光，光传感器10检测全屏绿光的漏光值LUX_full_G,计算出液晶屏每个像素点发绿光时的漏光值，并将每个像素点漏光值写入存储器；液晶屏全屏蓝光每个像素点漏光值检测：控制测试光源4不发光，控制液晶屏全屏发蓝光，光传感器10检测全屏蓝光的漏光值LUX_full_B,计算出液晶屏每个像素点发蓝光时的漏光值，并将每个像素点漏光值写入存储器。当光传感器10检测环境光减去液晶屏每个像素点的漏光值就是环境光强度的真实值，液晶屏根据环境光强度调整液晶屏每个像素点自身发光强度，极大的提高了用户体验。

为了保证整个测试过程避免外界环境光的影响，整个过程需要在遮光箱2内部完成，因此在测试之前需要对遮光箱内的漏光值进行检测。因此，在获取待测显示屏的显示区域平面的XY坐标系，之前，包括：

控制测试光源与待测显示屏均不发光；

根据照度单元检测的光照强度进行箱内漏光校验。

具体的，控制测试光源4和待测显示屏均不发光，此时待测显示屏与照度单元7都处在同一黑暗环境中，同时检测该黑暗环境下的光照强度，若照度单元7检测的光照强度接近0lux，则说明遮光箱2内没有漏光，若照度单元7检测的光照强度大于0lux并且超过预设阈值，则说明遮光箱2内出现漏光，需对箱内漏光校验。

任何光源在经过一定时间的使用后，色温和照度都会出现不同程度的偏移，这种误差往往是由于LED灯珠自身老化造成的，一旦光源的误差超过了正常范围，该光学环境下的检测结果就失去了价值。因此，需要将屏下光传感器10的测试设备内部的测试光源4进行均匀一致性光源校准。有鉴于此，可选的，在根据照度单元7检测的光照强度进行箱内漏光校验，之后，还包括：

控制测试光源以不同占空比发光；

根据照度单元检测的光照强度进行光源校准。

具体的，控制测试光源4为以不同占空比发光，例如，波占空比分别可以设置为10％，20％，30％，40％，50％发光，此时各照度单元7均处在同一平面的圆周上，检测测试光源4发出的R红光、G绿光、B蓝光、白光在不同颜色，不同光照强度值下确保每个照度单元7准确度一致性和光源发光的光照度一致性，从而进行光源校准，减少测试光源4使用一段时间后光照减弱的问题，通过照度单元7负反馈控制测试光源4的发光强度与测试要求值一致，从而使光传感器10和照度单元7接收的光照强度一致。

本发明实施例还提供一种屏下光传感器10的测试设备，继续参见图2，包括：遮光箱2，遮光箱2的顶部设置测试光源4；遮光箱2的底部设置抽屉式放置板14；遮光箱2的中部设置均匀导光板5，其中，均匀导光板5包括圆形导光区域；

抽屉式放置板14上包括：多个照度单元7和多个待测显示屏承载位8；照度单元7和待测显示屏承载位8设置在圆形导光区域在抽屉式放置板14上形成的圆形透光区域上，其中，一个照度单元7设置在圆形透光区域中心，其余照度单元7和待测显示屏承载位8设置在圆形透光区域的圆周上。

具体的，遮光箱2内部顶部设置测试光源4，测试光源4可以通过光通量控制发光配比，增强光源的通用性，示例性的，测试光源4可以由多个红光、绿光、蓝光和白光的组合，形成均匀光源。测试光源4出射的光可以透过均匀导光板5均匀照射至圆形透光区域，示例性的，均匀导光板5可以采用亚克力材质的导光板，通常导光板越厚，导光效果越好。遮光箱2内部的底部设置抽屉式放置板14可以活动抽出，当抽屉式放置板14放回至遮光箱2可以在遮光箱2内组成严密的遮光箱2内部，避免产生漏光至遮光箱2内部。抽屉式放置板14上圆形透光区域的中心位置设置一个照度单元7，在圆形透光区域的圆周上设置其余的照度单元7，通过中心上的照度单元7和圆周上的照度单元7的检测光照强度可以用来判断测试光源4的是否具有均匀性。待测显示屏承载位待测显示屏承载位8用于承载待测显示屏，待测显示屏承载位待测显示屏承载位8同样设置在圆形透光区域的圆周上，从而在感光测试时，可以确保屏下光传感器10检测的环境光一致性。同时将屏下光传感器10置于遮光箱2，在对待测显示屏单独发光进行测试时，避免外界光对屏下光传感器10漏光检测的影响。

屏下光传感器的测试设备的测试光源4的设计需考虑照度、色温、均匀度参数，是整个装置设计的基础。因此，本发明实施例还提供一种测试光源，用于屏下光传感器的测试设备。测试光源4包括：白光源、红光源、绿光源和蓝光源；其中，测试光源4以白光源W、红光源R、绿光源G和蓝光源B的顺序循环设置为环状平面灯板。

具体的，为克服测试光源4色温和照度的光照强度及颜色精度降低，测试光源4为多个白光源W、红光源R、绿光源G和蓝光源B组成的环状平面灯板。可选的，测试光源4与均匀导光板5之间设置扩散板3。测试光源4发出的光透过扩散板3，再经过圆形的均匀导光板5，让光均匀垂直的照射在抽屉式放置板14上，抽屉式放置板14上的照度单元7检测测试光源4的光照强度、色温等参数，并将光照强度、色温值发送给主控单元13。主控单元13根据不在同一条直线上的照度单元7的光照强度判断是否照度均匀。当照度单元7检测到的光照强度偏差不在规定的范围内，即测试光源4发出的光照强度不均匀。

根据国际照明委员会(CIE)制订了国际通用的色温标准CIE1931色域图XYZ坐标转化成xy的色品坐标:Xm＝Xm/(Xm+Ym+Zm)，Ym＝Ym/(Xm+Ym+Zm)，Zm＝Zm/(Xm+Ym+Zm)，结合格拉斯曼颜色混合定律、加混色原理、CIE色度计算方法，三基色灯所占比例是DrDgDb。红光源R、绿光源G和蓝光源B混色后的色品坐标满足：Xm＝Xm/(Xm+Ym+Zm)＝(CrDrXr+CgDgXg+CbDbXb)/(CrDr+CgDg+CbDb)，Ym＝Ym/(Xm+Ym+Zm)＝(CrDrYr+CgDgYg+CbDbYb)/(CrDr+CgDg+CbDb),其中式子中Xm、Ym、Zm、是混合光源M三刺激值，Yr、Yg、Yb是光源RGB的Ym刺激值，Cr、Xr、Cg、Xg、Cb、Xb这些参数为格拉斯曼定义的RGB三色混色原理，在CIE-1931标准色度系统中Ym刺激值等于光通量，因此通过控制光通量(亮度)即可控制三种颜色的配比。

为了进一步增强光源的通用性，光源的色温设计成四个可调的范围:2900K～3500K、3500K～4200K、4200K～5300K和5300K～6000K，光源用四种白光源，每种对应一个色温范围。白光源W由相同数量的2900K和3500K色温的LED组成，这两种灯珠可以拟合出2900K～3500K范围内的任一色温，其余各可调色温同理。为了使色温过渡平滑，每种高、低色温的LED间隔排布。除了四种用于发光的白光源外，还需要校准色温或色坐标的灯珠。在2900K～6000K的色温范围内，色温越低，红光分量占主导地位，色温越高，绿光分量占主导地位，色坐标同理，可见调整红光和绿光的分量可以改变色温或色坐标，因此选用红、绿灯珠进行校准，这两种灯珠同样采用间隔排布。为了出光更均匀，光源放置了亚克力材质的导光板，通常导光板越厚，导光效果越好。此外，导光板上方放置了扩散板，使得光源有更好的出射角度。主控单元13通过灯源驱动1驱动多个4通道道脉冲宽度调制(PWM)来调节测试光源4的白光源、红光源、绿光源和蓝光源LED灯珠的导通占空比来控制色温和亮度，主控单元13根据照度单元7所处的坐标位置反馈的色温和亮度值调节控制红光源R、绿光源G和蓝光源B的LED灯珠占空比，使得各圆周上的光传感器10接收的光照强度一致，通过照度单元7负反馈控制测试光源4的发光参数，克服了传统光源使用一段时间后色温和亮度发生偏移，提高了测试光源4出射光的色温和亮度均匀性，提高了测试精度。

测试光源4每次使用时，通过照度单元7的检测值调整光照射均匀性，将照度、色温、色坐标等参数校准较高的精度，校准后的光源用于模拟液晶屏环境光感光测试。

图13示出了可以用来实施本发明的实施例的一种电子设备100的结构示意图。电子设备旨在表示各种形式的数字计算机，诸如，膝上型计算机、台式计算机、工作台、个人数字助理、服务器、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置，诸如，个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备(如头盔、眼镜、手表等)和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例，并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本发明的实现。

如图13所示，电子设备100包括至少一个处理器101，以及与至少一个处理器101通信连接的存储器，如只读存储器(ROM)102、随机访问存储器(RAM)103等，其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，处理器101可以根据存储在只读存储器(ROM)102中的计算机程序或者从存储单元108加载到随机访问存储器(RAM)103中的计算机程序，来执行各种适当的动作和处理。在RAM 103中，还可存储电子设备100操作所需的各种程序和数据。处理器101、ROM 102以及RAM 103通过总线104彼此相连。输入/输出(I/O)接口105也连接至总线104。

电子设备100中的多个部件连接至I/O接口105，包括：输入单元106，例如键盘、鼠标等；输出单元107，例如各种类型的显示器、扬声器等；存储单元108，例如磁盘、光盘等；以及通信单元109，例如网卡、调制解调器、无线通信收发机等。通信单元109允许电子设备100通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据。

处理器101可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。处理器101的一些示例包括但不限于中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、各种专用的人工智能(AI)计算芯片、各种运行机器学习模型算法的处理器、数字信号处理器(DSP)、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。处理器101执行上文所描述的各个方法和处理，例如屏下光传感器的测试方法。

在一些实施例中，屏下光传感器的测试方法可被实现为计算机程序，其被有形地包含于计算机可读存储介质，例如存储单元108。在一些实施例中，计算机程序的部分或者全部可以经由ROM 102和/或通信单元109而被载入和/或安装到电子设备100上。当计算机程序加载到RAM 103并由处理器101执行时，可以执行上文描述的屏下光传感器的测试方法的一个或多个步骤。备选地，在其他实施例中，处理器101可以通过其他任何适当的方式(例如，借助于固件)而被配置为执行屏下光传感器的测试方法。

文中以上描述的系统和技术的各种实施方式可以在数字电子电路系统、集成电路系统、场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)、专用标准产品(ASSP)、芯片上系统的系统(SOC)、负载可编程逻辑设备(CPLD)、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括：实施在一个或者多个计算机程序中，该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上执行和/或解释，该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器，可以从存储系统、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令，并且将数据和指令传输至该存储系统、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。

用于实施本发明的方法的计算机程序可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些计算机程序可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器，使得计算机程序当由处理器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。计算机程序可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。

在本发明的上下文中，计算机可读存储介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的计算机程序。计算机可读存储介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。备选地，计算机可读存储介质可以是机器可读信号介质。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。

为了提供与用户的交互，可以在电子设备上实施此处描述的系统和技术，该电子设备具有：用于向用户显示信息的显示装置(例如，CRT(阴极射线管)或者LCD(液晶显示器)监视器)；以及键盘和指向装置(例如，鼠标或者轨迹球)，用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给电子设备。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈(例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈)；并且可以用任何形式(包括声输入、语音输入或者、触觉输入)来接收来自用户的输入。

可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统(例如，作为数据服务器)、或者包括中间件部件的计算系统(例如，应用服务器)、或者包括前端部件的计算系统(例如，具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机，用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互)、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信(例如，通信网络)来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括：局域网(LAN)、广域网(WAN)、区块链网络和互联网。

计算系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。服务器可以是云服务器，又称为云计算服务器或云主机，是云计算服务体系中的一项主机产品，以解决了传统物理主机与VPS服务中，存在的管理难度大，业务扩展性弱的缺陷。

应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本发明的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (19)

1.一种屏下光传感器的测试方法，由屏下光传感器的测试系统执行，其特征在于，包括：

获取待测显示屏的显示区域平面的XY坐标系；

根据所述XY坐标系将屏下的光传感器感光区域划分为多个感光子区域，其中，每个所述感光子区域面积相等；并且在所述XY坐标系的X方向和Y方向上的所述感光子区域个数相等，所述个数为2n+1个，n大于0且为整数；

控制所述待测显示屏在第一分割线Y方向的一侧进行发光，并获取每一所述感光子区域的第一发光强度；控制所述待测显示屏在所述第一分割线Y方向的反方向一侧进行发光，并获取每一所述感光子区域的第二发光强度；控制所述待测显示屏在第二分割线的X方向的反方向的一侧进行发光，获取每一所述感光子区域的第三发光强度；控制所述待测显示屏在所述第二分割线方向的X方向的一侧进行发光，获取每一所述感光子区域的第四发光强度；其中，所述第一分割线与所述X方向平行，所述第二分割线与所述Y方向平行，并均经过所述光传感器感光区域的中心；

根据每一所述感光子区域的第一发光强度和每一所述感光子区域的第二发光强度获得光传感器的中心在Y轴上的坐标；根据每一所述感光子区域的第三发光强度和每一所述感光子区域的第四发光强度获得光传感器的中心在X轴上的坐标。

2.根据权利要求1所述的屏下光传感器的测试方法，其特征在于，所述系统包括主控单元和屏下光传感器测试设备；

所述屏下光传感器的测试设备包括：遮光箱，所述遮光箱的顶部设置测试光源；所述遮光箱的底部设置抽屉式放置板；所述遮光箱的中部设置均匀导光板，其中，所述均匀导光板包括圆形导光区域；

所述抽屉式放置板上包括：多个照度单元和多个待测显示屏承载位；所述照度单元和所述待测显示屏承载位设置在所述圆形导光区域在所述抽屉式放置板上形成的圆形透光区域上，其中，一个所述照度单元设置在所述圆形透光区域中心，其余所述照度单元和所述待测显示屏承载位设置在所述圆形透光区域的圆周上；

所述主控单元通过主控板分别与所述测试光源、所述照度单元和所述待测显示屏承载位上设置的待测显示屏电连接；所述照度单元用于检测所述遮光箱内的光照强度；

所述主控单元用于执行所述的屏下光传感器的测试方法。

3.根据权利要求2所述的屏下光传感器的测试方法，其特征在于，根据每一所述感光子区域的第一发光强度和每一所述感光子区域的第二发光强度获得光传感器的中心在Y轴上的坐标，包括：

分别计算每一所述感光子区域的第一发光强度和每一所述感光子区域的第二发光强度的比值；

将所述X方向上同一行的每一所述感光子区域的所述比值与第一预设比值率相比获得第一比值参数；

并根据所述显示区域Y方向的长度和所述第一比值参数表示所述光传感器的中心在Y轴上的坐标。

4.根据权利要求2所述的屏下光传感器的测试方法，其特征在于，根据每一所述感光子区域的第三发光强度和每一所述感光子区域的第四发光强度获得光传感器的中心在X轴上的坐标，包括：

分别计算每一所述感光子区域的第三发光强度和每一所述感光子区域的第四发光强度的比值；

将所述Y方向上同一列的每一所述感光子区域的所述比值与第二预设比值率相比获得第二比值参数；

并根据所述显示区域X方向的长度和所述第二比值参数表示所述光传感器的中心在X轴上的坐标。

5.根据权利要求2所述的屏下光传感器的测试方法，其特征在于，在根据每一所述感光子区域的第一发光强度和每一所述感光子区域的第二发光强度获得光传感器的中心在Y轴上的坐标；根据每一所述感光子区域的第三发光强度和每一所述感光子区域的第四发光强度获得光传感器的中心在X轴上的坐标，之后，包括：

将所述第一分割线上的所述感光子区域进行发光，并检测所述感光子区域的第五发光强度；并根据每一所述感光子区域的第五发光强度获取所述光传感器在X轴上的修正坐标；

将所述第二分割线上的所述感光子区域进行发光，并检测所述感光子区域的第六发光强度；根据每一所述感光子区域的第六发光强度获取所述光传感器在Y轴上的修正坐标；

根据所述X轴上的修正坐标和所述Y轴上的修正坐标分别对所述光传感器的中心在X轴上的坐标和所述光传感器的中心在Y轴上的坐标进行修正获得实际坐标点。

6.根据权利要求5所述的屏下光传感器的测试方法，其特征在于，根据每一所述感光子区域的第五发光强度获取所述光传感器在X轴上的修正坐标，包括：

通过第一计算公式获取所述X轴上的修正坐标，所述第一计算公式包括：

其中，Xk为所述X轴上的修正坐标，Xp为所述第一分割线上的第p个所述感光子区域的发光强度，p大于0，且小于n为整数；其中，第一分割线上的第1个所述感光子区域为与所述Y轴相邻的所述感光子区域。

7.根据权利要求5所述的屏下光传感器的测试方法，其特征在于，根据每一所述感光子区域的第六发光强度获取所述光传感器在Y轴上的修正坐标，包括：

通过第二计算公式获取所述Y轴上的修正坐标，所述第二计算公式包括：

其中，Yk为所述Y轴上的修正坐标，Ym为所述第二分割线上第m个所述感光子区域的发光强度，m大于0，且小于n为整数；其中，所述第二分割线上的第1个所述感光子区域为远离所述X轴的所述感光子区域。

8.根据权利要求5所述的屏下光传感器的测试方法，其特征在于，在根据所述X轴上的修正坐标和所述Y轴上的修正坐标分别对所述光传感器的中心在X轴上的坐标和所述光传感器的中心在Y轴上的坐标进行修正获得实际坐标点，之后，还包括：

控制所述待测显示屏形成至少四个发光区域，其中，所述发光区域围绕所述光传感器设置；每个所述发光区域的中点与所述实际坐标点的距离相同，且每个所述发光区域的形状和面积相同；

获取每个所述发光区域的发光强度；

根据所述发光强度判断所述光传感器的安装水平度。

9.根据权利要求8所述的屏下光传感器的测试方法，其特征在于，在根据所述发光强度判断所述光传感器的安装水平度，之后，还包括：

控制所述待测显示屏不发光，并控制所述测试光源依次递增光照强度进行发光，同步检测所述测试光源的光照强度；

获取所述屏下光传感器的检测强度，根据所述光照强度和所述检测强度对所述屏下光传感器进行精度校准。

10.根据权利要求9所述的屏下光传感器的测试方法，其特征在于，在获取所述屏下光传感器的检测强度，根据所述光照强度和所述检测强度对所述屏下光传感器进行精度校准，之后，还包括：

控制所述测试光源不发光，控制所述待测显示屏围绕所述屏下光传感器的组装位置以不同像素面积进行发光；

获取各个所述像素面积下的所述屏下光传感器的检测强度，并根据各个所述像素面积下的所述屏下光传感器的检测强度，获得每个像素区域内每个像素点的漏光值。

11.根据权利要求2所述的屏下光传感器的测试方法，其特征在于，在获取所述待测显示屏的显示区域平面的XY坐标系，之前，包括：

控制所述测试光源与所述待测显示屏均不发光；

根据所述照度单元检测的光照强度进行箱内漏光校验。

12.根据权利要求11所述的屏下光传感器的测试方法，其特征在于，在根据所述照度单元检测的光照强度进行箱内漏光校验，之后，还包括：

控制所述测试光源以不同占空比发光；

根据所述照度单元检测的光照强度进行光源校准。

13.一种屏下光传感器的测试系统，其特征在于，包括：主控单元和屏下光传感器测试设备；

所述屏下光传感器的测试设备包括：遮光箱，所述遮光箱的顶部设置测试光源；所述遮光箱的底部设置抽屉式放置板；所述遮光箱的中部设置均匀导光板，其中，所述均匀导光板包括圆形导光区域；

所述抽屉式放置板上包括：多个照度单元和多个待测显示屏承载位；所述照度单元和所述待测显示屏承载位设置在所述圆形导光区域在所述抽屉式放置板上形成的圆形透光区域上，其中，一个所述照度单元设置在所述圆形透光区域中心，其余所述照度单元和所述待测显示屏承载位设置在所述圆形透光区域的圆周上；

所述主控单元通过主控板分别与所述测试光源、所述照度单元和所述待测显示屏承载位上设置的待测显示屏电连接；所述照度单元用于检测所述遮光箱内的光照强度；

所述主控单元用于执行时实现权利要求1-12中任一项所述的屏下光传感器的测试方法。

14.一种屏下光传感器测试设备，其特征在于，包括：遮光箱，所述遮光箱的顶部设置测试光源；所述遮光箱的底部设置抽屉式放置板；所述遮光箱的中部设置均匀导光板，其中，所述均匀导光板包括圆形导光区域；

所述抽屉式放置板上包括：多个照度单元和多个待测显示屏承载位；所述照度单元和所述待测显示屏承载位设置在所述圆形导光区域在所述抽屉式放置板上形成的圆形透光区域上，其中，一个所述照度单元设置在所述圆形透光区域中心，其余所述照度单元和所述待测显示屏承载位设置在所述圆形透光区域的圆周上。

15.根据权利要求14所述的屏下光传感器测试设备，其特征在于，所述测试光源包括：白光源、红光源、绿光源和蓝光源；其中，所述测试光源以所述白光源、所述红光源、所述绿光源和所述蓝光源的顺序循环设置为环状平面灯板。

16.根据权利要求14所述的屏下光传感器测试设备，其特征在于，还包括扩散板；所述扩散板设置在所述测试光源与所述均匀导光板之间。

17.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-12中任一项所述的屏下光传感器的测试方法。

18.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-12中任一项所述的屏下光传感器的测试方法。

19.一种计算机程序产品，其特征在于，所述计算机程序产品包括计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时实现根据权利要求1-12中任一项所述的屏下光传感器的测试方法。