CN116381459A - 一种安全浮动式pga芯片测试插座 - Google Patents

Abstract

本发明属于PGA芯片制作测试应用技术领域，具体公开了一种安全浮动式PGA芯片测试插座，包括探针、待测试封装PGA芯片、底板、插座、通槽、浮动板、弹簧、若干个芯片引脚通孔、若干个插座体探针通孔和若干个底板探针通孔等。本发明的有益效果在于：1、测试时可以使得待测试封装PGA芯片和浮动板一起向下运动，避免了芯片与测试座直接的刮擦，不易刮伤待测试封装PGA芯片，同时浮动板的芯片引脚通孔直径尺寸大于测试封装PGA芯片的管脚直径，合理的避让芯片的管脚，使得芯片管脚不易弯曲，使得芯片测试更稳定，提高产品品质以及降低生产成本；2、整体采用分体组合式设计，便于组装使用以及维护保养，同时构成部件可单独更换，降低了使用成本。

Description

一种安全浮动式PGA芯片测试插座

技术领域

本发明属于PGA芯片制作测试应用技术领域，具体涉及一种安全浮动式PGA芯片测试插座，适用于对待测试PGA芯片精准、高效模拟测试过程时的保护。

背景技术

PGA芯片在生产制作过程中，需要进行模拟环境测试，以实现PGA芯片的高标准生产制作。

测试插座是PGA芯片的必备部件，其通过与探测相配合使用辅助模拟设备进行高效率精准的模拟测试。但是，在测试的过程中现有的针对PGA测试的测试插座，因其不合理的设计结构，造成测试PGA芯片出现刮伤，引脚弯曲变形，出现测试不良的现象，即会导致模拟测试的结果不精准，降低了生产制作效率，同时损伤现象导致芯片报废，也增加的产品生产成本等。

基于上述问题，本发明提供一种安全浮动式PGA芯片测试插座。

发明内容

发明目的：本发明的目的是针对现有技术的不足，提供一种安全浮动式PGA芯片测试插座，能够解决背景技术中PGA芯片测试过程中芯片出现刮伤以及引脚弯曲的不良现象。

技术方案：本发明提供的一种安全浮动式PGA芯片测试插座，包括探针、插座体和待测试封装PGA芯片，所述插座体的一面固定装配有底板，所述插座体的另一面固定装配有插座框，所述插座框内设置有通槽，所述插座体上通过通槽设置有浮动板，所述插座体、浮动板的相对面之间垂直向设置有弹簧，所述浮动板内设置有若干个芯片引脚通孔，所述插座体、底板内分别设置有若干个插座体探针通孔、若干个底板探针通孔；其中，探针通过插座体探针通孔、底板探针通孔放置在插座体、底板内，弹簧对称设置在插座体、浮动板的相对面四角，待测试封装PGA芯片的管脚分别插入芯片引脚通孔内。

本技术方案的，所述安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在浮动板外壁的螺丝限位卡槽，及对称设置在插座框内，且位于通槽外层的螺栓凹槽，及对称设置在插座框内，且位于螺栓凹槽内的螺栓通孔，及设置在插座体内的插座体螺槽；其中，浮动板、插座框之间通过螺栓通孔、插座体螺槽利用螺丝装配。

本技术方案的，所述安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在插座体内，且位于插座体螺槽内层的弹簧限位槽；其中，弹簧垂直向放置在弹簧限位槽内。

本技术方案的，所述安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在插座体、底板内的插座体螺孔、底板螺孔；其中，插座体、底板之间通过插座体螺孔、底板螺孔利用螺栓固定装配。

本技术方案的，所述安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括分别对称设置在插座体、底板内的插座体导向孔、底板导线孔，及设置在浮动板底面内的浮动板导槽，及通过插座体导向孔、底板导线孔固定设置在插座体、底板内的导向销；其中，导向销一端位于浮动板导槽内。

本技术方案的，所述安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在浮动板外壁的限位凸起，及对称设置在插座框内，且位于相邻螺栓凹槽之间的限位卡槽；其中，限位凸起在限位卡槽内垂直向活动，限位凸起、限位卡槽包括但不限于相配合使用的弧形结构。

本技术方案的，所述安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在插座框外层内的固定通孔，及通过固定通孔将插座框进行支撑框架固定装配的竖螺栓、竖螺栓螺母。

本技术方案的，所述安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括设置在插座体一面，且与底板相配合使用的横隔板；其中，横隔板隔档插座体、底板的相对面不接触。

本技术方案的，所述安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在插座框两侧端面的插座框凹槽，及对称设置在浮动板两侧端面的浮动板凹槽；其中，测试时插座框凹槽、浮动板凹槽齐平，用于放置待测试封装PGA芯片。

本技术方案的，所述插座体、底板分别设置为相配合使用的板式多边形结构，所述插座框、浮动板分别设置为相配合使用的四边形结构，其中，通槽为正方形结构。

与现有技术相比，本发明的一种安全浮动式PGA芯片测试插座的有益效果在于：1、测试时可以使得待测试封装PGA芯片和浮动板一起向下运动，避免了芯片与测试座直接的刮擦，不易刮伤待测试封装PGA芯片，同时浮动板的芯片引脚通孔直径尺寸大于测试封装PGA芯片的管脚直径，合理的避让芯片的管脚，使得芯片管脚不易弯曲，使得芯片测试更稳定，提高产品品质以及降低生产成本；2、整体采用分体组合式设计，便于组装使用以及维护保养，同时构成部件可单独更换，降低了使用成本；3、增加的插座体导向孔、底板导线孔、浮动板导槽和导向销设计，起到导向和定位的作用，提高浮动板下移时的精准性，不出现挤压测试封装PGA芯片管脚的现象；4、增加的限位凸起、限位卡槽，实现对浮动板垂直向下移时的水平向限位，不出现对浮动板横向位移导致测试封装PGA芯片管脚变形的现象；5、其设计合理，提高测试效率，便于制作及推广使用。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明的一种安全浮动式PGA芯片测试插座的主视分体结构示意图；

图2是图1的局部放大结构示意图；

图3是本发明的一种安全浮动式PGA芯片测试插座的插座框、浮动板等的装配俯视结构示意图；

图4是本发明的一种安全浮动式PGA芯片测试插座的底板、插座体等的剖视部分结构示意图；

其中，图中序号如下：1-探针、2-插座框、3-底板、4-插座体、5-浮动板、6-竖螺栓、7-弹簧、8-插座体螺孔、9-底板螺孔、10-插座体螺槽、11-待测试封装PGA芯片、12-螺栓凹槽、13-螺栓通孔、14-螺丝、15-螺栓、16-弹簧限位槽、17-竖螺栓螺母、18-通槽、19-插座体导向孔、20-底板导线孔、21-导向销、22-浮动板导槽、23-限位凸起、24-限位卡槽、25-芯片引脚通孔、26-插座体探针通孔、27-底板探针通孔、28-螺丝限位卡槽、29-固定通孔、30-横凸板、31-浮动板凹槽、32-插座框凹槽。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“顶部”、“底部”、“一侧”、“另一侧”、“前面”、“后面”、“中间部位”、“内部”、“顶端”、“底端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性；此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

实施例一

如图1、图2、图3和图4所示的一种安全浮动式PGA芯片测试插座，包括探针1、插座体4和待测试封装PGA芯片11，

插座体4的一面固定装配有底板3，

插座体4的另一面固定装配有插座框2，

插座框2内设置有通槽18，

插座体4上通过通槽18设置有浮动板5（浮动板在通槽内垂直向运动），

插座体4、浮动板5的相对面之间垂直向设置有弹簧7，

浮动板5内设置有若干个芯片引脚通孔25，

插座体4、底板3内分别设置有若干个插座体探针通孔26、若干个底板探针通孔27。

其中，探针1通过插座体探针通孔26、底板探针通孔27放置在插座体4、底板3内，弹簧7对称设置在插座体4、浮动板5的相对面四角，待测试封装PGA芯片11的管脚分别插入芯片引脚通孔25内。

实施例二

在实施例一的基础上，安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在浮动板5外壁的螺丝限位卡槽28，及对称设置在插座框2内，且位于通槽18外层的螺栓凹槽12，及对称设置在插座框2内，且位于螺栓凹槽12内的螺栓通孔13，及设置在插座体4内的插座体螺槽10。

其中，浮动板5、插座框2之间通过螺栓通孔13、插座体螺槽10利用螺丝14装配，装配时螺丝14卡入螺丝限位卡槽28内对浮动板5进行压紧固定，同时装配后保证弹簧7具有一定的回弹伸缩空间。

实施例三

在实施例一或实施例二的基础上，安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在插座体4内，且位于插座体螺槽10内层的弹簧限位槽16。

其中，弹簧7的一端垂直向放置在弹簧限位槽16内，另一端与浮动板5的底面接触，形成对浮动板5向上的支撑力。

实施例四

在实施例一或实施例二或实施例三的基础上，安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在插座体4、底板3内的插座体螺孔8、底板螺孔9。

其中，插座体4、底板3之间通过插座体螺孔8、底板螺孔9利用螺栓15固定装配（装配时探测先通过插座体螺孔、底板螺孔放置在插座体、底板内），防止放置在若干个插座体探针通孔26、若干个底板探针通孔27内的探测1脱离插座体4、底板3。

实施例五

在实施例一或实施例二或实施例三或实施例四的基础上，安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括分别对称设置在插座体4、底板3内的插座体导向孔19、底板导线孔20，及设置在浮动板5底面内的浮动板导槽22，及通过插座体导向孔19、底板导线孔20固定设置在插座体4、底板3内的导向销21。

其中，导向销21一端位于浮动板导槽22内，用于对下移的浮动板5进行垂直向的限位支撑和水平向的限位，防止挤压待测试封装PGA芯片11的管脚出现变形的现象。

实施例六

在实施例一或实施例二或实施例三或实施例四或实施例五的基础上，安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在浮动板5外壁的限位凸起23，及对称设置在插座框2内，且位于相邻螺栓凹槽12之间的限位卡槽24。

其中，限位凸起23在限位卡槽24内垂直向活动，限位凸起23、限位卡槽24包括但不限于相配合使用的弧形结构，实现对浮动板5、插座框2之间相对的水平向限位，防止浮动板5出现大范围的水平横向移动，造成待测试封装PGA芯片11的管脚变形。

实施例七

在实施例一或实施例二或实施例三或实施例四或实施例五或实施例六的基础上，安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括设置在插座体4一面，且与底板3相配合使用的横隔板30。

其中，横隔板30用于隔档插座体4、底板3的相对面不接触，起到插座体4、底板3、探测1之间的通风、散热，保证测试过程的安全。

实施例八

在实施例一或实施例二或实施例三或实施例四或实施例五或实施例六或实施例七的基础上，安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在插座框2两侧端面的插座框凹槽32，及对称设置在浮动板5两侧端面的浮动板凹槽31。

其中，测试时插座框凹槽32、浮动板凹槽31齐平，用于放置待测试封装PGA芯片11，如图1所示在可测试正方形的待测试封装PGA芯片11的基础上，还可用于测试长方形的待测试封装PGA芯片11，增加测试功能的适应性。

此外，优选的插座体4、底板3分别设置为相配合使用的板式多边形结构，插座框2、浮动板5分别设置为相配合使用的四边形结构，其中，通槽18为正方形结构（多边形结构）或圆形结构，美观及便装配。

此外，优选的安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在插座框2外层内的固定通孔29，及通过固定通孔29将插座框2进行支撑框架（图中未标出，不影响本申请技术方案的公开）固定装配的竖螺栓6、竖螺栓螺母17。

本结构的安全浮动式PGA芯片测试插座的工作原理或结构原理：

首先，将弹簧7分别放置在弹簧限位槽16内；

然后，将浮动板5通过通槽18放置在插座框2内，同时浮动板5的底面与弹簧限位槽16内的弹簧7（四组）接触；

最后，将待测试封装PGA芯片11通过芯片引脚通孔25放置在浮动板5上。

当浮动板5通过芯片引脚通孔25放置待测试封装PGA芯片11后，待测试封装PGA芯片11的重量垂直向下压浮动板5，浮动板5向插座体4运动，此时待测试封装PGA芯片11的管脚与插座体探针通孔26、底板探针通孔27内放置探针1接触，探针1将待测试封装PGA芯片11的管脚与外部测试设备接通进行通电测试。

需要说明的是，在本文中，诸如术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (10)

1.一种安全浮动式PGA芯片测试插座，包括探针（1）、插座体（4）和待测试封装PGA芯片（11），其特征在于：

所述插座体（4）的一面固定装配有底板（3），

所述插座体（4）的另一面固定装配有插座框（2），

所述插座框（2）内设置有通槽（18），

所述插座体（4）上通过通槽（18）设置有浮动板（5），

所述插座体（4）、浮动板（5）的相对面之间垂直向设置有弹簧（7），

所述浮动板（5）内设置有若干个芯片引脚通孔（25），

所述插座体（4）、底板（3）内分别设置有若干个插座体探针通孔（26）、若干个底板探针通孔（27）；

其中，探针（1）通过插座体探针通孔（26）、底板探针通孔（27）放置在插座体（4）、底板（3）内，弹簧（7）对称设置在插座体（4）、浮动板（5）的相对面四角，待测试封装PGA芯片（11）的管脚分别插入芯片引脚通孔（25）内。

2.根据权利要求1所述的一种安全浮动式PGA芯片测试插座，其特征在于：所述安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在浮动板（5）外壁的螺丝限位卡槽（28），及对称设置在插座框（2）内，且位于通槽（18）外层的螺栓凹槽（12），及对称设置在插座框（2）内，且位于螺栓凹槽（12）内的螺栓通孔（13），及设置在插座体（4）内的插座体螺槽（10）；

其中，浮动板（5）、插座框（2）之间通过螺栓通孔（13）、插座体螺槽（10）利用螺丝（14）装配。

3.根据权利要求1或2所述的一种安全浮动式PGA芯片测试插座，其特征在于：所述安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在插座体（4）内，且位于插座体螺槽（10）内层的弹簧限位槽（16）；

其中，弹簧（7）垂直向放置在弹簧限位槽（16）内。

4.根据权利要求3所述的一种安全浮动式PGA芯片测试插座，其特征在于：所述安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在插座体（4）、底板（3）内的插座体螺孔（8）、底板螺孔（9）；

其中，插座体（4）、底板（3）之间通过插座体螺孔（8）、底板螺孔（9）利用螺栓（15）固定装配。

5.根据权利要求4所述的一种安全浮动式PGA芯片测试插座，其特征在于：所述安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括分别对称设置在插座体（4）、底板（3）内的插座体导向孔（19）、底板导线孔（20），及设置在浮动板（5）底面内的浮动板导槽（22），及通过插座体导向孔（19）、底板导线孔（20）固定设置在插座体（4）、底板（3）内的导向销（21）；

其中，导向销（21）一端位于浮动板导槽（22）内。

6.根据权利要求5所述的一种安全浮动式PGA芯片测试插座，其特征在于：所述安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在浮动板（5）外壁的限位凸起（23），及对称设置在插座框（2）内，且位于相邻螺栓凹槽（12）之间的限位卡槽（24）；

其中，限位凸起（23）在限位卡槽（24）内垂直向活动，限位凸起（23）、限位卡槽（24）包括但不限于相配合使用的弧形结构。

7.根据权利要求6所述的一种安全浮动式PGA芯片测试插座，其特征在于：所述安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在插座框（2）外层内的固定通孔（29），及通过固定通孔（29）将插座框（2）进行支撑框架固定装配的竖螺栓（6）、竖螺栓螺母（17）。

8.根据权利要求7所述的一种安全浮动式PGA芯片测试插座，其特征在于：所述安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括设置在插座体（4）一面，且与底板（3）相配合使用的横隔板（30）；

其中，横隔板（30）隔档插座体（4）、底板（3）的相对面不接触。

9.根据权利要求8所述的一种安全浮动式PGA芯片测试插座，其特征在于：所述安全浮动式PGA芯片测试插座，还包括对称设置在插座框（2）两侧端面的插座框凹槽（32），及对称设置在浮动板（5）两侧端面的浮动板凹槽（31）；

其中，测试时插座框凹槽（32）、浮动板凹槽（31）齐平，用于放置待测试封装PGA芯片（11）。

10.根据权利要求1-9任一项所述的一种安全浮动式PGA芯片测试插座，其特征在于：所述插座体（4）、底板（3）分别设置为相配合使用的板式多边形结构，所述插座框（2）、浮动板（5）分别设置为相配合使用的四边形结构，其中，通槽（18）为正方形结构。

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