CN116325162A - 检测器像素浮动 - Google Patents

Abstract

本发明的目的是提供一种用于检测x射线和/或伽马射线的设备和方法。检测器，该检测器包括多个像素，该多个像素中的每个像素能在浮动模式和检测模式之间切换，其中，该多个像素中的每个像素被配置为当处于检测模式时检测入射的x射线和/或伽马射线辐射；控制单元，该控制单元被耦接到检测器并被配置为：在第一时间帧期间，将多个像素中的第一像素子集配置为浮动模式，并且将多个像素中的第二像素子集配置为检测模式；以及在第二时间帧期间，将多个像素中的第三像素子集配置为浮动模式，并且将多个像素中的第四像素子集配置为检测模式。提供了一种设备和方法。

Description

检测器像素浮动

技术领域

本公开涉及场x射线和伽马射线检测器，更具体地，涉及用于检测x射线和/或伽马射线的设备和方法。

背景技术

在像素化的x射线和伽马射线检测器中，如果入射辐射所产生的电荷云的宽度变得与像素的大小相当，则像素之间可以共享大量事件，这可称为电荷共享。通过引入低能事件的背景，电荷共享会导致检测器的光谱性能的下降。

发明内容

提供发明内容用于以简化形式来介绍概念的选择，将在下文的具体实施方式中进一步描述这些概念。发明内容不旨在识别所要求保护的主题的关键特征或基本特征，也不旨在用于限制所要求保护的主题的范围。

本发明的目的是提供一种用于检测x射线和/或伽马射线的设备和方法。上述目的和其他目的是通过独立权利要求的特征实现的。根据从属权利要求、说明书和附图，进一步的实现形式变得明显。

根据第一方面，一种设备包括：检测器，该检测器包括多个像素，该多个像素中的每个像素能在浮动模式和检测模式之间切换，其中，多个像素中的每个像素被配置为当处于检测模式时检测入射的x射线和/或伽马射线辐射；控制单元，该控制单元被耦接到检测器并被配置为：在第一时间帧期间，将多个像素中的第一像素子集配置为浮动模式，并且将多个像素中的第二像素子集配置为检测模式；以及在第二时间帧期间，将多个像素中的第三像素子集配置为浮动模式，并且将多个像素中的第四像素子集配置为检测模式。该设备可以例如减少检测器中的电荷共享，并因此提高检测器的光谱分辨率。

在第一方面的实现形式中，第一像素子集对应于第四像素子集，和/或第二像素子集对应于第三像素子集。该设备可以例如在第一时间帧期间使用第二像素子集进行检测，并且在第二时间帧期间使用第一像素子集进行检测。因此，可以利用检测器的全空间分辨率。

在第一方面的进一步实现形式中，第一像素子集中的像素在空间上不相邻，第二像素子集中的像素在空间上不相邻，第三像素子集中的像素在空间上不相邻，和/或第四像素子集中的像素在空间上不相邻。因为使用的是非相邻像素来进行检测，所以该设备还可以例如减少电荷共享。

在第一方面的进一步实现形式中，第一像素子集、第二像素子集、第三像素子集和/或第四像素子集形成棋盘图案。因为使用的是棋盘图案中的非相邻像素来进行检测，所以该设备还可以例如减少电荷共享。

在第一方面的进一步实现形式中，控制单元还被配置为：在第一时间帧期间，根据第二像素子集中的每个像素来获取检测计数信号；以及在第二时间帧期间，根据第四像素子集中的每个像素来获取检测计数信号。该设备可以例如利用来自两个时间帧的检测计数来提高精确度。

在第一方面的进一步实现形式中，控制单元还被配置为：在第一时间帧和/或第二时间帧期间，对处于检测模式下的至少两个像素的每一个像素的检测进行识别，其中，该至少两个像素与处于浮动模式下的像素相邻；以及对该浮动像素的该至少两个像素的检测进行计数。该设备可以例如减缓由于在浮动像素附近发生的命中而产生的误差。

在第一方面的进一步实现形式中，控制单元还被配置为：对来自第一时间帧和第二时间帧的检测计数信号进行组合。该设备可以例如通过组合来自两个时间帧的命中计数来利用来自两个时间帧的检测计数。

在第一方面的另一实现形式中，检测器包括转换层，该转换层被配置为将入射的x射线或伽马射线辐射转换为电荷以及与多个像素对应的多个电极，该多个电极被配置为当处于检测模式时收集电荷。该设备可以例如有效地检测入射辐射。

在第一方面的另一实现形式中，转换层包括碲化镉和/或碲化镉锌。该设备可以例如有效地将入射辐射转换成电荷。

在第一方面的进一步实现形式中，转换层是非像素化的。因为电荷共享在具有非像素化转换层的检测器中可能更具特征性，因此该设备还可以例如减缓电荷共享。

根据第二方面，一种用于对包括多个像素的检测器进行控制的方法，该多个像素中的每个像素能在浮动模式和检测模式之间切换，其中，多个像素中的每个像素被配置为当处于检测模式时检测入射的x射线或伽马射线辐射，以及该方法包括：在第一时间帧期间，将多个像素中的第一像素子集配置为浮动模式，并且将多个像素中的第二像素子集配置为检测模式；以及在第二时间帧期间，将多个像素中的第三像素子集配置为浮动模式，并且将多个像素中的第四像素子集配置为检测模式。该方法可以实现例如减少检测器中的电荷共享，并因此提高检测器的光谱分辨率。

在第二方面的实现形式中，第一像素子集对应于第四像素子集，和/或第二像素子集对应于第三像素子集。该方法可以实现例如在第一时间帧期间使用第二像素子集进行检测，并且在第二时间帧期间使用第一像素子集进行检测。因此，可以利用检测器的全空间分辨率。

在第二方面的进一步实现形式中，第一像素子集中的像素在空间上不相邻，第二像素子集中的像素在空间上不相邻，第三像素子集中的像素在空间上不相邻，和/或第四像素子集中的像素在空间上不相邻。因为使用的是非相邻像素来进行检测，所以该方法还可以实现例如减少电荷共享。

在第二方面的进一步实现形式中，第一像素子集、第二像素子集、第三像素子集和/或第四像素子集形成棋盘图案。因为使用的是棋盘图案中的非相邻像素来进行检测，所以该方法还可以实现例如减少电荷共享。

在第二方面的进一步实现形式中，该方法还包括：在第一时间帧期间，根据第二像素子集中的每个像素来获取检测计数信号；以及在第二时间帧期间，根据第四像素子集中的每个像素来获取检测计数信号。该方法可以实现例如利用来自两个时间帧的检测计数以提高精确度。

在第二方面的进一步实现形式中，该方法还包括：在第一时间帧和/或第二时间帧期间，对处于检测模式下的至少两个像素中的每一个像素的检测进行识别，其中，该至少两个像素与处于浮动模式下的像素相邻；以及对该浮动像素的该至少两个像素的检测进行计数。该方法可以实现例如减缓由于在浮动像素的区域中发生的命中而引起的误差。

在第二方面的进一步实现形式中，该方法还包括：对来自第一时间帧和第二时间帧的检测计数信号进行组合。该方法可以例如通过组合来自两个时间帧的命中计数来实现对来自两个时间帧的检测计数的利用。

根据第三方面，一种计算机程序产品包括程序代码，该程序代码被配置为当在计算机上执行计算机程序产品时来执行根据第二方面的方法。

通过参考结合附图所考虑的以下详细描述，许多附带特征变得将更容易理解而具有可读性。

附图说明

在下文中，参考附图更详细地描述了示例性实施例，在附图中：

图1示出了根据实施例的设备的示意图；

图2示出了根据实施例的检测器的示意图；

图3示出了根据比较性示例的检测器的像素之间的电荷共享的示意图；

图4示出了根据实施例的减缓电荷共享的示意图；

图5示出了根据实施例的多个像素的示意图；

图6示出了根据另一实施例的多个像素的示意图；以及

图7示出了根据实施例的方法的流程图。

在下文中，相同的附图标记指的是相似的或至少在功能上等同的特征。

具体实施方式

在下文描述中，参考形成本公开的一部分的附图，并且通过图示的方式示出了本公开可以放置在附图中的各特定方面。应当理解，在不脱离本公开的范围的情况下，可以利用其他方面，并且可以进行结构或逻辑改变。因为本公开的范围是由所附权利要求来限定的，所以下文的详细描述不应被理解为限制性的。

例如，应当理解，结合所描述的方法的公开也可以适用于被配置为执行该方法的相应设备或系统，反之亦然。例如，如果描述了特定的方法步骤，则相应的设备可以包括执行所描述的方法步骤的单元，即使在附图中没有明确描述或示出该单元。另一方面，例如，如果基于功能单元来描述特定设备，则相应的方法可以包括用于执行所描述的功能的步骤，即使在附图中没有明确描述或示出该步骤。此外，应当理解，除非另有特别说明，否则本文所描述的各种示例性方面的特征可以彼此组合。

图1示出了根据实施例的设备100的示意图。

根据一实施例，设备100包括检测器101，该检测器101包括多个像素。多个像素中的每个像素能在浮动模式和检测模式之间切换。多个像素中的每个像素可以被配置为当处于检测模式时检测入射的x射线和/或伽马射线辐射。

多个像素可以在空间上被布置为例如二维阵列或矩阵。

浮动模式可以指像素与例如接地端或其它基准电压电断开的工作模式。因此，当处于浮动模式时，因为检测器中的辐射所产生的电荷不能通过像素流动，所以像素不能检测入射的x射线或和/或伽马射线辐射。浮动模式也可以被称为断开模式、禁用模式或类似模式。

检测模式可以指这样的工作模式：像素被电连接为可以通过像素来检测入射的x射线或和/或伽马射线辐射的方式。检测模式也可以称为连接模式、使能模式或类似模式。

例如，多个像素中的每个像素可以被配置为当处于检测模式时检测像素附近的入射的x射线和/或伽马射线辐射。

多个像素中的每个像素还可以被配置为当处于检测模式时检测入射的x射线和/或伽马射线辐射的能量。例如，多个像素中的每个像素还可以被配置为当处于检测模式时检测像素附近的入射的x射线和/或伽马射线辐射的能量。

设备100还可以包括控制单元102，该控制单元102被耦接到检测器101并被配置为在第一时间帧期间将多个像素中的第一像素子集配置为浮动模式，并且将多个像素中的第二像素子集配置为检测模式。

控制单元102也可以称为处理单元、计算单元或类似单元。

控制单元102可以例如被电耦接到多个像素中的每个像素。在一些实施例中，可以将控制单元102实现为专用集成电路(application-specific integrated circuit，ASIC)。在一些进一步的实施例中，可以将ASIC与检测器101集成到单个单元中。在其他实施例中，可以将控制单元102体现在与检测器101相分离的设备中。

时间帧可以指预配置长度的时间段。时间帧的时间长度可以根据应用而变化。时间帧的长度可以被配置为对于使得能够在检测器101中发生对入射辐射的检测的事件来说足够长。

控制单元102还可以被配置为在第二时间帧期间将多个像素中的第三像素子集配置为浮动模式，并且将多个像素中的第四像素子集配置为检测模式。

根据实施例，第一像素子集对应于第四像素子集，和/或第二像素子集对应于第三像素子集。因此，第一像素子集可以在第一时间帧期间被配置为浮动模式，并且在第二时间帧期间被配置为检测模式。相应地，第二像素子集可以在第一时间帧期间被配置为检测模式，并且在第二时间帧期间被配置为浮动模式。

控制单元102可以包括至少一个处理器。该至少一个处理器可以包括例如各种处理设备中的一个或多个，例如协处理器、微处理器、控制器、数字信号处理器(digitalsignal processor，DSP)、具有或不具有伴随DSP的处理电路，或者包括集成电路的各种其他处理设备，例如专用集成电路(application-specific integrated circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(field-programmable gate array，FPGA)、微控制器单元(microcontroller unit，MCU)、硬件加速器、专用计算机芯片等。

控制单元102还可以包括存储器。存储器可以被配置为存储例如计算机程序等。存储器可以包括一个或多个易失性存储器设备、一个或多个非易失性存储器设备、和/或一个或多个易失性存储器设备和非易失性存储器设备的组合。例如，可以将存储器体现为磁存储设备(例如硬盘驱动器、软盘、磁带等)、光学磁存储设备和半导体存储器(例如掩模ROM、可编程ROM(programmable ROM，PROM)、可擦除PROM(erasable PROM，PROM)、闪存ROM、随机存取存储器(random access memory，RAM)等)。

本领域技术人员可以理解，当控制单元102被配置为实现一些功能时，控制单元102的一些组件和/或多个组件，例如至少一个处理器和/或存储器，可以被配置为实现该功能。此外，当至少一个处理器被配置为实现某些功能时，可以使用例如存储器中包括的程序代码来实现该功能。

图2示出了根据实施例的检测器101的示意图。

根据一实施例，检测器101包括转换层202，该转换层被配置为将入射的x射线和/或伽马射线辐射204转换为电荷以及与多个像素对应的多个电极203，该多个电极被配置为当处于检测模式时收集电荷。

例如，在图2的实施例中，检测器101包括顶部电极201、转换层202和多个电极203。当例如通过控制单元102在顶部电极201和多个电极203中的电极之间施加偏置电压时，由转换层204中的入射辐射204引起的事件所产生的自由电荷漂移到电极。因此，在例如时间帧期间经由多个电极203中的电极所收集的电荷量与由电极附近的入射辐射204所引起的事件的数量是成比例的。因此，通过在例如多个时间帧期间收集和测量电荷，可以获取入射辐射204的光谱信息和空间分布，即图像。

根据一实施例，转换层202包括碲化镉和/或碲化镉锌。

检测器101可以包括直接转换检测器。因此，转换层202可以直接将入射辐射204转换为待被多个电极203收集的电荷。

检测器101可以包括硅、砷化镓(GaAs)或能够将入射辐射204转换成电荷的任何其他材料。

图3示出了根据比较性示例的检测器的像素300之间的电荷共享。

在第一时间帧期间，辐射的第一命中301和第二命中302到达检测器。从图3可以看出，第一命中301基本上在像素的中间，而第二命中302在两个像素之间。由于第一命中301位于像素的中间，所以基本上都经由该像素来收集由第一命中301所产生的所有电荷/能量。另一方面，如图3所示，由于第二命中302在两个像素之间，所以经由两个像素来收集所产生的电荷/能量，这可称为电荷共享。电荷共享可能会对测量的能谱产生噪声。

在第二时间帧期间，发生第三命中303、第四命中304和第五305命中。类似于第一命中301，第三命中303和第四命中304基本上在像素的中间，并且不发生电荷共享。另一方面，如图3所示，第五命中305在像素之间，并且发生电荷共享。

在理想的情况下，完全通过单个像素来收集由入射辐射引起的命中所产生的电荷云。然而，检测器在像素之间可能没有绝缘。因此，在实际情况中，如果命中发生在像素的边缘附近或在像素之间，例如在第二命中302和第五命中305的情况下，则可以经由相邻像素来收集所生成的云的一部分。这可能会产生干扰而降低能量，并降低检测器的光谱分辨率。当对例如图3的示例中的来自多个帧的命中进行组合时，干扰也被组合到最终结果。

使用复杂的基于硬件的解决方案来减缓电荷共享效应是可能的，这些解决方案可能需要ASIC的空间并且应该适合像素尺寸。由于像素尺寸可以是例如0.1mm×0.1mm，这在实践中可能难以实现。

图4示出了根据实施例的减缓电荷共享。

在图4的实施例中，发生与图3的比较性示例类似的命中。然而，在图4的实施例中，在第一时间帧期间，第一像素子集处于浮动模式402，而第二像素子集处于检测模式401。因此，即使第二命中302再次发生在两个像素之间，但因为在第一时间帧期间，两个像素中只有一个像素处于检测模式401，而另一个像素处于浮动模式402，所以也由单个像素来收集电荷。由于对应的像素处于检测模式401，所以与图3的比较性示例类似地来检测第一命中301。

在图4的实施例中，在第一时间帧期间被配置为处于检测模式401的像素子集在第二时间帧期间被配置为处于浮动模式402，反之亦然。

在第二时间帧期间，第三命中303再次基本上发生在像素的中间。然而，由于所讨论的像素在命中期间处于浮动模式402，所以由处于检测模式401的两个相邻像素来收集所产生的电荷。与第二命中302类似，仅由一个像素来检测第五命中305。由于第四命中304再次出现在处于检测模式401的像素的中间，所以也由单个像素来检测第四命中304。

根据实施例，第一像素子集对应于第四像素子集，和/或第二像素子集对应于第三像素子集。例如，在图4的实施例中，就是这种情况。因此，第一像素子集中的每个像素在第一时间帧期间处于浮动模式，并且在第二时间帧期间处于检测模式，并且第二像素子集中的每个像素在第一时间帧期间处于检测模式，并且在第二时间帧期间处于浮动模式。

根据一实施例，第一像素子集中的像素在空间上不相邻，第二像素子集中的像素在空间上不相邻，第三像素子集中的像素在空间上不相邻，和/或第四像素子集中的像素在空间上不相邻。例如，在图4的实施例中，由于在第一子集或第二子集中的任何像素对之间总是存在至少一个像素，所以第一像素子集和第二像素子集在空间上不相邻。然而，图4的实施例中所示的图案仅是示例性的，并且像素也能够以任何其他方式不相邻。

根据实施例，第一像素子集、第二像素子集、第三像素子集和/或第四像素子集形成棋盘图案。在图4的实施例中示出了棋盘图案的示例。

根据一实施例，控制单元102还被配置为在第一时间帧期间，根据第二像素子集中的每个像素来获取检测计数信号。控制单元102还可以被配置为在第二时间帧期间，根据第四像素子集中的每个像素来获取检测计数信号。检测计数信号可以包括例如与在对应像素附近发生的事件的数量成比例的任何信号。例如，检测计数信号可以包括由于在转换层202中所产生的电荷而产生的电流信号。

根据一实施例，控制单元102还被配置为对来自第一时间帧和第二时间帧的检测计数信号进行组合。这可以产生组合的计数分布310。

例如，在图4的实施例中所示，来自第一时间帧和来自第二时间帧的计数可以组合为单个计数分布。这样的话，由于在第一时间帧期间处于浮动模式的像素在第二时间帧期间处于检测模式，所以可以获取多个像素300中的所有像素的计数，反之亦然。在一些实施例中，控制单元102可以针对多于两个时间帧来执行此操作。

当命中发生在像素边缘附近时，设备100可以减少相邻像素的电荷共享，而无需复杂的硬件级校正算法。由于处于浮动像素的中间的命中而发生的误命中能够以低得多的能量被收集，并且可能不会对处于感兴趣的能量范围内的能量分辨率产生影响。因此，可以简化ASIC设计。

由于像素可以独立地被配置成浮动模式，因此可以生成不同类型的成像模态。本文的实施例中示出的处于浮动模式402和处于检测模式401的像素的图案仅是示例性的。可以根据用户和应用的需求来配置这些图案。

在一些实施例中，也可以使用多于两个时间帧，并且对于每个时间帧，多个像素可以被分成多于两个子集。

在一些实施例中，像素浮动可以与硬件级电荷共享校正相结合。例如，如果命中发生在浮动像素的中间，例如图4的实施例中的第三命中303，则可以通过对例如在所有相邻像素中在同一时间帧期间何时发生命中进行识别来检测发生在相邻像素中的误命中。然后，可以对浮动像素的电荷进行计数。

根据一实施例，控制单元102还被配置为在第一时间帧和/或第二时间帧期间，对处于检测模式下的至少两个像素中的每一个像素的检测进行识别，其中，该至少两个像素与处于浮动模式下的像素相邻，并且根据该浮动像素的该至少两个像素对检测进行计数。例如，在图4的实施例中，控制单元102可以对由于第三命中303的在两个相邻像素中的检测进行识别，并对实际发生第三命中303的浮动像素的检测进行计数。类似地，如果浮动像素位于多个像素300的边缘，但不像第三命中303那样处于角落，则控制单元102可以使用三个相邻像素。如果浮动像素不处于角落并且不处于多个像素300的边缘，则控制单元102可以使用四个相邻像素。如果浮动像素和/或检测像素的图案不同，则使用的像素数可以不同。

图5示出了根据实施例的多个像素300的示意图。

在图5的实施例中，包括9个像素的组中的一个像素处于检测模式401，而该组中的其他8个像素处于浮动模式402。多个像素300可以包括例如多个含有9个像素的这样的组。这可以是在单个帧(例如第一时间帧)期间的情况。在每个后续帧期间，包括9个像素的组中的不同像素可以处于检测模式401，直到所有9个像素都处于检测模式401。然后，可以重复该过程。

或者，对于每一帧，9个像素中的相同像素可以处于检测模式401。这样的话，可以通过减少电荷共享来提高器件100的光谱分辨率，同时可以降低时间分辨率。因此，可以基于成像应用的要求来调整时间分辨率和光谱分辨率之间的取舍。

本文公开的任何实施例中，对于第一时间帧和第二时间帧，相同的像素子集可以处于检测模式401中。在这样的实施例中，第一像素子集对应于第三像素子集，第二像素子集对应于第四像素子集。由于浮动像素在时间帧之间不改变，所以这可以被称为静态浮动。

图6示出了根据实施例的多个像素300的示意图。

在图6的实施例中，包括4个像素的组中的一个像素处于检测模式401，而该组中的其他3个像素处于浮动模式402。多个像素300可以包括多个这样的组。这可以是在单个帧(例如第一时间帧)期间的情况。在每个后续帧期间，该组中的4个像素的不同像素可以处于检测模式401，直到所有4个像素都处于检测模式401。然后，可以重复该过程。

或者，对于每一帧，4个像素中的相同像素可以处于检测模式401。

类似于上面公开的实施例，多个像素300可以包括多个像素组，其中，每个组包括N个像素。例如，在图4、图5和图6的实施例中，分别为N＝2、N＝9和N＝4。控制单元102可被配置为将每个组中的像素配置为检测模式401，并将其余像素配置为浮动模式402。对于每个后续时间帧，控制单元102可以将每个组中的不同像素配置为检测模式401。控制单元102可以持续该操作N个时间帧，即直到组中的每个像素已经处于检测模式401。然后，控制单元102可以再次开始该过程。

图7示出了根据实施例的方法700的流程图表示。

一种用于对包括多个像素的检测器进行控制的方法700，该多个像素中的每个像素能在浮动模式和检测模式之间切换，其中，多个像素中的每个像素被配置为当处于检测模式时检测入射的x射线或伽马射线辐射，方法700包括：在第一时间帧期间，将多个像素中的第一像素子集配置为浮动模式，并且将多个像素中的第二像素子集配置为检测模式。

方法700还可以包括在第二时间帧期间，将多个像素中的第三像素子集配置702为浮动模式，并且将多个像素中的第四像素子集配置702为检测模式。

可以由例如控制单元102来执行方法700。

本文给出的任何范围或设备值都可以扩展或改变，而不会失去所寻求的效果。此外，除非明确不允许，否则任何实施例都可以与另一实施例组合。

尽管已经用特定于结构特征和/或动作的语言描述了本主题，但是应该理解，在所附权利要求中所定义的主题不一定限于上述特定特征或动作。更确切地说，上文所描述的具体特征和动作被公开作为实现权利要求的示例，并且其他等效特征和动作旨在处于权利要求的范围内。

应当理解，上述益处和优点可以涉及一个实施例，或者可以涉及几个实施例。实施例不限于解决任何或所有问题的实施例，或者具有任何或所有所述益处和优点的实施例。还将理解，提及“一个”项目可以指那些项目中的一个或多个。

能够以任何合适的顺序执行本文所描述的方法的步骤，或者在适当的情况下同时执行。另外，在不脱离本文所述主题的精神和范围的情况下，可以将各个块从任何方法中删除。上述任何实施例的方面可以与所描述的任何其他实施例的方面相结合，以形成进一步的实施例，而不会失去所寻求的效果。

术语“包括”在本文中用于表示包括所识别的方法、块或元素，但是这些块或元素不包括排他性列表，并且方法或装置可以包含额外的块或元素。

应当理解，上述描述仅作为示例给出，本领域技术人员可以进行各种修改。上述说明、示例和数据提供了示例性实施例的结构和用途的完整描述。尽管上文已经以一定程度的特殊性描述了各种实施例，或者参考一个或多个单独的实施例，但是本领域技术人员可以在不脱离本说明书的精神或范围的情况下对本公开的实施例进行许多改变。

Claims (14)

1.一种设备(100)，包括：

检测器(101)，所述检测器(101)包括多个像素(300)，所述多个像素中的每个像素能在浮动模式(402)和检测模式(401)之间切换，其中，所述多个像素中的每个像素被配置为当处于所述检测模式时检测入射的x射线和/或伽马射线辐射(204)；

控制单元(102)，所述控制单元(102)被耦接到所述检测器并被配置为：

在第一时间帧期间，将所述多个像素中的第一像素子集配置为所述浮动模式，并且将所述多个像素中的第二像素子集配置为所述检测模式；以及

在第二时间帧期间，将所述多个像素中的第三像素子集配置为所述浮动模式，并且将所述多个像素中的第四像素子集配置为所述检测模式。

2.根据权利要求1所述的设备(100)，其中，所述第一像素子集对应于所述第四像素子集，和/或所述第二像素子集对应于所述第三像素子集。

3.根据权利要求1或2所述的设备(100)，其中，所述第一像素子集中的像素在空间上不相邻，所述第二像素子集中的像素在空间上不相邻，所述第三像素子集中的像素在空间上不相邻，和/或所述第四像素子集中的像素在空间上不相邻。

4.根据前述权利要求中任一项所述的设备(100)，其中，所述第一像素子集、所述第二像素子集、所述第三像素子集和/或所述第四像素子集形成棋盘图案。

5.根据前述权利要求中任一项所述的设备(100)，其中，所述控制单元还被配置为：

在所述第一时间帧期间，根据所述第二像素子集中的每个像素来获取检测计数信号；以及

在所述第二时间帧期间，根据所述第四像素子集中的每个像素来获取检测计数信号。

6.根据权利要求5所述的设备(100)，其中，所述控制单元还被配置为：

对来自所述第一时间帧和所述第二时间帧的所述检测计数信号进行组合。

7.根据前述权利要求中任一项所述的设备(100)，其中，所述控制单元还被配置为：

在所述第一时间帧和/或所述第二时间帧期间，对处于检测模式下的至少两个像素中的每一个像素的检测进行识别，其中，所述至少两个像素与处于所述浮动模式下的像素相邻；以及

对所述浮动像素的所述至少两个像素的检测进行计数。

8.根据前述权利要求中任一项所述的设备(100)，其中，所述检测器(101)包括转换层(202)，所述转换层被配置为将所述入射的x射线或伽马射线辐射(204)转换为电荷以及与所述多个像素(300)对应的多个电极(203)，所述多个电极被配置为当处于所述检测模式时收集所述电荷。

9.根据权利要求8所述的设备(100)，其中，所述转换层(202)包括碲化镉和/或碲化镉锌。

10.根据权利要求8或9所述的设备(100)，其中，所述转换层(202)是非像素化的。

11.一种用于对包括多个像素的检测器进行控制的方法(700)，所述多个像素中的每个像素能在浮动模式和检测模式之间切换，其中，所述多个像素中的每个像素被配置为当处于所述检测模式时检测入射的x射线或伽马射线辐射，所述方法包括：

在第一时间帧期间，将所述多个像素中的第一像素子集配置(701)为所述浮动模式，并且将所述多个像素中的第二像素子集配置(701)为所述检测模式；以及

在第二时间帧期间，将所述多个像素中的第三像素子集配置(702)为所述浮动模式，并且将所述多个像素中的第四像素子集配置(702)为所述检测模式。

12.根据权利要求11所述的方法(700)，其中，所述第一像素子集对应于所述第四像素子集，和/或所述第二像素子集对应于所述第三像素子集。

13.根据权利要求11或12所述的方法(700)，其中，所述第一像素子集中的像素在空间上不相邻，所述第二像素子集中的像素在空间上不相邻，所述第三像素子集中的像素在空间上不相邻，和/或所述第四像素子集中的像素在空间上不相邻。

14.一种计算机程序产品，包括程序代码，所述程序代码被配置为当在计算机上实施所述计算机程序产品时执行根据权利要求11-13中任一项所述的方法。

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