CN116303036A - 一种产品测试方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

一种产品测试方法、装置、设备及存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种产品测试方法、装置、设备及存储介质，该产品测试方法包括：接收测试任务指令，所述测试任务指令包含待测试产品名称；生成和所述待测试产品名称对应的测试方案；接收基于所述测试方案进行测试生成的测试数据；基于所述测试数据获取测试过程中发现的缺陷数据；于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据的解决方案，并将所述缺陷数据和所述解决方案发送至设定流程节点进行缺陷管理；根据所述测试数据和所述缺陷管理过程中产生的数据生成测试报告并更新所述缺陷数据库。本发明实施例能够根据缺陷数据库获取测试过程中发现的缺陷的解决方案，方便测试人员得到结论，提高测试效率。

Description

一种产品测试方法、装置、设备及存储介质
技术领域
本发明涉及测试管理技术领域，尤其涉及一种产品测试方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
随着电子产品、智能电网的发展，产品测试面临着越来越多的要求与挑战，软件的规模及复杂度也大大提高。
目前大部分测试方法以人工为主，当检测出产品缺陷时需要人工去分析该缺陷的解决方案，这就要求测试人员需要具有较丰富的测试经验，且测试人员需要花费较多的时间才能够得到结论，测试效率较低。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供了一种产品测试方法、装置、设备及存储介质，以解决现有的测试方法测试效率低的技术问题。
本发明提出的技术方案如下：
本发明实施例第一方面提供了一种产品测试方法，包括：接收测试任务指令，所述测试任务指令包含待测试产品名称；生成和所述待测试产品名称对应的测试方案；接收基于所述测试方案进行测试生成的测试数据；基于所述测试数据获取测试过程中发现的缺陷数据；于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据的解决方案，并将所述缺陷数据和所述解决方案发送至设定流程节点进行缺陷管理；根据所述测试数据和所述缺陷管理过程中产生的数据生成测试报告并更新所述缺陷数据库。
可选地，所述生成和所述待测试产品名称对应的测试方案，包括：根据所述待测试产品名称于历史测试经验库和异常问题库中获取关联的测试用例，并基于所述测试用例生成对应的测试方案。
可选地，所述根据所述待测试产品名称于历史测试经验库和异常问题库中获取关联的测试用例，并基于所述测试用例生成对应的测试方案，包括：于异常问题库中获取和所述待测试产品名称关联的异常问题和异常原因；于历史测试经验库中获取用于检测所述异常和所述异常原因的测试用例将所述测试用例进行聚合，生成测试方案。
可选地，在根据所述测试任务生成测试方案后，包括：接收测试设备信息和测试人员的任务信息；根据所述测试设备信息和所述任务信息将所述测试任务和测试方案分配至对应的测试人员。
可选地，所述于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据的解决方案，包括：获取所述缺陷数据的日志文件；将所述日志文件和所述缺陷数据库中的历史信息进行匹配，获取所述缺陷数据的解决方案。
可选地，将所述陷数据和所述解决方案发送至设定流程节点进行缺陷管理，包括：将所述缺陷数据和所述解决方案发送至审核节点进行认证；将认证成功后的所述缺陷数据和所述解决方案发送至测试节点进行测试验证，判断所述解决方案是否能修复所述缺陷数据对应的缺陷；若不能修复所述缺陷数据对应的缺陷，则将所述缺陷数据返回至开发节点重新生成所述解决方案；若能修复所述缺陷数据对应的缺陷，则结束缺陷管理。
可选地，在结束缺陷管理后，包括：根据历史测试经验库和缺陷数据库对所述缺陷数据进行分析，生成产品缺陷分析总结。
本发明实施例第二方面提供一种产品测试装置，包括：第一接收模块，用于接收测试任务指令，所述测试任务指令包含待测试产品名称；生成模块，用于生成和所述待测试产品名称对应的测试方案；第二接收模块，用于接收基于所述测试方案进行测试生成的测试数据；获取模块，用于基于所述测试数据获取测试过程中发现的缺陷数据；管理模块，用于于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据的解决方案，并将所述缺陷数据和所述解决方案发送至设定流程节点进行缺陷管理；报告生成模块，用于根据所述测试数据和所述缺陷管理过程中产生的数据生成测试报告并更新所述缺陷数据库。
本发明实施例第三方面提供一种电子设备，包括：存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而执行如本发明实施例第一方面任一项所述的产品测试方法。
本发明实施例第四方面提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行如本发明实施例第一方面任一项所述的产品测试方法。
从以上技术方案可以看出，本发明实施例具有以下优点：
本发明实施例提供的一种产品测试方法、装置、设备及存储介质，通过接收测试任务指令，所述测试任务指令包含待测试产品名称；生成和所述待测试产品名称对应的测试方案；接收基于所述测试方案进行测试生成的测试数据；基于所述测试数据获取测试过程中发现的缺陷数据；于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据的解决方案，并将所述缺陷数据和所述解决方案发送至设定流程节点进行缺陷管理；根据所述测试数据和所述缺陷管理过程中产生的数据生成测试报告并更新所述缺陷数据库，能够根据缺陷数据库获取测试过程中发现的缺陷的解决方案，方便测试人员得到结论，提高测试效率。
附图说明
为了更清楚地表达说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例中产品测试方法的流程图；
图2为本发明实施例中缺陷管理的流程图；
图3为本发明实施例中缺陷回归的流程图；
图4为本发明实施例中产品测试装置的结构示意图；
图5为本发明实施例中电子设备的结构示意图；
图6为本发明实施例中计算机可读存储介质的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供了一种产品测试方法，请参见图1，该产品测试方法包括：
步骤S100：接收测试任务指令，所述测试任务指令包含待测试产品名称。具体地，本发明实施例的产品测试方法应用于产品测试系统的上位机。接收的测试任务指令包括若干包含待测试产品名称的测试项目，例如国内电能表测试项目。
步骤S200：生成和所述待测试产品名称对应的测试方案。具体地，在测试前，预先存储好相应待测试产品名称的测试用例库、用例方案等基础数据，在收到测试任务指令后，根据测试任务指令中的待测试产品名称选择对应的测试用例和用例方案，对选用的测试用例和用例方案进行组织编排，生成测试方案。生成的测试方案分配给对应的下位机进行测试。
其中，测试用例是作为测试产品的方法，对不同的产品功能点使用不同的测试方法，测试用例有很多测试步骤组成，形成测试流程，测试的过程按照测试用例中的步骤顺序进行。用例方案是测试用例的集合，将多个不同的测试用例组合成测试方案，产品测试的过程中，按照测试方案先后执行测试用例，先后执行测试用例里面的步骤，实现更深更广测试。测试方案则是在用例方案基础上，增加硬件上的操作，例如接线方法、硬件使用步骤、使用的测试标准等，形成具体的测试操作方案。
步骤S300：接收基于所述测试方案进行测试生成的测试数据。下位机根据测试方案执行测试步骤，上位机接收下位机在测试过程产生的测试数据，实现测试数据实时同步。
步骤S400：基于所述测试数据获取测试过程中发现的缺陷数据。测试数据包括测试过程、测试设备、测试结果和缺陷数据等。例如在进行测试过程中，测试人员将测试过程中的数据进行记录，测试人员根据测试结果记录发现的缺陷并将其记录在测试数据中形成缺陷数据，通过对测试数据进行关键词筛选获取测试过程中产生的缺陷数据。
步骤S500：于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据的解决方案，并将所述缺陷数据和所述解决方案发送至设定流程节点进行缺陷管理。缺陷数据库预先存储了产品可能出现的缺陷和对应的解决方案，在发现缺陷后，从缺陷数据库中检索就可以获取对应的解决方案，该解决方案可以给对应的研发人员提供指导性意见，有助于缺陷快速解决。缺陷管理包括将缺陷按照预设流程节点进行流转，分析缺陷产生的原因、解决方案、缺陷分类、总体管理等。
如图2所示，设定流程节点包括测试工程师节点、测试主管节点和开发工程师节点，测试工程师节点的任务为反馈测试结论，测试主管节点的任务为确定测试结果，开发工程师节点的任务为对反馈的测试结论进行答复，给出解决意见，答复测试结论，通过将缺陷在设置的流程节点中流转，实现缺陷管理，最终解决缺陷。
步骤S600：根据测试数据和缺陷管理过程中产生的数据生成测试报告并更新缺陷数据库。测试报告的内容均从测试数据中获取，通过设置筛选条件，从测试数据中筛选出对应的内容，例如测试报告包含所有的测试方案、测试人员、测试结果是否合格，还包含每个测试用例对应的测试结果，和每个测试步骤时长及具体的测试时间点等，则将测试方案、测试人员、测试结果等作为词条从测试数据中筛选出对应数据。将测试报告内容实时记录在数据库中，在导出报告的时候，从数据库中提取出来，生成对应的报告，根据对应模板及分析实现测试报告的自动生成，减少测试人员的工作量。在每次测试后，基于本次测试过程产生的测试数据更新缺陷数据库，将本次测试发现的缺陷和对应的解决方案记录到缺陷数据库中，实现对缺陷数据库的更新和补充。
本发明实施例的产品测试方法，通过接收测试任务指令，所述测试任务指令包含待测试产品名称；生成和所述待测试产品名称对应的测试方案；接收基于所述测试方案进行测试生成的测试数据；基于所述测试数据获取测试过程中发现的缺陷数据；于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据的解决方案，并将所述缺陷数据和所述解决方案发送至设定流程节点进行缺陷管理；根据所述测试数据和所述缺陷管理过程中产生的数据生成测试报告并更新所述缺陷数据库，能够根据缺陷数据库获取测试过程中发现的缺陷的解决方案，方便测试人员得到结论，提高测试效率。
在一实施例中，步骤S200，所述生成和所述待测试产品名称对应的测试方案，包括：根据所述待测试产品名称于历史测试经验库和异常问题库中获取关联的测试用例，并基于所述测试用例生成对应的测试方案。历史测试经验库中包含历史测试过程中的使用的测试用例、测试过程等，异常问题库包括缺陷数据库和非产品自身缺陷导致的异常，例如测试设备异常或网络异常等。基于测试任务指令中的待测试产品名称，从异常问题库中查找可能存在的异常即历史中存在过的异常问题，并通过历史经验库进行模拟，获取和查找得到的异常问题相关联的测试用例，根据测试用例生成测试任务对应的测试方案。
在一实施例中，所述根据所述待测试产品名称于历史测试经验库和异常问题库中获取关联的测试用例，并基于所述测试用例生成对应的测试方案，包括：于异常问题库中获取和所述待测试产品名称关联的异常问题和异常原因；于历史测试经验库中获取用于检测所述异常和所述异常原因的测试用例将所述测试用例进行聚合，生成测试方案。
具体地，历史测试经验库中存储有国内电表的各项测试项目的测试用例，每个测试用例绑定历史测试过程中发现的异常问题和异常原因，这些测试用例通过历史经验库中的子数据库即用例方案库进行存储，用例方案库可以基于历史测试数据自动生成，也可根据测试人员自行编辑。例如测试人员根据经验编辑各类产品的测试用例，然后根据产品种类，结合测试步骤及测试深度编写用例方案，将这些用例方案预存储在用例方案库中。
以待测试产品为国内电表为例，其测试项目为测试误差和起动，首先从异常问题库检索国内电表在测试误差和起动时可能存在的异常问题和异常原因，然后从历史经验库获取国内电表的各项测试项目的测试用例，从这些测试用例中筛选出能够检测这些异常问题和异常原因的测试用例，基于这些测试用例组成的用例方案生成测试方案。
本发明实施例在开始测试时，基于历史测试经验库和异常问题库匹配已有的测试用例，生成测试方案，匹配出来的方案测试的覆盖面更全，不会遗漏。
在一实施例中，在根据测试任务生成测试方案后，包括：接收测试设备信息和测试人员的任务信息；根据所述测试设备信息和所述任务信息将所述测试任务和测试方案分配至对应的测试人员。
具体地，测试设备信息和测试人员的任务信息通过下位机同步或设备管理人员上传获取，每次测试设备信息和测试人员的任务信息发生改变时，相关人员及时将更新的信息同步至系统。判断测试人员拥有的测试设备是否能够执行对应测试任务，根据测试人员的任务信息判断测试人员的工作量是否已经过量，将测试任务和测试方案分配至能够执行对应测试任务且时间充足的测试人员手中。在一具体应用场景中，若测试任务中的待测试产品为国内电表，则将测试任务和测试方案分配给对应的国内电表组成员中用于对应测试设备且时间充足的测试人员手中。本发明实施例根据测试人员的任务信息、测试设备情况，对人力资源、设备、项目等进行多维度分析，实现测试任务的合理分配。
在一实施例中，于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据的解决方案，包括：获取缺陷数据的日志文件；将日志文件和缺陷数据库中的历史信息进行匹配，获取缺陷的解决方案。
具体地，缺陷数据库中存储有历史测试过程中发现的缺陷数据和对应的解决方案，下位机在测试过程中发现缺陷后会基于该缺陷数据生成日志文件并将该日志文件上传至上位机，上位机将该日志文件和缺陷数据库中的历史信息进行匹配，得到缺陷对应的解决方案。通过基于缺陷数据库分析获取缺陷解决方案，有助于研发或测试人员快速找到解决缺陷的方法。
在一实施例中，步骤S500，将缺陷数据和解决方案发送至设定流程节点进行缺陷管理，包括：
步骤S610：将缺陷数据和解决方案发送至审核节点进行认证。如图3所示，开发工程师节点在收到缺陷后进行缺陷回复，将缺陷和对应的解决方案发送至审核节点进行认证，审核节点为测试主管节点和测试工程师节点，当两个节点同时完成认证时才给出确认意见。
步骤S520：将认证成功后的缺陷数据和解决方案发送至测试节点进行测试验证，判断解决方案是否能修复缺陷数据对应的缺陷。测试节点为测试工程师节点，测试工程师节点收到解决方案后重新对产品进行测试，验证解决方案是否能够修复缺陷，是否会产生新的缺陷等。
步骤S530：若不能修复所述缺陷数据对应的缺陷，则将缺陷数据返回至开发节点重新生成解决方案；若能修复所述缺陷数据对应的缺陷，则结束缺陷管理。对于同一缺陷，可能一次缺陷回复并不能完全解决缺陷，需要进行多次缺陷验证，每一次缺陷验证均生成一个缺陷验证版本，记录当前版本的缺陷验证数据，将不同版本的缺陷进行关联，形成缺陷回归，实现对各个版本的缺陷进行溯源。
本发明实施例的产品测试方法通过各个节点对缺陷进行管理，实现缺陷的闭环管理和缺陷回归，能够合理地解决缺陷，且方便查看缺陷的生成历史，方便测试人员下次测试遇到相同的缺陷时对该缺陷进行分析。
在一实施例中，在步骤S530中，在结束缺陷管理后，包括：
步骤S540：根据历史测试经验库和缺陷数据库对缺陷数据进行分析，生成产品缺陷分析总结。
具体地，在历史测试经验库中挖掘类似的缺陷解决方式和挖掘可能造成这种缺陷的原因，将缺陷数据库里面所有的缺陷数据进行分析，分析产品出现哪种缺陷的概率最大，分析产品缺陷的主要现象有哪些等，形成产品缺陷分析总结，测试人员可以通过该产品缺陷分析总结快速定位缺陷的解决方案和产生原因。
本发明实施例还提供一种产品测试装置，如图4所示，该产品测试装置包括：
第一接收模块410，用于接收测试任务指令，所述测试任务指令包含待测试产品名称；具体内容参见上述方法实施例对应部分，在此不再赘述。
生成模块420，用于生成和所述待测试产品名称对应的测试方案；具体内容参见上述方法实施例对应部分，在此不再赘述。
第二接收模块430，用于接收基于所述测试方案进行测试生成的测试数据；具体内容参见上述方法实施例对应部分，在此不再赘述。
获取模块440，用于基于所述测试数据获取测试过程中发现的缺陷数据；
具体内容参见上述方法实施例对应部分，在此不再赘述。
管理模块450，用于于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据的解决方案，并将所述缺陷数据和所述解决方案发送至设定流程节点进行缺陷管理；具体内容参见上述方法实施例对应部分，在此不再赘述。
报告生成模块460，用于根据所述测试数据和所述缺陷管理过程中产生的数据生成测试报告并更新所述缺陷数据库。具体内容参见上述方法实施例对应部分，在此不再赘述。
本发明实施例的产品测试装置，通过接收测试任务指令，所述测试任务指令包含待测试产品名称；生成和所述待测试产品名称对应的测试方案；接收基于所述测试方案进行测试生成的测试数据；基于所述测试数据获取测试过程中发现的缺陷数据；于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据的解决方案，并将所述缺陷数据和所述解决方案发送至设定流程节点进行缺陷管理；根据所述测试数据和所述缺陷管理过程中产生的数据生成测试报告并更新所述缺陷数据库，能够根据缺陷数据库获取测试过程中发现的缺陷的解决方案，方便测试人员得到结论，提高测试效率。
本发明实施例还提供了一种电子设备，如图5所示，包括：存储器520和处理器510，存储器520和处理器510之间互相通信连接，存储器520存储有计算机指令，处理器510通过执行计算机指令，从而执行如本发明上述实施例中的产品测试方法。其中处理器510和存储器520可以通过总线或者其他方式连接。处理器510可以为中央处理器(CentralProcessingUnit，CPU)。处理器510还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignalProcessor，DSP)、专用集成电路(ApplicationSpecificIntegratedCircuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field－ProgrammableGateArray，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片，或者上述各类芯片的组合。存储器520作为一种非暂态计算机存储介质，可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的对应的程序指令/模块。处理器510通过运行存储在存储器520中的非暂态软件程序、指令以及模块，从而执行处理器510的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例中的产品测试方法。存储器520可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作装置、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储处理器510所创建的数据等。此外，存储器520可以包括高速随机存取存储器520，还可以包括非暂态存储器520，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施例中，存储器520可选包括相对于处理器510远程设置的存储器520，这些远程存储器520可以通过网络连接至处理器510。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。一个或者多个模块存储在存储器520中，当被处理器510执行时，执行如上述方法实施例中的产品测试方法。上述电子设备具体细节可以对应上述方法实施例中对应的相关描述和效果进行理解，此处不再赘述。
本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，如图6所示，其上存储有计算机程序610，该指令被处理器执行时实现上述实施例中产品测试方法的步骤。该存储介质上还存储有音视频流数据，特征帧数据、交互请求信令、加密数据以及预设数据大小等。其中，存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read－OnlyMemory，ROM)、随机存储记忆体(RandomAccessMemory，RAM)、快闪存储器(FlashMemory)、硬盘(HardDiskDrive，缩写：HDD)或固态硬盘(Solid－StateDrive，SSD)等；存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，计算机程序13可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read－OnlyMemory，ROM)、随机存储记忆体(RandomAccessMemory，RAM)、快闪存储器(FlashMemory)、硬盘(HardDiskDrive，缩写：HDD)或固态硬盘(Solid－StateDrive，SSD)等；存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
以上，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种产品测试方法，其特征在于，包括：
接收测试任务指令，所述测试任务指令包含待测试产品名称；
生成和所述待测试产品名称对应的测试方案；
接收基于所述测试方案进行测试生成的测试数据；
基于所述测试数据获取测试过程中发现的缺陷数据；
于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据的解决方案，并将所述缺陷数据和所述解决方案发送至设定流程节点进行缺陷管理；
根据所述测试数据和所述缺陷管理过程中产生的数据生成测试报告并更新所述缺陷数据库。
2.根据权利要求1所述的产品测试方法，其特征在于，所述生成和所述待测试产品名称对应的测试方案，包括：
根据所述待测试产品名称于历史测试经验库和异常问题库中获取关联的测试用例，并基于所述测试用例生成对应的测试方案。
3.根据权利要求2所述的产品测试方法，其特征在于，所述根据所述待测试产品名称于历史测试经验库和异常问题库中获取关联的测试用例，并基于所述测试用例生成对应的测试方案，包括：
于异常问题库中获取和所述待测试产品名称关联的异常问题和异常原因；
于历史测试经验库中获取用于检测所述异常和所述异常原因的测试用例将所述测试用例进行聚合，生成测试方案。
4.根据权利要求1所述的产品测试方法，其特征在于，在根据所述测试任务生成测试方案后，包括：
接收测试设备信息和测试人员的任务信息；
根据所述测试设备信息和所述任务信息将所述测试任务和测试方案分配至对应的测试人员。
5.根据权利要求1所述的产品测试方法，其特征在于，所述于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据的解决方案，包括：
获取所述缺陷数据的日志文件；
将所述日志文件和所述缺陷数据库中的历史信息进行匹配，获取所述缺陷数据的解决方案。
6.根据权利要求1所述的产品测试方法，其特征在于，将所述陷数据和所述解决方案发送至设定流程节点进行缺陷管理，包括：
将所述缺陷数据和所述解决方案发送至审核节点进行认证；
将认证成功后的所述缺陷数据和所述解决方案发送至测试节点进行测试验证，判断所述解决方案是否能修复所述缺陷数据对应的缺陷；
若不能修复所述缺陷数据对应的缺陷，则将所述缺陷数据返回至开发节点重新生成所述解决方案；
若能修复所述缺陷数据对应的缺陷，则结束缺陷管理。
7.根据权利要求6所述的产品测试方法，其特征在于，在结束缺陷管理后，包括：
根据历史测试经验库和缺陷数据库对所述缺陷数据进行分析，生成产品缺陷分析总结。
8.一种产品测试装置，其特征在于，包括：
第一接收模块，用于接收测试任务指令，所述测试任务指令包含待测试产品名称；
生成模块，用于生成和所述待测试产品名称对应的测试方案；
第二接收模块，用于接收基于所述测试方案进行测试生成的测试数据；
获取模块，用于基于所述测试数据获取测试过程中发现的缺陷数据；
管理模块，用于于缺陷数据库中获取对应所述缺陷数据的解决方案，并将所述缺陷数据和所述解决方案发送至设定流程节点进行缺陷管理；
报告生成模块，用于根据所述测试数据和所述缺陷管理过程中产生的数据生成测试报告并更新所述缺陷数据库。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而执行如权利要求1至7任一项所述的产品测试方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行如权利要求1至7任一项所述的产品测试方法。
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