CN116297463A - 一种电源适配器外壳注塑成型检测方法、系统及装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及借助于材料的性质来测试材料技术领域，具体涉及一种电源适配器外壳注塑成型检测方法、系统及装置。该方法获取附带有固定可见光源的相机所拍摄的电源适配器外壳表面图像，根据像素点的位置与漫反射效果值获取高亮区域中每个像素点的漫反射影响指标；根据高亮区域内每个像素点的亮度值、控制因子与漫反射影响指标获取对应像素点的镜面反射效果值；根据高亮区域内镜面反射效果值的变化幅度指标与分布指标获取表面检测指标，根据表面检测指标确定高亮区域的质量。本发明通过分析并提取材料表面的光学特征，实现了对高亮区域对应的电源适配器外壳的准确质量检测。

Description

一种电源适配器外壳注塑成型检测方法、系统及装置

技术领域

本发明涉及借助于材料的性质来测试材料技术领域，具体涉及一种电源适配器外壳注塑成型检测方法、系统及装置。

背景技术

电源适配器外壳成型工艺通过注塑成型，注塑又称注射成型。注塑是运用注塑机(或称注射机)将热塑性塑料熔体在高压下注入到模具内经过冷却、固化，获得产品的方法。电源适配器外壳对表面的光亮度要求较高，但是热塑性塑料熔体的活动性较差，因此，工艺上通常采用高模温、高料温填充且注塑时分级注塑，使得电源适配器外壳表面光滑。

在电源适配器外壳初步注塑成型后，需要对电源适配器外壳的注塑成型情况进行检测，确保电源适配器外壳的质量达标。现有对电源适配器外壳注塑成型的质量进行检测的常用方法为：将待检测的电源适配器外壳与质量标准的电源适配器外壳进行比较，进而确定待检测的电源适配器外壳的质量。将待检测的电源适配器外壳与质量标准的电源适配器外壳进行比较的前提条件一定要确保待检测的电源适配器外壳与质量标准的电源适配器外壳所处的光照情况保持一致，对光照的要求很高，实际中光照会对电源适配器外壳表面的特征造成不同的影响，导致待检测的电源适配器外壳的数据获取的不准确，进而导致待检测的电源适配器外壳质量检测不准确。

发明内容

为了解决光线的影响，导致电源适配器外壳注塑成型的质量检测不准确的技术问题，本发明的目的在于提供一种电源适配器外壳注塑成型检测方法、系统及装置，所采用的技术方案具体如下：

第一方面，本发明一个实施例提供了一种电源适配器外壳注塑成型检测方法，该方法包括以下步骤：

获取由附带有固定可见光源的相机所拍摄的电源适配器外壳表面图像，识别所述电源适配器外壳表面图像的高亮区域；

根据像素点的位置与对应位置下的漫反射效果值获取所述高亮区域中每个像素点的漫反射影响指标；

根据像素点的位置与光线入射角获取所述高亮区域中每个像素点的控制因子；根据所述高亮区域内每个像素点的亮度值、所述控制因子与所述漫反射影响指标获取对应像素点的镜面反射效果值；

获取所述高亮区域内所述镜面反射效果值的变化幅度指标与分布指标；

根据所述变化幅度指标与所述分布指标获取所述高亮区域的表面检测指标，根据所述表面检测指标确定所述高亮区域的质量。

进一步地，所述高亮区域的识别方法，包括：

将所述电源适配器外壳表面图像进行HSV颜色空间转换，获取HSV颜色空间下的V分量图像；

获取V分量图像中最大亮度值对应的像素点作为圆心；

过圆心在预设方向上做一条直线，以圆心为起始点，向直线的两端去获取直线上的像素点的亮度值与圆心对应亮度值的差异作为第一差异；

设置第一差异阈值，当第一差异大于第一差异阈值时，停止获取直线两端的第一差异，获取第一差异对应的像素点与圆心之间的长度，将最大的长度作为半径；

将圆心与半径确定的区域作为高亮区域。

进一步地，所述漫反射影响指标的获取方法，包括：

获取像素点与圆心之间的欧式距离作为第一距离；

将第一距离进行归一化的结果作为第一结果；

根据所述第一结果与所述漫反射效果值获得所述漫反射影响指标；第一结果和漫反射效果值均与漫反射影响指标为正相关的关系。

进一步地，所述控制因子的获取方法，包括：

获取每个像素点的光线入射角的正弦值；

将第一距离进行负相关映射且归一化的结果作为第二结果；

根据所述第二结果与所述正弦值获得所述控制因子，所述正弦值和所述第二结果均与控制因子为正相关的关系。

进一步地，所述镜面反射效果值的获取方法，包括：

将控制因子与亮度值的乘积作为镜面反射标记值；

将常数1与控制因子的差值作为漫反射控制因子；

将漫反射控制因子与漫反射影响指标的乘积作为漫反射标记值；

根据所述镜面反射标记值和漫反射标记值获得所述镜面反射效果值，所述镜面反射标记值和所述漫反射标记值均与对应像素点的镜面反射效果值为正相关的关系。

进一步地，所述获取所述高亮区域内所述镜面反射效果值的变化幅度指标与分布指标的方法，包括：

以高亮区域的中心点为起始点，在所述高亮区域边缘上设置至少两个采样点；获取起始点到采样点之间的线段作为参考线段；

获取每条参考线段上的最大镜面反射效果值与最小镜面反射效果值之间的差值作为对应参考线段的第一差值；

将高亮区域内所有参考线段的第一差值进行累加的结果作为变化幅度指标；

获取每条参考线段上像素点的数量作为对应参考线段的第一数量；

获取参考线段上每个像素点的镜面反射效果值在对应参考线段上出现的次数作为第二数量；

将第二数量与第一数量的比值作为对应参考线段上每个像素点的镜面反射效果值的占比；

根据每条参考线段上每个像素点的镜面反射效果值的占比获取对应参考线段上镜面反射效果值的熵；

将高亮区域内所有参考线段对应的镜面反射效果值的熵进行累加的结果作为分布指标。

进一步地，所述变化幅度指标与所述分布指标均与高亮区域的表面检测指标为负相关的关系。

第二方面，本发明另一个实施例提供了一种电源适配器外壳注塑成型检测系统，该系统包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行所述计算机程序时，实现上述任意一项方法的步骤。

第三方面，本发明另一个实施例提供了一种电源适配器外壳注塑成型检测装置，该装置包括：高亮区域获取模块，用于附带有固定可见光源的相机拍摄电源适配器外壳表面图像，根据电源适配器外壳表面图像中的亮度获取高亮区域；

漫反射影响指标获取模块，用于根据高亮区域内每个像素点的位置与对应位置下的漫反射效果值获取对应像素点的漫反射影响指标；

控制因子获取模块，用于根据高亮区域内每个像素点的位置与光线入射角获取对应像素点的控制因子；

镜面反射效果值获取模块，用于根据高亮区域内每个像素点的亮度值、漫反射影响指标与控制因子，获取对应像素点的镜面反射效果值；

特征指标获取模块，用于获取高亮区域内镜面反射效果值的变化幅度指标与分布指标，均作为高亮区域的特征指标；

质量检测模块，用于根据高亮区域的特征指标获取高亮区域的表面检测指标，根据表面检测指标确定高亮区域的质量。

本发明具有如下有益效果：

获取电源适配器外壳表面图像的高亮区域，对高亮区域进行分析，确实高亮区域对应的电源适配器外壳表面的质量情况，提高了检测的效率与精度；根据镜面反射和漫反射对高亮区域进行分析，更能准确的确定高亮区域的特征，避免了光照带来的影响对电源适配器外壳表面的质量检测的干扰；将镜面反射与漫反射分别对高亮区域内每个像素点产生的影响均进行自适应获取，使得最终获取的高亮区域内每个像素点的镜面反射效果值更准确，以便后续能准确的反映出高亮区域对应的电源适配器外壳表面的光滑程度，同时避免了电源适配器外壳自身结构纹理特征带来的干扰；根据高亮区域内每个像素点的镜面反射效果值，获取高亮区域的变化幅度指标与分布指标，确保了高亮区域的实际特征，初步确定高亮区域内的整体镜面反射的情况，高亮区域对应的电源适配器外壳表面的材料分布越均匀光滑，镜面反射的亮度越一致，漫反射的影响越小，进而根据变化幅度指标与分布指标获取高亮区域的表面检测指标，根据表面检测指标确定高亮区域的质量，对高亮区域对应的电源适配器外壳表面的质量检测的更精确，避免了当高亮区域对应的电源适配器外壳表面不平滑时漫反射带来的干扰，更符合实际检测情况且检测过程更方便。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案和优点，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它附图。

图1为本发明一个实施例所提供的一种电源适配器外壳注塑成型检测方法的示意流程图。

具体实施方式

为了更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的一种电源适配器外壳注塑成型检测方法、系统及装置，其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如下。在下述说明中，不同的“一个实施例”或“另一个实施例”指的不一定是同一实施例。此外，一或多个实施例中的特定特征、结构或特点可由任何合适形式组合。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。

下面结合附图具体的说明本发明所提供的一种电源适配器外壳注塑成型检测方法、系统及装置的具体方案。

请参阅图1，其示出了本发明一个实施例提供的一种电源适配器外壳注塑成型检测方法的示意流程图，该方法包括以下步骤：

步骤S1：获取由附带有固定可见光源的相机所拍摄的电源适配器外壳表面图像，识别电源适配器外壳表面图像的高亮区域。

具体的，本发明实施例旨在通过视觉特征对电源适配器外壳的质量进行检测，对初步注塑成型后的电源适配器外壳表面进行特征提取并分析，以实现对电源适配器外壳注塑成型的质量检测。因此，本发明实施例通过附带有固定可见光源的工业相机对电源适配器外壳表面进行图像采集，在进行图像采集过程中，需要设置光源、放置台等装置，实施者可根据实际情况进行自行设置，进而获取电源适配器外壳表面图像，作为电源适配器外壳质量检测的基础数据。其中，本发明实施例中对电源适配器外壳表面进行分区域多次获取电源适配器外壳表面图像，因此，电源适配器外壳表面图像为电源适配器外壳表面的一个区域，且每个区域之间存在重叠的部分，避免电源适配器外壳表面有检测不到的地方。通过本发明实施例后面的方法对电源适配器外壳表面对应的各个区域即电源适配器外壳表面图像分别进行检测，实现对电源适配器外壳的局部质量检测，更能准确的检测电源适配器外壳的质量。

对电源适配器外壳的质量进行检测时，需要考虑到电源适配器外壳表面的纹理等特征信息，以便对电源适配器外壳注塑成型的情况进行检测。本发明实施例考虑到外界光照因素将会导致电源适配器外壳表面的纹理等特征信息发生变化，所采集的电源适配器外壳表面图像存在光照不均匀等问题。因为电源适配器外壳表面光滑，对光照会产生反射，由于反射的存在，电源适配器外壳自身的结构纹理会对电源适配器外壳的质量检测造成干扰，因此，为了实现对电源适配器外壳表面的特征进行准确提取，基于光照信息的不同影响对电源适配器外壳表面图像进行准确分析，本发明实施例对电源适配器外壳表面图像进行自适应分析，避免电源适配器外壳自身结构纹理信息的影响。

对电源适配器外壳表面图像进行自适应分析的前提条件是先确定电源适配器外壳表面图像中的高亮区域，其中，电源适配器外壳表面越光滑，反射的光线越亮，高亮区域越明显。对高亮区域进行一系列操作，获取每张电源适配器外壳表面图像对应的电源适配器外壳的质量。其中，获取高亮区域的具体步骤如下：

优选的，获取高亮区域的方法为：将电源适配器外壳表面图像进行HSV颜色空间转换，获取HSV颜色空间下的V分量图像；获取V分量图像中最大亮度值对应的像素点作为圆心；过圆心在预设方向上做一条直线，以圆心为起始点，向直线的两端去获取直线上的像素点的亮度值与圆心对应亮度值的差异作为第一差异；设置第一差异阈值，当第一差异大于第一差异阈值时，停止获取直线两端的第一差异，获取第一差异对应的像素点与圆心之间的长度，将最大的长度作为半径；将圆心与半径确定的区域作为高亮区域。

作为一个示例，任意选取一张电源适配器外壳表面图像作为目标图像，将目标图像进行HSV颜色空间转换，获取HSV颜色空间下的V分量图像中每个像素点的亮度值，选取最大亮度值对应的像素点作为圆心。当最大的亮度值对应的像素点至少存在两个时，可能存在高亮噪点的影响，因为高亮噪点是孤立的，所以获取最大的亮度值对应的每个像素点的八邻域的亮度值均值，将最大的亮度值均值对应的像素点作为圆心。其中，最大的亮度值对应的每个像素点的邻域大小，实施者可根据实际情况进行设定。过圆心做一条水平线，以圆心为起始点，向水平线的两端逐步去获取处于水平线上的像素点的亮度值与圆心对应的亮度值的差值绝对值即第一差异，本发明实施例设置第一差异阈值为100，实施者可根据实际情况自行设定第一差异阈值；当第一差异大于第一差异阈值时，停止获取水平线两端的像素点与圆心之间的第一差异，获取第一差异对应的像素点与圆心之间的长度，将最大的长度作为半径，实施者也可以将获取的长度的均值作为半径，根据实际情况进行设定。其中，过圆心做一条直线的预设方向是随机的，实施者可根据实际情况确实过圆心的直线的预设方向。进而，将所求圆心与半径共同确定的区域作为目标图像的高亮区域。

根据获取目标图像的高亮区域的方法，获取每张电源适配器外壳表面图像的高亮区域。需要说明的相邻的高亮区域有重叠部分，确保整个电源适配器外壳都可以被检测到。

在本发明另一个实施例中，也可通过阈值分割及形态学处理获得电源适配器外壳表面图像中的高亮区域，具体算法内容为本领域技术人员熟知的技术手段，在此不做赘述。在本发明的其他实施例中可选择其他区域提取方法，在此不做限定。

为了准确提取电源适配器外壳表面的特征，避免不同光照产生不同反射情况，进而对高亮区域的实际情况产生不同的影响，导致最终对电源适配器外壳注塑成型检测不准确。因此，本发明实施例通过镜面反射与漫反射对高亮区域进行分析，最终获取每个高亮区域对应的实际特征情况。其中，电源适配器外壳表面图像中的高亮区域显现的主要是镜面反射，因为，镜面反射的光线很强，将漫反射进行了遮盖，但漫反射依然存在，偏离高亮区域的暗区域主要是漫反射占据主导。

步骤S2：根据像素点的位置与对应位置下的漫反射效果值获取高亮区域中每个像素点的漫反射影响指标。

具体的，为了准确获取漫反射作用对于高亮区域内每个像素点的影响即漫反射影响指标，本发明实施例根据现有技术自适应获取高亮区域内每个像素点的漫反射效果值，再根据漫反射效果值获取漫反射分量图中每个像素点的漫反射影响指标，使得漫反射影响指标更准确。其中，获取漫反射影响指标的具体过程如下：

（1）获取漫反射效果值。

通过现有技术获取漫反射效果值的方法为：任意选取一个高亮区域作为目标区 域，以目标区域内的像素点r为例，获取照射在像素点r的入射光与像素点r的法线的夹角作 为像素点r的光线入射角，光线入射角的取值范围为0°到90°。通过现有技术手段获取电源 适配器外壳材料的反射系数以及照射在像素点r的光源强度。根据反射系数、光源强度与光 线入射角获取像素点r的漫反射效果值

的公式为：

式中，

为像素点r的漫反射效果值，

为电源适配器外壳材料的反射系数，i为 照射在像素点r的光源强度，

为像素点r的光线入射角；cos为余弦函数。

需要说明的是，k为固定值，对

的变化没有影响；i越大，照射在像素点r的光源 越强，发生漫反射的程度越大，

越大；

越小，

越大，光线进入像素点的位置越偏 离，产生的漫反射越多，

越大；因此，

越大，漫反射对像素点r的影响越大。

其中，漫反射效果值的获取方法为现有技术，在此不再进行过多赘述。

根据获取像素点r的漫反射效果值的方法，获取高亮区域内每个像素点的漫反射效果值。

（2）获取漫反射影响指标。

高亮区域内的像素点距离圆心越近，对应的电源适配器外壳表面越光滑，则该像素点受到漫反射的影响越小。因此，像素点的位置与像素点对应的漫反射效果值都会对像素点受到的漫反射产生影响，即根据像素点的位置与像素点对应的漫反射效果值确定像素点的漫反射影响指标。

优选的，获取漫反射影响指标的方法为：获取像素点与圆心之间的欧式距离作为第一距离；将第一距离进行归一化的结果作为第一结果；根据第一结果与漫反射效果值获得漫反射影响指标；第一结果和漫反射效果值均与漫反射影响指标为正相关的关系。

作为一个示例，以（1）获取漫反射效果值中目标区域内的像素点r为例，获取像素 点r与目标区域的圆心之间的欧式距离作为第一距离，在本发明实施例中，为了后续计算的 准确性，将第一距离进行归一化处理，即

，其中

为像素点r与所在目标区域的圆心 之间的欧式距离即第一距离，取值范围大于等于0；e为自然常数。在其他实施例中也可选择 其他对第一距离进行归一化的方法，例如函数转化、最大最小规范化、Sigmoid函数等归一 化方法，在此不做限定。将归一化后的第一距离作为第一结果，使得第一距离对漫反射的影 响程度更能明显的凸显出来。进而，根据第一距离与像素点r的漫反射效果值获取像素点r 的漫反射影响指标

的公式为：

式中，

为像素点r的漫反射影响指标；

为像素点r与所在目标区域的圆心之 间的欧式距离即第一距离；

为像素点r的漫反射效果值；e为自然常数。

需要说明的是，第一距离

越大，像素点r受到的漫反射作用越大，

越大；

越大，漫反射对像素点r的影响越大，

越大；因此，

越大，像素点r受到漫反射的影响 越大。本发明实施例将第一结果和漫反射效果值的乘积作为漫反射影响指标，与漫反射影 响指标均构成正相关的关系，在本发明另一个实施例中可以将第一结果和漫反射效果值的 相加结果作为漫反射影响指标，使得第一结果和漫反射效果值均与漫反射影响指标为正相 关的关系，在本发明其他实施例中可选择其他基础数学运算构成正相关的关系，在此不做 限定。

根据获取像素点r的漫反射影响指标的方法，获取高亮区域内每个像素点的漫反射影响指标。

步骤S3：根据像素点的位置与光线入射角获取高亮区域中每个像素点的控制因子；根据高亮区域内每个像素点的亮度值、控制因子与漫反射影响指标获取对应像素点的镜面反射效果值。

具体的，镜面反射作用对高亮区域内不同位置处的像素点的自身结构纹理特征的影响有所差异，即镜面反射对高亮区域内不同位置处的像素点的自身结构纹理特征的控制程度不同。电源适配器外壳的自身结构纹理特征会对电源适配器外壳表面的特征造成一定的干扰，进而导致电源适配器外壳注塑成型的质量检测不准确。为了避免电源适配器外壳的自身结构纹理特征带来的干扰，准确获取高亮区域内的特征，通过镜面反射对高亮区域内不同位置处的像素点的自身结构纹理特征进行抑制。其中，距离高亮区域的圆心越近，电源适配器外壳自身结构纹理特征对电源适配器外壳注塑成型的质量检测影响越小，即抑制电源适配器外壳对应像素点的自身结构纹理特征的程度越高。本发明实施例将镜面反射对高亮区域内每个像素点的自身结构纹理特征的抑制程度作为对应像素点的控制因子。因为光线或高亮区域对应的电源适配器外壳表面的光滑程度可能不同，导致每个像素点的控制因子也不同，为了准确获取高亮区域内每个像素点的控制因子，本发明实施例自适应获取高亮区域内每个像素点的控制因子。

优选的，获取控制因子的方法为：获取每个像素点的光线入射角的正弦值；将第一距离进行负相关映射且归一化的结果作为第二结果；根据第二结果与正弦值获得控制因子，正弦值和第二结果均与控制因子为正相关的关系。

作为一个示例，以步骤S2中的目标区域内的像素点r为例，像素点r的位置对控制 因子的大小起绝对作用，本发明实施例为了准确的获取像素点r的控制因子，将像素点r与 所在目标区域的圆心之间的欧式距离即第一距离进行负相关映射且归一化处理的方式为

，其中，

为像素点r与所在目标区域的圆心之间的欧式距离即第一距离，e为自然常 数；

的取值范围在0到1之间。本发明另一个实施例中通过

，对第一距离

进行负相 关映射且归一化处理，在本发明其他实施例中也可选择其他对第一距离进行负相关映射且 归一化的方法，在此不做限定。负相关映射且归一化后的第一距离即是第二结果。因为光线 入射角的正弦值与第二结果均与所求的控制因子为正相关的关系，因此，本发明实施例将 正弦值与第二结果的乘积作为像素点r的控制因子，在本发明另一个实施例中可以将正弦 值与第二结果的和作为像素点r的控制因子，使得正弦值与第二结果始终与控制因子保持 正相关的关系，在本发明其他实施例中可选择其他基础数学运算构成正相关关系，在此不 做限定。

本发明实施例获取像素点r的控制因子

的公式为：

式中，

为像素点r的控制因子；

为像素点r的光线入射角；

为像素点r与所在 目标区域的圆心之间的欧式距离即第一距离；e为自然常数；sin为正弦函数。

需要说明的是，

越大，

越大，进入像素点r的光线越多，像素点r可能越亮， 镜面反射对像素点r的自身结构纹理特征抑制程度越高，

越大；

越大，像素点r距离目 标区域的圆心越远，镜面反射对像素点r的控制程度越小，第二结果

越小，

越小；因 此，

越大，说明像素点r受到镜面反射的作用越大。因为，

为范围为0°到90°，因此，

的范围在0到1之间，同时，第二结果

的取值范围为0到1，所以，控制因子

的取 值范围为0到1之间。

根据获取像素点r的控制因子的方法，获取高亮区域内每个像素点的控制因子。

根据电源适配器外壳表面图像对电源适配器外壳注塑成型的质量进行检测，对电源适配器外壳表面图像进行分析是通过高亮区域，因此本发明实施例根据像素点的亮度值、控制因子与漫反射影响指标获取对应像素点的镜面反射效果值。

优选的，获取镜面反射效果值的方法为：将控制因子与亮度值的乘积作为镜面反射标记值；将常数1与控制因子的差值作为漫反射控制因子；将漫反射控制因子与漫反射影响指标的乘积作为漫反射标记值；根据镜面反射标记值和漫反射标记值获得镜面反射效果值，镜面反射标记值和漫反射标记值均与对应像素点的镜面反射效果值为正相关的关系。

作为一个示例，以步骤S2中的目标区域内的像素点r为例，获取像素点r的镜面反 射效果值

的公式为：

式中，

为像素点r的镜面反射效果值；

为像素点r的控制因子；

为像素 点r在V分量图像中的亮度值；

为像素点r的漫反射影响指标。

需要说明的是，镜面反射标记值

越大，说明像素点r的亮度值越大，像素点 r与所在目标区域的圆心之间的距离越小，镜面反射对像素点r的影响越大，

越大；漫反 射标记值

越大，说明漫反射产生的光线越多，间接增强镜面反射的影响，

越大；因此，

越大，像素点r受到的镜面反射的影响越大。本发明实施例将镜面反射 标记值与漫反射标记值的和作为镜面反射效果值，在本发明另一个实施例中可以将镜面反 射标记值与漫反射标记值的乘积作为镜面反射效果值，使得镜面反射标记值与漫反射标记 值始终均与镜面反射效果值保持正相关的关系，在本发明其他实施例中可选择其他基础数 学运算构成正相关关系在此不做限定。

根据获取像素点r的镜面反射效果值的方法，获取高亮区域内每个像素点的镜面反射效果值。

步骤S4：获取高亮区域内镜面反射效果值的变化幅度指标与分布指标。

具体的，当高亮区域对应的电源适配器外壳表面光滑均匀时，高亮区域内每个像素点的镜面反射效果值几乎一致，不会出现较大的波动情况；当高亮区域对应的电源适配器外壳表面存在质量问题，如电源适配器外壳表面凹凸不平或存在裂纹时，高亮区域内每个像素点的镜面反射效果值会出现较大的偏差，出现较大的波动情况。因此，本发明实施例通过获取高亮区域的变化幅度指标，初步判断高亮区域对应的电源适配器外壳注塑成型的质量情况。

优选的，获取变化幅度指标的方法为：以高亮区域的中心点为起始点，在高亮区域边缘上设置至少两个采样点；获取起始点到采样点之间的线段作为参考线段；获取每条参考线段上的最大镜面反射效果值与最小镜面反射效果值之间的差值作为对应参考线段的第一差值；将高亮区域内所有参考线段的第一差值进行累加的结果作为变化幅度指标。

作为一个示例，以步骤S2中的目标区域为例，本发明实施例获取目标区域的边缘 像素点总数量，将边缘像素点总数量与100的比值向下取整的数值作为目标区域的采样点 的数量。在目标区域的边缘上等间隔获取采样点，将目标区域的中心即圆心与采样点进行 连接，获得

条参考线段即采样半径，其中，N为目标区域的边缘像素点总数量， floor为向下取整函数。基于采样半径上每个像素点的镜面反射效果值获取每条采样半径 对应的镜面反射效果值的集合，将每个集合内的镜面反射效果值根据采样半径上的像素点 到圆心的距离从小到大进行排列，距离圆心越近的像素点对应的镜面反射效果值越大。将 每个集合中的最大镜面反射效果值与最小镜面反射效果值之间的差值作为第一差值，根据 每个集合的第一差值构建变化幅度指标，用于对目标区域内的镜面反射效果值的波动特征 进行提取。获取目标区域的变化幅度指标Q的公式为：

式中，Q为目标区域的变化幅度指标；N为目标区域的边缘像素点总数量；

为目标区域的第n条采样半径上最大镜面反射效果值；

为目标区域 的第n条采样半径上最小镜面反射效果值；max为取最大值函数；min为取最小值函数。

需要说明的是，第一差值

越大，目标区域的第n条采样 半径上的镜面反射效果值的变化幅度越大，存在质量问题的可能性越大，Q越大；因此，Q越 大，目标区域内的镜面反射效果值的变化幅度越大，目标区域越可能存在缺陷，目标区域对 应的电源适配器外壳表面凸凹程度可能越严重或者缺陷越明显。

根据获取目标区域内的镜面反射效果值的变化幅度指标的方法，获取每个高亮区域内的镜面反射效果值的变化幅度指标。

为了实现对高亮区域对应的电源适配器外壳注塑成型的质量进行精确检测，本发明实施例将进一步提取高亮区域的分布指标，用于对电源适配器外壳表面的光滑均匀情况进行准确表征。

优选的，获取分布指标的方法为：获取每条参考线段上像素点的数量作为对应参考线段的第一数量；获取参考线段上每个像素点的镜面反射效果值在对应参考线段上出现的次数作为第二数量；将第二数量与第一数量的比值作为对应参考线段上每个像素点的镜面反射效果值的占比；根据每条参考线段上每个像素点的镜面反射效果值的占比获取对应参考线段上镜面反射效果值的熵；将高亮区域内所有参考线段对应的镜面反射效果值的熵进行累加的结果作为分布指标。熵的获取为公知技术，在此不再进行过多赘述。

作为一个示例，以步骤S2中的目标区域为例，获取目标区域内每条参考线段即每条采样半径上像素点的数量即第一数量；获取每条采样半径上每个像素点的镜面反射效果值出现在对应采样半径上的次数作为第二数量；以目标区域内的第n条采样半径为例，获取第n条采样半径每个像素点的镜面反射效果值对应的第二数量与第n条采样半径的第一数量的比值作为第n条采样半径上每个像素点的镜面反射效果值的占比，进而获取第n条采样半径对应的镜面反射效果值的熵。根据获取第n条采样半径的镜面反射效果值的熵，获取目标区域内所有采样半径的镜面反射效果值的熵。根据镜面反射效果值的熵，获取目标区域的分布指标F的公式为：

式中，F为目标区域的分布指标；N为目标区域的边缘像素点总数量；M为目标区域 内第n条采样半径上像素点的数量即第一数量；m为第n条采样半径上第m个像素点；

为 第n条采样半径上第m个像素点的镜面反射效果值的占比；ln为以自然常数e为底数的对数 函数。

需要说明的是，目标区域内第n条采样半径的镜面反射效果值的熵

越大，说明第n条采样半径上镜面反射效果值的分布越杂乱，F越 大；因此，F越大，目标区域内的镜面反射效果值越杂乱，目标区域对应的电源适配器外壳注 塑成型的质量越不佳。

根据获取目标区域的分布指标的方法，获取每个高亮区域的分布指标。

步骤S5：根据变化幅度指标与分布指标获取高亮区域的表面检测指标，根据表面检测指标确定高亮区域的质量。

具体的，根据每个高亮区域的的变化幅度指标与分布指标获取对应高亮区域的特征指标即高亮区域对应的电源适配器外壳表面的表面检测指标，根据表面检测指标确定每个高亮区域对应的电源适配器外壳注塑成型的质量检测。

优选的，表面检测指标的获取方法为：变化幅度指标与分布指标均与高亮区域的表面检测指标为负相关的关系。

作为一个示例，以步骤S2中的目标区域为例，获取目标区域的表面检测指标U的公式为：

式中，U为目标区域的表面检测指标；Q为目标区域的变化幅度指标；F为目标区域 的分布指标；

为极小值常数，避免分母为0，本发明实施例设置为0.01。

需要说明的是，Q越小，目标区域内的镜面反射效果值的变化幅度越小，目标区域对应的电源适配器外壳表面的亮度越相似，电源适配器外壳注塑成型存在质量问题的可能性越小，U越大；F越小，目标区域内的镜面反射效果值的分布越均匀，目标区域对应的电源适配器外壳表面的材料分布越光滑均匀，对应的电源适配器外壳注塑成型存在质量问题的可能性越小，U越大；因此，U越大，目标区域对应的电源适配器外壳表面越光滑，对应的电源适配器外壳注塑成型越不可能存在质量问题。本发明实施例为了保证变化幅度指标与分布指标始终均与高亮区域的表面检测指标构成负相关的关系，将变化幅度指标与分布指标相加结果的倒数作为表面检测指标，在本发明另一个实施例中可以将常数减去变化幅度指标与分布指标相加结果的差值作为表面检测指标，使得变化幅度指标与分布指标始终均与表面检测指标为负相关的关系，在本发明其他实施例中可选择其他基础数学运算构成负相关的关系，在此不做限定。

根据获取目标区域的表面检测指标的方法，获取每个高亮区域的表面检测指标。

为了准确的确定电源适配器外壳注塑成型的质量，本发明实施例设置表面检测指标阈值为0.75，当表面检测指标大于或等于表面检测指标阈值时，高亮区域对应的电源适配器外壳注塑成型的质量合格；当表面检测指标小于表面检测指标阈值时，电源适配器外壳表面图像的高亮区域对应的电源适配器外壳注塑成型的质量不佳，即电源适配器外壳表面平滑度较低，需要对高亮区域对应的电源适配器外壳表面图像进行再次加工处理，以保证电源适配器外壳表面的质量。

至此，本发明完成。

综上所述，本发明实施例获取附带有固定可见光源的相机所拍摄的电源适配器外壳表面图像，根据像素点的位置与漫反射效果值获取高亮区域中每个像素点的漫反射影响指标；根据高亮区域内每个像素点的亮度值、控制因子与漫反射影响指标获取对应像素点的镜面反射效果值；根据高亮区域内镜面反射效果值的变化幅度指标与分布指标获取表面检测指标，根据表面检测指标确定高亮区域的质量。本发明通过分析并提取材料表面的光学特征，实现了对高亮区域对应的电源适配器外壳的准确质量检测。

需要说明的是：上述本发明实施例先后顺序仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。在附图中描绘的过程不一定要求示出的特定顺序或者连续顺序才能实现期望的结果。在某些实施方式中，多任务处理和并行处理也是可以的或者可能是有利的。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。

Claims (9)

1.一种电源适配器外壳注塑成型检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

获取由附带有固定可见光源的相机所拍摄的电源适配器外壳表面图像，识别所述电源适配器外壳表面图像的高亮区域；

根据像素点的位置与对应位置下的漫反射效果值获取所述高亮区域中每个像素点的漫反射影响指标；

根据像素点的位置与光线入射角获取所述高亮区域中每个像素点的控制因子；根据所述高亮区域内每个像素点的亮度值、所述控制因子与所述漫反射影响指标获取对应像素点的镜面反射效果值；

获取所述高亮区域内所述镜面反射效果值的变化幅度指标与分布指标；

根据所述变化幅度指标与所述分布指标获取所述高亮区域的表面检测指标，根据所述表面检测指标确定所述高亮区域的质量。

2.如权利要求1所述的一种电源适配器外壳注塑成型检测方法，其特征在于，所述高亮区域的识别方法，包括：

将所述电源适配器外壳表面图像进行HSV颜色空间转换，获取HSV颜色空间下的V分量图像；

获取V分量图像中最大亮度值对应的像素点作为圆心；

过圆心在预设方向上做一条直线，以圆心为起始点，向直线的两端去获取直线上的像素点的亮度值与圆心对应亮度值的差异作为第一差异；

设置第一差异阈值，当第一差异大于第一差异阈值时，停止获取直线两端的第一差异，获取第一差异对应的像素点与圆心之间的长度，将最大的长度作为半径；

将圆心与半径确定的区域作为高亮区域。

3.如权利要求2所述的一种电源适配器外壳注塑成型检测方法，其特征在于，所述漫反射影响指标的获取方法，包括：

获取像素点与圆心之间的欧式距离作为第一距离；

将第一距离进行归一化的结果作为第一结果；

根据所述第一结果与所述漫反射效果值获得所述漫反射影响指标；第一结果和漫反射效果值均与漫反射影响指标为正相关的关系。

4.如权利要求3所述的一种电源适配器外壳注塑成型检测方法，其特征在于，所述控制因子的获取方法，包括：

获取每个像素点的光线入射角的正弦值；

将第一距离进行负相关映射且归一化的结果作为第二结果；

根据所述第二结果与所述正弦值获得所述控制因子，所述正弦值和所述第二结果均与控制因子为正相关的关系。

5.如权利要求1所述的一种电源适配器外壳注塑成型检测方法，其特征在于，所述镜面反射效果值的获取方法，包括：

将控制因子与亮度值的乘积作为镜面反射标记值；

将常数1与控制因子的差值作为漫反射控制因子；

将漫反射控制因子与漫反射影响指标的乘积作为漫反射标记值；

根据所述镜面反射标记值和漫反射标记值获得所述镜面反射效果值，所述镜面反射标记值和所述漫反射标记值均与对应像素点的镜面反射效果值为正相关的关系。

6.如权利要求1所述的一种电源适配器外壳注塑成型检测方法，其特征在于，所述获取所述高亮区域内所述镜面反射效果值的变化幅度指标与分布指标的方法，包括：

以高亮区域的中心点为起始点，在所述高亮区域边缘上设置至少两个采样点；获取起始点到采样点之间的线段作为参考线段；

获取每条参考线段上的最大镜面反射效果值与最小镜面反射效果值之间的差值作为对应参考线段的第一差值；

将高亮区域内所有参考线段的第一差值进行累加的结果作为变化幅度指标；

获取每条参考线段上像素点的数量作为对应参考线段的第一数量；

获取参考线段上每个像素点的镜面反射效果值在对应参考线段上出现的次数作为第二数量；

将第二数量与第一数量的比值作为对应参考线段上每个像素点的镜面反射效果值的占比；

根据每条参考线段上每个像素点的镜面反射效果值的占比获取对应参考线段上镜面反射效果值的熵；

将高亮区域内所有参考线段对应的镜面反射效果值的熵进行累加的结果作为分布指标。

7.如权利要求1所述的一种电源适配器外壳注塑成型检测方法，其特征在于，所述变化幅度指标与所述分布指标均与高亮区域的表面检测指标为负相关的关系。

8.一种电源适配器外壳注塑成型检测系统，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器在执行所述计算机程序时，实现上述权利要求1-7任意一项所述一种电源适配器外壳注塑成型检测方法的步骤。

9.一种电源适配器外壳注塑成型检测装置，其特征在于，所述装置包括：

高亮区域获取模块，用于附带有固定可见光源的相机拍摄电源适配器外壳表面图像，根据电源适配器外壳表面图像中的亮度获取高亮区域；

漫反射影响指标获取模块，用于根据高亮区域内每个像素点的位置与对应位置下的漫反射效果值获取对应像素点的漫反射影响指标；

控制因子获取模块，用于根据高亮区域内每个像素点的位置与光线入射角获取对应像素点的控制因子；

镜面反射效果值获取模块，用于根据高亮区域内每个像素点的亮度值、漫反射影响指标与控制因子，获取对应像素点的镜面反射效果值；

特征指标获取模块，用于获取高亮区域内镜面反射效果值的变化幅度指标与分布指标，均作为高亮区域的特征指标；

质量检测模块，用于根据高亮区域的特征指标获取高亮区域的表面检测指标，根据表面检测指标确定高亮区域的质量。

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