CN116256614A - 一种集成电路检测装置及检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及集成电路检测设备技术领域，尤其是一种集成电路检测装置及检测方法，包括检测仪，还包括：连接板，连接板与检测仪前侧固定相连；放置板，放置板与连接板之间通过合页进行连接；放置台，放置台与放置板之间通过螺纹可拆卸连接；电路板，电路板位于放置台上侧并且电路板四角设有连接孔；四个导向柱，放置台上侧设有若干定位孔，两个检测针，检测针位于电路板左右两侧和放置板上侧，检测针通过导线连接检测仪；检测端口，检测端口通过导线与检测仪进行连接。设备整体不用时可以将放置板上物品拆卸下来后，可以进行折叠后，使得设备更加方便移动，同时更加方便更换位置直接使用，使得设备使用更加方便以及便捷。

Description

一种集成电路检测装置及检测方法
技术领域
本发明涉及集成电路检测设备技术领域，尤其涉及一种集成电路检测装置及检测方法。
背景技术
集成电路(integrated circuit)是电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。
集成电路常用的检测方法有在线测量法、非在线测量法和代换法等，详情如下：
1.非在线测量是在集成电路未焊入电路时，通过测量其各引脚之间的直流电阻值与已知正常同型号集成电路各引脚之间的直流电阻值进行对比，以确定其是否正常。
2.在线测量法是利用电压测量法、电阻测量法及电流测量法等，通过在电路上测量集成电路的各引脚电压值、电阻值和电流值是否正常，来判断该集成电路是否损坏。
3.代换法是用已知完好的同型号、同规格集成电路来代换被测集成电路，可以判断出该集成电路是否损坏
在对集成电路进行检测时通常使用万用表进行检测，但是在使用万用表时需要注意其规格、效验等信息，且检测参数固定，也可以使用检测仪进行检测，两种检测时都需要辅助工具，并且检测时避免静电打穿，无法进行快速整理和移动。为此我们提出一种集成电路检测装置及检测方法，用于解决上述问题。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中存在在对集成电路进行检测时通常使用万用表进行检测，但是在使用万用表时需要注意其规格、效验等信息，且检测参数固定，也可以使用检测仪进行检测，两种检测时都需要辅助工具，并且检测时避免静电打穿，无法进行快速整理和移动的缺点，而提出的一种集成电路检测装置及检测方法。
为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：
设计一种集成电路检测装置及检测方法，包括检测仪，所述检测仪通过导线连接电源，还包括：
连接板，所述连接板与检测仪前侧固定相连；
放置板，所述放置板与连接板之间通过合页进行连接；
放置台，所述放置台与放置板之间通过螺纹可拆卸连接；
电路板，所述电路板位于放置台上侧并且电路板四角设有连接孔；
四个导向柱，所述放置台上侧设有若干定位孔，所述导向柱滑动在定位孔内侧和电路板连接孔内侧；
四个支撑柱，所述支撑柱与导向柱外侧固定相连；
两个检测针，所述检测针位于电路板左右两侧和放置板上侧，所述检测针通过导线连接检测仪；
两个橡胶壳，所述检测针外侧与橡胶壳之间固定相连；
检测端口，所述检测端口通过导线与检测仪进行连接。
优选的，两个所述橡胶壳通过红黑颜色进行区分，所述检测端口内侧设有测量底板以及若干个对应的放置口。
优选的，所述放置板上侧设有静电手环，所述静电手环通过导线连接地线，所述放置板固定有防静电层并且放置台、导向柱和支撑柱均采用防静电材质。
优选的，所述橡胶壳下侧设有底板，所述底板与放置板之间通过螺栓可拆卸连接，所述底板上侧固定有两个平台，所述平台前侧设有两个放置槽，所述橡胶壳滑动在放置槽内侧。
优选的，所述放置板上侧设有螺纹孔，所述螺纹孔内侧通过螺纹可拆卸有连接柱，所述连接柱上侧固定有万向竹节杆，所述万向做秸秆上侧固定有螺纹柱，所述螺纹柱内侧通过螺纹可拆卸有带灯放大镜。
优选的，所述连接板上侧通过固定有两个放置框A、两个放置框B，所述放置框A和放置框B内侧固定有放置层，所述放置层上侧设有两侧弹性带，所述弹性带一端与放置框A和放置框B内侧固定相连，所述弹性带另一端与放置框A和放置框B之间通过卡扣相连。
所述的一种集成电路检测装置，其使用方法步骤如下：
1、先将检测仪通电后并开机；
2、佩戴静电手环；
2、根据待检测集成电路状态调整检测仪；
3、当集成电路位于电路板上，将电路板安装在放置台上
4、使用检测针根据检测要求测量电路板上对应的集成电路的引脚，若是集成电路过小可使用带灯放大镜进行放大；
5、若是单独的集成电路，则使用检测端口进行检测对应功能。
本发明提出的一种集成电路检测装置及检测方法，有益效果在于：
1、通过设置检测仪、连接板、放置板、放置台、检测针、橡胶壳、检测端口，使得维修人员可以使用检测仪不电路板上的集成电路进行检测，也可以将单独集成电路放置在检测端口处通过检测仪检测功能，使得检测范围更广，同时将检测端口独立出来，更加方便更换。
2、通过设置万向竹节杆、螺纹柱、带灯放大镜、放置框A、放置框B、放置层、弹性带，使得辅助工具使用的更加方便以及整洁，提高了检测效率和设备整体美观。
附图说明
图1为本发明提出的一种集成电路检测装置及检测方法的正上方立体结构示意图；
图2为本发明提出的图1中A区局部放大立体结构示意图；
图3为本发明提出的图1中B区局部放大立体结构示意图；
图4为本发明提出的图1中C区局部放大立体结构示意图。
图中：1检测仪、2连接板、3放置板、4放置台、5电路板、6导向柱、7检测针、8橡胶壳、9检测端口、10支撑柱、11底板、12平台、13连接柱、14万向竹节杆、15螺纹柱、16带灯放大镜、17放置框A、18放置框B、19放置层、20弹性带、21静电手环。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1-4，一种集成电路检测装置及检测方法，包括检测仪1，检测仪1通过导线连接电源，检测仪1可以自动检测集成电路的功能，也可以像万向表进行单独进行引脚检测，还包括：
连接板2，连接板2与检测仪1前侧固定相连；
放置板3，放置板3与连接板2之间通过合页进行连接；
放置台4，放置台4与放置板3之间通过螺纹可拆卸连接；
电路板5，电路板5位于放置台4上侧并且电路板5四角设有连接孔；
四个导向柱6，放置台4上侧设有若干定位孔，导向柱6滑动在定位孔内侧和电路板5连接孔内侧；
四个支撑柱10，支撑柱10与导向柱6外侧固定相连，使用对应的支撑柱10抬起电路板5，使得电路板更加稳定，降低电路板5下侧凸起处损坏；
两个检测针7，检测针7位于电路板5左右两侧和放置板3上侧，检测针7通过导线连接检测仪1，检测针7前端为针状，避免一次性接触两个引脚；
两个橡胶壳8，检测针7外侧与橡胶壳8之间固定相连；
检测端口9，检测端口9通过导线与检测仪1进行连接，检测端口9分为若干个放置口，放置口内含检测板，检测板上设有若干凸起触点，让集成电路的引脚与触点进行接触；
使用检测仪1进行检测，检测端口9置外，可以方便更换，使得检测范围更广，检测结果和检测效率更快，使得维修人员可以更好的确定集成电路的问题所在。
设备整体不用时可以将放置板3上物品拆卸下来后，可以进行折叠后，使得设备更加方便移动，同时更加方便更换位置直接使用，使得设备使用更加方便以及便捷。
两个橡胶壳8通过红黑颜色进行区分，检测端口9内侧设有测量底板以及若干个对应的放置口，使用红黑颜色区分，但是具体正负极需要根据检测仪1上接口进行确认；放置板3上侧设有静电手环21，静电手环21通过导线连接地线，放置板3固定有防静电层并且放置台4、导向柱6和支撑柱10均采用防静电材质，静电手环21可以去除人体的静电，降低集成电路被静电击穿的概率。
橡胶壳8下侧设有底板11，底板11与放置板3之间通过螺栓可拆卸连接，底板11上侧固定有两个平台12，平台12前侧设有两个放置槽，橡胶壳8滑动在放置槽内侧，两边都有底板11，使得检测针7可以一边一个或者都放在一边，让拿取更加方便。
放置板3上侧设有螺纹孔，螺纹孔内侧通过螺纹可拆卸有连接柱13，连接柱13上侧固定有万向竹节杆14，万向做秸秆上侧固定有螺纹柱15，螺纹柱15内侧通过螺纹可拆卸有带灯放大镜16，使用万向竹节杆14连接带灯放大镜16和放置板3，使得带灯放大镜16可以更加方便的使用和放置；连接板2上侧通过固定有两个放置框A17、两个放置框B18，放置框A17和放置框B18内侧固定有放置层19，放置层19上侧设有两侧弹性带20，弹性带20一端与放置框A17和放置框B18内侧固定相连，弹性带20另一端与放置框A17和放置框B18之间通过卡扣相连，使得辅助工具放置更加方便，提高设备使用后整体4S和美观。
一种集成电路检测装置，其使用方法步骤如下：
1、先将检测仪1通电后并开机；
2、佩戴静电手环21；
3、根据待检测集成电路状态调整检测仪1；
4、当集成电路位于电路板5上，将电路板5安装在放置台4上
5、使用检测针7根据检测要求测量电路板5上对应的集成电路的引脚，若是集成电路过小可使用带灯放大镜16进行放大；
6、若是单独的集成电路，则使用检测端口9进行检测对应功能需要说明的是：
本申请提出的检测仪1、检测端口9、万向竹节杆14、带灯放大镜16、静电手环21均为现有技术，个别具体功能及用法文中不再赘述，其中：
检测仪1指集成电路测试仪，是对集成电路进行测试的专用仪器设备，集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一；集成电路测试技术是发展集成电路产业的三大支撑技术之一，因此，集成电路测试仪作为一个测试门类受到很多国家的高度重视；40年来，随着集成电路发展到第四代，集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路，到了八十年代，超大规模集成电路测试仪进入全盛时期。
静电手环21，是由导电松紧带、活动按扣、弹簧PU线、保护电阻及插头或鳄鱼夹组成的，是一种用于释放人体所存留的静电以起到保护电子芯片作用的小型设备种类分为有绳手腕带、无绳手腕带及智能防静电手腕带，按结构分为单回路手腕带及双回路手腕带。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体的情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种集成电路检测装置，包括检测仪(1)，所述检测仪(1)通过导线连接电源，其特征在于，还包括：
连接板(2)，所述连接板(2)与检测仪(1)前侧固定相连；
放置板(3)，所述放置板(3)与连接板(2)之间通过合页进行连接；
放置台(4)，所述放置台(4)与放置板(3)之间通过螺纹可拆卸连接；
电路板(5)，所述电路板(5)位于放置台(4)上侧并且电路板(5)四角设有连接孔；
四个导向柱(6)，所述放置台(4)上侧设有若干定位孔，所述导向柱(6)滑动在定位孔内侧和电路板(5)连接孔内侧；
四个支撑柱(10)，所述支撑柱(10)与导向柱(6)外侧固定相连；
两个检测针(7)，所述检测针(7)位于电路板(5)左右两侧和放置板(3)上侧，所述检测针(7)通过导线连接检测仪(1)；
两个橡胶壳(8)，所述检测针(7)外侧与橡胶壳(8)之间固定相连；
检测端口(9)，所述检测端口(9)通过导线与检测仪(1)进行连接。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路检测装置，其特征在于，两个所述橡胶壳(8)通过红黑颜色进行区分，所述检测端口(9)内侧设有测量底板以及若干个对应的放置口。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路检测装置，其特征在于，所述放置板(3)上侧设有静电手环(21)，所述静电手环(21)通过导线连接地线，所述放置板(3)固定有防静电层并且放置台(4)、导向柱(6)和支撑柱(10)均采用防静电材质。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路检测装置，其特征在于，所述橡胶壳(8)下侧设有底板(11)，所述底板(11)与放置板(3)之间通过螺栓可拆卸连接，所述底板(11)上侧固定有两个平台(12)，所述平台(12)前侧设有两个放置槽，所述橡胶壳(8)滑动在放置槽内侧。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路检测装置，其特征在于，所述放置板(3)上侧设有螺纹孔，所述螺纹孔内侧通过螺纹可拆卸有连接柱(13)，所述连接柱(13)上侧固定有万向竹节杆(14)，所述万向做秸秆上侧固定有螺纹柱(15)，所述螺纹柱(15)内侧通过螺纹可拆卸有带灯放大镜(16)。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路检测装置，其特征在于，所述连接板(2)上侧通过固定有两个放置框A(17)、两个放置框B(18)，所述放置框A(17)和放置框B(18)内侧固定有放置层(19)，所述放置层(19)上侧设有两侧弹性带(20)，所述弹性带(20)一端与放置框A(17)和放置框B(18)内侧固定相连，所述弹性带(20)另一端与放置框A(17)和放置框B(18)之间通过卡扣相连。
7.根据权利要求1所述的一种集成电路检测装置，其特征在于，其使用方法步骤如下：
(1)、先将检测仪(1)通电后并开机；
(2)、佩戴静电手环(21)；
(3)、根据待检测集成电路状态调整检测仪(1)；
(4)、当集成电路位于电路板(5)上，将电路板(5)安装在放置台(4)上
(5)、使用检测针(7)根据检测要求测量电路板(5)上对应的集成电路的引脚，若是集成电路过小可使用带灯放大镜(16)进行放大；
(6)、若是单独的集成电路，则使用检测端口(9)进行检测对应功能。
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