CN116148558A - 一种深海电子系统压力测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种深海电子系统压力测试方法及装置，测试样本设置于密闭的压力容器内，通过密封接头将关键点位引出，方法包括：在测试样本不上电驱动情形下，对压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压；响应于对压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压的步骤循环执行第一设定次数，对测试样本供电并在上电驱动情形下进行电气性能测试。本发明方案针对深海作业装备中的电子系统及模块进行自承压过程的耐压性能测试，基于压力循环的不带电压力测试方式，可以快速暴露出大部分电子物料的结构性缺陷，对外表现为变形、破损、永久性失效等现象，尤其适用于多个电子元器件批量筛选。

Description

一种深海电子系统压力测试方法及装置

技术领域

本发明涉及海洋技术工程领域，尤其涉及一种深海电子系统压力测试方法及装置。

背景技术

当前深海装备中以液压传动控制为主导控制方式，漏油问题是不可避免的风险，这对海洋环境会造成严重污染。此外，液压传动控制在可靠性、精度、动力密度、节能方面均存在一定的发展限制。目前世界最大的几家深海装备公司在其原有液压设备基础上，开始逐步发展基于电控方式的深海新一代海底作业装备。深海作业装备的电驱化必然成为今后深海装备的发展方向和目标。

对于深海环境而言，深度每增加100米则水压会大约增加0.98Mpa。因此，为应对海水压力对电子系统的破坏，现有如下两种可行方案：

其一，采用一个厚重的刚性壳体承压，而内部的电子系统不会完全承压，这种方法的优势在于：能够将深海承压问题与电子系统技术分离，只依靠壳体的刚性承压能力和深海密封技术即可完全沿用地面电子技术；其缺点在于：实际应用中壳体的厚度、重量、密封技术成本等随着深度的增加而显著提升，该方法适用于浅海潜航器而并不适用于深海作业装备。

其二，基于自耐压电子技术展开耐压电子系统开发，将电子系统浸在密封薄壁油舱，舱体通过压力补偿部件实现内外的压力平衡，舱壁仅起到隔离海水腐蚀作用，海水压力通过绝缘液压油传导到电子系统。该方法的优势在于：只要解决单板或器件的承压问题，就能够突破深度的限制，摒弃了厚重、高昂的刚体外壳，其缺点在于：所有器件共同承压的给电子系统可靠性引入风险点。

因此，有必要提供一种深海电子系统压力测试方案，以对深海电子系统的承压部件进行压力性能测试。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：提供一种深海电子系统压力测试方案，以对深海电子系统的承压部件进行压力性能测试。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种深海电子系统压力测试方法，测试样本设置于密闭的压力容器内，且通过密封接头将所述测试样本的关键点位引出所述压力容器，所述方法包括：

在所述测试样本不上电驱动情形下，对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压；

响应于所述对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压的步骤循环执行第一设定次数，对所述测试样本供电并在上电驱动情形下进行电气性能测试。

可选地，所述关键点位包括供电、通信、输出、输入。

可选地，还包括：

将所述测试样本在绝缘液压油中充分浸泡，在普通大气压下对测试样本进行电气性能测试，并获得被绝缘液压油浸泡后的电气状态；

根据所述被绝缘液压油浸泡后的电气状态和所述测试样本的初始电气状态，确定所述测试样本在压力测试过程中是否受绝缘液压油浸泡环境影响。

可选地，所述在所述测试样本不上电驱动情形下，对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压，包括：

在不上电驱动情形下，以第一升压速度对所述压力容器进行加压，升压至目标测试压力时保压第一时长，并以第一降压速度降压至普通大气压。

可选地，还包括：

响应于所述对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压直至降压至普通大气压的步骤循环执行第一设定次数，对所述测试样本进行外观检测。

可选地，还包括：

在所述测试样本上电驱动情形下，对所述压力容器进行逐级升压测试，并得到升压至各级时所述测试样本的电气状态升压序列，当升压至所述目标测试压力时开始分级降压，并得到降压至各级时所述测试样本的电气状态降压序列，直至降压至普通大气压；

响应于所述对所述压力容器进行逐级升压测试，并得到升压至各级时所述测试样本的电气状态升压序列，当升压至所述目标测试压力时开始分级降压，并得到降压至各级时所述测试样本的电气状态降压序列，直至降压至普通大气压的步骤循环执行第二设定次数，对所述测试样本进行电气性能测试；

基于所述电气状态升压序列、所述电气状态降压序列和测试压力之间的相关性，对所述测试样本进行压力性能分析。

可选地，所述在所述测试样本上电驱动情形下，对所述压力容器进行逐级升压测试，并得到升压至各级时所述测试样本的电气状态升压序列，当升压至所述目标测试压力时开始分级降压，并得到降压至各级时所述测试样本的电气状态降压序列，直至降压至普通大气压，包括：

在上电驱动情形下，以第二升压速度对所述压力容器进行逐级加压，在升压至各级时保压第二时长，且在各保压阶段对所述测试样本进行电气性能检测，得到升压至各级时所述测试样本的电气状态升压序列；

当测试压力达到所述目标测试压力时，以第二降压速度进行分级降压，在降压至各级时保持第三时长，且在各保压阶段对所述测试样本进行电气性能检测，得到降压至各级时所述测试样本的电气状态降压序列。

可选地，所述以第二升压速度对所述压力容器进行逐级加压的步骤包括：以速度V₁分N次进行逐级加压，且每次逐级增加压力P/n；

所述以第二降压速度进行分级降压的步骤包括：以速度V₂分M次进行逐级加压，且每次逐级增加压力P/m；

其中，P为目标测试压力，N和M均为自然数。

可选地，还包括：

响应于所述对所述测试样本进行电气性能测试的步骤循环执行的次数达到第三设定次数或测试过程出现异常，结束测试。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种深海电子系统压力测试装置，测试样本设置于密闭的压力容器内，且通过密封接头将所述测试样本的关键点位引出所述压力容器，所述装置包括：

调压模块，用于在所述测试样本不上电驱动情形下，对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压；

压力测试模块，用于响应于所述对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压的步骤循环执行第一设定次数，对所述测试样本供电并在上电驱动情形下进行电气性能测试。

与现有技术相比，上述方案中的一个或多个实施例可以具有如下优点或有益效果：

应用本发明的深海电子系统压力测试方法及装置，测试样本设置于密闭的压力容器内，且通过密封接头将所述测试样本的关键点位引出所述压力容器，在所述测试样本不上电驱动情形下，对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压；当该步骤循环执行第一设定次数时，对所述测试样本供电并在上电驱动情形下进行电气性能测试。

由以上可见，本发明提供的方案针对深海作业装备中的电子系统及模块进行自承压过程的耐压性能测试，提出了基于压力循环的不带电压力测试方式，通过该方式可以快速暴露出大部分电子物料的结构性缺陷，对外表现为变形、破损、永久性失效等现象，尤其适用于多个电子元器件批量筛选；而且，针对不带电的循环测试中无法体现出某些测试样本在压力循环下未发生永久性破坏，但在承压过程中其电气性能会受压力循环出现可恢复性变化的特征，还提出了带电测试方法，通过实时监测测试样本在不同压力工况下的电气性能，通过数据分析可以获得其在不同压力情况下的影响，达到承压能力检测目的。该方法通过地面的测试手段，能够提前暴露出电子系统电路板及模块的承压缺陷，可有效提高电子系统的承压可靠性，降低电驱动系统下水作业的后期故障风险，降低测试成本。

进一步地，本发明方案可以为深海电子系统的承压性能提供非常直观有效的参照和验证，对产品设计验证和物料筛选提供主要的参考依据，在项目开发周期初期阶段即可规避某些电子器件的缺陷和隐患，最大程度上降低承压失效风险。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的深海电子系统压力测试的原理示意图；

图2为本发明实施例提供的深海电子系统压力测试方法的一种流程图；

图3为本发明实施例提供的深海电子系统压力测试方法的另一种流程图；

图4为本发明实施例提供的深海电子系统压力测试方法的又一种流程图；

图5为本发明实施例提供的多压力循环周期内的电气性能变化趋势图；

图6为本发明实施例提供的测试样本在不同压力工况下的电气性能状态分布图；

图7为本发明实施例提供的深海电子系统压力测试装置的一种结构图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

从现有技术提供的两种针对于深海环境的两种可行方案可知，方案一在实际应用中壳体的厚度、重量、密封技术成本等随着深度的增加而显著提升，该方法适用于浅海潜航器而并不适用于深海作业装备；而方案二虽然能够突破深度的限制，摒弃了厚重、高昂的刚体外壳，但是其所有器件共同承压给电子系统可靠性引入风险点。因此，有必要提供一种深海电子系统压力测试方案，以对深海电子系统的承压部件进行压力性能测试。

在对本发明方案进行说明之前，先结合图1对深海的承压测试方案及原理进行说明。

常规的压力测试过程主要是将测试样本放置于全封闭的压力罐体内进行部分或满额施压后，取出测试样本对其进行外观检测或者功能测试，这种方式虽然能够筛选出压力所带来的永久性影响，但是，对于有些测试样本而言其受压力影响程度是动态变化的，即随压力变化其电气性能受到影响也在动态变化，当去掉环境压力后进行测试时其电气性能有会完全或部分恢复，因此在完成压力测试之后再进行测试并不能真实地体现出其承压性能。因此，对承压过程中的电气性能测试对于承压电子系统而言，将能够有效模拟其在水下的测试状态，提高陆上测试阶段的测试可靠性。

针对现在面临的承压性能测试需求，本发明利用液压力环境，利用其不可压缩的特性，根据“在连通的封闭空间内液压力统一”的原则，以绝缘液压油作为压力媒介，利用液压设备形成一个压力空间，通过液压系统中绝缘液压油的压力调节来模拟深海环境下的等效压力状态，将测试样本放置于该压力空间内进行承压验证，这种环境压力直接加载在测试样本的外表面。

一般通过对压力容器进行一定的周期性升压、保压、降压之后，测试样本在压力引起的周期性机械应力作用下，会充分暴露出其结构上的缺陷，通过观察测试样本的外观形变及结构损伤即可定位其承压缺陷。另外，在经历一系列周期性压力承压之后，从压力容器中取出样本检测器电气性能变化，也可筛选出一部分从外观上看不见的承压缺陷。

本发明除了完成以上所提到的测试目的外，还针对电气性能与环境压力存在相关性的测试样本展开动态的承压性能测试。在压力条件下进行实时的电气参数的功能测试和记录对比，分析测试样本在升降压全过程中的电气性能变化情况。电气性能变化与压力变化趋势的相关性比较将有效体现出测试样本的承压性能好坏。

需要说明的是，本发明提出的深海电子系统压力测试方案针对各类深海电子系统、模块部件以及其电子物料的自承压测试，并且测试方法不仅适用于各类单个独立地电子部件，也适用于集成了多种功能的部件或系统的承压能力测试工作。

下面对本发明提供的深海电子系统压力测试方法进行说明。

实施例一

如图2所示，为本发明实施例提供的深海电子系统压力测试方法的一种流程图，测试样本设置于密闭的压力容器内，且通过密封接头将所述测试样本的关键点位引出所述压力容器，可选地，所述关键点位包括供电、通信、输出、输入，本发明不限定用于进行压力测试的关键点位为何种点位，本领域技术人员需根据实际应用进行选取。

对于一些测试样本而言，由于特殊结构问题，无法确认在压力测试过程中浸泡在绝缘液压油里面时测试结果是否会受到影响，因此，在首次充分泡油后进行电性能状态测试，其状态用于与后续状态进行对比，以判断出是否会受到绝缘液压油浸泡环境的影响。因此，在对测试样本进行测试之前还包括，将所述测试样本在绝缘液压油中充分浸泡，在普通大气压下对测试样本进行电气性能测试，并获得被绝缘液压油浸泡后的电气状态；根据所述被绝缘液压油浸泡后的电气状态和所述测试样本的初始电气状态，确定所述测试样本在压力测试过程中是否受绝缘液压油浸泡环境影响。需要说明的是，如果已经确认该样本浸泡油液时不受影响，则该环节可省略。

此外，本发明所提及的“压力容器”，是一种集成了可调节压力的液压设备，请参见图1，内部装满绝缘液压油，通过调节压力来模拟不同水深的深海压力状态。在容器顶端装有密封接口，通过密封接口实现将容器内的实验对象电信号测试点引出，以便手动测试。

具体地，所述方法可以包括以下步骤：

步骤S101：在所述测试样本不上电驱动情形下，对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压。

本发明实施例所提及的“测试样本”，可以是一个完整的自承压电子系统，也可以是局部模块或器件。对于系统或模块部件而言，目的在于验证其被测功能能否正常在不同压力工况下正常运作；对于单体器件而言，主要以筛选和极限测试为目的，可以通过多个器件进行共同测试，以筛出出承压性能最优的器件对象。

具体地，在不上电驱动情形下，以第一升压速度对所述压力容器进行加压，升压至目标测试压力时保压第一时长，并以第一降压速度降压至普通大气压。

需要说明的是，第一升压速度、第一降压速度，可以基于实际电子系统在海中的压力变化速度来设定，主要用来模拟电子系统在下水和回收过程中所经历的变压力状态。一种情形下，可以略大于其实际速度，升压速度过快可能会引起意外的机械冲击，导致不必要的结构损坏。降压速度可以按照实际压力设备的调压能力来设定，一般降压过快其压力调解可能会失控，这应该避免发生。

步骤S102：响应于所述对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压的步骤循环执行第一设定次数，对所述测试样本供电并在上电驱动情形下进行电气性能测试。

进一步地，如图3所示，本发明提供的深海电子系统压力测试方法，还可以包括步骤S103：响应于所述对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压直至降压至普通大气压的步骤循环执行第一设定次数，对所述测试样本进行外观检测。

由以上可见，本发明提供的方案针对深海作业装备中的电子系统及模块进行自承压过程的耐压性能测试，提出了基于压力循环的不带电压力测试方式，通过该方式可以快速暴露出大部分电子物料的结构性缺陷，对外表现为变形、破损、永久性失效等现象，尤其适用于多个电子元器件批量筛选；而且，针对不带电的循环测试中无法体现出某些测试样本在压力循环下未发生永久性破坏，但在承压过程中其电气性能会受压力循环出现可恢复性变化的特征，还提出了带电测试方法，通过实时监测测试样本在不同压力工况下的电气性能，通过数据分析可以获得其在不同压力情况下的影响，达到承压能力检测目的。该方法通过地面的测试手段，能够提前暴露出电子系统电路板及模块的承压缺陷，可有效提高电子系统的承压可靠性，降低电驱动系统下水作业的后期故障风险，降低测试成本。

进一步地，本发明方案可以为深海电子系统的承压性能提供非常直观有效的参照和验证，对产品设计验证和物料筛选提供主要的参考依据，在项目开发周期初期阶段即可规避某些电子器件的缺陷和隐患，最大程度上降低承压失效风险。

实施例二

如图4所示，为本发明实施例提供的深海电子系统压力测试方法的另一种流程图，测试样本设置于密闭的压力容器内，且通过密封接头将所述测试样本的关键点位引出所述压力容器，可选地，所述关键点位包括供电、通信、输出、输入，本发明不限定用于进行压力测试的关键点位为何种点位，本领域技术人员需根据实际应用进行选取。

具体地，所述方法可以包括以下步骤：

步骤S201：在所述测试样本不上电驱动情形下，对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压。

步骤S202：响应于所述对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压的步骤循环执行第一设定次数，对所述测试样本供电并在上电驱动情形下进行电气性能测试。

步骤S203：在所述测试样本上电驱动情形下，对所述压力容器进行逐级升压测试，并得到升压至各级时所述测试样本的电气状态升压序列，当升压至所述目标测试压力时开始分级降压，并得到降压至各级时所述测试样本的电气状态降压序列，直至降压至普通大气压。

具体地，在上电驱动情形下，以第二升压速度对所述压力容器进行逐级加压，在升压至各级时保压第二时长，且在各保压阶段对所述测试样本进行电气性能检测，得到升压至各级时所述测试样本的电气状态升压序列；

当测试压力达到所述目标测试压力时，以第二降压速度进行分级降压，在降压至各级时保持第三时长，且在各保压阶段对所述测试样本进行电气性能检测，得到降压至各级时所述测试样本的电气状态降压序列。

一种情形下，所述以第二升压速度对所述压力容器进行逐级加压的步骤包括：以速度V1分N次进行逐级加压，且每次逐级增加压力P/n；

所述以第二降压速度进行分级降压的步骤包括：以速度V2分M次进行逐级加压，且每次逐级增加压力P/m；

其中，P为目标测试压力，N和M均为自然数。

步骤S204：响应于所述对所述压力容器进行逐级升压测试，并得到升压至各级时所述测试样本的电气状态升压序列，当升压至所述目标测试压力时开始分级降压，并得到降压至各级时所述测试样本的电气状态降压序列，直至降压至普通大气压的步骤循环执行第二设定次数，对所述测试样本进行电气性能测试。

步骤S205：基于所述电气状态升压序列、所述电气状态降压序列和测试压力之间的相关性，对所述测试样本进行压力性能分析。

一种情形下，对测试样本进行数据处理，绘制其在压力周期内的变化趋势，可以直观的看到压力测试过程中被测样本的电气性能变化趋势。一个实例中，请参见图5和图6，针对某种对外输出电压量的测试样本进行多周期的压力循环测试，分别对六个实验样本进行压力周期循环测试，在三个压力周期内的输出量测量值随压力变化趋势如图5所示。在图5中横坐标为多个连续的升压、降压过程中的压力值，纵坐标表示为测试样本的压力测试结果即电气测量值大小，每个数据点表示该测试样本在不同压力下的测量值情况，将每个循环周期内的测量值分布在不同周期范围内，由整个趋势图可以看出其电气性能与压力状况存在明显的相关性。图6中的坐标含义与图5相同，区别在于将所有样本在不同循环中的测量数据放置在相同的压力刻度轴上，可以看出对于单个样本而言，经历不同的压力循环周期时，其电气测量值受压力影响在趋势上是具有统一性，此外可以根据该趋势的延长线估计出更高压力下的电气变化程度，具有一定的评估意义。

一种实现方式中，还包括：响应于所述对所述测试样本进行电气性能测试的步骤循环执行的次数达到第三设定次数或测试过程出现异常，结束测试。

由以上可见，本发明提供的方案针对深海作业装备中的电子系统及模块进行自承压过程的耐压性能测试，提出了基于压力循环的不带电压力测试方式，通过该方式可以快速暴露出大部分电子物料的结构性缺陷，对外表现为变形、破损、永久性失效等现象，尤其适用于多个电子元器件批量筛选；而且，针对不带电的循环测试中无法体现出某些测试样本在压力循环下未发生永久性破坏，但在承压过程中其电气性能会受压力循环出现可恢复性变化的特征，还提出了带电测试方法，通过实时监测测试样本在不同压力工况下的电气性能，通过数据分析可以获得其在不同压力情况下的影响，达到承压能力检测目的。该方法通过地面的测试手段，能够提前暴露出电子系统电路板及模块的承压缺陷，可有效提高电子系统的承压可靠性，降低电驱动系统下水作业的后期故障风险，降低测试成本。

进一步地，本发明方案可以为深海电子系统的承压性能提供非常直观有效的参照和验证，对产品设计验证和物料筛选提供主要的参考依据，在项目开发周期初期阶段即可规避某些电子器件的缺陷和隐患，最大程度上降低承压失效风险。

下面再对本发明实施例提供的深海电子系统压力测试装置进行说明。

实施例三

如图7所示，本发明提供了一种深海电子系统压力测试装置，测试样本设置于密闭的压力容器内，且通过密封接头将所述测试样本的关键点位引出所述压力容器，所述装置包括：

调压模块310，用于在所述测试样本不上电驱动情形下，对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压；

压力测试模块320，用于响应于所述对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压的步骤循环执行第一设定次数，对所述测试样本供电并在上电驱动情形下进行电气性能测试。

由以上可见，本发明提供的方案针对深海作业装备中的电子系统及模块进行自承压过程的耐压性能测试，提出了基于压力循环的不带电压力测试方式，通过该方式可以快速暴露出大部分电子物料的结构性缺陷，对外表现为变形、破损、永久性失效等现象，尤其适用于多个电子元器件批量筛选；而且，针对不带电的循环测试中无法体现出某些测试样本在压力循环下未发生永久性破坏，但在承压过程中其电气性能会受压力循环出现可恢复性变化的特征，还提出了带电测试方法，通过实时监测测试样本在不同压力工况下的电气性能，通过数据分析可以获得其在不同压力情况下的影响，达到承压能力检测目的。该方法通过地面的测试手段，能够提前暴露出电子系统电路板及模块的承压缺陷，可有效提高电子系统的承压可靠性，降低电驱动系统下水作业的后期故障风险，降低测试成本。

进一步地，本发明方案可以为深海电子系统的承压性能提供非常直观有效的参照和验证，对产品设计验证和物料筛选提供主要的参考依据，在项目开发周期初期阶段即可规避某些电子器件的缺陷和隐患，最大程度上降低承压失效风险。

虽然本发明所公开的实施方式如上，但所述的内容只是为了便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属技术领域内的技术人员，在不脱离本发明所公开的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化，但本发明的保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种深海电子系统压力测试方法，其特征在于，测试样本设置于密闭的压力容器内，且通过密封接头将所述测试样本的关键点位引出所述压力容器，所述方法包括：

在所述测试样本不上电驱动情形下，对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压；

响应于所述对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压的步骤循环执行第一设定次数，对所述测试样本供电并在上电驱动情形下进行电气性能测试。

2.根据权利要求1所述的深海电子系统压力测试方法，其特征在于，所述关键点位包括供电、通信、输出、输入。

3.根据权利要求1所述的深海电子系统压力测试方法，其特征在于，还包括：

将所述测试样本在绝缘液压油中充分浸泡，在普通大气压下对测试样本进行电气性能测试，并获得被绝缘液压油浸泡后的电气状态；

根据所述被绝缘液压油浸泡后的电气状态和所述测试样本的初始电气状态，确定所述测试样本在压力测试过程中是否受绝缘液压油浸泡环境影响。

4.根据权利要求1-3任一项所述的深海电子系统压力测试方法，其特征在于，所述在所述测试样本不上电驱动情形下，对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压，包括：

在不上电驱动情形下，以第一升压速度对所述压力容器进行加压，升压至目标测试压力时保压第一时长，并以第一降压速度降压至普通大气压。

5.根据权利要求1-3任一项所述的深海电子系统压力测试方法，其特征在于，还包括：

响应于所述对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压直至降压至普通大气压的步骤循环执行第一设定次数，对所述测试样本进行外观检测。

6.根据权利要求1所述的深海电子系统压力测试方法，其特征在于，还包括：

在所述测试样本上电驱动情形下，对所述压力容器进行逐级升压测试，并得到升压至各级时所述测试样本的电气状态升压序列，当升压至所述目标测试压力时开始分级降压，并得到降压至各级时所述测试样本的电气状态降压序列，直至降压至普通大气压；

响应于所述对所述压力容器进行逐级升压测试，并得到升压至各级时所述测试样本的电气状态升压序列，当升压至所述目标测试压力时开始分级降压，并得到降压至各级时所述测试样本的电气状态降压序列，直至降压至普通大气压的步骤循环执行第二设定次数，对所述测试样本进行电气性能测试；

基于所述电气状态升压序列、所述电气状态降压序列和测试压力之间的相关性，对所述测试样本进行压力性能分析。

7.根据权利要求6所述的深海电子系统压力测试方法，其特征在于，所述在所述测试样本上电驱动情形下，对所述压力容器进行逐级升压测试，并得到升压至各级时所述测试样本的电气状态升压序列，当升压至所述目标测试压力时开始分级降压，并得到降压至各级时所述测试样本的电气状态降压序列，直至降压至普通大气压，包括：

在上电驱动情形下，以第二升压速度对所述压力容器进行逐级加压，在升压至各级时保压第二时长，且在各保压阶段对所述测试样本进行电气性能检测，得到升压至各级时所述测试样本的电气状态升压序列；

当测试压力达到所述目标测试压力时，以第二降压速度进行分级降压，在降压至各级时保持第三时长，且在各保压阶段对所述测试样本进行电气性能检测，得到降压至各级时所述测试样本的电气状态降压序列。

8.根据权利要求7所述的深海电子系统压力测试方法，其特征在于，

所述以第二升压速度对所述压力容器进行逐级加压的步骤包括：以速度V₁分N次进行逐级加压，且每次逐级增加压力P/n；

所述以第二降压速度进行分级降压的步骤包括：以速度V₂分M次进行逐级加压，且每次逐级增加压力P/m；

其中，P为目标测试压力，N和M均为自然数。

9.根据权利要求6所述的深海电子系统压力测试方法，其特征在于，还包括：

响应于所述对所述测试样本进行电气性能测试的步骤循环执行的次数达到第三设定次数或测试过程出现异常，结束测试。

10.一种深海电子系统压力测试装置，其特征在于，测试样本设置于密闭的压力容器内，且通过密封接头将所述测试样本的关键点位引出所述压力容器，所述装置包括：

调压模块，用于在所述测试样本不上电驱动情形下，对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压；

压力测试模块，用于响应于所述对所述压力容器进行升压，当升压至目标测试压力时进行降压，直至降压至普通大气压的步骤循环执行第一设定次数，对所述测试样本供电并在上电驱动情形下进行电气性能测试。

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