CN116136819A - 设备分析方法及装置、电子设备、存储介质 - Google Patents

设备分析方法及装置、电子设备、存储介质 Download PDF

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CN116136819A CN202310258243.4A CN202310258243A CN116136819A CN 116136819 A CN116136819 A CN 116136819A CN 202310258243 A CN202310258243 A CN 202310258243A CN 116136819 A CN116136819 A CN 116136819A
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electronic equipment
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Xian Wingtech Electronic Technology Co Ltd
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Abstract

本申请实施例涉及数据分析技术领域，公开了设备分析方法及装置、电子设备、存储介质，该方法包括：获取目标电子设备对应的目标运行数据，目标运行数据包括目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据、内存对应第二运行数据以及I/O接口对应的第三运行数据中的一种或多种；以及，对目标运行数据进行分析，确定各个功能模块对应的运行分数，运行分数用于表示目标电子设备的性能情况，功能模块包括所述中央处理器、内存和I/O接口中的一种或多种组合。实施本申请实施例，能够提高对电子设备性能的分析效率，同时提高分析结果的准确率。

Description

设备分析方法及装置、电子设备、存储介质
技术领域
本申请涉及数据分析技术领域，具体涉及一种设备分析方法及装置、电子设备、存储介质。
背景技术
各类电子设备(例如：手机、平板电脑等)在运行的过程中难免出现卡顿或者渲染出错的问题。对此需要开发人员对电子设备出现卡顿或者渲染出错的原因进行分析，进而确定出相应的修复措施。
在实践中发现，相关技术中通常需要开发人员手动对电子设备的运行数据进行收集并手动进行分析，而由于电子设备产生的运行数据的数据量通常较大，所以开发人员需要花费大量的时间进行分析，且容易出错。
发明内容
本申请实施例公开了一种设备分析方法及装置、电子设备、存储介质，能够提高对电子设备性能的分析效率，同时提高分析结果的准确率。
本申请实施例第一方面公开一种设备分析方法，包括：
获取目标电子设备对应的目标运行数据，所述目标运行数据包括所述目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据、内存对应第二运行数据以及I/O接口对应的第三运行数据中的一种或多种；
对所述目标运行数据进行分析，确定各个功能模块对应的运行分数，所述运行分数用于表示所述目标电子设备的性能情况，所述功能模块包括所述中央处理器、内存和I/O接口中的一种或多种组合。
作为一种可选的实施方式，在本申请实施例第一方面中，所述获取目标电子设备对应的目标运行数据，包括：
获取待分析的性能问题，并根据所述待分析的性能问题确定对应的运行数据的获取方式，所述获取方式包括需要抓取的目标运行数据的数据类型和抓取所述目标运行数据需要的时长；
根据所述获取方式在所述目标电子设备中获取所述目标运行数据。
作为一种可选的实施方式，在本申请实施例第一方面中，所述根据所述待分析的性能问题确定对应的运行数据的获取方式，包括：
若所述待分析的性能问题为应用程序运行卡顿，则对应的运行数据的获取方式为抓取所述目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据和/或，内存对应第二运行数据；
若所述待分析的性能问题为画面渲染错误，则对应的运行数据的获取方式为抓取所述目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据；
若所述待分析的性能问题为文件的读取与写入速度慢，则对应的运行数据的获取方式为抓取所述目标电子设备的I/O接口对应的第三运行数据。
作为一种可选的实施方式，在本申请实施例第一方面中，所述第一运行数据包括所述中央处理器的利用率、所述中央处理器管控各个线程的运行情况以及所述中央处理器在单位周期处理的指令数量中的一种或多种组合。
以及；若所述中央处理器的内核态的使用占比大于用户态的使用占比，则所述第一运行数据还包括所述中央处理器的调用频率和次数、所述中央处理器上下文切换的频率和次数以及所述中央处理器中断的频率和次数；
若所述中央处理器的用户态的使用占比大于内核态的使用占比，则所述第一运行数据还包括应用程序的调用栈信息。
作为一种可选的实施方式，在本申请实施例第一方面中，所述第二运行数据包括被关闭的进程信息、换页设备对应的运行数据、用于表示所述内存使用情况的第一数据以及用于表示缺页情况的第二数据中的一种或多种组合。
作为一种可选的实施方式，在本申请实施例第一方面中，所述第三运行数据包括所述目标电子设备的文件系统的使用率、用于表示文件的打开情况的第三数据，用于表示文件读取和写入情况的第四数据以及所述目标电子设备的磁盘的性能指标中的一种或多种组合。
作为一种可选的实施方式，在本申请实施例第一方面中，所述对所述目标运行数据进行分析，确定各个功能模块对应的运行分数，包括：
确定第一功能模块对应的各个运行数据的第一分数，所述第一功能模块为所述中央处理器、内存和I/O接口中的任意一个；
根据多个所述第一分数及各个所述第一分数预设的权重，确定所述第一功能模块对应的运行分数。
本申请实施例第二方面公开一种设备分析装置，包括：
获取单元，用于获取目标电子设备对应的目标运行数据，所述目标运行数据包括所述目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据、内存对应第二运行数据以及I/O接口对应的第三运行数据中的一种或多种；
确定单元，用于对所述目标运行数据进行分析，确定各个功能模块对应的运行分数，所述运行分数用于表示所述目标电子设备的性能情况，所述功能模块包括所述中央处理器、内存和I/O接口中的一种或多种组合。
本申请实施例第三方面公开一种电子设备，包括：
存储有可执行程序代码的存储器；
与所述存储器耦合的处理器；
所述处理器调用所述存储器中存储的所述可执行程序代码，执行本申请实施例第一方面公开的设备分析方法。
本申请实施例第四方面公开一种计算机可读存储介质，其存储计算机程序，其中，所述计算机程序使得计算机执行本申请实施例第一方面公开的设备分析方法。
本申请实施例第五方面公开一种计算机程序产品，当所述计算机程序产品在计算机上运行时，使得所述计算机执行本申请实施例第一方面的任意一种方法的部分或全部步骤。
本申请实施例第六方面公开一种应用发布平台，所述应用发布平台用于发布计算机程序产品，其中，当所述计算机程序产品在计算机上运行时，使得所述计算机执行本申请实施例第一方面的任意一种方法的部分或全部步骤。
与相关技术相比，本申请实施例具有以下有益效果：
本申请实施例中，可以获取目标电子设备对应的目标运行数据，其中，目标运行数据可以包括目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据、内存对应第二运行数据以及I/O接口对应的第三运行数据中的一种或多种；进而可以对目标运行数据进行分析，以确定出各个功能模块的运行分数，从而用户可以根据运行分数直观出确定目标电子设备的性能情况。此外，相比较于手动分析，该方法的运行数据采集和分析都由电子设备自动执行，从而提高了对电子设备性能的分析效率，同时提高分析结果的准确率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例公开的一种设备分析方法的流程示意图；
图2是本申请实施例公开的另一种设备分析方法的流程示意图；
图3是本申请实施例公开的又一种设备分析方法的流程示意图；
图4是本申请实施例公开的一种设备分析装置的结构示意图；
图5是本申请实施例公开的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”、“第三”和“第四”等是用于区别不同的对象，而不是用于描述特定顺序。本申请实施例的术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
本申请实施例公开了一种设备分析方法及装置、电子设备、存储介质，能够提高对电子设备性能的分析效率，同时提高分析结果的准确率。
下面将结合具体实施例对本申请技术方案进行详细说明。
为了更加清楚地说明本申请实施例公开的设备分析方法及装置、电子设备、存储介质，首先介绍适用于该方法的应用场景。可选的，该方法可以应用于各种具备逻辑运算功能的电子设备，包括但不限于：电脑、手机、平板电脑等，在此不作限定。
在相关技术中，若电子设备(例如：手机、平板电脑或者智能手表等)在出现应用程序卡顿、画面渲染错误等问题时，开发人员只能从电子设备的日志中采集相关的运行数据，进而手动对运行数据进行分析，以确定出造成应用程序卡顿或者画面渲染错误的原因。但是由于电子设备产生的运行数据的数据量通常较大，所以开发人员需要花费大量的时间进行分析，耗时长且容易出错。
对此本申请实施例提出一种设备分析方法及装置、电子设备、存储介质，可以自动收集目标电子设备对应的目标运行数据，并对目标运行数据进行分析，以确定出目标电子设备中各个功能模块的运行分数，从而用户可以根据运行分数直观出确定目标电子设备的性能情况。相比较于手动分析，该方法的运行数据采集和分析都由电子设备自动执行，从而提高了对电子设备性能的分析效率，同时提高分析结果的准确率。
基于此，以下对本申请实施例公开的设备分析方法进行介绍。
请参阅图1，图1是本申请实施例公开的一种设备分析方法的流程示意图。可选的，该方法可以应用于上述的电子设备或者其他执行主体，本申请实施例以电子设备为例进行说明，不应对本申请实施例构成限定。可选的，该方法可以包括以下步骤：
102、获取目标电子设备对应的目标运行数据。
本申请实施例中，目标电子设备可以包括手机、平板电脑等便携式电子设备，智能手表、智能手环等可穿戴设备，或者台式电脑、台式电视机等台式电子设备，在此不作限定。
可选的，作为执行主体的电子设备可以为待分析的目标电子设备本身，也可以是除目标电子设备之外的其他电子设备，在此不作限定。即执行本申请实施例公开的设备分析方法的电子设备可以是目标电子设备本身，也可以是其他电子设备。举例来说，目标电子设备可以是手机，而执行本申请实施例公开的设备分析方法的电子设备可以是电脑。或者是目标电子设备可以是手机，而执行本申请实施例公开的设备分析方法的电子设备也可以是手机本身，在此不作限定。
可选的，目标运行数据可以包括但不限于目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据、内存对应第二运行数据以及I/O接口对应的第三运行数据中的一种或多种。可选的，需要采集的目标运行数据的种类可以是由开发人员根据大量的开发经验设定的，也可以是电子设备默认设定的，还可以是电子设备根据待分析的性能问题设定的，在此不作限定。
其中，中央处理器(central processing unit，CPU)为目标电子设备的运算和控制核心，是目标电子设备的信息处理、程序运行的执行单元。
内存为目标电子设备用于存储数据的容器，可以包括随机存取存储器、同步动态随机存储器或者静态随机存取存储器等，在此不作限定。
I/O接口为目标电子设备的输入/输出接口，是目标电子设备内部用于数据传输的器件。
104、对目标运行数据进行分析，确定各个功能模块对应的运行分数。
本申请实施例中，电子设备在获取到目标运行数据之后，可以通过预设的分析方法对目标运行数据进行分析，以得到分析结果。可选的，预设的分析方法可以包括但不限于阈值判断、数据比较等方式，在此不作限定。
可选的，功能模块可以包括中央处理器、内存和I/O接口中的一种或多种组合，运行分数可以用于表示目标电子设备的性能情况，从而用户可以通过各个功能模块的运行分数，直观地确定是哪些功能模块导致应用程序卡顿，或者画面渲染出错。
实施上述各实施例公开的方法，可以获取目标电子设备对应的目标运行数据，其中，目标运行数据可以包括目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据、内存对应第二运行数据以及I/O接口对应的第三运行数据中的一种或多种；进而可以对目标运行数据进行分析，以确定出各个功能模块的运行分数，从而用户可以根据运行分数直观出确定目标电子设备的性能情况。此外，相比较于手动分析，该方法的运行数据采集和分析都由电子设备自动执行，从而提高了对电子设备性能的分析效率，同时提高分析结果的准确率。
请参阅图2，图2是本申请实施例公开的另一种设备分析方法的流程示意图。可选的，该方法可以应用于上述的电子设备或者其他执行主体，本申请实施例以电子设备为例进行说明，不应对本申请实施例构成限定。可选的，该方法可以包括以下步骤：
202、获取待分析的性能问题，并根据待分析的性能问题确定对应的运行数据的获取方式。
本申请实施例中，待分析的性能问题可以有多种，包括但不限于应用程序运行卡顿、画面渲染错误和文件的读取与写入速度慢等，在此不作限定。
针对不同的性能问题，电子设备可以确定出对应的运行数据的获取方式，其中，获取方式包括需要抓取的目标运行数据的数据类型和抓取目标运行数据需要的时长；其中，不同的获取方式所需要抓取的目标运行数据的数据类型和抓取目标运行数据需要的时长可以是不同的。
作为一种可选的实施方式，电子设备在确定待分析的性能问题为应用程序运行卡顿的情况下，则可以确定对应的运行数据的获取方式可以为抓取目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据和/或，目标电子设备的内存对应的第二运行数据。
可以理解的是，目标电子设备的中央处理器的处理能力，和内存中可用的存储空间都将影响应用程序的运行情况，对此在确定待分析的性能问题为应用程序运行卡顿的情况下，可以仅获取中央处理器和内存的运行数据进行分析即可，从而可以减少数据采集和分析的工作量，又可以准确地确定出导致应用程序运行卡顿的原因。
可选的，电子设备在确定待分析的性能问题为画面渲染错误的情况下，则可以确定对应的运行数据的获取方式可以为抓取目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据。可选的，中央处理器可以包括图像处理器，图像处理器是具备图像处理、图像渲染功能的处理器。
同理的，由于目标电子设备的画面渲染质量主要由中央处理器的运行情况决定，对此在确定待分析的性能问题为画面渲染错误的情况下，可以针对性地采集中央处理器对应的第一运行数据进行分析，从而可以减少数据采集和分析的工作量。
在另一种可选的实施例中，电子设备在确定待分析的性能问题为文件的读取与写入速度慢的情况下，对应的运行数据的获取方式可以为抓取目标电子设备的I/O接口对应的第三运行数据。
同理的，目标电子设备的文件读取和写入速度主要与目标电子设备的I/O接口的运行情况有关，对此在确定待分析的性能问题为文件的读取和写入速度慢的情况下，可以针对性地采集I/O接口对应的第三运行数据进行分析，从而可以减少数据采集和分析的工作量。
实施上述方法，可以针对不同的性能问题，仅对相对应的运行数据进行采集和分析，而不需要对目标电子设备的所有运行都进行采集和分析，从而可以减少运行数据的采集和分析的工作量和采集时长，此外还可以节省功耗及存储空间。
204、根据获取方式在目标电子设备中获取目标运行数据。
作为一种可选的实施方式，电子设备可以获取当前的时间点，若当前的时间点处于空闲时间段内，则进一步确定目标电子设备是否处于空闲状态，若目标电子设备处于空闲状态，则确定获取方式对应的第一时长，并确定当前的时间点与目标时间点之间间隔的第二时长，若第一时长小于第二时长，则执行根据获取方式在目标电子设备中获取目标运行数据的步骤，目标时间点是历史上目标电子设备处于繁忙状态的时间点，例如：晚上8点，此时用户通常会使用目标电子设备，所以目标电子设备在晚上8点通常处于繁忙状态。
实施上述方法，可以确定目标电子设备处于空闲状态的情况下，才执行目标运行数据的获取操作，以避免目标运行数据的获取操作影响目标电子设备的正常运行，从而提高了用户的使用体验度。
206、对目标运行数据进行分析，确定各个功能模块对应的运行分数。
作为一种可选的实施方式，在确定各个功能模块对应的运行分数之后，电子设备可以确定出运行分数最低的目标功能模块；确定目标功能模块的目标型号及目标使用时长，获取并输出目标优化方案，目标优化方案是针对目标型号及目标使用时长的目标功能模块的优化方案。
控制目标电子设备与云端服务器建立通信连接，并控制目标电子设备将目标功能模块中存储的数据传输至云端服务器中。进一步，在确定对目标功能模块实施目标优化方案之后，重新获取目标功能模块的运行数据，并根据运行数据确定新的运行分数；若新的运行分数大于等于分数阈值，则向云端服务器发送删除指令，以使得云端服务器将存储的目标功能模块的数据删除；若新的运行分数小于分数阈值，则云端服务器继续保存目标功能模块的数据。
实施上述方法，电子设备在提供目标优化方案优化目标功能模块的同时，可以将目标功能模块的数据存储至云端服务器，避免目标功能模块损坏而到数据丢失；进一步地，在确定目标功能模块被优化后，可以将云端服务器中存储的目标功能模块的数据删除，以节省云端服务器的存储空间。
实施上述各实施例公开的方法，可以对采集到的目标运行数据进行分析，以确定出各个功能模块的运行分数，从而用户可以根据运行分数直观出确定目标电子设备的性能情况。此外，相比较于手动分析，该方法的运行数据采集和分析都由电子设备自动执行，从而提高了对电子设备性能的分析效率，同时提高分析结果的准确率；以及，可以针对不同的性能问题，仅对相对应的运行数据进行采集和分析，而不需要对目标电子设备的所有运行都进行采集和分析，从而可以减少运行数据的采集和分析的工作量和采集时长，此外还可以节省功耗及存储空间。
请参阅图3，图3是本申请实施例公开的又一种设备分析方法的流程示意图。可选的，该方法可以应用于上述的电子设备或者其他执行主体，本申请实施例以电子设备为例进行说明，不应对本申请实施例构成限定。可选的，该方法可以包括以下步骤：
302、获取目标电子设备对应的目标运行数据。
本申请实施例中，目标运行数据可以包括目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据。其中，第一运行数据是用于反映中央处理器的运行情况的数据，可选的，第一运行数据可以包括中央处理器的利用率、中央处理器管控的各个线程的运行情况以及中央处理器在单位周期内处理的指令数量中的一种或多种组合。
可选的，中央处理器的利用率包括用于反映电子设备中一个或多个处理器的利用率情况的数据。可选的，中央处理器的利用率可以包括但不限于：多个中央处理器构成的处理器整体的第一利用率，和/或单个中央处理器的第二利用率(例如：top、mpstat等)。
中央处理器管控的各个线程的运行情况包括用于反映中央处理器管控的线程数量及各个线程的运行情况的数据，包括但不限于：目标电子设备的系统并发程度、是否为单线程、线程的数量、是否设置了容器限制(例如：mpstat等)以及使用率最高的进程。
中央处理器在单位周期内处理的指令数量可以包括但不限于：中央处理器在一个或多个时钟周期内处理的指令数量，例如：bpftrace、systemtap等。可选的，可以通过PMC检测中央处理器在每个时钟周期内处理的指令数量。其中，时钟周期又称为振荡周期，是计算机中最小的一个时间单位，是中央处理器完成一个最基本的动作所需要的时长。
在另一种可选的实施例中，电子设备可以确定目标电子设备的中央处理器在用户态和内核态的使用情况(例如：top、pidstat等)。
若确定中央处理器的内核态的使用占比大于用户态的使用占比，则第一运行数据还可以包括中央处理器的调用频率和次数、中央处理器上下文切换的频率和次数以及中央处理器中断的频率和次数；可选的，电子设备可以通过第一定制工具获取中央处理器上下文切换的频率和次数(例如：kprobes、/proc/softirqs等)。可选的，第一定制工具可以包括kprobes定制工具。
可选的，若确定中央处理器的用户态的使用占比大于内核态的使用占比，则第一运行数据还可以包括应用程序的调用栈信息。可选的，电子设备可以采用预设的展示方式显示应用程序的调用栈信息，其中，预设的展示方式可以包括中央处理器的火焰图。可选的，电子设备可以通过第二定制工具获取应用程序的调用栈信息(例如：perf等)；可选的，第二定制工具可以包括uprobes定制工具，在此不作限定。在另一种可选的实施例中，目标运行数据可以包括目标电子设备的内存对应第二运行数据。其中，第二运行数据是用于反映电子设备中的内存的运行情况的数据，可选的，第二运行数据可以包括被关闭的进程信息、换页设备对应的运行数据、用于表示内存使用情况的第一数据以及用于表示缺页情况的第二数据中的一种或多种组合。
可选的，被关闭的进程信息可以包括但不限于：被OOM Killer关闭的进程信息，例如：dmesg等。其中，OMM Killer是Linux内核中的一种机制，该机制可以在检测到内存的存储空间不足的情况下，将内存中占用存储空间最大的进程关闭。
换页设备对应的运行数据可以包括但不限于：目标电子设备的系统是否配置换页设备、使用的换页空间的大小，以及换页设备是否存在活跃的I/O操作(例如：iostat、vmstat等)。
用于表示内存使用情况的第一数据可以包括但不限于：空闲内存的数量、目标电子设备的系统的缓存情况(例如：free等)、根据进程确定的内存用量(例如：top、ps等)、通过跟踪brk()和mmap()调用确定的内存用量、通过PMC获取到的硬件缓存命空率和内存访问情况，以及通过分析导致内存I/O发生的函数和指令信息(例如：perf)。
用于表示缺页情况的第二数据可以包括但不限于：缺页错误的发生频率、缺页错误发生时的调用栈信息(其中，该调用栈信息可以用于解释RSS增长的原因)，以及与缺页错误的相关文件的信息。
在又一种可选的实施例中，目标运行数据可以包括目标电子设备的I/O接口对应的第三运行数据。其中，第三运行数据是用于反映电子设备中的I/O接口的运行情况的数据，可选的，第三运行数据可以包括目标电子设备的文件系统的使用率、用于表示文件的打开情况的第三数据，用于表示文件读取和写入情况的第四数据以及目标电子设备的磁盘的性能指标中的一种或多种组合。其中，由于应用程序可以采用异步磁盘I/O，所以应用程序的运行情况不受磁盘延迟影响，对此可以通过分析文件系统的运行情况来确定应用程序卡顿的原因。
可选的，目标电子设备的文件系统的使用率可以包括用于描述文件系统的基本情况的数据(例如：df、mount等)，以及查找速度慢的目标文件系统的操作、延时和缓存命中率的情况。其中，若文件系统的使用率超过第一使用率阈值(例如：85％、90％)，则文件系统的性能将下降。
用于表示文件的打开情况的第三数据可以包括但不限于：短期文件(例如：lsof、opensnoop、filelife等)的打开情况。
目标电子设备的磁盘的性能指标可以包括但不限于：请求时长、IOPS、使用率：iostat等。
可选的，第三运行数据还可以包括但不限于：通过跟踪块I/O延时分布，获取到的是否有多峰分布、延时超标的情况，例如：biolatency；以及通过单独跟踪具体的块I/O，获取到的系统中的一些行为模式，例如：是否有大量写入请求导致读队列增长等。
304、确定第一功能模块对应的各个运行数据对应的第一分数。
如上所述，各个第一功能模块对应的运行数据可以有多种，第一功能模块可以包括中央处理器、内存和I/O接口中的任一个。
进而电子设备可以通过预设的打分规则确定第一功能模块对应的各个运行数据对应的第一分数。可选的，电子设备可以根据第一功能模块对应的各个运行数据与对应的标准数据之间的差值，确定对应运行数据的第一分数。
可选的，若差值为负数，则可以确定对应运行数据的第一分数为高分数(例如：90分、100分)，若差值为正数，则可以确定对应运行数据的第一分数为低分数(例如：50分、60分)。
举例来说，假设中央处理器的利用率对应的标准数据为50％，则若获取到的目标电子设备的中央处理器的利用率为80％，两者的差值为30％，为正数，则可以确定中央处理器的利用率对应的第一分数为60分；若获取到的目标电子设备的中央处理器的利用率为30％，两者的差值为-20％，为负数，则可以确定中央处理器的利用率对应的第一分数为100分。
在另一种实施例中，电子设备可以根据第一功能模块对应的各个运行数据与对应的标准数据之间的比值，确定对应运行数据的第一分数。
可选的，若第一功能模块对应的各个运行数据与对应的标准数据之间的比值大于1，则可以确定对应的运行数据的第一分数为低分数(例如：50分、60分)；若第一功能模块对应的各个运行数据与对应的标准数据之间的比值小于或者等于1，则可以确定对应的运行数据的第一分数为高分数(例如：90分、100分)。
306、根据多个第一分数及各个第一分数预设的权重，确定第一功能模块对应的运行分数。
可以理解的是，第一功能模块中各个运行数据的重要程度是不同的，对此可以对不同运行数据对应的第一分数设置对应的预设的权重。可选的，预设的权重可以与对应运行数据的重要程度呈正相关关系。
进而电子设备可以各个第一分数与对应的预设的权重相乘，以得到多个目标乘积，并将多个目标乘积相加得到目标和作为第一功能模块对应的运行分数。
举例来说，由于“中央处理器的利用率”的重要程度大于“上下文切换的频率和次数”的重要程度，对此可以将“中央处理器的利用率”对应的预设的权重设置为75％，而将“上下文切换的频率和次数”对应的预设的权重设置为25％；假设“中央处理器的利用率”对应的第一分数为90，“上下文切换的频率和次数”对应的第一分数为60，则可以确定中央处理器对应的运行分数为90*75％+60*25％＝82.5。
实施上述方法，可以针对重要程度的不同的运行数据设置相对应的权重，从而使得后续确定出第一功能模块的运行分数更加的合理和准确，更能够准确地表示第一功能模块的运行情况。
实施上述各实施例公开的方法，可以对采集到的目标运行数据进行分析，以确定出各个功能模块的运行分数，从而用户可以根据运行分数直观出确定目标电子设备的性能情况。此外，相比较于手动分析，该方法的运行数据采集和分析都由电子设备自动执行，从而提高了对电子设备性能的分析效率，同时提高分析结果的准确率；以及，可以针对重要程度的不同的运行数据设置相对应的权重，从而使得后续确定出第一功能模块的运行分数更加的合理和准确，更能够准确地表示第一功能模块的运行情况。
请参阅图4，图4是本申请实施例公开的一种设备分析装置的结构示意图。可选的，该装置可以应用于上述的电子设备或者其他执行主体，本申请实施例以电子设备为例进行说明，不应对本申请实施例构成限定。可选的，该装置可以包括获取单元402和确定单元404，其中：
获取单元402，用于获取目标电子设备对应的目标运行数据，目标运行数据包括目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据、内存对应第二运行数据以及I/O接口对应的第三运行数据中的一种或多种；
确定单元404，用于对目标运行数据进行分析，确定各个功能模块对应的运行分数，运行分数用于表示目标电子设备的性能情况，功能模块包括中央处理器、内存和I/O接口中的一种或多种组合。
实施上述装置，可以获取目标电子设备对应的目标运行数据，其中，目标运行数据可以包括目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据、内存对应第二运行数据以及I/O接口对应的第三运行数据中的一种或多种；进而可以对目标运行数据进行分析，以确定出各个功能模块的运行分数，从而用户可以根据运行分数直观出确定目标电子设备的性能情况。此外，相比较于手动分析，该方法的运行数据采集和分析都由电子设备自动执行，从而提高了对电子设备性能的分析效率，同时提高分析结果的准确率。
作为一种可选的实施方式，获取单元402，还用于获取待分析的性能问题，并根据待分析的性能问题确定对应的运行数据的数据获取方式，数据获取方式包括需要抓取的目标运行数据的数据类型和抓取目标运行数据需要的时长；以及，根据数据获取方式在目标电子设备中获取目标运行数据。
实施上述装置，可以针对不同的性能问题，仅对相对应的运行数据进行采集和分析，而不需要对目标电子设备的所有运行都进行采集和分析，从而可以减少运行数据的采集和分析的工作量和采集时长，此外还可以节省功耗及存储空间。
作为一种可选的实施方式，获取单元402，还用于在确定待分析的性能问题为应用程序运行卡顿时，确定对应的运行数据的数据获取方式为抓取目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据和/或，内存对应第二运行数据；以及，在确定待分析的性能问题为画面渲染错误时，确定对应的运行数据的数据获取方式为抓取目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据；以及，在确定待分析的性能问题为文件的读取与写入速度慢时，确定对应的运行数据的数据获取方式为抓取目标电子设备的I/O接口对应的第三运行数据。
实施上述装置，可以针对不同的性能问题，仅对相对应的运行数据进行采集和分析，而不需要对目标电子设备的所有运行都进行采集和分析，从而可以减少运行数据的采集和分析的工作量和采集时长，此外还可以节省功耗及存储空间。
作为一种可选的实施方式，第一运行数据包括中央处理器的利用率、中央处理器管控各个线程的运行情况以及中央处理器在单位周期处理的指令数量中的一种或多种组合。
以及；若中央处理器的内核态的使用占比大于用户态的使用占比，则第一运行数据还包括中央处理器的调用频率和次数、中央处理器上下文切换的频率和次数以及中央处理器中断的频率和次数；
若中央处理器的用户态的使用占比大于内核态的使用占比，则第一运行数据还包括应用程序的调用栈信息。
作为一种可选的实施方式，第二运行数据包括被关闭的进程信息、换页设备对应的运行数据、用于表示内存使用情况的第一数据以及用于表示缺页情况的第二数据中的一种或多种组合。
作为一种可选的实施方式，第三运行数据包括目标电子设备的文件系统的使用率、用于表示文件的打开情况的第三数据，用于表示文件读取和写入情况的第四数据以及目标电子设备的磁盘的性能指标中的一种或多种组合。
作为一种可选的实施方式，确定单元404，还用于确定第一功能模块对应的各个运行数据对应的第一分数，第一功能模块为中央处理器、内存和I/O接口中的任一个；以及，根据多个第一分数及各个第一分数预设的权重，确定第一功能模块对应的运行分数。
实施上述装置，可以针对重要程度的不同的运行数据设置相对应的权重，从而使得后续确定出第一功能模块的运行分数更加的合理和准确，更能够准确地表示第一功能模块的运行情况。
请参阅图5，图5是本申请实施例公开的一种电子设备的结构示意图。
如图5所示，该电子设备可以包括：
存储有可执行程序代码的存储器501；
与存储器501耦合的处理器502；
其中，处理器502调用存储器501中存储的可执行程序代码，执行上述各实施例公开的设备分析方法。
本申请实施例公开一种计算机可读存储介质，其存储计算机程序，其中，该计算机程序使得计算机执行上述各实施例公开的设备分析方法。
本申请实施例还公开一种应用发布平台，其中，应用发布平台用于发布计算机程序产品，其中，当计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行如以上各方法实施例中的方法的部分或全部步骤。
应理解，说明书通篇中提到的“一个实施例”或“一实施例”意味着与实施例有关的特定特征、结构或特性包括在本申请的至少一个实施例中。因此，在整个说明书各处出现的“在一个实施例中”或“在一实施例中”未必一定指相同的实施例。此外，这些特定特征、结构或特性可以以任意适合的方式结合在一个或多个实施例中。本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于可选实施例，所涉及的动作和模块并不一定是本申请所必须的。
在本申请的各种实施例中，应理解，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的必然先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物单元，即可位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
上述集成的单元若以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可获取的存储器中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或者部分，可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储器中，包括若干请求用以使得一台计算机设备(可以为个人计算机、服务器或者网络设备等，具体可以是计算机设备中的处理器)执行本申请的各个实施例上述方法的部分或全部步骤。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质包括只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存储器(Random Access Memory，RAM)、可编程只读存储器(Programmable Read-only Memory，PROM)、可擦除可编程只读存储器(Erasable Programmable Read Only Memory，EPROM)、一次可编程只读存储器(One-time Programmable Read-Only Memory，OTPROM)、电子抹除式可复写只读存储器(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory，EEPROM)、只读光盘(CompactDisc Read-Only Memory，CD-ROM)或其他光盘存储器、磁盘存储器、磁带存储器、或者能够用于携带或存储数据的计算机可读的任何其他介质。
以上对本申请实施例公开的一种设备分析方法及装置、电子设备、存储介质进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种设备分析方法，其特征在于，所述方法包括：
获取目标电子设备对应的目标运行数据，所述目标运行数据包括所述目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据、内存对应第二运行数据以及I/O接口对应的第三运行数据中的一种或多种；
对所述目标运行数据进行分析，确定各个功能模块对应的运行分数，所述运行分数用于表示所述目标电子设备的性能情况，所述功能模块包括所述中央处理器、内存和I/O接口中的一种或多种组合。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取目标电子设备对应的目标运行数据，包括：
获取待分析的性能问题，并根据所述待分析的性能问题确定对应的运行数据的获取方式，所述获取方式包括需要抓取的目标运行数据的数据类型和抓取所述目标运行数据需要的时长；
根据所述获取方式在所述目标电子设备中获取所述目标运行数据。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述待分析的性能问题确定对应的运行数据的获取方式，包括：
若所述待分析的性能问题为应用程序运行卡顿，则对应的运行数据的获取方式为抓取所述目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据和/或，内存对应第二运行数据；
若所述待分析的性能问题为画面渲染错误，则对应的运行数据的获取方式为抓取所述目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据；
若所述待分析的性能问题为文件的读取与写入速度慢，则对应的运行数据的获取方式为抓取所述目标电子设备的I/O接口对应的第三运行数据。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一运行数据包括所述中央处理器的利用率、所述中央处理器管控各个线程的运行情况以及所述中央处理器在单位周期处理的指令数量中的一种或多种组合。
以及；若所述中央处理器的内核态的使用占比大于用户态的使用占比，则所述第一运行数据还包括所述中央处理器的调用频率和次数、所述中央处理器上下文切换的频率和次数以及所述中央处理器中断的频率和次数中的一种或多种组合；
若所述中央处理器的用户态的使用占比大于内核态的使用占比，则所述第一运行数据还包括应用程序的调用栈信息。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二运行数据包括被关闭的进程信息、换页设备对应的运行数据、用于表示所述内存使用情况的第一数据以及用于表示缺页情况的第二数据中的一种或多种组合。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第三运行数据包括所述目标电子设备的文件系统的使用率、用于表示文件的打开情况的第三数据，用于表示文件读取和写入情况的第四数据以及所述目标电子设备的磁盘的性能指标中的一种或多种组合。
7.根据权利要求1～6任一项所述的方法，其特征在于，所述对所述目标运行数据进行分析，确定各个功能模块对应的运行分数，包括：
确定第一功能模块对应的各个运行数据的第一分数，所述第一功能模块为所述中央处理器、内存和I/O接口中的任意一个；
根据多个所述第一分数及各个所述第一分数预设的权重，确定所述第一功能模块对应的运行分数。
8.一种设备分析装置，其特征在于，所述装置包括：
获取单元，用于获取目标电子设备对应的目标运行数据，所述目标运行数据包括所述目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据、内存对应第二运行数据以及I/O接口对应的第三运行数据中的一种或多种；
确定单元，用于对所述目标运行数据进行分析，确定各个功能模块对应的运行分数，所述运行分数用于表示所述目标电子设备的性能情况，所述功能模块包括所述中央处理器、内存和I/O接口中的一种或多种组合。
9.一种电子设备，其特征在于，包括存储有可执行程序代码的存储器，以及与所述存储器耦合的处理器；其中，所述处理器调用所述存储器中存储的所述可执行程序代码，执行如权利要求1～7任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质，其存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1～7任一项所述的方法。
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