CN116106782A - 一种短路试验参数的提取方法、装置、介质及电子设备 - Google Patents

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CN116106782A CN202210834177.6A CN202210834177A CN116106782A CN 116106782 A CN116106782 A CN 116106782A CN 202210834177 A CN202210834177 A CN 202210834177A CN 116106782 A CN116106782 A CN 116106782A
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王�琦
付超
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袁田
梁正波
童悦
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王昱晴
陈令英
李佳宣
王欣盛
褚凡武
黄小华
魏志雄
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Abstract

本发明公开了一种短路试验参数的提取方法、装置、介质及电子设备。其中，方法包括：根据示波器读取的电流波形，确定采样序列；将采样序列转换为多个复指数函数叠加的形式，确定离散函数，并根据采样序列构造第一汉克尔矩阵和第二汉克尔矩阵；根据离散函数、第一汉克尔矩阵以及第二汉克尔矩阵，确定采样序列的特征参数信息，并根据特征参数信息确定短路试验参数，其中短路试验参数用于进行短路试验。

Description

一种短路试验参数的提取方法、装置、介质及电子设备
技术领域
本发明涉及变压器短路试验电流分析计算技术领域，并且更具体地，涉及一种短路试验参数的提取方法、装置、介质及电子设备。
背景技术
对称短路试验电流的有效值和非对称短路电流峰值是短路试验的两个关键指标，正确提取波形的峰值、有效值和直流分量等参数具有重要意义。目前，国际短路试验联盟(STL)建议用三峰值法计算电流波形的有效值和直流分量百分数，并被各高压大容量试验室所采用。该方法至少需要三个峰值点，当半波数小于3个时，难以计算得到准确的波形特征参量。改进傅氏等滤波算法的时间分辨率较差，只适用于分析基波分量有效值恒定的波形，当交流分量衰减时，将导致计算产生一定误差。同时，以三峰值法、傅氏滤波算法为代表的波形解析方法也易受噪声的影响，当短路波形中包含高斯白噪声时，其解析准确性将进一步降低。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明提供一种短路试验参数的提取方法、装置、介质及电子设备。
根据本发明的一个方面，提供了一种短路试验参数的提取方法，包括：
根据示波器读取的电流波形，确定采样序列；
将采样序列转换为多个复指数函数叠加的形式，确定离散函数，并根据采样序列构造第一汉克尔矩阵和第二汉克尔矩阵；
根据离散函数、第一汉克尔矩阵以及第二汉克尔矩阵，确定采样序列的特征参数信息，并根据特征参数信息确定短路试验参数，其中短路试验参数用于进行短路试验。
可选地，根据采样序列构造第一汉克尔矩阵和第二汉克尔矩阵的操作，包括：
根据采样序列构造第一汉克尔矩阵；
将第一汉克尔矩阵中的每一个元素替换成该元素的下一个元素，确定第二汉克尔矩阵。
可选地，根据离散函数、第一汉克尔矩阵以及第二汉克尔矩阵，确定采样序列的特征参数信息的操作，包括：
根据第一汉克尔矩阵以及第二汉克尔矩阵，确定采样序列的极值点；
根据离散函数以及极值点，确定采样序列的留数信息；
根据极值点以及留数信息，确定采样序列的特征参数信息，确定采样序列的特征参数信息。
可选地，根据第一汉克尔矩阵以及第二汉克尔矩阵，确定采样序列的极值点的计算公式如下：
zi＝Y1 +Y2
其中Zi为极值点，Y1 +为第一汉克尔矩阵的伪逆矩阵，Y2为第二汉克尔矩阵。
可选地，根据离散函数以及极值点，确定采样序列的留数信息的操作，包括：
根据恒定阈值估计方法，确定模态阶数；
根据模态阶数、极值点以及离散函数，确定留数信息。
可选地，根据极值点以及留数信息，确定采样序列的特征参数信息的操作，包括：
根据留数信息，确定幅值以及相位；
根据极值点，确定衰减因子以及频率。
可选地，根据特征参数信息，确定短路试验的短路试验参数的操作，包括：
根据幅值确定短路试验参数的峰值以及有效值；
根据衰减因子确定短路试验参数的衰减系数；
根据频率、幅值以及相位，确定短路试验参数的直流分量。
根据本发明的另一个方面，提供了一种短路试验参数的提取装置，包括：
第一确定模块，用于根据示波器读取的电流波形，确定采样序列；
第二确定模块，用于将采样序列转换为多个复指数函数叠加的形式，确定离散函数，并根据采样序列构造第一汉克尔矩阵和第二汉克尔矩阵；
第三确定模块，用于根据离散函数、第一汉克尔矩阵以及第二汉克尔矩阵，确定采样序列的特征参数信息，并根据特征参数信息确定短路试验参数，其中短路试验参数用于进行短路试验。
根据本发明的又一个方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序用于执行本发明上述任一方面所述的方法。
根据本发明的又一个方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：处理器；用于存储所述处理器可执行指令的存储器；所述处理器，用于从所述存储器中读取所述可执行指令，并执行所述指令以实现本发明上述任一方面所述的方法。
从而，本申请提供的方法，将采样序列转换为多个复指数函数叠加的形式，确定离散函数，并根据采样序列构造第一汉克尔矩阵和第二汉克尔矩阵；然后根据离散函数、第一汉克尔矩阵以及第二汉克尔矩阵，确定采样序列的特征参数信息。从而本发明提供的特征参数提取方法不受半波数量以及交流分量有效值是否恒定的影响，并且由于矩阵束算法本身具备去噪的能力，对包含噪声的短路波形解析结果准确性较高，能够适应于各种复杂试验环境下。
附图说明
通过参考下面的附图，可以更为完整地理解本发明的示例性实施方式：
图1是本发明一示例性实施例提供的短路试验参数的提取方法的流程示意图；
图2是本发明一示例性实施例提供的不同方法对理想短路波形交流分量有效值解析对比图；
图3是本发明一示例性实施例提供的不同方法对含不同信噪比短路波形交流分量有效值解析对比图；
图4是本发明一示例性实施例提供的不同短路时间对矩阵束算法解析结果的影响图；
图5是本发明一示例性实施例提供的短路试验参数的提取装置的结构示意图；
图6是本发明一示例性实施例提供的电子设备的结构。
具体实施方式
下面，将参考附图详细地描述根据本发明的示例实施例。显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是本发明的全部实施例，应理解，本发明不受这里描述的示例实施例的限制。
应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。
本领域技术人员可以理解，本发明实施例中的“第一”、“第二”等术语仅用于区别不同步骤、设备或模块等，既不代表任何特定技术含义，也不表示它们之间的必然逻辑顺序。
还应理解，在本发明实施例中，“多个”可以指两个或两个以上，“至少一个”可以指一个、两个或两个以上。
还应理解，对于本发明实施例中提及的任一部件、数据或结构，在没有明确限定或者在前后文给出相反启示的情况下，一般可以理解为一个或多个。
另外，本发明中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本发明中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
还应理解，本发明对各个实施例的描述着重强调各个实施例之间的不同之处，其相同或相似之处可以相互参考，为了简洁，不再一一赘述。
同时，应当明白，为了便于描述，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。
以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。
对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
本发明实施例可以应用于终端设备、计算机系统、服务器等电子设备，其可与众多其它通用或专用计算系统环境或配置一起操作。适于与终端设备、计算机系统、服务器等电子设备一起使用的众所周知的终端设备、计算系统、环境和/或配置的例子包括但不限于：个人计算机系统、服务器计算机系统、瘦客户机、厚客户机、手持或膝上设备、基于微处理器的系统、机顶盒、可编程消费电子产品、网络个人电脑、小型计算机系统﹑大型计算机系统和包括上述任何系统的分布式云计算技术环境，等等。
终端设备、计算机系统、服务器等电子设备可以在由计算机系统执行的计算机系统可执行指令(诸如程序模块)的一般语境下描述。通常，程序模块可以包括例程、程序、目标程序、组件、逻辑、数据结构等等，它们执行特定的任务或者实现特定的抽象数据类型。计算机系统/服务器可以在分布式云计算环境中实施，分布式云计算环境中，任务是由通过通信网络链接的远程处理设备执行的。在分布式云计算环境中，程序模块可以位于包括存储设备的本地或远程计算系统存储介质上。
示例性方法
图1是本发明一示例性实施例提供的短路试验参数的提取方法的流程示意图。本实施例可应用在电子设备上，如图1所示，短路试验参数的提取方法100包括以下步骤：
步骤101，根据示波器读取的电流波形，确定采样序列。
步骤102，将采样序列转换为多个复指数函数叠加的形式，确定离散函数，并根据采样序列构造第一汉克尔矩阵和第二汉克尔矩阵。
其中离散函数y(n)的复指数函数线性叠加的公式如下：
Figure BDA0003746833940000061
其中，N为信号采样点数；P为模型阶数；ε(n)为噪声序列；
Figure BDA0003746833940000062
为信号的留数；
Figure BDA0003746833940000063
为信号的极点；式中Ai为幅值，i为初相位，i为衰减因子，fi为频率，T为采样周期，n＝1,2…,N。
可选地，根据采样序列构造第一汉克尔矩阵和第二汉克尔矩阵的操作，包括：
根据采样序列构造第一汉克尔矩阵；
将第一汉克尔矩阵中的每一个元素替换成该元素的下一个元素，确定第二汉克尔矩阵。
具体地，对采样序列构造Hankel矩阵，即第一汉克尔矩阵，其中。
Figure BDA0003746833940000064
式中：L为状态空间参数。将Y1中每个元素替换为下一个采样点得到另外一个Hankel矩阵，即第二汉克尔矩阵：
Figure BDA0003746833940000065
步骤103，根据离散函数、第一汉克尔矩阵以及第二汉克尔矩阵，确定采样序列的特征参数信息，并根据特征参数信息确定短路试验参数，其中短路试验参数用于进行短路试验。
可选地，根据离散函数、第一汉克尔矩阵以及第二汉克尔矩阵，确定采样序列的特征参数信息的操作，包括：
根据第一汉克尔矩阵以及第二汉克尔矩阵，确定采样序列的极值点；
根据离散函数以及极值点，确定采样序列的留数信息；
根据极值点以及留数信息，确定采样序列的特征参数信息，确定采样序列的特征参数信息。
可选地，根据第一汉克尔矩阵以及第二汉克尔矩阵，确定采样序列的极值点的计算公式如下：
zi＝Y1 +Y2
其中Zi为极值点，Y1 +为第一汉克尔矩阵的伪逆矩阵，Y2为第二汉克尔矩阵。
可选地，根据离散函数以及极值点，确定采样序列的留数信息的操作，包括：
根据恒定阈值估计方法，确定模态阶数；
根据模态阶数、极值点以及离散函数，确定留数信息。
具体地，求解信号极点信息。根据矩阵相关原理可知采样序列y(n)的极点zi是矩阵束Y1-λY2的广义特征值：
zi＝Y1 +Y2   (4)
式中：Y1 +为Y1的伪逆矩阵。
进一步地，求解信号留数信息。采用恒定阈值
估计来确定系统模态阶数P。在得到模态阶数和极点zi，结合式(1)通过最小二乘法得到求取留数hi：
Figure BDA0003746833940000071
进一步地，通过下式求解信号各模态分量的特征参数。
Figure BDA0003746833940000072
其中，A为幅值，θ为相位，α为衰减因子，f为频率，T为采样周期。
可选地，根据极值点以及留数信息，确定采样序列的特征参数信息的操作，包括：
根据留数信息，确定幅值以及相位；
根据极值点，确定衰减因子以及频率。
可选地，根据特征参数信息，确定短路试验的短路试验参数的操作，包括：
根据幅值确定短路试验参数的峰值以及有效值；
根据衰减因子确定短路试验参数的衰减系数；
根据频率、幅值以及相位，确定短路试验参数的直流分量。
具体地，表1所示的为输出的解析结果：
表1
Ai αi <![CDATA[f<sub>i</sub>]]> <![CDATA[θ<sub>i</sub>]]>
15.67488 -632.9065 0 -2.58E-14
54.17476 0.019108 49.98911 2.681298
25.16335 -147673.1 1066.849 2.38E-14
例如选择工频fi＝50Hz，其他的直流分量即可以求得。其中，例如峰值数值上等于求解频率下的幅值大小，有效值数值上等于峰值除以根号2，衰减因子即为衰减系数。
此外，为了评估拟合信号数据与原信号之间的拟合程度，本文采用信号的拟合精度(Accuracy of Fitting Index，AFI)来表征拟合信号的准确性：
Figure BDA0003746833940000081
式中：x1(n)为拟合信号；x(n)为原信号；rms(Root Mean Square，RMS)为求取均方根符号，单位为dB。一般认为AFI大于20dB时，拟合精度达到预设要求。
该方法在实测波形数据列低于3个半波和包含噪声的复杂工况下仍能准确提取峰值、有效值、直流分量以及衰减系数等短路试验关键参数，从而为实验室短路试验的顺利开展以及与短路故障分析奠定了基础。
此外，图2是不同方法对理想短路波形交流分量有效值解析对比图；图3是不同方法对含不同信噪比短路波形交流分量有效值解析对比图；图4是不同短路时间对矩阵束算法解析结果的影响图。参考图2至图4所示，本发明提出的矩阵束方法可以有效进行短路实验数据的提取。
从而，本发明是一种基于矩阵的空间系统辨识算法，在短路试验中，能快速提取大量短路波形的特征参数，方便后序量化分析处理；与标准推荐的三峰值法相比，本发明不受半波数量以及交流分量有效值是否恒定的影响，并且由于矩阵束算法本身具备去噪的能力，对包含噪声的短路波形解析结果准确性较高，能够适应于各种复杂试验环境下。
示例性装置
图5是本发明一示例性实施例提供的短路试验参数的提取装置的结构示意图。如图5所示，装置500包括：
第一确定模块510，用于根据示波器读取的电流波形，确定采样序列；
第二确定模块520，用于将采样序列转换为多个复指数函数叠加的形式，确定离散函数，并根据采样序列构造第一汉克尔矩阵和第二汉克尔矩阵；
第三确定模块530，用于根据离散函数、第一汉克尔矩阵以及第二汉克尔矩阵，确定采样序列的特征参数信息，其中特征参数信息用于确定短路试验参数，并且短路试验参数用于进行短路试验。
可选地，第二确定模块，包括：
构造子模块，用于根据采样序列构造第一汉克尔矩阵；
第一确定子模块，用于将第一汉克尔矩阵中的每一个元素替换成该元素的下一个元素，确定第二汉克尔矩阵。
可选地，第三确定模块，包括：
第二确定子模块，用于根据第一汉克尔矩阵以及第二汉克尔矩阵，确定采样序列的极值点；
第三确定子模块，用于根据离散函数以及极值点，确定采样序列的留数信息；
第四确定子模块，用于根据极值点以及留数信息，确定采样序列的特征参数信息，确定采样序列的特征参数信息。
可选地，根据第一汉克尔矩阵以及第二汉克尔矩阵，确定采样序列的极值点的计算公式如下：
zi＝Y1 +Y2
其中Zi为极值点，Y1 +为第一汉克尔矩阵的伪逆矩阵，Y2为第二汉克尔矩阵。
可选地，第三确定子模块，包括：
第一确定单元，用于根据恒定阈值估计方法，确定模态阶数；
第二确定单元，用于根据模态阶数、极值点以及离散函数，确定留数信息。
可选地，第四确定子模块，包括：
第三确定单元，用于根据留数信息，确定幅值以及相位；
第四确定单元，用于根据极值点，确定衰减因子以及频率。
可选地，第三确定模块，包括：
第五确定子模块，用于根据幅值确定短路试验参数的峰值以及有效值；
第六确定子模块，用于根据衰减因子确定短路试验参数的衰减系数；
第七确定子模块，用于根据频率、幅值以及相位，确定短路试验参数的直流分量。
示例性电子设备
图6是本发明一示例性实施例提供的电子设备的结构。该电子设备可以是第一设备和第二设备中的任一个或两者、或与它们独立的单机设备，该单机设备可以与第一设备和第二设备进行通信，以从它们接收所采集到的输入信号。图6图示了根据本发明实施例的电子设备的框图。如图6所示，电子设备600包括一个或多个处理器601和存储器602。
处理器601可以是中央处理单元(CPU)或者具有数据处理能力和/或指令执行能力的其他形式的处理单元，并且可以控制电子设备中的其他组件以执行期望的功能。
存储器602可以包括一个或多个计算机程序产品，所述计算机程序产品可以包括各种形式的计算机可读存储介质，例如易失性存储器和/或非易失性存储器。所述易失性存储器例如可以包括随机存取存储器(RAM)和/或高速缓冲存储器(cache)等。所述非易失性存储器例如可以包括只读存储器(ROM)、硬盘、闪存等。在所述计算机可读存储介质上可以存储一个或多个计算机程序指令，处理器601可以运行所述程序指令，以实现上文所述的本发明的各个实施例的软件程序的对历史变更记录进行信息挖掘的方法以及/或者其他期望的功能。在一个示例中，电子设备还可以包括：输入装置603和输出装置604，这些组件通过总线系统和/或其他形式的连接机构(未示出)互连。
此外，该输入装置603还可以包括例如键盘、鼠标等等。
该输出装置604可以向外部输出各种信息。该输出装置604可以包括例如显示器、扬声器、打印机、以及通信网络及其所连接的远程输出设备等等。
当然，为了简化，图6中仅示出了该电子设备中与本发明有关的组件中的一些，省略了诸如总线、输入/输出接口等等的组件。除此之外，根据具体应用情况，电子设备还可以包括任何其他适当的组件。
示例性计算机程序产品和计算机可读存储介质
除了上述方法和设备以外，本发明的实施例还可以是计算机程序产品，其包括计算机程序指令，所述计算机程序指令在被处理器运行时使得所述处理器执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本发明各种实施例的对历史变更记录进行信息挖掘的方法中的步骤。
所述计算机程序产品可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本发明实施例操作的程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言，诸如Java、C++等，还包括常规的过程式程序设计语言，诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。
此外，本发明的实施例还可以是计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令在被处理器运行时使得所述处理器执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本发明各种实施例的对历史变更记录进行信息挖掘的方法中的步骤。
所述计算机可读存储介质可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以包括但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、系统或器件，或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。
以上结合具体实施例描述了本发明的基本原理，但是，需要指出的是，在本发明中提及的优点、优势、效果等仅是示例而非限制，不能认为这些优点、优势、效果等是本发明的各个实施例必须具备的。另外，上述公开的具体细节仅是为了示例的作用和便于理解的作用，而非限制，上述细节并不限制本发明为必须采用上述具体的细节来实现。
本说明书中各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似的部分相互参见即可。对于系统实施例而言，由于其与方法实施例基本对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
本发明中涉及的器件、系统、设备、系统的方框图仅作为例示性的例子并且不意图要求或暗示必须按照方框图示出的方式进行连接、布置、配置。如本领域技术人员将认识到的，可以按任意方式连接、布置、配置这些器件、系统、设备、系统。诸如“包括”、“包含”、“具有”等等的词语是开放性词汇，指“包括但不限于”，且可与其互换使用。这里所使用的词汇“或”和“和”指词汇“和/或”，且可与其互换使用，除非上下文明确指示不是如此。这里所使用的词汇“诸如”指词组“诸如但不限于”，且可与其互换使用。
可能以许多方式来实现本发明的方法和系统。例如，可通过软件、硬件、固件或者软件、硬件、固件的任何组合来实现本发明的方法和系统。用于所述方法的步骤的上述顺序仅是为了进行说明，本发明的方法的步骤不限于以上具体描述的顺序，除非以其它方式特别说明。此外，在一些实施例中，还可将本发明实施为记录在记录介质中的程序，这些程序包括用于实现根据本发明的方法的机器可读指令。因而，本发明还覆盖存储用于执行根据本发明的方法的程序的记录介质。
还需要指出的是，在本发明的系统、设备和方法中，各部件或各步骤是可以分解和/或重新组合的。这些分解和/或重新组合应视为本发明的等效方案。提供所公开的方面的以上描述以使本领域的任何技术人员能够做出或者使用本发明。对这些方面的各种修改对于本领域技术人员而言是非常显而易见的，并且在此定义的一般原理可以应用于其他方面而不脱离本发明的范围。因此，本发明不意图被限制到在此示出的方面，而是按照与在此公开的原理和新颖的特征一致的最宽范围。
为了例示和描述的目的已经给出了以上描述。此外，此描述不意图将本发明的实施例限制到在此公开的形式。尽管以上已经讨论了多个示例方面和实施例，但是本领域技术人员将认识到其某些变型、修改、改变、添加和子组合。

Claims (17)

1.一种短路试验参数的提取方法，其特征在于，包括：
根据示波器读取的电流波形，确定采样序列；
将所述采样序列转换为多个复指数函数叠加的形式，确定离散函数，并根据所述采样序列构造第一汉克尔矩阵和第二汉克尔矩阵；
根据所述离散函数、所述第一汉克尔矩阵以及所述第二汉克尔矩阵，确定所述采样序列的特征参数信息，并根据所述特征参数信息确定短路试验参数，其中所述短路试验参数用于进行短路试验。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述采样序列构造第一汉克尔矩阵和第二汉克尔矩阵的操作，包括：
根据所述采样序列构造所述第一汉克尔矩阵；
将所述第一汉克尔矩阵中的每一个元素替换成该元素的下一个元素，确定所述第二汉克尔矩阵。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述离散函数、所述第一汉克尔矩阵以及所述第二汉克尔矩阵，确定所述采样序列的特征参数信息的操作，包括：
根据所述第一汉克尔矩阵以及所述第二汉克尔矩阵，确定所述采样序列的极值点；
根据所述离散函数以及所述极值点，确定所述采样序列的留数信息；
根据所述极值点以及所述留数信息，确定所述采样序列的特征参数信息，确定所述采样序列的所述特征参数信息。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述第一汉克尔矩阵以及所述第二汉克尔矩阵，确定所述采样序列的极值点的计算公式如下：
zi＝Y1 +Y2
其中Zi为极值点，Y1 +为所述第一汉克尔矩阵的伪逆矩阵，Y2为第二汉克尔矩阵。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述离散函数以及所述极值点，确定所述采样序列的留数信息的操作，包括：
根据恒定阈值估计方法，确定模态阶数；
根据所述模态阶数、极值点以及所述离散函数，确定所述留数信息。
6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述极值点以及所述留数信息，确定所述采样序列的特征参数信息的操作，包括：
根据所述留数信息，确定幅值以及相位；
根据所述极值点，确定衰减因子以及频率。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述特征参数信息确定短路试验参数的操作，包括：
根据所述幅值确定所述短路试验参数的峰值以及有效值；
根据所述衰减因子确定所述短路试验参数的衰减系数；
根据所述频率、所述幅值以及所述相位，确定所述短路试验参数的直流分量。
8.一种短路试验参数的提取装置，其特征在于，包括：
第一确定模块，用于根据示波器读取的电流波形，确定采样序列；
第二确定模块，用于将所述采样序列转换为多个复指数函数叠加的形式，确定离散函数，并根据所述采样序列构造第一汉克尔矩阵和第二汉克尔矩阵；
第三确定模块，用于根据所述离散函数、所述第一汉克尔矩阵以及所述第二汉克尔矩阵，确定所述采样序列的特征参数信息，并根据所述特征参数信息确定短路试验参数，其中所述短路试验参数用于进行短路试验。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，第二确定模块，包括：
构造子模块，用于根据所述采样序列构造所述第一汉克尔矩阵；
第一确定子模块，用于将所述第一汉克尔矩阵中的每一个元素替换成该元素的下一个元素，确定所述第二汉克尔矩阵。
10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，第三确定模块，包括：
第二确定子模块，用于根据所述第一汉克尔矩阵以及所述第二汉克尔矩阵，确定所述采样序列的极值点；
第三确定子模块，用于根据所述离散函数以及所述极值点，确定所述采样序列的留数信息；
第四确定子模块，用于根据所述极值点以及所述留数信息，确定所述采样序列的特征参数信息，确定所述采样序列的所述特征参数信息。
11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，根据所述第一汉克尔矩阵以及所述第二汉克尔矩阵，确定所述采样序列的极值点的计算公式如下：
zi＝Y1 +Y2
其中Zi为极值点，Y1 +为所述第一汉克尔矩阵的伪逆矩阵，Y2为第二汉克尔矩阵。
12.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，第三确定子模块，包括：
第一确定单元，用于根据恒定阈值估计方法，确定模态阶数；
第二确定单元，用于根据所述模态阶数、极值点以及所述离散函数，确定所述留数信息。
13.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，第四确定子模块，包括：
第三确定单元，用于根据所述留数信息，确定幅值以及相位；
第四确定单元，用于根据所述极值点，确定衰减因子以及频率。
14.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，还包括：
第四确定模块，用于根据所述特征参数信息，确定所述短路试验的所述短路试验参数。
15.根据权利要求14所述的装置，其特征在于，第四确定模块，包括：
第五确定子模块，用于根据所述幅值确定所述短路试验参数的峰值以及有效值；
第六确定子模块，用于根据所述衰减因子确定所述短路试验参数的衰减系数；
第七确定子模块，用于根据所述频率、所述幅值以及所述相位，确定所述短路试验参数的直流分量。
16.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序用于执行上述权利要求1-7任一所述的方法。
17.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
处理器；
用于存储所述处理器可执行指令的存储器；
所述处理器，用于从所述存储器中读取所述可执行指令，并执行所述指令以实现上述权利要求1-7任一所述的方法。
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