CN116068015A - 用于评估散热器的热性能的测试系统 - Google Patents
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Abstract
提供了用于评估散热器的热性能的测试系统。其中一种用于散热器的测试固定装置可以包括具有热电偶探针的探针组件,热电偶探针被配置为可移除地接触散热器底座的底部表面并测量散热器的表面温度。测试固定装置可以包括绝缘体外壳,绝缘体外壳被配置为容纳探针组件和加热器块并使探针组件与加热器块绝缘。加热器块可以被提供在绝缘体外壳内并可以被配置为经由散热器底座的底部表面向散热器提供热量。测试固定装置可以包括连接到绝缘体外壳并被配置为连接到散热器的安装块。
Description
技术领域
本公开涉及散热器技术领域,具体地,涉及一种用于散热器的测试固定装置和测试系统。
背景技术
散热器是一种被动式热交换器,它将电子设备或机械设备生成的热量传递给流体介质(例如,空气或液体冷却剂),热量在流体介质中从设备中消散出去,从而允许调节设备的温度。
发明内容
本文描述的一些实现涉及一种用于散热器的测试固定装置。测试固定装置可以包括具有热电偶探针的探针组件,热电偶探针被配置为可移除地接触散热器底座的底部表面并测量散热器的表面温度。测试固定装置可以包括绝缘体外壳,绝缘体外壳被配置为容纳探针组件和加热器块并使探针组件与加热器块绝缘。加热器块可以被提供在绝缘体外壳内并可以被配置为经由散热器底座的底部表面向散热器提供热量。测试固定装置可以包括连接到绝缘体外壳并被配置为连接到散热器的安装块。
本文描述的一些实现涉及一种用于散热器的测试系统。测试系统可以包括测试固定装置,该测试固定装置可以包括具有热电偶探针的探针组件,热电偶探针被配置为可移除地接触散热器底座的底部表面并测量散热器的表面温度。测试固定装置可以包括绝缘体外壳,绝缘体外壳被配置为容纳探针组件和加热器块并使探针组件与加热器块绝缘。加热器块可以在绝缘体外壳内被提供并且加热器块包括一个或多个加热器,一个或多个加热器可以被配置为经由散热器底座的底部表面向散热器提供热量。测试固定装置可以包括连接到绝缘体外壳并且被配置为连接到散热器的安装块。测试系统可以包括计算设备,该计算设备被配置为向一个或多个加热器供电,以使一个或多个加热器经由散热器底座的底部表面向散热器提供热量。计算设备可以被配置为从热电偶探针接收温度读数并基于温度读数来计算散热器的热电阻。
本文描述的一些实现涉及一种用于散热器的测试固定装置的探针组件。该探针组件可以包括被配置为测量散热器的表面温度的热电偶探针,以及具有用于接收热电偶探针的开口的基底部分。探针组件可以包括弹簧承载夹头组件,弹簧承载夹头组件经由基底部分的开口被连接到热电偶探针并被配置为使热电偶探针可移除地接触散热器底座的底部表面。探针组件可以包括热电偶电缆,热电偶电缆被连接到热电偶探针并被配置为传递散热器的表面温度。
附图说明
图1A-图1I是用于评估散热器的热性能的示例测试系统的图。
图2是图1的测试系统的示例热管理系统的图。
图3是图1的计算设备的示例组件的图。
图4是利用测试系统来评估散热器的热性能的示例过程的流程图。
具体实施方式
以下对示例实现的详细描述参考了附图。不同附图中的相同附图标记可标识相同或相似的元件。
散热器性能可以基于散热器底座表面和进气条件之间的表面/空气热电阻(Rsa)来确定。除了通过散热器的空气流速和热消散之外,还可以测量进气和底座表面的温度以验证散热器在热电阻方面的性能。典型地,散热器的热电阻通过与底座表面平行地加工凹槽或钻小孔并在底座表面的中心附近附接热电偶来测量。这允许在不干扰热界面的情况下测量底座表面。不幸的是,这种测量技术非常耗时、资源密集并且对散热器具有破坏性。再者,散热器制造工艺、散热器供应商等的变化可能需要进行频繁的散热器测试和验证以确保这些变化提供具有可靠性能的散热器。因此,用于测量散热器的热电阻的当前技术消耗了计算资源(例如,处理资源、存储器资源、通信资源等)、机器资源等,这些资源与在热电阻满足阈值热电阻之前一直破坏被测散热器、加工散热器、以及附接热电偶来测量热电阻等相关联。
本文描述的一些实现涉及一种用于评估散热器的热性能的测试系统。例如,测试系统可以包括测试固定装置,测试固定装置包括带有热电偶探针的探针组件,热电偶探针被配置为可移除地接触散热器底座的底部表面,并且测量散热器的表面温度。测试固定装置可以包括绝缘体外壳,绝缘体外壳被配置为容纳探针组件和加热器块,并且使探针组件与加热器块绝缘。加热器块可以在绝缘体外壳内提供并且可以包括一个或多个加热器,一个或多个加热器被配置为经由散热器底座的底部表面向散热器提供热量。测试固定装置可以包括安装块,安装块连接到绝缘体外壳并被配置为连接到散热器。测试系统可以包括计算设备,该计算设备被配置为向一个或多个加热器供电以使一个或多个加热器经由散热器底座的底部表面向散热器提供热量。计算设备可以被配置为从热电偶探针接收温度读数,并且基于该温度读数来计算散热器的热电阻。
以这种方式,可以提供一种测试系统来评估散热器的热性能。例如,测试系统可以包括带有加热器块和绝缘体外壳的测试固定装置,绝缘体外壳被配置为支撑加热器块并使加热器块热绝缘。加热器可以提供在加热器块中。测试固定装置可以包括具有热电偶探针的探针组件,热电偶探针被提供为通过加热器块的中心部分并且当散热器附接到测试固定装置时接合待测试的散热器的底座表面。散热器可以被安装到绝缘体外壳的绝缘体顶部。测试固定装置可以在测试之间轻松重置而不会损坏散热器、热电偶或测试固定装置的任何其他部分。因此,测试系统提供了一种非破坏性方式来测试散热器的热性能并节省了的计算资源、机器资源等,这些资源与在热电阻满足阈值热电阻之前一直破坏正在被测试的散热器、加工散热器以及附接热电偶以测量热电阻等相关联。
图1A-图1I是与用于评估散热器120的热性能的测试系统105相关联的示例100的图。参考图1A-图1I,测试系统105包括测试固定装置110和计算设备115。测试固定装置110、计算设备115和散热器120的更多细节在本文别处提供。
如图1A中所示,测试固定装置110可以包括绝缘体底部125、绝缘体外壳130、绝缘体顶部135和连接到被测试的散热器120的安装块140。散热器120可以包括无源热交换器,无源热交换器将由电子设备或机械设备生成的热量传递到流体介质(例如,空气或液体冷却剂),其中热量从设备消散,从而允许调节设备的温度。下面结合图1C来提供散热器120的更多细节。绝缘体底部125可以被连接到绝缘体外壳130。绝缘体外壳130可以被连接到绝缘体顶部135并且可以包括用于接收加热器功率电缆的开口,加热器功率电缆用于在测试固定装置110中提供的加热器。安装块140可以被连接到绝缘体顶部135并且可以保持散热器120以进行测试。绝缘体底部125、绝缘体外壳130、绝缘体顶部135和安装块140的更多细节在本文别处提供。
图1B是测试固定装置110和散热器120的分解透视图。如图所示,测试固定装置110可以包括绝缘体底部125、绝缘体外壳130、绝缘体顶部135、安装块140、加热器块145、加热器150和具有热电偶探针160的探针组件155。
绝缘体底部125可以被配置为接收并保持探针组件155的底部部分并且使探针组件155的底部部分与加热器块145热绝缘。绝缘体底部125可以由多种材料制成,诸如聚苯乙烯、聚氨酯、玻璃纤维-环氧树脂层压材料等。绝缘体底部125的大小和形状可以取决于被测试的散热器120的大小和形状。例如,绝缘体底部125的大小可以随着散热器120的大小增加而增加,而且绝缘体底部125的大小可以随着散热器120的大小减小而减小。如图1B中进一步所示,可以利用多个连接器(例如,螺钉、螺栓等)将绝缘体底部125连接到绝缘体外壳130。绝缘体底部125的更多细节在下面结合图1H来提供。
绝缘体外壳130可以被配置为接收并保持探针组件155的顶部部分和加热器块145的基底部分。绝缘体外壳也可以被配置为使探针组件155的顶部部分与加热器块145热绝缘。绝缘体外壳130可以由多种材料制成,诸如聚苯乙烯、聚氨酯、玻璃纤维-环氧树脂层压材料等。绝缘体外壳130的大小和形状可以取决于被测试的散热器120的大小和形状。例如,绝缘体外壳130的大小可以随着散热器120的大小增加而增加,而且绝缘体外壳130的大小可以随着散热器120的大小减小而减小。下面结合图1F来提供绝缘体外壳130的更多细节。
绝缘体顶部135可以被配置为接收并保持加热器块145的顶部部分并且被配置为连接到安装块140。绝缘体顶部135可以被配置为使安装块140与加热器块145热绝缘。绝缘体顶部135可以由多种材料制成,诸如聚苯乙烯、聚氨酯、玻璃纤维-环氧树脂层压材料等。绝缘体顶部135可以取决于被测试的散热器120的大小和形状来确定其大小和形状。例如,绝缘体顶部135的大小可以随着散热器120的大小增加而增加,而且绝缘体顶部135的大小可以随着散热器120的大小减小而减小。如图1B中进一步所示,可以利用多个连接器(例如,螺钉、螺栓等)将绝缘体顶部135和安装块140连接到绝缘体外壳130。绝缘体顶部135的更多细节在下面结合图1D来提供。
安装块140可以经由连接机构(例如,胶水、螺钉、螺栓等)连接到绝缘体顶部135。安装块140可以被配置为接收并保持散热器120。安装块140可以由多种材料制成,诸如铝、钢等。安装块140的大小和形状可以取决于被测试的散热器120的大小和形状。例如,安装块140的大小可以随着散热器120的大小增加而增加,而且安装块140的大小可以随着散热器120的大小减小而减小。如图1B中进一步所示,可以利用多个连接器(例如,螺钉、螺栓、弹簧等)将散热器120连接到安装块140。安装块140的更多细节在下面结合图1D来提供。
加热器块145可以被配置为经由散热器120的底座的底部表面向散热器120提供热量。加热器块145的基底部分可以被接收并保持在绝缘体外壳130的开口中,并且加热器块145的顶部部分可以通过开口被接收并保持,该开口被提供为穿过绝缘体顶部135和安装块140。加热器块145的顶部部分可以接触散热器120的底座的底部表面并且向散热器120的底座的底部表面提供热量。加热器块145可以由多种材料制成,诸如铜、钨、铝等。加热器块145的大小和形状可以取决于被测试的散热器120的大小和形状。例如,加热器块145的大小可以随着散热器120的大小增加而增加,而且加热器块145的大小可以随着散热器120的大小减小而减小。如图1B中进一步所示,加热器块145的基底部分可以包括用于接收并保持加热器150的开口。下文结合图1E来提供加热器块145的更多细节。
加热器150可以被配置为,当经由加热器功率电缆向加热器150供电时,向加热器块145提供热量。在一些实现中,加热器150可以被提供在加热器块145的开口中并且可以从开口内加热加热器块145。在一些实现中,每个加热器150可以包括筒式加热器,筒式加热器是可以被插入钻孔中的管状工业加热元件。在这种实现中,每个加热器150可以包括绕在陶瓷芯上的电阻线圈,陶瓷芯被介电材料围绕并且包裹在金属护套中。功率热可以通过电阻线圈被传递到金属护套。金属护套可以将热量传递到加热器块145内部。
探针组件155可以包括基底部分和弹簧承载夹头组件,基底部分具有用于接收热电偶探针160的开口,而弹簧承载夹头组件经由基底部分的开口连接到热电偶探针160并被配置为使热电偶探针160可移除地接触散热器120的底座的底部表面。探针组件155还可以包括热电偶电缆,该热电偶电缆被连接到热电偶探针160并被配置为传递散热器120的表面温度。探针组件155的底部部分可以在绝缘体底部125的开口中被接收并保持,并且探针组件155的基底部分(例如,以及热电偶探针160的一部分)可以被接收并保持在绝缘体外壳130的开口中。探针组件155可以由多种材料制成,诸如金属(例如,铝)、塑料等。探针组件155可以取决于被测试的散热器120的大小和形状来确定其大小和形状。例如,探针组件155的大小可以随着散热器120的大小增加而增加,而且探针组件155的大小可以随着散热器120的大小减小而减小。下面结合图1G来提供探针组件155的更多细节。
热电偶探针160可以被配置为可移除地接触散热器120的底座的底部表面,并且测量散热器120的表面温度。热电偶探针160可以包括杆,热电偶和热电偶电缆(例如,连接到热电偶)穿过该杆被提供。杆的一部分可以通过在加热器块145中提供的开口来提供,以使得热电偶可以可移除地接触散热器120的底座的底部表面。热电偶可以包括具有形成电结的不相似的电导体的电设备。由于塞贝克效应(Seebeck effect),热电偶可以生成温度相关电压,并且该电压可以提供温度测量。下面结合图1G来提供热电偶探针160的更多细节。
图1C是将由测试系统105测试的散热器120的侧视图。散热器120可以由多种材料形成,诸如铝合金、铜等。散热器120可以包括各种大小和形状,这取决于散热器120将对其进行冷却的设备或组件的大小和形状。如图1C中所示,散热器120可以包括支撑多个散热片170的基底部分165和支撑基底部分165的底座175。基底部分165可以包括在其上形成散热片170的板。每个散热片170可以包括平板,该平板被配置为接收在一端流动的热量并将该热量消散到周围的流体中。当热量流过散热片170时,阻碍流动的散热器120的热电阻和由于对流而损失的热量的组合、散热片170的温度、以及因此传递到流体的热,可以从基底部分165到散热片170的端部减少。底座175可以与基底部分165一起形成,并且可以包括散热器120接触要由散热器120进行冷却的设备或组件的部分。
图1D是测试固定装置110的绝缘体顶部135和安装块140的透视图。如图所示,可以穿过绝缘体顶部135和安装块140来提供开口。开口可以接收连接器(如图1B中所示),连接器将绝缘体顶部135和安装块140连接到绝缘体外壳130。另一个开口可以穿过绝缘体顶部135和安装块140来提供。另一个开口的大小和形状可以设置为接收并保持加热器块145的顶部部分。如图1D中进一步所示,连接器可以被连接到安装块140并从安装块140延伸出去。图1D中所示的连接器可以接收图1B中所示的连接器,以使得散热器120和安装块140可以被连接。
图1E是测试固定装置110的加热器块145的透视图。如图所示,加热器块145可以包括基底部分180和顶部部分185。加热器块145的基底部分180可以在绝缘体外壳130的开口中被接收并保持,并且加热器块145的顶部部分185可以通过穿过绝缘体顶部135和安装块140设置的开口被接收并保持(如图1D中所示)。加热器块145的顶部部分185可以接触散热器120的底座175的底部表面并向其提供热量。可以在加热器块145的基底部分180中提供开口。开口可以接收并保持加热器150,并且可以使加热器150能够对加热器块145进行加热。如图1E中进一步所示,另一个开口可以穿过底座部分180和加热器块145的顶部部分来提供。另一开口可以接收并保持热电偶探针160的一部分,并且使热电偶探针160的顶部能够可移除地接触散热器120的底座175的底部表面并测量散热器120的表面温度。
图1F是测试固定装置110的绝缘体外壳130的透视图。如图所示,绝缘体外壳130可以包括主体部分。主体部分可以包括开口以接收并保持加热器块145的基底部分180。主体部分还可以包括开口,通过该开口可以将加热器150提供到加热器块145的基底部分的开口。主体部分可以包括其他开口,这些开口可以接收将绝缘体顶部135和安装块140连接到绝缘体外壳130的连接器。在一些实现中,绝缘体外壳130可以使探针组件155与加热器块145绝缘。
图1G是测试固定装置110的探针组件155的透视图。如图所示,探针组件155可以包括热电偶探针160和基底部分190,基底部分190具有用于接收热电偶探针160的开口。探针组件155可以包括弹簧承载夹头组件195,弹簧承载夹头组件195经由基底部分190的开口连接到热电偶探针160并被配置为使热电偶探针160可移除地接触散热器120的底座175的底部表面。例如,弹簧承载夹头组件195可以迫使热电偶探针160的尖端稍微延伸到加热器块145的顶部部分185的顶部表面上方,以使得热电偶探针160可以接触散热器120的底座175的底部表面。
如图1G中进一步所示,探针组件155可以包括热电偶电缆,热电偶电缆被连接到热电偶探针160并被配置为将由热电偶探针160测量的散热器120的表面温度传递给计算设备115。在一些实现中,热电偶探针160可以包括热电偶和两孔陶瓷杆,热电偶通过陶瓷杆被提供并连接到热电偶电缆。热电偶可以测量散热器120的表面温度。由热电偶测量的散热器的表面温度可以提供对散热器120的热电阻的测量。热电偶探针160的一部分可以被配置为穿过加热器块145的开口(如图1E中所示)。
图1H是测试固定装置110的绝缘体底部125的透视图。如图所示,可以穿过绝缘体底部125来提供开口。开口可以接收连接器(如图1B中所示),连接器将绝缘体底部125连接到绝缘体外壳130。另一个开口可以在绝缘体底部125中提供。另一个开口的大小和形状可以被设计成接收并保持探针组件155的底部部分并使探针组件155的底部部分与加热器块145热绝缘。
图1I是沿着图1A中所示的线A-A截取的测试固定装置110的截面图。如图1I中所示,绝缘体底部125可以被连接到绝缘体外壳130并且可以接收并且保持探针组件155的底部部分。绝缘体外壳130可以接收并保持探针组件155的顶部部分和热电偶探针160,并且可以接收并保持加热器块145的基底部分180。热电偶探针160的一部分可以通过穿过加热器块145提供的开口来提供。如进一步所示,绝缘体顶部135和安装块140可以被连接到绝缘体外壳130,并且可以接收并保持加热器块145的顶部部分185。安装块140可以将散热器连接到测试固定装置110。如图1I的分解图中所示,加热器块145的顶部部分185可以接触散热器120的底座175的底部表面并对其进行加热。热电偶探针160的尖端可以稍微延伸到加热器块145的顶部部分185的顶部表面上方,以使得热电偶探针160可以接触散热器120的底座175的底部表面并测量散热器120的表面温度。
如图1I中进一步所示,计算设备115可以经由热电偶电缆与热电偶探针160通信,并且可以与测量散热器周围空气温度的空气温度传感器通信。为了测量散热器120的热电阻,散热器120可以经由连接器被连接到测试固定装置110的安装块140。当散热器120连接到安装块140时,探针组件155的热电偶探针160可以接触散热器120的底座175的底部表面。计算设备115可以向加热器块145的加热器150供电,以使加热器150经由散热器120的底座175的底部表面向散热器120提供热量。在向散热器120提供热量的同时,计算设备115可以从热电偶探针160接收温度读数,并且可以从与散热器120相关联的空气温度传感器接收空气温度读数。基于温度读数、空气温度读数和提供给加热器的功率,计算设备115可以计算散热器120的热电阻150。在一些实现中,如果Ts是来自热电偶探针160的温度读数,Ta是空气温度读数,而Q是提供给加热器150的功率,则如下计算散热器120的热电阻(Rsa):
以这种方式,可以提供测试系统105以用于评估散热器120的热性能。例如,测试系统105可以包括具有加热器块145和绝缘体外壳130的测试固定装置110,绝缘体外壳130被配置为支撑加热器块145并使加热器块145热绝缘。加热器150可以被提供在加热器块145中。测试固定装置110可以包括探针组件155,探针组件155具有热电偶探针160,热电偶探针160被提供为穿过加热器块145的中心部分并且接合散热器120的底座175表面,散热器120的底座175表面在附接到测试固定装置110时将被测试。散热器120可以被安装到绝缘体外壳130的绝缘体顶部135。测试固定装置110可以容易地在测试之间重置而不损坏散热器120、热电偶或测试固定装置110的任何其他部分。因此,测试系统105提供了一种非破坏性的方式来测试散热器120的热性能并节省了计算资源、机器资源等,这些资源与在热电阻满足阈值热电阻之前一直破坏被测试的散热器120、加工散热器120以及附接热电偶以测量热电阻等相关联。
此外,测试系统105提供了在散热器生命周期的所有阶段期间测试若干散热器样品的机会。这可以使得能够检测与散热器的大规模生产、制造过程中的改变或供应商改变等相关联的任何散热器问题。因此,测试系统105可以提供改进的散热器质量及其过程控制。
如上所指示,图1A-图1I作为示例被提供。其他示例可能与关于图1A-图1I所描述的不同。设备的数量和布置在图1A-图1I中作为示例提供。实际上,除了图1A-图1I中所示的那些之外,可能存在附加的设备、更少的设备、不同的设备或不同布置的设备。再者,图1A-图1I中所示的两个或更多设备可以在单个设备内实现,或者图1A-图1I中所示的单个设备中可以被实现为多个分布式设备。附加地或备选地,图1A-图1I中所示的一组设备(例如,一个或多个设备)可以执行被描述为由图1A-图1I中所示的另一组设备执行的一个或多个功能。
图2是图1的测试系统105的示例热管理系统200的图。如图2中所示,热管理系统200可以包括加热器150、比例-积分-微分(PID)控制器210、交流(AC)固态继电器220、接线盒230和可变AC变压器240。热管理系统200的设备可以经由有线连接、无线连接、或有线和无线连接的组合进行互连。在一些实现中,热管理系统200可以由计算设备115控制。
PID控制器210包括控制回路机构,该机构采用反馈进行连续调制控制。PID控制器210可以连续地计算作为期望设定点和测量的过程变量之间的差的误差值,并且可以基于比例、积分和微分项来应用校正。在一些实现中,PID控制器210可以被设置为最大温度限制以防止热失控并保持恒定的热通量。备选地,可以利用PID控制器210来维持固定温度。
AC固态继电器220包括电子开关设备,当在该设备的控制端子上施加外部AC电压时,电子开关设备接通或断开。AC固态继电器220可以包括对输入(例如,控制信号)做出响应的传感器、将功率切换到负载电路系统的固态电子开关设备、以及不用机械部分就使控制信号能够激活该开关设备的耦合机构。在一些实现中,可以经由PID控制器210通过AC固态继电器220来接通或断开对加热器150的功率输入。
接线盒230可以包括用若干螺钉沿两个或更多带布置的端子(例如,用于连接到电线)。接线盒230可以创建用于配电用汇流条,并且还可以包括主输入连接器。
可变AC变压器240包括从单个AC输入电压产生不同AC输出电压电平的设备。可变AC变压器240可以为用户提供在短时间内改变电压的有效、无障碍的方式。在一些实现中,加热器150的输出可以由可变AC变压器240通过控制提供给加热器150的最大电压来设置。
图2中所示的设备的数目和布置作为示例被提供。实际上,与图2中所示的那些相比,可能存在附加的设备、更少的设备、不同的设备或不同布置的设备。再者,可以在单个设备内实现图2中所示的两个或更多设备,并且图2中所示的单个设备可以被实现为多个分布式设备。附加地或备选地,热管理系统200的一组设备(例如,一个或多个设备)可以执行被描述为由热管理系统200的另一组设备执行的一个或多个功能。
图3是可以包括在设备300中的示例组件的图,设备300可以对应于计算设备115和/或热管理系统200。在一些实现中,计算设备115和/或热管理系统200可以包括一个或多个设备300和/或设备300的一个或多个组件。如图3中所示,设备300可以包括总线310、处理器320、存储器330、输入组件340、输出组件350和通信接口360。
总线310包括一个或多个组件,一个或多个组件能够在设备300的组件之间进行有线和/或无线通信。总线310可以诸如经由操作耦合、通信耦合、电子耦合和/或电耦合的方式将图3的两个或更多组件耦合在一起。处理器320包括中央处理单元、图形处理单元、微处理器、控制器、微控制器、数字信号处理器、现场可编程门阵列、专用集成电路和/或其他类型的处理组件。处理器320以硬件、固件或硬件和软件的组合来实现。在一些实现中,处理器320包括能够被编程以执行在本文别处描述的一个或多个操作或过程的一个或多个处理器。
存储器330包括易失性和/或非易失性存储器。例如,存储器330可以包括随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、硬盘驱动器和/或另一种类型的存储器(例如,闪存、磁存储器和/或光存储器)。存储器330可以包括内部存储器(例如,RAM、ROM或硬盘驱动器)和/或可移除存储器(例如,经由通用串行总线连接而可移除)。存储器330可以是非瞬态计算机可读介质。存储器330存储与设备300的操作有关的信息、指令和/或软件(例如,一个或多个软件应用)。在一些实现中,存储器330包括一个或多个存储器,一个或多个存储器诸如经由总线310被耦合到一个或多个处理器(例如,处理器320)。
输入组件340使设备300能够接收输入,诸如用户输入和/或感测到的输入。例如,输入组件340可以包括触摸屏、键盘、小键盘、鼠标、按钮、麦克风、开关、传感器、全球定位系统传感器、加速度计、陀螺仪和/或致动器。输出组件350使设备300能够诸如经由显示器、扬声器和/或发光二极管来提供输出。通信接口360使设备300能够经由有线连接和/或无线连接与其他设备进行通信。例如,通信接口360可以包括接收器、发射器、收发器、调制解调器、网络接口卡和/或天线。
设备300可以执行本文描述的一个或多个操作或过程。例如,非瞬态计算机可读介质(例如,存储器330)可以存储供处理器320执行的指令集(例如,一个或多个指令或代码)。处理器320可以执行该指令集,以执行本文描述的一个或多个操作或过程。在一些实现中,由一个或多个处理器320执行的指令集使一个或多个处理器320和/或设备300执行本文描述的一个或多个操作或过程。在一些实现中,硬连线电路系统可以代替指令或与指令结合使用,以执行本文描述的一个或多个操作或过程。附加地或备选地,处理器320可以被配置为执行本文描述的一个或多个操作或过程。因此,本文描述的实现不限于硬件电路系统和软件的任何具体组合。
图3中所示的组件的数目和布置作为示例被提供。与图3中所示的那些相比,设备300可以包括附加的组件、更少的组件、不同的组件或不同布置的组件。另外或备选地,设备300的组件集(例如,一个或多个组件)可以执行被描述为由设备300的组件另一集执行的一个或多个功能。
图4是利用测试系统来评估散热器的热性能的示例过程400的流程图。在一些实现中,图4的一个或多个过程框可以经由测试系统(例如,测试系统105)来执行。在一些实现中,图4的一个或多个过程框可以经由与测试系统分离或包括测试系统的另一个设备或设备群组来执行。附加地或备选地,图4的一个或多个过程框可以经由设备300的一个或多个组件来执行,诸如处理器320、存储器330、输入组件340、输出组件350和/或通信接口360。
如图4中所示,过程400可以包括将散热器连接到测试固定装置的安装块(框410)。例如,散热器120可以被连接到测试固定装置110的安装块140,如上所述。
如图4中进一步所示,过程400可以包括使散热器底座的底部表面与测试固定装置的探针组件的热电偶探针进行接触(框420)。例如,如上所述,测试固定装置110的探针组件155的热电偶探针160可以接触散热器120的底座175的底部表面。
如图4中进一步所示,过程400可以包括向测试固定装置的加热器块的加热器供电,以使加热器经由散热器底座的底部表面向散热器提供热量,其中热电偶探针被配置为穿过加热器块的开口(框430)。例如,计算设备115可以向测试固定装置110的加热器块145的加热器150供电,以使加热器150经由散热器120的底座175的底部表面向散热器120提供热量,如上所述。在一些实现中,热电偶探针160被配置为穿过加热器块145的开口。
如图4中进一步所示,过程400可以包括从热电偶探针接收温度读数(框440)。例如,计算设备115可以从热电偶探针160接收温度读数,如上所述。
如图4中进一步所示,过程400可以包括从与散热器相关联的空气温度传感器接收空气温度读数(框450)。例如,计算设备115可以从与散热器120相关联的空气温度传感器接收空气温度读数,如上所述。
如图4中进一步所示,过程400可以包括基于温度读数、空气温度读数和提供给加热器的功率来计算散热器的热电阻(框460)。例如,如上所述,计算设备115可以基于温度读数、空气温度读数和提供给加热器150的功率来计算散热器120的热电阻。
虽然图4示出了过程400的示例框,但是在一些实现中,与图4中描绘的那些相比,过程400可以包括的附加的框、更少的框、不同的框或不同布置的框。另外地或备选地,过程400的两个或更多框可以并行执行。
上述公开提供了说明和描述,但其并非旨在穷举实现或将实现限制为所公开的精确形式。可以按照上述公开进行修改,也可以从实现的实践中获取修改。
如本文所使用的,术语“组件”旨在广义地解释为硬件、固件或硬件和软件的组合。显然,本文描述的系统和/或方法可以以不同形式的硬件、固件和/或硬件和软件的组合来实现。用于实现这些系统和/或方法的实际的专用控制硬件或软件代码不限制实现。因此,该系统和/或方法的操作和行为在不参考具体软件代码的情况下在本文中被描述——应当理解,软件和硬件可以用于基于本文的描述来实现该系统和/或方法。
尽管在权利要求中叙述和/或在说明书中公开了特征的特定组合,但这些组合并不旨在限制各种实现的公开。事实上,这些特征中的许多特征可以以权利要求中未具体叙述和/或在说明书中未公开的方式进行组合。尽管下面列出的每个从属权利要求可以直接只依赖于一个权利要求,但是各种实现的公开包括每个从属权利要求与权利要求集中的每一个其他的权利要求的组合。
除非明确说明,否则本文使用的任何元件、动作或指令均不应被解释为关键或必要的。此外,如本文所使用的,冠词“一”和“一个”旨在包括一项或多项并可以与“一个或多个”互换使用。进一步,如本文所使用的,冠词“该”旨在包括结合冠词“该”引述的一项或多项,并且可以与“一个或多个”互换使用。再者,如本文所使用的,术语“集”旨在包括一项或多项(例如,有关项、无关项、有关和无关项的组合等),并且可以与“一个或多个”互换使用。如果仅旨在一项,则使用短语“仅一项”或类似语言。此外,如本文所使用的,术语“有”、“具有”、“带有”等旨在是开放式术语。进一步,除非另有明确说明,否则短语“基于”旨在意指“至少部分基于”。此外,如本文所使用的,术语“或”在系列中使用时旨在包含的,并且可以与“和/或”互换使用,除非另有明确说明(例如,如果与“两者之一”或“仅其中一个”组合使用)。
在前面的说明书中,已经参考附图描述了各种示例实施例。然而,很明显,可以对这些示例实施例进行各种修改和改变,并且可以实现另外的实施例,而不背离所附权利要求中阐述的本发明的更广泛范围。相应地,说明书和附图被认为是说明性而不是限制性。
Claims (20)
1.一种用于散热器的测试固定装置,所述测试固定装置包括:
具有热电偶探针的探针组件,所述热电偶探针被配置为:
可移除地接触所述散热器的底座的底部表面,以及
测量所述散热器的表面温度;
绝缘体外壳,所述绝缘体外壳被配置为:
容纳所述探针组件和加热器块,以及
将所述探针组件与所述加热器块绝缘;
在所述绝缘体外壳内所述加热器块被提供并且被配置为经由所述散热器的所述底座的所述底部表面向所述散热器提供热量;以及
安装块,所述安装块被连接到所述绝缘体外壳并且被配置为连接到所述散热器。
2.根据权利要求1所述的测试固定装置,其中所述散热器包括:
所述底座;
连接到所述底座的基底部分;以及
连接到所述基底部分的多个散热片。
3.根据权利要求1所述的测试固定装置,其中所述绝缘体外壳包括:
主体部分,所述主体部分具有容纳所述加热器块的第一开口;
底部部分,所述底部部分具有容纳所述探针组件的第二开口;以及
顶部部分,所述顶部部分具有第三开口,所述加热器块的顶部部分通过所述第三开口被提供。
4.根据权利要求1所述的测试固定装置,其中所述加热器块包括:
具有一个或多个开口的基底部分,所述一个或多个开口用于接收并且保留一个或多个加热器;以及
顶部部分,所述顶部部分被连接到所述基底部分并且被配置为经由所述散热器的所述底座的所述底部表面向所述散热器提供热量,
其中开口通过所述加热器块的所述基底部分和所述顶部部分被提供,并且所述探针组件的所述热电偶探针通过所述开口被提供。
5.根据权利要求1所述的测试固定装置,其中所述绝缘体外壳包括:
主体部分,所述主体部分具有用于容纳所述加热器块和所述探针组件的开口,并且所述主体部分具有一个或多个开口,所述一个或多个加热器通过所述一个或多个开口被提供给所述加热器块。
6.根据权利要求1所述的测试固定装置,其中所述探针组件包括:
连接到所述热电偶探针的基底部分;以及
弹簧承载夹头组件,所述弹簧承载夹头组件被连接到所述基底部分并且被配置为使所述热电偶探针可移除地接触所述散热器的所述底座的所述底部表面。
7.根据权利要求1所述的测试固定装置,还包括:
一个或多个加热器,所述一个或多个加热器被配置为向所述加热器块提供热量。
8.一种用于散热器的测试系统,所述测试系统包括:
测试固定装置,所述测试固定装置包括:
具有热电偶探针的探针组件,所述热电偶探针被配置为:
可移除地接触所述散热器的底座的底部表面,以及
测量所述散热器的表面温度;
绝缘体外壳,所述绝缘体外壳被配置为:
容纳所述探针组件和加热器块,以及
将所述探针组件与所述加热器块绝缘;
在所述绝缘体外壳内所述加热器块被提供并且所述加热器块包括一个或多个加热器,所述一个或多个加热器被配置为经由所述散热器的所述底座的所述底部表面向所述散热器提供热量;以及
安装块,所述安装块被连接到所述绝缘体外壳并且被配置为连接到所述散热器;以及
计算设备,所述计算设备被配置为:
向所述一个或多个加热器提供功率,以使所述一个或多个加热器经由所述散热器的所述底座的所述底部表面向所述散热器提供热量;
从所述热电偶探针接收温度读数;以及
基于所述温度读数来计算所述散热器的热电阻。
9.根据权利要求8所述的测试系统,其中所述测试系统还包括空气温度传感器,并且所述计算设备被配置为:
从所述空气温度传感器接收空气温度读数;以及
基于所述温度读数、所述空气温度读数和提供给所述一个或多个加热器的所述功率,计算所述散热器的所述热电阻。
10.根据权利要求8所述的测试系统,其中所述绝缘体外壳包括:
主体部分,所述主体部分具有容纳所述加热器块的第一开口;
底部部分,所述底部部分具有容纳所述探针组件的第二开口;以及
顶部部分,所述顶部部分具有第三开口,所述加热器块的顶部部分通过所述第三开口被提供。
11.根据权利要求8所述的测试系统,其中所述加热器块包括:
基底部分,所述基底部分具有一个或多个开口,所述一个或多个开口用于接收并且保留所述一个或多个加热器;以及
顶部部分,所述顶部部分被连接到所述基底部分并且被配置为经由所述散热器的所述底座的所述底部表面向所述散热器提供热量,
其中开口被提供为通过所述加热器块的所述基底部分和所述顶部部分,并且所述探针组件的所述热电偶探针通过所述开口被提供。
12.根据权利要求8所述的测试系统,其中所述绝缘体外壳包括:
主体部分,所述主体部分具有用于容纳所述加热器块和所述探针组件的开口,并且所述主体部分具有一个或多个开口,所述一个或多个加热器通过所述一个或多个开口被提供给所述加热器块。
13.根据权利要求8所述的测试系统,其中所述探针组件包括:
基底部分,所述基底部分被连接到所述热电偶探针;以及
弹簧承载夹头组件,所述弹簧承载夹头组件被连接到所述基底部分并且被配置为使所述热电偶探针可移除地接触所述散热器的所述底座的所述底部表面。
14.根据权利要求8所述的测试系统,其中所述散热器包括:
所述底座;
连接到所述底座的基底部分;以及
连接到所述基底部分的多个散热片。
15.一种用于散热器的测试固定装置的探针组件,所述探针组件包括:
热电偶探针,所述热电偶探针被配置为测量所述散热器的表面温度;
基底部分,所述基底部分具有用于接收所述热电偶探针的开口;
弹簧承载夹头组件,所述弹簧承载夹头组件经由所述基底部分的所述开口被连接到所述热电偶探针并且被配置为使所述热电偶探针可移除地接触所述散热器的底座的底部表面;以及
热电偶电缆,所述热电偶电缆被连接到所述热电偶探针并且被配置为传递所述散热器的所述表面温度。
16.根据权利要求15所述的探针组件,其中所述热电偶探针包括:
热电偶;以及
两孔陶瓷杆,所述热电偶通过所述两孔陶瓷杆被提供。
17.根据权利要求15所述的探针组件,其中所述热电偶探针被配置为穿过加热器块的开口,所述加热器块加热所述散热器的所述底座的所述底部表面。
18.根据权利要求15所述的探针组件,其中所述测试固定装置包括绝缘体外壳,所述绝缘体外壳被配置为:
容纳所述探针组件和加热器块,所述加热器块加热所述散热器的所述底座的所述底部表面,以及
将所述探针组件与所述加热器块绝缘。
19.根据权利要求15所述的探针组件,其中所述热电偶电缆将由所述热电偶探针测量的所述散热器的所述表面温度传递到计算设备。
20.根据权利要求15所述的探针组件,其中由所述热电偶探针测量的所述散热器的所述表面温度提供对所述散热器的热电阻的测量。
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