CN116030741A - 显示面板和包括显示面板的显示装置 - Google Patents
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Abstract
提供了显示面板和显示装置。该显示面板包括连接到扫描线和数据线的像素以及通过数据线向像素提供点亮测试电压的点亮测试电路。点亮测试电路包括:第一测试晶体管,包括接收点亮测试电压的第一电极、第二电极和接收第一测试控制信号的栅电极;以及第二测试晶体管,包括连接到第一测试晶体管的第二电极的第一电极、连接到数据线的第二电极和接收第二测试控制信号的栅电极。
Description
技术领域
实施例涉及显示装置。
背景技术
显示装置可以包括显示图像的显示面板和向显示面板提供信号的驱动器。显示面板可以包括发射形成图像的光的多个像素。
在制造显示装置的工艺中,可以在显示面板和驱动器彼此连接之前测试显示面板的像素的点亮状态。在显示面板和驱动器彼此连接之前的点亮测试时段中,用于测试像素的点亮状态的点亮测试电压可以施加到像素。在显示面板和驱动器彼此连接之后的图像显示时段期间,点亮测试电压可以不施加到像素。
发明内容
实施例提供了用于防止点亮测试电压在图像显示时段中施加到像素的显示面板和包括显示面板的显示装置。
根据本发明的显示面板的实施例包括连接到扫描线和数据线的像素以及通过数据线向像素提供点亮测试电压的点亮测试电路。在这样的实施例中,点亮测试电路包括:第一测试晶体管,包括接收点亮测试电压的第一电极、第二电极和接收第一测试控制信号的栅电极;以及第二测试晶体管,包括连接到第一测试晶体管的第二电极的第一电极、连接到数据线的第二电极和接收第二测试控制信号的栅电极。
在实施例中,第一测试晶体管和第二测试晶体管中的每个可以为N型晶体管。
在实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在数据电压通过数据线提供到像素的图像显示时段中具有彼此交替的低电压和高电压。在这样的实施例中,从第一测试控制信号和第二测试控制信号中选择的至少一个可以在图像显示时段中的所有时间点中的每个处具有低电压。
在实施例中,图像显示时段可以包括数据电压写入到数据线的数据写入时段和数据电压未写入到数据线的数据边沿时段。在这样的实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在数据边沿时段中从低电压切换到高电压或从高电压切换到低电压。
在实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在图像显示时段中每一个帧时段从低电压切换到高电压或从高电压切换到低电压。
在实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在图像显示时段中每多个帧时段从低电压切换到高电压或从高电压切换到低电压。
在实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在点亮测试电压通过数据线提供到像素的点亮测试时段中具有恒定的高电压。
在实施例中,第一测试晶体管和第二测试晶体管中的每个可以为P型晶体管。
在实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在数据电压通过数据线提供到像素的图像显示时段中具有彼此交替的低电压和高电压。在这样的实施例中,从第一测试控制信号和第二测试控制信号中选择的至少一个可以在图像显示时段中的所有时间点中的每个处具有高电压。
在实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在点亮测试电压通过数据线提供到像素的点亮测试时段中具有恒定的低电压。
在实施例中,第一测试晶体管和第二测试晶体管中的每个可以为氧化物半导体晶体管和非晶硅晶体管中的一种。
根据本发明的显示装置的实施例包括:连接到扫描线和数据线的像素;通过扫描线向像素提供扫描信号的扫描驱动器;通过数据线向像素提供数据电压的数据驱动器;以及通过数据线向像素提供点亮测试电压的点亮测试电路。在这样的实施例中,点亮测试电路包括:第一测试晶体管,包括接收点亮测试电压的第一电极、第二电极和接收第一测试控制信号的栅电极;以及第二测试晶体管,包括连接到第一测试晶体管的第二电极的第一电极、连接到数据线的第二电极和接收第二测试控制信号的栅电极。
在实施例中,第一测试晶体管和第二测试晶体管中的每个可以为N型晶体管。
在实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在数据电压通过数据线提供到像素的图像显示时段中具有彼此交替的低电压和高电压。在这样的实施例中,从第一测试控制信号和第二测试控制信号中选择的至少一个可以在图像显示时段中的所有时间点中的每个处具有低电压。
在实施例中,图像显示时段可以包括数据电压写入到数据线的数据写入时段和数据电压未写入到数据线的数据边沿时段。在这样的实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在数据边沿时段中从低电压切换到高电压或从高电压切换到低电压。
在实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在图像显示时段中每一个帧时段从低电压切换到高电压或从高电压切换到低电压。
在实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在图像显示时段中每多个帧时段从低电压切换到高电压或从高电压切换到低电压。
在实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在点亮测试电压通过数据线提供到像素的点亮测试时段中具有恒定的高电压。
在实施例中,第一测试晶体管和第二测试晶体管中的每个可以为P型晶体管。
在实施例中,第一测试控制信号和第二测试控制信号中的每个可以在数据电压通过数据线提供到像素的图像显示时段中具有彼此交替的低电压和高电压。在这样的实施例中,从第一测试控制信号和第二测试控制信号中选择的至少一个可以在图像显示时段中的所有时间点中的每个处具有高电压。
在根据本发明的显示面板和显示装置的实施例中,点亮测试电路可以包括彼此串联连接的第一测试晶体管和第二测试晶体管,并且彼此交替的低电压和高电压可以施加到第一测试晶体管和第二测试晶体管中的每个的栅电极,以使得第一测试晶体管和第二测试晶体管的阈值电压可以不负向偏移或正向偏移。相应地,在这样的实施例中,点亮测试电压可以在图像显示时段中不施加到像素。
附图说明
通过下面结合附图进行的详细描述,将更加清楚地理解图示性的、非限制性的实施例。
图1为图示根据实施例的显示装置的框图。
图2为图示根据实施例的像素的电路图。
图3为图示根据可替代的实施例的像素的电路图。
图4为图示根据实施例的点亮测试电路的电路图。
图5为用于描述根据实施例的点亮测试时段的时序图。
图6为用于描述根据实施例的图像显示时段的时序图。
图7为用于描述根据可替代的实施例的图像显示时段的时序图。
图8为图示根据实施例的点亮测试电路的电路图。
图9为用于描述根据实施例的点亮测试时段的时序图。
图10为用于描述根据实施例的图像显示时段的时序图。
图11为用于描述根据可替代的实施例的图像显示时段的时序图。
图12为图示根据实施例的包括显示装置的电子设备的框图。
具体实施方式
现在将在下文中参考示出各种实施例的附图更加全面地描述本发明。然而,本发明可以以许多不同形式来实施,并且不应被解释为限于本文中阐述的实施例。相反,提供这些实施例以使得本公开将为透彻且完整的,并且将向本领域技术人员全面传达本发明的范围。贯穿全文,类似的附图标记是指类似的元件。
应理解的是,当一元件被称为在另一元件“上”时,该元件能够直接在该另一元件“上”、或者它们之间可以存在居间元件。相反,当一元件被称为“直接”在另一元件“上”时,不存在居间元件。
将理解的是,尽管术语“第一”、“第二”、“第三”等可以在本文中用于描述各种元件、组件、区、层和/或部分,但这些元件、组件、区、层和/或部分不应受这些术语限制。这些术语仅用于将一个元件、组件、区、层或部分与另一元件、组件、区、层或部分相区分。因此,在不背离本文中教导的情况下,以下讨论的“第一元件”、“第一组件”、“第一区”、“第一层”或“第一部分”可以被称为第二元件、第二组件、第二区、第二层或第二部分。
本文中使用的术语仅为了描述特定实施例的目的,并且不旨在进行限制。如本文中使用的,“一(a)”、“一(an)”、“该”和“至少一个”不表示数量的限制,并且旨在包括单数和复数两者,除非上下文另有清楚地指示。例如,除非上下文另有清楚地指示,否则“元件”具有与“至少一个元件”相同的含义。“至少一个”不被解释为限定“一(a)”或“一(an)”。“或”意味着“和/或”。如本文中使用的,术语“和/或”包括相关联列出的项目中的一个或多个的任何和所有组合。将进一步理解的是,术语“包括(comprises)”和/或“包括(comprising)”或“包括(includes)”和/或“包括(including)”,当在本说明书中使用时,说明所陈述的特征、区、整数、步骤、操作、元件和/或组件的存在,但不排除一个或多个其它特征、区、整数、步骤、操作、元件、组件和/或其组的存在或附加。
此外,在本文中可以使用诸如“下”或“底”以及“上”或“顶”的相对术语来描述如图中图示的一个元件与另一元件的关系。将理解的是,除了图中所示的方位之外,相对术语还旨在涵盖装置的不同方位。例如,如果图中的一个图中的装置被翻转,则描述为在其它元件“下”侧上的元件将被定向为在另一元件的“上”侧上。因此,术语“下”能够根据图的特定方位而涵盖“下”和“上”的方位两者。相似地,如果图中的一个图中的装置被翻转,则描述为在其它元件“下方”或“下面”的元件将被定向为在另一元件“上方”。因此,术语“下方”和“下面”能够涵盖上方和下方的方位两者。
除非另有限定,否则本文中使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本公开所属的技术领域的普通技术人员通常理解的含义相同的含义。将进一步理解的是,术语(诸如在常用词典中限定的那些)应被解释为具有与它们在相关领域和本公开的上下文中的含义一致的含义,并且将不以理想化的或过于正式的意义来解释,除非本文中明确如此限定。
本文中描述的实施例不应被解释为限于本文中图示的区的特定形状,而是将包括由例如制造导致的形状的偏差。例如,图示或描述为平坦的区典型地可以具有粗糙的和/或非线性的特征。此外,图示的尖角可以被倒圆。因此,图中图示的区本质上为示意性的,并且它们的形状不旨在图示区的精确形状并且不旨在限制本权利要求书的范围。
在下文中,将参考附图详细描述根据本发明的显示装置和显示面板的实施例。
图1为图示根据实施例的显示装置100的框图。
参考图1,显示装置100的实施例可以包括显示面板110、扫描驱动器120、数据驱动器130、点亮测试电路140和时序控制器150。
在实施例中,显示面板110可以包括布置在显示区域DA中的多个像素PX、多个扫描线SL和多个数据线DL。像素PX中的每个可以连接到扫描线SL和数据线DL。扫描线SL可以传输扫描信号SS。数据线DL可以传输数据电压DATA或点亮测试电压DC。像素PX中的每个可以基于扫描信号SS和数据电压DATA发射光。在实施例中,像素PX可以包括发射红色光的红色像素、发射绿色光的绿色像素和发射蓝色光的蓝色像素。
扫描驱动器120可以通过扫描线SL将扫描信号SS提供到像素PX。数据驱动器130可以在图像显示时段期间通过数据线DL向像素PX提供数据电压DATA。图像显示时段可以为在显示面板110连接到扫描驱动器120和数据驱动器130之后显示面板110基于图像数据显示图像的时段。
点亮测试电路140可以在点亮测试时段期间通过数据线DL向像素PX提供点亮测试电压DC。点亮测试时段可以为在显示面板110连接到扫描驱动器120和数据驱动器130之前基于点亮测试电压DC测试显示面板110的点亮的时段。
点亮测试电路140可以布置在显示面板110的外围区域PA中。外围区域PA可以围绕显示区域DA的至少一部分。外围区域PA可以为不显示图像的非显示区域。
时序控制器150可以控制扫描驱动器120的操作和数据驱动器130的操作。时序控制器150可以向扫描驱动器120提供扫描控制信号,并且可以向数据驱动器130提供数据控制信号和图像数据。
图2为图示根据实施例的像素PX的电路图。
参考图2,在实施例中,像素PX可以包括第一晶体管M1、第二晶体管M2、第三晶体管M3、存储电容器CST和发光元件LE。像素PX可以接收扫描信号SS、数据电压DATA、初始化电压VINIT、第一电力电压ELVDD和第二电力电压ELVSS。扫描信号SS可以包括第一扫描信号SS1和第二扫描信号SS2。
第一晶体管M1可以连接在提供第一电力电压ELVDD的第一电力线与第一节点N1之间,并且可以响应于第二节点N2的电压而导通。第一晶体管M1的第一电极可以接收第一电力电压ELVDD,第一晶体管M1的第二电极可以连接到第一节点N1,并且第一晶体管M1的栅电极可以连接到第二节点N2。第一晶体管M1可以基于存储在存储电容器CST中的电压向发光元件LE提供驱动电流。
第二晶体管M2可以连接在提供数据电压DATA的数据线DL与第二节点N2之间,并且可以响应于第一扫描信号SS1而导通。第二晶体管M2的第一电极可以接收数据电压DATA,第二晶体管M2的第二电极可以连接到第二节点N2,并且第二晶体管M2的栅电极可以接收第一扫描信号SS1。第二晶体管M2可以基于第一扫描信号SS1向第二节点N2提供数据电压DATA。
第三晶体管M3可以连接在提供初始化电压VINIT的初始化线与第一节点N1之间,并且可以响应于第二扫描信号SS2而导通。第三晶体管M3的第一电极可以接收初始化电压VINIT,第三晶体管M3的第二电极可以连接到第一节点N1,并且第三晶体管M3的栅电极可以接收第二扫描信号SS2。第三晶体管M3可以基于第二扫描信号SS2向第一节点N1提供初始化电压VINIT。
在实施例中,第一晶体管M1、第二晶体管M2和第三晶体管M3中的每个可以为N型晶体管。在可替代的实施例中,第一晶体管M1、第二晶体管M2和第三晶体管M3中的至少一个可以为P型晶体管。
在实施例中,第一晶体管M1、第二晶体管M2和第三晶体管M3中的每个可以为氧化物半导体晶体管、非晶硅晶体管和多晶硅晶体管中的一种。
存储电容器CST可以连接在第一节点N1与第二节点N2之间。存储电容器CST的第一电极可以连接到第一节点N1,并且存储电容器CST的第二电极可以连接到第二节点N2。存储电容器CST可以存储对应于第一节点N1与第二节点N2之间的电压差的电压。
发光元件LE可以连接在提供第二电力电压ELVSS的第二电力线与第一节点N1之间。发光元件LE的阳极电极可以连接到第一节点N1,并且发光元件LE的阴极电极可以接收第二电力电压ELVSS。发光元件LE可以基于驱动电流发射光。
在实施例中,发光元件LE可以为有机发光二极管(“OLED”)。在可替代的实施例中,发光元件LE可以为无机发光二极管或量子点发光二极管。
图3为图示根据可替代的实施例的像素PX的电路图。
参考图3,在实施例中,像素PX可以包括第一晶体管M1、第二晶体管M2、第三晶体管M3、第四晶体管M4、第五晶体管M5、存储电容器CST、保持电容器CHD和发光元件LE。像素PX可以接收扫描信号SS、数据电压DATA、基准电压VREF、初始化电压VINIT、第一电力电压ELVDD和第二电力电压ELVSS。扫描信号SS可以包括写入栅信号GW、基准栅信号GR、初始化栅信号GI和发射控制信号EM。
第一晶体管M1可以连接在提供第一电力电压ELVDD的第一电力线与第一节点N1之间,并且可以响应于第二节点N2的电压而导通。第一晶体管M1的第一电极可以通过第五晶体管M5连接到第一电力线,并且第一晶体管M1的第二电极可以连接到第一节点N1,第一晶体管M1的栅电极可以连接到第二节点N2,并且第一晶体管M1的背栅电极可以连接到第一节点N1。相应地,第一晶体管M1可以为包括背栅电极的背栅晶体管。第一晶体管M1可以基于存储在存储电容器CST中的电压向发光元件LE提供驱动电流。
第二晶体管M2可以连接在提供数据电压DATA的数据线DL与第二节点N2之间,并且可以响应于写入栅信号GW而导通。第二晶体管M2的第一电极可以接收数据电压DATA,第二晶体管M2的第二电极可以连接到第二节点N2,并且第二晶体管M2的栅电极可以接收写入栅信号GW。第二晶体管M2可以基于写入栅信号GW向第二节点N2提供数据电压DATA。
第三晶体管M3可以连接在提供基准电压VREF的基准线与第二节点N2之间,并且可以响应于基准栅信号GR而导通。第三晶体管M3的第一电极可以接收基准电压VREF,第三晶体管M3的第二电极可以连接到第二节点N2,并且第三晶体管M3的栅电极可以接收基准栅信号GR。第三晶体管M3可以基于基准栅信号GR向第二节点N2提供基准电压VREF。
第四晶体管M4可以连接在提供初始化电压VINIT的初始化线与第一节点N1之间,并且可以响应于初始化栅信号GI而导通。第四晶体管M4的第一电极可以接收初始化电压VINIT,第四晶体管M4的第二电极可以连接到第一节点N1,并且第四晶体管M4的栅电极可以接收初始化栅信号GI。第四晶体管M4可以基于初始化栅信号GI向第一节点N1提供初始化电压VINIT。
第五晶体管M5可以连接在第一电力线与第一晶体管M1之间,并且可以响应于发射控制信号EM而关断。第五晶体管M5的第一电极可以接收第一电力电压ELVDD,第五晶体管M5的第二电极可以连接到第一晶体管M1的第一电极,并且第五晶体管M5的栅电极可以接收发射控制信号EM。
在实施例中,第一晶体管M1、第二晶体管M2、第三晶体管M3、第四晶体管M4和第五晶体管M5中的每个可以为N型晶体管。在可替代的实施例中,从第一晶体管M1、第二晶体管M2、第三晶体管M3、第四晶体管M4和第五晶体管M5中选择的至少一个可以为P型晶体管。
在实施例中,第一晶体管M1、第二晶体管M2、第三晶体管M3、第四晶体管M4和第五晶体管M5中的每个可以为氧化物半导体晶体管、非晶硅晶体管和多晶硅晶体管中的一种。
存储电容器CST可以连接在第一节点N1与第二节点N2之间。存储电容器CST的第一电极可以连接到第一节点N1,并且存储电容器CST的第二电极可以连接到第二节点N2。存储电容器CST可以存储对应于第一节点N1与第二节点N2之间的电压差的电压。
保持电容器CHD可以连接在第一节点N1与第一电力线之间。保持电容器CHD的第一电极可以连接到第一节点N1,并且保持电容器CHD的第二电极可以连接到第一电力线。
发光元件LE可以连接在提供第二电力电压ELVSS的第二电力线与第一节点N1之间。发光元件LE的阳极电极可以连接到第一节点N1,并且发光元件LE的阴极电极可以接收第二电力电压ELVSS。发光元件LE可以基于驱动电流发射光。
在实施例中,发光元件LE可以为OLED。在可替代的实施例中,发光元件LE可以为无机发光二极管或量子点发光二极管。
图4为图示根据实施例的点亮测试电路140的电路图。
参考图4,在实施例中,点亮测试电路140可以包括第一点亮测试阵列LTA1和第二点亮测试阵列LTA2。第一点亮测试阵列LTA1可以包括第一测试晶体管T1。第二点亮测试阵列LTA2可以包括第二测试晶体管T2。在实施例中,如图4中所示,第一测试晶体管T1和第二测试晶体管T2中的每个可以提供为多个。第一测试晶体管T1和第二测试晶体管T2中的每个可以包括第一电极、第二电极和栅电极。
第一测试晶体管T1的第一电极可以接收点亮测试电压DC_R、DC_G和DC_B,并且第一测试晶体管T1的第二电极可以连接到第二测试晶体管T2的第一电极。第一测试晶体管T1的栅电极可以接收第一测试控制信号TEST_GATE_1。点亮测试电压DC_R、DC_G和DC_B可以包括用于红色像素的点亮测试的第一点亮测试电压DC_R、用于绿色像素的点亮测试的第二点亮测试电压DC_G以及用于蓝色像素的点亮测试的第三点亮测试电压DC_B。
第二测试晶体管T2的第一电极可以连接到第一测试晶体管T1的第二电极,并且第二测试晶体管T2的第二电极可以连接到数据线DL。第二测试晶体管T2的栅电极可以接收第二测试控制信号TEST_GATE_2。在实施例中,如图4中所示,由于第二测试晶体管T2的第一电极连接到第一测试晶体管T1的第二电极,因此第一测试晶体管T1和第二测试晶体管T2可以彼此串联连接。
第一测试晶体管T1和第二测试晶体管T2中的每个可以为N型晶体管。在实施例中,第一测试晶体管T1和第二测试晶体管T2中的每个可以为氧化物半导体晶体管和非晶硅晶体管中的一种。
图5为用于描述根据实施例的点亮测试时段LTP的时序图。
参考图4和图5,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个可以在点亮测试时段LTP期间具有恒定的高电压。高电压可以为N型晶体管的栅极导通电压。
由于第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个在点亮测试时段LTP期间具有恒定的高电压,因此第一测试晶体管T1和第二测试晶体管T2可以导通,并且点亮测试电压DC_R、DC_G和DC_B可以施加到数据线DL。相应地,点亮测试电压DC_R、DC_G和DC_B可以在点亮测试时段LTP期间通过数据线DL提供到像素PX,并且显示面板110的点亮测试可以被执行。
图6为用于描述根据实施例的图像显示时段IDP的时序图。
参考图4和图6,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个可以在图像显示时段IDP期间具有彼此交替的低电压和高电压。低电压可以为N型晶体管的栅极关断电压。
在实施例中,从第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中选择的至少一个可以在图像显示时段IDP中的所有时间点中的每个处具有低电压。在这样的实施例中,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2可以在图像显示时段IDP中的所有时间点处不同时具有高电压。在这样的实施例中,第一测试控制信号TEST_GATE_1的高电压和第二测试控制信号TEST_GATE_2的高电压可以在图像显示时段IDP期间不重叠。
在从第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中选择的至少一个在图像显示时段IDP中的所有时间点中的每个处具有低电压这样的实施例中,从第一测试晶体管T1和第二测试晶体管T2中选择的至少一个可以在图像显示时段IDP中的所有时间点中的每个处关断,并且点亮测试电压DC_R、DC_G和DC_B可以不施加到数据线DL。相应地,数据电压DATA_R、DATA_G和DATA_B可以在图像显示时段IDP中通过数据线DL提供到像素PX(例如,参见图1),并且显示面板110(例如,参见图1)可以显示图像。
在传统显示装置中,点亮测试电路可以包括包含N型测试晶体管的单个点亮测试阵列,并且在图像显示时段期间施加到测试晶体管的栅电极的测试控制信号可以具有恒定的低电压。当恒定的低电压在长时间段内施加到测试晶体管的栅电极时,测试晶体管的阈值电压可能负向偏移。当测试晶体管的阈值电压负向偏移时,即使当低电压在图像显示时段中施加到测试晶体管的栅电极时,测试晶体管也可以导通,并且相应地,点亮测试电压可以在图像显示时段中施加到数据线。
在本公开的实施例中,点亮测试电路140可以包括彼此串联连接的测试晶体管T1和T2(即,第一测试晶体管T1和第二测试晶体管T2,下文类似于此),并且在图像显示时段IDP中施加到测试晶体管T1和T2的栅电极的测试控制信号TEST_GATE_1和TEST_GATE_2(即,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2,下文类似于此)可以具有彼此交替的低电压和高电压,以使得测试晶体管T1和T2的阈值电压可以在图像显示时段IDP期间不负向偏移。在这样的实施例中,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2可以在图像显示时段IDP中的所有时间点处不同时具有高电压,以使得点亮测试电压DC_R、DC_G和DC_B可以在图像显示时段IDP中不施加到数据线DL。
图像显示时段IDP可以包括帧时段FP,并且帧时段FP中的每个可以包括数据写入时段DWP和数据边沿时段DPP。各个帧时段FP可以为分别显示图像的帧的时段。数据写入时段DWP可以为数据电压DATA_R、DATA_G和DATA_B写入到数据线DL的时段,并且数据边沿时段DPP可以为数据电压DATA_R、DATA_G和DATA_B未写入到数据线DL的时段。数据边沿时段DPP可以位于数据写入时段DWP之间。
在实施例中,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个可以在数据边沿时段DPP中从低电压切换到高电压或从高电压切换到低电压。在这样的实施例中,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个的电压电平可以在数据边沿时段DPP中改变。相应地,可以基本上减少或有效防止测试控制信号TEST_GATE_1和TEST_GATE_2的相对于在数据写入时段DWP中写入的数据电压DATA_R、DATA_G和DATA_B的干扰。
在实施例中,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个可以每一个帧时段FP从低电压切换到高电压或从高电压切换到低电压。在实施例中,例如,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个的周期可以为两个帧时段FP。由于测试控制信号TEST_GATE_1和TEST_GATE_2每一个帧时段FP从低电压切换到高电压或从高电压切换到低电压,因此测试控制信号TEST_GATE_1和TEST_GATE_2可以具有相对高的频率,并且可以基本上减小测试晶体管T1和T2的阈值电压负向偏移或正向偏移的程度。
图7为用于描述根据可替代的实施例的图像显示时段IDP的时序图。
参考图4和图7,在可替代的实施例中,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个可以每多个帧时段FP从低电压切换到高电压或从高电压切换到低电压。在实施例中,例如,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个的周期可以为四个帧时段FP或更多个帧时段FP。在这样的实施例中,由于测试控制信号TEST_GATE_1和TEST_GATE_2每多个帧时段FP从低电压切换到高电压或从高电压切换到低电压时,测试控制信号TEST_GATE_1和TEST_GATE_2可以具有相对低的频率,并且可以基本上减小显示装置100的功耗。
图8为图示根据实施例的点亮测试电路140的电路图。
在下文中将省略或简化与以上参考图4描述的组件相同或相似的图8中的点亮测试电路140的组件的描述。
参考图8,在实施例中,点亮测试电路140可以包括第一点亮测试阵列LTA1和第二点亮测试阵列LTA2。第一点亮测试阵列LTA1可以包括多个第一测试晶体管T1。第二点亮测试阵列LTA2可以包括多个第二测试晶体管T2。在这样的实施例中,第一测试晶体管T1和第二测试晶体管T2中的每个可以为P型晶体管。
图9为用于描述根据实施例的点亮测试时段LTP的时序图。
参考图8和图9,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个可以在点亮测试时段LTP期间具有恒定的低电压。低电压可以为P型晶体管的栅极导通电压。
第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个可以在点亮测试时段LTP期间具有恒定的低电压,以使得第一测试晶体管T1和第二测试晶体管T2可以导通,并且点亮测试电压DC_R、DC_G和DC_B可以施加到数据线DL。相应地,点亮测试电压DC_R、DC_G和DC_B可以在点亮测试时段LTP期间通过数据线DL提供到像素PX(例如,参见图1),并且显示面板110(例如,参见图1)的点亮测试可以被执行。
图10为用于描述根据实施例的图像显示时段IDP的时序图。
参考图8和图10,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个可以在图像显示时段IDP中具有彼此交替的低电压和高电压。高电压可以为P型晶体管的栅极关断电压。
在实施例中,从第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中选择的至少一个可以在图像显示时段IDP中的所有时间点中的每个处具有高电压。在这样的实施例中,第一测试控制信号TEST_GATE_1的低电压和第二测试控制信号TEST_GATE_2的低电压可以在图像显示时段IDP期间不重叠。
在从第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中选择的至少一个在图像显示时段IDP中的所有时间点中的每个处具有高电压这样的实施例中,从第一测试晶体管T1和第二测试晶体管T2中选择的至少一个可以在图像显示时段IDP中的所有时间点中的每个处关断,并且点亮测试电压DC_R、DC_G和DC_B可以不施加到数据线DL。相应地,数据电压DATA_R、DATA_G和DATA_B可以在图像显示时段IDP中通过数据线DL提供到像素PX(例如,参见图1),并且显示面板110(例如,参见图1)可以显示图像。
在实施例中,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个可以在数据边沿时段DPP中从低电压切换到高电压或从高电压切换到低电压。在这样的实施例中,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个的电压电平可以在数据边沿时段DPP中改变。
在实施例中,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个可以每一个帧时段FP从低电压切换到高电压或从高电压切换到低电压。在实施例中,例如,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个的周期可以为两个帧时段FP。
图11为用于描述根据可替代的实施例的图像显示时段IDP的时序图。
参考图8和图11,在可替代的实施例中,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个可以每多个帧时段FP从低电压切换到高电压或从高电压切换到低电压。在实施例中,例如,第一测试控制信号TEST_GATE_1和第二测试控制信号TEST_GATE_2中的每个的周期可以为四个帧时段FP或更多个帧时段FP。
图12为图示根据实施例的包括显示装置1160的电子设备1100的框图。
参考图12,电子设备1100的实施例可以包括处理器1110、存储器装置1120、存储装置1130、输入/输出(“I/O”)装置1140、电源1150和显示装置1160。电子设备1100可以进一步包括用于与视频卡、声卡、存储卡、通用串行总线(“USB”)装置等通信的多个端口。
处理器1110可以执行特定的计算或任务。在实施例中,处理器1110可以为微处理器、中央处理单元(“CPU”)等。处理器1110可以通过地址总线、控制总线、数据总线等耦接到其它组件。在实施例中,处理器1110可以耦接到诸如外围组件互连(“PCI”)总线的扩展总线。
存储器装置1120可以存储用于电子设备1100的操作的数据。在实施例中,存储器装置1120可以包括:诸如可擦除可编程只读存储器(“EPROM”)装置、电可擦除可编程只读存储器(“EEPROM”)装置、闪存装置、相变随机存取存储器(“PRAM”)装置、电阻随机存取存储器(“RRAM”)装置、纳米浮栅存储器(“NFGM”)装置、聚合物随机存取存储器(“PoRAM”)装置、磁随机存取存储器(“MRAM”)装置、铁电随机存取存储器(“FRAM”)装置等的非易失性存储器装置;和/或诸如动态随机存取存储器(“DRAM”)装置、静态随机存取存储器(“SRAM”)装置、移动DRAM装置等的易失性存储器装置。
存储装置1130可以包括固态驱动器(“SSD”)装置、硬盘驱动器(“HDD”)装置、CD-ROM装置等。I/O装置1140可以包括诸如键盘、小键盘、触摸板、触摸屏、鼠标装置等的输入装置和诸如扬声器、打印机等的输出装置。电源1150可以供给用于电子设备1100的操作的电力。显示装置1160可以通过总线或其它通信链路耦接到其它组件。
在显示装置1160的实施例中,点亮测试电路可以包括彼此串联连接的第一测试晶体管和第二测试晶体管,并且彼此交替的低电压和高电压可以施加到第一测试晶体管和第二测试晶体管中的每个的栅电极,以使得第一测试晶体管和第二测试晶体管的阈值电压可以不负向偏移或正向偏移。相应地,点亮测试电压可以在图像显示时段中不施加到像素。
根据本发明的显示装置的实施例可以应用于包括在计算机、笔记本、移动电话、智能电话、智能平板、便携式多媒体播放器(“PMP”)、个人数字助理(“PDA”)、MP3播放器等中的显示装置。
本发明不应被解释为限于本文中阐述的实施例。相反,提供这些实施例以使得本公开将为透彻且完整的,并且将向本领域技术人员全面传达本发明的构思。
虽然已参考本发明的实施例特定示出并描述了本发明,但本领域的普通技术人员将理解的是,在不背离如由所附权利要求书限定的本发明的精神或范围的情况下,其中可以进行形式和细节上的各种改变。
Claims (20)
1.一种显示面板,包括:
连接到扫描线和数据线的像素;以及
通过所述数据线向所述像素提供点亮测试电压的点亮测试电路,
其中,所述点亮测试电路包括:
第一测试晶体管,包括接收所述点亮测试电压的第一电极、第二电极和接收第一测试控制信号的栅电极;以及
第二测试晶体管,包括连接到所述第一测试晶体管的所述第二电极的第一电极、连接到所述数据线的第二电极和接收第二测试控制信号的栅电极。
2.根据权利要求1所述的显示面板,其中,所述第一测试晶体管和所述第二测试晶体管中的每个为N型晶体管。
3.根据权利要求2所述的显示面板,
其中,所述第一测试控制信号和所述第二测试控制信号中的每个在数据电压通过所述数据线提供到所述像素的图像显示时段中具有彼此交替的低电压和高电压,并且
其中,从所述第一测试控制信号和所述第二测试控制信号中选择的至少一个在所述图像显示时段中的所有时间点中的每个处具有所述低电压。
4.根据权利要求3所述的显示面板,
其中,所述图像显示时段包括所述数据电压写入到所述数据线的数据写入时段和所述数据电压未写入到所述数据线的数据边沿时段,并且
其中,所述第一测试控制信号和所述第二测试控制信号中的每个在所述数据边沿时段中从所述低电压切换到所述高电压或从所述高电压切换到所述低电压。
5.根据权利要求3所述的显示面板,其中,所述第一测试控制信号和所述第二测试控制信号中的每个在所述图像显示时段中每一个帧时段从所述低电压切换到所述高电压或从所述高电压切换到所述低电压。
6.根据权利要求3所述的显示面板,其中,所述第一测试控制信号和所述第二测试控制信号中的每个在所述图像显示时段中每多个帧时段从所述低电压切换到所述高电压或从所述高电压切换到所述低电压。
7.根据权利要求2所述的显示面板,其中,所述第一测试控制信号和所述第二测试控制信号中的每个在所述点亮测试电压通过所述数据线提供到所述像素的点亮测试时段中具有恒定的高电压。
8.根据权利要求1所述的显示面板,其中,所述第一测试晶体管和所述第二测试晶体管中的每个为P型晶体管。
9.根据权利要求8所述的显示面板,
其中,所述第一测试控制信号和所述第二测试控制信号中的每个在数据电压通过所述数据线提供到所述像素的图像显示时段中具有彼此交替的低电压和高电压,并且
其中,所述第一测试控制信号和所述第二测试控制信号中的至少一个在所述图像显示时段中的所有时间点中的每个处具有所述高电压。
10.根据权利要求8所述的显示面板,其中,所述第一测试控制信号和所述第二测试控制信号中的每个在所述点亮测试电压通过所述数据线提供到所述像素的点亮测试时段中具有恒定的低电压。
11.根据权利要求1所述的显示面板,其中,所述第一测试晶体管和所述第二测试晶体管中的每个为氧化物半导体晶体管和非晶硅晶体管中的一种。
12.一种显示装置,包括:
连接到扫描线和数据线的像素;
通过所述扫描线向所述像素提供扫描信号的扫描驱动器;
通过所述数据线向所述像素提供数据电压的数据驱动器;以及
通过所述数据线向所述像素提供点亮测试电压的点亮测试电路,
其中,所述点亮测试电路包括:
第一测试晶体管,包括接收所述点亮测试电压的第一电极、第二电极和接收第一测试控制信号的栅电极;以及
第二测试晶体管,包括连接到所述第一测试晶体管的所述第二电极的第一电极、连接到所述数据线的第二电极和接收第二测试控制信号的栅电极。
13.根据权利要求12所述的显示装置,其中,所述第一测试晶体管和所述第二测试晶体管中的每个为N型晶体管。
14.根据权利要求13所述的显示装置,
其中,所述第一测试控制信号和所述第二测试控制信号中的每个在所述数据电压通过所述数据线提供到所述像素的图像显示时段中具有彼此交替的低电压和高电压,并且
其中,从所述第一测试控制信号和所述第二测试控制信号中选择的至少一个在所述图像显示时段中的所有时间点中的每个处具有所述低电压。
15.根据权利要求14所述的显示装置,
其中,所述图像显示时段包括所述数据电压写入到所述数据线的数据写入时段和所述数据电压未写入到所述数据线的数据边沿时段,并且
其中,从所述第一测试控制信号和所述第二测试控制信号中选择的每个在所述数据边沿时段中从所述低电压切换到所述高电压或从所述高电压切换到所述低电压。
16.根据权利要求14所述的显示装置,其中,所述第一测试控制信号和所述第二测试控制信号中的每个在所述图像显示时段中每一个帧时段从所述低电压切换到所述高电压或从所述高电压切换到所述低电压。
17.根据权利要求14所述的显示装置,其中,所述第一测试控制信号和所述第二测试控制信号中的每个在所述图像显示时段中每多个帧时段从所述低电压切换到所述高电压或从所述高电压切换到所述低电压。
18.根据权利要求13所述的显示装置,其中,所述第一测试控制信号和所述第二测试控制信号中的每个在所述点亮测试电压通过所述数据线提供到所述像素的点亮测试时段中具有恒定的高电压。
19.根据权利要求12所述的显示装置,其中,所述第一测试晶体管和所述第二测试晶体管中的每个为P型晶体管。
20.根据权利要求19所述的显示装置,
其中,所述第一测试控制信号和所述第二测试控制信号中的每个在所述数据电压通过所述数据线提供到所述像素的图像显示时段中具有彼此交替的低电压和高电压,并且
其中,从所述第一测试控制信号和所述第二测试控制信号中选择的至少一个在所述图像显示时段中的所有时间点中的每个处具有所述高电压。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication |