CN115760774A - 区域检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种区域检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质。方法包括：获取电路板的成型层的层设计图；电路板包括多个电路板块，成型层为包括各电路板块的板块轮廓的层，板块轮廓包括电路板块的内轮廓和外轮廓；对成型层的层设计图中的轮廓进行提取，得到轮廓集合；轮廓集合中的轮廓对应有关联轮廓信息，轮廓的关联轮廓信息用于表征轮廓的子轮廓信息和父轮廓信息；从轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓，基于各电路板块分别对应的内轮廓确定各电路板块区域。采用本方法能够提高确定电路板块区域的效率。

Description

区域检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，特别是涉及一种区域检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质。

背景技术

随着智能制造行业的快速发展，智能缺陷检测被应用到了越来越多的场景当中，例如，在生产PCB(Printed Circuit Board，印制电路版)时，需要利用PCB图像对PCB进行缺陷检测。而在对PCB进行缺陷检测之前，需要先从PCB图像中确定PCS(Piece，电路板中的电路板块)区域，即确定各电路板块区域。

传统技术中，通常采用人工方式从PCB图像中选择一个电路板块区域作为基准区域，从而利用特征匹配算法遍历PCB图像，将PCB图像中与基准区域的特征一致的图像区域确定为各电路板块区域。

然而，采用人工方式从PCB图像中选择一个电路板块区域作为基准区域，从而利用特征匹配算法遍历PCB图像确定电路板块区域的方法，使得确定电路板块区域的流程复杂，导致确定电路板块区域的效率低。

发明内容

本申请提供一种区域检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质，能够提高确定电路板块区域的效率。

第一方面，本申请提供了一种区域检测方法，包括：

获取电路板的成型层的层设计图；电路板包括多个电路板块，成型层为包括各电路板块的板块轮廓的图，板块轮廓包括电路板块的内轮廓和外轮廓；电路板块的内轮廓为电路板块的外轮廓的子轮廓，电路板块的外轮廓为电路板块的内轮廓的父轮廓；

对成型层的层设计图中的轮廓进行提取，得到轮廓集合；轮廓集合中的轮廓对应有关联轮廓信息，轮廓的关联轮廓信息用于表征轮廓的子轮廓信息和父轮廓信息；

从轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓，基于各电路板块分别对应的内轮廓确定各电路板块区域；预设关联轮廓信息为内轮廓满足的关联轮廓信息。

第二方面，本申请还提供了一种区域检测装置，包括：

图像获取模块，用于获取电路板的成型层的层设计图；电路板包括多个电路板块，成型层为包括各电路板块的板块轮廓的图，板块轮廓包括电路板块的内轮廓和外轮廓；电路板块的内轮廓为电路板块的外轮廓的子轮廓，电路板块的外轮廓为电路板块的内轮廓的父轮廓；

轮廓提取模块，用于对成型层的层设计图中的轮廓进行提取，得到轮廓集合；轮廓集合中的轮廓对应有关联轮廓信息，轮廓的关联轮廓信息用于表征轮廓的子轮廓信息和父轮廓信息；

轮廓选取模块，用于从轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓，基于各电路板块分别对应的内轮廓确定各电路板块区域；预设关联轮廓信息为内轮廓满足的关联轮廓信息。

第三方面，本申请还提供了一种计算机设备，计算机设备包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述区域检测方法中的步骤。

第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述区域检测方法中的步骤。

第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品，计算机程序产品包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述区域检测方法中的步骤。

上述区域检测方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品，通过对电路板的成型层的层设计图中的轮廓进行提取，得到轮廓集合，并从轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的轮廓，由于成型层包括各电路板块的板块轮廓，预设关联轮廓信息为内轮廓满足的关联轮廓信息，从而可以快速得到电路板中各电路板块分别对应的内轮廓，并基于各电路板块分别对应的内轮廓各电路板块区域，从而提高了确定电路板块区域的效率。

附图说明

图1为本申请实施例提供的一种区域检测方法的应用环境图；

图2为本申请实施例提供的一种区域检测方法的流程示意图；

图3为本申请实施例提供的一种区域检测方法的流程示意图；

图4A为本申请实施例提供的一种区域检测方法的流程示意图；

图4B为本申请实施例提供的一种轮廓提取方法的流程示意图；

图4C为本申请实施例提供的一种轮廓筛选方法的流程示意图；

图5为本申请实施例提供的另一种区域检测方法的流程示意图；

图6为本申请实施例提供的一种区域检测装置的结构框图；

图7为本申请实施例提供的一种计算机设备的内部结构图；

图8为本申请实施例提供的另一种计算机设备的内部结构图；

图9为本申请实施例提供的一种计算机可读存储介质的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

本申请实施例提供的区域检测方法，可以应用于如图1所示的应用环境中。其中，计算机设备102通过网络与服务器104进行通信。数据存储系统可以存储服务器104需要处理的数据。数据存储系统可以集成在服务器104上，也可以放在云上或其他网络服务器上。

具体地，服务器104可以存储电路板的成型层的层设计图，计算机设备102可以从服务器104或其他设备获取电路板的成型层的层设计图，电路板包括多个电路板块，成型层为包括各电路板块的板块轮廓的层，板块轮廓包括电路板块的内轮廓和外轮廓，电路板块的内轮廓为电路板块的外轮廓的子轮廓，电路板块的外轮廓为电路板块的内轮廓的父轮廓，然后对成型层的层设计图中的轮廓进行提取，得到轮廓集合，轮廓集合中的轮廓对应有关联轮廓信息，轮廓的关联轮廓信息用于表征轮廓的子轮廓信息和父轮廓信息，计算机设备102可以从轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓，预设关联轮廓信息为内轮廓满足的关联轮廓信息。计算机设备102可以存储各电路板块分别对应的内轮廓，也可以将各电路板块分别对应的内轮廓发送至服务器104，服务器104可以存储接收到的各电路板块分别对应的内轮廓。

其中，计算机设备102可以但不限于是各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑、物联网设备和便携式可穿戴设备，物联网设备可为智能音箱、智能电视、智能空调等。便携式可穿戴设备可为智能手表、智能手环、头戴设备等。服务器104可以用独立的服务器或者是多个服务器组成的服务器集群来实现。

在一些实施例中，如图2所示，提供了一种区域检测方法，以该方法应用于图1中的计算机设备102为例进行说明，包括以下步骤：

步骤202，获取电路板的成型层的层设计图；电路板包括多个电路板块，成型层为包括各电路板块的板块轮廓的层，板块轮廓包括电路板块的内轮廓和外轮廓；电路板块的内轮廓为电路板块的外轮廓的子轮廓，电路板块的外轮廓为电路板块的内轮廓的父轮廓。

其中，电路板也可以称为印制电路板(PCB，printed circuit board)，成型层是包括多个电路板块的板块轮廓的层，用于确定各电路板块的外形与尺寸，成型层的层设计图是电路板设计图中成型层对应的设计图，也可以称为成型层图像，电路板设计图是电路板对应的设计图，可以包括多个图层，例如可以包括成型层、丝印层、线路层、防焊层、文字层、盲孔层或钻孔层中的至少一层对应的层设计图。

电路板块是电路板中的子板块，电路板块也可以称为PCS(piece，片)，电路板包括多个电路板块，多个是指至少两个，各电路板块的尺寸以及各电路板块上的内容相同，故电路板块是电路板上的重复区域。板块轮廓是指电路板块的轮廓，板块轮廓的形状可以是正方形、长方形、圆形或不规则形状中的至少一个，板块轮廓包括电路板块的内轮廓与外轮廓，一个电路板块的外轮廓包围着内轮廓，则该电路板块的内轮廓为该电路板块的外轮廓的子轮廓，该电路板块的外轮廓为该电路板块的内轮廓的父轮廓，例如，如图3所示，图3中的(a)为电路板的成型层的层设计图，图3中的(b)中的轮廓A为电路板块1的外轮廓，轮廓B为电路板块1的内轮廓，则轮廓B为轮廓A的子轮廓，轮廓A为轮廓B的父轮廓。

电路板块区域是电路板块的内轮廓内的图像区域，也称为PCS区域。

具体地，计算机设备可以从电路板的电路板设计图中，获取电路板的成型层的层设计图，例如，图3中的(a)为一个电路板的成型层的层设计图。

步骤204，对成型层的层设计图中的轮廓进行提取，得到轮廓集合；轮廓集合中的轮廓对应有关联轮廓信息，轮廓的关联轮廓信息用于表征轮廓的子轮廓信息和父轮廓信息。

其中，轮廓集合是从成型层的层设计图中提取得到的，轮廓集合包括电路板块的板块轮廓，轮廓集合中的各轮廓之间具有父子关系，关联轮廓信息用于表征轮廓的子轮廓信息和父轮廓信息，子轮廓信息表征轮廓是否具有子轮廓、在具有子轮廓的情况下子轮廓的标识，轮廓集合中的每个轮廓都有唯一的编号，轮廓的标识可以为该轮廓的编号，轮廓的编号与生成轮廓的顺序有关，在先生成的轮廓的编号小于在后生成的轮廓的编号，轮廓的编号是连续的整数，例如，共生成5个轮廓，若生成的第一个轮廓的编号为0，则这5个轮廓的编号为0-4，父轮廓信息表征轮廓是否具有父轮廓、在具有父轮廓的情况下父轮廓的标识，例如，假设轮廓A的关联轮廓信息中的子轮廓信息为轮廓B的标识，父轮廓信息为空，则轮廓A的子轮廓为轮廓B，轮廓A没有父轮廓。

具体地，计算机设备可以对成型层的层设计图进行二值化处理，得到成型层的二值化图，然后对成型层的二值化图进行轮廓提取，得到轮廓集合。其中，二值化图中像素点的像素值为第一预设值或第二预设值，第一预设值和第二预设值均为预先设置的像素值，第一预设值与第二预设值不相同，例如，可以将第一预设值设置为0，将第二预设值设置为255。

在一些实施例中，计算机设备可以对成型层的层设计图进行二值化处理，得到二值化图，然后从二值化图中确定第一类像素点与第二类像素点的边界像素点，将各边界像素点组成的各封闭线条确定为轮廓，得到第一轮廓集合。其中，第一类像素点为像素值为第一预设值的像素点，第二类像素点为像素值为第二预设值的像素点。边界像素点是基于相邻的第一类像素点与第二类像素点确定的，例如，边界像素点可以是与第二类像素点相邻的第一类像素点，封闭线条是由各边界像素点组成的，一个封闭线条是一个轮廓。

在一些实施例中，计算机设备进行轮廓提取之前，可以将轮廓提取模式设置为关联模式，关联模式是指计算机设备在进行轮廓提取的过程中，可以获取各轮廓对应的关联轮廓信息，从而对成型层的层设计图中的轮廓进行提取，可以使得到的轮廓集合中的各轮廓对应有关联轮廓信息。例如，计算机设备可以在opencv中将轮廓提取模式设置为关联模式，利用opencv提取得到各轮廓对应有关联轮廓信息，关联轮廓信息中还可以包括，轮廓对应的关联轮廓信息可以包括[child，parent]，其中，child为子轮廓的标识，parent为父轮廓的标识。

步骤206，从轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓，基于各电路板块分别对应的内轮廓确定各电路板块区域；预设关联轮廓信息为内轮廓满足的关联轮廓信息。

其中，预设关联轮廓信息为内轮廓满足的关联轮廓信息，预设关联轮廓信息可以是预先设置的，例如，可以将子轮廓信息为空的关联轮廓信息确定为预设关联信息。

具体地，计算机设备可以基于轮廓集合中各轮廓对应的关联轮廓信息，从轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓，然后从电路板设计图中，确定各内轮廓内的图像区域为各电路板块区域。

在一些实施例中，计算机设备从成型层的层设计图中进行提取得到的轮廓集合为第一轮廓集合，计算机设备可以基于第一轮廓集合中各第一轮廓内的图像区域面积，从第一轮廓集合中选取得到第二轮廓集合，然后从第二轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的第二轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓。其中，第一轮廓集合是从成型层的层设计图中提取得到的，第一轮廓是第一轮廓集合中的轮廓，第二轮廓集合是基于各第一轮廓内的图像区域面积从第一轮廓集合中选取得到的。

在一些实施例中，计算机设备可以对第一轮廓集合中各第一轮廓内的图像区域面积进行统计运算，得到面积阈值，然后从第一轮廓集合中选取图像区域面积大于面积阈值的各第一轮廓，组成第二轮廓集合。其中，统计运算包括取最大值、求均值或取中位数等中的至少一种。

在一些实施例中，计算机设备可以从第二轮廓集合中，选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的第二轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓，然后从电路板设计图中，确定各内轮廓内的图像区域为各电路板块区域，并基于各电路板块区域对电路板进行缺陷检测。

上述区域检测方法中，通过对电路板的成型层的层设计图中的轮廓进行提取，得到轮廓集合，并从轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的轮廓，由于成型层包括各电路板块的板块轮廓，预设关联轮廓信息为内轮廓满足的关联轮廓信息，从而可以快速得到电路板中各电路板块分别对应的内轮廓，并基于各电路板块分别对应的内轮廓确定各电路板块区域，从而提高了确定电路板块区域的效率。

在一些实施例中，现有技术中，计算机设备通常是直接对电路板的电路板设计图或电路板的实物图像进行处理，从而确定各电路板块区域，进而对各电路板块区域进行缺陷检测，例如，可以采用人工方式在电路板设计图上选择一个电路板块区域作为基准区域，通过计算机设备确定基准区域中的特征，进而基于基准区域的特征对电路板设计图进行特征匹配，将电路板设计图中与基准区域的特征一致的图像区域确定为电路板块区域。然而人工选择基准区域的方式，使得流程较为复杂，且在电路板设计图或电路板的实物图像的分辨率较高的情况下，直接对电路板的电路板设计图或电路板的实物图像进行处理的性能较低。而本申请的区域检测方法，如图4A所示，是通过获取电路板的成型层的层设计图，利用轮廓提取算法得到所有轮廓，再利用轮廓筛选算法得到电路板块的内轮廓，由于成型层为包括各电路板块的板块轮廓的层，从而能够自动并且快速的从成型层的层设计图中确定电路板块的内轮廓，降低了流程复杂度，提高了处理性能，进而提高了确定电路板块区域的效率。

在一些实施例中，轮廓集合为第一轮廓集合，成型层的层设计图还包括非板块轮廓；

步骤206，具体包括：

基于第一轮廓集合中各第一轮廓内的图像区域面积，从第一轮廓集合中选取得到第二轮廓集合，以将第一轮廓集合中的非板块轮廓进行过滤；

从第二轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的第二轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓。

其中，第一轮廓集合是从成型层的层设计图中提取得到的，第一轮廓是第一轮廓集合中的轮廓，第一轮廓集合包括电路板块的板块轮廓，还包括非板块轮廓。非板块轮廓是成型层的层设计图中除电路板块之外的其他区域的轮廓，例如，如图3中的(b)所示，轮廓C为非板块轮廓。第二轮廓集合是基于各第一轮廓内的图像区域面积从第一轮廓集合中选取得到的，第二轮廓集合中包括电路板块的板块轮廓，不包括非板块轮廓。

具体地，计算机设备可以计算第一轮廓集合中各第一轮廓内的图像区域面积，然后基于第一轮廓集合中各第一轮廓内的图像区域面积，从第一轮廓集合中选取得到第二轮廓集合，以将第一轮廓集合中的非板块轮廓进行过滤。然后计算机设备可以从第二轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的第二轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓。

本实施例中，通过基于第一轮廓集合中各第一轮廓内的图像区域面积，从第一轮廓集合中选取得到第二轮廓集合，从而将第一轮廓集合中的非板块轮廓进行过滤，使得到的第二轮廓集合不包括非板块轮廓，实现对第一轮廓集合的筛选，从而提高了确定电路板块区域的准确度。

在一些实施例中，基于第一轮廓集合中各第一轮廓内的图像区域面积，从第一轮廓集合中选取得到第二轮廓集合，包括：

基于第一轮廓集合中各第一轮廓分别对应的图像区域面积，得到图像区域面积集合；

对图像区域面积集合中的各图像区域面积进行统计运算，得到面积阈值；

基于面积阈值从第一轮廓集合中选取得到第二轮廓集合。

其中，图像区域面积是轮廓内的图像区域的面积，图像区域面积集合是各第一轮廓分别对应的图像区域面积组成的面积集合，面积阈值是对图像区域面积集合中的各图像区域面积进行统计运算得到的，是图像区域面积的阈值。

具体地，计算机设备可以计算第一轮廓集合中各第一轮廓分别对应的图像区域面积，得到图像区域面积集合，然后对图像区域面积集合中的各图像区域面积进行统计运算，得到面积阈值，并基于面积阈值从第一轮廓集合中选取得到第二轮廓集合，例如，可以将第一轮廓集合中图像区域面积大于面积阈值的第一轮廓确定为第二轮廓，得到第二轮廓集合。

在一些实施例中，针对第一轮廓集合中的各第一轮廓，计算机设备可以在第一轮廓内的图像区域面积大于面积阈值的情况下，将该第一轮廓存入第二轮廓集合；在第一轮廓集合内的图像区域面积小于面积阈值的情况下，将该第一轮廓从第一轮廓集合中剔除，从而得到第二轮廓集合。

本实施例中，通过对图像区域面积集合中的各图像区域面积进行统计运算，得到面积阈值，从而基于面积阈值从第一轮廓集合中选取得到第二轮廓集合，使得到的第二轮廓集合不包括非板块轮廓，实现对第一轮廓集合的筛选，从而提高了确定电路板块区域的准确度。

在一些实施例中，非板块轮廓内的图像区域面积小于板块轮廓内的图像区域面积；

对图像区域面积集合中的各图像区域面积进行统计运算，得到面积阈值，包括：

从图像区域面积集合中确定最大的图像区域面积；

对最大的图像区域面积进行缩小处理得到面积阈值；

基于面积阈值从第一轮廓集合中选取得到第二轮廓集合，包括：

从第一轮廓集合中选取图像区域面积大于面积阈值的各第一轮廓，组成第二轮廓集合。

其中，非板块轮廓内的图像区域面积小于板块轮廓内的图像区域面积，如图3中的(b)所示，非板块轮廓内C的图像区域面积小于电路板块的外轮廓A内的图像区域面积，也小于电路板块的内轮廓B内的图像区域面积。

具体地，计算机设备可以从图像区域面积集合中确定最大的图像区域面积，然后利用预设缩小倍数对最大的图像区域面积进行缩小处理，得到面积阈值，并从第一轮廓集合中选取图像区域面积大于面积阈值的各第一轮廓，组成第二轮廓集合。其中，预设缩小倍数为预先设置的缩小倍数，例如，可以将预设缩小倍数为1/2，则将最大的图像区域面积缩小为原来的1/2，将最大的图像区域面积的1/2作为面积阈值。

在一些实施例中，计算机设备可以从图像区域面积集合中确定最大的图像区域面积，将最大的图像区域面积的1/2作为面积阈值，将第一轮廓集合中图像区域面积大于面积阈值的各第一轮廓存入第二轮廓集合中，得到第二轮廓集合。例如，如图4B所示，计算机设备获取电路板的成型层图像，然后对成型层图像进行轮廓提取，得到第一轮廓集合，并从第一轮廓集合中各第一轮廓内的图像区域面积中确定最大的图像区域面积Area_max，然后按照编号从小到大的顺序，从第一轮廓集合中选取一个第一轮廓，计算该第一轮廓内的图像区域面积Area，在第一轮廓内的图像区域面积Area大于或等于Area_max/2的情况下，将第一轮廓存入第二轮廓集合Contour_filter；在第一轮廓内的图像区域面积Area小于Area_max/2的情况下，将第一轮廓从第一轮廓集合中剔除，返回从第一轮廓集合中选取一个第一轮廓的步骤，直到遍历第一轮廓集合中的每个第一轮廓，得到第二轮廓集合。

本实施例中，由于非板块轮廓内的图像区域面积小于板块轮廓内的图像区域面积，通过从图像区域面积集合中确定最大的图像区域面积，并对最大的图像区域面积进行缩小处理得到面积阈值，从第一轮廓集合中选取图像区域面积大于面积阈值的各第一轮廓，组成第二轮廓集合，从而快速的将非板块轮廓从第一轮廓集合中过滤掉，提高确定电路板块区域的效率。

在一些实施例中，从第二轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的第二轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓，包括：

在基于第二轮廓的关联轮廓信息确定第二轮廓不存在子轮廓的情况下，将第二轮廓确定为内轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓。

其中，关联轮廓信息用于表征轮廓的子轮廓信息和父轮廓信息。

具体地，计算机设备获取第二轮廓集合中的各第二轮廓分别对应的关联轮廓信息，针对第二轮廓集合中的各第二轮廓，在第二轮廓的关联轮廓信息中的子轮廓信息为空的情况下，确定该第二轮廓不存在子轮廓，则将该第二轮廓确定为内轮廓，得到各电路板分别对应的内轮廓。

在一些实施例中，如图4C所示，计算机设备可以按照编号从小到大的顺序，从第二轮廓集合Contour_filter选取一个第二轮廓，基于第二轮廓的关联轮廓信息确定该第二轮廓是否存在子轮廓，在该第二轮廓不存在子轮廓的情况下，将第二轮廓存入电路板块的内轮廓集合Contour_pcs；在该第二轮廓存在子轮廓的情况下，将第二轮廓从第二轮廓集合Contour_filter中剔除，返回按照编号从小到大的顺序，从第二轮廓集合Contour_filter选取一个第二轮廓的步骤，直到遍历第二轮廓集合中的每个第二轮廓。

本实施例中，通过在基于第二轮廓的关联轮廓信息确定第二轮廓不存在子轮廓的情况下，将第二轮廓确定为内轮廓，从而快速得到各电路板块分别对应的内轮廓，提高了确定电路板块区域的效率。

在一些实施例中，对成型层的层设计图中的轮廓进行提取，得到轮廓集合，包括：

对成型层的层设计图进行二值化处理，得到二值化图；二值化图中像素点的像素值为第一预设值或第二预设值；

从二值化图中，确定第一类像素点与第二类像素点的边界像素点；第一类像素点为像素值为第一预设值的像素点，第二类像素点为像素值为第二预设值的像素点；

将各边界像素点组成的各封闭线条组成轮廓集合。

其中，二值化图中像素点的像素值为第一预设值或第二预设值，第一预设值和第二预设值均为预先设置的像素值，第一预设值与第二预设值不相同，例如，可以将第一预设值设置为0，将第二预设值设置为255。第一类像素点为像素值为第一预设值的像素点，第二类像素点为像素值为第二预设值的像素点。边界像素点是基于相邻的第一类像素点与第二类像素点确定的，例如，边界像素点可以是与第二类像素点相邻的第一类像素点，封闭线条是由各边界像素点组成的，一个封闭线条是一个轮廓。

具体地，计算机设备可以对获取的成型层的层设计图进行二值化处理，得到成型层的层设计图对应的二值化图，然后从二值化图中确定与第二类像素点相邻的第一类像素点为边界像素点，将各边界像素点组成的各封闭线条确定为各第一轮廓，得到轮廓集合。

在一些实施例中，计算机设备可以从二值化图的各行像素点中确定当前行，按照从前往后的顺序确定当前行的当前像素点，在当前像素点为第一类像素点且相邻的前向像素点或后向像素点中的至少一个为第二类像素点的情况下，或者当前像素点为第一类像素点且为当前行的第一个像素点的情况下，且标记当前像素点为边界像素点，然后将当前像素点的相邻的后向像素点更新为当前像素点，直到遍历二值化图中的所有像素点，例如，可以将二值化图的第一行确定为当前行，将当前行的第一个像素点确定为当前像素点，在确定当前像素点为第一类像素点且为当前行的第一个像素点的情况下，将当前行的第二个像素点更新为当前像素点，直到遍历当前行中的所有像素点，将二值化图的第二行更新为当前行，直到遍历二值化图中的所有像素点。

本实施例中，通过从二值化图中，确定第一类像素点与第二类像素点的边界像素点，将各边界像素点组成的各封闭线条组成轮廓集合，实现对成型层的层设计图中的轮廓进行提取，快速得到轮廓集合，从而提高了确定电路板块区域的效率。

在一些实施例中，成型层的层设计图，为电路板的电路板设计图中的一个图层；

基于各电路板块分别对应的内轮廓确定各电路板块区域包括：

针对每个电路板块，从电路板设计图中确定电路板块的内轮廓内的图像区域，得到电路板块对应的电路板块区域；

区域检测方法还包括：

从各电路板块区域中确定参考图像区域；

基于参考区域图像中的元件参数和钻孔参数，得到检测参数；

基于检测参数对电路板进行缺陷检测。

其中，电路板设计图还包括丝印层和钻孔层分别对应的层设计图。丝印层的层设计图包括各元件的元件参数，元件参数包括元件类型、元件位置、元件尺寸，元件类型是指电路板上放置的元件的类型，元件类型包括电阻、电容、电感器或二极管中的至少一个，元件位置为各元件在电路板块上的放置位置，元件尺寸为元件的大小。钻孔层的层设计图包括钻孔参数，钻孔参数是指电路板块上的钻孔位置，元件参数和钻孔参数可以是从电路板设计图中的参考区域确定的，也可以是从丝印层和钻孔层对应的层设计图中分别确定的。参考内轮廓是从各电路板块分别对应的内轮廓中选择的。参考图像区域是从电路板设计图中确定的参考内轮廓内的图像区域。检测参数是基于参考图像区域的元件参数和钻孔参数得到的，用于对电路板进行缺陷检测。

具体地，计算机设备可以基于各电路板块分别对应的内轮廓，从电路板设计图中确定电路板块的内轮廓内的图像区域，得到电路板块对应的电路板块区域，然后从各电路板块区域中随机选择一个作为参考图像区域，并基于参考图像区域中的元件参数和钻孔参数，得到检测参数，然后利用参考参数对生产的电路板中的各电路板块进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。其中，缺陷检测结果表征各电路板块是否存在缺陷。

在一些实施例中，计算机设备可以获取已生产的电路板的实物图像，并基于各电路板块分别对应的内轮廓，从电路板的实物图像中确定各电路板块区域，并利用检测参数对电路板的实物图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。例如，计算机设备可以从电路板的实物图像中获取各电路板块的元件数据以及钻孔数据，将电路板块的元件数据以及钻孔数据与检测参数中的元件参数以及钻孔参数进行对比，在对比结果一致的情况下，确定该电路板块的缺陷检测结果为不存在缺陷；在对比结果不一致的情况下，确定该电路板块的缺陷检测结果为存在缺陷。

本实施例中，通过从电路板设计图中确定电路板块的内轮廓内的图像区域，得到电路板块对应的电路板块区域，从各电路板块区域中确定参考图像区域，基于参考区域图像中的元件参数和钻孔参数，得到检测参数，基于检测参数对电路板进行缺陷检测，实现了对电路板进行缺陷检测。

在一些实施例中，如图5所示，提供了一种区域检测方法，以该方法应用于计算机设备为例进行说明，包括以下步骤：

步骤502，获取电路板的成型层的层设计图。

其中，电路板包括多个电路板块，成型层为包括各电路板块的板块轮廓的层，板块轮廓包括电路板块的内轮廓和外轮廓；电路板块的内轮廓为电路板块的外轮廓的子轮廓，电路板块的外轮廓为电路板块的内轮廓的父轮廓。

步骤504，对成型层的层设计图中的轮廓进行提取，得到第一轮廓集合。

其中，第一轮廓集合中的轮廓对应有关联轮廓信息，轮廓的关联轮廓信息用于表征轮廓的子轮廓信息和父轮廓信息。

步骤506，基于第一轮廓集合中各第一轮廓分别对应的图像区域面积，得到图像区域面积集合。

步骤508，从图像区域面积集合中确定最大的图像区域面积，对最大的图像区域面积进行缩小处理得到面积阈值。

步骤510，从第一轮廓集合中选取图像区域面积大于面积阈值的各第一轮廓，组成第二轮廓集合。

步骤512，在基于第二轮廓的关联轮廓信息确定第二轮廓不存在子轮廓的情况下，将第二轮廓确定为内轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓。

本实施例中，通过对电路板的成型层的层设计图中的轮廓进行提取，得到第一轮廓集合，基于第一轮廓集合中各第一轮廓分别对应的图像区域面积，从第一轮廓集合中选取图像区域面积大于面积阈值的各第一轮廓，组成第二轮廓集合，并基于第二轮廓的关联轮廓信息，从第二轮廓集合中选取不存在子轮廓的第二轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓，由于成型层为包括各电路板块的板块轮廓的层，从而可以快速并准确的得到电路板中各电路板块分别对应的内轮廓，并基于各电路板块分别对应的内轮廓确定各电路板块区域，从而提高了确定电路板块区域的效率

应该理解的是，虽然如上的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

基于同样的发明构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的区域检测方法的区域检测装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个区域检测装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于区域检测方法的限定，在此不再赘述。

在一些实施例中，如图6所示，提供了一种区域检测装置，包括：

图像获取模块602，用于获取电路板的成型层的层设计图；电路板包括多个电路板块，成型层为包括各电路板块的板块轮廓的图，板块轮廓包括电路板块的内轮廓和外轮廓；电路板块的内轮廓为电路板块的外轮廓的子轮廓，电路板块的外轮廓为电路板块的内轮廓的父轮廓。

轮廓提取模块604，用于对成型层的层设计图中的轮廓进行提取，得到轮廓集合；轮廓集合中的轮廓对应有关联轮廓信息，轮廓的关联轮廓信息用于表征轮廓的子轮廓信息和父轮廓信息。

轮廓选取模块606，用于从轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓，基于各电路板块分别对应的内轮廓确定各电路板块区域；预设关联轮廓信息为内轮廓满足的关联轮廓信息。

在一些实施例中，轮廓集合为第一轮廓集合，成型层的层设计图还包括非板块轮廓；

在轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓方面，轮廓选取模块具体用于：

基于第一轮廓集合中各第一轮廓内的图像区域面积，从第一轮廓集合中选取得到第二轮廓集合，以将第一轮廓集合中的非板块轮廓进行过滤；

从第二轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的第二轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓。

在一些实施例中，在基于第一轮廓集合中各第一轮廓内的图像区域面积，从第一轮廓集合中选取得到第二轮廓集合的方面，轮廓选取模块具体用于：

基于第一轮廓集合中各第一轮廓分别对应的图像区域面积，得到图像区域面积集合；

对图像区域面积集合中的各图像区域面积进行统计运算，得到面积阈值；

基于面积阈值从第一轮廓集合中选取得到第二轮廓集合。

在一些实施例中，非板块轮廓内的图像区域面积小于板块轮廓内的图像区域面积；

在对图像区域面积集合中的各图像区域面积进行统计运算，得到面积阈值方面，轮廓选取模块具体用于：

从图像区域面积集合中确定最大的图像区域面积；

对最大的图像区域面积进行缩小处理得到面积阈值。

基于面积阈值从第一轮廓集合中选取得到第二轮廓集合包括：

从第一轮廓集合中选取图像区域面积大于面积阈值的各第一轮廓，组成第二轮廓集合。

在一些实施例中，在从第二轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的第二轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓方面，轮廓选取模块具体用于：

在基于第二轮廓的关联轮廓信息确定第二轮廓不存在子轮廓的情况下，将第二轮廓确定为内轮廓，得到各电路板块分别对应的内轮廓。

在一些实施例中，在对成型层的层设计图中的轮廓进行提取，得到轮廓集合方面，轮廓提取模块具体用于：

对层设计图进行二值化处理，得到二值化图；二值化图中像素点的像素值为第一预设值或第二预设值；

从二值化图中，确定第一类像素点与第二类像素点的边界像素点；第一类像素点为像素值为第一预设值的像素点，第二类像素点为像素值为第二预设值的像素点；

将各边界像素点组成的各封闭线条组成轮廓集合。

在一些实施例中，成型层的层设计图，为电路板的电路板设计图中的一个图层；

在基于各电路板块分别对应的内轮廓确定各电路板块区域方面，轮廓选取模块具体用于：

针对每个电路板块，从电路板设计图中确定电路板块的内轮廓内的图像区域，得到电路板块对应的电路板块区域；

区域检测装置还包括参数确定模块，参数确定模块具体用于：

从各电路板块区域中确定参考图像区域；

基于参考区域图像中的元件参数和钻孔参数，得到检测参数；

基于检测参数对电路板进行缺陷检测。

上述区域检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一些实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图7所示。该计算机设备包括处理器、存储器、输入/输出接口(Input/Output，简称I/O)和通信接口。其中，处理器、存储器和输入/输出接口通过系统总线连接，通信接口通过输入/输出接口连接到系统总线。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储区域检测方法所涉及的相关数据。该计算机设备的输入/输出接口用于处理器与外部设备之间交换信息。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现上述的区域检测方法中的步骤。

在一些实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是终端，其内部结构图可以如图8所示。该计算机设备包括处理器、存储器、输入/输出接口、通信接口、显示单元和输入装置。其中，处理器、存储器和输入/输出接口通过系统总线连接，通信接口、显示单元和输入装置通过输入/输出接口连接到系统总线。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的输入/输出接口用于处理器与外部设备之间交换信息。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信，无线方式可通过WIFI、移动蜂窝网络、NFC(近场通信)或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种区域检测方法。该计算机设备的显示单元用于形成视觉可见的画面，可以是显示屏、投影装置或虚拟现实成像装置。显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。

本领域技术人员可以理解，图7和图8中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一些实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现上述区域检测方法中的步骤。

在一些实施例中，提供了一种计算机可读存储介质900，其上存储有计算机程序902，计算机程序902被处理器执行时实现上述图像数据处理方法中的步骤，其内部结构图可以如图9所示。

在一些实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述区域检测方法中的步骤。

需要说明的是，本申请所涉及的用户信息(包括但不限于用户设备信息、用户个人信息等)和数据(包括但不限于用于分析的数据、存储的数据、展示的数据等)，均为经用户授权或者经过各方充分授权的信息和数据，且相关数据的收集、使用和处理需要遵守相关国家和地区的相关法律法规和标准。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(ReRAM)、磁变存储器(Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM)、铁电存储器(Ferroelectric Random Access Memory，FRAM)、相变存储器(Phase Change Memory，PCM)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic RandomAccess Memory，DRAM)等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种区域检测方法，其特征在于，包括：

获取电路板的成型层的层设计图；所述电路板包括多个电路板块，所述成型层为包括各所述电路板块的板块轮廓的层，所述板块轮廓包括所述电路板块的内轮廓和外轮廓；所述电路板块的内轮廓为所述电路板块的外轮廓的子轮廓，所述电路板块的外轮廓为所述电路板块的内轮廓的父轮廓；

对所述成型层的层设计图中的轮廓进行提取，得到轮廓集合；所述轮廓集合中的轮廓对应有关联轮廓信息，轮廓的关联轮廓信息用于表征所述轮廓的子轮廓信息和父轮廓信息；

从所述轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的轮廓，得到各所述电路板块分别对应的内轮廓，基于各所述电路板块分别对应的内轮廓确定各电路板块区域；所述预设关联轮廓信息为所述内轮廓满足的关联轮廓信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述轮廓集合为第一轮廓集合，所述第一轮廓集合还包括非板块轮廓；

所述从所述轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的轮廓，得到各所述电路板块分别对应的内轮廓，包括：

基于所述第一轮廓集合中各第一轮廓内的图像区域面积，从所述第一轮廓集合中选取得到第二轮廓集合，以将所述第一轮廓集合中的所述非板块轮廓进行过滤；

从所述第二轮廓集合中选取关联轮廓信息满足所述预设关联轮廓信息的第二轮廓，得到各所述电路板块分别对应的内轮廓。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一轮廓集合中各第一轮廓内的图像区域面积，从所述第一轮廓集合中选取得到第二轮廓集合，包括：

基于所述第一轮廓集合中各第一轮廓分别对应的图像区域面积，得到图像区域面积集合；

对所述图像区域面积集合中的各图像区域面积进行统计运算，得到面积阈值；

基于所述面积阈值从所述第一轮廓集合中选取得到第二轮廓集合。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述非板块轮廓内的图像区域面积小于所述板块轮廓内的图像区域面积；

所述对所述图像区域面积集合中的各图像区域面积进行统计运算，得到面积阈值，包括：

从所述图像区域面积集合中确定最大的图像区域面积；

对所述最大的图像区域面积进行缩小处理得到面积阈值；

所述基于所述面积阈值从所述第一轮廓集合中选取得到第二轮廓集合，包括：

从所述第一轮廓集合中选取图像区域面积大于所述面积阈值的各第一轮廓，组成第二轮廓集合。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述从所述第二轮廓集合中选取关联轮廓信息满足所述预设关联轮廓信息的第二轮廓，得到各所述电路板块分别对应的内轮廓，包括：

在基于所述第二轮廓的关联轮廓信息确定所述第二轮廓不存在子轮廓的情况下，将所述第二轮廓确定为内轮廓，得到各所述电路板块分别对应的内轮廓。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述成型层的层设计图中的轮廓进行提取，得到轮廓集合，包括：

对所述成型层的层设计图进行二值化处理，得到二值化图；所述二值化图中像素点的像素值为第一预设值或第二预设值；

从所述二值化图中，确定第一类像素点与第二类像素点的边界像素点；所述第一类像素点为像素值为第一预设值的像素点，所述第二类像素点为像素值为第二预设值的像素点；

将各所述边界像素点组成的各封闭线条组成所述轮廓集合。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述成型层的层设计图，为所述电路板的电路板设计图中的一个图层；

所述基于各所述电路板块分别对应的内轮廓确定各电路板块区域包括：

针对每个所述电路板块，从所述电路板设计图中确定所述电路板块的内轮廓内的图像区域，得到所述电路板块对应的电路板块区域；

所述方法还包括：

从各所述电路板块区域中确定参考图像区域；

基于所述参考区域图像中的元件参数和钻孔参数，得到检测参数；

基于所述检测参数对所述电路板进行缺陷检测。

8.一种区域检测装置，其特征在于，包括：

图像获取模块，用于获取电路板的成型层的层设计图；所述电路板包括多个电路板块，所述成型层为包括各所述电路板块的板块轮廓的图，所述板块轮廓包括所述电路板块的内轮廓和外轮廓；所述电路板块的内轮廓为所述电路板块的外轮廓的子轮廓，所述电路板块的外轮廓为所述电路板块的内轮廓的父轮廓；

轮廓提取模块，用于对所述成型层的层设计图中的轮廓进行提取，得到轮廓集合；所述轮廓集合中的轮廓对应有关联轮廓信息，轮廓的关联轮廓信息用于表征所述轮廓的子轮廓信息和父轮廓信息；

轮廓选取模块，用于从所述轮廓集合中选取关联轮廓信息满足预设关联轮廓信息的轮廓，得到各所述电路板块分别对应的内轮廓，基于各所述电路板块分别对应的内轮廓确定各电路板块区域；所述预设关联轮廓信息为所述内轮廓满足的关联轮廓信息。

9.一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。

Images