CN115754373A - 可自动夹紧的测试基座 - Google Patents

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CN115754373A CN202211444002.0A CN202211444002A CN115754373A CN 115754373 A CN115754373 A CN 115754373A CN 202211444002 A CN202211444002 A CN 202211444002A CN 115754373 A CN115754373 A CN 115754373A
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刘鑫培
朱小刚
赵中山
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SUZHOU CHUANGRUI MACHINERY AND ELECTRICAL TECHNOLOGY CO LTD
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Abstract

本发明揭示了一种可自动夹紧的测试基座,包括底座,底座的轴心浮动设置有一用于测试芯片的检测台,底座上设置有用于限定芯片位置的夹紧装置,夹紧装置包括夹紧部和驱动部,夹紧部至少包括一对相对于检测台对称设置的夹爪,夹爪的两侧与底座枢轴连接;驱动部包括驱动板和驱动杆,驱动板弹性插设于底座内并可相对底座做轴向移动,驱动杆穿设于驱动板的底部和夹爪的尾端,且驱动杆的两端滑动嵌设于底座侧壁上的导向槽内,驱动板通过轴向移动驱动所述驱动杆沿导向槽移动,同时两个夹爪由驱动杆驱动同步相对检测台做旋转运动,以夹紧或松开芯片。本发明中的最大程度优化了芯片的放置和定位流程切换的流畅性,提高芯片放置和取出的工作效率。

Description

可自动夹紧的测试基座
技术领域
本发明涉及芯片测试设备技术领域,具体地涉及一种可自动夹紧的测试基座。
背景技术
为了保证芯片的良品率,芯片在制造完成后需要进行测试。如中国专利201410443449.5所揭示的,现有的芯片测试机构基本需要先打开上盖,再采用机械手或者吸头等抓取装置抓取芯片,移送至测试基座上,然后移开抓取装置,盖上上盖来对芯片进行定位,最后进行测试。
现有技术中,芯片测试中的芯片放置和芯片定位环节是分布操作的,为了便于芯片的放置,上盖和测试基座之间基本设置成分体式结构,因此需要另外设置提升机构来控制上盖的打开和闭合,既增加了设备机构,提高了制造成本,又增加了操作步骤,限制了测试效率。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术存在的不足,提供一种可自动夹紧的测试基座。
本发明的目的通过以下技术方案来实现:
可自动夹紧的测试基座,包括底座,所述底座的轴心浮动设置有一用于测试芯片的检测台,所述底座上设置有用于限定所述芯片位置的夹紧装置,所述夹紧装置包括夹紧部和驱动部,所述夹紧部至少包括一对相对于所述检测台对称设置的夹爪,所述夹爪的两侧与所述底座枢轴连接;所述驱动部包括驱动板和驱动杆,所述驱动板弹性插设于所述底座内并可相对所述底座做轴向移动,所述驱动杆穿设于所述驱动板的底部和所述夹爪的尾端,且所述驱动杆的两端滑动嵌设于所述底座侧壁上的导向槽内,所述驱动板通过轴向移动驱动所述驱动杆沿所述导向槽移动,同时两个所述夹爪由所述驱动杆驱动同步相对所述检测台做旋转运动,夹紧状态下,所述驱动杆位于所述导向槽的顶端,两个所述夹爪的前端下压以将所述芯片限定于所述检测台上;松开状态下,所述驱动杆位于所述导向槽的底端,两个所述夹爪的前端上翘并远离所述检测台。
优选的,所述导向槽包括相连通的竖直延伸段和倾斜延伸段,所述倾斜延伸段向所述底座的外侧倾斜,所述驱动杆驱动两个所述夹爪相对所述检测台同时做旋转运动和径向移动,夹紧状态下,所述驱动杆位于所述竖直延伸段的顶端;松开状态下,所述驱动杆位于所述倾斜延伸段的底端。
优选的,所述驱动板的轴心具有开口,所述驱动板与所述底座之间的四个边角处分别相对设置有限位槽,两个相对的所述限位槽内嵌设有一复位弹簧,所述复位弹簧的弹力始终对所述驱动板施加向上的驱动力,以使得所述夹爪保持夹紧状态。
优选的,所述驱动板的底部两侧至少对称设置有一对竖直向下延伸的连杆,所述底座的两侧内凹形成与所述连杆相匹配的插槽,所述连杆插设于所述插槽内并沿所述插槽的内壁轴向移动,每个所述连杆的底部形成有径向延伸的腰型孔,所述驱动杆穿设于所述腰型孔内。
优选的,所述驱动板的另外两侧分别向下竖直延伸有一导向板,所述底座的侧壁上设置有与所述导向板相匹配的导向滑槽,所述导向板滑动嵌设于所述导向滑槽内并沿所述导线滑槽轴向移动。
优选的,所述底座的轴心内凹形成可容置所述检测台的容置槽,所述容置槽的两侧具有用于连接所述夹爪的缺口,所述夹爪的中间部穿设有连接轴,所述夹爪绕所述连接轴转动,所述缺口的侧壁上设置有径向延伸的限位滑槽,所述连接轴的两端滑动嵌设于所述限位滑槽内,当所述驱动板通过轴向移动驱动所述驱动杆沿所述倾斜延伸段移动时,所述连接轴沿所述限位滑槽做径向移动。
优选的,所述检测台包括探针保持块和浮动设置于所述探针保持块上方的浮动定位板,所述探针保持块内置有一组与所述芯片相匹配的探针,所述探针的顶部穿过所述浮动定位板并与芯片相连接。
优选的,所述浮动定位板的轴心内凹形成限位凹部,所述限位凹部的侧壁向其底面倾斜形成开口自上而下逐渐收缩的喇叭状,所述限位凹部的底面为与所述芯片相匹配的平面,且所述限位凹部的底面上设置有用于使得所述探针穿过的通孔。
优选的,所述限位凹部的两侧设置有定位槽,所述夹爪的前端底部具有与所述定位槽相匹配的卡块,夹紧状态下,所述卡块卡设于所述定位槽内。
优选的,所述限位凹部的底面的四个边角处形成有圆弧状的凹槽。·
本发明的有益效果主要体现在:
1、设置驱动杆使得驱动板和夹爪形成联动的夹紧装置,使得机械手抓取芯片向下移送的同时可以下压驱动板来使得夹爪同步松开,便于直接放入芯片;当机械手上移退出时可以松开驱动板,实现夹爪的自动夹紧,使得芯片放入后即可自动实现夹紧,在芯片取出的过程中又可以自动实现松开来便于立马取出芯片,最大程度优化了芯片的放置和定位流程切换的流畅性,提高芯片放置和取出的流转效率,且无需其他动力机构,有利于成本控制;
2、由竖直延伸段和倾斜延伸段组成的导向槽使得夹爪可以在旋转的同时进行径向移动,来使得夹爪旋转打开时可以同步向外移动,以尽可能地扩大夹爪之间的打开空间,便于机械手伸入放置,夹爪关闭时也可以同步向内移动,来缩小夹爪前端之间的间距,保证夹爪的前端与芯片接触来夹紧芯片。
附图说明
下面结合附图对本发明技术方案作进一步说明:
图1:本发明实施例的示意图;
图2:本发明实施例在夹紧状态下的剖视图;
图3:本发明实施例在松开状态下的剖视图;
图4:本发明实施例在夹紧状态下的部分剖视图;
图5:本发明实施例在松开状态下的部分剖视图;
图6:本发明实施例在夹紧状态下的主视剖视图;
图7:本发明实施例在松开状态下的主视剖视图;
图8:本发明实施例在松开状态下的俯视图。
具体实施方式
以下将结合附图所示的具体实施方式对本发明进行详细描述。但这些实施方式并不限于本发明,本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本发明的保护范围内。
如图1至图8所示,本发明揭示了一种可自动夹紧的测试基座,包括底座1,所述底座1的轴心浮动设置有一用于测试芯片100的检测台2,所述底座1上设置有用于限定所述芯片100位置的夹紧装置,所述夹紧装置包括夹紧部和驱动部,所述夹紧部至少包括一对相对于所述检测台2对称设置的夹爪3,所述夹爪3的两侧与所述底座1枢轴连接;所述驱动部包括驱动板4和驱动杆5,所述驱动板4弹性插设于所述底座1内并可相对所述底座1做轴向移动,所述驱动杆5穿设于所述驱动板4的底部和所述夹爪3的尾端,且所述驱动杆5的两端滑动嵌设于所述底座1侧壁上的导向槽101内,所述驱动板4通过轴向移动驱动所述驱动杆5沿所述导向槽101移动,同时两个所述夹爪3由所述驱动杆5驱动同步相对所述检测台2做旋转运动,夹紧状态下,所述驱动杆5位于所述导向槽101的顶端,两个所述夹爪3的前端下压以将所述芯片100限定于所述检测台2上;松开状态下,所述驱动杆5位于所述导向槽101的底端,两个所述夹爪3的前端上翘并远离所述检测台2。
本发明设置驱动杆5使得驱动板4和夹爪3形成联动机构,下压所述驱动板4即可松开所述夹爪3,松开所述驱动板4,即可关闭所述夹爪3,使得夹爪3可以夹紧限定所述芯片100的位置。这样的结构设置在实际操作中,使用机械手(图中未示出)抓取芯片100向下移送时,会同时下压所述驱动板4来使得夹爪3自动松开,便于直接放入芯片100;当机械手上移退出时,会同时松开所述驱动板4,复位弹簧驱动所述驱动板4复位实现所述夹爪3的自动夹紧,使得芯片100放入后自动实现夹紧定位,最大程度优化了芯片100的放置和定位流程切换的流畅性,提高芯片100放置和取出的流转工作效率,且无需其他动力机构,有利于成本控制。
进一步的如图1、2、5所示,所述导向槽101包括相连通的竖直延伸段1011和倾斜延伸段1012,所述倾斜延伸段1012向所述底座1的外侧倾斜,所述驱动杆5驱动两个所述夹爪3相对所述检测台2同时做旋转运动和径向移动,夹紧状态下,所述驱动杆5位于所述竖直延伸段1011的顶端;松开状态下,所述驱动杆5位于所述倾斜延伸段1012的底端。所述导向槽101的结构设置使得所述夹爪3可以在旋转的同时进行径向移动,一方面使得所述夹爪3在旋转打开时同步向外移动,以扩大两个所述夹爪3的前端之间的打开间距,使得两个夹爪3打开后具有足够的空间,便于机械手伸入放置芯片100,而无需扩大两个所述夹爪3之间的间距设置;另一方面,两个所述夹爪3在关闭夹紧时也可以同步向内移动,来使得两个所述夹爪3在夹紧芯片100时可以保持较小的前端间距,来保证所述夹爪3的前端与芯片100的接触,使得所述夹爪3可以适配表面积较小的芯片100。
如图1所示,本方案中的所述驱动板4的轴心具有开口来避开所述检测台2,便于机械手的操作,为了适配所述夹爪3的径向移动,所述夹爪3上方的开口内侧外凸,使得位于所述夹爪3上方的开口宽度大于所述开口的另外一侧宽度。所述驱动板4与所述底座1之间的四个边角处分别相对设置有限位槽6,两个相对的所述限位槽6内嵌设有一复位弹簧(图中未示出),所述复位弹簧的弹力始终对所述驱动板4施加向上的驱动力,以使得所述夹爪3保持夹紧状态。所述复位弹簧具有预缩量,来使得其始终对所述驱动板4具有足够的驱动力。所述复位弹簧可以根据所述驱动板4的实际质量和驱动力的需求选择不同的参数规格,例如不同的直径等。
所述驱动板4的顶面优选为平面,来便于机械手与之抵接。所述驱动板4的底部两侧至少对称设置有一对竖直向下延伸的连杆401,所述底座1的两侧内凹形成与所述连杆401相匹配的插槽102,所述连杆401插设于所述插槽102内并沿所述插槽102的内壁轴向移动,每个所述连杆401的底部形成有径向延伸的腰型孔402,所述驱动杆5穿设于所述腰型孔402内。优选的,所述驱动板4的底部两侧分别设置有两个所述连杆401,两个所述连杆401分设于所述夹爪3的两侧来提高其驱动所述驱动杆5移动的稳定性。所述腰型孔402径向设置的结构给所述驱动杆5的径向移动提供移动空间。
进一步的,所述驱动板4的另外两侧分别向下竖直延伸有一导向板403,所述底座1的侧壁上设置有与所述导向板403相匹配的导向滑槽103,所述导向板403滑动嵌设于所述导向滑槽103内并沿所述导线滑槽103轴向移动。所述导向板403进一步限定所述驱动板4的移动方向,保证所述驱动板4相对所述底座1轴向移动的流畅性和稳定性,同时可以增强所述驱动板4的强度,使其不易被压裂。所述连杆401和导向板403均滑动嵌设于所述底座1内,使得所述驱动板4和底座1的外轮廓形成连续表面,减少整体结构的外部空间浪费。
如图4-7所示,所述底座1的轴心内凹形成可容置所述检测台2的容置槽104,所述容置槽104的两侧具有用于连接所述夹爪3的缺口,所述夹爪3的中间部穿设有连接轴301,所述夹爪3绕所述连接轴301转动,所述缺口的侧壁上设置有径向延伸的限位滑槽105,所述连接轴301的两端滑动嵌设于所述限位滑槽105内,当所述驱动板4通过轴向移动驱动所述驱动杆5沿所述倾斜延伸段1012移动时,所述连接轴301沿所述限位滑槽105做径向移动。所述限位滑槽105的设置给所述夹爪3的径向移动留出移动空间。
进一步的,本方案中的所述检测台2包括探针保持块201和浮动设置于所述探针保持块201上方的浮动定位板202,所述探针保持块201内置有一组与所述芯片100相匹配的探针203,所述探针203的顶部穿过所述浮动定位板202并与芯片100相连接。所述浮动定位板202与所述探针保持块201之间设置有弹性件,例如弹簧等具有弹性的元件,来使得所述浮动定位板202可相对所述探针保持块201浮动,当所述夹爪3在松开状态下时,所述浮动定位板202可以浮动上移,使得所述探针203不外凸于所述浮动定位板202的表面,来便于机械手抓取芯片100。
具体的如图2-8所示,所述浮动定位板202的轴心内凹形成限位凹部204,所述限位凹部204的侧壁向其底面倾斜形成开口自上而下逐渐收缩的喇叭状,所述限位凹部204的底面为与所述芯片100相匹配的平面,且所述限位凹部204的底面上设置有用于使得所述探针204穿过的通孔205。所述限位凹部204喇叭状的结构可以便于机械手放入芯片100。所述限位凹部204的底面与所述芯片100相适配可以便于进一步限定所述芯片100的位置,使得芯片100放入后直接与所述探针203接触。
进一步的,所述限位凹部204的两侧设置有定位槽206,所述夹爪3的前端底部具有与所述定位槽206相匹配的卡块302,夹紧状态下,所述卡块302卡设于所述定位槽206内。这样的结构可以进一步对所述夹爪3的位置进行限定,来使得所述夹爪3夹紧的位置更准确。
此外,所述限位凹部204的底面的四个边角处形成有圆弧状的凹槽207,来避免芯片100放置或取出时,所述限位凹部204的边角处对芯片100的边角造成刮损,保证所述芯片100的完整性。
应当理解,虽然本说明书按照实施方式加以描述,但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案,说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见,本领域技术人员应当将说明书作为一个整体,各实施方式中的技术方案也可以经适当组合,形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
上文所列出的一系列的详细说明仅仅是针对本发明的可行性实施方式的具体说明,它们并非用以限制本发明的保护范围,凡未脱离本发明技艺精神所作的等效实施方式或变更均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.可自动夹紧的测试基座,其特征在于:包括底座(1),所述底座(1)的轴心浮动设置有一用于测试芯片(100)的检测台(2),所述底座(1)上设置有用于限定所述芯片(100)位置的夹紧装置,所述夹紧装置包括夹紧部和驱动部,所述夹紧部至少包括一对相对于所述检测台(2)对称设置的夹爪(3),所述夹爪(3)的两侧与所述底座(1)枢轴连接;所述驱动部包括驱动板(4)和驱动杆(5),所述驱动板(4)弹性插设于所述底座(1)内并可相对所述底座(1)做轴向移动,所述驱动杆(5)穿设于所述驱动板(4)的底部和所述夹爪(3)的尾端,且所述驱动杆(5)的两端滑动嵌设于所述底座(1)侧壁上的导向槽(101)内,所述驱动板(4)通过轴向移动驱动所述驱动杆(5)沿所述导向槽(101)移动,同时两个所述夹爪(3)由所述驱动杆(5)驱动同步相对所述检测台(2)做旋转运动,夹紧状态下,所述驱动杆(5)位于所述导向槽(101)的顶端,两个所述夹爪(3)的前端下压以将所述芯片(100)限定于所述检测台(2)上;松开状态下,所述驱动杆(5)位于所述导向槽(101)的底端,两个所述夹爪(3)的前端上翘并远离所述检测台(2)。
2.根据权利要求1所述的可自动夹紧的测试基座,其特征在于:所述导向槽(101)包括相连通的竖直延伸段(1011)和倾斜延伸段(1012),所述倾斜延伸段(1012)向所述底座(1)的外侧倾斜,所述驱动杆(5)驱动两个所述夹爪(3)相对所述检测台(2)同时做旋转运动和径向移动,夹紧状态下,所述驱动杆(5)位于所述竖直延伸段(1011)的顶端;松开状态下,所述驱动杆(5)位于所述倾斜延伸段(1012)的底端。
3.根据权利要求2所述的可自动夹紧的测试基座,其特征在于:所述驱动板(4)的轴心具有开口,所述驱动板(4)与所述底座(1)之间的四个边角处分别相对设置有限位槽(6),两个相对的所述限位槽(6)内嵌设有一复位弹簧,所述复位弹簧的弹力始终对所述驱动板(4)施加向上的驱动力,以使得所述夹爪(3)保持夹紧状态。
4.根据权利要求3所述的可自动夹紧的测试基座,其特征在于:所述驱动板(4)的底部两侧至少对称设置有一对竖直向下延伸的连杆(401),所述底座(1)的两侧内凹形成与所述连杆(401)相匹配的插槽(102),所述连杆(401)插设于所述插槽(102)内并沿所述插槽(102)的内壁轴向移动,每个所述连杆(401)的底部形成有径向延伸的腰型孔(402),所述驱动杆(5)穿设于所述腰型孔(402)内。
5.根据权利要求4所述的可自动夹紧的测试基座,其特征在于:所述驱动板(4)的另外两侧分别向下竖直延伸有一导向板(403),所述底座(1)的侧壁上设置有与所述导向板(403)相匹配的导向滑槽(103),所述导向板(403)滑动嵌设于所述导向滑槽(103)内并沿所述导线滑槽(103)轴向移动。
6.根据权利要求2-5任一所述的可自动夹紧的测试基座,其特征在于:所述底座(1)的轴心内凹形成可容置所述检测台(2)的容置槽(104),所述容置槽(104)的两侧具有用于连接所述夹爪(3)的缺口,所述夹爪(3)的中间部穿设有连接轴(301),所述夹爪(3)绕所述连接轴(301)转动,所述缺口的侧壁上设置有径向延伸的限位滑槽(105),所述连接轴(301)的两端滑动嵌设于所述限位滑槽(105)内,当所述驱动板(4)通过轴向移动驱动所述驱动杆(5)沿所述倾斜延伸段(1012)移动时,所述连接轴(301)沿所述限位滑槽(105)做径向移动。
7.根据权利要求6所述的可自动夹紧的测试基座,其特征在于:所述检测台(2)包括探针保持块(201)和浮动设置于所述探针保持块(201)上方的浮动定位板(202),所述探针保持块(201)内置有一组与所述芯片(100)相匹配的探针(203),所述探针(203)的顶部穿过所述浮动定位板(202)并与芯片(100)相连接。
8.根据权利要求7所述的可自动夹紧的测试基座,其特征在于:所述浮动定位板(202)的轴心内凹形成限位凹部(204),所述限位凹部(204)的侧壁向其底面倾斜形成开口自上而下逐渐收缩的喇叭状,所述限位凹部(204)的底面为与所述芯片(100)相匹配的平面,且所述限位凹部(204)的底面上设置有用于使得所述探针(204)穿过的通孔(205)。
9.根据权利要求7所述的可自动夹紧的测试基座,其特征在于:所述限位凹部(204)的两侧设置有定位槽(206),所述夹爪(3)的前端底部具有与所述定位槽(206)相匹配的卡块(302),夹紧状态下,所述卡块(302)卡设于所述定位槽(206)内。
10.根据权利要求7所述的可自动夹紧的测试基座,其特征在于:所述限位凹部(204)的底面的四个边角处形成有圆弧状的凹槽(207)。
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