CN115713224A - 适用于lcd装配流程的多次元评估方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及LCD装配工艺技术领域，具体而言，涉及适用于LCD装配流程的多次元评估方法及系统，该方法的步骤包括：以第一次元指数作为标的，依次选取关联器具及对应的装配模型作为输出，在选定不同仿真环境表征为LCD的工况执行器具装配评测，并按照第二次元指数作为标的对器具评测结果进行综合排序的同时，依据预设有光学算法的采集模组对LCD进行透镜成像评测，并按照第三次元指数作为标的对透镜评测结果进行排序，结合第一次元指数、第二次元指数及第三次元指数，并以效率优先作为装配序列进行融合计算，以最优选计算结果作为决策并输出，完成LCD装配流程的多次元评估。

Description

适用于LCD装配流程的多次元评估方法及系统

技术领域

本发明涉及LCD装配工艺技术领域，具体而言，涉及适用于LCD装配流程的多次元评估方法及系统。

背景技术

近年来，随着科技技术的不断创新，其对电子器件的装配工艺提出了向智能化发展的需求。目前，LCD的装配工艺技术已愈加成熟，其通常采用根据LCD的设计图纸或框架模型，通过自动或者半自动的方式对其进行装配。然而，这样却存在了以下问题：LCD的装配部件在市面上存在多种，且每种装配部件都是由不同厂商所生产，其质量大小不一，在实际生产中，无法评估各个装配部件对于LCD使用周期的影响，以及装配器具对于各个装配部件兼容性的影响；另外，屏幕作为LCD的显示端，其重要性不言而喻，现有技术中对于LCD的成像效果通常采用摄像头及TTR透镜的组合进行评估检测，由于受光量的影响，常常导致成像检测效果不好。基于此，我们亟需能够适用于LCD装配流程的多次元评估方法。

发明内容

本发明的目的在于提供适用于LCD装配流程的多次元评估方法及系统，通过采用第一次元指数、第二次元指数及第三次元指数分别对于LCD装配模型、LCD的装配部件及器具以及LCD的成像进行多次元评测，基于最终排序的最优化作为决策，克服了现有技术无法评估各个装配部件对于LCD使用周期的影响，以及装配器具对于各个装配部件兼容性的影响。

本发明的实施例通过以下技术方案实现：

适用于LCD装配流程的多次元评估方法，该方法的步骤包括：

以第一次元指数作为标的，依次选取关联器具及对应的装配模型作为输出，在选定不同仿真环境表征为LCD的工况执行器具装配评测，并按照第二次元指数作为标的对器具评测结果进行综合排序的同时，依据预设有光学算法的采集模组对LCD进行透镜成像评测，并按照第三次元指数作为标的对透镜评测结果进行排序，结合第一次元指数、第二次元指数及第三次元指数，并以效率优先作为装配序列进行融合计算，以最优选计算结果作为决策并输出，完成LCD装配流程的多次元评估。

可选的，对于第一次元指数作为标的，其评估过程为：

输入待建立的LCD装配模型，基于待建立的LCD装配模型获取LCD装配部件，并按照相似度分别选取LCD装配部件植入至模型相应区域，形成多个初始LCD装配模型，通过第一次元指数对多个初始LCD装配模型进行优化计算，同时按照相应价值度进行关联器具筛选，输出LCD装配指令包，所述LCD装配指令包由满足预期值的LCD装配模型及其对应的关联器具所组成。

可选的，对于第一次元指数作为标的的评估过程中，以获取前的LCD装配部件的部件成本及其余成本表征为LCD装配成本，基于设定量对所获取前的LCD装配部件进行过滤后，得到所述LCD装配部件。

可选的，对于第二次元指数作为标的，其评估过程为：

选定不同仿真环境表征为同一批次LCD的工况依次选取LCD装配指令执行器具装配评测，同时以同一批次LCD的故障率与维修周期作为第二次元指数的评测基准，求得LCD的器具评测结果，对LCD的器具评测结果进行综合排序并输出。

可选的，对于第二次元指数作为标的的评估过程中，具体以故障率表征LCD的标准工作时间与维修周期表征LCD的周期修复次数对LCD的器具评测结果进行综合排序，并按照综合排序结果从大到小的顺序输出。

可选的，对于第二次元指数作为标的的评估过程中，所述同一批次LCD的故障率与维修周期具体还包括同一批次LCD装配部件的故障率与维修周期。

可选的，对于第三次元指数作为标的，其评估过程为：

LCD的屏幕正前方设定距离处平行设置有光学透镜阵列，光学透镜的曲面包括多个装设有摄像头的孔隙，且各个摄像头之间相互连接，各个摄像头分别通过光学路径获取LCD的图像，在预设时间内，基于各个摄像头的布设区域构造第一时序与第二时序，将第一时序与第二时序结合并进行特定处理，依次对生成的特定时序进行读取、整合，并根据各个摄像头的关系对整合后的成像序列进行反向计算，形成光学优化后的透镜成像结果，以第三次元指数对透镜成像结果进行评测，得到LCD图像评测结果并输出。

可选的，对于第三次元指数作为标的的评估过程中，具体将第一时序与第二时序结合并进行错位计算，并对生成的错位时序进行依次读取，并根据单个时间序列进行整合，形成整合后的成像序列。

可选的，对于第三次元指数作为标的的评估过程中，光学透镜的曲面具体通过光学算法所建立。

适用于LCD装配流程的多次元评估系统，包括：

构造组，以第一次元指数作为标的，依次选取关联器具及对应的装配模型作为输出；

测试组，选定不同仿真环境表征为LCD的工况执行器具装配评测，并按照第二次元指数作为标的对器具评测结果进行综合排序并输出；

成像组，依据预设有光学算法的采集模组对LCD进行透镜成像评测，并按照第三次元指数作为标的对透镜评测结果进行排序并输出；

决策组，结合第一次元指数、第二次元指数及第三次元指数，并以效率优先作为装配序列进行融合计算，以最优选计算结果作为决策并输出。

本发明实施例的技术方案至少具有如下优点和有益效果：

本发明实施例提供了适用于LCD装配流程的多次元评估方法及系统，通过采用第一次元指数、第二次元指数及第三次元指数分别对于LCD装配模型、LCD的装配部件及器具以及LCD的成像进行多次元评测，基于最终排序的最优化作为决策，不仅克服了现有技术无法评估各个装配部件对于LCD使用周期的影响，与装配器具对于各个装配部件兼容性的影响，同时提升了LCD装配的质量性，也兼顾LCD装配的成本值。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本发明实施例提供的适用于LCD装配流程的多次元评估方法的整体流程示意图；

图2为本发明实施例提供的第一次元指数的评估流程示意图；

图3为本发明实施例提供的第二次元指数的评估流程示意图；

图4为本发明实施例提供的第三次元指数的评估流程示意图；

图5为本发明实施例提供的适用于LCD装配流程的多次元评估系统的原理示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

参照图1所示，图1为本发明实施例提供的适用于LCD装配流程的多次元评估方法的整体流程示意图。

在一种实施方式中，本发明实施例提供的适用于LCD装配流程的多次元评估方法，该方法的步骤包括：以第一次元指数作为标的，依次选取关联器具及对应的装配模型作为输出，在选定不同仿真环境表征为LCD的工况执行器具装配评测，并按照第二次元指数作为标的对器具评测结果进行综合排序的同时，依据预设有光学算法的采集模组对LCD进行透镜成像评测，并按照第三次元指数作为标的对透镜评测结果进行排序，结合第一次元指数、第二次元指数及第三次元指数，并以效率优先作为装配序列进行融合计算，以最优选计算结果作为决策并输出，完成LCD装配流程的多次元评估。

在上述实现过程中，第一次元指数作为LCD装配模型的评估指标，根据输入的LCD装配模型依次进行提取、优化及评测，直至LCD装配模型满足第一次元指数的预期值，植入筛选后的LCD装配部件至LCD装配模型的相应区域，以相同装配部件的LCD作为同一批次的LCD输出至第二次元指数处进行评测，第二次元指数作为LCD的器具及工况的评估指标，根据满足第一次元指数预期值的LCD装配模型及相应装配部件，通过仿真或虚拟组件对输入的LCD装配模型进行在不同工况环境下的装配及虚拟计算，获取同一批次LCD及装配部件的故障率与维修周期，筛选满足第二次元指数预期值的LCD及装配部件的故障率与维修周期，作为上述器具评测结果，并按照故障率由小到大，维修周期由大到小的顺序进行综合排列，形成器具评测结果的序列，之后，第三次元指数作为LCD显示成像的评估指标，基于LCD屏幕的正立面布设具有光学透镜的图像采集模组，以光学补偿作为受光量增加的方式对于LCD屏幕的成像进行更好的检测，形成不同LCD屏幕的透镜评测结果，之后同时基于第一次元指数、第二次元指数及第三次元指数，同时按照效率最优选的原则性再次对同时满足第一次元指数、第二次元指数及第三次元指数的LCD进行装配序列排序融合计算，保留融合计算最优结果作为LCD的装配决策，执行LCD的装配。

参照图2所示，图2为本发明实施例提供的第一次元指数的评估流程示意图。

在一种实施方式中，对于第一次元指数作为标的，其评估过程为：

输入待建立的LCD装配模型，基于待建立的LCD装配模型获取LCD装配部件，并按照相似度分别选取LCD装配部件植入至模型相应区域，形成多个初始LCD装配模型，通过第一次元指数对多个初始LCD装配模型进行优化计算，同时按照相应价值度进行关联器具筛选，输出LCD装配指令包，所述LCD装配指令包由满足预期值的LCD装配模型及其对应的关联器具所组成。

在上述实现过程中，待建立的LCD装配模型是根据需要实际生产的LCD进行构建，将待建立的LCD装配模型输入，根据待建立的LCD装配模型选取能够适配该LCD装配模型的装配部件，同时根据相似度值将装配部件仿真至该待建立的LCD装配模型中，由于不同装配部件所匹配的LCD装配模型不同，因此生成上述的多个初始LCD装配模型，并通过第一次元指数对多个初始LCD装配模型进行优化计算，若初始LCD装配模型与适配的装配部件能够满足LCD的特征值以及正常运行指标，则设定为满足第一次元指数的预期值，输入至关联器具筛选过程，若初始LCD装配模型与适配的装配部件不能满足LCD的特征值以及正常运行指标，则剔除该方案，重新进行选择及评测；LCD的装配关联器具具体根据价值度进行选取，优选效率高且装配质量优的器具作为关联器具，之后结合LCD装配模型、适配的装配部件及关联器具作为LCD装配指令包，按照上述实施方式中所述的同一批次作为LCD装配指令包的间隔，依次将LCD装配指令包输入至后续步骤中。

进一步的，对于第一次元指数作为标的的评估过程中，以获取前的LCD装配部件的部件成本及其余成本表征为LCD装配成本，基于设定的LCD装配成本及利润率对所获取前的LCD装配部件进行二度过滤，得到所述LCD装配部件，在提升了LCD装配的质量性的同时，也能够兼顾LCD装配的成本值。

参照图3所示，图3为本发明实施例提供的第二次元指数的评估流程示意图。

在一种实施方式中，对于第二次元指数作为标的，其评估过程为：

选定不同仿真环境表征为同一批次LCD的工况依次选取LCD装配指令执行器具装配评测，同时以同一批次LCD的故障率与维修周期作为第二次元指数的评测基准，求得LCD的器具评测结果，对LCD的器具评测结果进行综合排序并输出。

在上述实现过程中，选取适应于LCD装配工艺的仿真或虚拟组件，同时以不同的仿真环境表征为LCD的装配环境，基于上述实施方式中按同一批次划分的LCD装配指令包执行装配仿真或虚拟计算，其中，按同一批次划分的LCD装配指令包为等间隔时差进行输入，在仿真或虚拟计算中，分别获取同一批次LCD及装配部件的安装情况及使用情况，以安装情况作为第一筛选条件，将同一批次LCD装配中不满足设定安装情况的LCD装配指令进行筛除，在第一筛选条件完成后，以同一批次LCD及装配部件的故障率与维修周期作为第二筛选条件，将同一批次LCD装配中故障率超过设定值及低于设定维修周期的LCD装配指令进行筛除，其中，第一筛选条件及第二筛选条件共同构成本发明实施例中所述的第二次元指数，经过筛除后保留的LCD装配指令包同样按照同一批次进行划分，作为上述实施方式中的器具评测结果，同时按照故障率由小到大，维修周期由大到小的顺序进行综合排列，输出所述器具评测结果的序列。

进一步的，对于第二次元指数作为标的的评估过程中，具体以故障率表征LCD的标准工作时间与维修周期表征LCD的周期修复次数对LCD的器具评测结果进行综合排序，并按照综合排序结果从大到小的顺序输出，其中，LCD的故障率的计算公式表达为：

α_k表征为第k个评测周期中LCD的个数，β_k表征为第k个评测周期中故障LCD的个数，因此，所述同一批次的LCD的故障率计算公式表达为：

其中，

σ为同一批次LCD的总数。

进一步的，对于第二次元指数作为标的的评估过程中，所述同一批次LCD的故障率与维修周期具体还包括同一批次LCD装配部件的故障率与维修周期。

参照图4所示，图4为本发明实施例提供的第三次元指数的评估流程示意图。

在一种实施方式中，对于第三次元指数作为标的，其评估过程为：

LCD的屏幕正前方设定距离处平行设置有光学透镜阵列，光学透镜的曲面包括多个装设有摄像头的孔隙，且各个摄像头之间相互连接，各个摄像头分别通过光学路径获取LCD的图像，在预设时间内，基于各个摄像头的布设区域构造第一时序与第二时序，将第一时序与第二时序结合并进行特定处理，依次对生成的特定时序进行读取、整合，并根据各个摄像头的关系对整合后的成像序列进行反向计算，形成光学优化后的透镜成像结果，以第三次元指数对透镜成像结果进行评测，得到LCD图像评测结果并输出。

在上述实现过程中，设定距离具体为不低于1m且不超过5m，光学透镜阵列为多个光学透镜所组成，其中，光学透镜阵列其作为等同于在上述实施方式中所提到的图像采集模组，且其透镜曲面具体由光学算法所构造，设置有多个装设有摄像头的孔隙，光学算法在本实施方式中具体选用光学补偿算法，该光学透镜阵列中，能够形成从LCD的屏幕图像至摄像头的光学路径，能够保证LCD的屏幕图像能够在各个摄像头中同时成像，在本实施方式中，在光学透镜阵列处还设置有光量传感器，因此，本实施例中的第一时序具体为光量时序，第二时序即为信息读取时序，基于特定处理对第一时序与第二时序的结合进行触发，从而形成本实施方式中所述的特定时序，对特定时序的数据信息进行读取，并按照单位时序进行整合重组，其中，本实施方式中光学孔隙中包括有一个摄像头，根据摄像头的数量可将每帧LCD的图像划分为多个单位帧LCD图像，此处的整合重组即如上，之后对整合后的成像序列进行反向计算，基于第三次元指数评测透镜成像结果的光学补偿量，输出满足第三次元指数预期值的LCD透镜成像结果。

进一步的，对于第三次元指数作为标的的评估过程中，具体将第一时序与第二时序结合并进行错位计算，所述错位计算后获取的错位时序即本实施方式中所述的特定时序，并对生成的错位时序进行依次读取，并根据单个时间序列进行整合，形成整合后的成像序列。

进一步的，对于第三次元指数作为标的的评估过程中，光学透镜的曲面具体通过光学算法所建立，即本实施方式中所述的内容。

参照图5所示，图5为本发明实施例提供的适用于LCD装配流程的多次元评估系统的原理示意图。

在一种实施方式中，本发明实施例还提供了适用于LCD装配流程的多次元评估系统，包括：

构造组，以第一次元指数作为标的，依次选取关联器具及对应的装配模型作为输出；

测试组，选定不同仿真环境表征为LCD的工况执行器具装配评测，并按照第二次元指数作为标的对器具评测结果进行综合排序并输出；

成像组，依据预设有光学算法的采集模组对LCD进行透镜成像评测，并按照第三次元指数作为标的对透镜评测结果进行排序并输出；

决策组，结合第一次元指数、第二次元指数及第三次元指数，并以效率优先作为装配序列进行融合计算，以最优选计算结果作为决策并输出。

在上述实现过程中，构造组、测试组、成像组以及决策组分别对应实现上述实施方式中关于适用于LCD装配流程的多次元评估方法，综合上述实施方式与本实施方式中所述的第一次元指数、第二次元指数及第三次元指数，分别对于LCD装配模型、LCD的装配部件及器具以及LCD的成像进行多次元评测，基于最终排序的最优化作为决策，不仅克服了现有技术无法评估各个装配部件对于LCD使用周期的影响，与装配器具对于各个装配部件兼容性的影响，同时提升了LCD装配的质量性，也兼顾LCD装配的成本值。

以上仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.适用于LCD装配流程的多次元评估方法，其特征在于，该方法的步骤包括：

以第一次元指数作为标的，依次选取关联器具及对应的装配模型作为输出，在选定不同仿真环境表征为LCD的工况执行器具装配评测，并按照第二次元指数作为标的对器具评测结果进行综合排序的同时，依据预设有光学算法的采集模组对LCD进行透镜成像评测，并按照第三次元指数作为标的对透镜评测结果进行排序，结合第一次元指数、第二次元指数及第三次元指数，并以效率优先作为装配序列进行融合计算，以最优选计算结果作为决策并输出，完成LCD装配流程的多次元评估。

2.根据权利要求1所述的适用于LCD装配流程的多次元评估方法，其特征在于，对于第一次元指数作为标的，其评估过程为：

输入待建立的LCD装配模型，基于待建立的LCD装配模型获取LCD装配部件，并按照相似度分别选取LCD装配部件植入至模型相应区域，形成多个初始LCD装配模型，通过第一次元指数对多个初始LCD装配模型进行优化计算，同时按照相应价值度进行关联器具筛选，输出LCD装配指令包，所述LCD装配指令包由满足预期值的LCD装配模型及其对应的关联器具所组成。

3.根据权利要求2所述的适用于LCD装配流程的多次元评估方法，其特征在于，对于第一次元指数作为标的的评估过程中，以获取前的LCD装配部件的部件成本及其余成本表征为LCD装配成本，基于设定量对所获取前的LCD装配部件进行过滤后，得到所述LCD装配部件。

4.根据权利要求3所述的适用于LCD装配流程的多次元评估方法，其特征在于，对于第二次元指数作为标的，其评估过程为：

选定不同仿真环境表征为同一批次LCD的工况依次选取LCD装配指令执行器具装配评测，同时以同一批次LCD的故障率与维修周期作为第二次元指数的评测基准，求得LCD的器具评测结果，对LCD的器具评测结果进行综合排序并输出。

5.根据权利要求4所述的适用于LCD装配流程的多次元评估方法，其特征在于，对于第二次元指数作为标的的评估过程中，具体以故障率表征LCD的标准工作时间与维修周期表征LCD的周期修复次数对LCD的器具评测结果进行综合排序，并按照综合排序结果从大到小的顺序输出。

6.根据权利要求4所述的适用于LCD装配流程的多次元评估方法，其特征在于，对于第二次元指数作为标的的评估过程中，所述同一批次LCD的故障率与维修周期具体还包括同一批次LCD装配部件的故障率与维修周期。

7.根据权利要求1所述的适用于LCD装配流程的多次元评估方法，其特征在于，对于第三次元指数作为标的，其评估过程为：

LCD的屏幕正前方设定距离处平行设置有光学透镜阵列，光学透镜的曲面包括多个装设有摄像头的孔隙，且各个摄像头之间相互连接，各个摄像头分别通过光学路径获取LCD的图像，在预设时间内，基于各个摄像头的布设区域构造第一时序与第二时序，将第一时序与第二时序结合并进行特定处理，依次对生成的特定时序进行读取、整合，并根据各个摄像头的关系对整合后的成像序列进行反向计算，形成光学优化后的透镜成像结果，以第三次元指数对透镜成像结果进行评测，得到LCD图像评测结果并输出。

8.根据权利要求7所述的适用于LCD装配流程的多次元评估方法，其特征在于，对于第三次元指数作为标的的评估过程中，具体将第一时序与第二时序结合并进行错位计算，并对生成的错位时序进行依次读取，并根据单个时间序列进行整合，形成整合后的成像序列。

9.根据权利要求7所述的适用于LCD装配流程的多次元评估方法，其特征在于，对于第三次元指数作为标的的评估过程中，光学透镜的曲面具体通过光学算法所建立。

10.适用于LCD装配流程的多次元评估系统，其特征在于，包括：

构造组，以第一次元指数作为标的，依次选取关联器具及对应的装配模型作为输出；

测试组，选定不同仿真环境表征为LCD的工况执行器具装配评测，并按照第二次元指数作为标的对器具评测结果进行综合排序并输出；

成像组，依据预设有光学算法的采集模组对LCD进行透镜成像评测，并按照第三次元指数作为标的对透镜评测结果进行排序并输出；

决策组，结合第一次元指数、第二次元指数及第三次元指数，并以效率优先作为装配序列进行融合计算，以最优选计算结果作为决策并输出。

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