CN115667842A - 用于尺寸标注对象的系统和方法 - Google Patents

Abstract

一种用于尺寸标注对象的计算设备，包括：尺寸标注子系统，该尺寸标注子系统被配置为执行默认尺寸标注方法和备用尺寸标注方法；存储器，该存储器存储质量评估规则；处理器，该处理器与该尺寸标注子系统和该存储器连接，该处理器被配置为：控制该尺寸标注子系统执行该默认尺寸标注方法以获得默认尺寸标注数据；将针对该默认尺寸标注数据的质量度量与在该质量评估规则中限定的阈值条件进行比较；当该质量度量超过该阈值条件时，基于该默认尺寸标注数据来计算该对象的尺寸；并且当该质量度量没有超过该阈值条件时，控制该尺寸标注子系统执行该备用尺寸标注方法以获得备用尺寸标注数据，并基于该备用尺寸标注数据来计算该对象的尺寸。

Description

用于尺寸标注对象的系统和方法

背景技术

在各种应用中，确定对象的尺寸可能是必要的。例如，在装运之前确定仓库中包装的尺寸可能是期望的。某些尺寸标注方法可能不适用于尺寸标注某些类型的对象。

附图说明

附图(其中贯穿不同的视图，相同的附图标记表示相同的或功能类似的要素)连同下面的具体实施方式被并入说明书并形成说明书的一部分，并用于进一步说明包括所要求保护的发明的概念的实施例，以及解释那些实施例的各种原理和优势。

图1是示例尺寸标注系统的示意图。

图2是示出了图1的尺寸标注设备的某些内部部件的框图。

图3是在图1的系统中尺寸标注对象的示例方法的流程图。

图4是示出了图3的方法的示例执行的示意图。

图5是示出了图3的方法的另一示例执行的示意图。

本领域技术人员将理解，附图中的要素出于简化和清楚而示出，并且不一定按尺度绘制。例如，附图中的要素中的一些要素的尺寸可相对于其它要素被夸大以帮助提升对本发明的实施例的理解。

已在附图中通过常规符号在合适位置表示装置和方法构成，所述表示仅示出与理解本发明的实施例有关的那些特定细节，以免因对得益于本文的描述的本领域普通技术人员而言显而易见的细节而混淆本公开。

具体实施方式

本文公开的示例涉及一种用于尺寸标注对象的计算设备。该计算设备包括：尺寸标注子系统，该尺寸标注子系统能够执行默认尺寸标注方法和备用尺寸标注方法；存储器，该存储器存储质量评估规则；处理器，该处理器与该尺寸标注子系统和存储器连接，该处理器被配置为：控制该尺寸标注子系统执行默认尺寸标注方法以获得默认尺寸标注数据；计算针对该默认尺寸标注数据的质量度量；当该质量度量超过在该质量评估规则中限定的阈值条件时，基于该默认尺寸标注数据来计算该对象的尺寸；并且当该质量度量没有超过该阈值条件时，控制该尺寸标注子系统执行该备用尺寸标注方法以获得备用尺寸标注数据，并基于该备用尺寸标注数据来计算该对象的尺寸。

本文公开的附加示例涉及一种用于尺寸标注对象的方法。该方法包括：存储质量评估规则；控制尺寸标注设备的尺寸标注子系统执行默认尺寸标注方法以获得默认尺寸标注数据；将针对该默认尺寸标注数据的质量度量与在该质量评估规则中限定的阈值条件进行比较；当该质量度量超过该阈值条件时，基于该默认尺寸标注数据来计算该对象的尺寸；并且当该质量度量没有超过该阈值条件时，控制该尺寸标注子系统执行该备用尺寸标注方法以获得备用尺寸标注数据，并基于该备用尺寸标注数据来计算该对象的尺寸。

本文公开的附加示例涉及一种用于尺寸标注对象的方法。该方法包括：存储质量评估规则；控制尺寸标注设备的尺寸标注子系统执行默认尺寸标注方法以获得默认尺寸标注数据；将针对该默认尺寸标注数据的质量度量与在该质量评估规则中限定的阈值条件进行比较；以及基于将该质量度量与该阈值条件进行比较，选择该默认尺寸标注方法和备用尺寸标注方法中的一者来计算该对象的尺寸。

图1描绘了根据本公开的教导的尺寸标注系统100。系统100包括经由通信链路107(在本示例中被示为包括无线链路)与计算设备104(本文中称为尺寸标注设备104或简称为设备104)通信的服务器101。例如，链路107可通过由一个或多个接入点(未示出)部署的无线局域网(WLAN)提供。在其他示例中，服务器101远离设备104定位，并且因此链路107可包括一个或多个广域网，诸如因特网、移动网络等。

系统200，并且更具体地，设备104，被部署为尺寸标注一个或多个对象112-1和112-2。例如，对象112可以是运输和物流设施中的物品，诸如箱子或其他包装。如可见的，对象112-1是通过长度/深度、宽度和高度限定的规则框，而对象112-2具有非均匀结构。一些尺寸标注方法(诸如瞄准和点击(aim-and-click)立体尺寸标注方法)可能能够快速和准确地对规则对象(诸如对象112-1)进行尺寸标注。更复杂的对象(诸如对象112-2)对于立体尺寸标注方法来说可能是有挑战性的，因此可保证对于不规则形状物体进行尺寸标注更可靠的不同的尺寸标注。例如，可利用光学测程尺寸标注方法来标注对象112-2的尺寸。

不同的尺寸标注方法可更快或更有效，这取决于给定目标对象的各个方面，诸如颜色、反射率、表面空隙、形状(规则/不规则)、相对于尺寸标注设备的静止或移动、以及给定目标对象的大小、到目标的距离、或周围环境的各方面(例如，场景对比度、室内、室外、环境光强度和/或动态范围、目标周围的自由空间、地板颜色和纹理以及反射率、背景或附近对象、结构、墙壁)，因此可能需要多于一种的尺寸标注方法来处理遇到的货物的全部范围。当在尺寸标注方法之间切换时，操作员识别使用不同尺寸标注方法的条件并改变工作过程以适应不同的尺寸标注方法可能是具有挑战的。工作过程的变化包括操作员针对不同的尺寸标注方法执行不同的动作，以制定不同的设备-目标对象交互序列。例如，与默认尺寸标注方法相关联的设备-目标对象交互序列可能需要操作员简单地瞄准目标并捕获尺寸，而与备用方法相关联的替代的设备-目标对象交互序列则可能需要操作员与尺寸标注目标进行物理交互。在实施例中，为了执行替代的尺寸标注方法，尺寸标注设备104可警示操作员需要替代的设备-目标对象交互序列，而不是将设备瞄准对象。例如，尺寸标注设备104可提示用户沿着目标对象的一个或多个侧面或在目标对象的一个或多个侧面附近移动设备104。替代地或附加地，尺寸标注设备104可提示用户接触目标对象的拐角，以便帮助建立对象的参考点。

因此，设备104包括能够执行默认尺寸标注方法和一种或多种备用尺寸标注方法的尺寸标注子系统106。通常，默认尺寸标注方法可以相对更快、计算更简单和/或使操作员在尺寸标注操作期间操作更简单(即，更简单的设备-目标对象交互序列)，但可能具有一个或多个限制或条件，在该一个或多个限制或条件下，尺寸标注操作不太可靠。一个或多个备用尺寸标注方法可能相对较慢、计算上更复杂和/或使操作员在尺寸标注操作期间操作更复杂(即，更复杂的设备-目标对象交互序列)，但在更多种条件下可能更稳健。此外，在一些示例中，尺寸标注子系统106能够执行多于一种的备用尺寸标注方法。

例如，默认尺寸标注方法可以是具有瞄准和点击操作的基于立体的尺寸标注方法。例如，对于诸如具有非均匀结构的对象(诸如对象112-2)，基于立体的尺寸标注可能不太可靠。示例备用尺寸标注方法可以是基于光学测程的尺寸标注方法。基于光学测程的尺寸标注方法可能需要更多的时间和精力，并且可更准确地捕获具有非均匀结构的对象112-2的尺寸。还构想了其他默认和/或备用尺寸标注方法。例如，默认和/或备用尺寸标注方法可包括结构光尺寸标注方法、飞行时间尺寸标注方法、LiDAR、上述方法的组合等。

因此，尺寸标注子系统106可包括允许设备104执行默认尺寸标注方法和一个或多个备用尺寸标注方法的合适的硬件(例如，发射器、图像传感器、运动传感器(包括加速计、陀螺仪、磁力计等))。基于要在尺寸标注操作中执行的特定默认和备用尺寸标注方法来选择尺寸标注子系统106的特定部件。

例如，尺寸标注子系统106可包括被配置为捕获表示目标对象的图像数据的至少两个图像传感器，以获得用于基于立体的尺寸标注的对象的立体表示。尺寸标注子系统106可进一步包括被配置为跟踪设备104的连续姿态的跟踪传感器。

在操作中，设备104可自动选择用于尺寸标注目标对象的尺寸标注方法。更具体地，在尺寸标注操作期间，设备104可执行默认尺寸标注方法并评估与默认尺寸标注方法相关联的一个或多个质量度量。可在与默认尺寸标注方法相关联的第一设备-目标对象交互序列期间执行默认尺寸标注方法。然后，设备104可选择默认尺寸标注方法和备用尺寸标注方法中的一者，以基于将质量度量与阈值条件进行比较来计算目标对象的尺寸。例如，当与默认尺寸标注方法相关联的质量度量超过阈值条件时，设备104可使用来自默认尺寸标注方法的执行的尺寸标注数据来尺寸标注目标对象。当与默认尺寸标注方法相关联的质量度量没有超过阈值条件时，设备104可执行备用尺寸标注方法并使用来自备用尺寸标注方法的执行的尺寸标注数据来尺寸标注目标对象。可在与备用尺寸标注方法相关联的替代设备-目标对象交互序列期间执行备用尺寸标注方法。在一些示例中，为了提示操作员执行替代-设备目标对象交互序列，设备104可生成指示向备用尺寸标注方法和相关联的替代设备目标-对象交互序列的改变的警报。因此，设备104可使用默认尺寸标注方法或备用尺寸标注方法中的一者来尺寸标注各种对象，诸如对象112-1和112-2。

参考图2，更详细地示出了包括某些内部部件的移动计算设备104。设备104包括与非瞬态计算机可读存储介质(诸如存储器204)互连的处理器200。存储器204包括易失性存储器(例如，随机存取存储器或RAM)和非易失性存储器(例如，只读存储器或ROM、电可擦除可编程只读存储器或EEPROM、闪存存储器)的组合。处理器200和存储器204可各自包括一个或多个集成电路。

存储器204存储由处理器200执行的计算机可读指令。特别地，存储器204存储控制应用208，在由处理器200执行时，控制应用208将处理器200配置为执行下文更详细地讨论的并且与设备104的尺寸标注操作有关的各种功能。应用208还可以被实现为不同应用的套件。当通过应用208的执行来这样配置时，处理器200也可被称为控制器200。

本领域技术人员将理解，在其他实施例中，处理器200所实现的功能也可以由一个或多个专门设计的硬件和固件部件(诸如现场可配置门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)等)来实现。在实施例中，处理器200可以分别是可以经由ASIC、FPGA等的专用逻辑电路系统来实现的专用处理器，以便提高本文所讨论的尺寸标注操作的处理速度。

存储器204还存储用于尺寸标注操作的规则和数据。例如，存储器204可存储用于选择尺寸标注方法的质量评估规则。

设备104还包括与处理器200互连的通信接口216。通信接口216包括允许设备104经由链路107与其他计算设备(诸如服务器101)进行通信的合适的硬件(例如，发射机、接收机、网络接口控制器等)。基于设备104在其上通信的网络或其他链路的类型来选择通信接口216的具体部件。例如，设备104可被配置为使用通信接口经由链路107与服务器101通信，以将提取的目标数据发送到服务器101。

如图2所示，处理器200与尺寸标注子系统106互连。处理器200能够经由此类连接发出用于执行尺寸标注操作的命令。具体地，处理器200可控制尺寸标注子系统106以执行尺寸标注方法中的一个尺寸标注方法。如上所述，尺寸标注子系统106包括允许设备104执行默认尺寸标注方法和一个或多个备用尺寸标注方法的合适的硬件。在本示例中，尺寸标注子系统106包括两个图像传感器218-1和218-2。图像传感器218-1和218-2可以是彩色图像传感器或其他合适的传感器以捕获用于基于立体的尺寸标注的图像数据。在本示例中，尺寸标注子系统106进一步包括被配置为跟踪设备104的连续姿态的跟踪传感器220，以用于基于光学测程的尺寸标注。例如，跟踪传感器220可包括运动传感器，诸如加速计、陀螺仪、磁力计等。

处理器200还可以连接到一个或多个输入和/或输出设备224。输入设备224可包括用于接收来自操作员的输入(例如启动尺寸标注操作)的一个或多个按钮、辅助键盘、触敏显示屏等。输出设备224可进一步包括用于向操作员提供输出或反馈(例如输出尺寸标注方法的改变的指示，或者输出对象的所计算的尺寸)的一个或多个显示屏、声音发生器、振动器等。

现在将参考图3更详细地描述经由由处理器200执行应用208来实现的设备104的功能。图3示出了尺寸标注对象的方法300，将参考图1和图2中所示的部件，结合在系统100中的、并且特别是通过设备104的执行来描述方法300。将进一步描述当设备104采用基于立体的尺寸标注方法作为默认尺寸标注方法和基于光学测程的尺寸标注方法作为备用尺寸标注方法时的方法300。在其他示例中，方法300可由其他合适的计算设备执行，或者与其他合适的默认和备用尺寸标注方法一起执行。

方法300响应于启动信号(诸如输入设备224处的输入)开始于框305处。例如，操作员可激活触发按钮以启动方法300。在框305处，设备104被配置为执行默认尺寸标注方法以获得默认尺寸标注数据。更具体地，默认尺寸标注方法可在第一设备-目标对象交互序列期间执行。即，在本示例中，设备104被配置为执行基于立体的尺寸标注方法。相关联的设备-目标对象交互序列可用于操作员将设备104简单地瞄准目标对象。因此，设备104可控制尺寸标注子系统106的图像传感器218以捕获表示对象的图像数据。设备104可将从图像传感器218中的每个图像传感器218捕获的图像数据组合以获得对象的立体表示。默认尺寸标注数据可包括由尺寸标注子系统106捕获的原始数据(诸如由图像传感器218获得的图像数据)和经处理的数据(诸如所组合的对象的立体表示)。默认尺寸数据可进一步包括在尺寸标注操作期间由尺寸标注子系统106或设备104的其他传感器检测到的其他数据(例如，环境数据)。

在一些示例中，在框305处，设备104可在执行默认尺寸标注方法之前，在输出设备224处输出用于执行默认尺寸标注方法的指令。例如，设备104可显示文本指令，或产生音频信号以提示操作员将设备104指向目标对象，并在输入设备224处提供输入以启动由尺寸标注子系统106进行的数据捕获。

如上文所述，默认尺寸标注方法通常是一种快速、计算简单的尺寸标注方法。因此，可在每个尺寸标注操作期间执行默认尺寸标注方法。值得注意的是，在框305处，设备104被配置为响应于随后的尺寸标注操作的启动，恢复到默认尺寸标注方法，而不管先前尺寸标注操作中最终使用的尺寸标注方法如何。

在框310处，设备104被配置为计算用于默认尺寸标注数据的一个或多个质量度量。更具体地，质量度量表示经由执行默认标注方法获得的默认标注数据的预期质量(例如，准确性或可靠性)。

大体上，质量度量可基于如下项来计算：与默认尺寸标注方法本身相关联的方法度量、与目标对象的属性相关联的目标度量、与直接环境的属性相关联的环境度量、上述的组合等。在其他示例中，还可以利用影响默认尺寸标注数据的其他质量度量。更一般地，基于默认尺寸标注数据的可测量参数来计算质量度量，该可测量参数可以帮助计算潜在的尺寸效率和质量估计。

在本示例中，与立体尺寸标注方法相关联的方法度量可包括对象的立体表示的点云分析。具体地，如果点云密度不够高，或者点云包括在关键位置处缺失的深度点，则由于缺乏可用数据，所计算的维度可能不准确。因此，质量度量可包括例如，表示点云的所预测的质量的分数。在其他示例中，原始点云密度可被包括作为质量度量。与立体尺寸标注方法相关联的方法度量可进一步包括点云或深度图中缺失点的百分比、完成尺寸标注操作的图像帧的数量等。方法度量可进一步包括与尺寸标注子系统的传感器相关联的度量，包括但不限于尺寸标注子系统(例如，基于两个或更多个图像传感器的校准状态)的校准状态、其他传感器数据，该其他传感器数据包括传感器遮挡状态、传感器管道失速等。更一般地，方法度量可包括与默认尺寸标注方法相关联的元数据。

目标度量可包括目标对象的大小、反射率、轮廓、表面质量、(非分割)附近对象的存在或其他参数。例如，设备104可基于在框305处获得的图像数据来确定目标对象的大小、反射率、轮廓或表面质量。存储器204可存储目标对象参数的合适的范围。具体地，合适的范围可表示默认尺寸标注方法通常可获得精确尺寸标注结果的范围。例如，如果目标对象的大小在参考系内相对较大，或者如果目标对象的轮廓不规则，则立体尺寸标注结果可能较差。

环境度量可包括可能影响默认尺寸标注方法的效率的环境光或温度。存储器204可存储环境光和温度或其他环境参数的合适的范围。合适的范围可表示默认尺寸标注方法通常可获得准确的尺寸标注结果的范围。例如，在低光照条件下，立体尺寸标注结果可能较差。类似地，高或低的环境温度可能会改变光学器件并影响立体表示的校准。

在一些示例中，质量度量可包括立体尺寸标注方法的置信水平。置信水平可表示所计算的尺寸在目标对象的实际尺寸的阈值准确度内的可能性。置信水平可例如表示为分数、百分比等。例如，设备104可将所捕获的图像数据输入到基于机器学习的分析引擎，该分析引擎被训练以预测特定立体表示的准确度。在其他示例中，置信水平可基于帧计数分析，其中在框305处捕获多个图像数据帧，并且各个帧的置信水平被组合以实现尺寸标注操作的总体置信水平。

置信水平可例如基于上述度量(例如，点云密度、对象的大小、环境照明或其他合适的质量度量)中的一者或多者，并且可表示所组合的质量度量。在进一步的示例中，上述和其他分析方法的组合可有助于立体尺寸标注方法的置信水平。

在其他示例中，还可以计算其他组合的质量度量。例如，设备104可被配置为将上述各个质量度量中的每一者计算为分数(例如，表示为百分比)，并且所组合的质量度量可表示各个质量度量的平均分数。

在框315处，设备104被配置为将质量度量与阈值条件进行比较，以确定质量度量是否超过阈值条件。可在存储在存储器204中的质量评估规则中限定阈值条件。具体地，为了将质量度量与阈值条件进行比较，设备104可将各个质量度量与相应的单独阈值条件进行对比，并且将所组合的质量度量和相应的所组合的阈值条件进行比对。此外，各个阈值条件和所组合的阈值条件的不同组合可有助于阈值条件(即，总体阈值条件)。

例如，设备104可首先将每个单个质量度量与相应的单个阈值条件进行比较。即，如果任何单个质量度量没有超过其相应的单个阈值条件，则框315处的确定结果可以是否定的。如果所有的各个质量度量超过它们相应的各个阈值条件，设备104可将所组合的质量度量与所组合的阈值条件进行组合。如果所组合的质量度量没有超过其所组合的阈值条件，则框315处的确定结果可以是否定的。如果所组合的质量度量超过其所组合的阈值条件，则框315处的确定结果可以是肯定的。

在本示例中，设备104可被配置为确定立体表示的点云密度是否超过阈值密度、环境光和温度是否在相应的合适的光和温度范围内等。设备104还可被配置为确定所计算的立体尺寸标注方法的置信水平是否超过阈值置信水平。如果上述度量中的任何一个低于它们相应的阈值，或者在它们相应的阈值范围之外，则设备104可确定立体尺寸标注方法不太可能产生可靠、准确的结果，因此应当使用备用尺寸标注方法。

在其他示例中，设备104可被配置为主要依赖于所组合的质量度量，并且仅在某些条件下评估各个质量度量。例如，设备104可首先将所组合的质量度量与所组合的阈值条件进行比较。如果所组合的质量度量超过第一阈值，则框315处的确定结果可以是肯定的。如果所组合的质量度量低于第二阈值，则框315处的确定结果可以是否定的。如果所组合的质量度量在第一阈值和第二阈值之间，则设备104可被配置为确定任何单个质量度量是否不超过相应的单个阈值条件。如果任何单个质量度量没有超过相应的单个阈值条件，则框315处的确定结果可以是否定的。在一些示例中，可仅将单个质量度量的预定义子集与它们相应的单个阈值条件(例如，与默认尺寸标注方法的效率具有最高相关性的单个质量度量)进行比较。

如果框315处的确定结果是肯定时，设备104进行到框320。在框320处，设备104被配置为使用在框305处获得的默认尺寸标注数据来计算目标对象的尺寸。即，设备104根据默认尺寸标注方法来尺寸标注目标对象。在本示例中，设备104基于对象的立体表示来计算目标对象的尺寸。在一些示例中，设备104可在输出设备224处输出目标对象的所计算的尺寸，将目标对象的所计算的尺寸发送到服务器101，或者将目标对象的所计算的尺寸存储在存储器204中以供进一步处理。

如果框315处的确定结果是否定时，设备104进行到框325。在框325处，设备104被配置为执行备用尺寸标注方法以获得备用尺寸标注数据。备用尺寸标注方法可在替代的设备-目标对象交互序列期间执行。即，在本示例中，设备104被配置为执行基于光学测程的尺寸标注方法。相关联的设备-目标对象交互序列可用于操作员沿着目标对象的一个或多个侧面或在目标对象的一个或多个侧面附近移动设备104。在相关联的设备-目标对象交互序列期间，设备104可控制跟踪传感器220以跟踪设备104在参考系中的连续姿态，并检测与对象相关联的多个尺寸标注事件。响应于检测到尺寸标注事件中的每一个尺寸标注事件，设备104可基于姿态中的当前一个姿态生成参考系中的相应位姿。最终，设备104可基于该位姿生成参考系中的对象边界。即，设备104可通过基于设备104相对于目标对象的移动生成虚拟卷尺来尺寸标注目标对象。对象边界可表示由基于光学测程的尺寸标注方法产生的备用尺寸标注数据的至少一部分。备用尺寸数据可进一步包括在尺寸标注操作期间由尺寸标注子系统106或设备104的其他传感器检测到的其他数据(例如，环境数据)。

在一些示例中，在框325处，设备104可在执行备用尺寸标注方法之前，在输出设备224处输出向备用尺寸标注法的改变的指示。具体地，指示可被警示生成以指示向备用尺寸标注方法的改变，以提示操作员执行与备用尺寸标注方法相关联的替代设备-目标对象交互序列。例如，指示可包括输出设备224的显示器处的通知，或者指示改变的音频信号。在一些示例中，指示可进一步包括用于执行备用尺寸标注方法的指令。例如，设备104可提供提示操作员在目标对象周围和上方移动设备104的指令，以用于基于光学测程的尺寸标注方法。

在一些示例中，设备104可被配置为在从备用尺寸标注方法获得备用尺寸标注数据之后，并且在基于备用尺寸标注数据计算目标对象的尺寸之前，返回到框310以评估备用尺寸标注数据。更具体地，在框310处，设备104可计算针对备用尺寸标注数据的一个或多个质量度量。在框315处，如果备用质量度量超过备用尺寸标注数据的备用阈值条件，则设备104可使用备用尺寸标注数据来计算目标对象的尺寸。如果备用质量度量没有超过备用阈值条件，则设备104可执行进一步的备用尺寸标注方法以获得进一步的尺寸标注数据。设备104可基于可由设备104执行的备用尺寸标注方法来继续迭代框325、310和315。然后，设备104可基于由备用尺寸标注方法中的一个备用尺寸标注方法获得的进一步尺寸标注数据来计算对象的尺寸。

在框330处，设备104被配置为使用在框325处获得的备用尺寸标注数据来计算目标对象的尺寸。即，设备104根据备用尺寸标注方法来尺寸标注目标对象。在一些示例中，设备104可在输出设备224处输出目标对象的所计算的尺寸，将目标对象的所计算的尺寸发送到服务器101，或者将目标对象的所计算的尺寸存储在存储器204中以供进一步处理。

现在参考图4，描绘了尺寸标注操作400的示意图。具体地，将结合设备104对对象112-1进行尺寸标注的方法300的执行来描述尺寸标注操作400。

操作员可首先将设备104朝向要尺寸标注的对象112-1，并例如，在触发按钮处提供输入以发出尺寸标注操作400的初始化的信号。在框305处，设备104执行立体尺寸标注方法。具体地，设备104控制两个图像传感器218-1和218-2以捕获表示对象112-1的图像数据，并将它们组合已形成立体表示404。

在框310处，设备104计算针对立体表示404的质量度量。例如，设备104可计算立体表示404的点云密度和立体尺寸标注方法的置信水平。在本示例中，点云密度可以是高的，因为对象112-1的平坦表面很好地适合于立体处理。此外，基于目标对象112-1的轮廓和形状，立体尺寸标注方法的置信水平可以是高的。在框315处，设备104将点云密度与阈值密度进行比较，并将置信水平与阈值置信水平进行比较。具体地，在本示例中，设备104可确定超过阈值条件。

因此，在框320处，设备104基于立体表示404计算对象112-1的宽度406、高度408和深度410。设备104进一步在设备104的输出设备224处显示尺寸406、408、410。如将理解的，尺寸406、408、410可附加地被发送到服务器101或一个或多个附加的计算设备，并被存储在存储器204中以供进一步处理。

现在参考图5，描绘了尺寸标注操作500的示意图。具体地，将结合设备104对对象112-2进行尺寸标注的方法300的执行来描述尺寸标注操作500。

操作员可首先将设备104朝向要尺寸标注的对象112-2，并例如，在触发按钮处提供输入以发出尺寸标注操作500的初始化的信号。在框305处，设备104执行立体尺寸标注方法。具体地，设备104控制两个图像传感器218-1和218-2以捕获表示对象112-2的图像数据，并将它们组合已形成立体表示504。

在框310处，设备104计算针对立体表示504的质量度量。例如，设备104可计算立体表示504的点云密度和立体尺寸标注方法的置信水平。在本示例中，点云密度可以足够高，然而，基于目标对象112-2的轮廓和形状，立体尺寸标注方法的置信水平可以是低的。例如，由于对象112-2的不规则形状，可基于对象112-2不同的可能宽度来降低置信水平。因此，在框315处，设备104将点云密度与阈值密度进行比较，并且将置信水平与阈值置信水平进行比较，并确定没有超过阈值条件。

在框325处，设备104可提供向光学测程尺寸标注方法的改变的指示508，包括提示操作员执行与备用光学测程尺寸标注方法相关联的替代的设备-目标对象交互序列的指令。例如，操作员可移动设备104，使得设备104在若干方向上(例如，在所描绘的示例中在方向512上)遍历对象112-2，以便计算对象边界516。在框330处，设备104可使用对象边界516来计算对象112-2的宽度518、高度520和深度522。设备104进一步在设备104的输出设备224处显示尺寸518、520、522。

在上述说明书中，已经描述了具体实施例。然而，本领域普通技术人员理解，可以做出各种修改和改变而不脱离如以下权利要求书所阐述的本发明的范围。因此，说明书和附图被认为是说明性的而非限制性的意义，并且所有此类修改都旨在被包括在本教导的范围内。

这些益处、优势、问题解决方案以及可能使任何益处、优势或解决方案发生或变得更为突出的任何(多个)要素不被解释成任何或所有权利要求的关键的、必需的或必要的特征或要素。本发明仅由所附权利要求书限定，包括在本申请处于待审状态期间做出的任何修改以及授权公告的这些权利要求的所有等效物。

此外，在该文档中，诸如第一和第二、顶部和底部等之类的关系术语可以单独地用于区分一个实体或动作与另一实体或动作，而不一定要求或暗示此类实体或动作之间具有任何实际的此类关系或顺序。术语“包括”、“包括有”、“具有”、“具备”、“包含”、“包含有”、“涵盖”、“涵盖有”或它们的任何其他变型旨在覆盖非排他性包括，使得包括、具有、包含、涵盖一要素列表的过程、方法、物品或装置不仅包括那些要素还可包括未明确列出的或对此类过程、方法、物品或装置固有的其他要素。以“包括一”、“具有一”、“包含一”、“涵盖一”开头的要素，在没有更多约束条件的情形下，不排除在包括、具有、包含、涵盖该要素的过程、方法、物品或装置中有另外的相同要素存在。术语“一”和“一个”被定义为一个或更多个，除非本文中另有明确声明。术语“基本”、“大致”、“近似”、“约”或这些术语的任何其他版本被定义为如本领域技术人员理解的那样接近，并且在一个非限制性实施例中，这些术语被定义为在10％以内，在另一实施例中在5％以内，在另一实施例中在1％以内，而在另一实施例中在0.5％以内。本文中使用的术语“耦合的”被定义为连接的，尽管不一定是直接连接的也不一定是机械连接的。以某种方式“配置”的设备或结构至少以该种方式进行配置，但也可以以未列出的方式进行配置。

将理解，一些实施例可以包括一个或多个专用处理器(或“处理设备”)，诸如微处理器、数字信号处理器、定制的处理器和现场可编程门阵列(FPGA)以及唯一存储的程序指令(包括软件和固件两者)，所述唯一存储的程序指令控制一个或多个处理器以连同某些非处理器电路实现本文所描述的方法和/或装置的一些、多数或全部功能。替代地，一些或全部功能可以由不具有存储的程序指令的状态机来实现，或者在一个或多个专用集成电路(ASIC)中实现，其中，每种功能或所述功能中的某些功能的一些组合被实现为定制逻辑。当然，也可以使用这两种方法的组合。

此外，实施例可以实现为计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质具有存储在其上的计算机可读代码，用于对(例如，包括处理器的)计算机编程以执行如本文所描述和要求保护的方法。此类计算机可读存储介质的示例包括但不限于硬盘、CD-ROM、光存储设备、磁存储设备、ROM(只读存储器)、PROM(可编程只读存储器)、EPROM(可擦除可编程只读存储器)、EEPROM(电可擦除可编程只读存储器)以及闪存。此外，预期本领域普通技术人员虽然做出由例如，可用时间、当前技术和经济考虑促动的可能显著的努力以及许多设计选择，但在得到本文所公开的概念和原理指导时，将容易地能以最少的试验产生此类软件指令和程序以及IC。

本公开的摘要被提供以允许读者快速地确定本技术公开的性质。提交该摘要，并且理解该摘要将不用于解释或限制权利要求书的范围或含义。另外，在上述具体实施方式中，可以看出出于使本公开整体化的目的，各种特征在各种实施例中被编组到一起。这种公开方法不应被解释为反映要求保护的实施例与各项权利要求中明确记载的相比需要更多的特征的意图。相反，如以下权利要求所反映，发明主题在于少于单个公开的实施例的全部特征。因此，以下权利要求由此被并入具体实施方式中，其中各个权利要求作为单独要求保护的主题代表其自身。

Claims (31)

1.一种用于尺寸标注对象的计算设备，包括：

尺寸标注子系统，所述尺寸标注子系统被配置为执行默认尺寸标注方法和备用尺寸标注方法；

存储器，所述存储器存储质量评估规则；

处理器，所述处理器与所述尺寸标注子系统和所述存储器连接，所述处理器被配置为：

控制所述尺寸标注子系统执行所述默认尺寸标注方法以获得默认尺寸标注数据；

将针对所述默认尺寸标注数据的质量度量与在所述质量评估规则中限定的阈值条件进行比较；

当所述质量度量超过所述阈值条件时，基于所述默认尺寸标注数据来计算所述对象的尺寸；并且

当所述质量度量没有超过所述阈值条件时，控制所述尺寸标注子系统执行所述备用尺寸标注方法以获得备用尺寸标注数据，并基于所述备用尺寸标注数据来计算所述对象的所述尺寸。

2.如权利要求1所述的计算设备，其特征在于，所述尺寸标注子系统包括被配置为捕获表示所述对象的图像数据的至少两个图像传感器，并且其中为了执行所述默认尺寸标注方法，所述处理器被配置为：

在所述至少两个图像传感器处捕获表示所述对象的所述图像数据；

获得所述对象的立体表示；以及

基于所述立体表示计算所述对象的所述尺寸。

3.如权利要求2所述的计算设备，其特征在于，基于以下各项中的一者或多者来计算所述质量度量：与所述默认尺寸标注方法相关联的方法度量、与所述对象的属性相关联的目标度量以及与所述对象的直接环境的属性相关联的环境度量。

4.如权利要求1所述的计算设备，其特征在于，为了将所述质量度量与所述阈值条件进行比较，所述处理器被配置为：

将各个质量度量与相应的各个阈值条件进行比较；以及

将所组合的质量度量与相应的所组合的阈值条件进行比较。

5.如权利要求1所述的计算设备，其特征在于，所述尺寸标注子系统包括跟踪传感器，并且其中为了执行所述备用尺寸标注方法，所述处理器被配置为：

控制所述跟踪传感器以在参考系中跟踪所述计算设备的连续姿态；

检测与所述对象相关联的多个尺寸标注事件；

响应于检测到所述尺寸标注事件中的每一个尺寸标注事件，基于所述姿态中的当前姿态生成所述参考系中的相应位姿；以及

基于所述位姿生成所述参考系中的对象边界作为所述备用尺寸标注数据。

6.如权利要求1所述的计算设备，其特征在于，所述处理器被配置为在控制所述尺寸标注子系统执行所述备用尺寸标注方法之前，生成指示向所述备用尺寸标注方法的改变的警报，以提示操作员执行与所述备用尺寸标注方法相关联的替代的设备-目标对象交互序列。

7.如权利要求1所述的计算设备，其特征在于，所述处理器进一步被配置为响应于后续尺寸标注操作的启动，恢复到所述默认尺寸标注方法。

8.如权利要求1所述的计算设备，其特征在于，所述处理器进一步被配置为在基于所述备用尺寸标注数据计算所述对象的所述尺寸之前：

计算针对所述备用尺寸标注数据的备用质量度量；

当所述备用质量度量超过针对所述备用尺寸标注数据的备用阈值条件时，基于所述备用尺寸标注数据来计算所述对象的尺寸；并且

当所述备用质量度量没有超过所述备用阈值条件时，控制所述备用尺寸标注子系统执行进一步的备用尺寸标注方法以获得进一步的尺寸标注数据；以及

基于所述进一步的尺寸标注数据计算所述对象的所述尺寸。

9.一种用于尺寸标注对象的方法，所述方法包括：

存储质量评估规则；

控制尺寸标注设备的尺寸标注子系统执行默认尺寸标注方法以获得默认尺寸标注数据；

将针对所述默认尺寸标注数据的质量度量与在所述质量评估规则中限定的阈值条件进行比较；

当所述质量度量超过所述阈值条件时，基于所述默认尺寸标注数据来计算所述对象的尺寸；并且

当所述质量度量没有超过所述阈值条件时，控制所述尺寸标注子系统执行备用尺寸标注方法以获得备用尺寸标注数据，并基于所述备用尺寸标注数据来计算所述对象的所述尺寸。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，执行所述默认尺寸标注方法包括：

捕获表示所述对象的图像数据；

获得所述对象的立体表示；以及

基于所述立体表示计算所述对象的所述尺寸。

11.如权利要求10所述的方法，其特征在于，基于以下各项中的一者或多者来计算所述质量度量：与所述默认尺寸标注方法相关联的方法度量、与所述对象的属性相关联的目标度量以及与所述对象的直接环境的属性相关联的环境度量。

12.如权利要求9所述的方法，其特征在于，将所述质量度量与所述阈值条件进行比较包括：

将各个质量度量与相应的各个阈值条件进行比较；以及

将所组合的质量度量与相应的所组合的阈值条件进行比较。

13.如权利要求9所述的方法，其特征在于，执行所述备用尺寸标注方法包括：

控制跟踪传感器以在参考系中跟踪所述尺寸标注设备的连续姿态；

检测与所述对象相关联的多个尺寸标注事件；

响应于检测到所述尺寸标注事件中的每一个尺寸标注事件，基于所述姿态中的当前姿态生成所述参考系中的相应位姿；以及

基于所述位姿生成所述参考系中的对象边界作为所述备用尺寸标注数据。

14.如权利要求9所述的方法，进一步包括在控制所述尺寸标注子系统执行所述备用尺寸标注方法之前，生成指示向所述备用尺寸标注方法的改变的警报，以提示操作员执行与所述备用尺寸标注方法相关联的替代的设备-目标对象交互序列。

15.如权利要求9所述的方法，进一步包括响应于后续尺寸标注操作的启动，恢复到所述默认尺寸标注方法。

16.如权利要求9所述的方法，进一步包括基于所述备用尺寸标注数据计算所述对象的所述尺寸之前：

将针对所述备用尺寸标注数据的备用质量度量与备用阈值条件进行比较；

当所述备用质量度量超过所述备用阈值条件时，基于所述备用尺寸标注数据来计算所述对象的尺寸；并且

当所述备用质量度量没有超过所述备用阈值条件时，控制所述备用尺寸标注子系统执行进一步的备用尺寸标注方法以获得进一步的尺寸标注数据；以及

基于所述进一步的尺寸标注数据计算所述对象的所述尺寸。

17.一种用于尺寸标注对象的方法，所述方法包括：

存储质量评估规则；

控制尺寸标注设备的尺寸标注子系统执行默认尺寸标注方法以获得默认尺寸标注数据；

将针对所述默认尺寸标注数据的质量度量与在所述质量评估规则中限定的阈值条件进行比较；以及

基于将所述质量度量与所述阈值条件进行比较，选择所述默认尺寸标注方法和备用尺寸标注方法中的一者来计算所述对象的尺寸。

18.如权利要求17所述的方法，其特征在于，选择所述默认尺寸标注方法和所述备用尺寸标注方法中的一者包括：

当所述质量度量超过所述阈值条件时，选择所述默认尺寸标注方法来计算所述对象的所述尺寸；并且

当所述质量度量没有超过所述阈值条件时，选择所述备用尺寸标注方法来计算所述对象的所述尺寸。

19.如权利要求18所述的方法，其特征在于，执行所述默认尺寸标注方法包括：

捕获表示所述对象的图像数据；

获得所述对象的立体表示；以及

基于所述立体表示计算所述对象的所述尺寸。

20.如权利要求18所述的方法，其特征在于，选择所述备用尺寸标注方法包括：

控制跟踪传感器以在参考系中跟踪所述尺寸标注设备的连续姿态；

检测与所述对象相关联的多个尺寸标注事件；

响应于检测到所述尺寸标注事件中的每一个尺寸标注事件，基于所述姿态中的当前姿态生成所述参考系中的相应位姿；以及

基于所述位姿生成所述参考系中的对象边界作为备用尺寸标注数据；以及

基于所述备用尺寸标注数据计算所述对象的所述尺寸。

21.如权利要求20所述的方法，进一步包括基于所述备用尺寸标注数据计算所述对象的所述尺寸之前：

将针对所述备用尺寸标注数据的备用质量度量与备用阈值条件进行比较；

当所述备用质量度量超过所述备用阈值条件时，基于所述备用尺寸标注数据来计算所述对象的尺寸；并且

当所述备用质量度量没有超过所述备用阈值条件时，控制所述尺寸标注子系统执行进一步的尺寸标注方法以获得进一步的尺寸标注数据，并基于所述进一步的尺寸标注数据来计算所述对象的所述尺寸。

22.如权利要求18所述的方法，进一步包括在选择所述备用尺寸标注方法之前，向操作员警告向所述备用尺寸标注方法的改变，以允许所述操作员执行与所述备用尺寸标注方法相关联的替代的设备-目标对象交互序列。

23.如权利要求17所述的方法，其特征在于，基于以下各项中的一者或多者来计算所述质量度量：与所述默认尺寸标注方法相关联的方法度量、与所述对象的属性相关联的目标度量以及与所述对象的直接环境的属性相关联的环境度量。

24.如权利要求17所述的计算设备，其特征在于，将所述质量度量与所述阈值条件进行比较包括：

将各个质量度量与相应的各个阈值条件进行比较；以及

将所组合的质量度量与相应的所组合的阈值条件进行比较。

25.如权利要求17所述的方法，进一步包括响应于后续尺寸标注操作的启动，恢复到所述默认尺寸标注方法。

26.一种用于尺寸标注对象的方法，所述方法包括：

在第一设备-目标对象交互序列期间控制尺寸标注设备的尺寸标注子系统执行默认尺寸标注方法，以获得默认尺寸标注数据；

基于所述默认标注数据选择所述默认尺寸标注方法和备用尺寸标注方法中的一者来计算所述对象的尺寸；

当选择所述备用尺寸标注方法时，生成指示向所述备用尺寸标注方法的改变的警报以提示操作员执行与所述备用尺寸标注方法相关联的替代的设备-目标对象交互序列，并且控制所述尺寸标注子系统在所述替代的设备-目标对象交互序列期间执行所述备用尺寸标注方法。

27.如权利要求26所述的方法，其特征在于，选择所述默认尺寸标注方法和所述备用尺寸标注方法中的一者包括将针对所述默认尺寸标注方法的质量度量与阈值条件进行比较。

28.如权利要求27所述的方法，其特征在于，选择所述默认尺寸标注方法和所述备用尺寸标注方法中的一者进一步包括：

当所述质量度量超过所述阈值条件时，选择所述默认尺寸标注方法来计算所述对象的所述尺寸；并且

当所述质量度量没有超过所述阈值条件时，选择所述备用尺寸标注方法来计算所述对象的所述尺寸。

29.如权利要求26所述的方法，其特征在于，执行所述默认尺寸标注方法包括：

捕获表示所述对象的图像数据；

获得所述对象的立体表示；以及

基于所述立体表示计算所述对象的所述尺寸。

30.如权利要求26所述的方法，其特征在于，执行所述备用尺寸标注方法包括：

控制跟踪传感器以在参考系中跟踪所述尺寸标注设备的连续姿态；

检测与所述对象相关联的多个尺寸标注事件；

响应于检测到所述尺寸标注事件中的每一个尺寸标注事件，基于所述姿态中的当前姿态生成所述参考系中的相应位姿；以及

基于所述位姿生成所述参考系中的对象边界作为备用尺寸标注数据；以及

基于所述备用尺寸标注数据计算所述对象的所述尺寸。

31.如权利要求26所述的方法，进一步包括响应于后续尺寸标注操作的启动，恢复到所述默认尺寸标注方法。

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