CN115629342A - 一种serf惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法 - Google Patents

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CN115629342A CN202210664837.0A CN202210664837A CN115629342A CN 115629342 A CN115629342 A CN 115629342A CN 202210664837 A CN202210664837 A CN 202210664837A CN 115629342 A CN115629342 A CN 115629342A
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Abstract

一种SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法，以SERF惯性测量系统为研究对象，将检测光稳光强后残留的误差定位至检测光的非理想线偏振上，建立了一种实时测量检测光抽运效应的方法。该方法以Bloch方程的稳态解为基础，通过不同检测光强度下从幅频响应和阶跃调制实验中获得的偏振信息，结合实时的输出偏置，得到用于评估功率、频率和偏振度对检测光抽运效应的综合影响的乘积项。解决了过去未对检测光引起的抽运效应进行定量评估的问题，为从根本上抑制检测光抽运效应对系统的不利影响提供了理论基础，同时也可以改变过去因检测功率小引起的信噪比低的问题。

Description

一种SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法
技术领域
本发明涉及一种SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法，属于原子惯性测量系统领域，也可以用于原子磁强计领域。
背景技术
利用自旋交换光泵超极化的稀有气体在传感转速、测量洛伦兹(Lorentz)和CPT(电荷-宇称-时间反演对称破缺)反常等方面有着广泛的应用。在这些应用中，基于无自旋交换弛豫(Spin-Exchange Relaxation-Free，SERF)技术的SERF惯性测量系统具有理论精度高、体积小、成本低、动态范围小等特点，可作为未来平台式惯导系统，因为它对旋转具有极高的灵敏度。SERF原子自旋惯性测量系统采用抽运光和检测光正交的外部结构。内核是碱金属和惰性气体的混合物。电子自旋和核自旋状态的高稳定性是SERF惯性测量系统性能的核心要素。然而，非理想线偏振检测光束的圆偏振分量产生的横向抽运效应会影响电子自旋的方向和稳定性。
传统的检测光抽运效应一般作为典型值计算，缺少检测光抽运效应对系统影响的机理分析，未建立起直接关系，存在个别测量方法，但不能系统的评估。无法从根本上抑制检测光抽运效应对系统的不利影响，同时也解决不了因检测功率小引起的信噪比低的问题。
综上，随着原子自旋磁场\惯性测量技术的发展和应用的普及，定量测量检测光的抽运效应是必要的，而这方面的实践研究还比较缺乏。本专利的核心为研究检测光抽运效应的测量方法，为从根本上抑制检测光的抽运效应及解决目前因检测功率引起的信噪比低的问题提供评判标准及理论基础，对系统稳定性的提升具有重要意义。
发明内容
本发明解决的问题是：解决检测光抽运效应的测量问题，明确检测光抽运效应对原子惯性测量系统影响的机理，克服现有原子自旋惯性测量系统检测光抽运效应测量非实时、且导致检测光功率降低的问题，为从根本上抑制检测光的抽运效应及解决目前因检测功率引起的信噪比低的问题提供评判标准及理论基础，以提高SERF惯性测量系统的稳定性。
本发明的技术解决方案如下：
一种SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1，将SERF惯性测量系统碱金属气室加热到工作温度，待激光将原子极化到稳态时，采用磁场交叉调制补偿技术补偿磁场，此时惯性测量系统工作在“惯性测量系统补偿点”，测试记录惯性测量系统稳态偏置信号Vout，转动惯性测量系统获得自旋惯性测量装置的刻度系数K；
步骤2，通过幅频响应实验：在X轴施加一系列不同频率的正弦信号，记录系统输出的峰峰值，并进行拟合；以及阶跃调制实验：不断改变Z轴线圈的电压以改变系统在Z轴受到的磁场，获得系统输出的值，并进行拟合，通过上述实验拟合获得惯性测量系统Z轴光频移Lz、电子弛豫率
Figure BDA0003692554000000021
和X轴光频移Lx；
步骤3，改变Z轴磁场偏置Bz，继续进行幅频响应实验，获得不同磁场偏置下的电子共振峰ωe，将磁场偏置与电子共振峰拟合，获得减慢因子Q，再通过减慢因子得到电子极化率
Figure BDA0003692554000000022
从而获得该检测光功率下Rmsm的测量值，此处的Rmsm是一个乘积项，其中Rm为检测光的抽运速率，sm为检测光的圆偏振度；
步骤4，在不同检测光功率下，重复步骤1至步骤3，获得不同检测光功率下的Rmsm；
步骤5，采用线性最小二乘拟合法，得到Rmsm与检测光功率I0之间的线性关系:Rmsm＝KII0+b,b为常量，KI为斜率，根据KI的大小即可判断目前SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的大小。
所述检测光抽运效应是检测光稳光强后残留误差的组成部分，由球形气室退偏和气体圆二项色性吸收产生，影响了惯性测量系统的稳态输出。
所述检测光从检测激光器发射后，顺序经过第一起偏器、检测液晶模块、第一检偏器、第一反射镜、第一半波片、格兰泰勒棱镜、第一四分之一波片、气室、第二半波片后到达第一偏振分束棱镜，第一偏振分束棱镜分别连接第二光电探测器和第三光电探测器，第二光电探测器和第三光电探测器均连接SERF惯性测量系统输出端，所述格兰泰勒棱镜依次通过第一光电探测器和第二电控模块连接检测液晶模块，所述气室外围设置有烤箱、三维磁场线圈和磁屏蔽结构。
所述自旋惯性测量装置包括抽运激光器，所述抽运激光器发射的抽运光顺序经过第一透镜、第二透镜、第二反射镜、第二起偏器、抽运光路液晶模块、第二检偏器、第三半波片和组合棱镜后穿过气室，所述组合棱镜依次通过第四光电探测器和第一电控模块连接抽运光路液晶模块。
通过记录获得不同检测光功率I0下的惯性测量系统稳态偏置信号Vout，通过转动获得惯性测量系统刻度系数K，通过幅频响应实验及阶跃调制实验获得惯性测量系统的Z轴光频移Lz、电子弛豫率
Figure BDA0003692554000000031
通过测量减慢因子Q的方法得到电子极化率
Figure BDA0003692554000000032
从而获得此检测光功率下的Rmsm,改变检测光功率进行拟合，最终获得Rmsm与检测光功率I0的线性关系。
KI越小表示检测光抽运效应越小。
本发明的技术效果如下：本发明一种SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法，以SERF惯性测量系统为研究对象，将检测光稳光强后残留的误差定位至检测光的非理想线偏振上，建立了一种实时测量检测光抽运效应的方法。该方法以Bloch方程的稳态解为基础，通过不同检测光强度下从幅频响应和阶跃调制实验中获得的偏振信息，结合实时的输出偏置，得到用于评估功率、频率和偏振度对检测光抽运效应的综合影响的乘积项。解决了过去未对检测光引起的抽运效应进行定量评估的问题，为从根本上抑制检测光抽运效应对系统的不利影响提供了理论基础，同时也可以改变过去因检测功率小引起的信噪比低的问题。
附图说明
图1是实施本发明一种SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法流程示意图。图1中包括步骤1，启动SERF原子自旋惯性测量装置，当陀螺工作在“陀螺补偿点”时(即惯性测量系统工作在“惯性测量系统补偿点”)，测试记录陀螺稳态偏置信号Vout(即惯性测量系统稳态偏置信号Vout)，通过旋转获得自旋惯性测量装置的刻度系数K；步骤2，通过幅频响应实验及阶跃调制实验获得陀螺的Z轴光频移Lz、X轴光频移Lx、电子弛豫率
Figure BDA0003692554000000033
步骤3，改变Z方向磁场偏置Bz，继续进行幅频响应测量，通过测量减慢因子的方法得到电子极化率
Figure BDA0003692554000000034
获得该检测光功率下的Rmsm(Rm为检测光的抽运速率，sm为检测光的圆偏振度)；步骤4，改变检测光功率I0，重复进行上述操作(即重复步骤1至步骤3)，将获得的参数带入至Rmsm的测量方程中，得到不同检测光功率下的Rmsm；步骤5，采用线性最小二乘拟合法，得到Rmsm与检测光功率I0之间的线性关系:Rmsm＝KII0+b,利用KI的值判断检测光抽运效应的大小。
图2为本发明中SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法的实验系统示意图。
附图标记列示如下：1-检测激光器；2-第一起偏器(检测液晶模块起偏器)；3-检测液晶模块；4-第一检偏器(检测液晶模块检偏器)；5-第一反射镜(检测光路反射镜)；6-第一半波片(检测光路入气室前半波片)；7-格兰泰勒棱镜；8-第一四分之一波片；10-第一光电探测器(检测光路光电探测器)；11-磁屏蔽结构/三维磁场线圈(三维磁场线圈设置在磁屏蔽结构内)；12-烤箱；13-气室；14-第二半波片(检测光路出气室后半波片)；15-第一偏振分束棱镜(检测光路偏振分束棱镜)；16-第二光电探测器(差分检测模块的光电探测器1)或第三光电探测器(差分检测模块的光电探测器2)；17-SERF惯性测量系统输出端；18-抽运激光器；19-第一透镜(扩束透镜组透镜1)；20-第二透镜(扩束透镜组透镜2)；21-第二反射镜(抽运光路反射镜)；22-第二起偏器(抽运光路液晶模块起偏器)；23-抽运光路液晶模块；24-第二检偏器(抽运光路液晶模块检偏器)；25-第三半波片(抽运光路半波片)；26-组合棱镜(偏振分束棱镜和四分之一波片胶合而成，四分之一波片朝向气室)；27-第四光电探测器(抽运光路光电探测器)；28-第一电控模块(抽运光路电控模块)；29-第二电控模块(检测光路电控模块)。
具体实施方式
下面结合附图(图1-图2)和实施例对本发明进行说明。
图1是实施本发明一种SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法流程示意图。图2为本发明中SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法的实验系统示意图。参考图1至图2，一种SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法，包括以下步骤：步骤1，将SERF惯性测量系统碱金属气室加热到工作温度，待激光将原子极化到稳态时，采用磁场交叉调制补偿技术补偿磁场，此时惯性测量系统工作在“惯性测量系统补偿点”，测试记录惯性测量系统稳态偏置信号Vout，转动惯性测量系统获得自旋惯性测量装置的刻度系数K；步骤2，通过幅频响应实验：在X轴施加一系列不同频率的正弦信号，记录系统输出的峰峰值，并进行拟合；以及阶跃调制实验：不断改变Z轴线圈的电压以改变系统在Z轴受到的磁场，获得系统输出的值，并进行拟合，通过上述实验拟合获得惯性测量系统Z轴光频移Lz、电子弛豫率
Figure BDA0003692554000000041
和X轴光频移Lx；步骤3，改变Z轴磁场偏置Bz，继续进行幅频响应实验，获得不同磁场偏置下的电子共振峰ωe，将磁场偏置与电子共振峰拟合，获得减慢因子Q，再通过减慢因子得到电子极化率
Figure BDA0003692554000000042
将获得的项带入至Rmsm的测量方程中，获得该检测光功率下Rmsm的测量值，此处的Rmsm是一个乘积项，其中Rm为检测光的抽运速率，sm为检测光的圆偏振度；步骤4，在不同检测光功率下，重复步骤1至步骤3，获得不同检测光功率下的Rmsm；步骤5，采用线性最小二乘拟合法，得到Rmsm与检测光功率I0之间的线性关系:Rmsm＝KII0+b,b为常量，KI为斜率，根据KI的大小即可判断目前SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的大小。所述检测光抽运效应是检测光稳光强后残留误差的组成部分，由球形气室退偏和气体圆二项色性吸收产生，影响了惯性测量系统的稳态输出。
所述检测光从检测激光器1发射后，顺序经过第一起偏器2、检测液晶模块3、第一检偏器4、第一反射镜5、第一半波片6、格兰泰勒棱镜7、第一四分之一波片8、气室13、第二半波片14后到达第一偏振分束棱镜15，第一偏振分束棱镜15分别连接第二光电探测器和第三光电探测器16，第二光电探测器和第三光电探测器16均连接SERF惯性测量系统输出端17，所述格兰泰勒棱镜7依次通过第一光电探测器10和第二电控模块29连接检测液晶模块3，所述气室13外围设置有烤箱12、三维磁场线圈和磁屏蔽结构11。所述自旋惯性测量装置包括抽运激光器18，所述抽运激光器18发射的抽运光顺序经过第一透镜19、第二透镜20、第二反射镜21、第二起偏器22、抽运光路液晶模块23、第二检偏器24、第三半波片25和组合棱镜26后穿过气室13，所述组合棱镜26依次通过第四光电探测器27和第一电控模块28连接抽运光路液晶模块23。
通过记录获得不同检测光功率I0下的惯性测量系统稳态偏置信号Vout，通过转动获得惯性测量系统刻度系数K，通过幅频响应实验及阶跃调制实验获得惯性测量系统的Z轴光频移Lz、电子弛豫率
Figure BDA0003692554000000051
通过测量减慢因子Q的方法得到电子极化率
Figure BDA0003692554000000052
带入公式中获得此检测光功率下的Rmsm,改变检测光功率进行拟合，最终获得Rmsm与检测光功率I0的线性关系。KI越小表示检测光抽运效应越小。
一种SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法，其实现方法及步骤如下：
(1)将原子惯性测量系统碱金属气室加热到工作温度，待激光将原子极化到稳态时，采用磁场交叉调制补偿技术补偿磁场，此时惯性测量系统工作在“惯性测量系统补偿点”测试记录惯性测量系统稳态偏置信号Vout，转动惯性测量系统获得自旋惯性测量装置的刻度系数K；
(2)通过幅频响应实验：在x轴施加一系列不同频率的正弦信号，记录系统输出的峰峰值，并进行拟合；以及阶跃调制实验：不断改变Z轴线圈的电压以改变系统在Z轴受到的磁场，获得系统输出的值，并进行拟合，通过上述实验拟合获得惯性测量系统Z轴的光频移Lz、电子弛豫率
Figure BDA0003692554000000053
沿X轴的横向光频移Lx；
(3)改变Z方向的磁场偏置Bz，继续进行幅频响应实验的测量，获得不同磁场偏置下的电子共振峰ωe，将磁场偏置与电子共振峰拟合，获得减慢因子Q，再通过减慢因子得到电子极化率Pz e，将获得的项带入至Rmsm的测量方程中，获得该检测光功率下Rmsm的测量值，此处的Rmsm是一个乘积项，其中Rm为检测光的抽运速率，sm为检测光的圆偏振度；
(4)在不同检测光功率下，重复步骤(1)-(3)，获得不同检测光功率下的Rmsm；
(5)采用线性最小二乘拟合法，得到Rmsm与检测光功率I0之间的线性关系:Rmsm＝KII0+b,根据KI的大小即可判断目前SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的大小。
本发明的原理在于：当原子自旋惯性测量装置工作在高温弱磁状态时，原子处于SERF状态。其自旋系综的动力学可以由一组Bloch方程描述，电子自旋极化率Pe和核自旋极化率Pn可表示为
Figure BDA0003692554000000061
Figure BDA0003692554000000062
其中，t为时间，Ω为旋转速率，γe和γn分别为电子和核子的旋磁比，Q是减慢因子，B是环境剩磁，Be和Bn是电子自旋和核自旋产生的磁场，L为总光频移，
Figure BDA0003692554000000063
和
Figure BDA0003692554000000064
是电子自旋和核自旋间的自旋交换率，
Figure BDA0003692554000000065
是电子弛豫率，
Figure BDA0003692554000000066
是核自旋破坏率，Rp和Rm表示抽运光和检测光产生的抽运速率，sp和sm分别是抽运光和检测光的光子自旋矢量。
当抽运光束沿z方向，检测光束沿x方向时，电子自旋极化率随输入角速度沿x轴方向的稳态解
Figure BDA0003692554000000067
可表示为：
Figure BDA0003692554000000068
其中，δBz为Z轴磁场Bz的变化量，Lx为沿X轴的光频移，Lz为沿Z轴的光频移。
利用线偏振光检测原子进动信号。波长为与Rb的D2线失谐0.5nm。根据圆双折射原理，该信号将表现为偏振面的旋转，旋转角θ可表示为
Figure BDA0003692554000000069
其中，l为检测光经过气室的长度，n为碱金属原子数密度，re为经典电子半径，c为光速，f为振荡强度，L(v)为与频率v相关的洛伦兹线型。
偏振分束器和两个光电探测器可以得到偏振面的变化，作为电信号输出，这是原子自旋惯性测量装置的最终输出信号。检测光泵浦速率的测量是在输入角速度为零的静止条件下进行的，输出信号可以简化为
Figure BDA0003692554000000071
其中，KPD为光电二极管的光与电压的转换系数，I0为检测光强度，K为通过高精度转台校准获得的测量刻度系数，可以表示为
Figure BDA0003692554000000072
联立上述公式，可以得到Rmsm与检测光功率频率相关的函数
Figure BDA0003692554000000073
结合测量的检测光功率及输出信号，结合阶跃调制实验及幅频响应获得总的光频移L、电子极化率
Figure BDA0003692554000000074
电子弛豫率
Figure BDA0003692554000000075
等参数，就可以得到当前检测光的抽运率，即可以得到检测光的抽运效应。
本发明与现有技术相比的优点在于：解决检测光抽运效应的定量测量问题，明确检测光抽运效应对原子惯性测量系统影响的机理分析，克服现有原子自旋惯性测量系统检测光抽运效应非实时、降检测光功率的问题，为从根本上抑制检测光的抽运效应提供评判标准及理论基础，以提高系统的稳定性及灵敏度。
如图1所示，本发明具体实施步骤如下：
(1)将惯性测量装置的碱金属气室加热到工作温度，用一束圆偏振抽运光极化碱金属电子，碱金属电子通过自旋交换极化惰性气体核子，待激光将原子极化到稳态时，采用磁场交叉调制补偿技术补偿磁场，此时惯性测量系统工作在“惯性测量系统补偿点”测试记录惯性测量系统稳态偏置信号Vout，转动惯性测量系统获得自旋惯性测量装置的刻度系数K；
其中，抽运激光输出的光经过由扩束透镜组、线偏振片、稳功率执行器、1/2波片、偏振分光棱镜、光电探测器和电子控制单元组成的功率稳定系统，实现功率闭环控制。之后经过光隔离品转换为光斑直径等于气室直径的圆偏振光。碱金属气室安装于屏蔽筒和三维磁场线圈内部，三维磁场线圈由X方向磁场线圈、Y方向磁场线圈和Z方向磁场线圈构成。线圈中的驱动电压由信号发生器控制。
检测激光输出的光经过由线偏振片、稳功率执行器、1/2波片、偏振分光棱镜、光电探测器和电子控制单元组成的功率稳定系统，实现功率闭环控制和功率设定。之后经过反射镜和1/2波片加格兰泰勒棱镜后转换为线偏振光经过碱金属气室，在经过1/2波片和PBS棱镜分为两束光经过差分探测器，差分探测器输出信号至数据记录仪；
(2)通过幅频响应实验：在x轴施加一系列不同频率的正弦信号，记录系统输出的峰峰值，并进行拟合；以及阶跃调制实验：不断改变Z轴线圈的电压以改变系统在Z轴受到的磁场，获得系统输出的值，并进行拟合，通过上述实验拟合获得惯性测量系统Z轴的光频移Lz、电子弛豫率
Figure BDA0003692554000000081
沿X轴的横向光频移Lx；
(3)改变Z方向的磁场偏置Bz，继续进行幅频响应实验的测量，获得不同磁场偏置下的电子共振峰ωe，将磁场偏置与电子共振峰拟合，获得减慢因子Q，再通过减慢因子得到电子极化率
Figure BDA0003692554000000082
将获得的项带入至Rmsm的测量方程中，获得该检测光功率下Rmsm的测量值，此处的Rmsm是一个乘积项，其中Rm为检测光的抽运速率，sm为检测光的圆偏振度；
(4)在不同检测光功率下，重复步骤(1)-(3)，获得不同检测光功率下的Rmsm；
(5)采用线性最小二乘拟合法，得到Rmsm与检测光功率I0之间的线性关系:Rmsm＝KII0+b,根据KI的大小即可判断目前SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的大小。
本发明说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。在此指明，以上叙述有助于本领域技术人员理解本发明创造，但并非限制本发明创造的保护范围。任何没有脱离本发明创造实质内容的对以上叙述的等同替换、修饰改进和/或删繁从简而进行的实施，均落入本发明创造的保护范围。

Claims (6)

1.一种SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1，将SERF惯性测量系统碱金属气室加热到工作温度，待激光将原子极化到稳态时，采用磁场交叉调制补偿技术补偿磁场，此时惯性测量系统工作在“惯性测量系统补偿点”，测试记录惯性测量系统稳态偏置信号Vout，转动惯性测量系统获得自旋惯性测量装置的刻度系数K；
步骤2，通过幅频响应实验：在X轴施加一系列不同频率的正弦信号，记录系统输出的峰峰值，并进行拟合；以及阶跃调制实验：不断改变Z轴线圈的电压以改变系统在Z轴受到的磁场，获得系统输出的值，并进行拟合，通过上述实验拟合获得惯性测量系统Z轴光频移Lz、电子弛豫率
Figure FDA0003692553990000011
和X轴光频移Lx；
步骤3，改变Z轴磁场偏置Bz，继续进行幅频响应实验，获得不同磁场偏置下的电子共振峰ωe，将磁场偏置与电子共振峰拟合，获得减慢因子Q，再通过减慢因子得到电子极化率
Figure FDA0003692553990000012
从而获得该检测光功率下Rmsm的测量值，此处的Rmsm是一个乘积项，其中Rm为检测光的抽运速率，sm为检测光的圆偏振度；
步骤4，在不同检测光功率下，重复步骤1至步骤3，获得不同检测光功率下的Rmsm；
步骤5，采用线性最小二乘拟合法，得到Rmsm与检测光功率I0之间的线性关系:Rmsm＝KII0+b,b为常量，KI为斜率，根据KI的大小即可判断目前SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的大小。
2.根据权利要求1所述的SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法，其特征在于，所述检测光抽运效应是检测光稳光强后残留误差的组成部分，由球形气室退偏和气体圆二项色性吸收产生，影响了惯性测量系统的稳态输出。
3.根据权利要求1所述的SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法，其特征在于，所述检测光从检测激光器发射后，顺序经过第一起偏器、检测液晶模块、第一检偏器、第一反射镜、第一半波片、格兰泰勒棱镜、第一四分之一波片、气室、第二半波片后到达第一偏振分束棱镜，第一偏振分束棱镜分别连接第二光电探测器和第三光电探测器，第二光电探测器和第三光电探测器均连接SERF惯性测量系统输出端，所述格兰泰勒棱镜依次通过第一光电探测器和第二电控模块连接检测液晶模块，所述气室外围设置有烤箱、三维磁场线圈和磁屏蔽结构。
4.根据权利要求1所述的SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法，其特征在于，所述自旋惯性测量装置包括抽运激光器，所述抽运激光器发射的抽运光顺序经过第一透镜、第二透镜、第二反射镜、第二起偏器、抽运光路液晶模块、第二检偏器、第三半波片和组合棱镜后穿过气室，所述组合棱镜依次通过第四光电探测器和第一电控模块连接抽运光路液晶模块。
5.根据权利要求1所述的SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法，其特征在于，通过记录获得不同检测光功率I0下的惯性测量系统稳态偏置信号Vout，通过转动获得惯性测量系统刻度系数K，通过幅频响应实验及阶跃调制实验获得惯性测量系统的Z轴光频移Lz、电子弛豫率
Figure FDA0003692553990000021
通过测量减慢因子Q的方法得到电子极化率
Figure FDA0003692553990000022
从而获得此检测光功率下的Rmsm,改变检测光功率进行拟合，最终获得Rmsm与检测光功率I0的线性关系。
6.根据权利要求1所述的SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法，其特征在于，KI越小表示检测光抽运效应越小。
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