CN115560948A - 一种干涉瑞利散射湍流度测量方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种干涉瑞利散射湍流度测量方法及装置，激光器的波长调谐范围、气体流场的速度范围，确定背景干扰信号和瑞利散射信号的光谱范围；确定滤波介质，调谐激光器的输出波长，使激光器输出的激光的中心波长位于滤波介质特征吸收峰的中心位置处；确定气体流场的测点位置，得到瑞利散射信号，照射至滤波介质，形成的干涉条纹；获取干涉条纹相对于参考激光形成的干涉条纹的位置偏移量；获取多普勒频移量，得到气体流场湍流度结果。本发明能够实现对干涉瑞利散射湍流度测量中强背景干扰的有效抑制，提升干涉瑞利散射湍流度测量技术的适用范围、测量精度和工程应用能力。
Description
技术领域
本发明涉及实验空气动力学湍流度非接触测量领域，具体涉及一种干涉瑞利散射湍流度测量方法及装置。
背景技术
来流湍流度是影响边界层转捩过程的重要因素之一，影响着边界层转捩起始位置和转捩区长度。较高的湍流度使得转捩提前发生，缩短转捩区长度，可以抑制进气道内的流动分离、增加燃烧效率；较低的湍流度可以延迟转捩发生，达到降低飞行器表面摩擦阻力及燃料消耗，优化飞行器热防护设计的目的。目前，来流湍流度对边界层转捩过程影响的细节还不很清楚，且边界层转捩预测方法迫切需要试验数据提供验证和支撑，亟需先进的湍流度测量技术。
当前可以用于流场湍流度测量的方法主要有热线风速仪、时间分辨粒子图像测速技术（PIV）、激光多普勒测速技术（LDV）和干涉瑞利散射技术（IRS）等。其中，热线风速仪为接触式测量，其探针会对流场产生一定干扰，在超声速条件下使用时探针的线丝易断，且热线风速仪测得的数据同时耦合了温度、速度、密度的脉动，数据解耦难度很大；基于激光的PIV和LDV技术在开展湍流度测量时需要向流场中添加示踪粒子，受粒子添加技术及示踪粒子本身跟随性的影响，两种技术在高速流动中受到较多的限制；干涉瑞利散射测量技术通过分析流场本身气体分子瑞利散射信号的多普勒平移实现湍流度的测量，不需要外加示踪粒子，且不会对待测流场产生干扰，目前已经成为超声速、高超声速流动湍流度测量的重要手段。
申请号为201510245218.8的基于EMCCD的干涉瑞利散射速度脉动测量方法公开了一种非接触测量方法，在实际的操作使用下，本发明人发现通常情况下流场气体分子产生的瑞利散射信号强度较弱，尤其是在模型近壁面区域湍流度测量工程应用中，极易受到背景信号的强烈干扰，严重影响有用信号的提取，降低了测量精度，甚至无法完成测量。因此如何在强背景信号干扰下，实现高速流场湍流度测量，是干涉瑞利散射湍流度测量技术工程应用中面临的一个重要问题。
发明内容
本发明的一个目的在于提供一种干涉瑞利散射湍流度测量方法，通过滤波介质将收集信号中的干扰信号滤除，实现对干涉瑞利散射湍流度测量中强背景干扰的有效抑制。
该目的采用以下技术方案实现：
本方法包括以下步骤：
根据激光器的波长调谐范围、气体流场的速度范围，确定背景干扰信号和瑞利散射信号的光谱范围；
确定滤波介质，所述滤波介质用于滤除背景干扰信号，保留瑞利散射信号；
调谐激光器的输出波长，使激光器输出的激光的中心波长位于滤波介质特征吸收峰的中心位置处；
确定气体流场的测点位置，将激光器输出的激光聚焦于测点位置得到瑞利散射信号；
将测点位置的瑞利散射信号收集并整形成平行光后，照射至滤波介质；
利用干涉仪将穿过滤波介质的瑞利散射信号形成干涉条纹；
利用探测器采集记录瑞利散射信号经干涉仪形成的干涉条纹；
将探测器采集记录的干涉条纹数据传输至图像处理装置，图像处理装置获取干涉条纹相对于参考激光形成的干涉条纹的位置偏移量；
获取气体流场速度引起的多普勒频移量，得到气体流场湍流度结果。
现有的瑞利散射技术利用流场分子产生的散射光来测量流场参量，一束激光与流场分子作用后，其瑞利散射光谱则包含了流场的温度、密度和速度等信息。瑞利散射光和入射激光的中心波长的偏移则反映了流场的速度信息。这种偏移是由于多普勒频移效应引起的，散射光的多普勒频移偏移量较小（GHz量级），需要采用高分辨干涉分光仪器来检测，其中法布里-珀罗标准具因其结构简单、适用方便、高分辨而被采用。通过标准具测量散射光的多普勒频移，再通过多普勒频移与流场速度的关系公式计算得到流场一个方向上的速度。通过第二收光透镜将测点处的瑞利散射信号收集并整形成平行光后，进入法布里-珀罗标准具中形成多个干涉环，而散射光则形成靠近干涉环的干涉斑，最后同时通过ICCD镜头成像到感光面上，由计算机记录和处理。根据瑞利散射测速原理，当流场流速为零时，干涉斑的中心则位于干涉环顶点的圆圈线上，并随着流场流速的增大向圆圈线的外部偏移，故通过测量其中一只干涉斑中心和干涉环顶点圆圈线的偏移量，就可得到该干涉环对应的入射激光和散射光的频移量，进而通过理论计算得到流经该处的湍流度。
在实际的操作使用下，本发明人发现流场气体分子产生的瑞利散射信号强度较弱，极易受到背景信号的强烈干扰，严重影响有用信号的提取，降低了测量精度，基于此，本发明人在现有的方法的基础上进行进一步的改进，通过滤波介质滤除背景干扰信号，保留瑞利散射信号。
与现有的方法相比，本方法不仅能大幅提高瑞利散射图像信噪比，利于速度解算，提高测速精度，提高原有技术测量能力；还可以用于模型近壁面流场以及高超声速低密度流场速度测量，拓展了原有技术的工程适用范围。
进一步的，滤波介质优选为汞或碘，当滤波介质为汞时，其工作饱和蒸汽压范围为0.001torr-0.445torr；当滤波介质为碘，其工作饱和蒸汽压范围为0.43torr-2.4torr。
在实际使用中，干扰信号通常强度很高，其中心波长和光谱线宽与入射激光相同。通过选取滤波介质吸收曲线的吸收凹陷，将入射激光中心波长调谐至吸收凹陷中心处（通过率约为0，被滤除），而气体分子产生的瑞利散射信号因速度产生多普勒频移，其中心波长位于吸收凹陷外（通过率为1），因此能达到筛选瑞利散射信号、滤除干扰信号的目的。
在研究过程中，本发明人发现，目前能达到前述滤波功能的介质主要有汞、碘，及一些金属原子蒸汽滤波介质。每种滤波介质只在特定波段才有吸收曲线，如汞主要针对253.7nm波段，碘针对532.2nm波段，其他金属原子蒸汽如钾（770nm）、铯（389nm）、钡（554nm）等。后者金属原子蒸汽受限于的激光器波长、线宽等，不便于使用。而碘和汞蒸汽具有超精细吸收光谱（＜1GHz），因此需要激光器具有波长可调谐至吸收凹陷中心波长处，且线宽较窄，能完全坐落于吸收凹陷中，因此，优选的，激光器的线宽≤10kHz，吸收率≥95%。
同时，汞正常为液态，通过加热（20℃-130℃），产生汞蒸汽。当汞的工作饱和蒸汽压范围为0.001torr-0.445torr时，其工作波段：253.7nm，对应波数为39412.4cm-1（紫外波段）；吸收凹陷线宽约1GHz。
碘正常为固态，通过加热（27℃-52℃），产生碘蒸汽。当碘的工作饱和蒸汽压范围为0.43torr-2.4torr时，其工作波段：532.2nm，对应波数为18787.8cm-1（可见光波段）；吸收凹陷线宽约1GHz。
汞和碘的吸收凹陷线宽均随压力增高而变宽。滤波介质蒸气压力越高，吸收凹陷透过率越低，吸收凹陷宽度越宽，滤波效果越好。但当吸收凹陷过宽时，会把瑞利散射信号一并滤除，因此只有在汞的工作饱和蒸汽压范围为0.001torr-0.445torr时，或碘的工作饱和蒸汽压范围为0.43torr-2.4torr时，能达到最好的过滤效果，保证测量准确度。
本发明与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：
本发明一种干涉瑞利散射湍流度测量方法及装置，能够实现对干涉瑞利散射湍流度测量中强背景干扰的有效抑制，提升干涉瑞利散射湍流度测量技术的适用范围、测量精度和工程应用能力；且本发明非接触测量，不外加示踪粒子，可操作性强。
同时，通过分光镜分成主光束和次光束，光路布局合理、简单，风洞台架试验适用性强。本发明可用于强背景干扰条件下高速流场湍流度的测量，应用范围广泛。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明实施例的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本发明实施例的限定。在附图中：
图1为实施例1中本方法流程图；
图2为实施例1中本方法的滤波原理。
附图中标记及对应的零部件名称：
1-激光器，2-激光，3-分光镜，4-次光束，5-主光束，6-透镜，7-光束，8-试验段，9-气体流场，10-测点位置，11-收光筒，12-瑞利散射信号，13-第二收光透镜，14-滤波介质，15-法布里-珀罗干涉仪，16-第一收光透镜，17-探测器，18-数据控制线，19-图像处理装置。
具体实施方式
为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。需要说明的是，在相互不冲突的情况下，本发明的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是，本发明还可以采用其他不同于在此描述范围内的其他方式来实施，因此，本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。
本领域技术人员应理解的是，在本发明的揭露中，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系是基于附图所示的方位或位置关系，其仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此上述术语不能理解为对本发明的限制。
可以理解的是，术语“一”应理解为“至少一”或“一个或多个”，即在一个实施例中，一个元件的数量可以为一个，而在另外的实施例中，该元件的数量可以为多个，术语“一”不能理解为对数量的限制。
实施例1
如图1所示，本发明包括如下步骤：
步骤1根据激光器1的波长调谐范围以及待测的气体流场9的速度范围，确定背景干扰信号和瑞利散射信号的光谱范围；其中，激光器1为高功率、窄线宽、连续式、输出激光波长精确可调的激光器，优选的，其线宽≤10kHz，吸收率≥95%。激光器1波长可精确调谐至吸收峰中心，实现对与入射激光波长完全抑制的强背景干扰信号的有效抑制。
步骤2确定滤波介质14，在滤波介质14的吸收谱线中选取中心位置、半高宽、吸收强度合适的特征吸收峰，用于滤除背景干扰信号，保留瑞利散射信号；
如图2所示，干扰信号通常强度很高，其中心波长和光谱线宽与入射激光相同。通过选取滤波介质吸收曲线的吸收凹陷，将入射激光中心波长调谐至吸收凹陷中心处（通过率约为0，被滤除），而气体分子产生的瑞利散射信号因速度产生多普勒频移，其中心波长位于吸收凹陷外（通过率为1），因此能达到筛选瑞利散射信号、滤除干扰信号的目的。
步骤3调谐激光器1输出波长，使激光束的中心波长位于滤波介质14特征吸收峰的中心位置处；
步骤4确定气体流场9的测点位置10，将连续激光器1输出激光2经分光镜3分成两束，其中主光束5经透镜6聚焦成光束7，光束7的束腰在测点位置10处为试验段8，其与流场气体分子进行作用，产生瑞利散射信号，穿过流场的激光束被收光筒11收集；次光束4经光纤耦合后照射至法布里-珀罗干涉仪15，产生参考激光干涉条纹；
步骤5在与激光束呈一定夹角方向上，利用第二收光透镜13以一定立体角将测点处的瑞利散射信号12收集并整形成平行光后，照射至滤波介质14，中心波长位于滤波介质特征吸收峰内的背景干扰信号被滤波介质吸收，位于特征吸收峰外的瑞利散射信号穿过滤波介质；在部分实施例中，一定夹角为不与激光束方向平行即可，越靠近激光束垂直方向越好，这样有效收集立体角会更大，信号更强。
步骤6利用法布里-珀罗干涉仪15将穿过滤波介质的瑞利散射信号形成多光束干涉条纹；
步骤7利用第一收光透镜16和探测器17采集记录瑞利散射信号经法布里-珀罗干涉仪形成的干涉条纹；
步骤8将探测器17采集记录的干涉条纹数据通过数据控制线18传输至图像处理装置19，利用图像处理装置19的图像处理算法计算瑞利散射干涉条纹相对于参考激光形成的干涉条纹的位置偏移量；
步骤9通过数据处理计算流场速度引起的多普勒频移量，得到流场湍流度结果。在本方法中，该步骤为现有的计算方法，本发明并没有对其计算方法进行改进，采用现有的计算方法即可。
干涉仪为布里-珀罗干涉仪15能实现瑞利散射光谱的高精度分辨。
所述探测器17具有较高的增益和帧频。
在一个或多个实施例中，滤波介质为汞时，其工作饱和蒸汽压范围为0.001torr-0.445torr。
在一个或多个实施例中，滤波介质14为碘，其工作饱和蒸汽压范围为0.43torr-2.4torr。
实施例2
一种干涉瑞利散射湍流度测量装置，包括激光器1、分光镜3、试验段8、滤波介质器14、干涉仪15、图像处理装置19；分光镜3用于将激光器1输出的激光经分光镜3分成主光束5和次光束4；
滤波介质器14用于在试验段8处理主光束5得到瑞利散射信号；
干涉仪15用于将穿过滤波介质14的瑞利散射信号形成干涉条纹、将次光束4形成参考激光的干涉条纹；
图像处理装置19用于获取干涉条纹相对于参考激光形成的干涉条纹的位置偏移量，得到试验段8中气体流场9速度引起的多普勒频移量、气体流场9湍流度结果。
其中，滤波介质器14中的滤波介质在真空腔中，通过对腔加热，实现饱和蒸汽压变化。滤波介质的透过率与真空腔长度也有关，腔越长，蒸汽与干扰信号作用距离越长，滤波效果越好，在本实施例中，优选的真空腔的长度为5-20cm。
在一个或多个实施例中，滤波介质器14中的滤波介质为碘，其工作饱和蒸汽压范围为0.43torr-2.4torr。
在一个或多个实施例中，滤波介质器14中的滤波介质为汞，其工作饱和蒸汽压范围为0.001torr-0.445torr。
实施例3
现有的一个湍流度测量方法：
（1）确定需要测量的气体流场测点位置，将大功率窄线宽连续激光器输出的激光束，经过透镜会聚后照射待测气体流场，激光束的焦点位于需要测量的气体流场测点位置处。
（2）在与激光束成一定夹角方向，利用光学透镜组，以一很小立体角收集测量点气体分子的瑞利散射光，并形成平行光束，传输至布里-珀罗干涉仪，实施时可通过设置不同的夹角方向，测量测量点不同方向的速度脉动。
（3）测量点气体流场瑞利散射光，经过法布里-珀罗干涉仪和成像透镜，基于多光束干涉原理，形成一系列干涉条纹，实现瑞利散射光信号的高精度光谱分辨。
（4）利用高帧频的EMCCD，采集记录不同时刻瑞利散射信号经法布里-珀罗干涉仪形成的干涉条纹，不同速度的气体流场，引起的多普勒频移量也不相同，在像平面形成的干涉条纹的空间位置也将不同。
（5）利用法布里-珀罗干涉仪，将激光器输出的窄线宽激光形成多光束干涉条纹，并利用EMCCD采集，作为参考干涉条纹。
（6）将EMCCD采集到的不同时刻的干涉条纹，以及参考激光形成的干涉条纹传送至计算机10上图像处理系统，运用数字图像处理算法，计算出各时刻干涉条纹在像平面上的位置，以及其相对于参考激光形成的干涉条纹的位置偏移量。
（7）数据处理分析，根据实验光路，建立干涉条纹偏移量与多普勒频移量的对应关系，建立多普勒频移量与气流流动速度的对应关系，通过不同时刻干涉条纹的偏移量，计算测量点不同时刻的气流流动速度，获得流场速度脉动测量结果。
实施例4
在上述实施例的基础上，开展Ma5条件下平板模型近壁面湍流度测量，其标准湍流度为2.0%。同时，本发明人在不同的条件参数下，在近壁面区域进行湍流度测量，湍流度测量的准确度，如表1所示；
表1
| 对比例1 | 对比例2 | 对比例3 | 对比例4 | 对比例5 | |
| 测量方法 | 滤波介质为碘饱和蒸汽压：1torr | 滤波介质为汞饱和蒸汽压：0.3torr | 滤波介质为碘饱和蒸汽压：5torr | 滤波介质为汞饱和蒸汽压：1torr | 采用实施例3中的方法 |
| 测量准确度 | 98.8% | 98.2% | 90.2% | 77.4% | 85.8% |
从表1可知，当滤波介质为碘或汞，且其饱和蒸汽压在本发明的范围内时，滤波介质能够较好的对背景干扰信号进行滤除，得到的湍流度测量的准确度最高；当滤波介质为碘或汞，且其饱和蒸汽压不在本发明的范围内时，也能对背景干扰信号进行一定的滤除，但是滤除效果没有对比例1和对比例2好。对比例5采用实施例3中现有的测量方法，由于背景干扰信号的干扰，其得到的准确度最低。
对比例1和对比例3相比，碘介质压力越高，碘蒸汽密度越高，对干扰信号的滤波效果越好，但是在实际使用中，当碘蒸汽密度太高时，有用信号透过率降低，虽然干扰信号被很好滤除，但有用信号同样透过的很少，因此其测量准确度范围会降低。
对比例2和对比例4相比，汞的同位素较多，随着压力增大，6个同位素同时存在，吸收效果为6个同位素吸收谱线的叠加，即吸收谱线会展宽，导致全部干扰信号和大部分有用信号都被滤除，有用信号强度低，因此饱和蒸汽压过高时，其测量精度也会降低。
综上所述，当滤波介质为碘或汞，且其饱和蒸汽压在本发明的范围内时，能准确的对湍流度进行测量，测量精度高。
实施例5
本发明实施例5提供了一种电子装置，在上述实施例的基础上，本发明包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现所述一种干涉瑞利散射湍流度测量方法的步骤。
其中，所述处理器可以是中央处理器，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器、专用集成电路、现成可编程门阵列或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器可用于存储所述计算机程序和/或模块，所述处理器通过运行或执行存储在所述存储器内的数据，实现发明中基于区块链的数据文件共识装置的各种功能。所述存储器可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序（比如声音播放功能、图像播放功能等）等。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器、还可以包括非易失性存储器，例如硬盘、内存、插接式硬盘，智能存储卡，安全数字卡，闪存卡、至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。
实施例6
本发明实施例6提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述一种干涉瑞利散射湍流度测量方法的步骤。
本发明实施例的计算机存储介质，可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质可以是但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子（非穷举的列表）包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ReadOnlyMemory，ROM)、可擦式可编程只读存储器((ErasableProgrammableReadOnlyMemory，EPROM)或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本文件中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。
尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种干涉瑞利散射湍流度测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
根据激光器（1）的波长调谐范围、气体流场（9）的速度范围，确定背景干扰信号和瑞利散射信号的光谱范围；
确定滤波介质（14），所述滤波介质（14）用于滤除背景干扰信号，保留瑞利散射信号；
调谐激光器（1）的输出波长，使激光器（1）输出的激光的中心波长位于滤波介质（14）特征吸收峰的中心位置处；
确定气体流场（9）的测点位置（10），将激光器（1）输出的激光聚焦于测点位置（10）得到瑞利散射信号；
将测点位置（10）的瑞利散射信号收集并整形成平行光后，照射至滤波介质（14）；
利用干涉仪（15）将穿过滤波介质（14）的瑞利散射信号形成干涉条纹；
利用探测器（17）采集记录瑞利散射信号经干涉仪（15）形成的干涉条纹；
将探测器（17）采集记录的干涉条纹数据传输至图像处理装置（19），图像处理装置（19）获取干涉条纹相对于参考激光形成的干涉条纹的位置偏移量；
获取气体流场（9）速度引起的多普勒频移量，得到气体流场（9）湍流度结果。
2.根据权利要求1所述的一种干涉瑞利散射湍流度测量方法，其特征在于，滤波介质（14）为汞，其工作饱和蒸汽压范围为0.001torr-0.445torr。
3.根据权利要求1所述的一种干涉瑞利散射湍流度测量方法，其特征在于，滤波介质（14）为碘，其工作饱和蒸汽压范围为0.43torr-2.4torr。
4.根据权利要求1所述的一种干涉瑞利散射湍流度测量方法，其特征在于，获取参考激光形成的干涉条纹包括以下步骤：
将激光器（1）输出的激光经分光镜（3）分成主光束（5）和次光束（4），主光束（5）在测点位置（10）得到瑞利散射信号；次光束（4）经光纤耦合后照射至干涉仪（15），得到参考激光形成的干涉条纹。
5.根据权利要求4所述的一种干涉瑞利散射湍流度测量方法，其特征在于，主光束（5）经透镜（6）聚焦成光束（7），光束（7）的束腰在测点位置（10）处与流场气体作用，产生瑞利散射信号。
6.根据权利要求1所述的一种干涉瑞利散射湍流度测量方法，其特征在于，利用第一收光透镜（16）和探测器（17）采集记录瑞利散射信号经干涉仪（15）形成的干涉条纹。
7.根据权利要求1所述的一种干涉瑞利散射湍流度测量方法，其特征在于，激光器（1）的线宽≤10kHz，吸收率≥95%。
8.一种干涉瑞利散射湍流度测量装置，其特征在于，包括激光器（1）、分光镜（3）、试验段（8）、滤波介质器（14）、干涉仪（15）、图像处理装置（19）；
分光镜（3）用于将激光器（1）输出的激光经分光镜（3）分成主光束（5）和次光束（4）；
滤波介质器（14）用于在试验段（8）处理主光束（5）得到瑞利散射信号；
干涉仪（15）用于将穿过滤波介质（14）的瑞利散射信号形成干涉条纹、将次光束（4）形成参考激光的干涉条纹；
图像处理装置（19）用于获取干涉条纹相对于参考激光形成的干涉条纹的位置偏移量，得到试验段（8）中气体流场（9）速度引起的多普勒频移量、气体流场（9）湍流度结果。
9.根据权利要求8所述的一种干涉瑞利散射湍流度测量装置，其特征在于，滤波介质器（14）中的滤波介质为碘，其工作饱和蒸汽压范围为0.43torr-2.4torr。
10.根据权利要求8所述的一种干涉瑞利散射湍流度测量装置，其特征在于，滤波介质器（14）中的滤波介质为汞，其工作饱和蒸汽压范围为0.001torr-0.445torr。
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